UNIVERSIDAD TCNICA FEDERICO SANTA MARA DEPARTAMENTO DE ELECTRNICA

Laboratorio de Control Automtico Monitorizacin y Control por Computador

Experiencia Grupo Planta Fecha

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Roberto Aceiton R. 2221046-7 Fernando Gaete F. 2221002-5 Bruno La Rocca 2221023-8

16/08/04
Nota

Revisado por

Laboratorio de Control Automtico, Segundo Semestre 2004

INTRODUCCIN Y OBJETIVOS
El presente documento tiene como intencin plantear la metodologa de trabajo, as como los resultados y conclusiones obtenidos en la experiencia 1 del ramo Laboratorio de Control Automtico. Esta experiencia fue realizada en un lapso de 2 sesiones. Estas tomaron curso los das 26 de julio y 2 de agosto de 2004. Dicha experiencia tuvo como objetivos familiarizar a los alumnos con los instrumentos y mtodos de medicin y control por computador, de sistemas fsicos controlables. Para esto se introdujo el uso del programa LabView, que con la creacin instrumentos virtuales, permite la interaccin con el medio externo a travs de entradas y salidas analgicas y digitales. Esta interaccin es posible gracias a la tarjeta conversora (A/D y D/A) LabPC-1200. Se estudio la configuracin de la tarjeta y el como ocuparla para obtener datos de un sistema externo y poder generar seales para intervenir en este sistema. En esta oportunidad se trabajo con una seal de entrada, se modifico y guardo en el computador y se genero una seal de salida. Con los datos obtenidos se comprob el correcto funcionamiento con la herramienta de trabajo MatLab. Adems se comprob el funcionamiento de un controlador PID, comparando los resultados obtenidos prcticamente con un controlador PID virtual, con los resultados obtenidos en Matlab por Simulink.

1. Indique el criterio utilizado en la seccin 4.4 para determinar T1.

El criterio que fue utilizado para seleccionar el periodo de muestreo, fue el criterio de Nyquist que establece la frecuencia mnima de muestreo para no perder la informacin de la seal es el doble de la mxima frecuencia contenida en la seal a muestrear. En este caso para una seal de 1[Hz], la frecuencia mnima de muestreo es de 2Hz. Dentro de los periodos sugeridos, el nico que cumple este requisito es T =0.1[s] f =10[Hz], dado que los dems superan el periodo mximo, para la frecuencia mnima.

2. Presente los grficos obtenidos en la seccin 4.5, capturados con Wavestar y utilice
Matlab para graficar los datos guardados en su cuenta personal. Compare y comente los resultados obtenidos con T = {0,75; T1}

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Figura 1. Captura desde el osciloscopio. Seal muestreada a 1.33[Hz] (T=0.75[s])

Figura 2. Captura de osciloscopio. Seal muestreada a 10[Hz]. (T=0.1 [s])

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Figura 3. Ploteo en Matlab de datos guardados de seal muestreada a 10[Hz]

Figura 4. Ploteo en Matlab de datos guardados de seal muestreada a 1.33 [Hz] Claramente la seal de salida obtenida al muestrear a T=0.1[s] es mejor que la obtenida con T=0.75[Hz], ya que la prdida de integridad de la seal es mucho menor. Esto es, si observamos las capturas con WaveStar; ya que el grfico obtenido con Matlab tambin podra considerarse aceptable, pero esto se debe a que Matlab interpola linealmente los valores entre mediciones, suavizando as el efecto de la perdida de informacin generado

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al muestrear lentamente una seal. Esto no ocurre al ver la seal en el osciloscopio, ya que el computador mantiene constante el valor entre mediciones.

3. Grafique con Matlab los resultados obtenidos en la seccin 4.6, 4.7 y 4.8. Presente el
diagrama de bloques del VI utilizado. A continuacin se presentan los grficos obtenidos para las tres configuraciones distintas del PID. Se utilizo en este caso un diseo propio para la aplicacin del PID y no el modelo PID control loop que ya viene armado. A continuacin se presenta un diagrama de bloques que muestra la configuracin bajo la cual se aplico el PID.

Figura 5: Diagrama de bloques del PID Se tomo esta estructura para el diseo del VI en LabView. Se agrego tambin los elementos que permiten tambin grabar la informacin en archivos adems de la interfaz de salida D/A. A continuacin se presenta el diagrama del VI utilizado.

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Figura 6: Diagrama del VI utilizado. Un elemento a destacar es que dado que el set-point se fijo en cero, la seal e(t) corresponde al inverso de la seal de entrada. Como no se pudo rescatar el error del PID por ser un elemento interno del bloque que se observa en el diagrama, fue necesario multiplicar por -1 la seal de entrada para obtener un elemento representativo del error. Con esta informacin y la seal u(t) a la salida del PID, se generaron los grficos que se presentan en la siguiente seccin.

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3.1 Grficos y anlisis de la experiencia con el PID Seccin 4.6 Aplicando los parmetros P=1 I=0 D=0 y una seal cuadrada a la entrada, se esperaba una seal proporcional al error y adems inversa a la de entrada.

(a)

(b)

Figura 7: (a) Seal de error entre la entrada y la referencia.(b) Seal de salida del PID. Como se esperaba, las 2 seales son iguales dado que la proporcin entre el error y la seal de salida se especifico como P=1. El resto de los parmetros se fijaron en cero, por lo tanto no afectan a la seal de error. Seccin 4.7 Para esta seccin, se aplicaron los parmetros P=1 I=2 D=0 para una seal de entrada cuadrada. La salida a esperar es una seal igual a la de la seccin anterior sumada ahora con la integral de la seal de error.

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(a)

(b)

Figura 8: (a) Misma seal de error que en la seccin anterior. (b) La seal de salida es la suma de una seal proporcional con la integral. La seal e(t) es la misma que la obtenida en la seccin anterior por lo que se omiti su figura en esta seccin. Como se esperaba la seal de salida resulta ser la suma de la seal proporcional mas la integral (la integral de una constante es una rampa). Ntese que la seal de salida es creciente en el tiempo. Esto se debe a que un pequeo offset en la seal de entrada, al pasar por el integrador, se traduce en una rampa, donde la pendiente de esta es proporcional a la amplitud del offset. Al manipular la perilla de offset del generador, es posible atenuar este efecto. Dentro del VI se incluye un botn que permite resetear el integrador, para as llevar la seal nuevamente al origen, dado que la seal creciente en el tiempo se sale del rango de medicin. Seccin 4.8 Se seteo el PID con los parmetros P=0 I=0 D=1 para una seal de entrada triangular. Claramente la seal de salida esperada es la derivada de la seal de entrada, por lo tanto una seal cuadrada, donde la amplitud es proporcional a la pendiente de la seal triangular. 8

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(a)

(b)

Figura 9: (a) El error de la seal triangular es el inverso de la misma. (b) Derivada de la seal triangular corresponde a una seal cuadrada. Como se esperaba, la salida es una seal cuadrada pero es muy ruidosa. Claramente, la seal triangular, durante su fase creciente y/o decreciente, no es una recta perfecta, producto de ruidos, imprecisin del generador etc., lo cual se traduce en ruido de (de alta frecuencia) la seal cuadrada a la salida. A modo de experimento, se realizo la misma experiencia, pero en este caso con un periodo de muestreo mayor, para as atenuar los efectos del ruido.

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(a)

(b)

Figura 7: (a) Misma seal de entrada al PID. (b)Seal de salida bajo un periodo de muestreo mayor. Es notable que el ruido se atena bastante, sin embargo, la seal mantiene las imperfecciones

4. Grafique el resultado que se obtiene por simulacin con Simulink (seccin 3.4), y
comprelo con el resultado obtenido en 4.7. Presente el diagrama de bloques Simulink Utilizado.

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Figura 10: Seal de entrada en el controlador PID en Simulink.

Figura 11: Seal de salida en el controlador PID en Simulink

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Figura 12: Seal de entrada en el controlador PID en el Computador

Figura 13: Seal de Salida en el controlador PID del Computador

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Figura 14: Controlador PID construido en Simulink. Las figuras 10 y 11 corresponden a las formas de onda obtenidas con el controlador PID modelado en Simulink (figura n1=e(t), figura n2=u(t)), as como la figura 14 corresponde al diagrama de bloques del controlador, donde se puede observar el valor utilizado para los parmetros del controlador (Kc, Ti, Td, Uo) as como los nombres de las seales de entrada y salida. Las figuras 12 y 13 corresponden a la grafica capturada con el computador, donde 12 es la seal de entrada al controlador PID construido en LabView y 13 corresponde a la seal entregada por el controlador. Podemos apreciar la gran similitud entre lo simulado en matlab (figuras 10 y 11) y lo observado en laboratorio (figuras 12 y 13). Cabe hacer notar que los parmetros de los controladores PID, tanto el modelado en Simulink, como el creado en LabView eran idnticos. Es claro que la seal observada en laboratorio, aun cuando presenta parecido a la seal simulada, denota una cierta elevacin, la cual se debe a que la seal ingresada en laboratorio tuvo un valor medio distinto de cero, es ms, se podra diagnosticar un valor medio mayor que cero, ya que la seal se eleva. Lo que hace que este comportamiento se deba a un offset, es que la integral de una constante es una rampa.

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CONCLUSIONES
En esta experiencia se logr observar como el computador poda adquirir seales, modificarlas y entregar de vuelta seales acordes con el sistema al que se trata. Ver las diferencias entre seales digitalizadas y seales reales. Se compar resultados tericos obtenidos por programas especializados, con los resultados reales. De este modo, se puede concluir, tras el trabajo ya realizado y manifestado ulteriormente, que el uso de herramientas computacionales facilita en gran medida el anlisis de sistemas fsicos externos, tanto como para la adquisicin de datos, como para el anlisis posterior de estos. Adems, permite la interaccin en ambas direcciones desde el computador, es decir, el usuario, hacia sistema sobre el cual se trabaja.

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