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ESCUELA TCNICA SUPERIOR DE INGENIEROS
INDUSTRIALES Y DE TELECOMUNICACIN
TESIS DOCTORAL
CONTRIBUCIONES A LAS TCNICAS NO

DESTRUCTIVAS PARA EVALUACIN Y PRUEBA DE
PROCESOS Y MATERIALES BASADAS EN
RADIACIONES INFRARROJAS
Autor:
Director:
DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ

JOS MIGUEL LPEZ HIGUERA
SANTANDER, 2006
Amimadreyhermanos
Yo slo puedo mostrarte la puerta. T eres el nico que tiene que atravesarla
Morfeo, Matrix (1999)
Traduccin libre de un extracto del dilogo de Morpheus (Laurence Fishburne) con Neo (Keanu Reeves) en
su visita al Oracle (Gloria Foster): I'm trying to free your mind, Neo. But I can only show you the door.
You're the one that has to walk through it.
The Matrix (1999)
Escrita y dirigida por Andy Wachowski & Larry Wachowski.
Be Afraid Of The Future.
Reconocimientos
Los trabajos de investigacin recogidos en esta tesis doctoral han sido posibles,
en parte, gracias a los recursos de los proyectos de I+D en los que se han
enmarcado:
Sensor Optoelectrnico para la medida de la TEmperatura de las

PAlanquillasenmaquinasdecoladaContinua,SOTEPAC,1FD971996.
SUbsistemas fotnicos de Generacin, conversin, Amplificacin y
procesamientoparaRedespticasdeSensoresydatos,SuGAROS,TIC
20010877C0201.
Estructura Inteligente para Produccin de Barras de Acero, EIPBA,
FIT0700002002121.
SIstemasyRedesAvanzadasdeSensoresfotnicos,SIRAS,TEC2004
05936C0202/MIC.
Caracterizacin de materiales por espectrometra de imagen,
CIMACLIQ,TEC200508218C0202.
IgualmenteseagradecealMinisteriodeCienciayTecnologalaconcesin
alautordeunabecaFPIadscritaalproyectoSUGAROSTIC20010877C0201.
UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

-I-
Agradecimientos
Talvezelapartadoquesuscitaunamayorreflexinentodaobrarealizadaesla
exaltacindelasgratitudeshaciaquienesdeunaformauotrahaninferidoenel
autordurantelamisma.Entalsituacin,mehalloeneldesafodesintetizaren
unaspocaslneastodoslossentimientosqueaparecenalrecordaralaspersonas
quealolargodemividamehanayudado,enseado,guiado,tolerado,animado
einclusojaleadoenlaconsecucindemisobjetivos.Peroanpecandodecruely
olvidadizo debo truncar la memoria y limitar este apartado que por ganas se
convertira en toda una obra por s solo. Mi primer agradecimiento a todos
aquellos que no son referidos a continuacin pero que saben y que s que
debieran estar aqu. Y, cmo no!, mi gratitud a todo lector por el inters que
muestraenestehumildetrabajo.
Ayudndomedelareferenciacronolgica,elpuntodepartidaestablecido
paralosagradecimientosesladecisindeemprendereldoctorado.Noesqueno
hayasidocuriosoconanterioridad,bienlosabamipadre,sinoqueconsidero
estepuntodemividacomoeliniciodemicarrerainvestigadora,delacualesun
fruto el presente documento. La persona a la que debo este inicio es Csar.
Durantemsdedoceaoshasidoungua,unconsejeroyunejemplo.Gracias
porestaramilado.
Di los primeros pasos de la mano de Pepe quien me mostr las
inquietudes del mundo de la ptica y la Fotnica y soport las innumerables
dudasyquebrantosalasquecomonovatoletenaacostumbrado.Graciasal
y sus detalladas correcciones fui aprendiendo y formndome. Y llegu a
integrarmeenelGrupodeIngenieraFotnica.GraciasJosMiguelporguiarme
hastalamadurezyofrecermetutiempo,conocimientoyexperienciaenmuchas
facetasque inclusosesalendelacomponenteprofesional.Graciasporhacerme
sentiragustoyrodeadodelosmos.PorqueenelGrupodeIngenieraFotnica
encontr una familia donde todos sus miembros han hecho posible que lo
considerado por otros como trabajo o estudio yo lo considere una alegra.
Muchas horas, muchos das; pero en verdad hablo de un laboratorio como mi
casa ante la fraternidad y amistad encontrada en sus miembros: Adolfo, Alex,
Ana, Andrs, Bea, Berto, Bobn, Bubka, Carlos, Chux, Cris, David, Esa, Fran,
JosMigueljunior,Juan,Mara,Marian,Mauro,Nicolas,Pedro(Alonso,IyII),
Puma, Olga, Sergi, Toete y Vik. No es exageracin, nos hemos conocido,
consentidoyaguantadocasiadiariodurantelosltimos7aosenlamayorade
los casos, 12 aos (verdad, Toete?), o incluso ms (cantidad indeterminada
peroinferiora30,verdad,Chux?).Enespecial,graciasaFranportodosuapoyo
y estar siempre dispuesto a embarcarse conmigo en proyectos y aventuras

-III-
CONTRIBUCIONES A LAS TCNICAS NO DESTRUCTIVAS PARA EVALUACIN Y PRUEBA DE PROCESOS Y MATERIALES BASADAS EN
propiasdegigantes.YnomeolvidodeBeaySara,siempreatentas.GRACIASa
todosporquesinvosotrosnohubierasidoposiblellegaraterminaresto.Yesque
elconsiderarsecomoencasaresuelvemuchascomplicaciones,tedaseguridady
proteccinytefacilitalaexistenciapermitindoteunamayordedicacinyun
mayoroptimismoalosquehaceresdiarios.
Mesientomuyafortunadodecontarconvariasfamilias.Nosolamentela
natural y el Grupo de Ingeniera Fotnica. All donde he ido he procurado y,
afortunadamenteconseguido,conocerydesenvolvermeenambientesfamiliares
que,lejosdecasa,sonanmsnecesarios.Asgracias,Clemente!porsert
quien me fuera a buscar al aeropuerto el 1 de mayo de2003. Llegabaaun pas
lejanoyextrao,condificultadesconelidiomaysiendolaprimeravezquesala
de casa, como quien dice. Hemos compartido buenos y malos momentos pero
an los malos no lo han sido tanto al tener tu apoyo. Gracias Xavier por
permitirmeir,formarme,seguirconmisdivagacionesyconoceratodaesagente
que llen mi ser de nuevas experiencias, conocimientos, inquietudes, anhelos y
tristezas al separarnos. Gracias Alma, Eduardo, Eric, Hermes, Janis, Jassine,
Julin, Laurotta, Martina, Paloma, Pamela, Rafael, Silvietta y Soledad por hacer
deQubecmisegundohogar.GraciasLilin.
YBath,otrolugardondevolverydondetambindejamigosyfamilia.
GraciasfamiliaWay,Simon,Timy,porsupuesto,Darrylquehicisteposibleotro
nuevoexponencialavancedemiexperienciapersonalyprofesional.
Gracias a mis amigos: ngel, Casco y familia, David, Dita y Edu,
Eduardo,Joserra,Marga,Marina,Nacho,Nando,Pablete,Pablo,PatriyVito;sus
consejos y paciencia conmigo no tienen fin. Gracias a mis amig@s del instituto,
los momentos ldicofestivos en su compaa han servido de va de escape y
aliviadoelestrsanteesteproyecto.
Y,obviamente,graciasamifamilianatural.Ellossabenmsquenadieel
esfuerzoqueestetrabajohasupuesto.Paraellosestdedicadaestaobra.
Atodosvosotros,misinceragratitud.
DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ TESIS DOCTORAL

-IV-
Resumen
Lainspeccintrmicabasadaenradiacininfrarrojaproveemedidasrpidas,sin
contacto y desde una nica posicin. Su principio bsico es el control y
estimacin de diferencias de temperaturas en una superficie o cambios de la
temperatura superficial con el tiempo, haciendo uso de los sistemas de medida
mediante infrarrojos. Esta temperatura est relacionada con los patrones de
transferencia de calor del cuerpo bajo inspeccin por lo que se logra una
localizacin de defectos o imperfecciones superficiales y de anormalidades
subsuperficiales.Enesteltimocaso,deformageneral,cuantomayorseayms
cercanaalasuperficieestlaimperfeccin,msevidenteresultarsudeteccinal
producirmayoresdiferenciastrmicasenlasuperficie.
Conscientesdelaaplicabilidadpotencialdelatermografainfrarrojaenla
evaluacin no destructiva ni invasiva, se plante como objetivo general de esta
tesiselefectuarcontribucionesalconocimientoylatcnicaque,adems,tuviesen
visosdeaplicacinreal.Paraellosehanidentificadonichosdeaplicacinentre
los que se destacan el control de procesos (particularmente en industrias
siderrgicas), la evaluacin de la calidad de productos manufacturados
(elementos calefactores en cocinas) y la inspeccin, anlisis y evaluacin de
defectosenestructurascompuestas.
Con el objetivo general en mente y ante la variedad de sistemas
termogrficos existentes, de diferentes costes y sensibilidades, se detectan
carencias de unos respecto de otros que limitan su aplicabilidad. Igualmente,
surgelanecesidaddecompararlosyconelloladefinicindeparmetrosquede
forma objetiva valoren los beneficios de cada uno de ellos. Dentro de la
evaluacin de defectos internos en estructuras u objetos, el concepto de rea de
detectabilidadesutilizadoparalacomparacindesistemasdetermografaactiva
pulsadadeduracincuasiinstantneaydeduracinlarga.Escogerlaexcitacin
trmica apropiada solventa limitaciones de digitalizacin en sistemas de bajo
coste. Una validacin de este concepto denota la obtencin de resultados
comparables para sistemas comerciales de gran sensibilidad basados en
termografaactivadeflashesyotroshechosamedidademenorcalidadperoque

-V-
aprovechan el mayor contraste trmico inducido por las excitaciones de pulso

largo.
Igualmente se procura una automatizacin de los procesos de toma de
decisinparaeludir,enlamedidadeloposible,lasubjetividadenelanlisisde
las secuencias trmicas que resta sensibilidad a los resultados cualitativos y
cuantitativos que se desprenden del mismo. Para ello se utilizan conceptos de
Visin Artificial (Machine Vision, Computer Vision o Intelligent Vision)
mediantelosquesesimulalahabilidaddelreconocimientoyanlisisdelsistema
humano de ojo y cerebro para tomar decisiones y ofrecer una interpretacin
sobre el contenido de una imagen. La posibilidad de adquirir imgenes,
analizarlasyrealizarlatomadedecisionesapropiadas,tododeformaautnoma
yautomtica,esextremadamentetilenaplicacionesdeinspeccinycontrolde
calidad. Se aportan diferentes propuestas basadas en mtodos estadsticos y
tcnicas transformadas propios del tratamiento de imgenes que procuran
imgenes nicas donde todos los defectos detectables son localizados. As se
logralaautomatizacinplenadelprocesodedeteccindeanomalasinternas.El
procesadodelassecuenciastermogrficasesreducidoalusodeunafuncinque
eliminalasubjetividadinherentepropiadelasdecisioneshumanas.
Utilizando con frecuencia la fusin de conocimientos y tcnicas
provenientes sobre todo de la Fsica (fsica del calor, mecnica y ptica
principalmente) y de las TICs, en este documento se recogen las contribuciones
ms significativas aportadas al rea de inspeccin no destructiva utilizando
termografainfrarroja.

-VI-
Abstract
Thermal inspection based on infrared radiation provides fast and contactless
measurementsfromonelocation.Itsbasicprincipleisthecontrolandassessment
of temperature differences on a surface or changes in that measurement along
time, using infrared equipment. This temperature is related to the heat transfer
that occurs in the body under inspection. In this sense, it is possible to locate
surface and subsurface defects and anomalies. In this last case, generally, the
detectioniseasierastheimperfectionsbecomebiggerandshallower.Thisisdue
to the fact that the thermal differences produced on the specimen surface are
abnormallydifferentrespectedtosoundareathermaldifferences.
Given the potential applicability of infrared thermography for non
destructiveandnoninvasiveevaluationandtesting,themaingoalofthisthesis
isthecontributiontotheknowledgeandtechniquestateoftheart,alwaysfroma
realapplicationpointofview.Severalapplicationnicheshavebeenidentified,
being stood out process control (principally in siderurgical industry), quality
assessment in manufactured products and the inspection, analysis and
evaluationofdefectsincompositematerialstructures.
Considering the objective mentioned above and the wide variety of
thermographic systems, several lacks have been detected in some systems
limiting their use. In addition, it could be interesting to compare these systems
andhence,toestablishasetofparametersthatobjectivelyevaluatesthebenefits
ofanyofthem.Innondestructiveevaluationsofsubsurfacedefectsinstructures
ormaterials,theconceptofdetectabilityareaisusedtocomparesystemsexcited
bybothlongpulsethermographyandpulsedthermography.Theselectionofan
appropriate excitation could lead to compensate low binarization limitations in
low cost systems. A validation of this idea shows similar results for stateofart
high sensitivity systems based on pulsed thermography and cheaper labmade
systems.Thelattertakesadvantageofthehigherenergyinducedbylongpulse
excitationstoovercomethepoordigitalizationeffects.
Inaddition,anautomationofthedecisionprocessisprovidedtoavoid,as
much as possible, the human subjectivity in the analysis of thermographic
sequences. Machine Computer or Intelligent Vision concepts are used to
-VII-
achieve this goal, simulating the recognition ability and analysis of the human
brainandvisionsystemtomakedecisionsandofferaninterpretationregardinga
particular image. The possibility of acquiring images to analyse them and then
decide over them, all automatically, is extremely useful in inspection processes
and quality control. Here, different proposals based on statistical methods and
data transforms are detailed. They provide unique images where defects are
highlighted.Theprocessingofthermographicsequencesissimplifiedtojustone
single function that avoids the human subjectivity presented in the decisions,
whichshouldbetakeninotherprocessingprocedures.
Byfrequentlyusingacombinationofknowledgeandtechniquescoming
from the Physics and ICTs, this dissertation collects the most significant
contributions of the author to the NDE&T state of the art within infrared
thermographyfield.

-VIII-
Listas de smbolos especiales

Simbolos (Unidades)
c capacidad trmica (Ws/Kg K)
C contraste trmico
cP calor especfico (J / kg K)
e efusividad trmica (W s / m2 K)
F relacin focal de la lente o espejo
fb frecuencia ciega o de corte (Hz)
fn ensima frecuencia (Hz)
fs frecuencia de muestreo (Hz)
h coeficiente de conveccin, constante Planck (W / m2 K)
K coeficiente de veracidad
k conductividad trmica (W / m K)
L espesor (m)
P espacio transformado
Q conjunto de puntos
Q energa absorbida por unidad de rea (J / m2) o potencia emitida (W / m2)
T temperatura (K, C)
t tiempo (s)
tacq tiempo de adquisicin u observacin (s)
w(T) ventana de truncamiento temporal
z profundidad (m)
Letras Griegas (Unidades)

(,) coordenadas polares
difusividad trmica (m2 / s)
gradiente (temperatura o fase)
emisividad
longitud de onda (m)
longitud de difusin (m)
densidad (kg / m3)
varianza o constante Stefan-Boltzman
fase ( o rad)
diferencial
Subndices y superndices
a absoluto
amb ambiente
b blind
d,def defecto
ef efectivo
(i,j) coordenadas
cartesianas
efectivo
m,max maximo
mp ptima observacin prctica
n normalizado
I,ef instante

-IX-
nodef,s, sound, soundarea libre
de defectos
r running
s standard
sat saturacin
0 inicial
Constantes
h universal (o Planck), h = 6.6256 x 10-34 Js

c velocidad de la luz, c = 2.9979 x 108 m/s
C1 primera constante de radiacin, C1 = 3.742 x 108 W m4 / m2
C2 segunda constante de radiacin, C2 = 1.1389 x 104 m K
C3 tercera constante de radiacin, C3 = 2897.8 m K
Stefan-Boltzman, = 5.6697 x 10-8 W / m2 K4
Acrnimos
CFRP: Carbon Fiber Reinforced Plastic, Plstico reforzado de Fibra de carbono
DAC: Contraste Diferencial Absoluto
DAPhC: Contraste Diferencial Absoluto de la fase
END: Evaluacin o Ensayo no destructivo
FPA: Focal Plane Array
FPN: Fixed Pattern Noise, Patrn de ruido fijo
FWHM: Anchura a altura mitad
GFRP: Glass Fiber Reinforced Plastic, Plstico reforzado de Fibra de vidrio
IDAC: Contraste Absoluto Diferencial Interpolado
IR: Infrarrojo
MDS: Tamao detectable mnimo
MRTD: Diferencia de Temperaturas Mnima resoluble
MTF: Funcin trasferencia de modulacin
NDT&E: NonDestructive Testing and Evaluation, Evaluacin y Prueba no destructivas
NEP: Potencia Equivalente de Ruido
NETD: Diferencia de Temperaturas equivalente al ruido
PCT: Termografa de Componentes Principales
PPT: Pulsed Phase Thermography, Termografa Pulsada de fase
PTHTa: Algoritmo de uso de la Transformada Hough en Termografa Pulsada
PTV: Primer termograma vlido
SNR: Signal-to-Noise Ratio, razn seal a ruido
TFD: Transformada de Fourier Discreta
TI: Termografa Infrarroja
UTV: ltimo termograma vlido

-X-
INDICE
PARTE 1 PRELIMINAR.................................................................................................1
1
Introduccin..............................................................................................................5
1.1
Energa trmica, calor y temperatura....................................................................... 5
1.2
Fsica del calor............................................................................................................. 6
1.3
Mtodos pticos para la medida de la transferencia de calor y de la
temperatura ............................................................................................................................. 7
1.4
Motivacin ................................................................................................................... 9
1.5
Estructura del documento ........................................................................................ 12
Estado del arte de la termografa infrarroja..........................................................17

2.1
2.1.1
2.1.2
2.2
2.2.1
2.2.2
2.3
Situacin y tendencias............................................................................................... 17
Hardware ...................................................................................................................22
Software ....................................................................................................................23
Problemticas detectadas ......................................................................................... 25

Efecto de la digitalizacin en las seales termogrficas............................................25
Automatizacin del procesado de imgenes..............................................................28
Conclusiones y objetivos........................................................................................... 29
PARTE 2 CONTRIBUCIONES ....................................................................................35

3 Detectabilidad de defectos subsuperficiales en sistemas de termografa
activa con escasa digitalizacin .....................................................................................39
3.1
Introduccin .............................................................................................................. 39
3.2
Parmetros que definen la detectabilidad de defectos........................................... 40
3.2.1 Factores que influyen en la inexactitud de la medida termogrfica...........................41

3.2.2 Factores que contribuyen a la detectabilidad de defectos subsuperficiales ...............42
3.2.2.a Detectabilidad en las termografas activas pulsadas ...........................................43
3.2.2.b Detectabilidad en funcin de las caractersticas de los defectos.........................48
3.3
Criterio de decisin ................................................................................................... 52
3.4
Criterio de detectabilidad ante una escasa digitalizacin...................................... 53
3.5
Compensacin de una escasa digitalizacin............................................................ 54
3.6
Discusin de los resultados ....................................................................................... 55
3.7
Conclusiones y resultados relevantes ...................................................................... 56
Automatizacin del procesado de imgenes ..........................................................61

4.1
4.1.1
4.1.2
4.2
4.2.1
4.2.2
Introduccin .............................................................................................................. 61
Adecuacin de los tiempos de adquisicin................................................................61
La problemtica del ajuste de una lnea recta............................................................68
Mtodos estadsticos.................................................................................................. 69
Automatizacin IDAC...............................................................................................71
Mtodos robustos de estimacin estadstica aplicados a la termografa infrarroja....74
-XI-
4.3
Transformaciones en el espacio de datos ................................................................ 74
4.3.1
4.3.2
4.4
Transformada Hough.................................................................................................75
Transformada Radon .................................................................................................80
Identificacin de patrones lineales........................................................................... 83
4.4.1 Fusin de procesados.................................................................................................83

4.4.1.a Automatizacin de la obtencin de la frecuencia de corte .................................85
4.4.1.b Algoritmo DAPhC..............................................................................................86
4.4.2 Excitaciones elctricas...............................................................................................89
4.5
Discusin de los resultados ....................................................................................... 92
4.6
Conclusiones y resultados relevantes....................................................................... 93
PARTE 3 CONCLUSIONES Y LINEAS FUTURAS .................................................. 97

5
Conclusiones y lneas futuras ................................................................................ 99

Resumen y conclusiones........................................................................................................ 99
Lneas abiertas y futuros trabajos ..................................................................................... 101
PARTE 4 REFERENCIAS y ANEXOS ..................................................................... 105

6
Bibliografa........................................................................................................... 107
6.1
Referencias por captulos........................................................................................ 107
6.1.1
6.1.2
6.1.3
6.1.4
Referencias del captulo 1........................................................................................107

6.2
Referencias ordenadas alfabticamente ................................................................ 110
6.3
Contribuciones del doctorando consecuencia de la tesis...................................... 114
6.3.1 Contribuciones en el campo de la termografa infrarroja ........................................114

6.3.2 Contribuciones en el campo de la medida de diferentes magnitudes mediante
dispositivos pticos...............................................................................................................119
Anexos .......................................................................................................................... 123

A
B
Principios fundamentales de la Fsica del calor...................................................125

Conocimientos y tcnicas claves en termografa infrarroja.................................133
B.1
La medida termogrfica .........................................................................133
B.2
Modelado de la transferencia de calor....................................................135
B.3
Termografa activa y pasiva ...................................................................136
B.4
Preprocesado de imgenes en termografa infrarroja .............................138
B.5
Excitaciones pticas en termografa infrarroja activa - Orientacin
conceptual............................................................................................................138
B.6
Tipos de excitacin ................................................................................139
B.7
Referencias.............................................................................................144
C
Aplicaciones industriales de la termografa infrarroja en las que el autor ha
colaborado ....................................................................................................................147
C.1
Proyecto SOTEPAC...............................................................................147
C.2
Proyecto ECOPLEI ................................................................................156
C.3
Propuesta de Proyecto EIKA .................................................................161
C.4
Referencias.............................................................................................165
D
Tcnicas de procesado de imgenes en secuencias termogrficas.......................167
D.1
Preprocesado de secuencias termogrficas Precisin y exactitud en la
medida de temperatura.........................................................................................167
D.2
Procesado de secuencias termogrficas Modelado Directo.................170
D.3
Postprocesados de secuencias termogrficas- Modelado Inverso ..........177
D.4
Referencias.............................................................................................179
E
Algoritmos de deteccin de patrones lineales......................................................181
E.1
Algoritmo RANSAC..............................................................................181
E.2
Transformada de Hough.........................................................................182
-XII-
E.3
La transformada Radon..........................................................................185
Equipamiento utilizado .......................................................................................187
F.1
Laboratoire de Vision et Systmes Numriques de l'Universit Laval ..187
F.2
Materials Research Centre de University of Bath..................................188
F.3
Grupo de Ingeniera Fotnica de la Universidad de Cantabria ..............190
PARTE 5 Summary......................................................................................................193

-XIII-
PARTE 1
PRELIMINAR
Enestapartesehaceunaintroduccinalatermografainfrarrojaascomoun
estudiodelestadodelarteentornoalamisma,comobaseparaformularlos
objetivosquesepretendenalcanzarylasrazonesquelosmotivan.Sefinaliza
estableciendolaestructuraqueseseguirenestedocumentodetesis.
Captulos:
1. Introduccin
2. Estado del arte de la termografa infrarroja

-1 -
Captulo 1
Introduccin
La obtencin de mapas de temperatura de objetos en base a la captura y

procesado de las radiaciones infrarrojas emitidas como consecuencia de su
estadotrmicoseconocecomoTermografaInfrarroja.Paraello,seutilizan
cmarasdotadasdelapticaypanelesoarraysdedetectoresinfrarrojosas
como de la consiguiente electrnica y software para el adecuado tratamiento
delainformacin.
Dadoqueatravsdeladistribucindetemperaturadeunobjetoy/o
de su evolucin en el tiempo se puede obtener, sin contacto alguno,
informacinvaliosadelestadofsicoy/oestructuraldelobjeto,laTermografa
InfrarrojaresultaserunapoderosatcnicaparalaEvaluacinNoDestructiva.
A continuacin se efecta una breve introduccin a la Termografa
Infrarrojayalosconceptosclavesparasuentendimiento.

-3 -
1 Introduccin
Como punto de partida se podra decir, a grandes rasgos, que la materia, la
energa, el espacio y el tiempo son las bases de todo lo que existe. Sin querer
entrar en discusiones sobre la existencia de universos paralelos y agujeros de
gusano,todopodrasimplificarseconestoscuatrotrminos:1
Sintiempo,sinespacio.Sinmateriaoenerga.Esteeselprincipiodeluniversoy
nohaynadanisiquieraunpunto,nisiquieraunvaco.Fueradeestanadasealzauna
agitacin un remolino, un chasquido, un algo inconcebiblemente pequeo. Y con ese
algo, como parte de l, tiempo, espacio y otras maravillas llegan espontneamente a su
existencia. La tapa de la caja csmica de Pandora ha comenzado a levantarse y de su
interiorsederramantodaslasmaravillasdelacreacin.
1.1
Energa trmica, calor y temperatura
La materia est compuesta de tomos y molculas y la energa hace que los

tomosylasmolculasestnenconstantemovimiento:rotandoalrededordes
mismas, vibrando o chocndose unas con otras. El movimiento y, en su caso
desplazamiento, de los tomos y molculas crea una forma de energa llamada
energatrmica,queestpresenteentodotipodemateria.Inclusoenlosvacos
msfrosdeespaciohaymateriaqueposeeenerga,muypequeaperomedible.
Por lo tanto, una caracterstica de la materia est relacionada con esa energa;
hablaremosentoncesdesutemperatura.
Elcaloreslaenergatrmicatotalenunasustanciaocuerpo,porotrolado
sutemperaturaesunamedidadelaenergatrmicamedia.Latemperaturanoes
energasinounamedidadeella,esunamedidadelcaloroenergatrmicadelas
partculasenunasustancia.Mientrasqueelcalordependedelavelocidaddelas
partculas,desunmero,desutamaoydesutipo,latemperaturanodepende
del tamao, del nmero o del tipo de las mismas2. Ambos trminos resultan
medibles y esta medida acaba siendo de gran importancia para multitud de
procesos.Sinembargo,porsimplificacinycomodidad,latemperaturaseerige,
entreambosconceptos,comoeltrminomsusado.
Taleslaimportanciadelatemperaturaquesehadefinidocomounade
lassietemagnitudesfundamentalesdelsistemaInternacionaldeUnidades,SI.Su
unidad,elKelvin(K)sehaestablecidomediantelaeleccindeunvalorparala
temperaturatermodinmica(absoluta)deunestadodelamateriabiendefinido,
universal y reproducible, que se define como la fraccin 1/273,16 de la
temperatura termodinmica del punto triple del agua3. La temperatura est
1
Traduccin libre de parte del preludio del libro de David Darling Deep Time: The Journey of a
Particle from the Moment of Creation to the Death of the Universe and Beyond, 1989.
2
Esta concepcin y diferenciacin de los trminos de calor y temperatura no apareci hasta los
escritos de Joseph Black (1728-1799), quien distingui entre la cantidad (calora) y la intensidad
(temperatura) del calor.
3
Uno de los primeros intentos para hacer un estndar de temperaturas ocurri alrededor de AD
170, cuando Galeno, en sus notas mdicas, propone un estndar de temperatura "neutral"
completando cantidades iguales para la ebullicin del agua y el hielo.
-5 -
muy presente en el mundo con enorme influencia en fenmenos naturales, en

procesos industriales, en laboratorios, en la medicina, etc. y hace que su
medicin y control sea muy frecuente en dichos campos. Hay muy pocas
propiedades de materiales que no cambian con la temperatura y
consecuentemente un alto porcentaje de mtodos de ensayo involucran la
medicin de esta magnitud. Adems, la metrologa de temperatura o
termometra caracteriza la materia en funcin de su comportamiento trmico
diferenciandoperfectamenteloscomportamientoscomunesdelosanmalos.Por
ejemplo, el hecho de tener una temperatura corporal diferente a la habitual
puederelacionarseconunaetapadeenfermedad4.Elencontrarunazonacaliente
enunapiezamecnicapuedeindicarabrasin ofriccinenesazona.stosson
algunosdelosnumerososejemplosquenospermitenrelacionarungradientede
temperaturaconlaexistenciadedefectosoanormalidadesenlosmateriales.
1.2
Fsica del calor
Dentrodelatermologa5,latransferenciadecalorsepuededefinircomolaciencia
cuyo objetivo es predecir la cesin de energa que se produce entre medios
materiales como consecuencia de las diferencias de temperatura. Siempre que
existaunadiferenciadetemperaturasenuncuerpooentrecuerpos,debeocurrir
unatransferenciadecalor.Latransferenciadecaloresunprocesocomplejoque,
para analizarlo fenomenolgicamente, se puede descomponer en tres
mecanismos: conduccin, conveccin y radiacin. Aunque estos tres procesos
puedentenerlugarsimultneamente,puedeocurrirqueunodelosmecanismos
predominesobrelosotrosdos.
La conduccin trmica se establece cuando se crea un gradiente trmico
enunmedioestacionario,quepuedeserunslidoounfluido,y,enestecaso,se
entiendequelatransferenciadeenergaocurreatravsdelmismomediooentre
diferentes medios. En el caso de la conveccin, la transferencia de energa se
establece entre diferentes medios, donde al menos uno de stos est en
movimiento, generalmente un slido y un fluido o dos fluidos con diferentes
propiedades trmicas, cuyas temperaturas en la superficie de contacto son
diferentes. Dado que todo cuerpo con temperatura diferente del cero absoluto
emiteenergaenformadeondaselectromagnticas,queatemperaturaambiente
se concentran en la regin infrarroja, el tercer modo de transferencia de calor
mencionadosedenominaradiacininfrarroja.
Numerosos autores recogen los fundamentos y los detalles de la
transferencia de calor o la termodinmica. Basten, en el anexo A, unos detalles
ms concretos de cada mecanismo de transferencia, invitando al lector a la
consulta de obras como [Incropera, 1999], [Sigals, 2003] o cualquier otra
referenciabibliogrficapertenecienteaestecampodelaFsica.
4
Ya en tiempos antiguos, dentro de la filosofa china se consider que la salud, como todo lo que
existe en el universo, est vinculada a la armona del cuerpo y del espritu (el yin y el yang). Se
estableca una clasificacin en funcin de la temperatura del tipo de enfermedad padecida, el
exceso de yin conduce a enfermedades agudas, febriles, secas, mientras que el exceso de yang
lleva a enfermedades crnicas, fras o hmedas.
5
Termologa: Parte de la Fsica que trata de todos los fenmenos en los que interviene el calor.
-6-
CAPTULO 1. INTRODUCCIN
La disponibilidad de sofisticados mtodos numricos que simulen la

transferencia de calor no ha disminuido, sin embargo, la necesidad de medir y
observardeformacuantitativaycualitativalamisma.Siguesiendonecesarioel
proceso experimental que permita el desarrollo de un entendimiento
fenomenolgico de los procesos involucrados adems de una validacin de los
modelos que se emplean. Es por ello que sigue tratndose de un campo en
expansin y de aplicacin en numerosos nuevos nichos como por ejemplo el
control y mantenimiento, evaluacin y prueba tanto de procesos como de
materialesdondeelcalorytemperaturasonfundamentales.
1.3
Mtodos pticos para la medida de la transferencia de calor y
de la temperatura
Como se ha invitado a reflexionar en los apartados anteriores, la medida de
temperatura resulta de gran inters en multitud de procesos (qumicos,
ambientales, mdicos, mecnicos,) y as se puede constatar simplemente
realizando una investigacin relativa a la amplia historia de la termometra6. Se
han desarrollado numerosos dispositivos y sistemas de medida de temperatura
desdesiglosantesdeCristohastanuestrosdase,igualmente,sehanpretendido
regular o estandarizar las medidas mediante escalas termomtricas muy
diferentesconelobjetivodeconseguirmayorrepetitividadyconsensoensuuso.
Por lo general, los equipos de medida de temperatura (termmetros y
termoscopios, tambin conocidos como termmetros diferenciales) se basan en la
variacintrmicaregistradaenmaterialesalentrarencontactoconelcuerpobajo
inspeccin. Realmente, la construccin de estos instrumentos conlleva una
caracterizacin previa de los materiales o sustancias utilizados, siendo los ms
indicadosaquellosconuncomportamientotrmicomsregular;lamanerams
regulareslaformadevariacinlinealmenteproporcional.
Siguiendo las leyes de la Termodinmica, al poner en contacto dos
cuerpos, el calor (energa) fluye desde el cuerpo con mayor temperatura al de
menor temperatura hasta que ambos cuerpos alcancen el equilibrio trmico. El
usodetermmetrosytermoscopiostrata,entonces,deunamedidaindirectaen
la que la conduccin es el principal mecanismo de transferencia de calor. Pero,
es siempre necesario el contacto entre los dos cuerpos? Podra medirse una
temperaturasincontactoentreellos?Usartcnicassincontactopodraresultarde
granintersyaqueelobjetopuedeestarenmovimientooestartancalienteque
degradaraeltermmetrodecontacto.
Larespuestaalaanteriorpreguntapasaporlamedidadelaradiacinque
todo cuerpo emite como consecuencia de tener una temperatura. El mecanismo
de transferencia de calor llamado radiacin permite la estimacin de la
temperatura de los cuerpos de forma remota, sin contacto. Esto resulta muy
beneficioso alcontribuiraque los mtodosbasadosenestemecanismonosean
invasivosointrusivos.Deestaforma,surgenlosmtodospticos7.
6
Termometra: Parte de la Termologa que trata la medicin de temperaturas.

Mtodos pticos: Tcnicas cuyo fundamento comporta la interrelacin entre la energa
electromagntica y la materia. En general se asigna tambin a estos mtodos el nombre global de
7

-7-
Los mtodos pticos son, inherentemente, no intrusivos y de aplicacin

sincontacto.Representanmtodosdegransensibilidad,fiabilidadyrapidezque
noalteran,porlogeneral,lamuestracuandostaesinspeccionada.Lamayora
de estos mtodos se basan en principios fsicos conocidos desde hace siglos y
puedenserclasificadosdeacuerdoacuatroprincipiosbsicos:radiacintrmica,
esparcimiento de la luz, interaccin con la materia y mtodos relacionados con
cambios en el ndice de refraccin, entre las que destacan aquellas basadas en
mtodos interferomtricos y las que utilizan la deflexin de la luz [Ambrosini,
2006]. Otra clasificacin frecuente divide las tcnicas pticas de acuerdo con la
regin espectral que interacciona con la materia. As, se denomina a la
espectroscopiacomoderayosX,ultravioletalejano,ultravioletacercanoyvisible,
infrarrojocercanoymedio,infrarrojolejano,microondasyradiofrecuencia.
Elrecientedesarrolloycomercializacindelseres,cmarasysistemasde
procesado de datos soportados por un software apropiado ha permitido un
renacimiento de estas tcnicas y extendido sus posibilidades al anlisis
cuantitativo de los datos. Entre las tcnicas de medicin pticas (metrologa
ptica)msusadasparatermometraseencuentranlapirometraylatermografa.
La pirometra8 es un mtodo de medida de temperaturas muy elevadas sin
contacto que se basa en una medida de la radiacin trmica emitida desde el
objeto.Sinembargo,lalimitacindesuusorespondealconocimientodelvalor
deemisividadespectraldelasuperficie,unodelosparmetrosdelaecuacinde
Planck que debe previamente ser conocido, o se debe suponer, antes que la
temperaturarealpuedasercalculada.Enlaprctica,lascondicionesrealesdela
superficie pueden no ser conocidas, o pueden estar cambiando debido a
oxidacin u otros recubrimientos, o la emisividad puede variar con la
temperatura del objeto mismo. Esta limitacin llega a solventarse usando
pirmetros con lser o pirmetros de mltiples longitudes de onda (dualband o
multiwavelengthpyrometers).
Porotrolado,laTermografaInfrarroja(TI)eslatcnicadeproduciruna
imagen visible consecuencia de la luz infrarroja invisible (para el ojo humano)
emitidaporobjetosdeacuerdoasucondicintrmica[Astarita,2006].Suorigen
seremontaaprincipiosdelsigloXIXgraciasalosexperimentosdeW.Herschel
(17381822)9, pero ha sido en los aos sesenta (dcada 19601979) cuando se ha
intentadoaplicaralamedidadelatransferenciadecalor[Carlomagno,1989].
espectroscopia. Los efectos que provoca la materia sobre la radiacin son de varios tipos:
absorcin de esta ltima, su emisin por parte de la materia en estados excitados, cambio en su
trayectoria o en sus planos de vibracin.
8
Derivado de la raz griega pyro- que significa fuego.
Los pirmetros de radiacin se clasifican de acuerdo a su principio de medicin en pirmetros de
radiacin parcial o pirmetros pticos y pirmetros de radiacin total. Los pirmetros pticos
determinan la temperatura de una superficie en base a la ley de radiacin de Planck considerando
un valor de longitud de onda de la radiacin emitida por la superficie mientras que los de radiacin
total son los que miden la temperatura captando toda o una gran parte de la radiacin emitida por
el cuerpo en base a la ley de Stefan-Boltzmann.
9
En 1800 Herschel investig el poder de calor de los rayos del espectro solar descubriendo que la
temperatura del termmetro suba cuando cambiaba del violeta al rojo e incluso ms all del rojo,
en una parte donde no haba luz aparente. Sus resultados fueron publicados en las Philosophical
-8-
Pirometra o Termografa? Cul de estas dos tcnicas utilizar? Para

dilucidaralgunadelasdudasplanteadasconestapreguntaseinvitaalalectura
delsiguienteapartado.
El poder de la imagen
Denuestrossentidos,lavistaessindudaelmsdesarrolladoyelmsperfecto.
Nuestra memoria es capaz de almacenar cantidad de imgenes y el cerebro es
particularmente eficaz procesndolas. Las imgenes visuales proporcionan a
travs del ojo, informacin sobre el color, la forma, la distancia, posicin y
movimiento de los objetos. Una gran cantidad de informacin es, por lo tanto,
contenidaenunanicaimagenque,comobienrecogeelrefraneroespaol,vale
msquemilpalabras.
De la misma forma, el uso de imgenes permite inspeccionar reas en
lugar de tener medidas puntuales. Representan, igualmente, un mayor
conocimiento en la medida de procesos que exhiben una alta variabilidad
espacial,talescomolatemperaturaolatransferenciadecalor.Lamayorpartede
lossensorestrmicos(termopares,termorresistores,pirmetros,calormetros,)
slo permiten una medida puntual (o promediada en el espacio) por lo que
limitan la informacin ofrecida de forma unidimensional (la transferencia de
calor que miden o recogen se asume que es perpendicular a la superficie del
sensor). Es as como, con el desarrollo de la Termografa Infrarroja, sta se ha
convertidoenunadelasherramientasmsvaliosasdediagnstico,evaluaciny
prueba. Esta tcnica genera imgenes infrarrojas, llamadas termogramas, o
fotografas del calor que emiten los objetos, en las cuales se puede medir su
temperatura. Al estar basada en imgenes, representa un sistema de medida
bidimensional. Adems, tratando sus datos con algoritmos y procesados de
imgenesapropiadosyrelacionadosconlamodelizacindelosmecanismosde
transferencia del calor en slidos, la termografa llega a ofrecer informacin
tridimensional de los mismos. Esto ltimo se desarrollar en un captulo
posterior.
1.4
Motivacin
Enlaactualidadnosediscutequelacalidadesunfactorprioritarioenlagestin
decualquierempresaoproducto.Lospreciosdelosproductossehacencadavez
menos relevantes y factores como la calidad son elementos de decisin. Pero,
quseentiendeporcalidad?Esuntrminomuyheterogneoqueimplicavalor,
excelencia o superioridad, o simplemente el cumplimiento de una condicin o
requisitoyesaplicabletantoamateriales,aprocesoscomoaproductos.
Como ya se ha mencionado, la medida de temperatura o de la
transferencia de calor resulta crtica en multitud de procesos y puede, a la vez,
ser utilizada para caracterizar materiales, componentes o estructuras. As, la
medicinexactayprecisadetemperaturasogradientesdelasmismasesdegran
importancia para toda una serie de procesos tcnicos en los que se logran los
resultados deseados slo si es posible mantener ciertas temperaturas o
Transactions of the Royal Society of London. Herschel encontr que los rayos calricos tambin
obedecan las mismas leyes de refraccin y reflexin que la luz visible.
-9-
mantenerlas dentro de unos mrgenes determinados. Entre dichos procesos se

encuentran,porejemplo,losrelacionadosconlafusindelosmetales,losdela
coccindelacermica,lafusindelvidrioylasinterizacindelaporcelana.As
mismo, la transferencia del calor en un objeto puede mostrarnos caractersticas
propiasdelmismooinclusoofrecerinformacinacercadesuestadointerior.
Considerando lo anterior, en este trabajo se presentarn contribuciones
basadas en tcnicas termogrficas para la evaluacin y prueba de materiales y
procesos de forma no destructiva ni invasiva. Pero, cmo se mide la
temperatura?Lossensoresdetemperaturausadoseninspeccintrmicapueden
separarse en dos categoras: sensores de temperatura de contacto y sensores de
temperaturasincontacto.Lossensoressincontactosebasanmayoritariamenteen
sensores infrarrojos10 y miden la radiacin electromagntica generada en la
superficiedelosobjetos.Existendispositivosdeimageninfrarroja,escneresde
mano porttiles, sistemas interferomtricos, radimetros y pirmetros. Por otro
lado, los sensores con contacto incluyen los dispositivos termoelctricos
(termopilas, termoacopladores y termistores11) y aquellos que utilizan
recubrimientos de materiales sensibles a la temperatura (cristales lquidos,
pinturas sensibles al calor, componentes termocromticos, papeles sensibles al
calor, fsforos o componentes orgnicos que emiten luz visible cuando son
excitados por luz ultravioleta). Pero, cules son mejores? A pesar de poder
llegarasermsprecisosyexactosensumedidadelatemperatura,lossensores
de contacto poseen algunas limitaciones como su inconveniencia para medir
temperaturas en objetos que puedan estar en movimiento, que sean frgiles,
inaccesibles, pequeos o estar tan calientes que degraden cualquier sensor al
contactoo,simplemente,puedeninfluiroperturbarelobjetodemedida.
Porelloesdeseableelusodetcnicassincontactodeinspeccintrmica
basadaseninfrarrojoscomoensayosnodestructivosaptosparalaevaluacinde
calidades en procesos y productos manufacturados. Pero, qu se utiliza,
pirometra o termografa? Utilizando la termografa infrarroja obtenemos el
beneficiodecapturarimgenes(mayorcontenidodeinformacin)manteniendo
la rapidez, fiabilidad y seguridad en las medidas. Los sistemas infrarrojos
porttiles convierten instantneamente la radiacin trmica en mapas trmicos
visibles que pueden ser visionados en equipos de video convencional o en
formatodigitalparapoderrealizarunanlisiscuantitativodetemperatura.
Para qu sirve la termografa? En qu tipo de inspecciones puede ser
aplicada? Las aplicaciones en las que este tipo de ensayono destructivo resulta
de gran utilidad son muy variadas. Muchos equipos que conducen o generan
calor o fro son candidatos para ser inspeccionados con estos mtodos
termogrficos.Igualmentelosonensayos,procesosycomponentesenlosquela
temperatura sea una magnitud a controlar. As ocurre en la identificacin de
10
Todo cuerpo a una temperatura superior al cero absoluto emite radiacin, predominantemente en
la regin infrarroja.
11
Los termoacopladores o termopares son uniones de dos metales diferentes que al calentar
ofrecen una diferencia de potencial entre ellos. Los termopilas son agrupaciones de
termoacopladores que incrementan la salida elctrica. Los termoresistores son semiconductores
que cambian su resistencia en funcin de la temperatura a la que se encuentran.
-10-
fugas,intrusionesdelquidosydelaminaciones,desencoladosoburbujasdeaire
en materiales de nueva generacin (existe un amplio uso de pegamentos para
crear estructuras o aadir cubiertas protectoras). Slo por mencionar algn
ejemplo,alposibilitarladeteccindeanomalasquemuyamenudoresultanser
invisibles a simple vista, la termografa permite detectar y desencadenar las
pertinentesaccionescorrectoras.
Trabajando en el control de procesos de la industria siderrgica y la
evaluacin de componentes manufacturados, se pueden emplear distintos
mtodos en la inspeccin trmica segn el tipo de anomalas que se esperan
tratar. As, se pueden dividir los mtodos de inspeccin tratados en mtodos
estacionarios y mtodos transitorios segn sean los utilizados para detectar
anomalas donde las temperaturas cambian muy poco con el tiempo (por lo
general, aquellos objetos o procesos trmicamente activos) o bien lo hagan
durante el propio tiempo de medida, respectivamente [Balageas, 1987], [Cielo,
1987]. En el primero de los casos, los tipos de anomalas producen grandes
diferenciastrmicas,ydebenserdegrantamaoycercanosalasuperficiepara
que las imgenes o datos de temperatura resultantes sean entonces fcilmente
interpretados. Existe un mayor reto en el caso de objetos trmicamente pasivos
ya que lo esencial en este caso es conseguir un calentamiento y enfriamiento
uniformes y controlar esos gradientes para mantener las diferencias trmicas
causadasporlosdefectos.Enelsegundodeloscasos,cuandolasdiferenciasde
temperaturapuedenproducirseparaluegodesaparecer,mltiplesmedidasenel
tiempo permiten una interpretacin cuantitativa de lossucesos. Destacar que la
fuentedeexcitacindebeserdesconectadaparaeliminarsuinterferenciaconlas
medidas.Entendercmoafrontarunainspeccinresultaimprescindibleparalaexitosa
evaluacindelmaterial,procesoocomponente.
Cada caso particular requiere de un conocimiento a priori del proceso o
componente,convirtindoseesteconocimientoenalgoindispensablesisequiere
realizar un anlisis cuantitativo. Los mecanismos de transferencia de calor de
conduccin, radiacin y conveccin son afectados por las caractersticas del
material(calorespecfico,densidad,conductividadtrmica,difusividadtrmica,
coeficientedeconveccin,emisividad)12ylainspeccintrmicadependedelas
variaciones locales de dichas caractersticas para establecer una diferencia de
temperaturasmedible.Esporelloqueresultanecesarioconocerlomejorposiblelos
mecanismos de transferencia de calor para poder obtener la mayor sensibilidad en el
anlisisdesecuenciastrmicas.
12
Calor especfico, c: es la cantidad de calor necesaria para aumentar la temperatura en una unidad
por unidad de masa de un material, sin cambio de estado
Densidad, : cantidad de masa contenida en un determinado volumen.
Conductividad trmica, k: es la cantidad de calor que fluye en una direccin cuando existe una
diferencia de temperatura del material en esa direccin, capacidad de los materiales para dejar
pasar el calor.
Difusividad trmica, : es la velocidad a la cual el calor fluye de una regin de alta temperatura
hacia sus alrededores ms fros
Factor de conveccin, h: es una medida de cun eficiente el calor es intercambiado entre una
superficie y un gas o lquido en movimiento
Emisividad, : indica la eficiencia de una superficie como radiador (o absorbedor) de radiacin
electromagntica. Es funcin de otras variables, incluyendo color y rugosidad de la superficie.
-11-
Adems,eltratamientodigitaldelaimagenpuedeserusadoparamejorarla
calidad de las imgenes trmicas. El filtrado espacial puede suavizar los datos
eliminando el ruido de alta frecuencia causado por los dispositivos de
calentamiento externos. Por ejemplo, se reemplaza el valor de un pxel por un
promediadodesuscuatropxelesvecinosmscercanos[Potet,1987].Tcnicasde
promediado de la seal pueden tambin utilizarse para reducir el ruido de las
imgenes si las mismas no varan demasiado rpidamente con el tiempo. Las
funcionessustractivastantoeneldominioespacialcomoeneltemporaleliminan
patrones de no uniformidades de las fuentes de calor, de emisividades
superficiales o variaciones de temperatura no relacionadas con anomalas
(efectosconvectivosoconductivos).Teniendolamedidadetemperaturalomsfiable,
precisa y exacta posible, las tareas de anlisis cuantitativo resultan ms precisas y
acertadas.
1.5
Estructura del documento
La presente memoria se divide en cinco partes, como se aprecia en la siguiente

tabla:
Tabla 1-1. Estructura del documento de tesis.
Parte 1
Parte 2
Parte 3
MEMORIA
DE LA
TESIS
Captulo 1
Captulo 2
Captulo 3
Captulo 4
Captulo 5
Captulo 6
Anexo A
Anexo B
Parte 4
Anexo C
Anexo D
Parte 5
Anexo E
Anexo F
Summary
Introduccin
Estado del arte de la termografa infrarroja
Detectabilidad de defectos subsuperficiales en
sistemas de termografa activa con escasa
digitalizacin
Automatizacin del procesado de imgenes
Conclusiones y lneas futuras
Bibliografa
Principios fundamentales de la Fsica del calor
Conocimientos y tcnicas claves en
termografa infrarroja
Aplicaciones industriales de la termografa
infrarroja
Tcnicas de procesado de imgenes en
secuencias termogrficas
Algoritmos de deteccin de patrones lineales
Equipamiento utilizado
Summary
La primera parte comprende los preliminares de la obra con la

Introduccin(captulo1)yEstadodelartedelatermografainfrarroja(captulo
2)dondesedescribelatcnicayserealizaunrepasodelascontribucionesms
recientes en aspectos tales como la actualidad de los sistemas hardware, los
desarrollossoftwareylasaplicacionesadhoc.
La segunda parte engloba las contribuciones ms destacadas con una
comparativa de sistemas de termografa activa pulsada en trminos de
Detectabilidaddedefectossubsuperficiales(captulo3)ylaAutomatizacindela
deteccin y evaluacin de defectos internos (captulo 4) donde se procura
-12-
automatizar los procesos de decisin en cuanto a la presencia de defectos

subsuperficialesendistintosmateriales.
La tercera parte rene las Conclusiones finales, se apunta a las Lneas
abiertasyseestablecenlosFuturostrabajosaseguir,frutodeestosestudios.
La cuarta parte est constituida por las referencias bibliogrficas y los
anexos. Los anexos, seis, recogen otros aspectos de inters tiles en la
comprensindelaobra,caractersticastcnicasdelosequipamientosempleados
yalgortmicasusadas.
Laquintaparterefiereunresumenamplioeninglsparalaconsecucin
delamencindeDoctoradoEuropeoalaqueaspiraelautor.
Adems, para finalizar se indican ciertas consideraciones preliminares
queafectanalapresentacindeestedocumento:
Laterminologausadaparaidentificarlasanomalasquesedetectanenla
inspeccin trmica puede ocasionar indeterminaciones. La deteccin y
localizacin de discontinuidades en la transferencia de calor tiene como
origen anomalas que pueden ser provocadas o no y que pueden
considerarse o no defectos. Se detectan exactamente de la misma forma
las perforaciones, inclusiones de materiales, desencolados y
discontinuidades de materiales quedando relacionados al trmino
defectossiresultanperjudicialesonodeseados.
Parafacilitarelseguimientodelalectura,lasreferenciasbibliogrficasse
incluyen organizadas por captulos u ordenadas alfabticamente y en el
formato [primer apellido del primer autor, ao de publicacin]. En el caso de
coincidencia de referencias, se asignan letras al final de las mismas para
diferenciarlas.Enlasreferenciaspropiasdelautor,ladistincinserealiza
mencionando el lugar de publicacin de la contribucin bien con el
acrnimodelcongresobienconelidentificadordelarevista.
Enelltimodeloscaptulossemuestraunlistadodelascontribucionesa
las que ha dado lugar este trabajo ordenadas por
colaboraciones/proyectosenlosquesehaparticipado.

-13-
Captulo 2
Estado del arte de la termografa
infrarroja
La medida distribuida de la temperatura y su distribucin en el tiempo

permite deducir la distribucin del calor y sus flujos. A travs de ello, sin
contacto, de forma no invasiva y no destructiva, se pueden predecir estados
del material o de su estructura. Para que la inspeccin trmica provea
resultados tiles se han de lograr diferencias de temperatura (contrastes
trmicos) entre el rasgo de inters y su entorno, mediante un equipo de
medidaapropiadoyconocimientoparainterpretaryanalizaradecuadamente
losresultados.
Enestecaptulosemuestranlastendenciasenestecampoatravsde
unanlisisdepublicacionesquerecogenlasltimascontribucionescientficas
ycatlogosdeproductoscomercialesactualmenteenelmercado.Delamisma
forma, se revisa el estado del conocimiento y de la tcnica de la termografa
infrarroja con el fin de detectar carencias que sugieran la formulacin de los
objetivos a perseguir con este trabajo doctoral. Los resultados ms
significativos, que se recogern en los captulos siguientes, han dado lugar a
las contribuciones que se incorporan al estado del arte de la termografa
infrarroja.

-15 -
2 Estado del arte de la termografa infrarroja

Latemperaturaesunparmetroclaveenprocesosdefabricacin,enevaluacin
de materiales y dispositivos, entre otros. Su medida de forma remota (sin
contacto)evitalaalteracindelobjetodemedida,delambientequelorodeaodel
valor de la medida. La consecucin de imgenes trmicas posibilita la
observacin bidimensional de los mecanismos de transferencia de calor
otorgando mayor cantidad de informacin, en comparacin con las tcnicas de
medidameramentepuntuales.Elhechodeaadirlaposibilidaddeunanlisisy
un registro temporal de esas imgenes, conduce a un mayor control y
conocimiento de los procesos bajo inspeccin. Por ello, la termografa infrarroja
(TI) se posiciona como una alternativa seria, fiable y precisa a otras tcnicas de
ensayosnodestructivos(END)comolaRadiologaIndustrial(RX),Ultrasonidos
(UT), Corrientes Inducidas (PE), Partculas Magnticas (PM), Lquidos
Penetrantes(LP), Inspeccin Visual (IV), Emisiones Acsticas (EA) o Ensayo de
Fugas (PF) [ASNT, 2001]. En el anexo B se recogen unas pinceladas sobre los
conocimientosytcnicasclavesenTI.
Cada tcnica END tiene sus propias ventajas e inconvenientes. Las
propiasdelatermografainfrarrojaseresumenenlasiguientetabla:
Tabla 2-1. Cuadro resumen de las ventajas e inconvenientes ms representativos en el uso de la termografa
infrarroja como ensayo no destructivo.
Ventajas
Inconvenientes
2.1
Rapidezenlainspeccin
Sincontacto
Seguridad(noinvolucraradiacionesdainas)
Resultados relativamente fciles de interpretar
(formatoimagen)
Amplio rango de aplicaciones, posee nichos de
aplicacinexclusivos
Dificultad de uniformidad de excitaciones en
algunasmedidas(termografaactiva)
Efectos de mecanismos de transferencia de calor
muyvariados(conveccin,radiacinyconduccin)
Capacidad limitada de la deteccin de defectos
subsuperficiales
Disponibilidad para inspeccionar especmenes de
ciertoespesor
Problemasdeemisividad
Situacin y tendencias
Lamejoraysofisticacindelascmarasdeinfrarrojo,elincrementodelpoderde
computacinylamejoradelsoftware(algoritmos,modelados)involucradoenel
anlisisdelassecuenciastermogrficasanimanalabsquedadenuevosnichos
-17 -
deaplicacindelatermografayaunasustancialmejoradelosresultadosenlas
aplicaciones ya conocidas. No hay ms que observar el auge de conferencias y
publicacionesquetratanestostpicosyreflexionarsobrelascomunicacionesque
enestosmediosaparecen.
ConferenciasinternacionalescomoThermosenseenAmrica(anual,enel
ao 2006 ha celebrado su XXVIII encuentro internacional) y QIRT (Quantitative
Infrared Thermography, conferencia bianual que celebra durante el 2006 su
octava edicin) en Europa, son especficas en los usos cientficos, industriales y
generales de la medida de temperatura y la obtencin de imagen mediante
infrarrojos. Conferencias igualmente internacionales pero con sentido ms
amplio al ser enfocadas hacia los ensayos no destructivos (END) y donde la
inspeccin trmica tiene una clara continuidad son: NDT Conference (Annual
BritishConferenceonNonDestructiveTestingqueduranteel2006celebrasu45
encuentroanual)ylaECNDT(EuropeanConferenceonNonDestructiveTesting
cadacuatroaosalcanzandosunovenaedicinen2006)enEuropayla,tambin
cada cuatro aos, conferencia mundial WCNDT (World Conference on NDT en
su sptima edicin en el 2004). Tambin existen grupos de trabajo como el
Advances in Signal Processing for Non Destructive Evaluation of Materials
(IWASPNDE) cada cuatro aos en Qubec, Canad, (en su quinta edicin en
2005), y el Advanced Infrared Technology and Applications (AITA) bianual en
Italia(ensuoctavaedicinen2005).Todosestosencuentrossonejemplosclaros
delarelevanciaydifusinadquiridaporlatermografainfrarrojaenelmundo.
Publicaciones avaladas por las distintas asociaciones (ASNTMaterials
Evaluation, BINDTInsight, QIRTQirt Journal, IEEE, SPIE,), aquellas propias
del campo de la caracterizacin de materiales (Research Nondestructive
Evaluation,NDT&EInternacional,entreotras),yalgunaspropiasdelapticao
de la fsica aplicada (Infrared Physics and Technology, Optical Engineering,
Advance Physics, Optics and Laser Technologies,...) presentan en sus nmeros
los avances de una tcnica con marcado carcter experimental y abarcando el
desarrollo de dispositivos, los ensayos no destructivos, la metrologa, la
biomedicina,aplicacionesambientales,laingenieracivil,elmodeladotrmico,
Kurt Ammer realiza anualmente un escrutinio de la literatura en
diferentes publicaciones que contiene alguna de las siguientes palabras:
thermography, thermometry, temperature measurements o thermology
[Ammer,20032006].Utilizaparaellodiversasbasesdedatos(Embase,Medline,
Science Direct, HighWire,) y, como resultado, destaca que la palabra
thermography(consusvariantesinfraredimagingythermalimaging)es
laquemsvecesaparecereferenciada.

-18-
CAPTULO 2. ESTADO DEL ARTE DE LA TERMOGRAFA INFRARROJA
700
600
N referencias
500
400
300
200
100
0
1960
1965
1970
1975
1980
1985
1990
1995
2000
2005
2010
Ao
SCOPUS
COMPENDEX
INSPEC
Figura 2-1. Aparicin de los trminos thermograph*, thermal imaging o infrared testing en distintas bases de datos
de recursos bibliogrficos, organizadas por aos.
Enbasesdedatosmuchomscompletas,Scopus13,InspecyCompendex14
se puede observar la evolucin del nmero de veces que aparecen los trminos
thermograph*,thermalimagingoinfraredtesting.LaFigura21recogeel
nmero de incidencias, organizadas por aos, observando claramente una
tendencia alcista en cuanto a las publicaciones en las que aparece, en la
descripcin de la referencia bibliogrfica, alguno de los trminos previamente
comentados.
Resulta a su vez interesante el grfico recogido en la Figura 22 y
originadotraslaconsultadelasbasesInspecyCompendex.Enlserepresentala
contribucinporpasesalasmuestrasdelaspublicacionesanteriores.Sinduda
alguna, Estados Unidos de Amrica (USA) aparece como el pas que ms
contribucionesaestecampoestaportandodesde1969conun30.4%deltotalde
7304 publicaciones. El segundo pas es el Reino Unido con un 11.6% siendo el
tercero y el cuarto China y Alemania con un 4.4% y un 4.1%, respectivamente.
Estoscuatropasesrepresentanmsdel50%delaspublicacionesenestecampo.
Espaaseencuentraenundiscreto21erlugarrepresentandounaportedel0.5%
detrs de pases como Grecia, Blgica, Holanda y Suecia con mucha menor
poblacinyquetambinformanpartedelaUninEuropea.
13
Scopus es una novedosa herramienta de navegacin que engloba la mayor coleccin de

resmenes, referencias e ndices de literatura cientfica, tcnica y mdica (CTM) a nivel mundial y
con referencias citadas de ms de 14.000 publicaciones procedentes de ms de 4.000 editores
internacionales desde el ao 1966. Las bsquedas se realizan simultneamente en la base de datos
Scopus y en el motor de bsqueda de informacin cientfica en Internet Scirus.
http://www.scopus.com/scopus/home.url
14
Inspec y Compendex son bases de datos bibliogrficas en lnea, producidas por Engineering
Information, con informacin cientfica y tecnolgica de todas las ramas de la Ingeniera: civil,
industrial, mecnica, qumica, ambiental, minera, metalrgica, energtica, de materiales, naval,
nuclear, informtica. Contienen ms de 8 millones de referencias y resmenes de artculos de
5.000 revistas especializadas, conferencias e informes tcnicos. Disponible desde 1969.
http://www.engineeringvillage2.org
-19-
Espaa
Grecia
Blgica
Australia
Holanda
Taiwan
Suecia
Corea
Suiza
India
Polonia
Israel
Rusia
Canada
Italia
Francia
Japn
Alemania
China
UK
USA
36
36
38
41
42
45
53
55
62
74
128
134
159
170
185
231
281
299
322
500
845
2220
1000
1500
2000
2500
N publicaciones
Figura 2-2. Contribuciones por pases que aparecen recogidas en las bases de datos Inspec y Compendex desde 1969 y que
contienen alguno de los siguientes trminos: thermograph*, thermal imaging o infrared testing. Se observa un claro
predominio del mundo anglosajn en este campo de la ciencia. Espaa aporta un 0.5%, contribucin sensiblemente inferior
a la de otros de pases de su entorno.
Realizandolaconsultaporeditores,sedestacancuatrograndesentidades
que auspician diferentes publicaciones: el American Institute of Physics (AIP),
TheInternationalSocietyforOpticalEngineering(SPIE),laeditorialElsevieryel
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). Valindose de los
distintosaccesosonlinequepermitenconsultareltextocompletodecadaunade
ellas15,serealizaunacomparativaentrelosdistintoseditoresdelaspublicaciones
enlosltimoscincoaos(periodoenerode2000juniode2006).EnlaFigura23
se observa que la tendencia es similar (hay que tener en cuenta que el tiempo
invertido por cada editorial en el proceso de revisin de pares vara de unas
publicaciones a otras) y que Elsevier ha logrado una primaca en los ltimos
aos, anteriormente ostentada por el SPIE. Esto se debe al incremento del
nmerodepublicacionesdeestaeditorial,laagilizacindelosprocesosdeenvo,
correccin y aceptacin (la mayor parte hacen uso de tecnologas web) y la
gratuidaddemuchosdesuscontenidos.
Enunintentodeclasificarlascontribucionesqueaparecenenlosdistintos
medios, se toma como referencia la subdivisin en sesiones que presentan los
congresos ms especficos. Igualmente, la rapidez de publicacin y
reconocimientocientficodeloscongresoshacequeseanunabuenamuestradel
estado del arte. As, en base a lo programado en los congresos Thermosense y
QIRT, se muestra a continuacin la Figura 24, que refleja el nmero de
ponenciasyposterspresentadosencadasesindelosltimosencuentros.
15
AIP: http://scitation.aip.org/;SPIE: http://spiedl.org/; Elsevier: http://www.sciencedirect.com/;

IEEE: http://ieeexplore.ieee.org/Xplore/guesthome.jsp
-20-
120
100
N referencias
80
60
40
20
0
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
Ao
Elsevier
AIP
SPIE
IEEE
Figura 2-3. Contribuciones en los ltimos cinco aos en el campo de la termografa e inspeccin trmica recogidas por
cada editor de entre los cuatro seleccionados, esto es, el American Institute of Physics (AIP), The International Society for
Optical Engineering (SPIE), la editorial Elsevier y el Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). La consulta
en la base de datos del IEEE slo ha sido posible realizarla hasta mediados de 2005.
Sobre una muestra de 377 artculos, se observa que los ensayos no

destructivosenglobanelmayornmerodeellossiendoseguidosporelreadela
mecnicadeslidosyfluidos.Lassesionesdeensayosnodestructivosabarcanla
evaluacin de especmenes (principalmente compuestos reforzados de fibra de
carbono, CFRP, de gran uso en industrias como la aeroespacial), el estudio de
daosporimpactos,fugasdegasesolquidoseinspeccionesvarias,comoelcaso
de los transbordadores espaciales16. Las contribuciones en la fsica mecnica
incluyen estudios de propiedades termofsicas, modelados del flujo de calor,
semiconductores, combustin y llama resultando el congreso QIRT el principal
agrupadordeestaspublicaciones.
El campo de la radiometra y la metrologa sigue siendo de especial
relevancia atendiendo a la calibracin de equipos, estudios de emisividades,
desarrollo de nuevas fuentes de calibracin, El control de procesos y
aplicaciones industriales en las ramas de desarrollo de automviles, de la
generacin de electricidad, deformacin en mquinas, hornos, alimentacin,
representa el 11% de todas las muestras. La evaluacin de materiales e
infraestructuras propias de la ingeniera civil contina aportando conocimiento
cientfico como se observa en las diferentes sesiones, siendo el control de la
humedadydelascaractersticasdelcementolospilaresdetalrea.
16
Tras el desastre del transbordador espacial Columbia en su ltima misin en febrero de 2003, el
Columbia Accident Investigation Borrad (CAIB) hizo una serie de recomendaciones a NASA con
la intencin de prevenir en el futuro accidentes similares. La primera de las recomendaciones es la
investigacin de mtodos que certifiquen la integridad de los materiales siendo la termografa el
primero de los mtodos de ensayos no destructivos seleccionados por la NASA.
El CAIB concluy que una pieza de espuma aislante se desprendi, en el despegue, del tanque
externo de combustible y golpe el ala izquierda del transbordador causando daos en un panel de
carbono reforzado (reinforced carbon-carbon, RCC). Esto hizo que el aire, sobrecalentado por la
friccin, fundiera la estructura de aluminio del ala y as el Columbia acabara desintegrndose.
-21-
Figura 2-4. Porcentaje de las contribuciones distribuidas por materias como resumen de las ltimas conferencias
especficas (Thermosense 2004, 2005 y 2006 y OIRT 2004 y 2005). Se observa que el mayor nmero de publicaciones
hace referencia al uso de la termografa infrarroja para ensayos no destructivos.
Destacar que en el 2004, las aplicaciones de la inspeccin trmica a la

deteccin de la gripe aviar (SARS) hicieron que el campo biomdico en estas
conferencias acumulara un gran nmero de contribuciones (en Thermosense
2004, se tuvieron dos sesiones especiales en relacin con esta enfermedad que
caus muertes en todo el mundo). El estudio con termografa de tejidos
humanos,deteccindecncerdemamaylosefectosdelaacupunturapresentan
avancescualitativosycuantitativosenelcampodelamedicina.
El procesado de imagen mantiene su importancia al recoger
contribucionesquepuedenseraplicadasatodaslasdemsfacetasquetenemos
en consideracin. Nuevos procesados para el anlisis cuantitativo de las
secuenciastermogrficasyunintersporlastcnicasdereduccindelosdatos
parasumejortratamientoyalmacenamiento,acaparanesteapartado.Tambinse
hadetectado,aunqueenmenormedidaconun4%delamuestra,laaplicacinde
la termografa infrarroja a nichos tan especficos como el arte (restauracin y
diagnstico de pinturas, esculturas y monumentos) o el medioambiente
(agricultura, incendios forestales,). Finalmente, el resto de los artculos
revisados se agrupan en un nico apartado (otros) que recoge, entre otras,
aplicaciones especficas como la EMIR (medida de patrones de radiacin de
antenas),sistemasdevigilanciaodeinspeccintrmica.
2.1.1 Hardware
Existe una gran variedad de dispositivos relacionados con la termografa
infrarrojaquehanencontradosudesarrollocomercialenlosltimosaos.Siendo
unatecnologaeminentementemilitarafinalesdelsigloXX,sehaconvertidoen
la actualidad en una herramienta de uso comn en multitud de actividades
civiles.
Sehandiseadonuevossistemasdecapturadeimgenessiendocadavez
mspequeos,mscompactosyligeros,demayoresvelocidades,sinolvidaruna
sustancialreduccindesuprecio.Secomercializantecnologasqueproporcionan
sensoressinnecesidaddeenfriamiento,logrando,adems,matricesdedetectores
-22-
de mayor tamao, menor ruido, mejorando la resolucin espacial (utilizando

nuevos sistemas de lentes) y, adicionalmente, ofreciendo los datos de
temperaturadigitalizados.
Antes de estos avances, la cmara de infrarrojos bsica consista en un
detectorconunsistemaelectromecnicodebarridodeelevadoruidoylimitado
rendimiento. En la actualidad existe una amplia variedad de detectores
(cunticos, bolmetros, etc) con interfaces digitales de 14 bits, bajo nivel de
ruido(menorde20mK),tamaosdeimagende640x382pxeles,yfrecuenciasde
muestreo de hasta decenas de KHz. Las figuras de mrito utilizadas en su
comparacin han cambiado como consecuencia de la evolucin de los mtodos
de caracterizacin y la mejora tecnolgica en los respectivos parmetros. Los
parmetrosactualmenteaceptadosson:laresponsividad,lapotenciaequivalente
de ruido (NEP), la detectividad normalizada, la diferencia de temperatura
equivalente al ruido (NETD), la mnima diferencia de temperatura resoluble
(MRTD)ylarespuestaentiempo.Otras,menosusadas,son:lalinealidadde la
respuesta,elacoploentreelementosdeldetector,elrangodinmicoylafuncin
transferenciademodulacin(MTF)[Datskos,2003].EnelAnexoFseencuentra
una breve introduccin descriptiva de algunos modelos de cmaras usadas en
inspeccionestermogrficas.
Paraelusoentermografaactiva,tambinexisteunaevolucinnaturalen
lossistemasdeexcitacinmejorndose,coneltiempo,laenergaylacalidadde
los pulsos de luz obtenidos con los flashes17, aumentando la variedad de
frecuencias generadas con ultrasonidos y creando lseres sintonizables en
longitudesdeondamsacordesconlasnecesidades(infrarrojocercano).
Finalmente,lacapacidaddecomputacinaumentadeformaexponencial
permitiendo el almacenamiento de un mayor nmero de secuencias
termogrficas, el aumento de la velocidad de adquisicin de las mismas y el
procesadomseficienteyrpidodealgoritmoscadavezmscomplejos.
2.1.2 Software
El software utilizado en termografa infrarroja agrupa un gran nmero de
funcionesdefinidasparaelanlisisydiagnsticodelasimgenes,lagrabacin,el
almacenamiento y la recuperacin de las secuencias termogrficas, la
comparacin de imgenes y su catalogacin y, en la actualidad, las funciones
propiasdelanlisiscuantitativodelasmedidastrmicas18.
El procesado ms bsico incluye rutinas para restar las evoluciones de
ciertospxelesatodalaimagen(muytilsielpxelencuestincorrespondecon
una zona libre de defectos, contrastes trmicos). El uso de transformadas
aplicadasatodalasecuenciade datosrequierede losalgoritmosmseficientes
que,enconjuncinconelhardwaredecomputacin,ofrezcanlosresultadosdel
17
Consultar catlogos de fabricantes y representantes, por ejemplo Cromalite S.L:

www.cromalite.com
18
Suele incluir lecturas de la temperatura en un punto, creacin de perfiles X e Y, diferentes
paletas de colores, desplazamiento y rotacin de imgenes, magnificacin, anlisis de rea con
histogramas, promediado de imgenes, filtrados y grabacin en distintos formatos.
-23-
anlisisdelaformamsclarayrpidaposible.Nosedebeolvidarquesetrabaja
con tratamiento de imgenes, por lo que el procesado se ve fuertemente
implicadoporlostamaosdeimagenutilizadoshaciendonecesarialainclusin
de tcnicas de reduccin de datos bien para la operacin con los mismos bien
para su almacenamiento. As se habla de secuencias termogrficas sintetizadas
[Shepard,2001]odedescomposicionesdeimgenesencomponentesprincipales
(PCT,principalcomponentthermography)[Rajic,2002].
Paraoptimizarlaefectividaddelsoftware,eloperadordeunsistemade
termografainfrarrojadebeestarfamiliarizadoconlastcnicasdetratamientode
imagen bsicas. Una vez que la seal infrarroja ha sido preprocesada y
transformadaentemperaturaporelsoftwareincluidonormalmenteenelsistema
decaptura,serealizaaposterioriuntratamientodeimgenes,bienseaparafines
de deteccin de defectos internos o bien para su caracterizacin (determinacin
depropiedadestrmicas,tamaoyprofundidad).Esteprocesadopuedesertan
sencillo como realizar el contraste absoluto [Maldague, 2001] de los valores
temporales de temperatura entre dos zonas, asegurando que una de ellas sea
libre de defectos (soundarea)19. Una vez detectados los defectos, es igualmente
posible estimar la forma y el tamao de los mismos tras la aplicacin de un
algoritmo de extraccin de bordes o segmentacin, p.ej. Sobel, Roberts, Canny,
etc.
Finalmente,medianteelusodemtodosdeinversindelaprofundidad,
se puede establecer la profundidad de los defectos haciendo uso tanto de los
datos en el dominio temporal como en el frecuencial, si aplicamos la
TransformadadeFourierdiscreta(TFD).Eneldominiodeltiempo,lamayorade
estastcnicasrequierendeunaetapadecalibracinapartirdelacual,losdatos
experimentalespuedensersometidosaunprocesoderegresinconunarelacin
emprica [Ibarra, 2005]. En el dominio frecuencial, los mtodos de inversin,
tantoentermografalockin[Meola,2004]comoentermografapulsadadefase
[Ibarra, 2004], se basan en una relacin directa entre la profundidad z y la
difusividadtrmica[Ibarra,2005].
Cualquier software evolucionar por tanto incluyendo cada vez ms y
ms funciones que permitan simplificar, tratar y analizar las secuencias de
termogramas.Igualmenteincluirfuncionespropiasdelprocesadodeimagenas
como funciones explcitas de uso exclusivo en termografa. Cada fabricante
integra su propio software en los sistemas termogrficos, al menos con las
funciones ms comunes relegando las ms explcitas a las propias de cada
usuario.ComoejemplosdesoftwarepropietariosedisponedeMOSAIQTM,que
puede ser implementado en los sistemas de inspeccin EchoTherm o
ThermoScopedeThermalWaveImaging,Inc.(TWI),elMPS5.0delascmaras
Thermosensorik,elsoftwareThermaCamdeFlirSystemsoelThermoGRAMde
Thermoteknix Systems Ltd. Como ejemplo de otro software, desarrollado
explcitamente por laboratorios para uso genrico, se tiene ThermoFit o
19
La identificacin de esta zona suele ser una tarea poco factible adems de que su eleccin puede
condicionar los resultados, haciendo interesante la idea de evitar la identificacin de la soundarea
mediante procesado. Esto se consigue con el conocimiento a priori de la transferencia del calor en
el material y de la excitacin que se realice.
-24-
ThermoBuild20.Finalmente,tambinsedisponedecdigolibrecreadoenMatlab
comoIrViewcreadoporMatthieuKleinydescargabledesdesupginaweb21.
Apesardetodoestedesarrollosoftware,lainspeccinvisualporpartede
unoperadorsiguesiendolaformamscomnmenteadoptadaparaladecisin
finalenladeteccindedefectos.Diferentesorganizacionesalrededordelmundo
otorgan certificaciones de personal (inspector termogrfico nivel I, II y III)
[ASNT,2001].Laautomatizacindecualquierpartedelprocesoevitaenmayoro
menor medida la incertidumbre propia de la subjetividad humana,
considerndoseunxitoencasodesimplificary,alavez,ejecutarcorrectamente
elprocesodedecisin.
2.2
Problemticas detectadas
De la revisin del estado del arte se desprenden problemticas que a

continuacinsondetalladas.
2.2.1 Efecto de la digitalizacin en las seales termogrficas
La digitalizacin de las imgenes en una cmara termogrfica produce
limitaciones en la medida de la temperatura. Una seal de vdeo analgica es
digitalizadadedosformasconunacapturadoradigital:conunmuestreoespacial
yconunaconversinanalgicodigital,convirtiendovaloresdevoltajeaunnivel
digitaldeunaescaladegrises.
La frecuencia de muestreo determina el nmero de pxeles obtenidos en
cada lnea horizontal. Como mximo, debiera coincidir con la resolucin
horizontal de la cmara pero, an as, probablemente, se produzca una
degradacindelasealdelpxelalnosolaparseperfectamenteconloselementos
originales que compongan el detector. Por otro lado, la conversin analgico
digital tiene una resolucin de bit por canal que suele estar comprendida entre
los8ylos14bits.Porejemplo,con8bitssepuedenobtener256nivelesenuna
escala monocromtica mientras que podran obtenerse ms de 16 millones de
colores si la digitalizacin de 8 bits se realiza sobre los tres canales cromticos
(rojo,verdeyazul).
El efecto de la digitalizacin no slo tiene razn de ser por el uso de
cmaras con salida de video analgica. Las cmaras infrarrojas analgicas han
quedadoanticuadas.Sobreladcadadelosochentaapareciotratecnologaque
revolucion el mundo de la medida de temperatura sin contacto. Se
desarrollaronlossensoresdeefectotrmicootambinllamadosmicrobolmetros.
20
Diseados por el IR Thermography Laboratory de Tomsk Polytechnic University, Rusia.

ThermoBuild procesa imgenes infrarrojas en termografa de edificacin (programa diseado slo
para MatLabTM 6.5 y cmaras ThermaCAMTM IR) obtenindose imgenes de resistencia trmica
de paredes, imgenes de prdidas de calor,
ThermoFit es un software avanzado de procesado de secuencias termogrficas que incluye la
transformacin de Fourier, algoritmos de interpolacin, anlisis derivativo, caracterizacin de
defectos, tomografa trmica y tratamientos estadsticos. Est especialmente indicado para el
procesado de secuencias de termografa pulsada reconociendo los formatos tpicos de imgenes
capturadas y tratando los datos tanto en amplitud como en el dominio temporal y de frecuencia
(fase).
21
http://m-klein.com
-25-
Tabla 2-2. Resolucin trmica para un rango dinmico de 200C en funcin del nmero de bits utilizados en la
digitalizacin de las seales.
Nmero de bits
Nmero de niveles
Resolucin Trmica
8
9
10
11
12
13
14
15
16
256
512
1024
2048
4096
8192
16384
32768
65536
0,78125
0,390625
0,1953125
0,09765625
0,04882813
0,02441406
0,01220703
0,00610352
0,00305176
stos utilizan el efecto trmico de la radiacin infrarroja para variar las

condiciones elctricas de una microresistencia, compuesta por un material
semiconductor,yasobtenerunasealproporcionalalapotenciadelinfrarrojo
recibidoqueesconvertidaaformatodigitalenelpropiosensor.Estatecnologa
nonecesitaningntipoderefrigeracinyportantoreducedemaneraasombrosa
eltamaoyelpesodelossistemastermogrficos.Sinembargo,debidoaseruna
tecnologa en desarrollo, la miniaturizacin de cmaras con microbolmetros,
que sali a la luz en 2003, haca que la salida digital de algunas de lascmaras
fuerade8bitsanenel2004.Hoyenda,setienencasilasmismasprestaciones
en cmaras de tamao normal que en cmaras miniatura, con resoluciones
trmicasde14bits.
Ladigitalizacinestdirectamenterelacionadaconelrangodinmicode
temperaturas que el sistema es capaz de medir. La diferencia de temperaturas
entreelfondodelaimagenyelobjetivoes,porlogeneral,loquemarcaelrango
dinmico, el margen entre la mxima y mnima temperaturas de la escena.
Dependiendodeesosvalores,elnmerodenivelesotorgadosenladigitalizacin
establece la mxima resolucin trmica que puede alcanzarse, como puede
observarseenlaTabla22.
Suponiendoqueelmximorangodetemperaturasamediresde200Cy
seusaundigitalizadorde8bits,laresolucintrmicaresultaraserde200C/256
= 0.78C. Modificando la ganancia de los amplificadores de los detectores se
puedesensibilizarelsistemademedidaasealesmsdbilesaumentando,por
tanto,laresolucintrmica.Silagananciafueraincrementada,deformaquese
obtieneelmismorangodetensionesdesalidaparaunrangodetemperaturasde
entrada de 100C, la resolucin trmica sera 0.39C. Hay que destacar que esta
resolucintrmicapuedesermsrestrictivaquelasensibilidadtrmica(NEDT).
Cuando el NEDT es la limitacin trmica, un incremento de la profundidad de
bitdelosdatosnoaportamsinformacin.PorejemplosielNEDTesde0.1C,
noexisteraznaparenteparautilizarmsde11bitsenladigitalizacin.

-26-
Voltaje relativo
Ganancia alta; nivel alto

Ganancia baja; nivel bajo
V2
blanco
V1
negro
T3
T1
T2
Temperatura relativa
Figura 2-5. Variaciones de la ganancia y del nivel del offset en detectores. El rango dinmico es T2 T1 o T3 T1 segn el
conjunto de valores establecidos para la ganancia y el nivel.
Vistodeotramanera,conunsistemade8bits,cambiarconstantementela
ganancia y el nivel para poder expandir el rango dinmico de medida conlleva
unaprdidaderesolucintrmica.Enalgunoscasos,lascmarasestnprovistas
de un control automtico de ganancia y del nivel de offset (nivel que ajusta la
temperaturamnimaenelrango).Laseleccindelagananciayelniveldeoffset
en el detector limitan as el rango dinmico de la medida pero, el ruido, que
equivale a un nmero concreto de niveles digitales, tambin se modifica. La
Figura25ilustradosejemploscondiferentegananciayniveldeoffset.
ElrangodinmicodeentradaesT2T1produciendounasalidaentreV2y
V1.Paraelsegundoconjuntodevaloresdegananciaynivel,lamismasalidasera
producidaconunrangodinmicoT3T1.Enamboscasoselvaloraltodesalida
V2corresponderaalcolorblancomientrasqueelvalorbajoV1loharaalnegro
en una escala monocromtica. Esta diferencia de tensiones sera digitalizada
correspondiendo el ruido del sistema a un nivel digital determinado diferente
paracadaconjuntodevaloresdegananciaynivel.
Conocidoelequivalentedelruidoennivelesdigitales,seobtieneelrango
dinmicocapazdemedirse:
nmero bits
NEDT
Rango dinmico = 2digitalizacin
nmero nivelesNEDT
ec. 2.1
Por ejemplo, considerando que una medida del NEDT precisa de un

sistema es de 0.1C y que equivale a 4 niveles digitales, con un sistema de
digitalizacin de 8 bits el rango dinmico es de 6.4C. Sin embargo, con un
sistemade16bits,elrangodinmicoserade1638C.
Se observa que, segn se incrementa el nmero de bits en la
digitalizacin, el rango dinmico de medida se ampla y que la resolucin
trmicaseincrementa.Igualmente,utilizandounnmerodebitsreducidopuede
inducirseunalimitacinenlaresolucintrmicadelsistema,condicinquepodra
sermsrestrictivaquelasensibilidadtrmica.

-27-
2.2.2
Automatizacin del procesado de imgenes
Anconeldesarrollosoftware,laintervencindeunoperadorsiguesiendomuy
necesariayunafuentedeincertidumbres.Enestesentido,seconsideraunxito
elautomatizarcualquierpartedelproceso.
Como se desprende de la lectura del anexo D, diferentes problemticas
debenserresueltasparaobtenerunaautomatizacinenelprocesodedeteccin
de defectos en una secuencia termogrfica. En dicho anexo se clasifican los
procedimientosdetratamientodelassecuenciastermogrficasenpreprocesado,
procesado y postprocesado segn se refieran a un acondicionamiento, un
modelado directo o la extraccin de informacin de la secuencia,
respectivamente.
En el caso de las tcnicas empleadas para el acondicionamiento de la
secuencia (regeneracin de pxeles defectuosos (badpixels), correccin de ruido
aleatorio, correccin de Patrones Fijos de Ruido (FPN), correccin del encuadre
(vignetting),calibracinentemperaturayfiltradodeseales),laautomatizacin
es provista con el uso de matrices que corrigen el valor de cada pxel en cada
imagen mediante factores que engloban todo lo anterior en un proceso de
normalizacin y calibracin. Es posible estimar la forma y el tamao de un
defecto (postprocesado) al examinar un termograma o fasegrama, tras la
aplicacindeunalgoritmodeextraccindebordes,p.ej.Sobel,Roberts,Canny,
etc y el uso del concepto de detectabilidad. Para ello, se implementan funciones
propiasdetratamientodeimagendelasquedisponennumerosasaplicaciones.
Los procesados presentados requieren una obligatoria intervencin
humana para la exitosa inspeccin y evaluacin de los materiales. A grandes
rasgos, los mtodos de contraste trmico [Maldague, 2001] presentan la
imperiosa necesidad de la eleccin de un rea libre de defectos, soundarea, para
compararlasevolucionesyestablecerlospertinentescontrastes.Elmtododela
normalizacin [Zalameda, 2003] requiere la seleccin de la secuencia de
termogramassobrelaquerealizarlaoperacinquedanombreaestemtodo.La
termografapulsadadefase(pulsedphasethermography,PPT)[Maldague,1996]
[Ibarra, 2005] necesita de una optimizacin de la resolucin frecuencial a partir
del correcto muestreado y truncamiento de la secuencia. La termografa de
componentesprincipales(principalcomponentthermography,PCT)[Rajic,2002]
descompone la evolucin de la temperatura superficial en funcin de un
conjunto de matrices ortogonales de forma automatizada pero la referencia
temporal,indispensableparalaestimacindeprofundidadesdelosdefectos,se
pierde. El mtodo de primera y segunda derivadas [Martin, 2003] requieren de
una precisa sincronizacin entre la excitacin pulsada y la captura de las
diferentes imgenes para no afectar al clculo de las derivadas. Los mtodos
basados en Laplace y Wavelet [Ibarra, 2006], al igual que la PPT, necesitan el
previoyapropiadoestablecimientodelasescalastemporalesparapoderrealizar
lacorrectatransformacin.
De la reflexin a la que se invita con la lectura del anexo D, se extrae la
necesidad de focalizar los esfuerzos de automatizacin en los procesados que
modelan el comportamiento o evolucin trmica de los cuerpos. Igualmente, la
-28-
estimacin de la profundidad o las caractersticas trmicas de los defectos se

basanenlaprecisindeesosmodelados.As,cualquierformadereduccindela
subjetividadhumanainnataadichoproceso,ademsdeaumentarlaeficienciay
velocidaddelasinspecciones,conllevaunavaloracinmsrepetitivayexactade
ciertas cuantificaciones objeto de las inspecciones. La automatizacin de los
procesados viene tambin caracterizada por su consumo computacional y su
tiempoderespuesta.Elobjetivonoesotroqueproveerdeherramientassoftware
lo ms precisas, repetitivas, rpidas y fiables posibles para ser incorporadas en
losprocesosdeinspeccintermogrfica.
2.3
Conclusiones y objetivos
Hoyenda,elcontroldelacalidaddelosproductossehaconvertidoenunode
losprincipaleshitosdelaindustria.Debidoalacompetitividadreinante,seexige
decadaproductoquestetengaunacalidaddeterminadacomovaloraadidoa
sus caractersticas intrnsecas. Diferentes tcnicas han sido empleadas para la
evaluacin de productos y control de procesos de produccin a lo largo del
tiempo resultando ser un proceso evolutivo que va llegando a todas las
ramificacionesdeltejidoproductivo.Lainspeccinvisualydiferentestcnicasde
ensayosnodestructivos(END)hansidoexplotadasparacontrolarlacalidadde
los productos con la gran ventaja de tratarse de mtodos que no conllevan el
deterioro o rotura de los especmenes bajo prueba. Sin embargo, se sigue
investigandoenestasreasdeconocimientocomoconsecuenciadelintersdesu
aplicacinalaevaluacindecualquiertipodemateriales.
Basada en la propagacin de las ondas trmicas y el anlisis de su
atenuacin en los materiales, la termografa permite realizar un control
bidimensional de la temperatura y, haciendo uso de modelados de la
transferenciadelcalor,escapazdeestimarlapresenciadedefectosinternos,su
profundidad y propiedades. Estrictamente hablando, termografa es una tcnica
decontactoparaobtenerladistribucindelatemperaturaenlasuperficiedeun
materialmientrasquelatermografainfrarrojanoimplicatalcontacto.Porrazones
deeficienciaenlainspeccin(movimientodelobjetobajoinspeccin,rapidezde
la medida, tamaos,), la termografa infrarroja adquiere mayores ventajas
frentealatermografatradicionalydeahelintersporsuaplicabilidad.
Como se desprende del anlisis del estado del arte presentado, existen
numerosas investigaciones que describen trabajos basados en el uso de la
termografa infrarroja para un gran nmero de aplicaciones como prediccin y
prevencin,aplicacionesmdicas,industriadelautomvil,edificacin,mecnica
deslidosylquidos,arte,etc.Setratadeuncampoenexpansindeaplicacin
yconocimientodominadoprincipalmenteporelmundoanglosajn.Igualmente,
su evolucin responde a cualquier innovacin o mejora tecnolgica en campos
diversoscomolaptica,laelectrnicaylacomputacin.
El abaratamiento de los equipos, la reduccin de tamao y la mejora de
prestacioneshacenquelaaplicacindelatermografainfrarrojadispongadeuna
instrumentacinfiableyprecisa.Lasunidadesdesusfigurasdemritoincitanal
controldemsprocesosdondelatransferenciadecalordenoteunacaracterstica
-29-
particular, traspasando incluso los umbrales de detectabilidad de las medidas.

Conelapoyodepotentehardware,desarrolladooenvasdeserdesarrollado,el
softwareofreceunmodeladofieldelassituacionesqueayudaalainterpretacin
de los resultados. La importancia del software en termografa infrarroja es ms
patente cuando se pretende realizar un anlisis cuantitativo de las secuencias
termogrficas.
Sedisponederecursoshardwareprecisosyfiables,peroelsoftwarean
requiere ser usado por personal tcnico cualificado22 con suficientes
conocimientosdereastandisparescomolamecnicadeslidos,latransferencia
decalor,laptica,laelectrnica,laprogramacindesoftwareyelprocesadode
sealeseimgenes.Resultadegraninters,porelloeselprimordialobjetivoen
esta obra, la automatizacin de los procesos involucrados en el anlisis de
secuencia termogrficas. Toda automatizacin lleva consigo la reduccin de la
subjetividad inherente al sistema que aporta ese personal, aumentando la
efectividaddeestatcnicadeensayosnodestructivos.
Traselestudiodelestadodelasituacinsehandetectadoproblemticas
annoresueltas.Conelfindecontribuirasuresolucin,seprocedeaformular
los objetivos principales que se pretenden alcanzar con la realizacin de este
trabajodoctoral:
Demostrarqucombinacionesdetcnicaspermitenobtenermejorasenla
deteccin de defectos subsuperficiales mediante equipos con limitada
digitalizacin.
Automatizar,enlamedidadeloposible,losprocesadosnecesariosenla
inspeccin trmica por TI evitando la subjetividad humana en las
decisionesacercadelapresenciadeunaanomala.
Paracubrirlagunasexistentesyevidenciadasenlosapartadosanteriores,
losobjetivosparcialesdeestetrabajodetesisson:
1. Porunaparte,teniendoencuentalastendenciasobservadasenelcampo
de la termografa infrarroja, la mejora de las prestaciones hardware, su
versatilidad y su diversidad incitan a la presentacin de comparativas
entre sistemas de diferente naturaleza y al estudio de diferentes
configuraciones.As,seplantea:
a. Establecer la tcnica, con las herramientas y parmetros
necesarios, que permita comparaciones precisas y significativas
entresistemastermogrficosdediferentecomposicinhardware.
b. Analizarlosbeneficiosdelusodetermografadepulsolargopara
solventar carencias en las prestaciones de las cmaras
termogrficas.
2. Porotrolado,eldesarrollodesoftwareestdisfrutandodeunaeclosin
con motivo de la incorporacin de gran potencial computacional a los
sistemastermogrficos.Nuevasfuncionesqueayudanalainterpretacin
delassecuenciastermogrficassondesarrolladasconespecialorientacin
22
La experiencia del tcnico/operador es una parte crtica de la inspeccin trmica. Existen

cualificaciones personales y estndares de certificacin (nivel I, II y III) [ASNT, 2001].
-30-
alaideadepermitirunamedidacuantitativaenladeteccindedefectos
subsuperficiales en los materiales. Pero se han observado problemticas
queataenalaobjetividaddelasmedidas.Porello,seplantea:
a. Acordarapropiadamenteeltiempodeadquisicin.
b. Ajustarlastendenciaslinealesenelmodeladodelavariacindela
temperaturasuperficialbajoexcitacionespulsadas.
Paralosobjetivosformuladosserealizanlostrabajospertinentesy,como
consecuencia de los mismos, surgen las contribuciones que se presentan y
discutenenloscaptulos3(objetivos1.ay1.b)y4(objetivos2.ay2.b).

-31-
PARTE 2
CONTRIBUCIONES
En esta parte se recogen los resultados obtenidos de los trabajos de

investigacinrealizadosparaalcanzarlosobjetivosformuladosenelcaptulo
anterior. Las diferentes contribuciones aportadas en el campo de la
termografa infrarroja para la evaluacin y prueba no destructiva en
materialesyprocesosindustrialesseincluyenenlossiguientescaptulos.
Captulos:
3. Detectabilidad de defectos subsuperficiales en sistemas de
termografa activa con escasa digitalizacin
4. Automatizacin del procesado de imgenes

-35 -
Captulo 3
Detectabilidad de defectos
subsuperficiales en sistemas de
termografa activa con escasa
digitalizacin
Elpresentecaptulorecogeunarevisindelconceptodedetectabilidaddelos
defectossubsuperficialesenlosensayosnodestructivosaplicandotermografa
infrarroja. Se presentan los factores que influyen negativamente en ella, as
comolasformasdeevitarloserroresqueprovocan,ylastcnicasqueayudan
a incrementarla. Se determina cmo el uso de fuentes externas apropiadas
puede mejorar la detectabilidad usando equipos de medida con una
digitalizacindeunaescasaprofundidaddebits.Serealizaunapropuestadel
criterio de detectabilidad que permite determinar el sistema de termografa
activa ptimo para una aplicacin especfica. Los resultados de los estudios
han sido validados experimentalmente habiendo dado lugar a publicaciones
internacionales.

-37 -
3 Detectabilidad de defectos subsuperficiales en

sistemas de termografa activa con escasa
digitalizacin
3.1
Introduccin
Cuandoalguienestenfermo,unodelosprimerospasosensuatencinconsiste
enelcontroldesutemperaturacomosntomadeundesordenmetablico.Esta
temperatura se toma en ciertos lugares establecidos como referencia
convirtindose as en un procedimiento de termografa23 pasiva puntual. Pero
esta medida de temperatura superficial refleja la existencia de anomalas tanto
superficialescomointernas.Silaslecturastrmicasdelasuperficiedelcuerpose
realizaran sobre varios puntos simultneamente en una lnea o en un plano, la
termografa dara mayor informacin del interior del material ya que el
conocimiento de los fenmenos de transferencia del calor en el objeto bajo
inspeccincontribuyeaunmayorcontrolyevaluacindesuinterior.
Numerosasaplicacionesdecontroldeprocesosoinspeccinyevaluacin
dematerialesrequierendeunconocimientocualitativoycuantitativodeloque
ocurre en el interior. El proceso de conduccin aporta la informacin necesaria
siendo imprescindible en muchos casos un modelado de las situaciones de
prueba. La complejidad del modelado de la transferencia de calor necesita un
conocimiento a priori que simplifique, en la medida de lo posible, su
formulacin.Deformailustrativa,dosejemplosdelasaplicacionesmencionadas
son: el control del enfriamiento de coladas de plomo en la creacin de
contenedores nucleares y la deteccin de las estructuras de sujecin de paneles
dematerialescompuestosenlaindustriaaeroespacial(unapropiadetermografa
pasivayotradetermografaactiva,respectivamente)24.
La precisin y resolucin espacial de las medidas termogrficas resultan
crucialesparaobtenerlainformacinrelativaalinteriordelmaterial.Loserrores
yelruidodebenserminimizadosalmximo.Deigualforma,losefectosdeuna
escasa digitalizacin de las imgenes en una cmara termogrfica (que pueden
ser ms restrictivos que la sensibilidad trmica) deben ser compensados. El
23
La termografa infrarroja no es un procedimiento nuevo. Los primeros experimentos se

remontan al uso del evaporgrafo (evaporograph) en el siglo XIX, el cual absorbe con una lmina
aceitosa la radiacin emitida por una superficie de tal forma que el aceite que impregna dicha
lmina se evapora en aquellos puntos que se corresponden con las reas ms calientes del cuerpo.
La lmina corresponde as con un mapa de isotermas de la superficie inspeccionada. Sin embargo,
no es hasta 1965 cuando una empresa sueca comercializa la primera cmara infrarroja (hasta
entonces slo eran conocidas en el campo militar) haciendo que la termografa infrarroja progrese
y se consolide como una tcnica de ensayos no destructivos.
24
Francisco J. Madruga, Daniel A. Gonzlez, Jesus M. Mirapeix, Jos M. Lpez Higuera,
"Application of infrared thermography to the fabrication process of nuclear fuel containers",
NDT&E International, Vol. 38, n. 5, pag. 397- 401, 2005.
N. P. Avdelidis, D. P. Almond, Through skin sensing assessment of aircraft structures using
pulsed thermography, NDT & E International, Vol. 37, Issue 5, pag. 353-359, 2004.
Estos trabajos han motivado al autor el estudio de las mejoras de la detectabilidad en sistemas de
termografa. Ms detalles son ofrecidos en el Anexo C.
-39 -
aporte extraordinario de energa de la termografa activa eleva la energa del

pulso trmico incidente en un material lo que conlleva una gran ayuda en la
detectabilidad de defectos internos con el incremento del contraste trmico
producidoenlasanomalas.
3.2
Parmetros que definen la detectabilidad de defectos
Un sistema de inspeccin trmica captura la radiacin proveniente de una

escena, filtrndola espacialmente y focalizndola en un detector. El detector
conviertelassealesdeldominiopticoensealeselctricasanalgicasqueson
posteriormente amplificadas, digitalizadas y procesadas para ser representadas
en un monitor o almacenadas. Por lo tanto, el rendimiento del sistema de
inspeccin depende de numerosos factores, siendo los ms importantes la
resolucinespacialylasensibilidadtrmicaqueconsiguen.
Ladetectabilidaddeanomalastantosuperficialescomointernassueleser
descrita atendiendo a dos trminos: el tamao mnimo detectable (minimun
detectable size, MDS) y la diferencia de temperaturas equivalente al ruido (noise
equivalent temperature difference, NETD). Cuando el objetivo presenta un tamao
superior al tamao mnimo detectable se puede determinar la temperatura del
espcimenapartirdelaradiacinemitidaporl.Sinembargo,cuandoelobjetivo
presentauntamaoinferioraltamaomnimodetectable,laformadelobjetono
puedeserdiscernidayaquelaenergadelentornotambinentraeneldetector
comoruido.Claramente,estefactordependedelapticautilizada,eltamaodel
pxeldeldetectoryladistanciaalaqueseproducelamedida.Ladiferenciade
temperaturasequivalentederuidosedefinecomoelcambiodetemperaturatal
que la relacin seal a ruido del sistema termogrfico sea la unidad. Depende,
igualmente,deltamaodepxeldeldetectorydelnmeroF25delaspticas.Sus
valoresestnentornoalascentsimasdeKelvin.
Ladependenciadeunsistemadelosdosparmetrosanterioresllevaala
mnimadiferenciadetemperaturasresoluble(minimunresolvabletemperaturedifference,
MRTD) que caracteriza los detectores o sistemas de inspeccin trmica
definiendoladiferenciadetemperaturamspequeaqueunoperadorescapaz
de discernir en una escena que recoge un patrn de barras sobre un fondo
uniforme. A frecuencias espaciales bajas, la sensibilidad trmica definida por el
NETD es lo ms importante mientras que para frecuencias espaciales altas el
factordominanteeslaresolucinespacial.LaMRTDcombinaambosfactoresen
unnicoconcepto.Convaloresrondandolasdcimasdegrado,tieneencuenta
tantolosefectosespacialesdelapticacomolosparmetrosdeldetectoratravs
de la funcin transferencia de modulacin del sistema (modulation transfer function,
MTF)26[Daniels,2001].Sinsermedidasabsolutasdetemperaturasinodiferencias
perceptibles relativas a un fondo determinado, simula la capacidad de un
25
El nmero F, representa la relacin focal de la lente o espejo correspondiente, esto es, la relacin
entre su distancia focal y su dimetro efectivo.
26
Todo sistema puede caracterizarse por su respuesta impulsional o su transformada de Fourier. La
funcin de transferencia de un sistema ptico posee entonces una parte real (la MTF) y una parte
imaginaria (la funcin transferencia de fase).
-40-
CAPTULO 3. DETECTABILIDAD DE DEFECTOS SUBSUPERFICIALES EN

SISTEMAS DE TERMOGRAFA ACTIVA CON ESCASA DIGITALIZACIN
observador para apreciar bajos contrastes entre el ruido de las imgenes, en

definitivaladetectabilidadensistemasdepercepcinvisual.
3.2.1 Factores que influyen en la inexactitud de la medida termogrfica
En un sistema termogrfico, las imprecisiones en las medidas de temperatura
pueden ser provocadas por errores en la evaluacin de los parmetros que
caracterizanlaradiacininfrarroja(basesobrelaquesesustentaelsistema),por
efecto del ruido inherente a todo sistema o por errores propios del aparato de
medida(aberracionesenlaslentes,respuestasdeamplificacindependientesde
lafrecuencia,faltade focalizacin enelobjetivo,refraccionesde laaperturadel
iris,reflexionesinternasenelequipo,difraccin,)[Inagaki,2001].Conocersus
orgenesylaformadecorregirsusefectosresultaesencial.Amododeejemplo,
existenerroresenlamedidacuandosemidenobjetosatemperaturacercanaala
temperatura ambiente porque la energa radiada detectada puede verse
influenciadaenmayormedidaporlaenergareflejadaprovenientedelentorno.
Tambin afectan a la medida las variaciones de emisividad, reflexiones o la
degradacindelequipamientotantoensupticacomoensuelectrnica.
Eltrminoruidoinvolucratodasealindeseadaoespreaenunsistema
que genera un error en la medida afectando a su precisin, exactitud,
repetitividadyresolucin.Susorgenespuedensermuyvariadosclasificndose
en aleatorio (no correlado) o correlado y sus efectos pueden ser aditivos o
multiplicativos.Porlogeneral,elruidoaleatorioesdeefectoaditivo,conorigen
en el sistema detector (ruido trmico o Johnson noise, ruido de fluctuacin o
flickernoiseyruidodedisparooshotnoise)mientrasqueelruidocorrelado(de
patrn fijo, fixed noise) suele ser de efecto multiplicativo y con origen en las
partesmecnicaypticadelsistemadetector(encuadres,aberracionesdelentes,
variacionesdesensibilidadentredetectores,).Ambostiposderuidosereducen
mediante procesado de imagen (ver Anexo D) efectuando promediados
temporalesyespacialesdelassecuenciastermogrficas.
Los errores originados por un desacierto en la valoracin de los
parmetrosdelatransferenciadecalorporradiacin(bsicamentelosvaloresde
lascaractersticasdeemisividadyreflectividaddelasuperficiedelosmateriales)
requieren de tcnicas especficas para su correccin. Del conocimiento del
mecanismo de radiacin se extrae la importancia de una alta emisividad
(uniformeentodaslasdireccionesderadiacinylongitudesdeonda)yunabaja
reflectividaddelasuperficiedelosmaterialesbajoinspeccin,yaquelapotencia
radiada captada por el sistema es directamente proporcional a la emisividad
mientras que la reflectividad es su complemento a la unidad para una
superficieopaca27.
Elefectodedichosparmetrospuedetratarsemediantesoftware,siendo
modificados puntualmente en el procesado de la imagen, o bien puede
27
Para ms detalles sobre los conceptos fundamentales de la radiacin como mecanismo de

transferencia de calor (ley de Planck, ley de Stefan-Boltzmann, concepto de cuerpo negro,
emisividad, principio de conservacin de la energa radiada, ) se sugiere consultar publicaciones
de este campo o de Fsica.
-41-
uniformarse haciendo que toda la superficie tenga el mismo valor en estas

caractersticas.Lamodificacindelaemisividad,porejemplo,selogramediante
elrecubrimientodelasuperficieconunapinturadealtaemisividadcomosprays
de color negro mate procurando un acabado uniforme (es errneo pensar que
sloytodaslaspinturasnegrastienenaltaemisividad,lapinturablancadexido
de titanio tiene una emisividad de 0.94). La adecuacin de la composicin
qumicadelapinturadebeverificarseparaquepuedasereliminadafcilmentey
noafectealobjetobajoprueba(ensayonodestructivo).Otrasalternativassonel
uso de cintas adhesivas o modificar la superficie favoreciendo el proceso de
oxidacin o pulindola, aunque no son opciones recomendadas por dejar
secuelas en el material (pegamentos de las cintas y el xido). Si an as la
superficie presenta variaciones importantes de emisividad (por ejemplo, como
consecuencia de su porosidad y rugosidad) o no es posible modificarla (por
ejemplo, superficies incandescentes28 o inaccesibles), se pueden aplicar tcnicas
propias de la pirometra (termografa de doble banda, dual band thermography
[Williams,2006])olasustraccinenelprocesadodeimgenesdeunaimagende
referencia,oimagenfra,quereducelosefectosdelaemisividadydelfondode
laescenadeinspeccin.
Todos estos errores en las medidas, aunque no eliminados, pueden ser
minimizadosmedianteunprocesodecalibracindelossistemastermogrficos.
Elusodefuentesdecalibracindecuerponegroolamedidadesuperficiescon
una temperatura controlada permite la correccin, con un preprocesado, de las
imgenescapturadas.
3.2.2 Factores que
subsuperficiales
contribuyen
la
detectabilidad
de
defectos
Bsicamente, desprendido del apartado anterior, el control y uniformidad de la

emisividadyreflectividaddelasuperficiepermiteunaevaluacinprecisadela
temperatura superficial del objeto bajo inspeccin. Numerosos trabajos en el
campo de la radiometra y de la pirometra han sido publicados para la
inspeccin trmica remota, trabajando tanto en el desarrollo de nuevos
transductores como en el desarrollo de optoelectrnicas hechas a medida. A
modo de ejemplo ilustrativo, la medida precisa de la temperatura de una
superficieposibilitaelcontroldeprocesosmetalrgicosqueafectandirectamente
a la calidad final del producto que manufacturan, como se desprende de la
lecturadelAnexoC.
Una vez descartados los orgenes de variaciones de emisividad y
reflectividad, las posibles diferencias trmicas que se observan en la medida
superficial son consecuencia de la presencia bien de anomalas o
discontinuidades superficiales bien de reflejos de la presencia de anomalas
subsuperficiales que, por conduccin del calor, afectan a la temperatura en la
superficie de forma localizada. La diferenciacin de la causa es labor del
operadorqueanalizaycomprendelassecuenciastermogrficas.
28
Como recoge el proyecto SOTEPAC, el autor contribuye al desarrollo de un sensor de

temperatura en coladas de acero basado en fibra ptica donde los efectos de la emisividad son
evitados mediante la tcnica piromtrica de doble banda. Para ms informacin ver el Anexo C.
-42-

Gracias al conocimiento de la transferencia del calor en el material, se

puede relacionar la variacin de la temperatura superficial con la presencia de
unaanomalainterna(subsuperficial).Sepuedengenerarondastrmicasapenas
por debajo de la interfase de la muestra que se propagan hacia el interior del
material atenundose fuertemente. Actan como cualquier otra onda, esto es,
sufrenreflexinantecualquierinterfazsubsuperficialcomopodraserundefecto
o un cambio de material. Las ondas reflejadas retornan hacia la superficie
produciendo un comportamiento oscilante de su temperatura. Con el control o
medida de la temperatura superficial de un material durante todo el proceso
(generacin de la onda trmica y su propagacin hasta su desaparicin), se
pueden relacionar las variaciones detectadas con lo que est ocurriendo dentro
del espcimen. El modelado del fenmeno de la conduccin del calor cobra
entoncesgranrelevancia.Desuanlisissedesprendenlascondicionesquedeben
procurarseparaqueladetectabilidaddelosdefectossubsuperficialessealoms
elevada posible. Por una parte, las caractersticas de las anomalas influyen de
formadeterminante(sutamao,profundidadypropiedadestrmicas).Porotro
lado,ladetectabilidaddelosdefectosinternostieneunaestrecharelacinconla
excitacin externa a la que puede ser sometido un espcimen y que termina
produciendoenlunfrentedeondastrmico.
3.2.2.a Detectabilidad en las termografas activas pulsadas
Las fuentes de excitacin externa ms comunes se centran en el uso de energa
radiante y, ms concretamente, en rangos de longitudes de onda donde las
radiaciones no tienen suficiente energa como para romper enlaces atmicos
(radiacinnoionizante).Paralarealizacindeensayosnodestructivoslafuente
msutilizadahaceusodelefectofototrmico.Cuandolaluzesabsorbidaporun
material,seproducenefectostalescomolaconversindeluzacalor,produccin
de gases (fotosntesis), etc. Adems, es posible liberar o transferir la misma
energa de forma pulsada (de mayor o menor temporalidad) o de forma
modulada. Esto da lugar, en el caso de la termografa activa, a la termografa
pulsada(pulsedthermography),latermografadepulsolargo(longpulseorstep
heating thermography) y la termografa de lazo cerrado (lockin thermography).
EnelAnexoBsehaceunaintroduccinacadaunadeestasexcitaciones.
De las expresiones analticas de la conduccin del calor en un slido se
desprende que, cuanto mayor es la energa incidente, mayor es el contraste
trmico producido y, por tanto, mayor la detectabilidad. La transferencia de la
misma cantidad de energa mediante pulsos instantneos, pulsos largos o
medianteciclos(lockin)presentaimportantesdiferencias.
Muchos autores han establecido comparativas entre las termografas de
lazocerrado,pulsadaydepulsolargo.Principalmentesetratadelanlisisdela
detectabilidad de determinados tipos de anomalas. Cada uno ha basado sus
experiencias en diferentes especmenes, diferencindose principalmente por su
distribucin de defectos e inhomogeneidades al igual que por su composicin
qumica. El uso de resinas epoxy y fibras de carbono ha sido ampliamente
extendido, tanto por tratarse de materiales de importancia en industrias tales
comolaaeroespacialcomoporcaracterizarseporbajasconductividadestrmicas
-43-
permitiendo obtener suficiente contraste trmico en las pruebas y durante el

tiempo suficiente para que los equipos de inspeccin no tengan que ser
extremadamenterpidos.
En este apartado, por el inters que despiertan las inspecciones rpidas,
slo se comparan las termografas pulsadas. La termografa lockin presenta un
anlisisrealizadonicamentealafrecuenciadelaexcitacinyenunasituacin
estabilizada(rgimenpermanenteoestacionario)porloqueresultamuchoms
lenta que las termografas pulsadas. Cada ensayo es realizado para una
frecuencia,estudiandounaprofundidadcadavez,loqueaumentaeltiempode
inspeccin. As, en el anlisis de un espcimen, varias experiencias deben
realizarse para cubrir todo el espesor del mismo siendo el rango de
profundidadesestimadoen,lalongituddedifusintrmica,paralasimgenes
deamplitudyen1.8paralasimgenesdefase[Busse,1979].
Las soluciones analticas son de poca ayuda cuando simulan las
condiciones reales de un ensayo donde los materiales son anistropos y las
discontinuidadespresentanformasirregulares.Sinembargo,puedenserbuenas
aproximaciones en otras circunstancias. Las discontinuidades que pueden ser
analizadas analticamente deben de ser grandes y alejadas de los bordes de la
superficie bajo inspeccin ya que, de otra forma, la difusin lateral reduce el
contraste trmico y el intervalo de tiempo en el que el defecto es visible. La
difusin lateral es afectada por el tipo de material, la profundidad a la que se
encuentraeldefectoodiscontinuidadyeltiempoquepasadesdequeseproduce
laexcitacin.Adems,comoreglauniversal,seusaelcocienteentreelradiode
las discontinuidades y la profundidad para determinar si el defecto puede ser
consideradocomounadiscontinuidaddeespesorfinitoono.
Coneldesarrollodelacomputacin,lastcnicasnumricashancopadoel
anlisistridimensionaldelatransferenciadelcalorsiendoahoralaestabilidadde
lasolucinylosrequerimientosdetiemposdesimulacinlasrestriccionesquese
deben ponderar. En este trabajo se utiliza el software ThermoCalc6L
(ThermoCalc3D Pro) creado por el IR Thermography Laboratory de Tomsk
Polytechnic University, Rusia, y que modela numricamente en 3D defectos
subsuperficiales en slidos multicapa de formas rectangulares, con excitaciones
arbitrariasquepermitenpatronesdecalentamientonouniformes.
Basadoenunmontajedeinspeccintermogrficatpicodeunespcimen
compuesto de fibra de carbono con defectos internos como el mostrado en la
Figura31,enlaFigura32semuestranalgunostermogramaspertenecientesala
secuencia termogrfica de una simulacin con excitacin pulsada de 0.1
segundos. En la Figura 33 el pulso es de 0.5 segundos. En ambos casos, los
defectos considerados son taladros de distinta profundidad producidos en la
parte posterior del objeto. Las imgenes recogen el contraste absoluto (diferencia
absoluta trmica) entre la temperatura superficie del material sustrato y la del
ambiente.Elfrentetrmicosepropagaenunmaterialsustratodeconductividad
6.4 [W/(m*K)] en el plano normal a la superficie y 0.64 [W/(m*K)] en el plano
paraleloalamisma,decapacidadtrmicade2460[(W*s)/(kg*K)],densidad500
[kg/(m3)] y espesor 6 mm. Los defectos son considerados como aire de
-44-

x
z
6 mm
y
0.5 mm
a)
2 mm
3 mm
b)
Dimetro
Profundidad (mm)
(mm)
0.5 0.75 1.25 1.5 1.75 2 3 3.5
9
9
9
9
9 9 9 9
2
9
9
9
9
9 9 9 9
4
9
9
9
9
9 9 9 9
6
Figura 3-1. a) Montaje simulado para los termogramas de Figura 3-2 y Figura 3-3.b) defectos taladros simulados sobre
sustrato descrito en texto. En las siguientes figuras estos defectos variarn de composicin (aire, agua) o sern descritos
como inclusiones.
conductividad 0.07 [W/(m*K)], de capacidad trmica de 928 [(W*s)/(kg*K)],

densidad 1.3 [kg/(m3)], 2 mm de dimetro y a profundidades de 0.5, 0.75, 1.25,
1.5,1.75,2,3y3.5mmsituadosenposicionescorrelativasdesdelapartesuperior
a la parte inferior de cada imagen. Simulan taladros en la parte posterior del
espcimenporloquesuespesorvaradesde5.5mma2.5mm,respectivamente.
En una primera observacin, se denota el proceso de transferencia de
calor entre el pulso luminoso y la muestra. En la Figura 32 se muestran varias
imgenesdecoloruniformequeindicanquenoexistediferenciatrmicaalguna
en toda la superficie. Este hecho es captado tanto en instantes previos a la
excitacincomoenlosinmediatamenteposterioreshastaqueelreflejodelfrente
trmicodeconduccinsobreeldefectomenosprofundolleguealasuperficie.En
laFigura33,sinllegaraterminarlaexcitacin,losdefectosresultanvisiblesya
que el tiempo invertido en reflejarse la primera anomala sobre la superficie es
menorqueeltiempodeexcitacin.Segntranscurreeltiempodelacaptura,el
espcimen va enfrindose globalmente y los defectos ms profundos van
haciendo aparicin aunque con un contraste cada vez menor. Aunque no est
recogido en las figuras presentadas, el proceso culmina con imgenes de color
uniforme y contraste absoluto nulo que implica que la muestra ha alcanzado el
equilibrioconelentorno.Otrodetalledeintersresultadelacomparativadela
liberacin de energa empleada en ambas excitaciones; 3KW/m2 durante 0.5 s.
provocanuncontrastedetemperaturassuperiorque100KW/m2duranteunflash
de0.01s.comosedesprendedelostermogramasen1s.Lageneracindeestas
potenciasnorequierenlosmismosrecursos.

-45-
0.01 s.
0.02 s.
0.03 s.
11.4
6.8
11.2
10
10
6.6
11
20
10.8
40
pixel
10.4
30
30
4.3585
40
4.3584
5.6
10
50
50
9.6
4.3583
50
5.4
9.8
5 10 15 20
pixel
0.04 s.
4.3587
4.3586
5.8
40
10.2
60
20
6.2
10.6
30
4.3588
6.4
pixel
20
pixel
4.3589
10
4.3582
5.2
60
4.3581
60
9.4
5 10 15 20
pixel
0.4 s.
5 10 15 20
pixel
1 s.
4.358
3.582
0.74
1.18
3.5818
10
10
10
1.16
3.5816
0.72
1.14
20
3.5814
1.12
3.581
pixel
pixel
3.5812
30
20
30
1.1
0.7
pixel
20
30
0.68
40
40
3.5808
3.5806
1.06
50
50
1.04
3.5802
60
5 10 15 20
pixel
2 s.
60
3.58
5 10 15 20
pixel
4 s.
5 10 15 20
pixel
6 s.
0.326
0.258
10
0.485
10
0.324
0.322
0.48
20
20
40
0.46
0.318
30
0.316
40
0.314
0.455
50
0.254
40
0.252
0.25
0.31
0.308
60
60
0.248
0.44
5 10 15 20
pixel
30
50
0.45
0.445
0.256
0.312
50
60
pixel
pixel
0.47
0.465
20
0.32
0.475
30
0.64
60
1.02
0.49
10
0.66
50
3.5804
pixel
40
1.08
5 10 15 20
pixel
0.306
5 10 15 20
pixel
Figura 3-2. Termogramas pertenecientes a la secuencia de imgenes que simula la evolucin de un frente trmico
provocado por una excitacin en forma de flash de 0.01 segundos y potencia 100KW/m2 sobre un espcimen descrito en el
texto.

-46-

0.1 s.
0.6 s.
1 s.
1.35
1.072
2.05
10
10
10
1.07
1.3
1.068
20
20
20
1.066
pixel
1.064
1.95
40
30
40
40
1.062
50
1.9
50
1.85
1.058
5 10 15 20
pixel
1.15
60
1.056
60
5 10 15 20
pixel
2 s.
5 10 15 20
pixel
4 s.
0.81
10
1.2
50
1.06
60
1.25
pixel
30
pixel
30
6 s.
0.51
0.398
10
0.8
10
0.396
0.505
0.79
20
20
20
0.394
0.5
0.78
0.392
0.77
40
30
0.495
40
0.49
0.75
pixel
0.76
30
pixel
pixel
30
0.39
40
0.388
0.386
0.74
50
50
0.485
50
0.73
60
0.72
0.384
0.48
60
60
0.382
0.71
5 10 15 20
pixel
5 10 15 20
pixel
5 10 15 20
pixel
Figura 3-3. Termogramas pertenecientes a la secuencia de imgenes que simula la evolucin de un frente trmico
provocado por una excitacin en forma de pulso de 0.5 segundos y potencia 3KW/m2 sobre un espcimen descrito en el
texto.

-47-
Excitacin mediante flashes
15
Incremento temperatura (C)
Incremento de temperatura (C)
10
5
0
0
Incremento de temperatura (C)
defecto a 0.5 mm
2
1.6
1.2
0.8
0.4
0
0
3
Tiempo (s)
0.4
0.8
1.2
Tiempo (s)
1.61.8
defecto a 0.75 mm
rea sin defecto
Excitacin mediante pulsos largos

10
8
calentamiento 2.5 s.
6
calentamiento 0.5 s.
calentamiento 5 s.
4
2
0
0
3
Tiempo (s)
Figura 3-4. Simulacin de la temperatura superficial en un espcimen que asemeja un material compuesto de fibra de
carbono bajo excitacin instantnea (flash de 0.01 segundos y 100KW/m2) y excitacin en forma de pulso de larga
duracin (0.5, 2 y 5 segundos y 3KW/m2). Las evoluciones corresponden a un pxel superficial sobre un defecto que
asemeja un taladro por la parte posterior a 0.5 y 0.75 mm de profundidad y a un pxel sobre una zona libre de defectos. Las
caractersticas del material sustrato y de los defectos utilizadas en la simulacin son recogidas en el texto con anterioridad.
3.2.2.b Detectabilidad en funcin de las caractersticas de los defectos

Enelanlisisdelassecuenciastermogrficas,dosparesdeparmetrosresultan
deintersalproveerdeinformacinprcticasobrelosdefectossubsuperficiales.
Estos son: la diferencia de temperatura mxima sobre o por debajo de la
discontinuidad, Tm, y el tiempo para su ptima observacin, tm(Tm); y el
contraste mximo29, Cm, y el tiempo para su ptima observacin, tm(Cm). Los
distintos contrastes mximos30 que pueden ser utilizados [Maldague, 2001],
ademsdeservariablesadimensionales,sonindependientesdelapotenciadela
excitacin externa ya que tanto la diferencia de temperaturas mxima como la
temperaturasonlinealmenteproporcionalesalapotenciadecalorabsorbidapor
lasuperficie,Q,comosedesprendedelasecuacionesB.1,B.2yB.3delAnexoB.
EnlaFigura34seobservaelincrementodelatemperaturasuperficialde
un espcimen bajo excitaciones luminosas pulsada instantnea y de pulsos de
29
Definido como el cociente entre la diferencia de temperaturas mxima y una temperatura

determinada.
30
Contraste absoluto: temperatura en exceso o en defecto con respecto a una temperatura de
referencia, C a (t ) = T (t ) = Tdef (t ) Tnodef (t )
Contraste running: contraste mximo, C r (t ) = T (t )
Tnodef (t )
Contraste normalizado: contraste respecto a los valores de temperatura al instante tm(Tm),
Tdef (t )
Tnodef (t )
C n (t ) =
Tdef (tm ) Tnodef (tm )

Contraste standard: contraste respecto a los valores de temperatura al instante t0, anterior a la
excitacin C s (t ) = Tdef (t ) Tdef (t 0 )
()
( )
Tnodef t Tnodef t 0

-48-

Contraste relativo
Contraste absoluto
Contraste Temperatura (adimensional)
a)
Contraste Temperatura (C)
0.3
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
0.25
0.2
0.15
0.1
0.05
0
-0.05
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste absoluto
0.8
0.6
0.4
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
0.2
0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Tiempo (s)
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.2
1.15
1.1
1.05
1
0.95
0
Contraste temperatura (adimensional)
b)
Contraste temperatura (C)
1.25
3
4
Tiempo (s)
Contraste relativo
2.4
2.2
2
1.8
1.6
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.4
1.2
1
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Tiempo (s)
Figura 3-5. Simulacin de la temperatura superficial en un espcimen bajo excitacin en forma de pulso de larga duracin
(0.5 segundos y 3KW/m2). Las evoluciones corresponden a la temperatura de un pxel superficial sobre defectos que
asemejan un taladro por la parte posterior a profundidades desde 0.5 a 3.5 mm. El material sustrato y los defectos poseen la
misma composicin y caractersticas que aquellos de la Figura 3-4 salvo que ahora los defectos son cuadrados de lado a) 2
mm y b) 6 mm. La zona no sombreada se corresponde con el contraste absoluto mientras que la sombreada recoge el
contraste relativo definido como:
Tdef (t )
C relativo (t ) =
= C r (t ) + 1
Tnodef (t )
larga duracin para zonas con defecto subsuperficial y zonas libres de defectos
(soundareas).Apartirdeestasevoluciones,laobtencinymotivacindelusode
los parmetros de inters anteriormente mencionados resulta evidente. Los
defectos son claramente detectados y su profundidad directamente relacionada
por el contraste trmico que producen. Igualmente se observa que la deteccin
bajo excitaciones prolongadas puede ser llevada a cabo incluso antes de acabar
de excitar la muestra, siendo a continuacin, un enfriamiento de similares
caractersticasalproducidoenelcasodetermografapulsadamedianteflashes.
Diferentes anlisis pueden ser realizados de acuerdo a la profundidad,
tamao, espesor y composicin de los defectos subsuperficiales. Valga de
ejemplo la inclusin de las figuras: Figura 35, Figura 36 y Figura 37. Ms
detallespuedenserencontradosen[Vavilov,2001].
Como se desprende de la Figura 35 y Figura 36, tanto mayor ser el
contrasteabsolutocomoelcontrasterelativo(definidocomoelcocienteentrela
temperatura de un punto y la temperatura de otro punto en una soundarea)
cuanto ms grandes o menos profundos sean o se encuentren los defectos. Las
caractersticas de densidad, capacidad trmica y difusividad del material que
compone la anomala tambin modifican la diferencia de temperatura mxima
sobreopordebajodeladiscontinuidadyeltiempoparasuptimaobservacin.
De hecho, cuanto ms cercana sea la conductividad trmica del defecto a la del
materialhusped,mayordebeserlaanomalaparapoderserdetectada.Deigual
-49-
Contraste absoluto
Contraste relativo
a)
0.2
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
0.15
0.1
0.05
-0.05
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste absoluto
Contraste temperatura (C)
b)
0.5
0.4
0.3
0.2
0.6
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
0.1
0
-0.1
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste absoluto
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.2
c)
1.4
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-0.2
0
3
Tiempo (s)
1.14
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.12
1.1
1.08
1.06
1.04
1.02
1
0.98
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste relativo
1.12
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.1
1.08
1.06
1.04
1.02
1
0.98
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste relativo
1.16
0.5 mm
0.75mm
1.25mm
1.5 mm
1.75mm
2.0 mm
3.0 mm
3.5 mm
1.14
1.12
1.1
1.08
1.06
1.04
1.02
1
0.98
0
3
Tiempo (s)
Figura 3-6. Simulacin de la temperatura superficial en un espcimen bajo excitacin en forma de a) pulso de larga
duracin ( 0.5 segundos y 3KW/m2), b) pulso de larga duracin ( 5 segundos y 3KW/m2) y c) excitacin instantnea (flash
de 0.01 segundos y 100KW/m2). Las evoluciones corresponden a la temperatura de un pxel superficial sobre defectos que
asemejan un taladro por la parte posterior a profundidades desde 0.5 a 3.5 mm. El material sustrato posee la misma
composicin y caractersticas que el de la Figura 3-4. Los defectos son considerados como si estuvieran rellenados con
agua en lugar de aire de conductividad 0.6 [W/(m*K)], de capacidad trmica de 4193 [(W*s)/(kg*K)], densidad 1
[kg/(m3)] y 2 mm de dimetro. La zona no sombreada se corresponde con el contraste absoluto mientras que la sombreada
recoge el contraste relativo definido como en la Figura 3-5.
forma,comoseobservaenlaFigura37,elaumentodelespesorcontribuyeaun
mayor incremento trmico en la superficie de la muestra, favoreciendo as su
detectabilidad.

-50-

Contraste absoluto
Contraste relativo
a)
0.2
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
0.15
0.1
0.05
espesor
-0.05
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste absoluto
0.6
0.5
0.4
0.3
b)
0.7
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
0.2
0.1
0
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste absoluto
c)
1.4
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
1.2
1
0.8
0.6
0.4
espesor
0.2
0
-0.2
0
3
Tiempo (s)
1.14
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
1.12
1.1
1.08
1.06
1.04
espesor
1.02
1
0.98
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste relativo
1.1
1.08
1.06
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
1.04
1.02
1
0
3
4
Tiempo (s)
Contraste relativo
1.2
0.55mm
0.5 mm
0.45mm
0.4 mm
0.35mm
0.3 mm
0.25mm
0.2 mm
1.15
1.1
1.05
espesor
1
0.95
0
3
Tiempo (s)
Figura 3-7. Simulacin de la temperatura superficial en un espcimen bajo excitacin en forma de a) pulso de larga
duracin ( 0.5 segundos y 3KW/m2), b) pulso de larga duracin ( 5 segundos y 3KW/m2) y c) excitacin instantnea (flash
de 0.01 segundos y 100KW/m2). Las evoluciones corresponden a la temperatura de un pxel superficial sobre defectos que
asemejan inclusiones de agua con espesores desde 0.55 a 0.2 mm. El material sustrato posee la misma composicin y
caractersticas que el de la Figura 3-4. Los defectos son considerados como si estuvieran rellenados con agua de
conductividad 0.6 [W/(m*K)], de capacidad trmica de 4193 [(W*s)/(kg*K)], densidad 1 [kg/(m3)] y 2 mm de dimetro.
La zona no sombreada se corresponde con el contraste absoluto mientras que la sombreada recoge el contraste relativo
definido como en la Figura 3-5.
La inspeccin de anomalas de tamao considerable, poco profundas31,

alejadas de los bordes o contornos y las caractersticas trmicas del espcimen
apropiadas (baja difusividad lateral), que sean a la vez muy diferentes de las
propiasdelasanomalas,ofrecemayorcontrastetrmicoenlasuperficie.Porlo
tanto, estas condiciones actan a favor de una buena detectabilidad de las
discontinuidadesinternasenlosmateriales.
31
Una regla emprica para materiales homogneos e istropos dice que la discontinuidad ms
pequea detectable debe ser por lo menos de una a dos veces mayor que su profundidad bajo la
superficie. Para materiales anistropos, mayores ratios de tamao versus profundidad son
necesarios.
-51-
3.3
Criterio de decisin
Generalmente,elcriteriodedeteccinseestablececuandolaamplituddelaseal
trmicasuperaalnivelderuido,esdecir,cuandolarelacinsealaruidoexcede
la unidad. Se determina en funcin del NETD como se extrae de la siguiente
ecuacin[Vavilov,2001]:
T (t )
m
sound
(t )
>1
2 + 2 (t ) + 2 (t )
sound (t ) = +2 + 2 = Tres
reflx
emis
ec. 3.1
donde sound es la desviacin estndar de la temperatura en un rea libre de

defectos y K es el coeficiente que determina la veracidad de la decisin
(normalmenteentrelaunidadytres).
El ruido que afecta a una imagen puede ser tanto aditivo como
multiplicativo. El ruido aditivo no depende del parmetro medido sino que
implicaunaresolucintrmicadeterminadaporelsistemadecapturainfrarrojo
(Tres)yruidoproducidoporreflexionesenlasuperficie(reflx).Porotraparte,el
ruido multiplicativo es proporcional a la medida y viene representado,
principalmente,porlasvariacionesdeemisividad(emis).Alserdependientedel
valordelamedida,poseeunavariacintemporal.Elparmetrorelacinseala
ruido (SNR) alcanza entonces su mximo valor en un tiempo particular que se
correspondeconeltiempodeptimaobservacinprctica(tmp).
SNRmax =
Tm (t )
K sound (t ) t
=
mp
T
T
=
K Tres K NETD
ec. 3.2
Enlossistemasdeimagentermogrficaactuales,sehareducidoelNETD
por debajo de 0.01C.Ante estosvalores tan bajos, como se desprende de la ec.
3.1, los factores de ruido derivado de las reflexiones del entorno y el ruido
derivado de las variaciones de la emisividad pueden ser los que limiten la
relacinsealaruidodelsistema,porloquehayqueponerespecialcuidadoen
sucontroloeliminacinsiesposible.Laformamshabitualconsisteenaadir
un recubrimiento a la superficie del material de alta emisividad que rellene las
rugosidadesyporosidadesaplanandolasuperficie.
Sin embargo, hay que aclarar que el criterio de decisin no slo viene
establecidoporlarelacinSNRsinoquedebeconsiderarsetambinlaresolucin
espacial y la resolucin de la binarizacin de la temperatura de pxel, como se
present anteriormente. Los sistemas actuales poseen una gran profundidad de
bit (14 bits por lo general) por lo que el efecto de la cuantificacin digital es
despreciado. Sin embargo, en el caso de sistemas ms antiguos o en el caso de
usar menor resolucin en las tarjetas digitalizadoras del vdeo analgico
proveniente de una cmara infrarroja, este factor ha de considerarse porque
reduce la detectabilidad del sistema. La resolucin espacial puede variarse en
funcin de la distancia a la que se realiza la inspeccin, por lo que no resulta
determinante a no ser que se requieran inspecciones de especmenes que
presentanunaaltafrecuenciaespacialencuantoalalocalizacindesusdefectos.
-52-

Estos tres factores son las bases de una acertada detectabilidad aunque, en
condiciones de inspeccin o prueba normales, bien es cierto que la mayor
importanciarecaeenlasensibilidadtrmica.
3.4
Criterio de detectabilidad ante una escasa digitalizacin
Ladetectabilidadpuedeserdefinidacomolacapacidaddedetectarlosdefectos.
ElloserposiblecuandoladiferenciatrmicaobservadaseasuperioralaNEDT,
siemprequeseeliminenloserrorespropiosdelossistemastermogrficos.Seha
comprobado que la digitalizacin de algunos sistemas provoca una prdida de
resolucintrmicaqueenciertoscasosconstituyeunalimitacinmsseveraque
la impuesta por la sensibilidad trmica. Haciendo uso de la definicin de
contrasterelativo,sepuedesimularelefectodeunaescasadigitalizacin(8bits).
La resolucin trmica en un sistema termogrfico con salida digital que
vienedeterminadaporelcocienteentreelrangodinmicodetemperaturascapaz
de medir y el nmero de niveles digitales que es capaz de cuantificar, como se
trat en el apartado 2.2.1. En la actualidad y de forma general, el parmetro
resolucin trmica de los sistemas es despreciable ya que resulta comn
encontrar digitalizaciones de 14 bits. Sin embargo, existen casos particulares en
losquenosedisponedeunadigitalizacinas,sobretodoportemaseconmicos.
Puede resultar de inters utilizar cmaras ms simples de salida analgica y
obtener valores en formato digital mediante el uso de tarjetas digitalizadoras
sencillas. La definicin utilizada con anterioridad para el contraste relativo
(cocienteentrelamximaylamnimatemperaturamedidas)permitecontrolarel
efectodeladigitalizacinenladecisindedetectabilidad.
LaFigura38arecogeladefinicindereadedetectabilidadenungrfico
que relaciona la profundidad de los defectos y su tamao. Segn se reduce el
tamao de las anomalas o se incrementa la profundidad de las mismas, los
procesos de difusin del calor reducen el contraste trmico superficial recogido
como contraste absoluto que debe ser superior al NEDT, definiendo as uno de
los lmites de la detectabilidad. El otro lmite que aparece en la Figura 38a se
corresponde con el contraste relativo definido anteriormente como un cociente
entretemperaturas,latemperaturasuperficialdeunpxelsituadosobreunazona
defectuosaylatemperaturasuperficialdeunpxelsituadosobreunrealibrede
defectos.Elrangodinmicodelamedidadebesersuficientementeelevadocomo
para poder distinguir perfectamente el ruido. As el ratio entre la temperatura
mximaymnimadebesersuperioralaresolucintrmicadelsistemamarcada
porlaprofundidaddebitdeladigitalizacindelvalordetemperatura.

-53-
Figura 3-8. a) Definicin de rea de detectabilidad, limitada por el cumplimiento simultneo de las condiciones de
contraste absoluto superior a la sensibilidad trmica y el contraste relativo superior a la resolucin trmica. La simulacin
ha sido considerada para una excitacin de pulso de duracin 1.5 s. y 3 KW/m2. Este diagrama relaciona la profundidad y
el dimetro de los defectos detectados. b) Lmite del rea de detectabilidad para diferentes excitaciones pulsadas.
Simulacin en un espcimen bajo excitacin en forma de pulsos de larga duracin ( 0.5 a 5 segundos y 3KW/m2) y una
excitacin instantnea (flash de 0.01 segundos y 100KW/m2).
Distinguidos los dos lmites, se definen cuatro zonas. En la zona I se

representalarelacindimetroprofundidaddedefectosqueenlassimulaciones
haprovocadouncontrasteabsolutoinferioralvalordeNEDT.LaszonasIIyIII
representanvariacionesdeeselmite,generalmenteutilizadoparacuantificarla
detectabilidad.Porunaparte,lazonaIIimplicaqueelratiodetemperaturases
elevado aunque su diferencia es pequea. Se corresponde a los defectos ms
profundosdonde,ansiendodetamaoconsiderable,lasealestandbilquees
imposiblediscernirladelruido.Porotraparte,lazonaIII,paralosdefectosms
pequeosymenosprofundos,representaunareduccindeladetectabilidaden
los casos en los que el rango dinmico de la captura sea elevado y no se tenga
una buena digitalizacin. Por ejemplo, dos pxeles de dos reas diferentes
puedenteneruncontrasteabsolutomayorqueNEDTperoestadiferenciapuede
noserdetectablesielrangodetemperaturascaptadoesdemasiadoelevadopara
los niveles de cuantificacin utilizados, esto es, baja resolucin trmica.
Finalmente,lazonaIVimplicaunarelacinentreprofundidadydimetroquees
perfectamentedetectable.
3.5
Compensacin de una escasa digitalizacin
Aplicando la definicin del rea de detectabilidad se presenta una comparativa

entrelatermografapulsadaconexcitacinpormediodeflashesdealtapotencia
(sinlaproblemticadeladigitalizacin)yaquellaconexcitacinproducidacon
pulsos de menor potencia pero de mayor duracin bajo la condicin de una
escasadigitalizacin.Seobservaqueelhechodemantenerpormstiempouna
excitacin contribuye a la expansin del rea de detectabilidad hasta lmites

-54-

semejantesal caso de una excitacin pulsada con flashes que representa el caso
demayordetectabilidad.
En la Figura 38b se recoge el efecto de la duracin del pulso de la
excitacin sobre el conjunto de los dos lmites, definidos anteriormente, que
confinan la zona IV. Bsicamente se interpreta que a mayor duracin de pulso
mayoreslaenergaliberaday,porlotanto,seincrementaladetectabilidadcomo
se introdujo en el apartado 3.2.2.a. Se observa que, por efecto de la escasa
digitalizacin, la detectabilidad asociada a la termografa de pulso largo es
sensiblementeinferioralatermografapulsada.Anliberandomayorenergade
excitacin, la escasa digitalizacin limita la termografa de pulso largo en
situaciones con pulsos inferiores a 2.5 segundos (lo que representa una energa
suministrada7.5vecessuperior).Sinembargo,essignificativoque,aumentando
eltiempodeexcitacin,elefectodelaescasadigitalizacinescompensado.
3.6
Discusin de los resultados
Lossistemasconlimitacinenprofundidaddebitsnodebenserinmediatamente
descartadosparasuusoendeteccindedefectossubsuperficiales.Latermografa
basada en pulsos largos en estos sistemas permite, con la aplicacin de mayor
energa,subsanarlaprdidadedetectabilidadquepresentan.Seconvierteasen
latcnicaptimaparasercombinadaconlosequipamientosdeprestacionesms
limitadas, siendo poco significativo el mayor consumo energtico ya que sus
recursos(lmparas)sonademsmuchomseconmicos.
Para validar los resultados tericos previos sobre detectabilidad de
sistemas con escasa digitalizacin se han realizado exhaustivos trabajos
experimentales. Para ello se ha utilizado un sistema de TWI Inc., ThermoScope
de NEDT 0.02K, basado en flashes y un sistema hecho a medida32 y
sensiblemente ms econmico ya que usa lmparas infrarrojas y la cmara
miniatura ThermoVision A10T de tecnologa microbolmetro. Esta ltima
cmarahasidocaracterizadaexperimentalmentemientrassusalidaanalgicaes
convertidaavaloresdigitalesde8bitsdeprofundidad[Gonzalez,2005BINDT].
Elnivelderuidoescuantificadoen10nivelesdigitalessobreunmximode210
paralamximagananciadisponibleeneldetectoryconunasensibilidadtrmica
(NEDT) de 0.085 C. Esto conlleva, aplicando la ec. 2.1, a que sobre un rango
dinmicode0.89C,elruidorepresentaaproximadamenteun10%.
El sistema de cmara miniatura posee una digitalizacin de 8 bits que
limitasuaplicabilidadendeteccindedefectossubsuperficiales.Sinembargo,la
excitacin mediante pulsos trmicos largos generados por lmparas infrarrojas
incrementaladetectabilidadqueelsistemaofrece,comoseconstataenlaFigura
39ysegnsedemostrtericamenteconanterioridad.Porotrolado,elsistema
32
Este sistema fue desarrollado en el Materials Research Center de la Universidad de Bath en el

Reino Unido bajo la direccin del profesor D.P. Almond en el proyecto AHEAD (Growth
Programme G1RD-CT-2001-00673, Title: New ways of manufacturing large non-rigid structures
through innovative production systems, Acronym: AHEAD). El autor de esta obra contribuy en
la caracterizacin de las posibilidades del sistema para la medida cuantitativa de defectos
subsuperficiales as como en las tareas propias de mantenimiento, revisin y actualizacin
hardware de dicho sistema.
-55-
Flash
5.0 s
3.5 s
1.5 s
0.5 s
3.5
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
6
8
10
12
dimetro (mm)
Figura 3-9. Diagrama profundidad-dimetro de los defectos detectados para diferentes excitaciones pulsadas. No se trata
del lmite terico del rea de detectabilidad sino de un lmite prctico obtenido tras diferentes experiencias sobre un
espcimen CFPR (carbon fibre reinforced plastic) que contiene tantos defectos como puntos azul claro se pueden
observar.
ThermoScoperepresentaunodelosequipamientospunterosenelestadodelarte
de la termografa infrarroja. Diseado para aplicaciones de deteccin de
anomalias internas en materiales, su baja NEDT y potentes flashes llevan a
detectabilidadesmayoressobreelmismoespcimen.
Apesardelagrandiferenciaentrminosdesensibilidadtrmicayenel
costequellevaasociadotodoelsistema,losresultadosprcticosmostradosenla
Figura 39 delatan que en trminos de detectabilidad ambos sistemas ofrecen
resultados comparables. Los desacuerdos con las predicciones de las
simulaciones tericas son explicados por las no uniformidades en el
calentamiento de la superficie que existen en el caso real [Gonzalez, 2005
BINDT].Esimportantesealarqueenelcasodeexcitacionesconpulsosdelarga
duracin,lasnouniformidadesdelcalentamientosonmuchomsdeterminantes.
3.7
Conclusiones y resultados relevantes
A lo largo de este captulo se ha revisado el concepto de detectabilidad en

termografainfrarroja.Conelcontrolomedidadelatemperaturasuperficialde
un material durante todo el proceso, se es capaz de relacionar las variaciones
detectadasconloqueestocurriendodentrodelespcimen.Ladetectabilidadse
establece como un umbral cuantificable que permite la deteccin de anomalas
internas en el objeto bajo inspeccin. Depende de la sensibilidad trmica del
sistema y de la resolucin espacial del mismo. A pesar de la generalizacin del
usodeladiferenciadetemperaturasequivalentealruido(NETD)comocriterio
de decisin, se aclara que en realidad se debe utilizar el concepto de mnima
diferencia de temperaturas resoluble (MRTD) que tambin tiene en cuenta la
resolucinespacialdelsistema.
Se han estudiado los factores que influyen en la detectabilidad de
anomalas. Estos factores sern caractersticos de la superficie del objeto bajo
medida, del medio de transmisin entre el objeto y el equipo inspector o del
instrumento de medida. Las variaciones de emisividad, el efecto de las
reflexiones, la degradacin del equipamiento, tanto en su ptica como en su
-56-

electrnica, las caractersticas trmicas del material (conductividades y

difusividades)ylascaractersticasfsicasymecnicasdelasanomalas(tamao,
profundidad,localizacincercadebordesuotrasdiscontinuidades)caracterizan
la detectabilidad. La inspeccin de anomalas de tamao considerable, poco
profundas, alejadas de los bordes o contornos y las caractersticas trmicas del
espcimen apropiadas (baja difusividad lateral) actan a favor de una buena
detectabilidad de las discontinuidades internas en los materiales. Pero, adems,
existe la posibilidad de incrementar el contraste trmico entre material y
discontinuidad mediante el aporte de una mayor energa trmica al objeto bajo
inspeccin,estoes,latermografainfrarrojaactiva.Basndoseenlastermografas
activas pulsadas, la aplicacin de pulsos de mayor o menor duracin conlleva
diferencias en cuanto a la detectabilidad de los defectos (sobre todo en el valor
delmximocontrasteyeltiempodeobservacindelmximocontraste).
Se establece un nuevo criterio de detectabilidad. La definicin de los
parmetrosquedanlugaralreadedetectabilidadpermitevalorarelefectodela
limitacinimpuestaporunaescasadigitalizacin.Lossistemastermogrficosas
limitados pueden compensar la detectabilidad que ofrecen combinndose con
excitacionespulsadasdemayorduracin.Anomalasamayorprofundidadyde
menortamaoofrecenascontrastesdetemperaturadetectablesencomparacin
conlaresolucintrmicaylasensibilidadtrmicadelsistema.
Otra forma de ver el incremento en efectividad de deteccin que se
obtiene aumentando el tiempo de la excitacin, es que la utilizacin de pulsos
trmicos de mayor duracin permite la utilizacin de cmaras termogrficas de
menoresprestacionesconlaconsiguientereduccindecostes.Losresultadosde
los estudios tericos sobre detectabilidad han sido contrastados
experimentalmente con xito. Para ello se han empleado diferentes cmaras y
sistemas termogrficos. Haciendo uso del concepto de detectabilidad, se han
evaluadodossistemasdiferentes:unsistemade bajocoste,basado enlmparas
de radiacin infrarroja y una cmara de infrarrojos miniatura, y un sistema
comercial de TWI Inc. El sistema desarrollado por el Materials Research Center
de la Universidad de Bath en el Reino Unido es capaz de ofrecer resultados
comparables al sofisticado sistema ThermoScope, gracias al empleo de una
excitacin mediante termografa de pulso largo que compensa su escasa
digitalizacin.
Finalmente debe mencionarse que las contribuciones relacionadas con
estecaptulohansidorecogidasenvariaspublicaciones.Alolargodelcaptulo
han aparecido referencias a los distintos trabajos elaborados por el autor,
sealadasmedianteelusodediferentesnotasalpiedepgina.

-57-
Captulo 4
Automatizacin del procesado de
imgenes
Toda automatizacin de un proceso lleva consigo la reduccin de las

subjetividades inherentes a componentes o al conjunto del sistema
aumentando la efectividad. En este captulo se presentan diferentes
algortmicas que de forma automtica generan una nica imagen donde los
defectosdetectablespuedenserlocalizados.
Como se introduce, la definicin de contraste diferencial permite el
modeladodelperfiltemporalquesiguelatemperaturadeunpxelsuperficial,
siempre que esten unrea libre de defectos.Ante la evolucin de un pxel
correspondiente a un rea de influencia de una anomala interna, el modelo
difiereclaramente,siendoasposibleladeteccindelosdefectosinternos.
Tras excitar el objeto bajo estudio con un pulso trmico en forma de
flashsevalora,automticamente,laevolucindelatemperaturasuperficialy
secontrastaconunmodelolinealdependiente.Paraelajustedelperfil,
que sigue la evolucin de la temperatura superficial, a una recta se han
desarrollado varios algoritmos. Para ello se han propuesto mtodos
estadsticos y tcnicas basadas en transformadas de espacio de los datos
adquiridos.
Las propuestas han sido validadas experimentalmente en el
laboratorio en el que se ha logrado la automatizacin plena de procesos de
deteccindeanomalasinternas.Losresultadosobtenidossoncomparablesa
los alcanzados por un operador especializado trabajando en condiciones
ptimas.

-59 -
4 Automatizacin del procesado de imgenes

4.1
Introduccin
A travs de los termogramas de una superficie, se pueden detectar y evaluar

defectos, imperfecciones y cambios de composicin en el interior de objetos de
una forma rpida, fiable y segura. La cmara o sistema de deteccin infrarroja
detectar nicamente la radiacin emitida, que contiene informacin del
comportamientotrmicointerno.
Losmecanismosdetransferenciadelcalorenslidospermitendeterminar
anomalas internas en un material, simplemente observando la variacin de la
temperaturasuperficialdelespcimen.EnelanexoDsepresentanlosprocesados
mscomunesempleadosenlaevaluacindematerialesqueayudanaloperador
de un sistema termogrfico en la deteccin de anomalas subsuperficiales bajo
una excitacin pulsada (la ms utilizada de las termografas activas). Las
secuencias resultantes contienen altos niveles de ruido en todas sus formas:
electrnico, ptico, estructural, trmico, etc. Las decisiones sobre la
detectabilidad y cuantificacin de los defectos poseen por lo tanto una gran
componente subjetiva y fuertemente dependiente de la experiencia personal.
Diferentes organizaciones alrededor del mundo otorgan certificaciones de
personal(inspectortermogrficonivelI,IIyIII)[ASNT,2001]paracontrastarla
experiencia del termgrafo en el uso de esta tecnologa. La automatizacin de
cualquier parte del proceso contribuye a reducir la incertidumbre propia de la
subjetividadhumanayaaumentarlaefectividaddelprocesodedecisin.
4.1.1 Adecuacin de los tiempos de adquisicin
Elprocesonaturaldeevaluacindelainspeccinportermografaactivaradica
en la variacin temporal de la temperatura superficial en un objeto. La
transformacin de los datos ofrecidos por el sistema termogrfico en otros
dominios, sea dominio frecuencial a travs de la transformada de Fourier, de
LaplaceoWavelets,oseadescomposicinencomponentesprincipales,conlleva
el riesgo de una prdida de informacin, en mayor o menor medida, por los
efectos de muestreado y truncado de la componente temporal. As, el presente
trabajo se centra en el tratamiento de datos de temperatura y su evolucin en
funcindeltiempomanteniendointactalainformacinqueeltiempoofrece.
PartiendodelarespuestaaunimpulsodeDiracaplicadosobreunobjeto
(termografa activa pulsada), la variacin temporal de la temperatura
experimentadaenlasuperficiedelmaterialsiguelaecuacin[Carslaw,1986]:
T (t ) = T0 +
Qo
e t
ec. 4.1
dondeT0enKeselgradientedetemperaturainicialinducidoporlafuentede
calor,Q0(J/m2)eslaenergaabsorbidaporlasuperficieydondee, e = kc p ,esla
efusividad del material, con k [W/mK] la conductividad trmica, [kg/m3] la

-61 -
Energa
Primera
adquisicin
t=0
t=0+
Duracin
del
impulso
t1
tef
ltima
adquisicin
t2
t3
tN
ti,ef=?
Figura 4-1. Secuencia temporal de la excitacin. Los diferentes tiempos indican la captura de termogramas vlidos (sin
influencia de la excitacin) tras la excitacin pulsada.
densidad del material y cP [J/kgK] el calor especfico. Vase anexo B para ms

detalles.
Esta respuesta es considerada ideal, con una excitacin impulsional de
amplitudinfinitayduracinnula.Enlaprctica,laduracindelimpulsoesfinita
y su amplitud limitada aproximndose a la forma de la Figura 41. El impulso
puede sufrir adems un mayor deterioro en su perfil ascendente ante la pobre
respuesta de los flashes tras la recepcin de la seal de destello, por ejemplo,
motivadoporelusodeflashesrelativamentedeteriorados.
Para la aplicacin del modelo trmico propuesto por la ec. 4.1, es
necesario especificar un tiempo de referencia ti,ef apropiado. Parece lgico
seleccionar el instante en el que el frente trmico alcanza la superficie del
espcimen.Sinembargoestetiempopuedeestarcomprendidoentrelosinstantes
t=0 y tef, que se corresponden con los tiempos de inicio y fin del pulso de
excitacin.Considerandotcomountiempocomprendidoentreti,efyeltiempoal
queelprimerdefectohacesuaparicinsobrelasuperficie,tdf,latemperaturade
unrealibrededefectosenelinstantetvienedadapor:
Tsoundarea[i , j ](t ) = T[i , j ](t ) =
Q[i , j ]
e[i , j ] t
ec. 4.2
Apartirdeestarelacinesposibleestimarlatemperaturaenlazonalibre
dedefectos,soundarea,enfuncindeltiempo:
Tsoundarea [i , j ] (t ) =
Q[i , j ]
e[i , j ] t
t
t
T[i , j ] (t ) =
T[i , j ] (t )
t
t
ec. 4.3
Combinando este resultado con las definiciones de contraste absoluto

[Maldague,2001], el contraste absoluto diferencial (differential absolut contrast,
DAC)esdefinidocomo[Pilla,2002]:

-62-
CAPTULO 4. AUTOMATIZACIN DEL PROCESADO DE IMGENES
T(t)
Termogramas
Saturados
o
Tsat
PTV
Tmax
3
UTV
4
Tambiente
t0
Imagen
fria
N
t2
t3
t4
t5
t6
t7
tsaturacin
t1
tN
q
Secuencia termogrfica
vlida
Figura 4-2. Secuencia termogrfica completa: n imagen fra o parte de la secuencia donde los termogramas estn
saturados por efecto de la excitacin p PTV: primer termograma vlido (no saturado) q parte de la secuencia
termogrfica que permite la evaluacin del material r UTV: ltimo termograma vlido (donde an se denota cierto
contraste trmico en la imagen por encima del umbral de ruido).
CDAC (i, j , t ) = T[i , j ] (t )
t
T[i , j ] (t )
t
ec. 4.4
donde
T[i , j ] (t ) = T[i , j ] (t ) T[i , j ] (t = 0 )
T[i , j ] (t ) = Tsoundarea [i , j ] (t ) Tsoundarea [i , j ] (t = 0 ) = Tsoundarea [i , j ] (t ) T[i , j ](t = 0)
ec.
4.5
y el trmino T[i,j](t=0) corresponde a la imagen fra de la secuencia, es decir, al

termogramadelespcimenantesdelallegadadelfrentetrmico(verFigura41).
Enlaecuacin,Tsoundarea[i,j](t=0)esigualaT[i,j](t=0)entantonohayaningndefecto
visibleent=0.
La secuencia termogrfica completa que, en trminos generales es
capturada,estcompuestadecincoelementoscaractersticoscomoseapreciaen
la Figura 42. En el instante t0, anterior a que el frente de calor de la excitacin
alcancelasuperficiedelmaterialbajoinspeccin(anteriorporlotantoalinstante
t=0delaFigura41),secapturaunaovariasimgenesfras,ncoldimage,degran
utilidad para eliminar reflexiones espurias, corregir las variaciones de
emisividadesdelosdistintospuntosdelasuperficieyreducirelpatrnderuido
fijo (ver FPN en el anexo D). Durante la aplicacin de la excitacin externa (en
termografa activa), la secuencia adquirida presenta una serie de termogramas
saturados(latemperaturaseencuentrafueradelrangodinmicodelamedida)
que no pueden aportar ninguna informacino. Su nmero depende de la
frecuencia de captura del sistema, de la duracin de la excitacin (termografa
pulsada,termografadepulsolargo)ydelaspropiedadestrmicasdelmaterial
(siposeeunabajaconductividadtrmica,lasecuenciadetermogramassaturados
sermsduraderaeneltiempo).Elprimertermogramavlido(PTV)esentonces
-63-
Sin defecto
Defecto poco profundo
Defecto ms profundo
35
30
18
25
T, C
14
20
1.2
1
0.8
16
a)
6
1.4
0.6
12
10
15
T, C
0
40
0.4
8
6
10
0.5
1.5
0.2
0
0
0
3
Tiempo, s
-0.2
6
T[11,5] (t); Q/e=11.8;
T[10,64](t); Q/e=11.2;
Deteccin de defecto
Ts[
i j ] (t)
Origen
b)
10
-1
10
10
Figura 4-3. a) Deteccin de defectos a partir de los perfiles trmicos. Las curvas de contraste absoluto para el defecto poco
profundo () y el ms profundo (+) estn representadas en colores similares al rojo para su correlacin con el eje del
contraste (eje derecho). b) Representacin en formato bi-logartmico de la evolucin temporal de dos pxeles (rojo, en zona
defectuosa; azul, en zona libre de defectos) obtenida a partir del freeware Ir-View donde se aprecia la tendencia lineal de
pendiente (lnea negra). La secuencia de imgenes utilizada para esta simulacin se corresponde con la presentada en
la Figura 3-2 para una excitacin en forma de flash de 0.01 segundos y potencia 100KW/m2 sobre un material sustrato de
conductividad 6.4 [W/(m*K)] en el plano normal a la superficie y 0.64 [W/(m*K)] en el plano paralelo a la misma, de
capacidad trmica de 2460 [(W*s)/(kg*K)], densidad 500 [kg/(m3)] y espesor 6 mm. Los defectos considerados son
taladros, con aire de conductividad 0.07 [W/(m*K)], de capacidad trmica de 928 [(W*s)/(kg*K)], densidad 1.3 [kg/(m3)],
2 mm de dimetro y a profundidades de 0.5 y 1.25 mm.
aqulquenopresentasaturacinp.Idealmente,losdefectosannosonvisibles
en el PTV aunque esta condicin no se cumple siempre en la prctica,
especialmente,cuandoseinspeccionandefectospocoprofundosenmaterialesde
altaconductividadtrmicausandounafrecuenciadecapturadeimgenesbaja.
Normalmente, esta situacin no constituye un problema en la deteccin de
defectos pero s en el anlisis cuantitativo de su profundidad, dado que la
profundidad es funcin del tiempo (z~t1/2) como se desprende de la ec. 4.1.
ComenzandoconelPTV,lossiguientestermogramasresultandeintersparala
deteccin y evaluacin de los defectos internos y constituyen la secuencia
termogrficavlidaq.Latemperaturasuperficialdecrecehastaqueseproducela
estabilizacin trmica con el ambiente. A partir del ltimo termograma vlido
(rUTV), las variaciones de temperatura se consideran despreciables (ruido) y
ningunainformacinpuedeobtenersedetalescapturas.
Ladesviacinconrespectoalmodeloidealizadoporlaec.4.1enlaparte
til de la secuencia termogrfica ofrece informacin acerca de la presencia de
reasdefectuosascomoseapreciaenlaFigura43.Laevolucintemporaldela
temperatura superficial de un pxel sobre un rea libre de defectos sigue un

-64-
comportamientoquedecaeaproximadamentesegnlarazcuadradadeltiempo
(z~t1/2). Para el resto de pixeles, aquellos en la superficie correspondientes a un
reaconanomalasinternas,latemperaturasuperficialpuedesermayoromenor
enciertosinstanteshastaquelaestabilidadtrmicaesalcanzada.Porejemplo,en
la Figura 43, las anomalas vienen representadas por un taladro en la parte
posterior de un espcimen de Plexiglas que est relleno de aire. La efusividad
trmica (habilidad de un material para intercambiar calor con su entorno) es
mucho mayor en el Plexiglas que en el aire [Ibarra, 2005]33. Por ello la interfaz
plexiglasairepresentaunincrementodelatemperaturasuperficial.
La aplicacin del contraste absoluto, definido como la diferencia de
temperaturasentreunpxelyotrousadocomoreferencia(soundarea),proveela
inmediatadeteccindeladiscontinuidadenelperfiltemporalcomoseobserva
enlaFigura43a.
Trabajando en escala bilogartmica, la relacin de la ec. 4.1 queda
reducidaaunaexpresinlinealdependiente:
Q 1
ln ( T ) = ln 0 ln ( t )
e 2
ec. 4.6
De nuevo, el contraste absoluto denota la presencia de una

discontinuidadcomoseobservaenlaFigura43b34.
Estarelacinlinealdelaec.4.6resultadegranintersenlaaplicacinde
la definicin de contraste diferencial dada en la ec. 4.4, que permite obtener el
contrastedecualquierpxelconrespectoalcomportamientoquedebierateneren
caso de ser un pxel en una zona libre de defectos. As, sabiendo que el
comportamiento en escala bilogartmica tiene una evolucin lineal con
pendiente,alperfildetemperaturadecualquierpxelselepuedesustraerla
temperaturadadaporestemodelolineal.Adems,elprimerfactordelsegundo
miembrodelaec.4.6ofreceinformacinacerca delasuperficie.Sutratamiento
permite la eliminacin de las no uniformidades que puedan afectar la
experiencia.Deestaforma,elusodelatcnicadiferencialdefinidaporlaec.4.4
presenta los beneficios de no necesitar la seleccin de un rea libre de defectos
(soundarea); evitar los efectos de las no uniformidades trmicas en la superficie
(porefectodelaexcitacin,diferenciasdeemisividades),lageometra(texturade
la superficie) y pticas (como la aplicacin irregular de pinturas); y ser
relativamente rpida frente al uso de transformadas de Fourier, Wavelets o
Laplace al usar simples operaciones de sumas, restas, multiplicaciones,
divisiones y races cuadradas. Estos beneficios se desprenden de la observacin
delaFigura44.
33
Exactamente 115 veces. La efusividad del Plexiglas es de 577 Ws1/2/m2K, la del aire de 5
Ws1/2/m2K.
34
Ir-View es un software gratuito desarrollado por Maria Cristina Pilla, Xavier Maldague y
Matthieu Klein en la Universidad Laval. Se puede descargar desde la pgina:
http://www.gel.ulaval.ca/~klein/ir_view/ir_view_doc.htm
-65-
Vista frontal
Vista lateral
Excitacin
o
n
a)
Observacin de la no
uniformidad en la excitacin
El taco de resina apenas se aprecia
b)
d)
Observacin de la no uniformidad en la
excitacin
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0
20
150
40
100
60
50
80 0
El taco de resina apenas
se aprecia
c)
e)
Figura 4-4. Semiesfera de Plexiglas con un taco de resina que le sujeta a la placa que la soporta: (a) vistas frontal y
lateral ; (b) termograma capturado 1.2 s despus del inicio de la adquisicin; (c) vista 3D (d) termograma corregido tras la
aplicacin del algoritmo DAC; (e) vista 3D.
n Punto de mxima energa o crculo que marca el contacto de la semiesfera y la placa p taco de resina (interpretable
como material anmalo en el conjunto inspeccionado).
La imagen de la Figura 44, exhibe no uniformidades de la temperatura

superficial de un espcimen provocadas por efecto de la forma y del
calentamiento y su correccin o eliminacin por medio del procesado DAC
anteriormente descrito. En este caso particular, se trata de una semiesfera de
Plexiglas adosada a una placa de igual material con un taco de resina. En el
calentamientodelespcimen,elfrentetrmicoalcanzaantesyconmayorenerga
la parte ms destacada de la semiesferan siendo representada por un intenso
colorrojo.Laformadelasuperficiepuedeserinterpretadadelaobservacinde
los termogramas iniciales como la Figura 44b. La no uniformidad de la

-66-
Inexactitudes
(Temperatura
T) vs. (tiempo t) en espacio bi-logaritmico
Ajustes lineales errneos
10
10
-1
10
Figura 4-5. Incertidumbre causada por la inexactitud del tiempo de inicio de la captura. El tiempo correcto es 0.031s (lnea
azul) mientras que las otras lneas denotan capturas donde el tiempo inicial no ha sido correctamente ajustado.
Obviamente, estos errores influyen en el resultado de aplicar el mtodo DAC (lnea de trazo ms fino) que ofrece una
tendencia lineal de pendiente a partir del valor inicial.
excitacintambinespalpablecomoseobservadelgradientetrmicocaptadoen
lamismaFigura44b.Elfrentetrmiconoafectalaszonasmsocultasdelobjeto
y viene representado por las zonas de azul oscuro en las imgenes. Se
corresponden con el borde de contacto entre la semiesfera y la placa que la
soportao. La profundidad relativa es el factor dominante en este tipo de
experiencias. La profundidad de un defecto interno, bien en la placa bien en la
semiesfera,debieraserconsideradarespectoalasuperficie.Enestecaso,elefecto
de la forma debe ser eliminado. Como se observa en la Figura 44 d y e, el
procesado DAC elimina esta influencia dejando en evidencia los defectos,
particularmenteuntacoderesinap.
Sin embargo la limitacin ms importante de la aplicacin del mtodo
DAC radica en la incertidumbre del instante que el pulso trmico alcanza la
superficie del material. La Figura 45 denota los problemas y la prdida de
informacin que provoca el incorrecto ajuste del tiempo de referencia ti,ef de las
ecuacionesdelDAC.Enelcasodeunajusteoconocimientoprecisodeltiempo
en el que el pulso trmico alcanza la superficie del objeto, se observa cmo el
modelo lineal de pendiente propuesto por el mtodo DAC aproxima
perfectamente la variacin temporal de la temperatura superficial de un rea
libre de defectos. Sin embargo, pequeas variaciones en la escala del tiempo
pueden equivocar el modelo. Hay que recordar que la captura de imgenes
impone una nueva referencia temporal como se aprecia en la Figura 42. El
tiempodellegadadelpulsotrmicoseencuentraentredostiemposdecaptura,
siempreycuandonosetenganlostermogramassaturados.Enesecasosehande
eliminar dichas capturas y la referencia temporal inicial adquiere valores
mayores donde el proceso de difusin dificulta la cuantificacin de la
profundidadolaformadeldefecto.
-67-
La importancia de una correcta temporalidad de la captura en los

primeros instantes tras la excitacin resulta de gran trascendencia para la
deteccin de defectos poco profundos y la inspeccin de materiales de alta
conductividad trmica. Las secuencias pueden ser corregidas temporalmente
conociendolastendenciasquedebenseguir.Sinembargo,laintervencindeun
operador es requisito imprescindible para ello. Ante una automatizacin del
proceso,dosfrentespuedendefinirseeneltratamientodeestaproblemtica.Por
unaparte,eldesarrollodegrandessincronismosenlossistemas(entrefuentede
excitacin y cmara), con el conocimiento detallado de la forma del pulso de
excitacin, su temporalidad y la distancia fija entre la muestra y la fuente de
calor,permitecapturaspurasysinlosinconvenientesantesmencionados.Un
ejemplodeestatendenciaeseldesarrollodesistemascompactos(todoenuno)
como el sistema termogrfico EchoTherm comercializado por TWI Inc. y
basado en cmara de infrarrojo Merlin y en un sistema de flashes como
excitacin. Por otra parte, ante el uso de sistemas modulares donde el
sincronismo es ms complicado, se persigue el modelado de las capturas para
extraerdeformainversainformacindelosinstantesinicialestraslaexcitacin.
Esta ltima parte es la que nos permite la automatizacin de los procesos de
deteccindedefectosinternosensecuenciastermogrficas.
A lo largo de este captulo se realizarn los estudios de diferentes
alternativasquepermitanlaidentificacindelpatrnlinealvistohastaahoraen
las secuencias termogrficas. Para ello se analizar una secuencia termogrfica
determinada, obtenida por una cmara Santa Barbara modelo SBF125 tras una
excitacinpulsadaestimuladadurante15msporflashes(BalcarFX60)sobreun
espcimen de Plexiglas de 4 mm de espesor, dimensiones 15x15 cm y que
contiene6taladrosensuparteposteriorde10mmdedimetroyprofundidades
1, 1.5, 2, 2.5, 3, 3.5 mm (indicadas desde la superficie frontal). Adems de un
esquemticodelespcimen,laFigura46muestraunaseleccindetermogramas
parasucomparacinconlosresultadosqueseofrecenacontinuacin.
4.1.2
La problemtica del ajuste de una lnea recta
Sehaobservadolanecesidaddeajustarunaecuacinmatemticalinealomodelo
lineal al conjunto de datos experimentales obtenidos de la secuencia
termogrfica. Se ha comprobado cmo, eliminando la tendencia lineal de la
representacin bilogartmica del contraste trmico en funcin del tiempo, los
defectos son detectables, las no uniformidades trmicas tanto de la excitacin
comodelaemisividadevitablesyunaautomatizacindelprocesodedetecciny
evaluacin posible. La identificacin del patrn lineal en estas representaciones
puede resolverse mediante algortmicas ya conocidas pero cuya aplicacin se
circunscribeatcnicasdeestimacinestadsticayatcnicasdeidentificacinde
formasentratamientodeimgenes.Lafusindeestastcnicasconlaexperiencia
en laboratorio y en campo de la termografa posibilita la automatizacin de la
deteccin y evaluacin de defectos internos en materiales homogneos.

-68-
Seccin
A-A
2.6
10
20
2.4
30
a)
2.0
2.
1.5
1.
1.0
1.
2.2
40
b)
50
60
1.8
70
3.5
3.
3.0
3.
2.5
2.
80
90
1.6
1.4
100
20
+z-
40
60
80
100
120
140
c)
Figura 4-6. a) Esquema del espcimen usado. Placa de Plexiglas 150x150x4mm con 6 defectos artificiales de 10mm de
dimetro a las profundidades marcadas considerndolas desde la superficie b) Termograma para la posicin de los pxeles
presentados y observacin de una clara no uniformidad en el calentamiento. Tratndose del tercer termograma, uno de los
defectos (el menos profundo) ya es visible en las coordenadas [18,120]. b) Secuencia termogrfica capturada. La no
uniformidad es patente al igual que el efecto de la difusin en funcin del tiempo de captura de los termogramas mostrados
(en segundos).
4.2
Mtodos estadsticos
El ajuste estadstico de una lnea recta se conoce generalmente como regresin

lineal,endondelapalabraregresintienetanslounsignificadohistrico.Bajo
condiciones ideales, el mtodo de los mnimos cuadrados es el preferido para
ajustar ecuaciones tericas a un conjunto de datos experimentales. La suma
(ponderada)deloscuadradosdelosresidualesdesviacionesconrespectoala
funcin de ajuste, se hace tan pequea como sea posible. Un criterio de
mnimoscuadrados(ponderados)esvlidosiesposibleasumir:i)queloserrores
cometidos son aleatorios y no sistemticos, con media cero y varianza no
uniforme; ii) que siguen una distribucin gaussiana; esta distribucin es tan
comnquenosreferimosaellacomonormal;iii)quelavariableindependiente,
i.e., x, la abscisa, se conoce exactamente o puede ser establecida (fijada) por el
experimentador; iv) que las observaciones yi son estadsticamente
independientes, esto es, no se encuentran correlacionadas, coincidiendo las
-69-
No uniformidad
(Temperatura T) vs. (tiempo t) en espacio bi-logartmico
T[4,12](t); Q/e=7.67;
T[10,56](t); Q/e=7.01;
T[4,91](t); Q/e=6.01;
Falta de ajuste temporal

1
10
t' usado
Ts[ i j ](t)
Frame
No linealidad en el
caso de una zona
defectuosa
Valor atpico
heterocedasticidad
0
10
-1
10
10
10
Figura 4-7. Problemas comunes en el ajuste de tendencias temporales de la temperatura correspondiente a un pxel en una
secuencia termogrfica. Estos problemas dificultan el uso de tcnicas de regresin lineal para la obtencin del
comportamiento modlico lineal de pendiente de tales evoluciones temporales: a) pxel sobre un rea defectuosa; b)
pxel sobre un rea libre de defectos
mediasconsusrespectivasexpectacionesoverdaderosvalores;yv)quelospesos
correctos, nmeros positivos, son conocidos; esto requiere conocer, a su vez, la
forma funcional de la dependencia de x con la varianza de y. El criterio de los
mnimos cuadrados da lugar, no obstante, a resultados cuestionables si las
observacionesnoseponderancorrectamenteosilosdatoscontienenresultados
atpicos.
Existen casos en los que el mtodo de mnimos cuadrados no resulta
efectivo.Bsicamente,alajustarunmodeloderegresinlinealsimplesepueden
presentardiferentesproblemasbienporquenoexisteunarelacinlinealperfecta
entre las variables o porque no se verifican las hiptesis estructurales que se
asumenenelajustedelmodelo.Estosproblemassonlossiguientes:
FaltadeLinealidad,porquelarelacinentrelasdosvariablesnoeslinealo
porque variables explicativas relevantes no han sido incluidas en el
modelo.
Existenciadevaloresatpicoseinfluyentes(outliers),existendatosatpicos
que se separan de la nube de datos e influyen en la estimacin del
modelo.
Falta de Normalidad, los residuos del modelo no se ajustan a una
distribucinnormal.
Heterocedasticidad,lavarianzadelosresiduosnoesconstante.
Dependencia(autocorrelacin),existedependenciaentrelasobservaciones.
La Figura 47 recoge una evolucin tpica del contraste trmico de un

pxel superficial durante una inspeccin con termografa activa pulsada
representadaenungrficobilogartmico.Variosdelosproblemasanteriormente
-70-
mencionados son claramente reconocidos y los mtodos de regresin por

mnimoscuadradossloofrecenbuenosresultadosencasosmuypuntualesyen
condiciones muy poco frecuentes. Por una parte, un ligero error de control
temporal de las capturas de la cmara provoca la aparicin de valores atpicos
quedificultanlaregresinlinealdelaevolucin.Enunaescalalogartmica,unas
dcimas de milisegundos resultan una o ms observaciones que no siguen la
misma pauta que el resto de los datos y ejercen una gran influencia sobre el
modeloderegresin.Ladeteccinyelrechazodedatosanmalos,enparticular,
no es apropiada dado que la mayor parte de la informacin aparece en los
instantes posteriores ms inmediatos a la excitacin como se desprende del
apartadoanterior.Porotraparte,elnivelderuidoresultacomparablealaseal
en tiempos de inspeccin donde la difusin es patente. La cantidad medida no
tieneasvarianzaconstante(homocedstica)sinoqueesdependientedeltiempo
enelqueocurre(casogeneraldeprecisinnouniformeoheterocedasticidad).
Una alternativa, para la obtencin de la recta que ajuste el modelo de la
evolucin temporal del contraste trmico superficial, es usar procedimientos
estadsticosqueseanrobustosfrentealosdatosatpicosylaheterocedasticidad
(un mtodo robusto no es sensible a desviaciones moderadas de supuestos
estadsticos).
4.2.1 Automatizacin IDAC35
Las ventajas de la aplicacin del contraste diferencial (DAC) permiten el
modelado de los perfiles de evolucin temporal de la temperatura de la
superficie de cualquier objeto homogneo bajo excitacin trmica pulsada. Se
obtienenlosvaloresdelaenergatrmicacedidaalasuperficieencadapuntode
lamisma,ajustandolascurvasobtenidasparacadapxelaunafuncinlinealde
pendiente , en una representacin bilogartmica, y reduciendo los errores
producidos por las inexactitudes de la estimacin del tiempo en el que se
produce la primera captura vlida respecto a la llegada del pulso trmico a la
superficie. Con ello, se logra la correccin de la no uniformidad en el
calentamiento y evitar los efectos de la forma u orientacin de la superficie
favoreciendo la detectabilidad de los defectos internos y la estimacin de su
profundidad. El mtodo DAC resulta exitoso bajo su aplicacin por un experto
enlamateria.
Unaautomatizacindelmtododelcontrastediferencialesladeteccin,
mediante tcnicas de interpolacin, de la recta de pendiente . A partir de la
misma,seobtieneelvalordeltiempoinicial(eldecontactodelpulsotrmicocon
lasuperficiedelmaterial)ydelaenergasuministradaalasuperficieenl.Las
secuencias termogrficas son interpretadas como matrices de tres dimensiones
recogiendo la evolucin temporal de una imagen inicial. Para cada pxel de la
imagen, el algoritmo IDAC (Interpolated Differentiated Absolute Contrast
Algorithm) evala las diferentes combinaciones de puntos a lo largo del perfil
temporaldelatemperatura(terceradimensinenlasmatricesIDAC)enlosque
35
Interpolated Differentiated Absolute Contrast Algorithm: Propuesto por el autor de esta obra y
colaboradores y por primera vez presentado en el congreso QIRT, 2004 celebrado en Bruselas
[Gonzalez, 2004-Qirt]
-71-
(Temperatura
T) vs. (tiempo t) en espacio bi-logaritmico
qEstimacin Q/e[i,j]
pIncremento temporal
otoptimizacin
10
Conjunto S
10
nPunto deteccin
-1
10
Figura 4-8. Secuencia de pasos del algoritmo IDAC: n Punto de deteccin (primer punto con pendiente mayor de un
determinado umbral) o Tiempo de optimizacin (interpolacin entre puntos del conjunto S cuya pendiente ms se
aproxime a -0.5) p Una funcin de minimizacin es implementada obteniendo el t ptimo que mejor correlacin ofrece.
q Estimacin de Q/e[i,j]. segn ec. 4.6.
lapendientenosedesvadeunvalordado(0.35esconsideradoempricamente
un umbral apropiado). En el momento en el que la pendiente rebasa el umbral
determinado,seconsideraqueesepuntodelperfiltemporaleselcomienzodela
deteccindeundefecto,verenlaFigura47elframerepresentadoporunaspa
grueso o la Figura 48n. Interpolando linealmente combinaciones del conjunto
de puntos desde el primer punto del perfil hasta el punto de comienzo de la
deteccin(conjuntodepuntosS),seevalalapendientedelalneainterpolada
generada para el conjunto de los datos temporales S. Tras agotar las
combinaciones, el algoritmo evala la combinacin que mejor interpolacin
realiza,obviamenteaquellainterpolacincuyapendientemsseaproximea.
Una vez encontrada la mejor interpolacin, se define el tiempo que la origina
como toptimizacino. Los puntos en el rango temporal [t0,toptimizacin] son comparados
conlosobtenidostrasaplicarlainterpolacinoptimizada.Seaadeuntiempo t
a t0p. Una funcin de minimizacin es implementada obteniendo el t ptimo
quemejorcorrelacinofrece.Deestaforma,laestimacindeQ/e[i,j]qenlaec.4.6
permitelacorreccindelasnouniformidades.
LaFigura49muestraunaimagennicaresultadodeaplicarelalgoritmo
IDACalasecuenciapresentadaenlaFigura46.Enslounaimagen,todoslos
defectosdetectablessonmostrados.ElmtodoIDACmantieneunligeroerroren
laeliminacindelanouniformidaddelcalentamiento,manteniendoelnivelde
soundarea en una escala de 0.1C y presentando los perfiles de temperatura
ligeramente desplazados respecto a los del DAC. A pesar de esto, los mismos
defectos son observables y la correlacin del valor dado por la imagen y la
profundidadesalta.

-72-
b)
T (C)
a)
T (C)
Horizontal
c)
Vertical
Figura 4-9. Imgenes nicas obtenidas tras la aplicacin de los algoritmos a) IDAC b) DAC. c) Perfiles horizontal y
vertical en el pxel 80 y pxel 72 respectivamente. Los dos mtodos detectan los mismos defectos.
La mayora de estas tcnicas requieren de una etapa de calibracin a

partirdelacual,losdatosexperimentalespuedensersometidosaunprocesode
regresinconunarelacinempricadelaforma:
h
2
z = A t 1max
C max
ec. 4.7
donde los parmetros A y h se determinan por regresin. As la profundidad

puede ser estimada a partir del valor ofrecido por la automatizacin IDAC
[Gonzalez,2004Odimap].
Es igualmente posible estimar la forma y el tamao de un defecto al
examinar un termograma o fasegrama, tras la aplicacin de un algoritmo de
extraccin de bordes, p.ej. Sobel, Roberts, Canny, etc. El principal problema es
determinar el instante ms adecuado para esto. Por ejemplo, podra obtenerse
una estimacin del dimetro de los defectos segn el contraste medio (la mitad
delcontrastemximooFWHM)[Avdelidis,2003].
Con los beneficios vistos por el uso de la definicin de contraste
diferencialdelaec.4.6,eloperadorslohanecesitadodefinirlamatrizsecuencia
termogrficasobrelaqueaplicarelalgoritmo.

-73-
4.2.2 Mtodos robustos de estimacin estadstica aplicados a la

termografa infrarroja.
En la estadstica no paramtrica, se describen una variedad de mtodos
robustos de regresin, vlidos frente a incumplimientos de las suposiciones
clsicas. Tales herramientas requieren slo simples suposiciones, tales como
aleatoriedad e independencia. La suposicin de independencia implica que las
perturbaciones son independientes unas de otras y no correlacionadas con
algunavariable,estoes,esunruidoincorreladoyaleatorio.
Losmtodosrobustossonmenosexactosquelaestimacinpormnimos
cuadradoscuandolassuposicionesdestossonciertas,peromsexactoscuando
son falsas. La clase de mtodos robustos frecuentemente utilizados para la
estimacinlinealsonlosdenominadosmtodosdeinformacinmnima.Setratade
utilizar un subconjunto mnimo de las medidas disponibles para realizar la
estimacin. Se basan en la hiptesis de que si se encuentra un subconjunto
suficientemente preciso, el resto de medidas pueden ser ignoradas y de esta
forma se evita que medidas errneas puedan afectar negativamente a la
estimacin. Para seleccionar el mejor subconjunto se utiliza algn tipo de
clustering o criterio de consenso, esto es, si la estimacin sugerida por un
subconjunto tambin explica una parte significativa del resto de medidas,
entonces es muy probable que la estimacin sea correcta y puede ignorarse el
restodemedidas.
Elmtodomsrepresentativoeslafamiliadealgoritmosderegresinde
RANSAC (Random Sample Consensus) [Fischler, 1981]. En el anexo E puede
consultarseunaseccinquedescribeestafamiliadealgoritmos.Aligualque la
automatizacin IDAC, esta familia de algoritmos es capaz de obtener la lnea
recta que ajusta los datos temporales del contraste diferencial an con las
dificultades de tener valores atpicos, heterocedasticidad, ruido y no linealidad.
En la Figura 410 se aprecia un ejemplo del correcto ajuste ofrecido por estos
algoritmos.
4.3
Transformaciones en el espacio de datos
Para la obtencin de larecta que ajuste el modelo de la evolucin temporal del

contraste trmico superficial se pueden usar tanto procedimientos estadsticos
comotcnicasqueresultandelaaplicacindirectadetcnicasdeidentificacin
de patrones lineales en imgenes, tratamiento de imagen y que se basan en
mtodos de acumulacin de ocurrencias. El reconocimiento de lneas rectas es
una tarea fundamental en el campo de procesamiento de imgenes y varias
transformadashansidodesarrolladasyvalidadasparaello.Entreellasdestacan
la transformada Hough y la transformada Radon teniendo en comn la
transformacin del espacio original en un espacio paramtrico o transformado
dondelaslneasrectassonfcilmentedetectables.

-74-
Pto 4
Pto 2
Pixel
20
a)
Pto 1
40
2.5
Pto 5
60
80
100
Pto 3
Pto 6
20
40
60
80
Pixel
100 120 140

1.5
Pt.1
Pt.2
1.4
1.4
DATOS
RANSAC
0.8
0.8
0.6
0.4
0.2
0.2
-3
-2
-1
log(t)
Pt.3
0
-4
1.4
-2
-1
log(t)
Pt.4
0.8
0.8
log(T)
0.6
0.6
0.4
0.4
0.2
0.2
-3
-2
-1
log(t)
DATOS
RANSAC
1.2
0
-4
-3
1.4
DATOS
RANSAC
1.2
log(T)
0.6
0.4
0
-4
DATOS
RANSAC
1.2
log(T)
b)
log(T)
1.2
0
-4
-3
-2
-1
log(t)
Figura 4-10. Ajuste al modelo de pendiente a partir de algoritmos de la familia RANSAC. a) Situacin de los
diferentes puntos b) Ajuste de la tendencia temporal de cada punto seleccionado en a)
4.3.1 Transformada Hough36

La transformada Hough se utiliza para el enlace de puntos de borde y la
extraccinderectas.Parasolucionarelproblemaanteriormenteplanteadodela
identificacin de un patrn lineal en la representacin bilogartmica de la
temperatura superficial de un espcimen tras una excitacin pulsada, se usa la
transformada de Hough [Hough, 1962]. Implica la transformacin de
coordenadascartesianasacoordenadaspolaresdelaforma:
= x cos + y sin
ec. 4.8
para cada punto q=q(x,y) de un conjunto Q de puntos donde es la distancia

perpendiculardelalneaalorigen,y eselnguloentrelanormaldelalneay
el eje x, como aparece en la ilustracin del anexo dedicado a los diferentes
36
Pulsed Thermography Hough Transform Algorithm, PTHTa: Propuesto por el autor de esta obra
y colaboradores y por primera vez presentado en el congreso IWASPNDE, 2005 celebrado en
Qubec [Gonzalez, 2005-IWASPNDE]
-75-
Con ruido, y=-0.5 x + 15

Espacio Cartesiano
Sin ruido, y=-0.5 x + 15
Espacio Hough
16
Espacio Cartesiano
-50
Espacio Hough
16
-50
-40
15
-40
-30
15
-30
-20
-20
-10
13
14
-10
10
14
13
20
12
20
30
12
30
40
11
50
-2
10
40
11
-1
(rad)
50
-2
10
16
15
-30
-20
-20
14
-10
10
-10
13
20
30
12
30
40
11
10
50
-2
0
10
20
12
-40
-30
13
-50
-40
14
(rad)
Sin ruido, y=-0.3 x + 15

Espacio Cartesiano
Espacio Hough
-50
15
-1
Con ruido, y=-0.3 x + 15

Espacio Cartesiano
Espacio Hough
16
0
10
40
11
-1
(rad)
10
50
-2
-1
(rad)
Figura 4-11. Representacin de la transformacin de varias lneas de pendientes -0.5 y -0.3 en situaciones donde son o no
afectadas por ruido aleatorio. Se observa cmo el efecto del ruido en el espacio transformado se corresponde con un
emborronamiento de la zona de corte de las curvas sinusoidales, mientras, para el caso de rectas sin ruido, el corte se
realiza en un nico punto bien definido como se observa en el grfico de la derecha.
algoritmosaqutratados.Seacumulanlasparejas(p)delosvaloresdiscretosde
lacurva =xcos+ysinenelespaciodeparmetrosPyentoncessedetectanlos
picosmsdestacadosenesteespacio(ver,porejemplo,[Gonzalez,1993];[Pratt,
1991]).
Para cada punto del espacio xy, podrn pasar infinitas rectas por ese
punto y as una curva sinusoidal es generada en el acumulador que forma el
espacio transformado, ver la Figura 411. Si representamos esta funcin
transformada para todos los puntos de una recta, estas curvas sinusoidales se
cortarn todas en un punto que nos definir la ecuacin de la recta. Como el
mayorconjuntodepuntosalineadosquecontieneelgradientecorrespondeala
rectadeinters,elpuntomsbrillanteenelplanodeHoughcorresponderalos
valoresdeydedicharecta.Deestaforma,observandoelvalordeenelcual
sedaelmximodelatransformadadeHough,seobtieneelvalordelngulode
inclinacin buscado. An siendo una lnea ruidosa, la interseccin de las
curvasrepresentalalneaaunquelazonadecorteyanoseaunnicopuntosino
unrea.
A partir de esta base terica, se construye un mtodo de deteccin de
rectas en imgenes enormemente robusto, (Pulsed Thermography Hough
TransformAlgorithm,PTHTa)[Gonzalez,2005IWASPNDE].Puntosderuidoen
la imagen, o rectas no continuas, no influyen demasiado en la matriz de
transformacin,porloqueelalgoritmoesmuyrobustofrenteaestosaspectos.El
algoritmo consiste en aplicar la transformacin para todos los puntos de una
-76-
Pt.2 - Zona defectuosa
Pt.1- Zona defectuosa

-1000
-500
0
500
1000
-1.5
-1
-0.5
0.5
1.5
-1000
-500
0
500
1000
-1.5
-1
-0.5
(rad)
-1
-0.5
0.5
1.5
-1000
-500
0
500
1000
-1.5
-1
-0.5
0.5
(rad)
(rad)
Pt.5 - Zona libre de defectos
-1000
-1000
-500
-500
0
500
0
500
1000
-1.5
0.5
-1
-0.5
1.5
Pt.3 - Zona defectuosa

-1000
-500
0
500
1000
-1.5
0
(rad)
0
0.5
(rad)
1.5
1000
-1.5
-1
-0.5
0.5
1.5
1.5
(rad)
Figura 4-12. Espacio paramtrico de Hough para los perfiles temporales de los puntos seleccionados en la Figura 4-10.
Los puntos 1, 2 y 3 representan zonas con un defecto interno mientras que los puntos 4, 5 y 6 representan zonas libres de
defectos o soundareas. Los grficos son similares aunque difieren en una observacin ms detallada de la zona limitada
por barras verticales. En dicha regin, 1<<1.2 las curvas se ensanchan estando presentes en un mayor rango de para los
grficos pertenecientes a zonas defectuosas.
imagen que es el perfil de evolucin temporal de la temperatura de un pxel

superficial del objeto bajo inspeccin. El espacio transformado se discretiza, de
forma que tengamos una buena resolucin, y las funciones sinusoidales
resultantes de la transformacin de cada pxel se van acumulando. Al final del
proceso, tendremos una matriz cuyo valor mximo nos dar en sus ndices, el
valordeyquedefinenlarecta.
El inconveniente principal de esta transformada es que no es capaz de
encontrar los extremos de la recta. Esto afecta a la eliminacin de las no
uniformidadesdeexcitacinyformadelasuperficie.Sinembargo,ladeteccin
delosdefectossiguesiendoposible.
EnlaFigura412semuestranlosespaciosdeHoughparalaevolucindel
perfil de temperatura con el tiempo de los pixeles seleccionados en la Figura
410a.Cadapuntodecadaperfilestransformadoenunacurvasinusoidalcomo
las mostradas en la figura. La interseccin de todas esas curvas describe la
existencia de una recta en el perfil. Sin embargo, asumiendo un material semi
infinito y homogneo, el objetivo no es, en este caso, identificar la lnea en el
perfil temporal, lo que supondra un ajuste similar al ofrecido por los mtodos
estadsticos previamente comentados. El objetivo es simplemente la decisin de
siunpxelperteneceaunazonadefectuosaono.Paraello,estimarlacantidadde
puntos del perfil que siguen la pendiente de resulta suficientemente
determinante. Como se desprende de la Figura 410, los puntos del perfil
temporaldelospxelesdezonaslibresdedefectosquesiguenlapendientedada
-77-
10
Pt.2(a=8.186;b=356.32;c=240.07)
ocurrencias
ocurrencias
Pt.1(a=6.6299;b=358.32;c=293.73)
Pixel de zona defectuosa
5
0
300
400
500
600
700
800
10
5
0
300
900
5
0
300
400
500
600
700
800
10
0
300
900
ocurrencias
ocurrencias
Pixel de zona NO defectuosa
400
500
600
700
800
600
700
800
900
400
500
600
700
800
900
Pt.6(a=10.238;b=357.32;c=147.89)
5
0
300
500
Pt.5(a=9.9224;b=355.31;c=139.93)
10
400
Pt.4(a=10.049;b=359.32;c=138.04)
ocurrencias
ocurrencias
Pt.3(a=9.8571;b=358.32;c=175.7)
10
900
10
5
0
300
400
500
600
700
800
900
Figura 4-13. Histograma de los valores presentes en la columna 1.107 rad de la cada grfico de la Figura 4-12. Una
x b
a exp c
funcin exponencial, fit (x ) =

, ajusta el histograma con los coeficientes mostrados en el ttulo de cada grfico.
Se observa fcilmente la correlacin de los coeficientes a y c con la caracterstica de pertenecer a una zona defectuosa o no
al igual que con la profundidad del defecto en el caso de pixeles de zonas defectuosas.
sonnumerosos.Sinembargo,elnmerodeestospuntosenlaszonasdefectuosas
dependedecunrpidoapareceeldefecto,estoes,delaprofundidadalaquese
encuentra.
Laec.4.8puedeserreescritadelaformay=mx+bsiendom=cos()/sin().
Porlotanto,paralospuntosquesiguenunapendientem=0.5lainformacinen
el espacio transformado de Hough reside en la columna de 1.107 rad. De ah
queenlaFigura412sehayamostradolimitadaunaregin1<<1.2.
Sitodoslospuntosdelaevolucintemporaldeunpxelsiguenunalnea
de pendiente m=0.5, lo que debiera verse en la representacin del espacio
paramtrico de Hough es una interseccin pura de todas las curvas en slo un
puntodelacolumna 1.107rad.Lacoordenada paraesainterseccindarael
offset de la recta. De otra forma, existen tantas intersecciones en esa columna
como lneas de pendiente y de diferentes offsets en la evolucin de la
temperatura. Por lo tanto, analizando la distribucin de los puntos de
interseccindelacolumna 1.107rad,esposiblesabersielpxelsecorresponde
a un rea libre de defectos (implicar una distribucin afilada con pocas
interseccionesytodascercanasalmismovalordeoffset)oaunazonadefectuosa
(distribucindelasinterseccionesmsextendida,mscuantomenosprofundose
halleeldefecto).EnlaFigura413semuestraunhistogramadelasocurrencias
delamatriztransformadadeHoughenfuncinde paralosmismospxelesde
la Figura 412. A su vez, el histograma es ajustado mediante una funcin

-78-
PTHTa
IDAC
1
20
20
40
40
0.5
0.5
60
60
80
100
80
100
20 40 60 80 100120140
20 40 60 80 100 120140
DAC
Derivadas
1
20
20
40
40
0.5
60
60
80
80
100
100
20 40 60 80 100120140
PPT
0.5
20 40 60 80 100120140
Contraste absoluto
1
20
20
40
40
0.5
60
0.5
60
80
100
80
100
20 40 60 80 100120140
20 40 60 80 100120140
Figura 4-14. Comparativa de diferentes mtodos de anlisis de secuencias termogrficas aplicadas al espcimen propuesto
en la Figura 4-6. Las imgenes de mejor contraste son presentadas para los mtodos: a) algoritmo PTHT b) algoritmo
IDAC c) mtodo DAC d) la mejor entre primera y segunda derivadas e) mtodo PPT f) contraste absoluto (imagen de
contraste respecto al valor medio de una ventana de 20x20 en el centro de la imagen). Los diferentes valores dados por
cada algoritmo han sido escalados entre 0 (valor mnimo) y 1(valor mximo)
exponencial fit (x ) =
x b
a exp c
cuyosparmetrossonexpuestosenelttulodecada
grfico.Comoseobserva,bienconelcoeficienteabienconelcoeficientec,cada
pxel muestra una correlacin entre el ajuste y la existencia o no de defecto, as
como su profundidad en caso de pertenecer a una zona defectuosa.
Representando cualquiera de estos coeficientes para cada pxel de la captura
termogrfica se obtiene una nica imagen donde se aprecian claramente los
defectospresentes,verFigura414.
La Figura 414 representa una comparativa entre los diferentes mtodos
de anlisis de secuencias termogrficas aplicadas al espcimen propuesto en la
Figura46.Muestralasimgenesdemejorcontrasteparacadamtodo.stosson
clasificadosdelasiguienteforma:i)mtodosautomatizados(algoritmoPTHTa,
algoritmoIDAC);ii)mtodosbasadosencontrastes(mtodoDACymtodode
contrasteabsoluto);yiii)otrosmtodosdestacablesentrelosintroducidosenel
anexoD(lamejorimagendelmtododeprimeraysegundaderivadas[Martin,
2003]yelmtodoPPT[Maldague,1996][Ibarra,2005]).
Los resultados de la aplicacin del algoritmo PTHTa son comparables a
los obtenidos utilizando otras metodologas. Con respecto al otro mtodo
automatizado presentado, el IDAC, computacionalmente requiere mayor
potencia y coste pero provee imgenes de mejor contraste mostrando defectos
msprofundos.Sinembargo,ladifusinespatenteenlosbordesdelosdefectos
aunque inferior a los mtodos derivativos. Computando una correlacin
bidimensionaldelasimgenesobtenidas,setienenvaloresde0.93loquedauna
-79-
1.2
Valor escalado ()
y = - 0.34*x + 1.3
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-0.2
0
PTHTa
Linear fitting PTHTa
IDAC
DAC
Derivadas
PPT
Contraste absoluto
0.5
1.5
2
2.5
Profundidad (mm)
3.5
Figura 4-15.Correlacin entre el valor escalado (sin dimensiones) y la profundidad de cada defecto en la Figura 4-14 para
cada algoritmo presentado. Adems se incluye un ajuste lineal de la relacin para el algoritmo PTHTa cuya ecuacin es
mostrada en la figura.
razn de la semejanza de los resultados entre los mtodos automatizados y los

mtodosmanuales(deimprescindibleintervencinhumana).
La informacin concerniente a la profundidad se mantiene.
RepresentandolaescaladadaporelalgoritmoPTHTaversuslaprofundidadde
losdefectos,laFigura415muestralagranlinealidaddelPTHTaencomparacin
con el resto de algoritmos. Sin embargo, se resalta que la cuantificacin de la
profundidadnopuedeserrealizadadeformaabsolutasinonicamentedeforma
relativa. Es necesario conocer la profundidad de un defecto para, atravs de la
correlacin de la Figura 415, obtener la profundidad del resto de los defectos
evaluandolaecuacinprovista.
A pesar del inconveniente en trminos de cuantificacin de la
profundidad, el algoritmo PTHTa hace posible la eliminacin de los errores
debidos a la intervencin del operador, siendo la deteccin de los defectos
llevadaacabodeformaabsolutamenteautomtica.Adems,aligualqueconel
algoritmoIDAC,laseleccindereaslibresdedefectos,lasnouniformidadesde
la superficie o de la excitacin y la influencia del tiempo inicial de adquisicin
son eliminadas, algo que no siempre es posible en el resto de propuestas de
anlisisdesecuenciasdedatostermogrficos.
4.3.2 Transformada Radon37
En 1917 el matemtico Johann Radon (18871956) public un artculo donde
mostraba que si se conocan todas las integrales de lnea de una funcin en el
plano, sin necesidad de conocerla, entonces se poda reconstruir la funcin, a
travs de un operador que l construy, el cual ahora lleva el nombre de
transformada de Radon y que representa la integral de f(x,y) a lo largo de un
rayosqueatraviesalafiguraendireccin [Toft,1996],veranexoE.
Al igual que la transformada de Hough, la transformada de Radon es
capaz de convertir imgenes bidimensionales con lneas rectas de un dominio
originalaundominioimagendelosposiblesparmetrosdelaslneas.Cadalnea
37
Propuesto por el autor de esta obra y colaboradores y por primera vez presentado en el congreso
Thermosense, 2006 celebrado en Orlando [Gonzalez, 2006-Thermosense]
-80-
a)
b)
Figura 4-16. Ejemplo del uso de la transformada de Radon para la deteccin de lneas. En la imagen de la izquierda (a) se
tiene la representacin de 6 lneas ruidosas cuyas transformadas se superponen en el espacio R de la imagen de la derecha
(b). Los picos observados en b) son fcilmente correlacionados con las lneas de a) a travs de la observacin del ngulo
complementario () para cada caso. Igualmente, la coordenada X en (b) ofrece informacin acerca del origen ordenado y
de cada lnea en (a).
deldominiooriginalserepresentaeneldominioimagenporunpicoposicionado
enlosvalorescorrespondientesdeldominioparamtrico.
Modelando una lnea con los parmetros (*,*), la transformada resulta
unpicoformadoenelespacioRenlascoordenadas * = y=*.LaFigura416
representa una ejemplificacin del uso de la transformada de Radon para la
deteccin de lneas. En la Figura 416b, la evaluacin de los picos ms fuertes
(aquellos puntos en la imagen de mayor contraste y valor) ofrece informacin
acerca del ngulo (en este caso particular es ngulo complementario) y la
localizacindelossegmentosrectosmslargosmostradosenlaFigura416a.
Aplicando la transformada de Radon a las secuencias termogrficas, la
evolucintemporaldecadapxelsetransformaenelespaciotransformado.Las
diferentes pendientes de la tendencia temporal de los pxeles estn asociadas a
lospicoslocalizadosenlacorrespondientematrizRadontransformada.
AligualqueconlatransformadadeHough,elobjetivoesdistinguirsiun
pxelperteneceaunazonadefectuosaono.As,asumiendolainspeccindeun
espcimen semiinfinito y homogneo, slo el rea relacionada con =45, que
equivaleaunapendiente,debeserevaluadaparaqueladiscriminacinsea
efectiva. Si todos los puntos de la evolucin temporal estn situados sobre una
rectadependiente,lacolumnaen45delamatriztransformadadeRadon
tendr una forma muy abrupta, como una delta, en la coordenada de X que
indiqueeloffsetdelalnea.Peroestecasoesidealyaquelaslneasvistasenel
espaciobilogartmicoparalaevolucintemporaldelatemperaturadeunpxel
superficial pueden considerarse afectadas por un enorme ruido. Analizando la
distribucin de las ocurrencias de la matriz Radon en la columna de 45, se
observan diferentes perfiles que pueden ser correlados con la pertenencia o no
delpxelaunreadefectuosaeinclusosuprofundidad,verlaFigura417.
-81-
R (X ) - Pt.1
Perfil en -45 - std=0.45885
Nmero de ocurrencias
-100
100
200
300
-50
-45
(grados)
R (X ) - Pt.6
-400
-200
0
200
X
Perfil en -45 - std=0.61282
400
600
-400
-200
400
600
Nmero de ocurrencias
0
-600
-40
-100
100
200
300
-50
-45
4
3
2
1
0
-600
-40
0
X
(grados)
200
Figura 4-17. Dominio transformado para un pxel en una zona defectuosa (Pt. 1) y en una zona libre de defectos (Pt. 4) de
la Figura 4-10. En la columna de la derecha se muestran las distribuciones resultantes de la observacin de la columna
=45 donde las diferencias en la anchura de la distribucin son claras. El valor de la desviacin tpica standard de cada
distribucin es aadido al ttulo de los grficos de la derecha
Una vez que la transformada es aplicada a cada pxel, de las

distribucionesobtenidassepuedenobteneralgunasestadsticasbsicas,comola
mediaoladesviacintpicaparaelconjuntodeocurrenciasenlacolumna=45.
Para decidir si un pxel pertenece a una zona defectuosa o no, simplemente es
necesario observar la imagen nica obtenida como fruto de las estadsticas
anteriormente comentadas. La Figura 418 puede ser comparada con las
correspondientesdelalgoritmoPTHTa.Laimagentieneunacorrelacinde0.97
con la imagen PTHTa de la Figura 414. La linealidad de la correlacin entre el
valor escalado y la profundidad es evidente al igual que ocurre con el PTHTa
[Gonzalez,2006Thermosense].
0.4
Valor escalado
0.3
0.2
y = 0.081*x - 0.07
0.1
0
-0.1
-0.2
0
a)
0.5
1.5
2
2.5
profundidad (mm)
3.5
b)
Figura 4-18. a) Imagen nica obtenida tras la aplicacin del algoritmo de la transfomada Radon b) Correlacin entre el
valor escalado en la imagen a) y la profundidad de los defectos.

-82-
Denuevo,conestealgoritmosehaceposiblelaeliminacindeloserrores
debidosalosdiferentespuntosdevistadeloperador,siendoladeteccindelos
defectosllevadaacabodeformaabsolutamenteautomtica.Laseleccindereas
libres de defectos, las no uniformidades de la superficie o de la excitacin y la
influencia del tiempo inicial de adquisicin son eliminadas. El mayor
inconvenientedeestealgoritmoeselcostecomputacional,queesunasdiezveces
superioraldelPTHTa.
4.4
Identificacin de patrones lineales
Apartedelarepresentacinenespaciobilogartmicodelosperfilestemporales
de la temperatura superficial de un objeto considerado semiinfinito y
homogneo,laaparicindepatroneslinealesensecuenciastermogrficaspuede
sertratadadelamismaformapresentadaenelapartadoanterior.Enestaseccin
se presentan otras aplicaciones donde el uso de los mtodos estadsticos y las
transformadas de Hough y Radon ofrecen igualmente una automatizacin del
procesodeanlisis.
4.4.1 Fusin de procesados
La Termografa de Fase Pulsada [Maldague, 1996] (PPT Pulsed Phase
Thermography)permitepasardeldominiotemporalalespectrofrecuencialconla
ayuda de la Transformada de Fourier discreta (TFD) [Ibarra, 2006]. Cualquier
funcin puede ser descompuesta en sinusoides y, en particular, la evolucin
temporal de la temperatura superficial de un objeto bajo excitacin pulsada da
lugar a una respuesta en amplitud y en fase que son de forma par e impar,
respectivamente,respectoalafrecuenciaf=0Hz,veranexoD.Apartirde estas
respuestas a la evolucin de cada pxel, se procesan secuencias de amplitud y
faseparatodalasuperficieenformadeimgenes.
La PPT combina dos tcnicas termogrficas como son la termografa
pulsada (por aplicar un impulso trmico) y la termografa lockin (por el
procesado de la secuencia y obtencin de las imgenes de fase). La fase est
menos afectada por los problemas debidos a las no uniformidades de la
superficieydelaexcitacin.
Tras el procesado mediante la transformada de Fourier de la secuencia
temporal, se obtienen grficas como la de la Figura 419b donde se observa la
evolucindelafaseparadiferentespxeles(pertenecientesaunazonadefectuosa
oaunazonalibrededefectos).Ladefinicindefrecuenciadecorte38,fb,partedela
definicin de contraste de fase [Sakagami, 2002]: =ds, que implica la
frecuencia a la cual no existe un contraste significativo en la fase, <umbral,
respecto a la fase de una zona libre de defectos. Los valores umbrales se
establecen en base a la experiencia y depende de factores tales como el tipo de
material inspeccionado y sus propiedades trmicas y el equipo de medida
(relacin seal a ruido, etc). A partir de la ecuacin de la profundidad de
38
Trmino acuado como interpretacin del ingls, blind frecuency. Esta frecuencia, entendida
como la frecuencia a la que el defecto se oculta como si se tratara de una zona no defectuosa,
viene determinada por la frecuencia a la que las curvas de fase se cortan o entran en contacto. De
ah que se prefiera denominar frecuencia de corte a frecuencia ciega o de ocultacin.
-83-
-0.2
[rad]
-0.4
-0.6
Defecto 3.5mm
Defecto 3.0mm
Defecto 2.5mm
Defecto 2.0mm
Defecto 1.5mm
Defecto 1.0mm
sound area
-0.8
-1
a)
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
f[Hz]
0.12
0.14
0.16
b)
Figura 4-19. a) Muestra de Plexiglas utilizada en el desarrollo de algoritmos de deteccin de frecuencia ciega b) Imagen de
la evolucin de las fases para diferentes pixeles situados sobre defectos o sobre reas libres de defectos, soundarea. Las
barras verticales indican la frecuencia a la que el perfil dado para un defecto se confunde definitivamente con el perfil de
una zona sin defectos, concepto de frecuencia ciega.
difusion [Maldague, 2001]: =(2/), y de la definicin de retraso de fase

[Favro,1998]:=z/,laprofundidadz,esrelacionadaafbdelaforma:
z s
s
fb
ec. 4.9
dondes ys sonlafaseyladifusividadtrmica,respectivamente,delmaterial
inspeccionado,estoes,deunazonalibrededefectos(soundarea).
Laestimacindelafb requiereunenventanadotemporalw(T)aptosobre
el que realizar la transformada de Fourier para obtener suficiente resolucin en
frecuencia y que la frecuencia de muestreo, fs, sea lo sobradamente grande
(fs2fmax)comoparapoderdetectartodoslosdefectos[Ibarra,2004].Setratadeun
puntodeinflexinenlosperfilesdelafase.Lascomponentesfrecuencialesms
altas en todos los perfiles de fase tienden a una lnea recta siguiendo el
comportamientodeunazonalibrededefectoscomoseilustraenlaFigura419b.
Para las componentes ms bajas y en zonas defectuosas, se observan diferentes
perfilesenfuncindelaprofundidadalaqueseencuentraeldefecto.Basndose
en este hecho y en lo mostrado en las secciones anteriores se presenta una
automatizacindelaPPTparalaobtencindelafrecuenciadecortedecadapxel.
Enlosdesarrollosquesiguenacontinuacin,seasumequelosdatosdefasehan
sido correctamente muestreados (esto es, que la resolucin temporal t es
suficientemente alta) y truncados (esto es, la ventana de truncamiento w(T) es
suficientemente larga) para las condiciones particulares de las propiedades
trmicasdelmaterialsustratoydelosdefectos,aligualqueparalaprofundidad
delosdefectos.MayorinformacinacercadelmtodoPPTpuedeobtenersedela
referencia[Ibarra,2006].

-84-
a)
d)
b)
e)
c)
f)
Figura 4-20. Perfiles de evolucin de la fase (en color negro) para los 6 defectos del espcimen PLEXI014 de la Figura
4-19a. La lnea punteada azul representa el ajuste realizado al aplicar el algoritmo de automatizacin de la frecuencia de
corte. La frecuencia estimada est sealada mediante un crculo rojo en cada caso.
4.4.1.a Automatizacin de la obtencin de la frecuencia de corte39

Usando las tcnicas de regresin lineal (seccin Mtodos estadsticos de este
captulo),unaautomatizacindelaidentificacindelafrecuenciadecorte,fb,es
posible [Ibarra, 2004]. El algoritmo estima la pendiente de la curva en el tramo
finaldecadaperfilevolucindelafase.Comosehadiscutidopreviamente,este
tramo final de los perfiles es comn a todas las fases, independientemente a la
correspondencia de un pxel a una zona defectuosa o a una zona libre de
39
Desarrollado con la participacin del autor de esta obra y presentado por primera vez en el
congreso WCNDT, 2004 celebrado en Montreal [Ibarra, 2004]

-85-
a)
b)
Figura 4-21. a) Correlacin de profundidad y frecuencia de corte, z vs. fb usando el contraste de fase () y la
automatizacin propuesta () para los 6 defectos del espcimen PLEXI014 de la Figura 4-19a. La lnea punteada azul
representa el ajuste lineal realizado a la correlacin dada por el mtodo automatizado (R=0.9981) mientras que la lnea
continua negra corresponde a las estimaciones dadas por el mtodo de contraste de fase (R=0.99176). b) Imagen obtenida
de la aplicacin del mtodo automatizado de deteccin de la frecuencia de corte.
defectos,verlaFigura419.Empezandoporlafrecuenciamsaltadisponible,se
ajusta la tendencia por mtodos estadsticos (regresin lineal) hasta una
frecuencia dada fn. Esta frecuencia fn, es progresivamente reducida (as ms
puntossonconsideradosenlaregresincadavez)ylapendienteesrecalculaday
comparadaconelvalorpreviodadoporlaregresin.Elprocedimientoserepite
hasta una frecuencia en la que se considera que la pendiente diverge
considerablemente. Los parmetros umbrales de la toma de decisiones son
establecidosenbaseadiferentesexperimentaciones.
Una representacin grfica de los resultados obtenidos con la aplicacin
deestealgoritmopuedeobservarseenlaFigura420.Lafrecuenciaestimadaest
sealada mediante un crculo rojo en cada caso, comprobndose claramente la
fiabilidadyvalidezdelaautomatizacin.
Los resultados vistos en la Figura 421 resultan de la comparacin entre
las profundidades de los defectos estimadas mediante este algoritmo de
automatizacin y la identificacin visual de la fb a partir de las curvas de
contraste de fase por parte de un usuario especializado. De igual forma, con la
obtencindelasfrecuenciassepuedegenerarunaimagencomoladelaFigura
421bdondeclaramentelosdefectosselocalizan.
4.4.1.b Algoritmo DAPhC40
Se ha visto cmo la deteccin automtica de fb representa una mejora en la
funcionalidaddelalgoritmoPPT.steofrecebuenosresultadosenlaestimacin
delaprofundidaddelosdefectossiseescapazdedetectaruncontrastedefase
suficientemente preciso. Sin embargo, la subjetividad humana est presente ya
queesnecesariointerpretarenlascurvasdndeseproduceladivergenciadela
40
Differentiated Absolute Phase Contrast, DAPhC: Propuesto por el autor de esta obra y
colaboradores y por primera vez presentado en la publicacin en la revista Infrared Physics
Technology [Gonzalez, 2006-InfPhy]
-86-
Grfico a
Grfico b
2
perfil de fase
ajuste segn * en b
ajuste segn + en b
0.8
0.6
0.4
0.5
0.2
[rad]
1.5
punto * en a
punto v en a
punto + en a
punto x en a
0
-0.2
-0.4
-0.5
-0.6
-1
-0.8
-1.5
0
-1
0.1
0.2
-100
-50
0
50
100
(grados)
f[Hz]
Figura 4-22. Transformada de Hough aplicada a cuatro puntos sobre la evolucin de la fase de un pxel defectuoso.
evolucin de la fase de un pxel defectuoso de la evolucin de un pxel en una

zonasindefectos.
La implementacin de la transformada Hough a la estimacin de la
frecuencia de corte fb da lugar a un nuevo algoritmo de automatizacin
(DifferentiatedAbsolutePhaseContrast,DAPhC)[Gonzalez,2006InfPhy].
BasadoenlaTransformadadeHough,identificalasrectasexistentesenel
perfil de la evolucin de fase de un pxel dada por el mtodo PPT como se
apreciaenlaFigura422.
Comosepresentaenelapartado4.3.1,laestimacinderectasqueajusten
datosruidosospuedeserefectivaanexistiendovaloresatpicos.Lascurvasde
evolucindefasesonunclaroejemplo.Sinembargo,adiferenciadelalgoritmo
presentado en el anterior apartado, la transformada de Hough logra el ajuste
lineal sin necesidad de un elevado nmero de muestras en un segmento recto.
Mientras que para la Automatizacin de la obtencin de la frecuencia de corte la
regresincomienzaporlasfrecuenciasmselevadasyesnecesariounrangode
frecuenciassuficientecontendencialinealpararesultarefectivo,latransformada
de Hough puede empezar el ajuste por las frecuencias ms bajas, como se
observaenlaFigura423,yasevitalanecesidaddemuestreadosmuyaltosyla
prdidaderesolucinfrecuencialquestoconlleva.

-87-
T=50
T=70
-0.2
-0.6
[rad]
[rad]
-0.4
-0.8
Defecto 1mm
Hough y=3.27*x-0.83
Poly y=2.27*x-0.73
Linear y=3.8*x-0.89
-1
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
-0.2
-0.3
-0.4
-0.5
-0.6
-0.7
-0.8
-0.9
-1
-1.1
Defecto 1mm
Hough y=1.66*x-0.68
Poly y=1.56*x-0.66
Linear y=3.1*x-0.86
0.12
0.02
0.04
0.06
f[Hz]
T=100
-0.4
-0.2
-0.6
-0.4
-0.8
Defecto 1mm
Hough y=1.19*x-0.6
Poly y=1.14*x-0.59
Linear y=2.3*x-0.81
-1
-1.2
0.05
0.1
0.15
f[Hz]
0.2
0.25
0.14
0.16
-0.6
Defecto 1mm
Hough y=1.07*x-0.58
Poly y=1.02*x-0.56
Linear y=1.4*x-0.71
-0.8
-1
0.3
0.12
T=200
0.2
-0.2
[rad]
[rad]
-1.4
0
0.08
0.1
f[Hz]
-1.2
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
f[Hz]
0.3
0.35
0.4
0.45
0.5
Figura 4-23. Ajustes lineales realizados haciendo uso de la transformada de Hough (lnea de color verde) y regresiones
lineales: i) sin intervencin humana (ajuste por regresin lineal estadstico puro, lnea azul) y ii) con una mnima
intervencin humana (ajuste por regresin donde los puntos extremos de la regresin son seleccionados, ver [Ibarra,
2004b], en color rojo). Cada grfica est compuesta por un nmero de puntos dado por T.
La dependencia del ajuste en funcin del tamao de los datos T puede

verseenlaFigura423.Lacomparacindeajustesserealizaparalatransformada
Hough (lnea de color verde) y regresiones lineales: i) sin intervencin humana
(ajuste por regresin lineal estadstico puro, lnea azul en las grficas) y ii) con
una mnima intervencin humana (ajuste por regresin donde los puntos
extremos de la regresin son seleccionados, ver [Ibarra, 2004b], en color rojo).
Claramente se ve cmo la automatizacin realizada por el algoritmo DAPhC
lograresultadoscomparablesalosobtenidosconintervencinhumana.
La influencia del valor del nmero de puntos sobre el que se realiza el
ajustesloesdeterminanteenelcasodelaregresinpura.Todaslastcnicasde
ajuste lineal se ven afectadas por el nmero de puntos que se incluyen en la
regresin. Sin embargo, la transformada de Hough presenta menos variaciones
enlaestimacindefbparadiferentesT.Nopuedeconsiderarseunainterpolacin
basada en pesos debido a que el valor de la fb es desconocido y adems puede
variar mucho. Tampoco conviene escoger un nmero de muestras suficiente y
seguro por incrementarse el tiempo de procesado del algoritmo. Siendo un
algoritmo para la deteccin de lneas rectas basado en la acumulacin de
ocurrencias, la transformada de Hough ofrece buenos resultados a partir de las
70muestrasgraciasalhechodequelosdatosatpicosydispersivosnolesontan
representativos.

-88-
fb[Hz]
0.015
0.01
0.005
20
40
60
80
100
120
140
Distance
alongdel
profile
Distancia
a lo largo
perfil
160
180
200
220
b)
0
20
0.4
zn = 0.0007n - 0.0632
20
0.35
40
40
80
80
100
100
120
120
0.25
zn []
60
60
Distancia a lo largo del perfil
0.3
0.2
0.15
0.1
140
Data_manual
Data_DAPhC
Linear Fitting Data_manual
140
160
0.05
160
a)
fb[Hz]
20
0.08
0.06
0.04
0.02
0
0
40
60
50
80
100
120
140
160
100
150
Distancia a lo largo del perfil
180
200
200
220
180
0.05 0.1
fb[Hz]
0
0
100
200
300
400
500
600
700
800
900
n []
250
Figura 4-24. a) Imagen nica resultado del DAPhC b) Correlacin entre la profundidad y la fb para el espcimen de
Plexiglas analizado, el mismo presentado en la Figura 4-19.
El algoritmo, identifica la fb de la evolucin en fase de cada pxel y su

valoresrecogidoenunanicaimagendondetodoslosdefectosdetectablesson
visibles. La profundidad, z, de cualquier defecto puede relacionarse a su fb
calibrandoelprocesodeinversin.Estarelacinserepresentaenlaec.4.9quese
resuelve mediante una regresin lineal de los datos experimentales. Los
resultados del algoritmo DAPhC mostrados en la Figura 424 concuerdan con
aquellosobtenidosbajocriterioshumanos[Gonzalez,2006InfPhy].
4.4.2 Excitaciones elctricas
En algunas aplicaciones, las excitaciones trmicas provocadas se ajustan a una
tendencia lineal. De igual forma, es de esperar que en elementos de baja
capacidad trmica (bsicamente resistivos) la respuesta a tales excitaciones
tambin sea lineal. En esos casos, la aplicacin de los algoritmos aqu descritos
ofreceposibilidadesdeidentificacindeanomalasocomportamientosextraos
quesesalendelpatrnlinealprevisto.Unavezms,antesealesruidosasycon
numerososvaloresatpicos(comosonlasimgenestermogrficas),losmtodos
estadsticos robustos y las transformadas de Hough y de Radon resultan
efectivos.

-89-
b) Evoluciones temporales
11000
Pt.1
Pt.2
Pt.3
Pt.4
Pt.5
Pt.6
Pt.7
10500
10000
a) Imagen Termogrfica
Pt 3
Pt 2
20
9500
Nivel Digital
10000
9000
1a7
8000
7000
Pt 1
9000
40
6000
Pixel
Pt 5
Zona de
calentamiento
0
200
400
600
800
1000
N de captura
60
8500
80
Pt 4
Pt 7
c) Zoom en la zona de calentamiento
11000
100
8000
Pt 6
Pt.1
Pt.2
Pt.3
Pt.4
Pt.5
Pt.6
Pt.7
120
7500
20
40
60
80
100
120
Pixel
7000
Nivel Digital
10000
9000
1a7
8000
7000
6500
6000
280
290
300
310
320
330
340
350
N de captura
Figura 4-25. Localizacin de los pxeles bajo inspeccin. Pt 1 y Pt 7 estn localizados sobre defectos en el fleje. Pt 2 y Pt 3
pertenecen a zonas libres de defectos en el fleje mientras Pt 4, Pt 5 y Pt6 lo son del material sustrato. b) Niveles digitales
de la radiacin infrarroja incidente ofrecidos por la cmara durante la excitacin. c) Zoom de la zona de calentamiento
donde la diferencia de las pendientes y los valores iniciales de cada perfil son apreciados.
Se invita al lector a la consulta del anexo C donde se presenta la

validacin industrial de los trabajos realizados por el autor en la evaluacin de
focosvitrocermicos.Comofuentesdecalor,respondentrmicamenteporefecto
Joule siguiendo la forma de la excitacin elctrica. La Figura 425 recoge la
evolucintemporaldelatemperaturaendistintospuntosdelfocovitrocermico
para una excitacin en forma de pulso cuasi instantneo (0.1s). Se percibe, para
cada pxel, una tendencia prcticamente lineal durante la corta excitacin. Este
comportamiento viene caracterizado por una pendiente y un valor inicial,
diferentes para cada pxel, segn se trate de un pxel del material sustrato, del
flejeoelementoresistor,odeundefectooanomala.
Algunos tipos de defectos exhiben un comportamiento trmico similar
quesetraduceenunavariacindelapendientedecalentamientolocalenelfleje
queesfcilmentecaptadaporunacmarainfrarrojacomoseapreciaenlaFigura
425. La razn de talescomportamientos es simple, una vez que se analizan las
condiciones de transferencia de calor para cada caso en particular. As, la
existencia de grapas esdetectada por la ausencia de uniformidad a lo largo del
recorrido del elemento calentador presentando zonas localizadas con menor
pendiente que sus alrededores. sto se explica porque las grapas presentan un
aporte extra de superficie en contacto con el aire y, por tanto, el calor se disipa
ms rpidamente. reas de pendientes localmente ms bajas tambin son
motivadas por estiramientos de las espiras del fleje. Por el contrario, reas o
puntos donde la pendiente de la evolucin temporal de un pxel durante el
calentamientoesmsaltadelonormal,secorrespondenconpuntosenlosque
las espiras se solapan o donde se produce una unin de tramos de fleje (son
soldados con un aporte de material extra que aumenta la resistencia y,
-90-
Pt. 1
11000
Datos
10500
Ajuste Hough
Ajuste en el rango correcto de capturas
Ajuste en el rango extendido con 5 capturas
Nivel digital
10000
Ajuste en el rango extendido con 10 capturas
9500
9000
8500
8000
7500
280
290
300
310
320
N de captura
330
340
350
Figura 4-26. Evolucin de Pt. 1 durante el calentamiento. Se reproducen varios ajustes lineales. La necesidad de conocer el
instante o nmero de captura exacto donde el calentamiento empieza es evidente. Los ajustes lineales involucran el rango
exacto del calentamiento y un rango extendido de 5 y 10 capturas ms a cada lado. Sin embargo, la transformada de Hough
evita esta necesidad, como puede observarse.
consecuentemente,latemperatura,alpasodelacorrienteelctrica).Finalmente,
losefectosdeundeficientecontactoentreelflejeyelsubstrato,bienporfaltade
contacto bien por soterramiento del fleje en el substrato, provocan un
emborronamientodelaimageninfrarrojaeneserea(elefectodelaconveccin
del aire se acenta o se minimiza) mostrando valores de pendiente menores o
mayoresdelohabitualrespectivamente.
Antelafaltadesincronismoprecisoentreelsistemadeexcitacinelctrica
y la cmara infrarroja, la transformada de Hough ayuda a la deteccin y
evaluacin de la tendencia lineal. Siendo procesos extremadamente rpidos (el
calentamientoesde0.1s),existeunadificultadinherenteenelestablecimientode
unostiemposexactosenlosqueelflancodesubidadeintersestperfectamente
limitado. La cmara infrarroja debe ser rpida para capturar tanta informacin
comoseaposibledelcalentamiento.Peronumerosascapturasenpocoespaciode
tiempoimpidenunacorrectasincronizacindelmomentoenelquerealmentela
excitacin se produce. La Figura 426 muestra el empleo de la transformada
Hough,insensiblealosdatosdispersos,yqueposibilitalaautomatizacindela
deteccindelcomportamientolinealsinnecesidaddeunajustefinodeltiempoo
unnmerodecapturaexactoenelqueempiezaelcalentamiento.
Finalmente,elvalordelapendientedetectadaclasificalospxelesdando
lugarareasdecomportamientoanormalconrespectoasusvecinos.Cadapxel
esrepresentadoporsupendiente,formandounaimagennicadondetodoslos
defectossonapreciables.Sudiscusinrequierelaobservacindelosvaloresdela
pendiente y una cierta experiencia personal en este tipo de situaciones, ver
Figura427.

-91-
Figura 4-27. Imagen de la pendiente normalizada durante el calentamiento para cada pixel obtenida por medio de la
aplicacin de la transformada de Hough. Varias reas estn circunscritas exhibiendo grandes diferencias en cuanto a la
pendiente con sus alrededores: 1) defectos originados por un exceso de material (uniones, dobles espiras,); 2) dficit de
substrato bajo el fleje; 3) exceso de substrato acumulado entre espiras del fleje; 4) grapas.
4.5
Discusin de los resultados
Centrndose en la aplicacin de la deteccin de defectos subsuperficiales,

distintas tcnicas han sido desarrolladas por la comunidad cientfica para la
extraccin de datos de las secuencias termogrficas. Su utilizacin requiere
dominio de mecnica del calor en slidos y procesado de imagen, adems de
ciertaexperienciaeninspeccionestrmicas.Delainformacinsuministradaenel
anexo D, se percibe la necesidad de crear herramientas software capaces de
ayudar en la toma de decisiones relacionadas con la deteccin de defectos
subsuperficialesenmateriales,aligualqueensuevaluacincuantitativa.
En este captulo se han desarrollado herramientas que automatizan el
proceso de deteccin y de evaluacin de anomalas, dando como resultado
imgenes nicas donde los defectos detectables estn presentes y de donde se
extraeinformacinrelativaalaprofundidaddelosmismos.Apartirdelcontraste
diferencial,seescapazdediscernirelcomportamientodeunpxelsituadoenuna
zona defectuosa del comportamiento de una zona libre de defectos, siempre y
cuando se logre modelar la transferencia de calor en el material. Evaluando
materiales homogneos y que puedan considerarse semiinfinitos (de espesor
considerable en relacin a propiedades trmicas de los materiales como la
profundidad de difusin), la temperatura superficial de un cuerpo de estas
caractersticas, tras una excitacin trmica en forma de pulso de su superficie,
sigue un comportamiento lineal, con respecto al tiempo, en una representacin
bilogartmica. Este tipo de modelados no puede realizarse con los conceptos
clsicosdecontraste(absoluto,normalizado,)quesuelenutilizarse.Adems,el
conocer cmo debiera ser la evolucin trmica de la superficie en el caso de no

-92-
tener defectos internos permite un instrumento de comparacin que discrimine

loscasosenlosqueexistandeficiencias.
Laidentificacindeuncomportamientolinealenunconjuntodedatoses
resueltoenotrasreasdeconocimientocomolaestadstica(regresinlineal)ola
identificacin de patrones en el tratamiento de imagen. Tratndose de
evoluciones temporales de relativa no linealidad, heterocedasticidad, con
existencia de valores atpicos y de gran ruido, las soluciones propuestas son
reducidasamtodosestadsticosrobustosyalusodelatransformadadeHough
y la transformada de Radon. Las secuencias termogrficas son analizadas
mediante algoritmos basados en estas tcnicas eliminando los problemas
comunes que eran solventados hasta el momento por el tcnicoanalista que
operaconelsistematermogrfico.
Seeliminaaslanecesidaddeeleccindeunazonaque,apriori(anterior
alainspeccin),sesabequecarecedeanomalasodefectos,algoimprescindible
enelsoftwareexistentehastalafechaypresentadoenelcaptulo2deEstadodel
Arte.Seevitanlosefectosdelafaltadesincronismoodecorrectatemporizacin
delascapturasyqueresultaenunainexactituddelaestimacindeparmetros
tales como la profundidad de los defectos. Se proveen imgenes nicas de una
forma automatizada donde se perciben todos los defectos detectables en una
nica imagen, entendiendo como todos los defectos detectables aquellos
percibidosconelusodeotrastcnicasintroducidasenelanexoD.Porltimo,se
han realizado estimaciones de las profundidades a las que se encuentran los
defectos,estableciendodiferentescomparativasconlosresultadosobtenidoscon
otrosmtodos.
La aplicacin de los diferentes algoritmos propuestos es satisfactoria
comparando con el uso de tcnicas ms potentes. La aplicacin de las
transformadas de Hough o de Radon conlleva desventajas como el tiempo de
computacin y la estimacin relativa de las profundidades. El conocimiento de
unvalorenprofundidadesnecesario(porejemplo,laprofundidaddeunodelos
defectos)para,acontinuacinypormediodelascorrelacionesobtenidasdelas
experiencias, estimar la profundidad del resto de defectos. Sin embargo, el
beneficio de su uso es considerable, a tenor de los resultados aqu presentados
(imgenesdegrancontraste,todalainformacinrelevanteenunanicaimagen,
gran linealidad de las correlaciones entre profundidad y los valores escalados
correspondiente). Recordar una vez ms, que los procesos son automatizados,
queslolainclusindelnombredeunamatrizdesecuenciastermogrficascomo
variable a las respectivas funciones es necesaria, eliminando toda interaccin
humanadesdelacapturadelasecuenciahastalaevaluacindelosresultadosy
reduciendoaslasubjetividaddelosmismos.
4.6
Conclusiones y resultados relevantes
En este captulo se han presentado tcnicas de computacin que permiten una

automatizacin de los procesos inherentes a una evaluacin de una secuencia
resultado de una inspeccin termogrfica. La captura de una secuencia
termogrfica resulta sencilla pero no la extraccin de informacin, como ocurre
-93-
en la medida cuantitativa de propiedades y profundidades de defectos en

objetos.
Sehadesarrolladoelusodemtodosestadsticosydetransformadaspara
la identificacin de patrones lineales que se encuentran en las evaluaciones de
secuencias termogrficas. Por una parte, la deteccin y estimacin de defectos
internos en materiales homogneos ha sido llevada a cabo haciendo uso de
algoritmosmodificadosdeinterpolacin(algoritmoIDAC),mtodosestadsticos
robustos,algoritmosbasadosenlatransformadadeHoughyenlatransformada
de Radon. En todos ellos, los algoritmos asocian a cada defecto un valor que,
escalado,permitelaobtencindeimgenesnicasdondesepercibenlosdefectos
detectables.Deigualforma,seevalalacorrelacinentrelaprofundidaddelos
defectosyelvalorescaladoasociado.
Una modificacin, algoritmo DAPhC, es presentada como fusin de
diferentesprocesadosdondeestastcnicasdeidentificacindepatroneslineales
permiten la determinacin de valores de frecuencia que posteriormente, el
mtodoPPT,escapazderelacionarconlaprofundidad.Enestecaso,laventaja
esquepuedeconocerselaprofundidadenformaabsoluta,estoes,sinnecesidad
detenerunareferenciacomoocurreenelcasodelosalgoritmosanteriores.
Laspropuestasdelosdiferentesalgoritmosquesehanefectuadohansido
contrastadas exitosamente con los resultados experimentales obtenidos en el
laboratorio. Por ltimo, se aade una incorporacin de estas tcnicas a
aplicaciones donde, como es el caso, existe el factor comn de un
comportamiento, tendencia o patrn lineal. Evaluando defectos en focos
vitrocermicos se observa que, ante una excitacin elctrica casi instantnea, el
calentamiento de los diferentes elementos es ajustado por una lnea recta cuya
pendienteofreceinformacinacercadelestadodelelemento.As,diferentestipos
dedefectospuedenserobservadosyclasificadosenlasimgenesque,denuevo
sin intervencin ni subjetividad humana asociada, son provistas de forma
automticaapartirdelasecuenciacapturadaporelsistematermogrfico.
estecaptulohansidorecogidasenvariaspublicaciones,tantoencongresoscomo
en artculos de revistas internacionales incluidas en el SCI con proceso de
revisin por pares. Otras estn a expensas de ser publicadas. A lo largo del
captulo han aparecido referencias a los distintos trabajos elaborados, o en los
queelautorhaparticipado,sealadasmedianteelusodediferentesnotasalpie
depgina.Principalmente,estasnotashacenreferenciaalosprimerosresultados
presentados siendo el lugar de publicacin, por lo general, congresos de corte
internacional y de gran relevancia y repercusin en el estado del arte de la
termografainfrarroja.

-94-

-95 -
PARTE 3
CONCLUSIONES Y LINEAS FUTURAS
Enestaparteseincluyenlasconclusionesmssignificativasqueseextraende
losresultadospresentadosyseestablecenlneasdirectricesdefuturostrabajos
entermografainfrarrojasobrecarenciasoproblemticasdetectadasalolargo
delarealizacindelatesis.Ellasdarncontinuidadalasinvestigacionesaqu
recogidas.
Captulos:
5. Conclusiones y lneas futuras

-97 -
5 Conclusiones y lneas futuras

Resumen y conclusiones
Losensayosnodestructivossirvenparaexaminaroinspeccionaruncomponente,
material o sistema sin afectar a su utilidad en el futuro. Con ellos se busca
asegurar la integridad y fiabilidad de un producto, evitar fallos y prevenir
accidentes, producir beneficios y procurar satisfaccin en el usuario por el
producto, ayudar a la mejora en el diseo de los componentes, productos y
sistemas, aportar una uniformidad de la calidad o controlar los procesos de
fabricacinyreducirsuscostes.Estasrazonesofrecenunbeneficioalusodelos
ensayosnodestructivoscontribuyendoasuexpansinyaceptacinjuntoconlos
desarrollosdelatecnologaylamayordemandadeseguridadycalidad.
A lo largo de este trabajo se han realizado aportaciones al avance de la
termografa infrarroja como tcnica de evaluacin y prueba de materiales y
procesos. La inspeccin trmica proporciona informacin relevante acerca de la
calidad de los productos y de los procesos en los que la temperatura o la
transferencia de calor son protagonistas. Al realizar estas medidas de forma
remota(sincontacto)seevitalaintrusinyposiblealteracinodestruccindela
muestra. La obtencin de imgenes trmicas permite la observacin
bidimensional de los mecanismos de transferencia de calor otorgando mayor
cantidaddeinformacin,encomparacinconlastcnicasdemedidameramente
puntuales.Laposibilidaddeanalizaryregistrartemporalmenteestasimgenes,
conduce a un mayor control y conocimiento de los procesos bajo inspeccin.
Todo ello hace que la termografa infrarroja (TI) se posicione como una
alternativaseria,fiableyprecisaenuncampocomoeldelosensayosypruebas
nodestructivas.
LasaplicacionesenlasquelaTIexhibesusatractivascaractersticasdeser
una tcnica rpida, no invasiva, sin contacto, segura, fiable, precisa y de fcil
interpretacindesusresultadossonnumerosas,comosedesprendedelalectura
delaobraydesusreferencias.Enestedocumentosehaceespecialhincapienla
deteccindedefectosinternosenmaterialesatravsdelaTI.Adicionalmente,y
paranosobrecargarallector,seincluyecomoapndice(anexoC)unconjuntode
trabajos realizados en aplicaciones industriales utilizando TI que, por un lado,
han servido para validar en campo parte de lo aqu aportado y, por otro, han
servidoparalaaperturadenuevosnichosdeaplicacin.
Del estado del arte se desprendieron problemticas y/o carencias no
satisfechasysobreellasseposicionaronlostrabajosmssignificativosdelatesis.
Por ello, en el captulo 3 se recogen las aportaciones efectuadas sobre la
detectabilidad de sistemas de termografa infrarroja, lo que se contrast
utilizando dos sistemas diferentes, uno basado en pulsos trmicos de larga
duracinyotroenpulsosdeduracinmuycorta(flashes).
Ladetectabilidadseestablececomounumbralcuantificablequedepende
de la sensibilidad trmica del sistema y de laresolucin espacial del mismo. Se
-99 -
introducen los factores que provocan tanto un decremento o incremento de la

detectabilidaddeanomalas.Estosfactoressoncaractersticosalasuperficiedel
objeto bajo medida, del medio de transmisin entre el objeto y el equipo
inspectorodelinstrumentodemedida.Lasvariacionesdeemisividad,elefecto
delasreflexiones,ladegradacindelequipamiento,tantoensupticacomoen
su electrnica, las caractersticas trmicas del material (conductividades y
difusividades)ylascaractersticasfsicasymecnicasdelasanomalas(tamao,
profundidad,localizacincercadebordesuotrasdiscontinuidades)caracterizan
la detectabilidad. La inspeccin de anomalas de tamao considerable, poco
profundas, alejadas de los bordes o contornos y las caractersticas trmicas del
espcimen apropiadas (baja difusividad lateral) actan a favor de una buena
detectabilidaddelasdiscontinuidadesinternasenlosmateriales.
Se observa igualmente que existe la posibilidad de incrementar el
contraste trmico entre material y discontinuidad mediante el aporte de una
mayorenergatrmicaalobjetobajoinspeccin,estoes,latermografainfrarroja
activa. Como se desprende de los estudios presentados, la aplicacin de pulsos
demayoromenorduracinconllevadiferenciasencuantoaladetectabilidadde
los defectos (sobre todo en el valor del mximo contraste y el tiempo de
observacin del mximo contraste). La definicin de rea de detectabilidad
permite valorar el incremento en efectividad de deteccin que se obtiene
aumentandoeltiempodelaexcitacinantepobresdigitalizaciones.Anomalasa
mayor profundidad y de menor tamao ofrecen as contrastes de temperatura
detectables en comparacin con la resolucin trmica y la sensibilidad trmica
delsistema.
De igual forma, la utilizacin de una excitacin de mayor duracin
permite el uso de cmaras termogrficas de menores prestaciones con la
consiguientereduccindecostes.Comovalidacinencampoyhaciendousodel
concepto de detectabilidad, se ha evaluado en el captulo 3 un sistema
desarrollado por el Materials Research Center de la Universidad de Bath en el
Reino Unido, de bajo coste, basado en lmparas de radiacin infrarroja y una
cmara de infrarrojos miniatura, capaz de ofrecer resultados comparables al
sofisticadosistemaThermoScope,sistemacomercialdeTWIInc.
Porotrolado,comotambinsedesprendedelalecturadelcaptulo2de
Estado del Arte, el desarrollo de software est disfrutando de una eclosin
importanteconmotivodelaincorporacindegranpotencialcomputacionalalos
sistemastermogrficos.Nuevasfuncionesqueayudanalainterpretacindelas
secuenciastermogrficasseestndesarrollandoconespecialorientacinalaidea
depermitirunamedidacuantitativaenladeteccindedefectossubsuperficiales
en los materiales. La profundidad, el tamao, la forma y sus caractersticas
trmicasresultandeintersparasucaracterizacin.
Para evitar la subjetividad del ser humano en la toma de decisiones,
mejorar su velocidad y, en definitiva, obtener una mejor eficacia y la reduccin
de costes, se han presentado contribuciones realizadas para posibilitar la
automatizacin de la toma de decisiones en torno a la presencia o no de
anomalas.Latecnologahamejoradosensiblementelosrecursoshardwarepero
-100-
CAPTULO 5. CONCLUSIONES Y LNEAS FUTURAS
el software an requiere ser utilizado por personal tcnico cualificado con

suficientes conocimientos de reas tan disparescomo la mecnica de slidos, la
transferenciadecalor,laptica,laelectrnica,laprogramacinyelprocesadode
seales e imgenes. Toda automatizacin lleva consigo la reduccin de la
subjetividad inherente al sistema que aporta el personal mencionado,
aumentandolaefectividaddeestatcnicadeensayosnodestructivos.Porelloen
elcaptulo4,sehanrecogidocontribucionesparalavaloracinautomticadela
evolucin de la temperatura superficial de un objeto tras ser excitado con un
pulsotrmicoenformadeflash.Asimismo,medianteelcontrastediferencialse
obtiene el modelado del perfil temporal que sigue la temperatura de un pxel
superficialsiemprequeestenunrealibrededefectos.Antelaevolucindeun
pxelinscritoenunreadeinfluenciadeunaanomalainterna,elmodelodifiere
claramente,siendoasposibleladeteccindelosdefectosinternos.
Siendoimprescindiblelacomparacinconunmodelolineal,dependiente
,diferentespropuestassehanpresentadoenelcaptulo4paraelajustedelos
datos del perfil temporal evolucin de la temperatura de un pxel superficial a
una lnea recta. Se proponen mtodos estadsticos al igual que mtodos de
transformadasdeimgenes.Contodosellosselogralaautomatizacinplenadel
procesodedeteccindeanomalasinternasalofrecerunanicaimagenenlaque
aparecentodaslasimperfeccionesquepuedenserdetectadas.Losresultadosson
comparablesalosobtenidosconunainspeccinpersonalizada.
este trabajo han sido recogidas en un total de treinta publicaciones, como se
puede ver en el apartado 6.3, en el captulo de bibliografa. A lo largo del
documento se han citado referencias a los distintos trabajos elaborados por el
autorsealadasmedianteelusodediferentesnotasalpiedepgina.
Lneas abiertas y futuros trabajos

Comosedesprendedelalecturadeestaobra,laslneasabiertasquedeja,pueden
serclasificadasporsusobjetivosaalcanzar.Enestecaso,vienendefinidaspor:
Nuevasalgortmicasquepermitanlacaracterizacinocuantificacinms
rpidayprecisadelosdefectosinternosenlosmaterialesenestecasose
procuraraigualmentelaobtencindetcnicasautomticasdeevaluacin
delosdefectosenlosmateriales.
Desarrollo de software ms preciso, rpido y amigable incluyendo
modelados de especmenes ms complejos (con geometra superficial
compleja, materiales anistropos y con diferencias en conductividades
segn direccin, materiales estructurados con un mayor nmero de
capas hay que recordar que el modelado aqu utilizado
(comportamientolinealdependientedelaevolucintemporaldela
temperatura superficial del objeto) est definido para cuerpos
homogneosysemiinfinitos.
Modelado y automatizacin de secuencias termogrficas resultado de la
aplicacin de otras formas de generar calor (lser, ultrasonidos,
termografa de pulso largo, termografa lockin,) los perfiles de
-101-
evolucin temporal de la temperatura superficial cambian segn la

excitacinutilizada.
Porotraparte,futurostrabajosdeinvestigacin,fueradelalneamarcada
porestaobra,puedendesarrollarsesiguiendolasdirectricesqueacontinuacin
sepresentan:
Desarrollo de fuentes pticas en otras longitudes de onda (35m) que

permitanotrastcnicasdeexcitacin.
Desarrollo de detectores en otras longitudes de onda (por ejemplo, ~1.8
2.2m) evitando la banda de atenuacin atmosfrica que permitan la
captura de imgenes en rangos diferentes y ms propios de las
comunicacionespticas.
Estas ltimas proposiciones permitiran un mayor espectro de

posibilidades y la adecuacin de sistemas termogrficos a las tcnicas de
comunicaciones pticas. El uso de la fibra ptica y de los componentes pticos
desarrolladosenestaslongitudesdeondapermitiralacreacindeendoscopios
termogrficosdegranutilidadencamposcomolabiomedicina,ladeteccinde
compuestos,losensayosnodestructivos,elmantenimientopreventivo,etcsegn
lahumildeopinindeesteautor.

-102-

-103 -
PARTE 4
REFERENCIAS y ANEXOS
Captulos:
6. Bibliografa
Anexos:
A. Principios fundamentales de la Fsica del calor
B. Conocimientos y tcnicas claves en termografa infrarroja
C. Aplicaciones industriales de la termografa infrarroja
D. Tcnicas de procesado de imgenes en secuencias
termogrficas
E. Algoritmos de deteccin de patrones lineales
F. Equipamiento utilizado

-105 -
6 Bibliografa
6.1
Referencias por captulos
Para facilitar el seguimiento de la lectura, las referencias bibliogrficas se

incluyen organizadas por captulos y en el formato [primer apellido del primer
autor, ao de publicacin]. En el caso de coincidencia de referencias, se asignan
letras al final de las mismas para diferenciarlas. En las referencias propias del
autor, la distincin se realiza mencionando el lugar de publicacin de la
contribucin,bienconelacrnimodelcongresoobienconelidentificadordela
revista.
6.1.1 Referencias del captulo 1
[Ambrosini, 2006] D. Ambrosini and P.K. Rastogi, Optical methods in heat transfer and fluid
flow, Guest EDITORIAL, Optics and Lasers in Engineering, Vol. 44, Issues 3-4, MarchApril 2006, pag. 155-158
[Astarita, 2006] T. Astarita, G. Cardone and G.M. Carlomagno, Infrared thermography: An optical
method in heat transfer and fluid flow visualisation, Optics and Lasers in Engineering,
Vol. 44, Issues 3-4, March-April 2006, pag. 261-281.
[Balageas, 1987] D.L. Balageas, A.A. Dom, and D.M. Boscher, Characterization and
Nondestructive Testing of Carbon-Epoxy Composites by a Pulsed Photothermal Method,
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W.J. Yang, Editor, Handbook of flow visualization, Hemisphere, Washington (1989), pag.
531553.
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April 1987, p 452-460
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Vibrothermographic Detection of Impact Damage in Composite Materials, Mater. Eval.,
Vol 45, April 1987, p 466-470
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[Ammer, 2003] K. Ammer, Thermology 2002 - A computer-assisted literature survey, Thermology
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[Ammer, 2004] K. Ammer, Thermology 2003 - A computer-assisted literature survey with a focus
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1, pginas 5-36, 2004
[ASNT, 2001] American Society For Nondestructive Testing - ASNT, Infrared and Thermal
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-113-
6.3
Contribuciones del doctorando consecuencia de la tesis
Estaobrahasidolafuentedevariascontribucionescientficas.Hansurgidofruto
delascolaboracionesqueelautorhamantenidoalolargodelosaos.Enprimer
lugar se resumen en una tabla y seguidamente se agrupan y se ofrece algn
detalledeintersparaunamejorestructuracindelostrabajosdeinvestigacin
realizados.
Tabla 6-1. Cuadro resumen de publicaciones consecuencia de la tesis.
Internacionales
Tipo Publicaciones
Nmero de
contribuciones
TI
Otras
Captulos de
Libros
Revistas
20
27
30
15
Congresos
Internacionales
Congresos
Nacionales
Nacionales
Suma parcial
TOTAL
45
6.3.1 Contribuciones en el campo de la termografa infrarroja

EncolaboracinconelLaboratoiredeVisionetSystmesNumriquesdelUniversit
Laval en Qubec, Canad, diferentes formas de procesado de secuencias
termogrficas han sido desarrolladas. Con la estrecha cooperacin con el Dr.
Clemente Ibarra Castanedo y el Professor Xavier Maldague, se desarrollaron
algoritmos que permiten la automatizacin de la toma de decisiones en la
deteccin y evaluacin de defectos subsuperficiales en especmenes de diversa
composicin. As, se trataron mtodos de interpolacin de las evoluciones
temporales de la temperatura superficial de los objetos bajo inspeccin
(contribuciones 2, 5, 6, 7, 9), la aplicacin de transformadas diversas a dichos
perfiles temporales (contribuciones 1, 4, 10, 12, 13) y la fusin de tcnicas de
procesado de la seal y procesado de imgenes con el uso de mltiples
transformadas para la extraccin de los datos y para la automatizacin de las
decisiones(contribuciones3,8,11).
CAPITULOS DE LIBROS
1. Autores (p.o. de firma): Clemente Ibarra-Castanedo, Daniel A. Gonzlez, Franois Galmiche,
Abdelhakim Bendada and Xavier P. Maldague
Ttulo: On signal transforms applied to pulsed thermography
Lugar de publicacin: Recent Research Developments in Applied Physics, 9 (2006)
Referencia: ISBN: 81-7895-213-0
PUBLICACIONES EN REVISTAS INTERNACIONALES
2. Autores (p.o. de firma): C. Ibarra-Castanedo, D. Gonzlez, M. Klein, M. Pilla, S. Vallerand and X.
Maldague
Ttulo: "Infrared image processing and data analysis "
Lugar de publicacin: Infrared Physics & Technology
-114-
Volumen: 46, n.1-2 Pginas, inicial: 75 final: 83 Fecha: Dec 2004

Referencia: ISSN: 1350-4495
3. Autores (p.o. de firma): D.A. Gonzlez, C. Ibarra-Castanedo, F.J. Madruga, X. Maldague
Ttulo: "Differentiated Absolute Phase Contrast Algorithm for the Analysis of Pulsed Thermographic
Sequences"
Lugar de publicacin: Infrared Physics & Technology
Volumen: 48
Pginas, inicial: 16 final: 21 Fecha: 2006
4. Autores (p.o. de firma): D.A. Gonzlez, C. Ibarra-Castanedo, J.M. Lpez-Higuera, X. Maldague
Ttulo: "New Algorithm based on the Hough Transform for the Analysis of Pulsed Thermographic
Sequences"
Lugar de publicacin: NDT&E
Volumen: 39
Pginas, inicial: 617
final: 621 Fecha: 2006
COMUNICACIONES PRESENTADAS A CONGRESOS INTERNACIONALES
5. Autores: C. Ibarra-Castanedo, D. Gonzlez, M. Klein, M. Pilla, S.P. Vallerand, X. Maldague
Ttulo: Infrared Image Processing and Data Analysis"
Tipo de Participacin: Comunicacin
Congreso: 7th International Workshop on Advanced Infrared Technology and Applications
Lugar celebracin: Pisa, Italia
Fecha: Septiembre 2003
6. Autores: D.A. Gonzlez, C. Ibarra-Castanedo, X. Maldague, F.J. Madruga, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Quantitative Characteristics of Subsurface Defects using an Automated Absolute Contrast
Method"
Tipo de Participacin: Pster
Congreso: 4th Topical Meeting on Optoelectronic Distance/Displacement Measurements and
Applications
Lugar celebracin: Oulu, Finland
Fecha: Junio 2004
IEEE-LEOS, ODIMAP IV Proceedings,
ISBN-951-42-7368-0, 2004
7. Autores: D. A. Gonzlez, C. Ibarra-Castanedo, M. Pilla, M. Klein, J.M. Lpez-Higuera, X. Maldague
Ttulo: "Automatic Interpolated Differentiated Absolute Contrast Algorithm for the Analysis of Pulsed
Thermographic Sequences"
Congreso: 7th International Conference on Quantitative InfraRed Thermography
Lugar celebracin: Rhode Saint Gense, Belgium
Fecha: Julio 2004
8. Autores: C. Ibarra-Castanedo, D. Gonzlez and X. Maldague
Ttulo: "Automatic Algorithm for Quantitative Pulsed Phase Thermography Calculations"
Congreso: 16th World Conference on Nondestructive Testing
Lugar celebracin: Montral, Canada
Fecha: Agosto 2004
9. Autores: C. Ibarra-Castanedo, D. Gonzlez and X. Maldague
Ttulo: Infrared Image Processing for Nondestructive Applications
Tipo de Participacin: Keynote lecture, 25 p.
Congreso: NDE 2004 National Indian Society annual conference
Lugar celebracin: Pune, India
Fecha: 9-11 Dic. 2004
10. Autores: D.A. Gonzlez, C. Ibarra-Castanedo, J.M. Lpez-Higuera, X. Maldague
Ttulo: "New Algorithm based on the Hough Transform for the Analysis of Pulsed Thermographic
Sequences"
Tipo de Participacin: Comunicacin oral 6p.
Congreso: Vth International Workshop Advances in Signal Processing for NDE
Lugar celebracin: Qubec, Canada
Fecha: 2-5 Agos. 2005
11. Autores: Clemente Ibarra Castanedo, Daniel A. Gonzlez, Hakim Bendada, Xavier Maldague
-115-
Ttulo: Anlisis de imgenes en Termografa Infrarroja

Tipo de Participacin: Comunicacin 5p.
Congreso: X Simposio de Tratamiento de Seales, Imgenes y Visin Artificial
Lugar celebracin: Cali- Colombia
Fecha: 14-16 Sept 2005
12. Autores: Daniel A. Gonzlez, Clemente Ibarra-Castanedo, Francisco J. Madruga, Xavier P.
Maldague.
Ttulo: Analysis of Pulsed Thermographic Sequences based on Radon Transform
Tipo de Participacin: Poster 8p.
Congreso: ThermoSense XXVIII (SPIE Conference Number OR32-Part of SPIE's Defense &
Security Symposium)
Lugar celebracin: Orlando (Kissimmee) - Florida Fecha: 17-21 April
USA
2006
13. Autores: Ibarra-Castanedo C., Gonzlez D., Galmiche F., Maldague X. P., Bendada A.
Ttulo: Discrete signal transforms as a tool for processing and analyzing pulsed thermographic data
Security Symposium)
USA
2006
Lasiguientecontribucinfuefruto deunavisitaalMaterialsResearchCentredel
DepartmentofMechanicalEngineeringdelaUniversidaddeBathenelReinoUnido
bajolasupervisindelProfessorD.P.Almond.Enestelaboratoriosedesarroll
un prototipo de sistema termogrfico basado en pulsos luminosos de larga
duracin y en una cmara miniatura. La publicacin recoge una comparativa
empricaentreestesistemadebajocosteyotrocomercial(ThermoScopedeTWI.
Inc.)entrminosdedetectabilidaddedefectossubsuperficiales.
14. Autores: D.A.Gonzalez, S.G.Pickering and D.P.Almond
Ttulo: "A Low Cost Thermographic NDT System based on Long Pulse Excitation: Development
and Evaluation"
Tipo de Participacin: Comunicacin oral 6p.
Congreso: 44th Annual British Conference on Non-Destructive Testing
Lugar celebracin: Harrogate, United Kingdom
Fecha: 13-15 Sep. 2005
Fruto de los trabajos desarrollados en el proyecto FEDER SOTEPAC,

colaboracin entre el Grupo de Ingeniera Fotnica de la Universidad de
CantabriaylaempresaGlobalSteelWireS.A.,lossiguientesartculosrecogenla
investigacin(15,16,17,22,23),desarrollo(18,19)ypruebadecampo (20,21)deun
sistemasensordealtatemperaturasbasadoenfibrapticaparalamonitorizacin
deunacoladadeacero.
15. Autores (p.o. de firma): Francisco J. Madruga, Daniel A. Gonzlez, J. M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Error Estimation in a Fiber Optic Dual Waveband Ratio Pyrometer
Lugar de publicacin: IEEE Sensors Journal
Volumen: 4, n 3 Pginas, inicial: 288
final: 293 Fecha: Jun 2004
Referencia: ISSN: 1530-437X
16. Autores: Jos M. Lpez-Higuera, Francisco J. Madruga, Daniel A. Gonzlez, Victor lvarez &
Javier Hierro

-116-
Ttulo: "High temperature optical fiber transducer for a smart structure on iron-steel production
industry"
Congreso: SPIE's 8th Annual Int'l Symp. on Smart Structures and Materials
Lugar celebracin: Newport Beach, Los Angeles, California,
Fecha:
Marzo
USA
2001
Proceedings of SPIE-The international Society for Optical Engineering.
Vol. 4328, ISSN: 0277-786X, ISBN: 0-8194-4014-0, 2001.
17. Autores: F.J. Madruga, D. Gonzlez, V. Alvarez, J. Echevarria, Javier Hierro* & J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Longitudinal Scale defects detection on steel bar production industry"
Congreso: ODIMAP III
Lugar celebracin: Pavia, Italia
IEEE-LEOS, ODIMAP III Proceedings,
ISBN-88-87 237-06-9-2, 2001
18. Autores: J.M. Lpez-Higuera, F.J. Madruga, D. Gonzlez, V. Alvarez, and Javier Hierro*
Ttulo: "No contact high temperature fiber optic sensor system on steel bar production industry"
Congreso: PLAN conference
Lugar celebracin: Santander, Espaa
Fecha: Octubre 2001
19. Autores: F.J. Madruga, V. lvarez, D. Gonzlez, Juan Echevarria , J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: Optical Fiber Transducer For Monitoring The Cooling Profile Of Iron-Steel Bars
Congreso: Smart Structures and Materials and NDE for Health Monitoring and Diagnosis
Lugar celebracin: San Diego (California), USA
Fecha: Marzo 2002
Proceedings of SPIE Vol. 4694, ISBN: 0-8194-4442-1, 2002
20. Autores: F.J. Madruga, D. Gonzlez, V. lvarez, Juan Echevarria, Olga M. Conde, J.M. LpezHiguera
Ttulo: Field Test Of Non Contact High Temperature Fiber Optic Transducer In A Steel Production
Plant
Congreso: OFS'2002, 15thInternational Conference on optical Fiber Sensors
Lugar celebracin: Portland, USA
Fecha: Mayo 2002
15th Optical Fiber Sensors Conference Technical Digest
ISBN: 0-7803-7289-1, 2002.
21. Autores: F.J. Madruga, V. lvarez, D. Gonzlez, M. Angeles Quintela, Javier Hierro*, J.M. LpezHiguera
Ttulo: Non-Contact Measurement Of High Temperature On Steel Bar Production Industry Using
Fiber Optic Sensing Technology
Congreso: 8th. ECNDT
Lugar celebracin: Barcelona, Espaa
Fecha: Junio 2002
ISBN: 84-699-8573-6, 2002.
COMUNICACIONES PRESENTADAS A CONGRESOS NACIONALES
22. Autores: F.J.Madruga, D.A.Gonzlez, V.lvarez, O.Conde, M.Lomer J.M.Lpez Higuera
Ttulo: "Transductor de fibra ptica para la medida de alta temperatura en procesos automatizados
de produccin de acero"
Congreso: OPTOEL01
Lugar celebracin: Barcelona
Fecha: Julio 2001
23. Autores: F.J. Madruga, D.A. Gonzlez, M. Quintela, M. Lomer, C. Jauregui, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Transductor de fibra ptica para la medida de altas temperaturas"
Congreso: URSI'2002, XVII Simposium Nacional Unin Cientfica Internacional de Radio
-117-
Lugar celebracin: Alcal de Henares

ISBN: 84-8138-517-4, 2002
Los resultados ms relevantes de los trabajos desarrollados en el proyecto

ECOPLEI, colaboracin entre el Grupo de Ingeniera Fotnica de la
Universidad de Cantabria y la empresa Equipos Nucleares S.A., recogen la
monitorizacindelprocesodeenfriamientodelcoladodeplomoencontenedores
decombustiblenuclearatravsdetermografainfrarroja.
24. Autores (p.o. de firma): Francisco J. Madruga, Daniel A. Gonzlez, Jesus M. Mirapeix, Jos M.
Lpez Higuera
Ttulo: "Application of infrared thermography to the fabrication process of nuclear fuel containers"
Lugar de publicacin: NDT&E International
Volumen: 38, n. 5 Pginas, inicial: 397
final: 401 Fecha: Julio 2005
Los siguientes artculos recogen las contribuciones cientficas aportadas como

consecuenciadelostrabajosrealizadosconsecuenciadelapropuestadeProyecto
ColaboracinconlaempresaEIKA.Laaplicacindetcnicasdeprocesadode
seal e imagen permiten la localizacin e identificacin de defectos en
vitrocermicasquefacilitanlaevaluacindesucalidad.
25. Autores (p.o. de firma): D.A. Gonzlez, F.J. Madruga, M. A. Quintela, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Defect assessment on radiant heaters using infrared thermography"
Lugar de publicacin: NDT&E International
Volumen: 38, n. 6 Pginas, inicial: 428
final: 432 Fecha: Septiembre 2005
26. Autores: Daniel Aquilino Gonzalez, Francisco Javier Madruga, Maria Angeles Quintela, Jose
Miguel Lpez-Higuera
Ttulo: "Quality Control of Radiant Heaters"
Congreso: International Congress on Optics and Optoelectronics
Lugar celebracin: Warsaw, Poland
Fecha: 28 Agos-2 Sep. 2005
27. Autores: Daniel A. Gonzlez, Francisco J. Madruga, Clemente Ibarra-Castanedo*, Olga Conde,
Jose M. Lpez-Higuera
Ttulo: Quality Control on Radiant Heaters Manufacture
Security Symposium)
USA
2006
28. Autores: Francisco J. Madruga, Daniel A. Gonzalez, Jesus Mirapeix, Cesar Jauregui, Jose M.
Lopez-Higuera
Ttulo: Automatic detection of defects on radiant heaters based on infrared radiation.
Congreso: 9th European Conference on Non-Destructive Testing
Lugar celebracin: Berlin - Alemania

-118-
29. Autores: D.A. Gonzlez, M. Lomer, N. Becue, A. Quintela, F.J. Madruga, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: Fast Automatic Quality Control on Radiant Heaters
Congreso: V Odimap
Lugar celebracin: Madrid - Espaa
Fecha: 2-4 Oct 2006
30. Autores: Daniel A. Gonzlez, Clemente Ibarra Castanedo, Francisco J. Madruga, Jose M. Lzaro,
Jose M. Lpez-Higuera
Ttulo: Procesado de medidas en el infrarrojo para la evaluacin-prueba no destructiva
Tipo de Participacin: Oral 4p.
Congreso: Ursi 2006
Lugar celebracin: Oviedo - Espaa
6.3.2 Contribuciones en el campo de la medida de diferentes magnitudes

mediante dispositivos pticos
El siguiente grupo de publicaciones hacen referencia a los trabajos que el autor
ha realizado en la medida de diversas magnitudes con dispositivos pticos,
principalmentefibraptica.
Autores (p.o. de firma): D.A. Gonzlez, J.L Arce-Diego, A. Cobo, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Spectral modelling of curved long-period fibre gratings"
Lugar de publicacin: Measurement Science and Technology
Volumen: 12, n 7 Pginas, inicial: 786
final: 792 Fecha: Julio 2001
Referencia: 0957-0233(01)20793-0.
Autores (p.o. de firma): J.M. Lpez-Higuera, A. Cobo, O.M. Conde, F.J. Madruga, C. Juregui, A.
Quintela, M. Lomer, M. Quintela, D.A. Gonzlez, J. Echevarra, J. Mirapeix
Ttulo: Photonic Engineering Group of the University of Cantabria: Recent R&D Contributions in
Photonic Sensing Technology
Lugar de publicacin: Journal of Fiber and Integrated Optics
Volumen: 23, n. 2-3
Pginas, inicial: 207
final: 229 Fecha: 2004
Referencia: ISSN 0146-8030
Autores: J.L Arce-Diego, D.A. Gonzlez-Fernndez, A. Cobo, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Spectral Characteristics of Curved SPFBG"
Congreso: WFOPC'2000, Workshop on Fibre Optic Passive Components
Lugar celebracin: Pava, Italia
Fecha: Junio 2000
IEEE-LEOS, WFOPC Proceedings
ISBN-88-87 237-08-5, 2000.
Autores: J.L Arce-Diego, D.A. Gonzlez-Fernndez, M. A. Quintela, F. J. Madruga, J.M. LpezHiguera
Ttulo: "Spectral Characteristics of Curved Long Period Fiber Gratings"
Congreso: OFS'2000, 14thInternational Conference on optical Fiber Sensors
Lugar celebracin: Venecia, Italia
Fecha: Octubre 2000
Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering .
Vol. 4185, ISSN: 0277-786X, ISBN: 0-8194-3248-0, 2000.
Autores: Jose L. Arce-Diego, Jorge Gonzlez-Garca, David Pereda-Cubin, Daniel A. GonzlezFernndez
Ttulo: "Optical Fiber Transducer based on LPFG and Microbends for Multi-Parameter Sensing"
Congreso: The 14th Annual Meeting of the IEEE Lasers & Electro-Optics Society
-119-
Lugar celebracin: San Diego (California), USA

IEEE/LEOS Annual Meeting Conference Proceedings
Vol. 1, ISSN: 1092-8081, ISBN: 0-7803-7105-4, 2001.
Fecha: Noviembre 2001
Autores: D.A. Gonzlez, C. Juregui, A. Quintela, F.J. Madruga, P. Marquez, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Torsion-induced Effects on UV-Long Period Fiber Gratings"
Congreso: Second European Workshop on Optical Fibre Sensors
Fecha: Junio 2004
Vol. 5502, ISSN: 0277-786X, ISBN: 0-8194-5434-6, 2004.
Autores: C. Juregui, D.A. Gonzlez, M.A. Quintela, P. Mrquez, A.Cobo, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Virtual Long Period Fiber Gratings"
Fecha: Junio 2004
Vol. 5502, ISSN: 0277-786X, ISBN: 0-8194-5434-6, 2004.
Autores: M.A. Quintela, D.A. Gonzlez, F.J. Madruga, M. Lomer, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Pump tuning of an erbium doped-fiber LPG"
Fecha: Junio 2004
Vol. 5502, ISSN: 0277-786X, ISBN: 0-8194-5434-6, 2004.
Autores: A. Cobo, J.M. Lpez-Higuera, D.A. Gonzlez, F. Bardin, D.P. Hand, J.D.C. Jones
Ttulo: "Optoelectronic Unit for a Laser Welding Monitoring System
Tipo de Participacin: Poster 3p. (908-910).
Congreso: IEEE Sensors 2004
Lugar celebracin: Viena, Austria
Fecha: 24-27 Oct. 2004
ISBN:0-7803-8693-0
Autores: D.A. Gonzlez-Fernndez, J.L Arce-Diego, A. Cobo, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Revisin del efecto de las curvaturas en fibras pticas"
Congreso: URSI'2000, XIV Simposium Nacional Unin Cientfica Internacional de Radio
Lugar celebracin: Zaragoza
Autores:
Ttulo: Unidad de interrogacin de redes de Bragg de bajo coste usando el borde de responsividad
de fotodiodos semiconductores
Congreso: URSI'2000, XIV Simposium Nacional Unin Cientfica Internacional de Radio
Lugar celebracin:
Autores: D.A. Gonzlez, A. Quintela, A. Campo, J.M. Mirapeix, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: "Estudio del comportamiento a alta temperatura de las Redes de Difraccin en Fibras
pticas"
Congreso: URSI'2003, XVIII Simposium Nacional Unin Cientfica Internacional de Radio
Lugar celebracin: A Corua
ISBN: 84-9749-081-9, 2003
Autores: A. Quintela, D.A. Gonzlez, S.W. James, O.M. Conde, J.M. Lpez-Higuera
Ttulo: Efecto de una pelcula fina depositada sobre un LPG en la medida del ndice externo."
Congreso: URSI'2003, XVIII Simposium Nacional Unin Cientfica Internacional de Radio
-120-
Lugar celebracin: A Corua

ISBN: 84-9749-081-9, 2003
Autores: J.M. Lpez-Higuera, A. Cobo, O.M. Conde, M. Lomer, F.J. Madruga, M. A. Quintela, C.
Juregui, A. Quintela, D.A. Gonzlez, J.Echevarra y J. Mirapeix
Ttulo: "Grupo de ingeniera fotnica: Resultados ms significativos de sus lineas de i+d en curso"
Congreso: 7 Reunin Nacional de ptica
Lugar celebracin: Santander
ISBN: 84-8102-348-5, 2003
Autores: A. Quintela, D.A. Gonzalez Fernndez, O. M. Conde, S.W. James, J.M. Lpez Higuera
Ttulo: "Medida del ndice de refraccin de un medio externo mediante redes de difraccin de
periodo largo en fibra ptica"
Congreso: 7 Reunin Nacional de ptica
Lugar celebracin: Santander
ISBN: 84-8102-348-5, 2003

-121-
Anexos
A. Principios fundamentales de la Fsica del calor
B. Conocimientos y tcnicas claves en termografa infrarroja
C. Aplicaciones industriales de la termografa infrarroja
D. Tcnicas de procesado de imgenes en secuencias
termogrficas
E. Algoritmos de deteccin de patrones lineales
F. Equipamiento utilizado

-123 -
Principios fundamentales de la Fsica del calor
Lasleyesdelatermodinmicatratandelatransferenciadeenerga,perosiempre
serefierenasistemasqueestnenequilibrioyslopuedenutilizarseparapredecir
la cantidad de energa requerida para cambiar un sistema de un estado de
equilibrioa otro,porlo quenosirvenparapredecirlarapidezconquepuedan
producirse estos cambios. La ciencia llamada transmisin o transferencia de calor
complementa los principios primero y segundo de la termodinmica clsica,
proporcionando los mtodos de anlisis que pueden utilizarse para predecir la
velocidad de la transmisin del calor, adems de los parmetros variables
duranteelprocesoenfuncindeltiempo.
Para un anlisis completo de la transferencia del calor es necesario
considerar mecanismos fundamentales de transmisin: conduccin, conveccin y
radiacin,ademsdelmecanismodeacumulacin.Laenergatrmicasetransfiere
desde el objeto de mayor al de menor temperatura, teniendo la distribucin de
temperatura, en cada cuerpo y de forma general, una dependencia espacial
adems de temporal. El anlisis de la transferencia de calor es extremadamente
complejoenelcasotridimensionalporloqueescomnsimplificarsumodelado
considerandoaproximacionesbiounidimensionales.
La transferencia de calor es, por lo general, noadiabtica41 y comprende
los tres mecanismos de transmisin. Sin embargo, ante el uso de fuentes de
excitacinexternas,comoenelcasodelatermografainfrarrojaactiva,sielflujo
trmico externo es mucho mayor que el flujo entre un cuerpo y su entorno, las
simplificacionesadiabticaspuedenarrojarsolucionesanalticasmssencillas.
Conduccin y acumulacin
Siempre que existe un gradiente de temperaturas en un medio slido, el calor
fluirdesdelareginconmayortemperaturaalareginconmenortemperatura.
LaLeydeFourier,enelcasounidimensional,indicaquelapotenciacalorficaque
setransfiereporconduccin,qk(W),esproporcionalalgradientedetemperatura
yalreaatravsdelacualsetransfiereelcalor:
qk = k A
dT
dx
A.1
donde k es la constante de proporcionalidad llamada conductividad trmica

(W/mK) y refleja las propiedades conductoras del material42; el signo negativo
indica que cuando la temperatura aumenta con la posicin, el calor fluye hacia
regionesdemenortemperatura.
La conductividad trmica k es una propiedad fsica de cada sustancia, y
puede variar ligeramente en funcin de la temperatura y de las caractersticas
particulares del material, como puede ser el contenido de humedad de los
41
Adiabtico/a: que ocurre sin que exista ningn intercambio de calor.

Obsrvese que cuanto mayor es la conductividad trmica del material, mayor ser la cantidad de
calor que atraviesa el sistema, para un mismo gradiente de temperatura.
42

-125 -
materiales.Cuandoelmaterialseencuentraenequilibriotermodinmicoresulta
que el flujo de calor y la temperatura en cada punto del mismo permanecen
constantes, y el proceso se denomina transmisin en rgimen estacionario.
Cuando no existe el anterior equilibrio, ya sea porque el material no ha tenido
tiempoparaestabilizarseodebidoaquelascondicionesdelentornovaranenel
tiempo,elprocesosedenominatransmisinenrgimentransitorio,caracterizado
porquelatemperaturaencadapuntovaraeneltiempo.Unaconsecuenciadela
variacin de temperatura en el interior del material es la acumulacin del calor,
debido a la propiedad de los materiales de absorber o disipar energa cuando
varasutemperatura,denominadacalorespecfico.
Conveccin
La conveccin es el proceso de transferencia de calor que interviene cuando
entran en contacto un fluido y un slido. El fluido puede moverse sobre la
superficie impulsado por una fuerza externa en cuyo caso se trata de una
conveccinforzada,opuedesimplementealejarsedelasuperficieimpulsadopor
unadiferenciadepresiones,encuyocasosetratadelaconveccinnatural.
Tanto en la conveccin forzada como en la natural, actan dos
mecanismos.Suponiendoqueelslidoestamayortemperaturaqueelfluido,el
mecanismo que se observa en la interfase entre ambos es el de conduccin: las
molculasdelasuperficieslidatransmitenenergacinticaalasmolculasdel
fluidoqueseencuentrancercadelainterfaseylatransferenciadecalorverificala
ecuacinA.1evaluadaenlainterfase,movimientomolecularaleatorio(difusin):
qc = k fluido A
dT
dx
A.2
x =0
Elsegundomecanismodetransferenciadecalor,involucraelmovimiento
macroscpico de fracciones de fluido cuyas molculas arrastran el calor a
regionesalejadasdelasuperficieyqueseencuentranatemperaturasmsbajas.
Tomando en cuenta ambos mecanismos, la potencia calorfica que se
transfiereporconveccinesproporcionalalreadecontactoentreelslidoyel
fluidoyaladiferenciadetemperaturasdelasuperficieTsyladelfluidoenun
puntoalejadodeesasuperficieT
q c = h A (Ts T )
A.3
siendo h (W/m2K) la constante de proporcionalidad, llamado coeficiente de

conveccin. Es importante sealar que la expresin A.3 es una expresin
fenomenolgica que, planteada por Newton en 1701 (Ley de Newton del
enfriamiento),sesigueusandohastanuestrosdas.Elvalordehdependedelas
condiciones en la capa lmite, de la velocidad del fluido, de la forma de la
superficie,delaspropiedadesfsicasdelfluido.Cualquierestudiodeconveccin
se reduce finalmente a un estudio de los medios por los que es posible
determinarh.

-126-
ANEXOS
Radiacin
Sedenominatransmisindecalorporradiacinalhechodequelasuperficiedel
material intercambia calor con el entorno mediante la absorcin y emisin de
energa por ondas electromagnticas. Mientras que en la conduccin y la
conveccin es precisa la existencia de un medio material para transportar la
energa,enlaradiacinelcalorsetransmiteatravsdelvaco,oatravesandoun
mediotransparentecomoelaire.
Todaslassuperficiesopacasemitenenergaenformaderadiacinenuna
magnitud proporcional a la cuartapotencia su temperatura absoluta T, y en un
rango de longitudes de onda inversamente proporcional a su temperatura
absoluta. Por consiguiente, los materiales emiten radiaciones de onda larga,
correspondiente al espectro infrarrojo lejano, procedente de sus superficies a
temperaturas tpicas del ambiente, en funcin de una propiedad superficial
denominada emisividad, y de forma simultnea absorben radiaciones similares
emitidas por las superficies visibles de su entorno, en un proceso denominado
irradiacin.
Q = T 4 [W/m2]
A.4
Sistema elctrico equivalente para modelar el mecanismo de

radiacin entre dos cuerpos
Tanto la conduccin como la conveccin en aire proporcionan flujos de calor
relativamentepequeoscomparndolosconelflujodelmecanismoderadiacin.
Hayquetenerencuentaqueelaireapresinatmosfricaposeeunaconductividad
trmicakmuybaja,devalorescomprendidosentre0.026y0.1W/m.Cenelrango
detemperaturasentre0y1300C,yuncoeficientesuperficialdetransmisindecalor
hdeentre1y25enconveccinnatural.Estosvaloresjuntoconlatransparencia
delairealaradiacininfrarroja,hacequelamayorpartedelflujode calor que
reciba un cuerpo, proveniente de otro a mayor temperatura y con el medio
intermediosiendoaire,seadebidoalmecanismoderadiacin(observaradems
la dependencia lineal con la diferencia de temperaturas de los mecanismos de
conveccinyconduccinyladependenciaconlatemperaturaelevadaalacuarta
delaradiacin).
Conesteplanteamiento,sepuedemodelarlaradiacinentredoscuerpos
comouncircuitoelctricoconlossiguientescomponentes[Holman,1998].

-127-
RGIMEN TRANSITORIO.
RGIMEN ESTACIONARIO.
V1
R1
R2
J1
J2
R3
V2
Ct
R5
R4
V3
Figura A-1. Sistema elctrico equivalente para modelar el mecanismo de radiacin entre dos cuerpos.
LastensionesVihacenreferenciaalaradiacintotalemitidaentodaslas
longitudesdeonda,lasresistenciasRiseobtienenapartirdelosfactoresdeforma
de radiacin, las Ji son la radiacin total que abandona las diferentes superficies
porunidaddetiempoyporunidaddereayCtrepresentaunalaacumulacin
trmicadelmaterialyquedelimitareltiemponecesarioquehadepasarantes
deencontrarseenelestadoestacionario.Losvaloresquetomancadaunodelos
distintoscomponentesdeestemodeloequivalenteson:
R1 =
R2 =
1
A1 * F12
1 1
1 A1
R3 =
R4 =
1
A1 * F13
F13 = 1 F12
1 2
2 A2
R5 =
1
A2 * F23
A.5
F23 = 1 F21
donde i son las diferentes emisividades de las superficies, Ai son las reas de
dichassuperficiesyFijeselfactordeformaentrelasuperficieiylaj.
En este punto, el material consume la potencia que en l incide
calentndose43 y se estabilizar, alcanzar el estado estacionario, cuando emita
tanta potencia, funcin de su temperatura, como la absorbida. El material en
estadoestacionariopuedetratarsecomouncuerpoaislado(Qneto=0).Eltiempo
que tarde el material en alcanzar la temperatura a la cual emita tanta potencia
como absorba vendr dado por su densidad (), volumen (V) y su calor
especfico (ce). Para variar la temperatura de un cuerpo un gradiente T, la
potencia que se necesita para lograrlo viene dada por la siguiente expresin
[Salamander]:
43
Joseph Black (1728-1799), quien distingui entre la cantidad (calora) y la intensidad

(temperatura) del calor. Hasta principios del siglo XIX, los fenmenos en los que intervena la
temperatura eran explicados suponiendo una sustancia, llamada calrico, existente en todos los
cuerpos y que flua de los objetos calientes a los fros. Pero, an ms, no se abandon la idea de
calrico hasta que James Prescott Joule (1818-1889) public un artculo definitivo en 1847 en
Inglaterra, presentando el calor como una forma de energa. Como un resultado de los
experimentos de Benjamin Thomson (Conde Rumford, publicados en un artculo en 1798), Julius
Robert von Mayer (1814-1878) en Heilbronn, Hermann von Helmholtz (1821-1894) en Alemania
y L.A. Holding (1815-1888) en Dinamarca sobre la conservacin de la energa; Joule demostr
que varias formas de energa pueden ser transformadas en otras.
-128-
ANEXOS
Wgen = V ce * T [W/(hm2)]
A.6
Eltiempodecalentamientovendrentoncesdadoporelcocienteentrela
potencianecesariaparaconseguirtalcalentamientoylaenergasuministrada.
Si se considerara la conveccin (aunque qued despreciada por un bajo
valor del coeficiente h) la temperatura de un cuerpo vara de T0 a Tf en un
tiempo t al cambiar el ambiente de T0 a Tg. Este tiempo vendr dado por las
expresiones[Tong,1996]:
T f T0
T g T0
= 1 e
f cf f
tc =
f cf f
h
A.7
Trabajando en rgimen estacionario, se puede sustituir todo el circuito

por una Req y un q, flujo equivalente de calor. En estas condiciones, se puede
obtenerlatemperaturadelequilibriotrmicoenunobjetomediantelaresolucin
delsistemaconlassiguientesecuaciones:
V 1 V 3 V 1 J1
=
Req
R1
J1 J 2 J1 V 3
=
1
Req = R1 +
R2
R 2 + R5
1
1
+
R 4 R 2 + R5
q=
A.8
Apartirdeestasecuacionessepuedenobtenersimulacionesdelsistemaa
estudio. As, suponiendo una superficie circular de radio 1 cm a 1000C y un
objetodesuperficiecircularderadio10msepuedenobtenerunascurvascomo
lassiguientes:
Figura A-2. Temperatura en funcin de la distancia para diferentes temperaturas ambiente.
Enestasimgenessepuedeobservarla variacindelatemperatura que

alcanza un objeto situado a una determinada distancia segn una temperatura
ambiente.Bsicamente,sepuedeconcluirquehaycasiunaindependenciaconla
temperaturaambiente,quealserelreadelasegundasuperficiemuchomenor
que la de la primera tambin se puede aproximar el factor de forma con una
ciertaindependenciadeesteradioyquehayungrangradienteconladistancia
entrelassuperficies.
Trabajandoenvezdeconplacasrectangularesconplacascirculares(ms
sencillo)yalserlasegundasuperficietanpequearespectoalaemisora,elfactor
-129-
de forma ser muy pequeo. Estudiando la variacin de este factor con la

posicinlongitudinalrelativadondeseencuentre,seobservaqueapenastendr
influencia. En la siguiente figura se puede apreciar cmo el factor de forma es
menor colocando la segunda superficie centrada en el borde de la superficie
emisoraquecuandoestsobreella.
Figura A-3. [0 1] [5.5 6.5] [8.5 9.5] [4.25 5.25] Transductor centrado de 1cm2 y superficie a t cte de 180 cm2.
En la siguiente figura se puede apreciar como vara la temperatura del

transductorconladistanciasegnlasdiferentesposicioneslongitudinales:
Figura A-4. [0 1] [5.5 6.5] [8.5 9.5] [4.25 5.25] Transductor centrado de 1cm2 y superficie a t cte de 180 cm2.
Independencia de la potencia captada

Siempre y cuando se pueda considerar la superficie emisora como infinita
respectoalasuperficiereceptoradelaradiacintrmica,lapotenciacaptadapor
sta es independiente de la distancia y del ngulo de alineamiento entre las
supeficies [Zur, 1992]. La distancia influye en el FOV(field of view) del

-130-
ANEXOS
transductor y la anterior independencia slo se produce si la superficie

termalmenteuniformeesmayorqueelreacubiertoporelFOV.
En estas condiciones, la potencia captada por una fibra ser
independientedeladistanciaydelainclinacinquetengarespectoalanormala
lasuperficiededondesequierecaptarlaradiacinyvendrdeterminadaporel
siguienteconjuntodeecuaciones:
Pin (1 , , ) = 8a 2 I sin 1 cos1 f ( ,1 )
sin 1c
cos
f ( ,1 ) = cos 2
sin 1
n
sin 1c = min co sin c ,1

n1
A.9
1 cos sin sin c

=
0 cos sin sin c
c = cos 1 (ncl n )
co
As,lapotenciadependernicamentedelosparmetrosdediseodela
fibra que determinarn los ngulos de incidencia mxima de la luz que podr
guiarse.
Cuerpo negro esfrico

Elhechodecrearunacavidadesfricaderadiomayorqueeldelaaperturadela
cavidad,hacequesisetratadeunasuperficiedifusaycontemperaturauniforme
la emisividad aparente vista a travs de la apertura es mayor que la propia
emisividad del material que forma la cavidad. La expresin que determina esta
emisividad aparente relacionando las reas de la esfera y de la apertura es
[Chandos,1974]:
a =
r
1 + cos arcsen aper
Rbb
1 (1 )
2
A.10
Conello,seconsiguenemisividadesmuyaltas,porefectodelageometra,
partiendodematerialesquenolasposeen.Acontinuacin,sepuedeapreciarla
emisividadaparentedeunacavidaddeestetipo:

-131-
Figura A-5. Emisividad aparente de una cavidad en funcin de la geometra de un cuerpo negro y la emisividad
real del material utilizado.
Referencias
[Chandos, 1974] R.J. Chandos, R.E. Chandos, Radiometric Properties of Isothermal, Diffuse Wall
Cavity Sources, Applied Optics, Vol.13, no.9, pag. 2142-2152, 1974.
[Holman, 1998] J.P. Holman, Transferencia de Calor, Ed. McGrawHill, pag. 504, 1998.
[Salamander] Salamander Ceramic Infrared Emitters Technical Manual.
[Tong, 1996] L.Tong, Y. Shen, R. Xu, Z. Ding, Study on Frecuency Response Characteristics of
High-temperature Fiber Optic Sensor Head, Fiber Optic Sensors V, Proc. Spie, Vol.2895,
pag. 431-434, 1996.
[Zur, 1992] A.Zur, A.Katzir, Theory of noncontact point termal sensing by fiber-optic radiometry,
Applied Optics, Vol. 31, No. 1, pag. 55-68, 1992.

-132-
B Conocimientos
y
termografa infrarroja
tcnicas
claves
en
Tantoporsunaturalezacomoporsuaplicabilidad,laTIrequieredelafusinde
conocimientos y tcnicas procedentes de diversos campos de la ciencia y de la
tecnologa. Por ello, con el fin de facilitar el seguimiento de lo recogido en esta
tesis y una mejor comprensin de las aportaciones en ella incluidas, en lo que
sigue se efectan unas brevsimas pinceladas sobre los conocimientos y
tcnicas claves en TI, instando al lector a la consulta de referencias como
[Maldague,2001].
B.1
La medida termogrfica
La temperatura puede ser determinada midiendo la radiacin emitida por una

superficie en una porcin infrarroja del espectro electromagntico. Tras ser
detectadas, la seal elctrica correspondiente es entonces convenientemente
procesada. Por ello, es necesario considerar tres aspectos fundamentales: la
superficie del objeto, la transmisin de la radiacin entre el objeto y el
instrumentosensoryelpropioinstrumentodemedida[Kaplan,1999].
Cualquier objeto que se encuentre a una temperatura superior al cero
absoluto (0 K o 273C) emite energa en el espectro infrarrojo segn una
distribucinquepuedesercaracterizadaportresleyesfsicas:laleydePlanck,la
leyStephanBoltzmannylaleydeldesplazamientodeWien[Holst,2000].Laprimera
de ellas describe la distribucin de la intensidad radiada desde un emisor
perfectoenfuncindelatemperaturadeste.Enlasegundadeellas,apareceel
concepto, en forma de variable, de la emisividad44 como una caracterstica
superficial del material que permite modelar la radiacin total emitida por un
cuerpoaunatemperatura,laintegracinatodaslaslongitudesdeondadelaley
dePlanck.Finalmente,laterceraleyrecogelaevolucindelpicodelaenergaen
funcin de la temperatura, obtenida a partir de la derivada de la funcin de
Planck.
No todos los cuerpos emiten toda la radiacin descrita por la ley de
Plancksinoqueemitenunafraccindesta.Estafraccineslaemisividady,en
general, vara con la longitud de onda, la forma del objeto, su temperatura, el
ngulo de emisin de la radiacin, las irregularidades de la superficie, factores
ambientalesDeestaformaseclasificalosmaterialesencuerposnegros45,cuerpos
grises y cuerpos no grises segn vara o no la emisividad de una superficie. Pero
adems, como consecuencia de la conservacin de la energa, cuando una
44
En 1879, Josef Stefan (1835-1893) determin experimentalmente una expresin que relacionaba
la radiacin emitida por una superficie con la temperatura a la que se encontraba. En 1884, uno de
sus estudiantes (Ludwig Boltzmann, 1884-1906) confirm tericamente sus resultados.
45
En 1860, Gustav Robert Kirchhoff (1824-1887) defini un cuerpo negro (blackbody) como
aquella superficie que ni refleja ni transmite radiacin incidente. Un cuerpo negro absorbe toda
radiacin independientemente de su longitud de onda y su direccin de incidencia. Adems, al
igual que absorbe, emite radiacin a toda longitud de onda y en todas las direcciones como
ninguna otra superficie puede hacer.
-133 -
radiacinesincidenteauncuerpo,partedestaestransmitida,parteabsorbiday
parte reflejada. Existe entonces una estrecha relacin con otras propiedades de
las superficies de los materiales: latransmisin, la absorcin y la reflexin. Y, si el
objeto se encuentra en equilibrio trmico con su entorno, la cantidad de energa
absorbida debe ser igual a la radiada, haciendo que la absorcin sea igual a la
emisividad.
Lascaractersticasdelmediodetransmisinexistenteentreelcuerpobajo
inspeccin y el instrumento de medida tambin afecta a las medidas de
temperatura sin contacto. No existira prdida de energa si la medida se
realizaseenelvacopero,inclusoparadistanciascortas,cualquiermediopuede
absorberenergay,portanto,puedeperturbarlamedida.As,elrangoefectivo
para los sistemas de medida termogrficos est limitado por los fenmenos de
absorcin y dispersin de la radiacin electromagntica en la atmsfera siendo
dependiente de la distancia, condiciones ambientales, partculas en
suspensin,...46
La radiometra infrarroja recoge las caractersticas de transmisin de los
medios y materiales definiendo as el rango espectral en el que el cuerpo emite
radiacin,elrangoespectralenelqueelmediotransmiteyelrangoespectralen
elqueelsensorfunciona.Enlasmedidasradiomtricas,esdeinterslacaptura
de la mayor emisin posible por lo que es prctica habitual modificar la
superficiedelcuerpoinspeccionadoaadindoleunrecubrimientoqueaumente
laemisividadydisminuyalasvariacionesdelamisma,blackpainting,trabajaren
las ventanas de menor atenuacin atmosfrica y utilizar materiales de alta
sensibilidad en esas mismas regiones como partes integrantes del sistema de
medida.
El instrumento de medida est compuesto de una parte ptica (lentes y
filtros), un detector47 que convierte la energa infrarroja en una seal elctrica y
una parte electrnica que amplifica y acondiciona la seal para su posterior
conversin en valores de temperatura [Maldague, 2001]. Se hace necesario un
proceso de calibracin y correccin de errores. Por lo general, estos sistemas se
caracterizarn por el rango de temperatura que cubren, la precisin, la
repetitividad, la sensibilidad trmica, la velocidad de respuesta, la resolucin
espacialdelamedidaenelobjetoyladistanciadetrabajo,elrangoespectralde
trabajo, las condiciones ambientales en las que el instrumento es operativo y
otros requerimientos de salida como las salidas digitales/analgicas de que
dispone.
46
En realidad se utilizan dos ventanas de transmisin atmosfrica: la del infrarrojo medio de 3 a 5

m, utilizada para la medida de cuerpos a alta temperatura (siguiendo la ley de Wien) o en
entornos cerrados y la del infrarrojo lejano de 8 a 14 m, preferida para inspeccionar objetos a
temperatura ambiente o al aire libre.
47
Todos los transductores infrarrojos exhiben algn cambio elctrico en funcin de la energa
radiante que incide en sus superficies sensibles al infrarrojo. Pueden ser cambios de impedancia,
capacidad, generacin de voltajes o de generacin de fotones pudiendo, a la vez, responder en una
banda ancha o limitada espectralmente. Principalmente existen dos tipos de detectores: detectores
trmicos (el detector se calienta segn absorbe energa) y detectores pticos o cunticos (la
energa incidente excita electrones).
-134-
ANEXOS
B.2
Modelado de la transferencia de calor
El calor es energa y, como intangible, se mide a travs de sus efectos. Su

transferencia (por los mecanismos de radiacin, conveccin y conduccin)
provocacambiosdetemperaturaquepuedensermedidos.Paraello,sedispone
desensoresdetemperaturaquepuedenserdecontactoosincontactoy,dentro
de estos ltimos, sensores sin contacto unidimensionales o bidimensionales (de
imagentrmica)[Webster,1999].
Dadoquelatransferenciadelcalorestcondicionadaporlaspropiedades
fsicas del material, se puede controlar, evaluar, analizar o inspeccionar un
material atravs de lamedida desu temperatura. El modelado de los distintos
mecanismos de transferencia de calor resulta, entonces, de primordial
importancia.
Cuando se trata de cuantificar la temperatura se procede a realizar un
preanlisis con el fin de predecir el comportamiento de la superficie bajo
inspeccinanalticamente(paralassituacionesyaproximacionesmssimples)o
modelandolacomplejatransferenciadecalorpormediodetcnicasdeelementos
finitos o diferencias finitas [Maldague, 2000]. En la actualidad se dispone de
softwarequeprocuratalpreanlisis(problemadirecto)estableciendoloslmites
de la efectividad del procedimiento considerando la geometra del defecto y
determinando su detectabilidad sin necesidad de realizar un ensayo sobre los
especmenes. Algunos ejemplos son: COSMOS/M, Termo, ThermoCalc48 y Heat
3D.
Habitualmente se utilizan modelos lineales o unidimensionales para la
transmisin del calor en los materiales. Ello es consecuencia de la lentitud y
complejidaddelprocesadodelasecuacionesdeladifusindelcalorquetienen
encuentaunmayornmerodedimensiones,estoes,consideranquealgunaolas
otrasdosdimensionessontambinfinitas.
Se puede encontrar numerosa literatura bsica con las ecuaciones que
modelanlatransmisindelcalorenunmaterialdeformacompleja(3D)perosu
aplicacin a tcnicas no destructivas no est desarrollada debido a los tiempos
quesuprocesadoconlleva.Elusodemodelosmscomplejosdeformaeficiente
(encuantoatiemposdeprocesado),permitiramayorexactituddelosresultados
obtenidos en la actualidad, aplicando las tcnicas termogrficas existentes, as
comosubsanarlasdificultadesqueahoraseencuentranenlaaplicacindeestas
tcnicas a determinados especmenes, esto es, ocultacin entre defectos,
48
Desde 1989, el IR Thermography Laboratory de Tomsk Polytechnic University, Rusia, ha

estado desarrollando avanzados algoritmos y programas en el campo de los ensayos no
destructivos con termografa. Hoy en da, ofrece programas, disponibles para Windows
98/2000/NT/XP, tales como Multilayer 1D, ThermoCalc 2D o ThermoCalc-3D. Multilayer 1D
modela en una dimensin la distribucin en temperatura de medios multicapa ofreciendo perfiles
de la temperatura en funcin de la profundidad y evoluciones temporales. ThermoCalc-2D modela
defectos subsuperficiales en 2D para una muestra de mximo 3 capas con forma de disco. La
muestra puede ser excitada por pulsos cuadrados, de coseno alzado o impulsos de Dirac.
ThermoCalc-6L (ThermoCalc-3D Pro) modela numricamente en 3D defectos subsuperficiales
en slidos multicapa de formas rectangulares. Como novedad, la excitacin puede ser arbitraria
permitiendo patrones de calentamiento no uniformes. Analiza fenmenos de difusin del calor en
3D, modela variaciones de emisividad o absorcin y simula fenmenos de conveccin forzada.
-135-
resolucindeespesoresdedefectos,avancesenladeteccindedefectosenzonas
prximasaaristasocontornos.Tambinselograraunmayorcontrolyrigorde
la simulacin de la transmisin del calor en materiales compuestos (laminados,
granulados, heterogneos,). Una mayor complejidad en el modelado supone
unamejorasilostiemposdeprocesadodelosnuevosmodelosnosondemasiado
altos, permitiendo obtener resultados, como la caracterizacin de los defectos,
que hasta la fecha slo se logran mediante el uso de otras tcnicas
complementarias.
Por otra parte, una vez que se dispone de los ensayos adecuados, las
anomalassecaracterizandeformacuantitativaatravsdeproblemasinversos
confamiliasdecurvasoecuacionesempricasestablecidasapartirdelmodelado
directo.
B.3
Termografa activa y pasiva
Enlainspeccintrmica,losobjetosbajoinspeccinpuedenserclasificadoscomo
activos o pasivos. Los cuerpos que generan por s mismos calor o un flujo del
mismo sin la aplicacin o eliminacin de una fuente externa se consideran
activos. Por el contrario, aquellos que requieren de un aporte o extraccin de
calor externo para establecer un flujo hacia o desde el objeto son considerados
pasivostrmicamente.Enlaevaluacindetalesespecmenes,lasincronizaciny
controltemporaldelainspeccinsoncrticospuespodraalcanzarseelequilibrio
trmicosinquelasanormalidadeslleguenamostrarse.Igualmentehayquetener
laprecaucindeevitarproducirdaosporestrstrmicoenlaspiezasdurantela
excitacinexterna.
Envirtuddeloanterior,latermografainfrarroja(TI)puedeseractivao
pasiva. La ltima recoge aquellos casos en los que no se usa ninguna
estimulacindecalentamientooenfriamientoexternoparaprovocarunflujode
calor en el cuerpo inspeccionado. Sin embargo la TI activa utiliza estmulos
externosparainduciruncontrastetrmicorelevanteenelobjetobajoinspeccin.
En la termografa pasiva, los materiales y estructuras bajo inspeccin se
encuentranatemperaturasdiferentesaladelambiente,mostrandounpatrnde
temperaturastpicoporelhechodeestarinvolucradosenprocesosqueproducen
calor.Unadiferenciarespectoalatemperaturanormaldetrabajo(referencia)del
objeto sugiere un comportamiento anormal del mismo. Ello es debido al
principio de conservacin de la energa, la primera ley de la termodinmica,
dondeserecogequecualquierprocesoconsumeenergaliberandocalorsegnla
leydelaentropa.
La TI pasiva captura informacin de temperatura en tiempo real desde
unadistanciasegurasinningunainteraccinconelobjeto.Laclaveresideenla
diferenciadetemperaturaconrespectoalentorno,deloquesepuedenobtener
evidencias cualitativas del estado de un objeto (el anlisis cuantitativo requiere
de modelados trmicos de los objetos). As, por ejemplo, se monitoriza
edificaciones (localizacin de perdidas de calor y humedades) o se emplea en
mantenimiento preventivo, electrnica, medicina y veterinaria, elaboracin de

-136-
ANEXOS
Figura B.3-1 Sistema de adquisicin de imgenes por Termografa Infrarroja activa. La posicin de la fuente de calor n
con respecto a la cmara infrarroja p y el espcimen es lo que establece si la adquisicin se produce en reflexin o en
transmisin. La energa es transmitida por conduccin al interior de la piezao. La presencia de un defecto produce un
aumento o disminucin de temperatura de forma local en las imgenes. stas son procesadas, analizadas y almacenadas de
forma digitalq.
componentes y procesos industriales, deteccin de fuegos, fugas o deteccin de

objetivos(militar).
En la termografa activa, a travs de la estimulacin externa, se provoca
unflujodecalorinternoenelobjetobajoestudio,permitiendoevaluarespeciesa
temperaturaambiente.Eltermogramaobtenidopresentaunpatrntrmicoque
posibilitaunacaracterizacincuantitativadelinteriordelespcimen.Aspueden
detectarse laminaciones o inclusiones (las cuales representan variaciones en la
conduccin interna de calor), corrosiones, fisuras, desencolados de materiales o
estimarpropiedadestrmicasdemateriales,oestudiardaosporimpactos,entre
otrasaplicaciones.
Por su importancia en END, en la Figura B.31 se ilustra el proceso de
adquisicin de imgenes por TI activa mediante un ejemplo de inspeccin de
defectos internos en un objeto. Primero, se produce un contraste trmico en la
superficie de la muestra bajo inspeccinn. En general, este contraste se obtiene
traselenvodeunfrentedecalor(eselenfoqueadoptadoaqu)sealandoquela
utilizacin de un frente fro es igualmente vlida. Esto puede lograrse sea en
rgimentransitorio(conunimpulsodeenerga)oenrgimenpermanente(conel
envo de ondas peridicas), dependiendo de la aplicacin. De igual manera, la
adquisicin de imgenes puede realizarse en reflexin (del mismo lado) o en
transmisin (lado contrario). En general, el modo reflexin es utilizado para
defectos internos relativamente cercanos a la superficie, mientras que el modo
transmisin lo es para defectos profundos (siempre y cuando se tenga acceso a
losdosladosdelapieza).
Las condiciones en las que se encuentre la superficie del objeto bajo
inspeccin son muy importantes. Las medidas pueden ser influenciadas por
variacionesenlarugosidad,deposicindeotrosmaterialesolanouniformidad
delamisma;esporelloquedebelimpiarseyacondicionarseadecuadamentecon
anterioridadaltest.

-137-
Unavezqueelcalorentraencontactoconlasuperficiedelespcimen,la
energa se transmite por conduccin al interior de la piezao. El principio de
deteccin de defectos se basa en el hecho de que el frente caliente se propaga
homogneamente a travs del material salvo en presencia de una
inhomogeneidadconpropiedadestrmicasdiferentes(defecto).Elloprovocauna
atenuacin o un incremento (dependiendo de las propiedades trmicas del
material y del defecto) en la conduccin de calor, teniendo una relacin directa
con el tiempo de propagacin del frente. En la superficie de la muestra surgen
entoncesgradientesdetemperaturaquepuedensugerirlapresenciadedefectos
y que pueden ser detectados con la ayuda de una cmara infrarrojap. Las
imgenes son finalmente adquiridas, procesadas, analizadas y almacenadas de
formadigitalq.
B.4
Preprocesado de imgenes en termografa infrarroja
Existe un gran nmero de fuentes de degradacin de la seal infrarroja, tales

como: ruido ligado al equipo de adquisicin (electrnico); calentamiento no
uniforme debido a imperfecciones de la fuentede energa (trmico); diferencias
de emisividad e irregularidades en la superficie de la pieza inspeccionada
(estructural); reflexiones provenientes de otros objetos; atenuacin atmosfrica,
etc [Maldague, 2001]. As, una vez que las imgenes han sido adquiridas,
diferentestcnicasdetratamientopuedenserutilizadaspararealzarelcontraste,
detectarlapresenciadedefectosycaracterizarlos.
Ambosesquemasdetermografainfrarroja,pasivayactiva,requierende
unimportanteprocesadodesusimgenes.Laprecisinyexactitudenlamedida
detemperaturasdebeestargarantizadayesporelloqueexisteunaalgortmica
conlaquesepretendenminimizarlosefectosdelruidodelsistema,delapticay
la electrnica que capturan los valores de temperatura [Maldague, 2001]. La
primera etapa de preprocesado consiste en adecuar y regenerar los pxeles
defectuosos(badpixelsopxelesmuertos),estoes,pxelesquepresentanniveles
anormales de intensidad. El siguiente paso es la correccin del patrn de ruido
fijo(FPNFixedPatternNoise)causadopordiferenciasenlaresponsividaddelos
detectores. El encuadre (vignetting) consiste en un obscurecimiento de las
esquinas de los termogramas respecto al centro de los mismos debido a una
exposicin limitada en esas reas. El procedimiento de correccin de encuadre
requiere una etapa de calibracin que involucra la toma de termogramas de
cuerpo negro a diferentes temperaturas (en el rango de operacin). Finalmente,
los datos obtenidos por la cmara y que recogen valores de intensidad de la
radiacin infrarroja han de ser transformados en valores de temperatura. Para
ello,serequiereunacalibracinentemperatura,veranexoD.1.
B.5 Excitaciones pticas

Orientacin conceptual
en
termografa
infrarroja
activa
Cuandounasuperficieescalentada,segeneranondasdispersivasqueseatenan
rpidamente en la regin contigua a la superficie. Estas ondas, conocidas como
ondas trmicas, fueron investigadas por primera vez por el matemtico francs
Jean Baptiste Joseph Fourier (17681830) y son de gran importancia para la
-138-
ANEXOS
explicacin de los fenmenos fototrmicos y fotoacsticos, base de numerosas

tcnicasnodestructivasdeensayos.
Muchos autores han contribuido a un nmero elevado de tcnicas y
algoritmos que modelan el proceso de transferencia de calor a travs de la
conduccinantevariostiposdeexcitacin.Desdelasaproximacionesmsbsicas
unidimensionales(1D)hastamodeladostridimensionales(3D),elprocesohasido
siempre condicionado a un conocimiento a priori del espcimen. Bien las
dimensiones del cuerpo (poder suponer semiinfinitud en alguna de sus
dimensiones), los coeficientes trmicos (conductividad trmica, densidad, calor
especfico, difusividad trmica, longitud de onda trmica,), bien una
aproximacindelaestructurainteriordelmaterial(siesunmediomulticapa,su
composicin); todo conocimiento a priori es til para un mejor (o ms
simplificado)modeladodelasecuacionesdeconduccindelcalor.
Teniendo bajo control el modelado del proceso de conduccin del calor
trasunadeterminadaexcitacinsuperficial,latemperaturaqueseobserveenla
superficie estar ntimamente relacionada con lo que ocurre en el interior del
materialy,asuvezydeformainversa,conocidalatemperaturaenlasuperficie
podremos interpretar lo que pueda pasar en el interior. En condiciones de
homogeneidad tanto del material como de la excitacin trmica producida, la
temperaturasuperficialdebeserigualentodalasuperficieycualquiervariacin
esinterpretadacomounaalteracindelascondicionesdeconduccindelaonda
trmica hacia el interior del material, condiciones que a partir del modelado
podremoscatalogar.
Enestepunto,dadoqueelusodelatermografainfrarrojacomosistema
de deteccin nos permite el mapeado remoto (sin contacto) y preciso de la
temperatura de una superficie, se pueden detectar y evaluar defectos,
imperfecciones y cambios de composicin en el interior de materiales de una
forma rpida, fiable y segura. La cmara o sistema de deteccin infrarroja
detectarnicamentelaradiacinemitidaporlasuperficiepero,envirtuddelo
anteriormente comentado, la radiacin portar informacin igualmente del
interior.
B.6
Tipos de excitacin
La excitacin externa a la que puede ser sometido un espcimen y que termina

produciendo en l un frente de ondas trmico (energa trmica) puede tener
diferentesorgenes,tantosorgenescomoformasdeenergaseconocen:cintica,
potencial,mecnica,qumica,elctrica,radianteoatmica.Sinembargo,porusos
prcticos,hayquetenerencuentalaeficienciadelaconversindecadatipode
energaaenergatrmica(laqueresultadenuestrointersenestedocumento),
reduciendo el nmero de posibles excitaciones. Si adems se pretende que la
excitacin externa a implementar tenga carcter de remoto, esto es, sea sin

-139-
contacto,lostiposdeenergaqueseranapropiadosparaunaexcitacineficiente
quedanreducidosalaradianteyatmica49.
Ante la mayor simplicidad y seguridad en el manejo de los equipos
implicados,lasformasdeexcitacinexternamscomunessecentranenelusode
energa radiante (aquella existente en un medio fsico, causada por ondas
electromagnticas y mediante las cuales se propaga directamente sin
desplazamientodelamateria)ymsconcretamenteenrangosdelongitudesde
onda donde las radiaciones no tienen suficiente energa como para romper
enlacesatmicos(radiacinnoionizante).Setiene,porlotanto,todounespectro
de radiaciones desde el ultravioleta hasta las ondas de radio que pueden dar
lugar a una transferencia de energa en forma de calor hacia el material si la
absorcin es eficiente. Aunque minoritariamente existen tcnicas que usan
microondas para el calentamiento de los especmenes [Cuccurullo, 2002], la
forma ms popular de excitacin trmica para la realizacin de ensayos no
destructivoshaceusodelefectofototrmico,mencionadoanteriormente.
Otro factor importante, a la hora de establecer la excitacin externa
necesaria para generar un frente trmico en el material bajo inspeccin, es el
determinarladuracindelamisma.As,sepuedeliberarotransferirlamisma
energa de forma pulsada (de mayor o menor temporalidad) o de forma
modulada. Esto da lugar, en el caso de la termografa activa, a la termografa
pulsada (pulsed thermography), la termografa de pulso largo (longpulse o step
heating thermography) y la termografa de lazo cerrado (lockin thermography). En
los siguientes apartados se har una introduccin a cada una de estas
excitaciones.
Comocasosparticulares,enlugarderealizaruncalentamientomediante
lmparas de luz modulada se pueden utilizar otros sistemas de excitacin
trmicaomezclaentreellos.Siseusaunaconversindirectadeenergamecnica
a energa trmica, enfatizando la liberacin de calor por friccin, una vibracin
mecnica inducida externamente como excitacin (por ejemplo aumentando o
disminuyendolafrecuenciadelaexcitacinmecnicaatravsdeuntransductor
piezoelctrico) hace que aparezcan y desaparezcan gradientes locales de
temperatura,sehablaraentoncesdevibrotermografaoTIlockinultrasnica50.
Otra variacin es la TI lockin termoinductiva que excita corrientes de Eddy en
materialesconductoresmedianteunabobinadeinduccin.
Termografa de lazo cerrado51

La termografa de lazo cerrado o termografa modulada, ms conocida como
lockin thermography, est basada en la generacin de ondas trmicas en
49
Existe tambin la posibilidad de usar pistolas de aire caliente o de fro para la excitacin remota
de un frente trmico en materiales. Sin embargo, en estos casos, se tratara de una transferencia de
calor a travs del mecanismo de la conveccin sin conversin entre diferentes tipos de energas.
50
Puede conseguirse una variacin de la termografa lock-in ultrasnica utilizando un pulso
ultrasnico en vez de una excitacin continua. Esta tcnica es denominada Ultrasound Burst Phase
Thermography.
51
Otros trminos comunes, en ingls, que designan esta tcnica y pueden ser encontrados en la
literatura son, entre otros: Modulated Thermography, Phase Angle Thermography y Photothermal
Thermography o Radiometry.
-140-
ANEXOS
rgimen permanente en el interior de la muestra bajo estudio. Fue descrita por

primera vez por Carlomagno y Berardi [Carlomagno, 1976] y posteriormente
desarrolladapormuchosotrosautores.
Setratadeunmtododemedidadinmicodondelaexcitacinexternaes
generada en forma de una funcin sinusoidal mediante lmparas halgenas,
lseres o pistolas de aire caliente. La onda trmica que aparece en la superficie
del material se propaga hacia el interior y es reflejada cuando alcanza partes
dondelosparmetrosdetransferenciadecalorcambian(inhomogeneidades).La
onda reflejada interfiere con la onda superficial dando lugar a un patrn de
interferencia oscilatorio que puede ser medido en trminos de amplitud y fase.
Intuitivamente,laposibilidaddevisualizardefectosenunmaterialdependede
la diferencia en las propiedades trmicas del material y de las
inhomogeneidades. Si la diferencia es demasiado pequea, el contraste de las
imgenes que obtengamos no va a ser bueno y peor conforme el defecto est a
mayorprofundidadacausadeladifusintrmicaenelmaterial.Nosiemprela
limitacin es sta, si se inspeccionan materiales con una gran conductividad
trmicalapropagacindelasondastrmicasseproducetanrpidamentequeel
contrasteserpequeo.
A la serie de imgenes capturadas se le aplica la transformacin de
Fourier, obtenindose los datos de la evolucin en fase y amplitud de la
temperatura.Laamplitudylafasedelarespuesta,tambinsinusoidal,dependen
fuertemente de la frecuencia de la excitacin. Es un buen indicativo de la
sensibilidaddeestatcnicaperoasuvezrepresentaunadelaslimitacionesms
fuertes de su aplicacin. Por ejemplo, en el caso de un slido semiinfinito
sometido a una variacin peridica de su temperatura superficial de frecuencia
w,elestudiomatemticosevuelveunidimensionalylaamplituddelavariacin
delatemperaturaresultantedisminuyeexponencialmenteamedidaquepenetra
en el slido a razn z w
donde z es la profundidad y la difusividad
trmicadelmaterial.Estoindicaque,amayorfrecuencia,mayoratenuacinsufre
laondatrmicayporlotantoserestringeelanlisisaunareginmscercanaa
la superficie. El rango de profundidades ha sido estimado en , la longitud de
difusintrmica,paralasimgenesdeamplitudyen1.8paralasimgenesde
fase[Busse,1979].
Elcasodeestudiodelatransferenciadecalorenunslidosemiinfinitoes
elmssencilloalsimplificarlasecuacionesdesumodelado.Lasolucinparauna
onda trmica sinusoidal peridica propagndose a travs de un material
homogneoysemiinfinitopuedeexpresarsecomo[Sigals,2003]:
z 2z
cos
T (z , t ) = T0 exp
wt
B.1
calor,w[rad/sg]eslafrecuenciademodulacin, [m]eslalongituddeonday
[m]lalongituddedifusintrmica.

-141-
Se observa que el anlisis es realizado nicamente a la frecuencia de la

excitacin y en una situacin estabilizada (rgimen permanente o estacionario).
Se trata por lo tanto del anlisis de un acoplo coherente de ondas. La
terminologalockinvienereferidaaesanecesidaddecontrolarladependenciaen
eltiempoentrelatemperaturaregistradaconelsistematermogrficocomoseal
de salida y la seal de referencia o entrada que alimenta los equipos de la
excitacin. As, es necesaria, por lo menos, la medida de un ciclo entero de
excitacinparapodereliminarprecisamenteesepatrnsinusoidaldelacoleccin
deimgenescapturadas.
Enresumen,lasgrandesproblemticasdelatecnologadelatermografa
de lazo cerrado son que requiere como mnimo la observacin de un ciclo de
modulacinyquecadaensayoesrealizadoparaunafrecuenciaestudiandouna
profundidadcadavez,loqueaumentaeltiempodeinspeccin.Enelanlisisde
un espcimen, varias experiencias deben realizarse para cubrir todo el espesor
del mismo. As, se suele empezar con un primer test cubriendo los defectos a
menorprofundidadconunaaltafrecuenciay,progresivamente,sereducedicha
frecuencia hasta que todo el espesor ha sido barrido o se alcance la mnima
frecuenciadisponibleenelequipo.Constantementeesnecesariaunasolucinde
compromiso ya que para inspecciones ms profundas sern necesarias
frecuencias ms bajas y por lo tanto mayores tiempos de ciclo. Sin embargo, su
gran resolucin trmica al reducir el ruido en la imgenes (caracterstica de los
sistemas lockin), la posibilidad de ajuste en funcin del material y la ayuda de
poder realizar variaciones de frecuencia suficientes como para barrer cada
profundidad permiten utilizar esta tcnica para la realizacin de tomografas
trmicas.
Termografa pulsada52
Basada en pulsos de energa luminosa, la excitacin trmica por termografa
pulsadasehaconvertidoenlaherramientamscomnyconocidadelastcnicas
deensayosnodestructivosbasadosentermografa.Laduracindelpulso(enel
rango de los milisegundos) est indicada para la inspeccin de materiales con
unaaltaconductividadtrmica,previenedeprovocardaosaloscomponentesy
contribuye a que el proceso de inspeccin pueda ser considerado rpido.
Potentes flashes, utilizados igualmente en fotografa profesional, generan
incrementostrmicosdeunasdecenasdegradoscomomximoenlasuperficie
delosmateriales,valoresmsquesuficientesparaquepuedapercibirsedurante
untiempolaconduccindelcalorenelmaterialylareflexin(sihubiera)delas
ondas trmicas ante la presencia de discontinuidades en el material. La
temperaturadelmaterialcambiarpidamentesegnelfrentetrmicoaplicadose
propaga por difusin bajo la superficie y tambin a causa de las prdidas por
conveccin y radiacin. La presencia de un defecto reduce el ratio de difusin
produciendouncontrasteenlatemperaturasuperficialsobreesepuntounavez
que el frente trmico le alcanza. De esta manera, el contraste de defectos ms
52
Su terminologa inglesa aparece igualmente recogida en la literatura como: Pulsed Video

Thermography (PVT), Transient Thermography, Flash Thermography, Pulse-Echo Thermography
and Thermal Wave Imaging.
-142-
ANEXOS
profundos aparecer ms tarde y con menor diferencia de temperaturas. De

hecho, el tiempo al que se observa el contraste es proporcional, en primera
aproximacin,alcuadradodelaprofundidad.
Matemticamente un pulso puede ser descompuesto en componentes
sinusoidales (principio de superposicin en el que una onda puede ser
aproximada por la suma de mltiples armnicos de diferente frecuencia; series
deFourier).As,laexcitacintrmicadelasuperficiedeunmaterialmedianteun
pulsoescomosiseexcitarasimultneamenteconnumerosasondastrmicasde
diferente frecuencia. Esto invita a pensar en los beneficios de esta tecnologa
frente a la termografa de lazo cerrado vista anteriormente. Ms all, slo
idealmente,unadeltadeDiraccorresponderaconunlmite,eldeunpulsocuya
duracintiendeaceroyqueeneldominioespectralcorresponderaalaemisin
en todas las frecuencias posibles. Esta ltima faceta es explotada por la
TermografaPulsadadeFase(PulsedPhaseThermography(PPT)),unadelastcnicas
deanlisisdedatostermogrficosmsconocidas.
Denuevo,considerandoelcasodeestudiodelatransferenciadecaloren
un slido semiinfinito como el ms sencillo al simplificar las ecuaciones de su
modelado,lasolucinparaunaondatrmicapulsadapropagndoseatravsde
unmaterialhomogneoysemiinfinitopuedeexpresarsecomo[Carslaw,1986]:
T (z , t ) = T0 +
z2
exp
kc pt
4t
Q
B.2
calor, Q (J/m2) es la energa absorbida por la superficie, k [W/mK] la
conductividad trmica, [kg/m3] la densidad del material, cP [J/kgK] el calor
especficoydonde=k/(cP)[m2/sg]esladifusividadtrmica.
Enestecasoseobservaqueelanlisisserealizaenunestadotransitorio.
Es por lo tanto de vital importancia la velocidad en la captura de los mapas
trmicos y el detalle de cmo debe ser la secuencia capturada para evitar en la
medida de lo posible la prdida de informacin. De hecho, las capturas deben
recoger una imagen fra que es aquella en la que el contraste trmico producido
annohaalcanzadolasuperficiedelamuestrabajoinspeccinyqueresultade
inters al permitir eliminar reflexiones espurias debidas a variaciones de
emisividad.Enlosinstantesinmediatosyposterioresalaentradaencontactodel
frente de excitacin con la superficie del material ser posible la deteccin de
imperfeccionesenelinteriordelmaterialsegnelfrentetrmicosepropaguey
difundaporelmismo.
Termografa de pulso largo

Aligualqueenelcasodelatermografapulsada,latermografadepulsolargoo
stepheatinganalizalatransferenciadecalorenunslidoensuestadotransitorio.
Durante varios segundos se excita la superficie de un material de forma
constante con una fuente de calor (o fro) y se observa la evolucin de la
temperaturasuperficial.Pasadoeltiempodeduracindelpulso(muchomayor

-143-
queenelcasodelatermografapulsadacomnmenteutilizada),elenfriamiento
delmaterialtambinesrecogido.
Paracompararlasdiferentestermografas,laformulacindetransferencia
de calor, considerando el caso de estudio de un slido semiinfinito, puede
expresarseenestecasocomo[Almond,1996]:
T (t ) = F (t ) (t )F (t )
2Q t
F (t ) =
k
B.3
dondeF(t)correspondealarespuestatrmicadebidaaunaexcitacincontinua
planadelasuperficieyk,Qy denotandenuevolaconductividadtrmica,la
energaabsorbidaporlasuperficieyladifusividadtrmicacomoenlaecuacin
B.2.
De la ecuacin anterior puede extraerse que la diferencia entre las
excitacionesconpulsoslargosocortos(aquellosconunaduracindelordende
milisegundosusadosentermografapulsadaoflashthermography)nosloreside
en cmo la cantidad de energa es liberada (instantneamente o distribuida de
alguna forma en un tiempo mayor) sino que adems reside en las diferentes
condiciones de contorno que ocurren en los procesos de calentamiento y
enfriamiento. Usando un frente trmico de calor, se puede lograr con ambos
mtodos un calentamiento superficial de similares caractersticas pero, sin
embargo,enelinstanteenelqueelenfriamientoempieza,ladistribucindelas
temperaturas en el interior del material es muy diferente. Mientras para la
termografapulsadaelrestodelespcimenpermaneceaunatemperaturainicial
uniforme, en la termografa de pulso largo ya existe un gradiente cuando el
enfriamiento o cese de excitacin se produce. Estas condiciones cambian
totalmente el modelado de tales experiencias y, en consecuencia, el anlisis del
material.
B.7
Referencias
[Almond, 1996] D.P. Almond, P.M. Patel, Photothermal Science and Techniques, Chapman &
Hall, 1 edicin, 241 pginas, 1996.
[Busse, 1979] G. Busse, Optoacoustic phase angle measurement for probing a metal, Appl. Phys.
Lett. 35 (1979) 759760.
[Carlomagno, 1976] G.M. Carlomagno, P.G. Berardi, in: C. Warren (Ed.), Unsteady
Thermotopography in Non-Destructive Testing, Proceedings of the III Infrared
Information Exchange, St. Louis, 1976, pp. 3340.
[Cuccurullo, 2002] G. Cuccurullo, P. G. Berardi, R. Carfagna and V. Pierro IR temperature
measurements in microwave heating, Infrared Physics & Technology, Vol. 43, Issues 3-5,
pag. 145-150, 2002.
[Dillenz, 2000] A. Dillenz, D. Wu, K. Breitrck, and G. Busse, Lock-in thermography for depth
resolved defect characterisation, Proceedings of the 15th World Conference on NonDestructive Testing in Rome, 2000.
[Holst, 2000] G.C. Holst, Common sense approach to thermal imaging, Copublicado por JCD
Publishing y SPIE- The International Society for Optical Engineering, 377 pginas, 2000.

-144-
ANEXOS
[Kaplan, 1999] H. Kaplan, Practical applications of infrared thermal sensing and imaging
equipment, Segunda Edicin, Tutorial Texts in Optical Engineering, SPIE PRESS, Vol.
TT34, 164 pginas, 1999.
[Maldague, 2000] X. Maldague, Applications of infrared thermography in nondestructive
evaluation, Trends in optical non-destructive testing and inspection, editors P. Rastogi y
D. Inaudi, Elsevier, pginas 591-609, 2000.
926 pginas, 2003.
[Webster, 1999] Varios autores, Temperature Measurement, Mechanical Variables Measurement
Thermal, editor J.G. Webster, The measurement,instrumentation and sensors handbook,
Copublicado por CRC Press LLC y Springer-Verlag GmbH & Co. KG, USA, 1999

-145-
C Aplicaciones industriales de la termografa

infrarroja en las que el autor ha colaborado
Lacadavezmayorcalidaddelosproductossolicitadaporlosconsumidoresalos
fabricantes de los mismos y la estandarizacin, definicin y certificacin de la
mismaenfuncindeunasnormas,conduceaunmayorcontroldelastareasde
produccin.Paralograrquelosproductosfabricadostenganelmenornmerode
defectos,oqueestnlibresdeellos,yque,conjuntamente,laproductividadseala
mselevadaposible,resultaestrictamentenecesarioelcontroladecuadodetodas
y cada una de las fases del proceso de produccin. Para ello es necesario el
controloptimizadodetodoslosparmetrosqueintervienenenlosmencionados
procesos de produccin y, siempre que sea posible, establecer estructuras
inteligentes o estructuras que tienen capacidades integradas de sensorizacin,
detomadedecisiny,apartirdeella,deactuacin.
En este anexo se presentan las contribuciones ms relevantes obtenidas
como consecuencia de los trabajos desarrollados en proyectos en entornos
industriales en los que el autor ha intervenido. Cada una de las diferentes
aplicaciones involucra la adecuacin y fusin de los conocimientos tanto del
procesocomodelainspeccintermogrficaensmisma.
C.1
Proyecto SOTEPAC53
Lamedidadetemperaturaenlafabricacindelaceroresultadegranimportancia
ya que, cualquiera que sea el proceso de obtencin de la colada, materia prima
del proceso de fabricacin del acero, horno elctrico de arco o convertidor, su
pasoaestadoslidoserealizaatravsdeloquesedenominamquinadecolada
continua, ver Figura C.11. En este tipo de instalaciones, el acero lquido
Figura C.1-1. Vista general de la mquina de colada continua.
53
PROYECTO: Sensor de fibra ptica multipunto para el monitorizado de altas TEmperaturas

en procesos de Produccin de barras de Acero en mquinas de colada Continua (SOTEPAC).
-147 -
depositado en un recipiente cubierto de material refractario denominado

cuchara, se encuentra sometido a una temperatura entre 1550C y 1620C.
Durante el proceso, el acero va solidificando y adquiriendo la forma requerida
paraunaposteriortransformacin,comnmentellamadaspalanquillas.Aspues,
haymquinasdecoladacontinuaquefabricanseccionescuadradas(entre100y
180mmdelado),seccionesredondasyseccionesrectangulares.Lasdimensiones
dependendelproductofinal.
Motivacin
Entodosloscasos,elacerolquidoesenfriadoatravsdeunosmoldesdecobre
queleconfierensuformafinalyposteriormenteatravsdeaguaapresinque
incideensusuperficie.Elpasodelacerolquidoaslidodebeverificarsedeuna
formacontrolada.Suvelocidaddeenfriamientoesdecisivaalahoradeobtener
unaestructurametalogrficaadecuada,unanlisishomogneoentodalamasa,
yunestadosuperficialenelqueaparezcangrietasuotrosdefectosocasionados
porenfriamientosnocontrolados,ascomounadegradacindelascaractersticas
delaceroresultante.
Estecontroldelasolidificacinyelenfriamientoposterioresnecesarioen
todos los aceros, pero hay algunas gamas en las que es ms crtico (aquellos
aceros con porcentaje de carbono superior a 0,75%). En la velocidad de
enfriamientoinfluyenfundamentalmentetresfactores:
Temperatura del acero lquido lgicamente cuanto ms alta sea la

temperaturadelacerolquido,mstardarenenfriarse.
Lacantidaddeaguaderefrigeracinqueseutilicetantoenelmoldede
cobrecomoenlaszonasposteriores.
Lavelocidaddeextraccindelasbarrasopalanquillasoproductosde
coladacontinua.
De estos factores el primero, una vez que el acero est elaborado en la

cuchara, es prcticamente imposible de variar, por lo que se riega con una
cantidaddeaguaestimadaapriorimanteniendounavelocidaddeextraccin
determinada. Esta ltima, por imperativos de productividad, debe mantenerse
dentrodeunoslmitesqueevitenlasparadasdelaplanta.Lacantidaddeagua
influyeasdecisivamenteenelprocesodeenfriamientoy,consiguientemente,en
elresultadofinaldelproductoporloqueseramuydeseablecorrelacionarlacon
elrestodelosparmetrosqueintervienenenelprocesoglobaldeenfriamiento.
Latemperaturadelasbarrasalsalirdelamquinadecoladacontinuaes
un parmetro a travs del cual se considera que se puede efectuar una buena
refrigeracinymantenerunavelocidaddeenfriamientoadecuadaqueoptimice
tanto la calidad como la productividad. Segn los expertos de este tipo de
industria, si se consigue monitorizar y medir (con la fiabilidad, velocidad,
exactitudesyprecisionesrequeridas)latemperaturaenlasbarrasensuproceso
inicial de enfriamiento se logra tericoexperimentalmente deducir el
enfriamiento optimizado del proceso de produccin de las barras y a travs de
ello,deunaformainmediata,actuarsobrelacantidaddeaguaderefrigeraciny

-148-
ANEXOS
establecer la deseada estructura inteligente que optimiza automatizadamente el

procesodeproduccin.
A lo largo de los aos se han venido haciendo intentos de medir las
mencionadastemperaturas,pormediodepirmetrospuntuales,perosufaltade
fiabilidad,precisin,exactitud,lacortadistanciadelcanaldecomunicacinentre
eltransductorylaelectrnicaunidoaunconsiderablecoste,hanmotivadoque
en la actualidad, a lo largo y ancho del mundo en este tipo de industria
siderrgica,seestfabricandosinningnsistemademonitorizadoenlneayen
tiempo real. Desde un punto de vista industrial, los sensores de fibra ptica
conllevanventajascomoconsecuenciadequeofrecenunaexcelentesensibilidad,
un buen rango dinmico, suelen ser compactos, se realizan basndose en
materiales aislantes, pueden tener canales de comunicaciones muy largos y,
potencialmente,puedenofreceruncostemuyefectivoporpuntodemedidaas
como una fiabilidad adecuada. Algunas de las aplicaciones ya demostradas se
centran en entornos hostiles, donde puede haber altas temperaturas, materiales
corrosivos,altasinterferenciaselectromagnticasyposibilidadesdeexplosiones,
entreotras.Enlamedidadealtastemperaturas,dadoqueelpuntodefusinde
la fibra ptica es alto e incluso puede ser elevado con la fabricacin de fibras
especiales,lossensoresdefibrapticasevislumbrancomounaclaraalternativa
pararesolverlasdesventajasquelostradicionalespresentan.Elsistemasensorde
fibra ptica SOTEPAC desarrollado y probado en las instalaciones de Global
SteelWireS.A.sehavislumbradocomounadelassolucionesmsviablesala
problemticanoresueltaquesehaplanteado.
Principios fundamentales del sistema sensor

Latermografaomedidadelatemperaturasincontactosebasaprincipalmente
enlaradiacinptica,cmoseproduceycmointeractaconlamateria.Varios
trabajos se han efectuado para demostrar dispositivos que midan y conviertan
esta radiacin de tipo calorfico en informacin til para resolver problemas
como la identificacin de anomalas en superficies calientes o en procesos de
controldeenfriamientodesuperficies.
La radiacin ptica entendida como una forma de energa del espectro
electromagntico que puede ser caracterizada por ondas o partculas llamadas
fotones. La ms conocida forma de energa electromagntica es la luz visible,
aunque su forma incluye las ondas de radio, rayos ultravioletas, gamma o X.
Todasestasformasdeenergasonsimilaresyradiandeacuerdoaunateorade
ondasbsica.Comoesconocido,cadaradiacinpticallevaasociadaunaenerga
y, consiguientemente, una radiacin de frecuencia diferente, pudindose, por
tanto, afirmarse que la energa radiada por un cuerpo depende de su
temperatura y de su capacidad para radiar. A travs de las radiaciones de un
cuerponegrosepuedenmedirtemperaturasabsolutas.Lasprincipalescausasde
erroresenlamedidautilizandoesteprincipiofsicoson:laemisividaddelobjeto,
que depende del material y de su superficie; desalineamientos pticos desde el
puntoemisorylacabezasensora,ylapresenciadeabsorcinentreelobjetoyel
detector (incluido el canal de transmisin de la seal ptica a su punto de

-149-
a)
c)
b)
Figura C.1-2. a) Vista lateral y b) frontal de la lnea de produccin 6 de la acera de GWS c) Termografa donde se procesa
la temperatura en tres puntos del perfil de la palanquilla.
procesado),ascomolaeleccindelosmaterialesadecuadosparaelentornode
trabajoenelquelamedidaseproduce.
Resultados y trabajos realizados

Tras unos estudios preliminares y la definicin de especificaciones para el
sistema sensor se concretaron los parmetros que degradan y dificultan la
medida correcta a travs de otros mtodos que no resolvieron la problemtica
siendoestos,principalmente,laabsorcinatmosfrica,ladistanciadelobjetivo,la
variacin o desconocimiento en el valor de emisividad del dispositivo y la
fiabilidad del sistema en un entorno tan hostil, con altas temperaturas y alto
grado de humedad. De su hostilidad da una idea grfica la Figura C.12.. Las
preespecificaciones tcnicas inherentes al problema a solucionar se pueden
resumirprincipalmenteen:
Rangodetemperaturaamedir:
850C1200C
Resolucindepresentacin 1C
Exactitud
1%
Tiempodemuestras 2s
Tamaodepalanquillas
180x180mm

-150-
ANEXOS
b)
a)
Figura C.1-3. a) Aproximacin grfica a la idea de transductor. b) Transductor real desarrollado.
Desde estas premisas se procede a construir un transductor totalmente

pasivo cuyos componentes son fibras de vidrio, cermicas, xidos y alminas
varias preparadas para trabajar sin deterioro hasta 2000C. Aprovechando las
propiedades de inmunidad electromagntica y otras de proteccin que posee la
fibraptica,lainformacineneldominiofotnicosetransportahastalaunidad
optoelectrnica situada dentro de una zona acondicionada, lejos de las
condiciones hostiles de las lneas de produccin y junto a los otros sistemas de
control.
Eldiseodeltransductorenglobaaspectosmuyvariados,desdeestudios
sobre transferencia de calor, estudios de materiales que soporten altas
temperaturas con valores de emisividad diferentes, a esmaltes protectores de
humedad, adems del uso de fibras pticas especiales. Observando las severas
condiciones de trabajo, del transductor, se procede a disearlo utilizando
elementos totalmente pasivos, capaces de soportar altas temperaturas sin
necesidadderefrigeracin,porserstaunadelasdificultadespreviasqueGSW
identifica y que inhabilita el uso de pirmetros comerciales. Inicialmente, el
transductor mide en tres puntos extremocentroextremo de la palanquilla, con
unaspectocomoeldelaFiguraC.13,dondelospuntosdecolorgrisoscurosson
loselementostransductores,convenientementeaisladosentresiporunmaterial
representado por el color gris, y protegido todo por lo representado con color
azul.
El transductor est constituido simplemente por fibras pticas con sus
extremos pulidos e integradas en una estructura de materiales cermicos y
hormign para que adquieran tanto rigidez como resistencia a golpes y otros
imprevistos que por su localizacin en la lnea de produccin puedan ocurrir y
daarlo.Dadoqueelobjetivomedianteestaconfiguracineslacaptacindela
radiacininfrarrojaemitidaporelobjetoquesequierecaracterizar,seconsideran
los factores que intervienen sobre el espectro de radiacin respecto del que
presenta un cuerpo negro. Se encuentra que el cuerpo emisor presenta una
emisividad superficial que vara con la longitud de onda, la ventana de
-151-
transmisin del aire ante el infrarrojo cercano o las reflexiones de Fresnel en el

extremodelapropiafibraptica.
Otro de los factores que se tiene en cuenta en el diseo es la apertura
numrica de la fibra que, en funcin de la distancia a la que se encuentre el
objeto, da idea de la superficie emisora que cubre el cono de aceptancia y, por
tanto,delapotenciaqueentraenlafibra.Siempreycuandosepuedaconsiderar
la superficie emisora como infinita respecto a la superficie receptora de la
radiacintrmica,lapotenciacaptadaporstaesindependientedeladistanciay
delngulodealineamientoentrelassuperficies.LadistanciainfluyeenelFOV
(FieldofView)deltransductorylaanteriorindependenciasloseproducesila
superficie termalmente uniforme es mayor que el rea cubierto por dicho FOV.
En estas condiciones, se encuentra que la potencia captada por una fibra es
independientedeladistanciaydelainclinacinquetengarespectoalanormala
lasuperficiededondesequierecaptarlaradiacinyquepuedeserdeterminada
matemticamente, desde el conjunto de ecuaciones geomtricas que describen
estecomportamiento.As,seobservaquelapotenciadependernicamentede
losparmetrosdediseodelafibraquedeterminarnlosngulosdeincidencia
mximadelaluzquepodrguiarse.Estollevaadefinirparmetrostalescomo
dimetrodencleodelafibra,distanciaptimadeltransductoralobjetivo,etc.
Ladependenciadelaemisividadseresuelvededosformas:i)usandolo
conocidocomopirometradedoscolores,esdecirusandodoszonasespectrales
diferentes y midiendo la radiacin en cada una de ellas para, en funcin de su
relacin, poder determinar temperatura real, ii) enviando a travs de otra fibra
un haz lser pulsado sobre el objetivo, de manera que se obtiene dos medidas:
unacuandoellserestaemitiendoyotracuandoellsernoirradia.Lacorrecta
interrelacinpermitedeterminarlatemperaturadelobjetivoylaemisividaddel
mismo[Madruga,2001OdimapIII].
Las difciles condiciones de trabajo del transductor hacen necesaria su
proteccin; i) incrustndolos en un material soporte cermico que soporta
temperaturasdetrabajosuperioresa2000Csindeterioro,ii)utilizandouncristal
vitrocermico que adems de ideal para el entorno de trabajo, protege los
extremos de fibra, parte muy dbil del sistema, y presenta una transmisividad
quenoafectaalaslongitudesdeondadeintersparaeltransductor,iii)conun
esmalte cermico para proteger el transductor de accin del la humedad y el
agua.
Por tanto, el transductor completo desarrollado mostrado en la Figura
C.13b,
Triplicaelnmerodecabezassensorasenuntransductordeunapieza.
Protege las cabezas tanto desde un punto de vista trmico mediante
materiales ya mencionados y usados como con un material soporte, que
haga el transductor robusto, ante el entorno hostil de trabajo y ante la
manipulacindepersonalnoespecializadoconlatecnologadefibra.
Elsistemautilizafibrapticacomocanaldetransmisinocomunicacin
entreeltransductorylaunidaddeprocesadoy,porlotanto,trabajaenalgunade
-152-
ANEXOS
b)
a)
c)
Figura C.1-4. Unidad optoelectrnica para obtener la medida de temperatura en el proyecto SOTEPAC. A) Vista general b)
Vista del interior de la unidad donde se aprecian las tres placas de circuitos esclavos (una por cada transductor), conectadas
a la placa que opera como maestro y que interconecta todo con el PC empotrado c) pantalla capturada del PC empotrado.
lastpicasventanasdecomunicacionespticas(dondelaatenuacindelafibraes
ms baja) con el fin de poder instalar la electrnica, la parte de ms delicado
comportamientotrmico,enzonaslomasalejadasposiblesdeltransductoryen
condiciones de temperatura y de humedad normales (e incluso en zonas de
posible acondicionamiento). El sistema sensor completo desarrollado tiene un
canaldefibramultimododeaproximadamenteunos35metros.
Launidadoptoelectrnicadiseada,hasidodesarrolladaycaracterizada,
completamente, en el Laboratorio de Ingeniera Fotnica de la Universidad de
Cantabria, incluyendo sus algoritmos de compensacin de errores y de todo lo
concerniente al acondicionamiento, tratamiento y visualizacin de la
informacin. El error mximo del sistemase sita en valores inferiores al 0.8 %
[Madruga, 2002ECNDT]. Los algoritmos incluyen todo lo inherente a la
compensacin de errores en la medida en altas temperaturas sin contacto, tales
como absorcin atmosfrica, distancia de objetivo, variacin o desconocimiento
en el valor de emisividad del dispositivo, ecualizacin de los efectos del canal
airefibra,solapamientodelespectroemitidoyresponsividaddelosdispositivos
dedeteccin.
La unidad optoelectrnica, que se puede observar en la Figura C.14, se
basa en una arquitectura maestroesclavos, donde el papel del primero es
ejercidoatravsdeunPCempotradoquegestiona:
Toda comunicacin externa e interna del equipo. Pantalla, teclado,

puertos,yenvointernodedatosentreplacas
Elalmacenamientodelosdatosylageneracindehistricos.
mientras que los mdulos esclavos realizan la deteccin, acondicionamiento y

procesadodelosdatos,ademsdelenvoderesultadosalmaestrocuandostese
lo pida. Esta arquitectura fue considerada las ms flexible y econmica ya que

-153-
permite incrementar el nmero de esclavos en funcin del nmero de cabezas

transductoras que se quieran usar, compartiendo el maestro, la parte ms cara
delsistema.
Todoelprocesadodedatosypresentacinderesultadosserealizaconun
microcontroladorPIC16C876.Permiteestablecerdeformaautomticarangosde
gananciaadecuadosenelamplificadordedeteccinydeestamaneraotorgarcon
mayor precisin a la medida. La deteccin de luz se realiza a travs de un
detectortiposndwichelcualpermiterealizardosmedidassimultneasendos
rangosdelongitudesdeondadiferentes,cadaunodeloscualesllevasupropia
electrnica de deteccin y acondicionamiento para ser procesada mediante la
tcnica de pirometra de dos colores. Valores aadidos a la unidad
optoelectrnica son el almacenamiento de datos para generar histricos, la
comunicacin externa, las facilidades de impresin de datos, la reprogramacin
sencillayunainterfazamigableparaelusuario.
Calibracin en laboratorio y prueba de campo

Utilizando un soporte metlico con guas para posicionar perfectamente el
transductor a varias distancias y con ngulos de inclinacin diferentes se ha
estudiado el comportamiento del sistema sensor a diferentes distancias adems
desuvariacinenngulo.Numerosaspruebasfueronrecogidassiendolasms
relevanteslaspresentadasenlaFiguraC.15.Laestabilidaddelsistemahasido
medida en laboratorio, fijando un objeto a una temperatura de 1100C y
reproduciendo la medida del sistema durante unas 12 horas. La variacin del
sistemahasidode3C,cometiendounerrorrelativoenlamedidadeun0,72%.
Cabesealarquelafuentedecalibracindecuerponegroutilizadapresentauna
exactitudde3Cyunavariacinde1Ccada8horas.

-154-
ANEXOS
5
4
3
a)
Variacin medida %
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
0
10
Distancia transductor-objetivo(cm)
6
a 975
a 900
a 1025
a 1000
b)
variacin medida %
a 1075
3
-1
-2
-6
-4
-2
ngulo
Figura C.1-5. Variacin de medida del transductor en funcin de la distancia a) y el ngulo b).
El sistema ha sido instalado en la lnea de produccin numero 6 de la

acera que la compaa Global Steel Wire S.A. tiene en el polgono de Nueva
MontaaenlacercanasdeSantander,durantelaparadatcnicasemanaldelda
11 de octubre de 2001 [Madruga, 2002OFS]. Para el posicionamiento del
transductorseutilizunavigaenformadeTdiseadayconstruidaporpersonal
de la empresa con una base perfectamente amoldada para sostener en
transductorydotadadeunasfacilidadesparacontrolartantoladistanciacomola
posicinangulardeltransductor.

-155-
1150
Transductor Central
1100
Temperatura (C)
Transductor Superior
1050
1000
950
900
21:07:12
21:36:00
22:04:48
22:33:36
23:02:24
23:31:12
0:00:00
0:28:48
Figura C.1-6. Medida en campo de dos canales del transductor durante un intervalo de tiempo. Se recoge la parada tcnica
producida en torno a las 22:25h para la reposicin de la cuchara. Las variaciones en la temperatura recogida estn dentro de
la normalidad, correspondiendo las diferencias de alrededor de 50 C entre el transductor superior y el central con aquellas
observadas en otro momento, Figura C.1-2.c , cuando se usaron cmaras termogrficas.
Los resultados sobre las medidas obtenidas fueron cotejados con los
registrosdefabricacindondeseespecificantodoslosparmetrosdefabricacin,
temperatura de la colada, velocidad instantnea de la maquina de colada
continua,sustitucindelacuchara,findelacolada,caudaldeaguadelacmara
deenfriamiento,etc...,conelfindeobservarelcorrectofuncionamientodesdeun
punto de vista cualitativo. La Figura C.16 muestra el histrico de medidas
correspondientes a un da con parada tcnica, donde muestra un reinicio de
produccinyuncambiodecuchara.Lasdiferentesmuestrasdetemperaturahan
sido obtenidas con un intervalo de tiempo de 2 segundos entre ellas, siendo la
velocidaddelamaquinadecoladade1.5m/min.
C.2
Proyecto ECOPLEI54
Lagestindedesechosradiactivosdealtaactividadesunaproblemticaanivel
mundialtratadaysolucionadaenconjuntoentrelosorganismoscompetentesde
pases que poseen centrales nucleares de potencia. El transporte y
almacenamiento de residuos nucleares provenientes de plantas de energa
nuclear,delcampodelamedicinaodelaindustriaarmamentsticaharesultado,
resultayresultaruncampodeinvestigacindeimportantesconnotacionespara
cualquier gobierno. El material radiactivo requiere su transporte desde los
suministradores a las instalaciones usuarias y posteriormente de los residuos
radiactivosgeneradosporstashastaloscentrosdetratamiento.Seestimaqueen
el mundo se efectan al ao decenas de millones de envos de material
54
PROYECTO: Estudio de viabilidad para monitorizar el proceso de enfriamiento del COlado de

PLomo en contenedores de combustible nuclear a travs de tcnicas de Espectroscopia Infrarroja
(ECOPLEI).
-156-
ANEXOS
radiactivo:tansloenlaComunidadEuropeaelnmerodebultostransportados
duranteunaosuperaelmillnymedio.
Lostransportesserealizanportierra,maryaireysuseguridaddescansa
fundamentalmente en la seguridad del embalaje que cumplir una serie de
exigencias en su diseo y procedimientos operacionales segn el riesgo del
material que se transporte. A partir de una determinada actividad del material
radiactivo (parmetro directamente relacionado con el riesgo) el bulto debe ser
capaz de resistir condiciones de accidente severo. El diseo de estos containers
debecumplirrigurosamenteconlasregulacionesqueenEspaacorrespondena
unaseriedereglamentosdeaplicacininternacional,basadosenelReglamento
para el Transporte Seguro de Materiales Radiactivos del OIEA. El Consejo de
Seguridad Nuclear (CSN) ha publicado un documento que informa
resumidamente de los requisitos que han de cumplir los diferentes tipos de
bultos,sudenominacinesSDB11.07:eltransportedelosmaterialesradiactivos.
Losobjetivosbsicosdelosrequisitosquelareglamentacinimponealos
contenedoresradiactivosson:
Lacontencindelosmaterialesradiactivosdentrodelosembalajes.
Elcontroldelaradiacinexternaenelexteriordelosbultos.
La prevencin de la criticidad cuando se transportan materiales
fisionables.
Evitarlosdaosdebidosalcaloremitidoporciertostiposdebultos.
Diseados para el confinamiento de radiaciones muy energticas, los

contenedoreshandeestarfabricadosdematerialesmuydensos,comoelplomoo
elhormign,barrerasdematerialescapacesdedetenerelpoderdepenetracin
delasradiaciones.
Motivacin
El proceso de construccin de contenedores nucleares conlleva un importante
controldelatemperaturasegnseenfralacoladadeplomoquelesdalaforma.
El objetivo es monitorizar e interpretar el proceso de enfriamiento del plomo, a
travs de termografa infrarroja, durante la fabricacin de contenedores
destinadosacombustiblenuclearenlaempresaENSA.
Una vez que el plomo es colado y est perfectamente distribuido en la
estructuraqueledaforma,comolapresentadaenlaFiguraC.21,stesufrede
unenfriamientoquehadesercontroladoparaevitarlageneracindeburbujasy
tensionesinternasquereduciranlacalidadcontenedoraderadiacindelmismo.
Elusodelatermografainfrarrojasepresentacomounasolucinapropiadaala
inspeccin trmica de toda la superficie (de varios metros de alta) permitiendo
unacorrelacinentreloqueocurreenelinteriordelaestructuraylatemperatura
superficial.Losdatosmsrelevantesaportadosporestatecnologapodranserel
gradiente de temperatura en cada fase de enfriamiento tanto transversal como
horizontalmente.

-157-
Figura C.2-1. Vista general de la colada de un contenedor nuclear. Se muestran los niveles discretos de aplicacin de calor
en estratos horizontales con los que se controla el enfriamiento de toda la pieza.

Existen dos tipos de procesos de enfriamiento en la fabricacin de estos
contenedoresnucleares:
Mediante agua y aire, siguiendo una lnea de abajo arriba de diferentes

estratosdefinidosenelcontenedorporlosarosdecalentamiento.
Global de todo el contenedor, evitando gradiente trmicos, que puedan
deformarelcontenedor.
Enamboscasos,laposibilidaddemedirlatemperaturadelcontenedorde
forma externa de forma precisa ser viable siempre que se disponga de una
medida de referencia para determinar las emisividades de los puntos a
considerar. Esta problemtica puede ser solucionada aplicando un spray de
pinturanegra,conemisividadaltayconocida,enlospuntosy/oreasdefinidos
comodeinters.Otraalternativapasaportomarcomoreferenciavaloresdelos
termoparesinstalados;queimplicaunerrorenlamedidaperonosuperioraun
23%,esdecir,inferiora9Cenelpeorcaso.
Adems, existe una incertidumbre generada por la aparicin de llamas.
Sinembargo,elefectodelasllamaspuedeserevitadoalaparecerzonaslibresde
ellas en el campo de visin entre la cmara y la superficie del contenedor, que
puedenserutilizadasparalamedida.Detodosmodos,lapresenciadellamasen
-158-
ANEXOS
a)
b)
Figura C.2-2. Colada de plomo del da 05/07/2002 a las 16:25 horas. Para su control se realizaron un total de 31 capturas
con intervalo de tiempo entre capturas de 2 minutos, desde unos 20 minutos antes del comienzo del vertido hasta 15
minutos despus. a) Evolucin temporal de la temperatura que presentan los puntos sealados en la figura b). Se observa el
aumento de temperatura debido a la transferencia de calor entre plomo y paredes que lo albergan. Se deduce por lo tanto
que el plomo vertido se encontraba a una temperatura muy superior a su punto de fusin y por lo tanto perfectamente
licuado. Adems tambin se determina la temperatura del contenedor previa al vertido, situndose entre 20 y 40 C por
encima de los 327C de la temperatura de fusin de plomo, lo que nos lleva a afirmar que el plomo no estar nunca
sometido a una temperatura inferior a la de fusin.
el campo de visin puede ser interpretada como una variacin cuasiperidica

(longitudinalmente)y,porlotanto,latemperaturadelobjetivoseestimadesdeel
valormedioymnimodeesafuncin.
Elprimerodelosprocesos,enfriamientoporestratos,consisteen:
Calentar completamente el contenedor a una temperatura de 340350C

antesdeiniciarelcoladodelplomo,comoseobservaenlasevoluciones
delaFiguraC.22.
Verter el contenido del plomo licuado entre las paredes laterales del
contenedor.
Mantener el contenedor a temperaturas superiores a la de fusin del
plomoparaconseguirunadistribucinuniformeyhomogneadelplomo
portodoelvolumen.
Proceder al enfriamiento desde la parte inferior del contenedor hasta la
superior de forma escalonada determinada por los aros; primero
eliminando la fuente de calor y enfriando por el paso de calor al aire y,
posteriormente,acelerndoloconagua.LaFiguraC.23recogeelcontrol
establecidoenesteproceso.

-159-
a)
b)
Figura C.2-3. a) Imgenes termogrficas de la estructura de colada de plomo siguiendo el proceso de calentamiento y
enriamiento por agua y aire y b) Evolucin temporal de los puntos seleccionados (de abajo arriba) en la primera de las
grficas de a). La medida de la zona inferior comenz el da 11/06/2002 a las 10:38 horas. Se realizaron un total de 131
capturas con intervalo de tiempo entre capturas de 4 minutos con lo que esta tarea termin a las 19:30. El seguimiento de
los puntos nos permite determinar las pendientes de cada segn la fase en la que se encuentren. Adems nos permite
determinar el paso por 327 C, punto de fusin del plomo.
Elsegundoprocesoconsisteen:
Calentar completamente el contenedor a una temperatura de 340350C,

conespecialincidenciaenlosmuones,zonasdondelasparedessonms
gruesasyademspresentanrecovecosdondefcilmentepuedesolidificar
elplomorpidamenteprovocandoporosoburbujas.
Verter el contenido del plomo licuado entre las paredes laterales del
contenedor.
Mantener el contenedor a temperaturas superiores a la de fusin del
plomoparaconseguirunadistribucinuniformeyhomogneadelplomo
portodoelvolumen.
Ir reduciendo de forma gradual la temperatura global del contenedor
evitando gradientes trmicos por encima de un valor determinado. La
Figura C.24 muestra tales evoluciones. Con ello se consigue que no se

-160-
ANEXOS
a)
b)
Figura C.2-4. Tras reducir la temperatura homogneamente durante 37 horas, a las 6:00 fueron apagadas todas las fuentes
de calor y el contenedor se enfra progresivamente por contacto con el aire. a) Evolucin temporal de la temperatura que
presentan los puntos sealados en la figura b). Se observa que previo a la desconexin de las fuentes de calor, la diferencia
trmica entre los puntos es menor de 20C.
produzcan fuerzas de dilatacin o compresin que deformen el

contenedor.
Laslimitacionesenlosresultadosvienendadaspor:
C.3
Elusodeunanicacmara,loquecondicionalavisindelpermetrodel
contenedoraaproximadamente1/3deltotal.
Lasuperficienoplanaamedir,queconllevaunavisinnoperpendicular
en toda la superficie objeto de la captacin, y con ello diferencias en la
emisividaddelosdistintospuntosdelaimagen.
La presencia de llamas entre la cmara y el objeto, lo que dificulta la
visin ntida del mismo, produciendo cambio de transmisividad en el
caminodecaptacindelaradiacin.
Propuesta de Proyecto EIKA
Los focos vitrocermicos son elementos que se integran en las encimeras de las
cocinasvitrocermicas,siendolafuentedecalordelasmismas.Deentrelostipos
existentes destacan los de fleje, elementos que consiguen un tiempo rpido de
encendido.Lacomprobacindelbuenfuncionamientodeestetipodefocollevaa
definir una serie de pruebas, entre las que se cuenta una inspeccin visual por
parte de un operario de la perfecta disposicin de fleje, as como de las grapas
quelosujetan.
Motivacin
Losdefectosmscomunessoninherentesalprocesodeproduccinysepueden
concluirentres,principalmente:
Faltadegrapas.
-161-
Figura C.3-1. Cocina de nico fleje con defectos naturales y otros inducidos artificialmente. Las fotos de las zonas
ampliadas estn acompaadas de nmeros que representan el tipo de defecto observado: 1) grapa deficiente que no est
correctamente anclada al sustrato; 2) unin de segmentos de fleje; 3) regin con el elemento resistivo flotando sin contacto
sobre el sustrato; y 4) regin donde el fleje est semienterrado en el sustrato.
Acumulacindeespirasenelfleje.
Faltadematerialocortesenelfleje.
La inspeccin visual permite determinar el primero de los tipos de

defectosdeunaformarelativamentesencillay,sloenalgunoscasos,losdems,
verlaFiguraC.31.Perotodaslasobservacionesdebenrealizarsedeformamuy
detallada y por lo tanto muy lenta. La necesidad de automatizar el proceso y
eliminarlacomponentehumanadedichoprocesoplantealaposibilidaddedar
solucinaesteproblemautilizandotcnicascomolatermografainfrarroja.

-162-
ANEXOS

Algunos de los tipos de defectos mencionados exhiben un comportamiento
trmicosimilarquesetraduceenunsobrecalentamientooenfriamientolocalen
elflejequeesfcilmentecaptadoporunacmarainfrarrojacomoseapreciaenla
Figura C.32. La razn de tales comportamientos es simple, una vez que se
analizan las condiciones de transferencia de calor para cada caso en particular.
As, la existencia de grapas es detectada por la ausencia de uniformidad a lo
largo del recorrido del elemento calentador presentando spots locales un poco
msfrosquesusalrededores.Estoesexplicadoporelhechodequelasgrapas
presentan un aporte extra de superficie en contacto con el aire y, por tanto, el
calor se disipa ms rpidamente. reas localmente ms fras tambin son
motivadas por estiramientos de las espiras del fleje. Por el contrario, reas o
puntos ms calientes de lo normal se corresponden con puntos en los que las
espiras se solapan o donde se produce una unin de tramos de fleje (son
soldados con un aporte de material extra que aumenta la resistencia y,
consecuentemente la temperatura, al paso de la corriente elctrica). Finalmente,
losefectosdeundeficientecontactoentreelflejeyelsubstrato,bienporfaltade
contacto bien por soterramiento del fleje en el substrato, provocan un
emborronamientodelaimageninfrarrojadeeserea(elefectodelaconveccin
delaireseacentaoseminimiza)mostrandovaloresdetemperaturamenoreso
mayoresdelohabitualrespectivamente.
La excitacin elctrica empleada puede ser controlada de diferentes
Figura C.3-2. Cocinas de a) doble y b) nico fleje. En la columna de la izquierda se provee una imagen en el rango
espectral del visible y en la columna de la iquierda un equivalente en el rango espectral del infrarrojo. Para la cocina de
fleje sencillo, la imagen visible se corresponde con la de la Figura C.3-1, mostrando la que est a su derecha, imagen
infrarroja, las reas seleccionadas como defectuosas en la Figura C.3-1.

-163-
Figura C.3-3. Conjunto de imgenes procesadas de temperaturas mxima (IMAX), mnima (IMIN) y media (IMEAN)
donde aparecen o no los defectos de la Figura C.3-1 lo que permite su anlisis y su posterior clasificacin.
formas.Sinembargo,ladetectabilidaddelosdefectosesmaximizadamedianteel
uso de transitorios ya que el sustrato es un material de alta capacidad trmica
que difumina el calor en toda la cocina ocultando las variaciones locales
predichasanteriormente.As,seusanexcitacionesenformaderampade150V
contiemposdesubidaybajadade10s(dutycycle=50%)llevandoalacocinaa
trabajar en un rgimen transitorio muy lento con variaciones trmicas lo
suficientemente altas como para producir contraste entre los elementos
defectuosos y su entorno [Gonzlez, 2005NDTE]. De igual forma, se usan
transitorios de alta velocidad de respuesta casi impulsional, 0.1 s, que
administran la energa suficiente para que la cmara infrarroja sea capaz de
captarloscontrastesentrelosdefectosylaszonaslibresdedefectos[Gonzlez,
2005Varsovia]. El beneficio de esta ltima forma de excitacin, adems de una
menor energa consumida, radica en el tiempo requerido para la inspeccin, la
condicindeseguridadenlainspeccinquedaelnoalcanzaraltastemperaturas
ylamenordegradacindelproductocomoconsecuenciadeluso.
La deteccin de los defectos es apoyada por procesados especficos que
simplifican la toma de decisin sobre el origen de las anomalas. Por ejemplo,
examinando el conjunto de imgenes de la temperatura mxima, mnima y el
valormedioalcanzadoporcadapxel(FiguraC.33)oanalizandolaspendientes
(velocidad) de calentamiento y enfriamiento en el caso de una excitacin en
forma de rampa, como anteriormente se present, se obtiene adems una
clasificacin de los defectos [Gonzlez, 2005NDTE]. Para el caso de una
excitacin impulsional, el estudio del histograma en cualquier imagen ya sea
durante la etapa de calentamiento o durante la etapa de enfriamiento arroja la
misma informacin (deteccin y clasificacin) de los defectos [Gonzlez, 2005

-164-
ANEXOS
Varsovia] al igual que utilizando transformadas propias de otros campos de la

ciencia[Gonzlez,2005Orlando].
La localizacin de los defectos tambin es apoyada por distintos
procesados. As, tcnicas propias del tratamiento de imagen permiten un
procesadomorfolgicodelpatrndebobinadodelfleje[Gonzlez,2005NDTE].
C.4
Referencias
[Gonzalez, 2005-NDTE] D.A. Gonzlez, F.J. Madruga, M. A. Quintela, J.M. Lpez-Higuera,

Defect assessment on radiant heaters using infrared thermography, NDT&E
Internacional, vol. 38, n. 6, pag. 428- 432, 2005.
[Gonzlez, 2005-Orlando] D.A. Gonzlez, F.J. Madruga, C. Ibarra-Castanedo*, O. Conde, J.M.
Lpez-Higuera, Quality Control on Radiant Heaters Manufacture, ThermoSense XXVIII
(SPIE Conference Number OR32-Part of SPIE's Defense & Security Symposium) vol.
6205, Orlando (Kissimmee) - Florida USA, 2006.
[Gonzlez, 2005-Varsovia] D.A. Gonzlez, F.J. Madruga, M. A. Quintela, J.M. Lpez-Higuera,
Quality Control of Radiant Heaters, Proceedings de International Congress on Optics
and Optoelectronics, Warsaw (Poland), 2005.
[Madruga, 2001-OdimapIII] F.J. Madruga, D. Gonzlez, V. Alvarez, J. Echevarria, Javier Hierro*
& J.M. Lpez-Higuera, "Longitudinal Scale defects detection on steel bar production
industry", IEEE-LEOS, ODIMAP III Proceedings, Pavia, Italia. Septiembre 2001.
[Madruga, 2002-ECNDT] F.J. Madruga, V. lvarez, D. Gonzlez, M. Angeles Quintela, Javier
Hierro*, J.M. Lpez-Higuera, Non-Contact Measurement Of High Temperature On Steel
Bar Production Industry Using Fiber Optic Sensing Technology, 8th. ECNDT
Proceedings, Barcelona, Espaa, Junio 2002
[Madruga, 2002-OFS] F.J. Madruga, D. Gonzlez, V. lvarez, Juan Echevarria, Olga M. Conde,
J.M. Lpez-Higuera, Field Test Of Non Contact High Temperature Fiber Optic
Transducer In A Steel Production Plant , OFS'2002, 15thInternational Conference on
optical Fiber Sensors, 15th Optical Fiber Sensors Conference Technical Digest, Portland,
USA, Mayo 2002

-165-
D Tcnicas de procesado
secuencias termogrficas
de
imgenes
en
La termografa activa es una tcnica de evaluacin no destructiva (END) de

materialescuyoobjetivoprincipalesladeteccinolacaracterizacindedefectos
internos.Enelprocesodeinspeccin,lapiezaanalizadaessometidaaunafuente
externadeenergaparaincrementarelcontrastetrmicoentrelaszonaslibresde
defectosyaquellasquepresentendefectoseventuales.Loscambiostrmicosenla
superficiesonregistradosconlaayudadeunacmarainfrarroja.Sinembargo,la
sealprovenientedelasuperficiedelamuestraesdbilycontienealtosniveles
deruidoporloquelasetapasdepreprocesado,procesadoypostprocesadoson
fundamentales.
D.1 Preprocesado de secuencias termogrficas Precisin y

exactitud en la medida de temperatura
Elprincipiodedeteccindedefectossebasaenelhechodequeelfrentetrmico
se propaga homogneamente a travs del material salvo en presencia de
inhomogeneidades o defectos. Si hubiera algo en el interior del material que
tuviera diferentes propiedades trmicas, la conduccin del calor sufrira
variaciones y esto se reflejara en la superficie de la muestra mediante la
aparicin de puntos de contraste trmico y que pueden ser detectados con la
ayuda de una cmara infrarroja. Por lo tanto, la precisin en la medida de
temperaturasdebeestargarantizadayesporelloqueexisteunpreprocesadocon
elquesepretendenminimizarlosefectosdelapticaylaelectrnicaquecaptura
los valores de esa temperatura superficial. ste cubre diversas etapas como se
presentaacontinuacin.
Regeneracin de pxeles defectuosos (badpixels)

Laprimera etapadepreprocesado consisteenregenerarlospxelesdefectuosos
(badpixelsopxelesmuerto),estoes,pxelesquepresentannivelesanormalesde
intensidad sean muy bajos o muy altos y que no proporcionan ninguna
informacin de utilidad. Afortunadamente, stos pueden ser detectados
fcilmente con un algoritmo de deteccin, por ejemplo haciendo pasar un filtro
de deteccin (kernel) o simplemente por deteccin visual por un operador, para
despusserremplazadosporelvalorpromediodesuvecindad.Eltermograma
no corregido de la Figura D.11a corresponde a una placa de acero con tres
defectos(condiferentesformasperoocupandolamismarea)348msgdespus
dehabersidosometidaaunimpulsodecalorde5msgy6.4J.LaFiguraD.11b
muestraelresultadodespusderestaurarlospxelesdefectuosos.Elencuadrey
elruidofijosonahoramsevidentesenestaimagen.

-167 -
Correccin de Ruido Aleatorio

El ruido aleatorio es reducido principalmente con tcnicas de suavizado o
filtrado de la imagen o secuencias de imgenes. Puede aplicarse tanto en el
dominiotemporalcomoeneldominioespacial.Paraelcasodeunpromediado
temporal,seprocuraunsobremuestreodelaexperienciatrmicaaumentandola
frecuenciadelacapturaparapreservarlainformacin.Paraelfiltradoespacial,
suele promediarse el valor de pxeles vecinos de forma lineal, mediante
convoluciones uniforme (box filter) o de distribuciones gaussiana o de
Butterworth,omediantefiltrosnolinealescomoelfiltrodevalormedio.
Correccin de Patrones Fijos de Ruido (FPN)

El siguiente paso es la correccin del patrn de ruido fijo (FPNFixed Pattern
Noise) causado por diferencias en la responsividad de los detectores. La Figura
D.11bmuestraelFPN(lneasverticales)eneltermograma.Paraloscasosenque
laescenaesfija,esteproblemapuedecorregirseconlasustraccindeunaimagen
fra,estoes,eltermogramagrabadoantesdelaaplicacindelimpulsodecalor
enlasuperficie(verFiguraD.11c).CabemencionarqueelFPNdependedeltipo
deconfiguracinutilizadaparaconformarlamatrizdedetectores.Engeneral,las
cmaras a base de CMOS (Complementary MetalOxide Semiconductor) contienen
niveles de ruido ms altos que sus contrapartes construidas con CCDs (Charge
CoupledDevices).
Correccin del encuadre (vignetting)

El encuadre (vignetting) es sin duda uno de los problemas ms complejos en
Termografa.Elencuadreconsisteenunobscurecimientodelasesquinasdelos
termogramasrespectoalcentrodelosmismosdebidoaunaexposicinlimitada
en esas reas (ver Figura D.11b). El procedimiento de correccin de encuadre
requiere una etapa de calibracin que involucra la toma de termogramas de
cuerponegroadiferentestemperaturas(enelrangodeoperacin).
Calibracin en temperatura
Las secuencias de datos obtenidos por la cmara consisten en matrices
tridimensionales donde cada punto posee dos coordenadas espaciales y una de
intensidad arbitraria que necesita de una etapa de calibrado para poder ser
transformada en temperatura. Al igual que en el caso de la correccin de
encuadre,lacalibracinentemperaturarequierelaobtencindevariasimgenes
1200
6500
27
6000
26
5500
25
5000
24
4500
23
1000
8000
6000
4000
4000
3500
2000
22
21
a)
b)
c)
Figura D.1-1. Termogramas a t=348 msg: (a) no corregido; (b) tras restauracin de pixeles defectuosos y (c) correccin de
encuadre y del FPN. La conversin a valores de temperatura tambin ha sido llevada a cabo. El espcimen bajo inspeccin
es una placa de acero de 2 mm de espesor con tres defectos del mismo rea (25 mm2) pero diferente geometra a la misma
profundidad (1 mm).

-168-
ANEXOS
26.2
26.4
26.6
26.8
27
27.2
-8
27.4
-6
-4
-2
x 10
(a)
-5
(b)
Figura D.1-2. (a) Termograma a t=57 ms; (b) imagen de los coeficientes a1 en la ecuacin D.2 de la placa de acero
presentada en a)
de intensidad a diferentes temperaturas. Es por ello que, estas dos etapas de

tratamiento se realizan simultneamente. El resultado es un polinomio (de 3er o
4togrado)obtenidoporregresindelosdatosdetemperaturaconrespectoalos
nivelesdegrisdadosporlacmara.LaFiguraD.11cmuestraeltermogramade
la Figura D.11a corregido en pxeles defectuosos, FPN, encuadre, y
transformadoentemperatura.
Filtrado de seales
La seal puede ser ahora tratada por algoritmos de deteccin de defectos,
segmentacin,etc.Paracasosenquelasealcorregidaposeeanaltosnivelesde
ruido, una etapa adicional de filtrado es necesaria. Existe un gran nmero de
tcnicas de filtrado que pueden aplicarse a imgenes infrarrojas tanto espacial
comotemporalmente,porejemplo,elusodeunfiltrogaussianocondeterminada
varianzaolastcnicasdepromediadoporpxelesvecinos.
Reconstruccin de Seales Termogrficas (TSR)

La reconstruccin de imgenes a partir de un polinomio constituye una de las
tcnicasmsinteresantesytilesdefiltradodelruido[Shepard,2001].Laideaes,
partiendodelaecuacindedifusindeFourier,modelarelcomportamientode
las zonas libres de defectos que resulta ser un comportamiento lineal con una
pendientedeenunaescalalogartmica,esdecir:
Q 1
ln ( T ) = ln ln ( t )
e 2
D.1
La evolucin de temperatura de un pxel puede ser entonces modelada

porunpolinomiodelaforma:
ln ( T ) = a 0 + a1 ln (t ) + a 2 ln 2 (t ) + ... + a N ln N (t )
D.2
dondeNeselgradodelpolinomio(engeneralunpolinomiodegradoentre4y7
esadecuadodependiendodelnivelderuidodelaseal).LaTSRconstituyeuna
herramienta muy til para el filtrado de seales trmicas pero tambin en la
reduccindelacantidaddedatosyaqueesposiblepasardeunasecuencia,de
1000termogramasatansolo5imgenesdeloscoeficientesderegresinparaun
polinomiodegrado4.Porejemplo,laFiguraD.12bpresentaunaimagendelos
coeficientesa1enlaecuacinD.1,enlaquepuedeconstatarseunamejoradela
imagenreduciendoelruidoyaumentandoelcontrastesensiblemente.

-169-
44
.01
.1
6.3
T -1.5
40
-1.25
-1
T [ C]
36
-0.75
32
-0.5
28
-0.25
T
Sa
24
.01
.1
6.3
t [s]
Figura D.2-1. Curvas caractersticas de la evolucin de temperatura para una zona libre de defectos (sana o soundarea)
(), de temperatura para una regin defectuosa (--) y de contraste trmico (--) para un defecto en forma de taladro hasta 1
mm de la superficie por la parte posterior de un espcimen de Plexiglas..
D.2
Procesado de secuencias termogrficas Modelado Directo
Unagranvariedaddetcnicasdeprocesadopuedenserutilizadasdependiendo
de la aplicacin. Los mtodos de contraste trmico son sin duda los ms
utilizados por su simplicidad ya que consisten en el clculo de diferencias de
temperatura de zonas defectuosas respecto a una regin de referencia (libre de
defectos). Sin embargo, problemas tales como la no uniformidad de la
estimulacintrmica,diferenciasdeemisividadenlasuperficieylageometrade
la pieza, afectan fuertemente a los resultados. Tcnicas de procesado ms
avanzadas permiten disminuir estos efectos y mejorar as la visibilidad de
defectos.
Aunquelamayorpartedelosalgoritmosdeprocesadosondesarrollados
para termografa activa pulsada, por tratarse de la tcnica ms comnmente
utilizada, pueden ser modificados y adaptados a otras tcnicas de inspeccin
trmica infrarroja. Principalmente, se utilizan los mtodos de contraste trmico
[Maldague,2001],lanormalizacin[Zalameda,2003],latermografapulsadade
fase (pulsed phase thermography, PPT) [Maldague, 1996] [Ibarra, 2005], la
termografa de componentes principales (principal component thermography,
PCT) [Rajic, 2002], el mtodo de primera y segunda derivadas [Martin, 2003] y
mtodosdetransformadascomoLaplaceyWavelet[Ibarra,2006].
Mtodos de contraste trmico

Elcontrastetrmicoensumodomssimplepuededefinirsecomoladiferencia
entre la temperatura en una zona libre de defectos o sana Tsa, y una regin
defectuosaTd[Maldague,2001]:
T ( t ) = Td ( t ) T S a ( t )
D.3
La ecuacin D.3 es el llamado contraste absoluto de temperatura y se

ilustraenlaFiguraD.21.Enocasionesesconvenienteutilizarvariacionesdeesta
-170-
ANEXOS
definicin como se recogen en [Maldague, 2001]. Sin embargo, todas estas

definicionessufrendeunproblemacomn,estoes,lanecesidaddelocalizaruna
zona libre de defectos en la pieza en cuestin (hace falta entonces un
conocimiento a priori importante) y la dependencia de los resultados con la
eleccinrealizada,verlaFiguraD.22.Enlaprcticaestonoessiempreposibley,
alternativamente, el mtodo de Contraste Absoluto Diferencial (DAC) [Pilla,
2002]hasidodesarrolladoparasolucionaresteproblema.
ElmtodoDACestbasadoenlasolucin1Ddelaecuacindedifusin
de Fourier asumiendo que la superficie de la pieza ha sido sometida a un
impulsodeDirac,deformaque:
T (t ) = T0 +
Qo
D.4
e t
CombinandolasecuacionesD.3yD.4,sellegaalasiguienteexpresin:
Tdac = Td
t
T (t )
t
D.5
dondeteseltiempoactualytesdefinidocomoelinstanteenelcualelfrente
trmicollegaalasuperficieyquesesabeseencuentraentreeltiempodeenvo
delimpulsot0yeltiempodeaparicindelprimerdefectot1.
a)
b)
c)
d)
Figura D.2-2. a) Termograma despus de la sustracin de la imagen fra para t=209 ms. La influencia de la excitacin se
refleja en la no uniformidad de las zonas de material sin defectos. b).Variacin del contraste absoluto segn el punto
seleccionado como soundarea (4 Sa diferentes). c) Resultado de la aplicacin del contraste diferencial, DAC, para t=209
ms d) contraste trmico para 4 soundareas diferentes, Sa. El DAC elimina la influencia de la no uniformidad en la
excitacin como se observa de la comparacin de las figuras (b) y(d), al igual que (a) y (c).

-171-
a)
b)
Figura D.2-3. a) Representaciones 2D y 3D de la imagen correspondiente a t=4 sc de una secuencia termogrfica tras
sustraer la imagen fra. b) Mismo termograma, t= 4s, tras la aplicacin del algoritmo IDAC (automatizacin del DAC) a un
espcimen de Plexiglas [Gonzalez, 2004-Odimap].
En realidad, la evolucin de la temperatura en la superficie es un

fenmeno3Dcomplejo,laecuacinD.4esslounaaproximacindelverdadero
comportamientodelatemperatura.Porlotanto,ladeterminacindetrequiere
deunprocesoiterativo.Sinembargo,laecuacinD.5hademostradosermuytil
para la inspeccin de materiales homogneos no slo como alternativa a los
mtodos de contraste trmico, que necesitan de la definicin de una zona sana,
sino tambin para reducir los efectos de calentamiento no uniforme en la
superficiecomosedesprendedelaobservacindelaFiguraD.23.
La normalizacin
Lanormalizacinesunatcnicadeprocesadodesecuenciastermogrficasdonde
la suma (promedio) del total de imgenes a ser procesadas es dividida por la
mediadelconjuntodeimgenesdondeseobservaelmayorcontrastetrmicode
Intensidad (u.a)
Filtro Gaussiano, varianza = 1.5

Intensidad (u.a)
Intensidad (u.a)
Filtro Gaussiano, varianza = 1.5
Intensidad (u.a)
a)
b)
Figura D.2-4. Resultados del procesado de la normalizacin para un especmen de Kevlar: a) termograma original (raw
data) b) termograma normalizado dividiendo las imgenes de la 1 a la 25 por la suma de las imgenes de la 2 a la 11
[Ibarra, 2004-Pune]. La zona sealada con un marco punteado amarillo hace referencia a la Figura D.2-7.

-172-
ANEXOS
FOURIER
a)
b) respuesta en amplitud
c) respuesta en fase
Figura D.2-5. a) Perfil de temperatura para un pxel en una zona libre de defectos (i,j). b) Perfil en amplitud y c) fase, tras
la transformacin de Fourier de la evolucin temporal de a).
la zona de inters (por ejemplo, la zona de una defecto subsuperficial)

[Zalameda,2003].Obviamente,ladificultadestribaenreconocereseconjuntode
imgenes que resultan relevantes. Pero una vez obtenido, la normalizacin
produce un importante realce del contraste y minimiza el impacto de la no
uniformidaddelaexcitacindecalorcomopuedeapreciarseenlaFiguraD.24.
Termografa de Fase Pulsada (PPT)

La Termografa de Fase Pulsada [Maldague, 1996] (PPT Pulsed Phase
Thermography)constituyeungranavanceeneltratamientodesealtermogrfica.
LaPPTpermitepasardeldominiotemporalalespectrofrecuencialconlaayuda
delaTransformadadeFourierdiscreta(TFD)[Bracewell,1965]:
F
N 1
j 2 nk N
= t T (k t )e
= Re + i Im
n
n
k =0
D.6
donde n corresponde a los incrementos de frecuencia (n=0,1,N); t es el

intervalo de tiempo entre adquisiciones y Ren y Imn son las partes real e
imaginariadelaTFD,quepuedencombinarseparaextraerlaamplitudAn,yla
fase n:
Im
An = Re n2 + Im n2 , n = tan 1 n
Re n
D.7
Cualquierfuncinpuedeserdescompuestaensinusoidesy,enparticular,
laevolucintemporaldelatemperaturasuperficialdeunobjetobajoexcitacin
-173-
2.4
10
2.3
20
2.2
30
2.1
40
50
1.9
1.8
60
1.7
70
1.6
80
1.5
90
1.4
100
20
40
60
80
100
120
140
a)
170
10
0.85
10
160
20
20
150
0.8
30
30
140
40
40
130
0.75
50
50
120
60
60
0.7
110
70
70
100
80
90
80
90
80
90
70
100
100
20
40
60
80
100
120
140
0.65
0.6
20
40
60
b)
80
100
120
140
c)
Figura D.2-6. a) Imagen de datos puros (sin procesar). Tras la transformacin de Fourier de la secuencia se obtienen b)
imagen de la amplitud c) imagen de la fase. Claramente se observa la no uniformidad de la excitacin en la imagen a). La
imagen c) representa una menor influencia de la no uniformidad del calentamiento en la fase. Adems, los defectos son
ms visibles.
pulsadadalugaraunarespuestaenamplitudyenfasequesondeformapare
impar, respectivamente, respecto ala frecuencia f=0 Hz, como se presenta en la
Figura D.25. A partir de estas respuestas a la evolucin de cada pxel, se
procesan secuencias de amplitud y fase para toda la superficie en forma de
imgenes.
Lafaseesparticularmenteinteresanteenensayosnodestructivosyaque
esmenosafectadaporlosproblemastpicosdelatermografaactiva,comoson,
reflexionesdelentorno,variacionesdeemisividad,calentamientooexcitacinno
uniforme, geometra de la superficie y su orientacin [Ibarra, 2005]. La Figura
D.26c muestra una imagen de fase, o fasegrama, obtenida al aplicar la PPT a la
secuenciacorregidacomoenlaFiguraD.26a.Comopuedeobservarse,selogra
unamejoraconsiderabledelcontrasteentrezonassanasydefectuosasgraciasa
lautilizacindelafase.Adems,puedealcanzarseunamejoradecontrastean
msnotablealutilizarelalgoritmoPPTcondatossintticosdeentradaenvezde
datosbrutos.

-174-
ANEXOS
Figura D.2-7. Primeras 10 funciones EOF de una porcin de Kevlar mostrada en color amarillo en la FIGb (corner
inferior izquierdo) [Ibarra, 2004-Pune].
Componentes principales
El procesado basado en componentes principales (Principal component
thermography, PCT) descompone la variacin temporal de la temperatura
superficial de un espcimen bajo excitacin pulsada usando un conjunto de
funciones estadsticas ortogonales conocidas como Empirical Orthogonal
Functions o EOF). stas son obtenidas a partir de la descomposicin en valores
singulares (Singular Value Decomposition, SVD) de las matrices de datos
termogrficotemporales [Rajic, 2002]. Una muestra puede ser observada en la
FiguraD.27.
Primera y segunda derivadas

La evolucin temporal de la temperatura superficial de un cuerpo no debe
presentarcambiosensupendiente(primeraderivada)anoserqueseevaleun
reasituadaenunazonacondefectosubsuperficial.Deigualforma,laevolucin
de pendiente de la primera derivada (segunda derivada) tambin presenta
cambios que estn directamente relacionados con la presencia a determinada
profundidaddelasanomalas.

-175-
-0.075 -0.07 -0.065 -0.06 -0.055 -0.05 -0.045 -0.04 -0.035 -0.03 -0.025
0.015 0.02 0.025 0.03 0.035 0.04 0.045 0.05 0.055 0.06 0.065
(a)
(b)
Figura D.2-8. (a) Imagen de primera derivada temporal a t=57 ms y (b) segunda derivada temporal a t=57 ms extraidas tras
la aplicacin de un algoritmo de reconstruccin TSR, ver Figura D.1-2.
OtropuntointeresantedelaTSRpresentadapreviamenteesquepermite
fcilmente la reconstruccin de la primera y segunda derivadas temporales
[Martin, 2003]. En general, las imgenes de derivadas temporales presentan un
mejor contraste y son menos afectadas por el calentamiento no uniforme como
puede verse en la Figura D.28a y Figura D.28b. en comparacin con la Figura
D.12.
Transformada Wavelet y transformada Laplace

Como complemento al uso de la transformada de Fourier, otras transformadas
tpicasdesealeshansidoadaptadasalprocesadodesecuenciasdetermografa
activapulsada[Ibarra,2006].
En lugar de usar funciones sinusoidales infinitas como en el caso de la
PPT, la transformada Wavelet usa ondas de duracin limitada, lo cual es
beneficioso para la transformacin de funciones que contienen transitorios o
variaciones abruptas. Aunque el espacio transformado carece entonces de
componentefrecuencial,elusodewaveletspreservalacaractersticatemporalde
lasealtransformadamediantediferentesescalasoresolucionesdeltiempo.Este
detalle ha sido aprovechado para el anlisis de secuencias termogrficas
[Galmiche,2000].
Porotrolado,latransformadadeLaplacereduceelproblemaderesolver
ecuaciones diferenciales a un problema algebraico. Cualquier problema puede
ser transformado al espacio de Laplace, resuelto en l y transformada
inversamentelasolucinalespaciooriginal.EstoyafuepropuestoporCarslaw
paralaresolucindelosproblemasdelatransferenciadecalorporconduccin
[Carslaw, 1921] pero no ha sido implementado hasta nuestros das ante el gran
consumo de potencia de computacin y la necesidad de unas herramientas de
inversinapropiadas[Ibarra,2006].

-176-
ANEXOS
(a)
(b)
(c)
Figura D.3-1. Resultados de simulaciones (columna izquierda) y termogramas reales con substraccin de imagen fra
(derecha) para una placa de acero de 2 mm de espesor con tres defectos del mismo rea (25 mm2) pero diferente geometra,
a la misma profundidad (1 mm) y a tres instantes diferentes: (a) 0.1 s; (b) 0.5 s y (c) 1 s. Puede observarse claramente el
efecto de la difusin del calor en el material.
D.3 Postprocesados
Inverso
de
secuencias
termogrficas-
Modelado
Ademsdelosanteriores,sedebenrelacionarconlatermografatodosaquellos
procesados y tratamientos que permiten la extraccin de informacin de las
inspeccionesrealizadas.Elobjetivoesnosloayudaradetectarlapresenciade
los defectos sino caracterizarlos en la medida de lo posible con sus tamaos y
profundidades.
Modelos trmicos
Lautilizacindemodelostrmicospermitetenerunaideasobrelainfluenciade
ciertosparmetrosenladeteccindedefectossinnecesidadderealizarninguna
prueba. Esto ayuda en la planificacin de experiencias. Y, de igual forma, dada
unaobservacin,elmodeladoinversopermite,apartirdelareconstruccindela
experiencia, cierto conocimiento del espcimen. Por ejemplo, en la columna
izquierdadelaFiguraD.31semuestrantermogramasmodeladosatresinstantes
diferentes para analizar el efecto de la difusin sobre defectos de diversas
geometrasperoalamismaprofundidad(1mm)yqueocupanlamismarea(25
mm2).Alostermogramasreales,enlacolumnaderecha,seleshasubstradouna
imagenfraparareducirlosnivelesderuido.Comopuedeverse,existeunagran
similitudentrelasprediccionesylostermogramasreales.
Deteccin de defectos
La inspeccin visual por parte de un operador es la forma ms comnmente
adoptadaparaladeteccindedefectos.Diferentesorganizacionesalrededordel
mundo otorgan certificaciones de personal (inspector termogrfico nivel I, II y
-177-
(a)
(b)
Figura D.3-2. Resultados de segmentacin (a) fasegrama no filtrado; y (b) fasegrama filtrado con un filtro gaussiano de
varianza =2.
III).Sinembargo,diferentesmtodosautomatizadospuedenayudarareducirla
subjetividady,enalgunoscasos,eliminarporcompletolaintervencinhumana
enelprocesodedeteccin.Existeungrannmerodemtodosdesegmentacin
propios de procesado de imgenes en el espectro visible que pueden
perfectamente ser adaptados para el infrarrojo. Por ejemplo, la Figura D.32
muestraelresultadodeunasegmentacinbasadaenelmtododeCannyparala
deteccin de bordes. Para la segmentacin en la Figura D.32a se utiliza un
fasegrama no filtrado (ver perfil 1D a travs de la lnea punteada horizontal
arribadelfasegrama).ElresultadodesegmentacinesmuchomejorenlaFigura
D.32bdondeunfiltrogaussianoconvarianza=2esutilizado.
Determinacin del tamao y la forma de un defecto

Esigualmenteposibleestimarlaformayeltamaodeundefectoalexaminarun
termograma o fasegrama, tras la aplicacin de un algoritmo de extraccin de
bordes,p.ej.Sobel,Roberts,Canny,etc.Elprincipalproblemaeseldedeterminar
el instante o frecuencia ms adecuados para esto. En el dominio temporal, el
tiempodecontrastemximotmax,esunaopcin.Estetiempopuedeencontrarse
paracadapxelalexaminarlasecuenciacompleta.Sinembargo,algunosestudios
sugierenqueeltiempodecontrastemedio(lamitaddelcontrastemximo)oel
tiempodemximapendienteobieneltiempodeiniciodelcontrastetrmicoson
msadecuadoscomoparmetrosdedecisinyaqueendichosinstanteshayun
menorimpactodeladifusinyelcontornoobtenidoseacercamsalverdadero
tamaoyformadeldefecto.Estopuedeconstatarsealexaminarlostermogramas
de la Figura D.31 que muestra los termogramas simulados y reales a tres
tiempos diferentes. Como todo mtodo basado en el contraste trmico, estas
tcnicasestnsujetasaladisponibilidadyconocimientodeunazonasanayson
afectadosporelcalentamientonouniforme.
Mtodos de inversin de la profundidad

Existenactualmentemtodosdeinversindelaprofundidadtantoeneldominio
temporal como en el frecuencial. Por ejemplo, en el dominio del tiempo, la
mayoradeestastcnicasrequierendeunaetapadecalibracinapartirdelacual

-178-
ANEXOS
A
B
C
0.3
0.25
B
[rad]
0.2
0.15
0.1
0.05
0
0
10
f [Hz]
12
14
16
19.5
Figura D.3-3. Curvas de evolucin de fase para diferentes regiones defectuosas.
los datos experimentales pueden ser sometidos a un proceso de regresin con

unarelacinempricadelaforma:
h
2
z = A t 1max
C max
D.8
dondelosparmetrosAyhsedeterminanporregresin.
Eneldominiofrecuencial,losmtodosdeinversintantoenLT[Meola,
2004] como en PPT [Ibarra, 2004], se basan en una relacin directa entre la
profundidad z, y la difusividad trmica , evaluada a la frecuencia lmite fb
[Ibarra,2005]:
z = C1
fb
D.9
donde la constante de regresin C1 toma un valor igual a la unidad cuando se

trabajaconimgenesdeamplitudyunvalordeaproximadamente1.8enelcaso
delafase,unaraznmsparaoptarporlafaseenanlisiscuantitativos.
Por ejemplo, la Figura D.33 presenta los perfiles de fase para los tres
defectos marcados como A, B, y C. Los tres defectos se encuentran a la misma
profundidad(1mm)yposeenlamismarea.Debidoaqueladifusindecalores
unafuncindelageometradelosdefectos(verFiguraD.31),laintensidaddela
fase es diferente para los tres defectos. Sin embargo, la frecuencia lmite fb es la
mismaparalostresdefectos,loquepermiterealizarunacuantificacinatravs
delaecuacinD.9.
D.4
Referencias
[Bracewell, 1965] R. Bracewell, The Fourier Transform and its Applications, USA, McGraw-Hill,
1965.
[Carslaw, 1921] H.S. Carslaw, Introduction to the mathematical theory of heat in solids,
Macmillan, pag. 268, 1921.
[Galmiche, 2000] F. Galmiche, X. Maldague, Depth defect retrieval using the wavelet pulsed
phased thermography, Proceedings de QIRT 6, Eurotherm Seminar 64, D. Balageas, G.
Busse, C. Carlomagno (eds.), Reims, France, pag. 194-199, 2000.
Absolute
Contrast
Method,
4th
Topical
Meeting
on
Optoelectronic
-179-
Distance/Displacement Measurements and Applications, Oulu (Finland), IEEE-LEOS,

[Ibarra, 2004] C. Ibarra-Castanedo, X. Maldague, Pulsed Phase Thermographic Reviewed, Qirt
Journal, vol. 1, no. 1, p 47-70, 2004.
[Ibarra, 2004-Pune] C. Ibarra-Castanedo, D. Gonzlez and X. Maldague, Infrared Image
Processing for Nondestructive Applications, Keynote lecture, NDE 2004 National Indian
Society annual conference, Pune (India), 25 p., 2004.
vol. 79, pag. 26942698, 1996.
Thermography, Measurement Science Technology, vol. 15, p.2758, 2004.
[Pilla, 2002] M.C. Pilla, A Novel Contrast Method for Pulse Thermography Data, Ph.D. Thesis,
[Rajic, 2002] N. Rajic, Principal component thermography for flaw contrast enhancement and flaw
depth characterisation in composite structures, Composite Structures, vol. 58, pag. 521528, 2002.
[Shepard, 2001] S. M. Shepard, Advances in Pulsed Thermography, Proc. SPIE, Thermosense
XXIII, vol. 4360, pag. 511-515, 2001.

-180-
Algoritmos de deteccin de patrones lineales
E.1
Algoritmo RANSAC
En esta seccin se describe el algoritmo robusto general denominado RANdom

SAmpleConsensus(RANSAC).Elalgoritmoseusaparaelajustedeunarectaa
unanubededatos,S,yactadelasiguienteforma:
SeseleccionandeformaaleatoriadosdelospuntosdeS.Estosdospuntos
definenunarecta.
Determinar el conjunto de datos que estn dentro de una distancia
umbraldelmodelo.Eselsoporteparaestarectaysemideporelnmero
de puntos cuya distancia normal a la recta cae dentro de un umbral
previamentefijado.
Enestepuntoexistendosalternativas:
Sielnmerodepuntosesmayorqueunumbraldedecisin,sere
estima el modelo usando todos los puntos de esa recta y se
terminalaseleccin.
Si el nmero de puntos es inferior a ese umbral de decisin, se
seleccionaunnuevosubconjuntoserepiteloanterior.
Estaseleccinaleatoriaserepiteunnmerodevecesylarectaconmayor
soporteseconsideralarectarobusta.
Debentenerseencuentavariasconsideraciones:
Los puntos dentro del umbral considerado se denominan inliers y el

conjuntodepuntosinliersavecessedenominaconjuntodeconsenso.
Puntuarlalneaconelnmerodepuntosquelasoportantienelaventaja
de favorecer mejores ajustes, es decir, la lnea con mejor soporte ser la
elegida.
Laseleccindelumbralserealizademaneraqueconciertaprobabilidad
un punto cualquiera sea un inlier. Este clculo necesita de la
distribucin de probabilidad para la distancia de un inlier desde el
modelo.Enlaprcticaestadistanciasesueleelegirdeformaemprica.
Encuantoalnmerodemuestras,noesnecesariotratartodaslasposibles
combinaciones de dos puntos. El nmero de ensayos debe tomarse lo
suficientementealtocomoparagarantizar,conunaprobabilidadp,queal
menos uno de los conjuntos aleatorios de s puntos esta libre de puntos
aberrantes.
Si suponemos que es la probabilidad de que un punto sea aberrante,
este valor ser un porcentaje del tamao total del nmero de puntos
puede probarse que para las probabilidades dadas p y , el tamao del
numerodemuestrasatomarestdadoporlaexpresin:

-181 -
N=
log(1 p )
s
log 1 (1 )
E.1
Normalmente el valor de no ser un valor conocido de antemano, por

tantoesnecesariousarunalgoritmoiterativoquevayareadaptandolosvalores
deyNalmismotiempoquevaextrayendonuevasmuestras.
Algoritmo Adaptativo:
E.2
N=,num_muestras=0
MientrasN>num_muestrasrepetir
Elegirunamuestraycontarelnmerodeinliers
Poner=1(nmerodeinliers)/(totaldepuntos)
RecalcularelvalorNapartirdeyp=0.99
Incrementaren1num_muestras
Terminar
Transformada de Hough55
La Transformada de Hough es un algoritmo empleado en reconocimiento de

patrones en imgenes que permite encontrar ciertas formas dentro de una
imagen,comolneas,crculos,etc.Esparticularmentetilcuandolainformacin
esruidosa.
La principal aplicacin es su uso en tcnicas de segmentacin. Otras
aplicaciones son: extraccin de caractersticas, compresin y reconocimiento de
imgenes(laversinmssimpleconsisteenencontrarlneas).
En 1962 Hough interpret la ecuacin =xcos+ysin (una curva de tipo
senoocoseno)comounaecuacinconparmetros(x,y)yvariables(, )enlugar
deunaecuacinconparmetros(, )yvariables(x,y).Todaslasparejas(, )que
cumplen la ecuacin para coordenadas dadas x y y en el espacio bidimensional
describenlneasrectasquepasanporelpunto(x,y).
_
Su modo de operacin es principalmente estadstico y consiste en que

para cada punto que se desea averiguar si es parte de una lnea se aplica una
operacindentrodeciertorango,conloqueseaveriguanlasposibleslneasde
las que puede ser parte el punto. Esto se contina para todos los puntos en la
imagen acumulndose todas estascurvas en el espacio de las variables (, ) (el
espaciodeacumulacinoespaciodeHough).Alfinalsedeterminaqulneas
fueronlasquemspuntosposiblestuvieronyesassonlaslneasenlaimagen.
_
Como una introduccin a esta transformada, supongamos que dados n

puntos en una imagen, deseamos encontrar subconjuntos de esos puntos que
forman parte de lneas rectas. Una posible solucin consiste en encontrar todas
las rectas determinadas por cada par de puntos y as encontrar todos los
subconjuntosdepuntosqueestnprximosarectasconcretas.Elproblemaque
55
Se recomienda la lectura de libros que versen sobre el tratamiento digital de la imagen. Las notas
aqu presentes han sido obtenidas de apuntes de la asignatura de Tratamiento Digital de la Imagen
de los profesores D. Jos Manuel Diaz Lpez y D. Alfonso Martn Marcos de la Universidad
Politcnica de Madrid presentes en la web:
http://www.diac.upm.es/acceso_profesores/asignaturas/tdi/tdi/tdi.htm
-182-
ANEXOS
x
(x1,y1)
(x2,y2)
amin
bmin
a 0
amax
b=-x1a+y1
b
0
b=-x2a+y2
bmax
b
b)
a)
Figura E.2-1. a) Plano xy b) Espacio paramtrico con rejilla de cuantificacin del plano paramtrico para su uso en la
transformada.
surgeconesteprocedimientoesqueesnecesarioencontrar
efectuar
n(n 1)
lneasyluego,
2
n 2 (n 1)
comparaciones (de cada punto para todas las lneas) lo que
2
suponeapreciarlacargacomputacionalqueestoconlleva.
UnaformadiferenteusandounmtodopropuestoporHoughconsidera
un punto (xi,yi) y la ecuacin en forma explcita de la recta yi=axi+b. Hay un
nmeroinfinitoderectasquepasanpor(xi,yi).Todasellassatisfacenlaanterior
ecuacin al variar los valores de a y b. Sin embargo, si escribimos la anterior
ecuacin de esta otra forma: b=xia+yi y consideramos el plano ab (tambin
conocidocomoespacioparamtrico),entoncestenemoslaecuacindeunasimple
rectaparaunparfijo(xi,yi).
Adems,unsegundopunto(xj,yj)tendrasociadatambinunarectaenel
espacio paramtrico, y esta recta intersectar con la lnea asociada a (xi,yi) en
(a,b), donde a es la pendiente y b es el trmino independiente de la recta que
contiene tanto a (xi,yi) como a (xj,yj) en el plano xy. De hecho, todos los puntos
contenidosenestarectatendrnrectasenelespacioparamtricoqueintersectan
en(a,b).EstosconceptossemuestranenlaFiguraE.21.
Subdividido el espacio paramtrico en las llamadas celdas
acumuladoras, los intervalos (amn,amx) y (bmn,bmx) son los esperados para los
valores de la pendiente (a) y del trmino independiente (b). La celda de
coordenadas(i,j),convaloracumuladorA(i,j),correspondealcuadradoasociado
alascoordenadasdelespacioparamtrico(ai,bj).Inicialmente,estasceldasestn
puestasacero.
Paracadapunto(xk,yk)enelplanoimagen,igualamoselparmetroaa
cadaunodelosvaloresdelasubdivisinpermitidosenelejeayresolvemosel
valor b correspondiente, segn la ecuacin b=xka+yk . Los valores de b
resultantes son aproximados en el eje b al valor permitido ms cercano. Si una
eleccin de ap da lugar al valor bq, hacemos: A(p,q):=A(p,q)+1 (se incrementa de
uno en uno el valor acumulador correspondiente). As, al final del proceso, un
valordeMenA(i,j)correspondeaMpuntosenelplanoxysobrelarectay=aix+bj

-183-
Plano xy
2
1.5
0.8
0.6
punto 1(*) en a
punto 2(v) en a
punto 3(+) en a
punto 4(x) en a
0.4
0.2
0.5
[rad]
Espacio Hough
1
ajuste segn * en b
ajuste segn + en b
Punto 1
Punto 2
Punto 3
Punto 4
0
-0.2
-0.4
-0.5
-0.6
-1
-0.8
-1.5
0
-1
0.1
0.2
-100
-50
0
50
100
(grados)
f[Hz]
Figura E.2-2. a) Imagen original. Consiste en 4 puntos, dispuestos y enumerados segn muestra la figura. b)
Representacin de cada uno de estos puntos en el plano (,). El rango de los valores de es 90. Cada una de estas
curvas tiene una forma sinusoidal diferente.
Propiedad de deteccin de linealidad de la transformada: El punto + en b) representa la interseccin de las curvas
correspondientes a los puntos 1 y 2. La situacin del punto + indica que estos puntos se disponen en lnea recta orientada
segn un ngulo de 5. El punto * en b) tiene correspondencia con la lnea roja en a) de pendiente 41.
Laprecisinenlalinealidaddeestospuntosseestableceporelnmerode
subdivisionesenelplanoab.Sisubdividimoselejeaenkpartes,entoncespara
cadapunto(xk,yk)obtenemoskvaloresdebquecorrespondenaloskposibles
valoresdea.Dadoquehaynpuntosdeimagen,estoimplicankclculos.As,
este procedimiento es lineal en n. El producto nk no se acerca al nmero de
operacionesdiscutidoalprincipiodeesteapartado,anoserquekseasimilaro
superioran.
Unproblemaquesurgeconelusodelaecuaciny=ax+bpararepresentar
una recta es que tanto la pendiente como el trmino independiente tienden a
infinito cuando la recta tiene una posicin cercanaa la vertical. Una manera de
solventar esta dificultad consiste en emplear la siguiente representacin de una
recta: =xcos+ysin comosepresentaenlaformahabitualdelatransformadade
Hough. El uso de esta representacin en la construccin de una tabla de
acumuladores es idntico al mtodo discutido anteriormente para la
representacinpendientetrminoindependiente.Loquesucedeahoraesque,
enlugardelneasrectas,tenemoscurvassinusoidalesenelplano(,).Aligual
que antes, M puntos de la recta x cosj+y sen j= i darn lugar a M curvas
sinusoidalesquesecortanenelespacioparamtricoen(i, j),verFiguraE.22.
_
La transformada de Hough es aplicable a cualquier funcin de la forma

g(x,c)=0,dondexesunvectordecoordenadasycesunvectordecoeficientes.Por
ejemplo, los puntos del crculo (xc1)2+(yc2)2=c32 pueden detectarse usando el
proceso comentado hasta ahora. La diferencia bsica es que ahora tenemos 3
parmetros (c1,c2,c3), que se traduce en un espacio paramtrico tridimensional,
con celdas cbicas y acumuladoras de la forma A(i,j,k). El procedimiento es el
-184-
ANEXOS
siguiente: Incrementar c1 y c2 y resolver el valor de c3 que satisface la anterior

ecuacin.Despus,actualizarelacumuladorcorrespondientealaceldaasociada
al tro de valores (c1,c2,c3). Claramente, la complejidad de la transformada es
fuertemente dependiente del nmero de coordenadas y coeficientes en una
representacin funcional dada. Por ltimo, queda comentar que determinadas
generalizaciones permiten detectar curvas con representaciones analticas no
simples.
E.3
La transformada Radon
LatransformadaRadonesunatransformadaintegralcuyainversaesusadaenla
reconstruccindeimgenes.LatransformadaRadon(,)deunafuncinf(x,y)se
definecomolaintegralalolargodeunalnearectadadaporsupendienteysu
posicin inicial. Existen numerosasexpresiones para esta transformada pero las
ms populares usan la representacin paramtrica de una recta de la forma
= x cos + y sin ,donde eselnguloquedelalnearespectoalosejesy es
la distancia ms corta al origen de la lnea. De esta forma, se computan las
proyeccionesdeunaimagenenfuncindedireccionesespecficastalycomose
describeporlafrmula:
g ( , ) =
f ( x, y) ( x cos y sin ) dxdy
f ( cos s sin , sin + s cos )ds
E.2
La transformada es capaz de convertir imgenes bidimensionales con

lneas rectas de un dominio original a un dominio imagen de los posibles
parmetros de las lneas de forma que cada lnea del dominio original se
representaporunpicoposicionadoenlosvalorescorrespondientesdeldominio
paramtrico.Asesdegranutilidadparaladeteccindelneasenaplicacionesde
procesado de la imagen, visin computerizada, tomografa, etc resultando
efectivaanenlatransformacindeimgenesruidosas.
Modelandounalneaconlosparmetros(*,*),laE.2sereescribecomo:
f ( x, y ) = ( * x cos * y sin *)
g ( , ) = ( * ( cos s sin )cos * ( sin + s cos )sin *)ds
1
= ( * cos( *) + s sin( *))ds =
sin( *)
E.3
y,si=*,entoncessin(*)=0ysetieneque:
0, if *
g ( , ) = ( * )ds =
(0)ds, if * =

-185-
E.4
b) R (X)
a) Plano xy
x 10
-150
7
20
-100
40
60
-50
4
3
50
2
100
80
1
150
0
0
50
(grados)
Figura E.3-1. Ejemplo del uso de la transformada Radon para la deteccin de lneas. En la imagen (a) se tiene la
representacin de varias lneas ruidosas cuyas transformadas se superponen en el espacio R de la imagen (b). Los picos
observados en b) son correlacionados con las lneas de a) a travs de la observacin del ngulo (theta, ) para cada caso.
Igualmente, la coordenada rho en b) ofrece informacin acerca del origen ordenado y de cada lnea en a)
100
20
40
60
80
-50
100
El resultado es un pico formado en el espacio transformado en las

coordenadas * = and=*.
LaFiguraE.31representaunaejemplificacindelusodelatransformada
Radonparaladeteccindelneas.EnlaFiguraE.31b,laevaluacindelospicos
ms fuertes (aquellos puntos en la imagen de mayor contraste y valor) ofrece
informacinacercadelnguloylocalizacindelossegmentosrectosmslargos
delafiguradelaizquierda.
ParaunamsdetalladayprecisalecturaacercadelatransformadaRadon
se invita a la consulta de la obra [Toft, 1996] (P. Toft, The Radon Transform
TheoryandImplementation,Ph.D.thesisDepartmentofMathematicalModelling,
TechnicalUniversityofDenmark,June1996,326pages.)disponibleenlaweb.

-186-
Equipamiento utilizado
A continuacin se presentan algunos detalles de las facilidades disponibles y

utilizadas para el desarrollo de este trabajo ordenadas por centro de
investigacinenelqueseencuentran.
F.1
Laboratoire de Vision et Systmes Numriques de l'Universit
Laval
Cmaras en el espectro infrarrojo
SantaBarbaraFocalPlaneSBF125
Matriz CCD
InSb (Antimonio de Indio)
Tamao de imagen dinmico: desde 128x8 a
320x256.
Frecuencia de captura de imgenes/(tamao de
imagen) : 8 kHz/(128x8), 1 kHz/(128x128), y 400
Hz/(320x256).
Profundidad de bit: 14 bits (16,384 niveles)
Enfriamiento por nitrgeno lquido (77 K)
Banda espectral: 3 a 5 m.
CincinnatiElectronics
array FPA
InSb (Antimonio de Indio)
detector de 160x120 pixeles
Frecuencia de captura de imgenes: 54 images/s
NETD: 20 mK at 20C
Enfriamiento por nitrgeno lquido (77 K)
Banda espectral: 3 a 5 m.
Fuentes de calor
2flashesBalcarFX60
Lmparasdecalentamiento
Duracin del pulso: 5 ms

Energa: 6,4 kJ x 2 flashes.
6 lmparas infrarrojas de 1.2 kW

Duracin del pulso mnima: 300 ms

-187 -
F.2
Materials Research Centre de University of Bath
Sistemas de inspeccin con termografa infrarroja
ModuloTSS:
Sistemadedicado,desarrolladoenelMaterialsResearchCentredelaUniversity
of Bath. Basado en la cmara miniatura Omega de Indigo y con un sistema de
lmparas infrarrojas que proporciona una excitacin pulsada de duracin
controlada.
a)
b)
Figura F.2-1. Vistas del Mdulo TSS desarrollado dentro del proyecto AHEAD por el Materials Research Centre de la
University of Bath . a) sistema inspeccionando una placa de aluminio; b) sistema en reposo.
Omega
Rango de medida de
temperatura del objeto
NEDT
Tipo de detector
-40150C (con CAGhasta

400C)
<85mK
microbolmetro no
refrigerado, tipo VOx de
160x120 pxeles
Banda espectral
7.5-13.5 m
Salida de vdeo
Analgica RS-170A (CCIR)
Frecuencia de imgenes 30 Hz
Potencia consumida
<1.5W
Conectores
Interfaz RS-232
Rango de temperatura de 040 C
operacin
Rango de temperatura
-4055 C
opcional
Peso
<120 g
Dimensiones
34x36x48 mm

-188-
ANEXOS
SistematermogrficocomercialEchoTherm:
Comercializado por TWI Inc. Basado en cmara de infrarrojo Merlin y en un

sistemadeflashescomoexcitacin.
Figura F.2-2. Vista del sistema EchoTherm comercializado por TWI Inc.
Merlin
Proveedor: TWI Inc.
Manufactura:Indigo (US)
Sensor:FPA InSb
Tamao de la imagen:320 x 256 pixeles
NeTD:< 25 mK
Banda espectral:1 - 5.4 m
Profundidad de bit: 12-bit
Output: S-Video NTSC @ 30 Hz (PAL @ 25 Hz
optional); Digital Video 60, 30*, 15* Hz (50 Hz PAL)
Frecuencia de muestreo de imgenes:30Hz
(Analgico), Digital (60,30,15Hz)
Tamao:5.5 "H x 5.0 "W x 9.8 "L
Peso:4.5 kg

-189-
F.3
Grupo de Ingeniera Fotnica de la Universidad de Cantabria
Cmaras de infrarrojo
ThermaCAMTMSC2000(FLIRSYSTEMS)
Rango de medida de
temperatura del objeto
-40500C (2 rangos)
hasta 2000C con la
opcin de alta temperatura
Precisin de las medidas 2%
Sensibilidad trmica
<0.1C
Campo de visin
24 x 18/.5 m
Tipo de detector
microbolmetro no
refrigerado, tipo FPA de
320x240 pxeles
Banda espectral
7.5-13 m
Salida de vdeo
VHS standard o S-VHS
Visor de imgenes
LCD color TFT de alta
resolucin
Almacenamiento
PCMCIA Flash Card de
100 Mbytes para
imgenes en formato IMG
en 14 bits o BMP 8 bits
Sistema de bateras
NiMH con autonoma de
2 horas
Zoom
Electrnico (x1-x4)
Conectores
Interfaz RS-232
Rango de temperatura de -1550 C
operacin
Rango de temperatura de -4070 C
almacenaje
Peso
2.3 Kg incluyendo batera
Dimensiones
220x133x140 mm
ThermosensorikcameraCMT128SM
Detector FPA
CMT (Antimonio de Indio)
Tamao de imagen dinmico: desde 32x32 a 128x128.
Frecuencia de captura de imgenes: Variable hasta
4KHz en funcin del tamao de imagen y el tiempo de
integracin (460 imgenes completas con 1ms de
tiempo de integracin)
Tiempo de integracin: 1s-2.5ms
NEDT < 25mK
Enfriamiento por Stirling
Banda espectral extendida: 1.5 a 5 m.

-190-
ANEXOS
Calibrador de cuerpo negro

MikronM330
Rango de temperatura
Exactitud
Resolucin de temperatura
Estabilidad
No uniformidades de la
fuente
Cavidad:
Dimetro
Longitud
Longitud calentada
Dimetro de la abertura
Emisividad
Mtodo de control
Tiempo de calentamiento
Temperatura ambiente de
operacin
Refrigeracin
Requerimientos de
potencia
Peso
Comunicacin
Vida media del calibrador

-191-
300 C a 1700 C
0.25% leyendo 1 C
1 C
0.5 C en periodo de 8
horas
0.1 C
Tubo de extremos
cerrados
50 mm
300 mm
150 mm
25 mm
0.999 0.0005
Controlador PID Digital
80 minutos de ambiente
a 1600 C
0 C a 44 C
Por ventilador. Toma de
aire en panel posterior
220 VAC 10%. 3.6
KW mximo
80 Kg
Puerto serie RS422/485
5 a 10 aos mnimo
PARTE 5
Summary
Enestaparteserecogeunamplioresumendeldocumentodetesisescritoen
unalenguaoficialdelaUninEuropeadistintaalEspaolconlaintencinde
optaralamencindeDoctoradoEuropeorespondiendoaunainiciativadel
Comit de Enlace de las Conferencias de Rectores y Presidentes de
Universidades de los pases miembros de la Comunidad Europea que se
concret en marzo de 1993. Se efecta en Ingls por su amplio uso en la
comunidadcientfica.
Para obtener la mencin de Doctorado Europeo se debern cumplir los
siguientesrequisitos:
a). La autorizacin de la defensa de la tesis doctoral deber estar precedida de

informes favorables realizados por un mnimo de dos expertos pertenecientes a
institucionesdeenseanzasuperiordeotrosdospaseseuropeos.
b). Al menos un miembro del tribunal que juzgue la tesis deber pertenecer a una
institucin de enseanza superior de otro pas europeo, sin que pueda haber
coincidencia con el profesorado que ha realizado el informe previo previsto en el
puntoanterior.
c). Que parte de la tesis doctoral, al menos el resumen y las conclusiones, se haya
redactadoypresentadoenunadelaslenguasoficialesdelaUninEuropeadistintaa
algunadelaslenguasoficialesenEspaa.
d). El doctorando deber acreditar que para la realizacin de la tesis doctoral ha
realizadounaestanciamnimadetresmesesenotropaseuropeo.
In this part, a long summary is presented. It has been written in a oficial

language of the European Union different to the Spanish in order to be
awarded with the European Doctorate mention in accordance to the
initiative of the Liaison Committee of the various national rectors or
chancellors conferences from European universities concreted on march of
1993. The choosen language is English by its huge use among scientific
community.
The mention referred to will be awarded to those PhD theses whose
preparationanddefencemeetthefollowingrequirements:
a). TheauthorisationtodefendthePhDthesiswillbeprecededbyfavourablereports
from a minimum of two experts from higher education institutions in two different
Europeancountries.
b). At least one member of the PhD assessment board will be a member of a higher
educationinstitutionfromanotherEuropeancountry.Thismembershallnotbeoneof
thosewhohaveissuedthereportreferredtointhepreviousparagraph.
c).PartofthePhD,atleastthesummaryandtheconclusions,willbecarriedoutinone
oftheofficiallanguageoftheEuropeanUniondifferenttoanyoftheoficiallanguages
inSpain.
d).Doctoralstudentswillprovethattheyhavespentaminimumstayofthreemonths
inanotherEuropeancountryinthepreparationoftheirtheses.

-193 -
ESCUELA TCNICA SUPERIOR DE INGENIEROS

INDUSTRIALES Y DE TELECOMUNICACIN
PHD THESIS
CONTRIBUTIONS TO NON DESTRUCTIVE

TECHNIQUES FOR EVALUATION AND TESTING OF
PROCESSES AND MATERIALS BY MEANS OF
INFRARED RADIATION
AUTHOR: DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ

DIRECTOR: JOS MIGUEL LPEZ HIGUERA
SANTANDER, 2006
S Summary
S
Summary ...................................................................................................................1
S.1
S.1.1
S.1.2
S.1.3
S.1.4
S.1.5
S.2
Introduction................................................................................................................. 3
Thermal energy, heat and temperature ........................................................................3
Heat physics ................................................................................................................4
Optical Methods to measure heat transfer and temperature ........................................5
Scope of the Dissertation.............................................................................................6
Structure of the Document ..........................................................................................7
State of the Art in Thermography ............................................................................. 8
S.2.1 Situation and Tendencies.............................................................................................9

S.2.1.1 Hardware............................................................................................................11
S.2.1.2 Software .............................................................................................................12
S.2.2 Lacks on the state of the art.......................................................................................12
S.2.2.1 Influence of low binarization on IT....................................................................12
S.2.2.2 Problems detected on usual methods..................................................................12
S.2.3 Objectives of the Dissertation ...................................................................................14
S.3
Subsurface defect detectability in Active Thermography Systems of low
binarization............................................................................................................................ 17
S.3.1 Parameters to define the detectability concept in Thermography..............................17
S.3.1.1 Factors affecting the temperature measurement in Thermography ....................18
S.3.1.2 Factors improving the detectability of subsurface defects in Thermography.....18
S.3.2 Detection decision criteria.........................................................................................19
S.3.3 Detectability criteria for poor digitalizations.............................................................20
S.3.4 Compensation of poor digitalizations........................................................................21
S.3.5 Discussion of results..................................................................................................22
S.4
Automation of the thermographic sequence processing........................................ 23
S.4.1.1 Assessment of the acquisition times...................................................................24

S.4.1.2 Linear fitting ......................................................................................................25
S.4.2 Statistical Methods ....................................................................................................25
S.4.2.1 Interpolation algorithm.......................................................................................26
S.4.2.2 Statistical robust methods applied to Thermography .........................................27
S.4.3 Transformation of the data space ..............................................................................28
S.4.3.1 Hough Transform ...............................................................................................29
S.4.3.2 Radon Transform ...............................................................................................31
S.4.4 Identification of linear behaviours.............................................................................33
S.4.4.1 Phase behaviour .................................................................................................33
S.4.4.2 Electrical excitations ..........................................................................................36
S.4.5 Discussion of results..................................................................................................38
S.5
Conclusions and Open Research Lines ................................................................... 41
S.6
List of publications.................................................................................................... 43
UNIVERSITY OF CANTABRIA (2006)

- S. 1 -
PART 1 Preliminary
ThispartintroducestheInfraredThermography(IT)andprovidesanoverview
of the State of the Art in Thermography that will be employed to show the
motivation, scope and objectives of this dissertation as well as the structure of
thisdocument.
S.1 Introduction
Non Destructive Techniques for evaluation and testing of materials and
manufacturedcomponentshavebeenusedforyears.However,itisalsotruethat
they have experienced a huge development in the last decades due to their
importance and efficiency as a tool in quality control processes. Past on the
seventies,theinspectionsofanobjectormaterialtodeterminateifitwasvalidor
notcouldbeclassifiedintoNonDestructiveTesting,NDT,andNonDestructive
Inspection,NDI.But,duetotheadvanceofthesemethodsandtheaddingofnew
ones, quantitative analysis has been provided and so, a new branch of non
destructive techniques has been originated, i.e. Non Destructive Evaluation or
NDE.Anydetectedanomalycanhencebeclassifiedbyitssize,shape,typeand
position.
NDEcomprisesmanydifferenttechniqueswhosecomparisonisdifficult
(resultsarestronglydependentontheapplications).Thus,thevalidationofeach
method depends on the acceptance among the scientific community and the
adequacy of the tests to the calibration standards. In this way, Thermal
Inspection is nowadays recognized as one of the more useful techniques for
detectionandevaluationofdefects,leaks,metrology,structurecharacterization,
mechanicalandphysicalpropertiesestimationoranalysisunderstressandstrain
ofmaterialsandcomponents.
Particularly, the thermal inspection based on infrared radiance supplies
fast, contactless and safe measurements. Its basic principle consists of the
estimation of temperature differences in a surface versus time using infrared
technologysystems.Measuredtemperatureisdirectlyrelatedtotheheattransfer
patterns of the inspected body and, therefore, not only superficial anomalies or
imperfectionscanbedetectedbutalsosubsuperficialones.
S.1.1 Thermal energy, heat and temperature

Asastartingpointofthediscussion,itcanbesaidthatmatter,energy,spaceand
timeconstitutethebasisofall.Atomsandmoleculescomposematterandenergy
makes atoms and molecules jitter. Heat is a form of energy associated with the
motion of atoms or molecules and capable of being transmitted through solid
andfluidmediabyconduction,throughfluidmediabyconvection,andthrough
empty space by radiation. But there exists a quantity of energy inherent to any
kind of matter, even in the coldest vacuum. The average kinetic energy
associated with the random motion of any substance is proportional to the
absolutetemperatureofthesubstance.Thisenergyischaracteristicofthematter
anditsmeasurementiscalledtemperature.Thermalenergyisdisorderedenergy.
- S. 3 -
CONTRIBUTIONS TO NON DESTRUCTIVE TECHNIQUES FOR EVALUATION AND TESTING OF PROCESSES AND MATERIALS BY MEANS
OF INFRARED RADIATION.
Temperatureisameasurementofthisinternal,disorderedenergy.Whileinideal
gasesthedisorderedenergyisallkineticenergy,insolidsitisacombinationof
kineticandpotentialenergy.
Temperatureispresentedinalotoffactsintheworld.Ithasinfluenceon
naturalphenomena,industrialprocesses,labs,medicine,andsoon.Itsmeasure
andcontrolisfrequentinthosefields.Besides,thereareonlyafewpropertiesor
characteristics of materials, which remain constant with temperature.
Consequently, a great number of testing methods involve the measurement of
temperature.
Additionally, thermometry characterizes matter as a function of its
thermalbehaviour,anditallowstoperfectlydistinguishingthecorrectbehaviour
from the anomalous one. For example, fever was the most frequently observed
condition in early medical observations. From the early days of Hippocrates,
physicians have recognised the importance of a raised temperature. During
centuries, this remained a subjective skill, and the concept of temperature
measurementwasnotdevelopeduntilthe16thCentury.
S.1.2 Heat physics

In Thermology, heat transfer is defined as the science whose objective is to
predictthetransferofenergyfromonebodytoanotherasaresultofadifference
intemperatureorachangeinphase.Heattransferisacomplexprocessthatcan
be described, in modern terms, by three main modes. The first is conduction,
requiring contact between the object and the sensor. The second mode of heat
transferisconvection,andthethirdradiation.Allofthemcannowbeimagedby
remotedetectionmethods.
Althoughthesethreemechanismscansimultaneouslytakeplace,itcanbe
alsopossiblethepredominanceofoneofthemupontherest.Dependingonthe
materials involved, heat factors may include conduction, convection (in gases
andliquids)and/orradiationwithdifferentemphasisontherelatedcomponents
emissivityandabsorptivity.
The atoms in a solid or fluid vibrate around their equilibrium positions.
As they vibrate, they bump into their neighbours. In those collisions an energy
exchangetakesplace.Ifthedifferentregionsofasolidobject/fluidorofseveral
solid objects/fluids arranged in contact with each other have the same
temperature,thenallatomsarejustaslikelytogainenergyastolooseenergyin
thecollisions.Theiraveragerandomkineticenergydoesnotchange.If,however,
oneregionhasahighertemperaturethananotherone,thentheatomsinthehigh
temperatureregionwill,onaverage,looseenergyinthecollisions,andtheatoms
in the low temperature region will, on average, gain energy. In this way heat
flowsthroughasolid/fluidbyconduction,becauseatemperaturegradientexist.
In some cases the contributions of convection and radiation play only a
minor part in comparison to conduction. However, under some conditions, the
effects of one or both can be very significant. Convection is the term used to
describethemotionor,circulationcurrent,whichissetupinanygasorliquidas
itisheatedorcooled.Convectionisnot,initself,asingularheattransportvehicle
DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ PHD DISSERTATION
- S. 4 -
SUMMARY
as conduction and radiation are. Instead, it greatly increases conduction by

constantly circulating colder material to the warm surfaces, thus increasing the
effectivetemperaturegradient.
Like conduction, radiation is a unique and independent form of heat
transfer.Ignoringtheconflictsofwaveandquantumtheory,itwillsufficetosay
that radiation, in this case, refers to the transmission of electromagnetic energy
through space. While the term radiation applies to the entire electromagnetic
spectrum,ourconcerniswiththatportionwhichfallsbetweenvisiblelightand
radar, the infrared rays. Infrared rays are not by themselves hot, but they are
simply a particular frequency of pure electromagnetic energy. Sensible heat
doesnotoccuruntiltheseraysstrikeanobject,therebyincreasingthemotionof
its surface molecules. The heat then generated is spread to the interior of the
object through conduction. Therefore, radiation is fundamentally different from
conductionindescribingthetransferofheatbetweentwosubstancesthatarenot
in contact with each other. All matter above absolute zero radiate heat to some
extent.Itstemperature,thetemperatureofthesurroundingenvironmentandthe
objectsemissivityfactor,determineshowmuchheatanobjectradiates.
Various authors gather the fundamentals and details of heat transfer in
theirbibliographies.Besides,severalsophisticatednumericalmethodsmodelling
theheattransferareavailable.Butthisavailabilityhasnotdiminishedtheneed
for measurements and experimental quantitative and qualitative observations.
They are still necessary for developing a comprehensive phenomenological
understandingofthephenomenaandforthevalidationofnumericalmodels.
Asthetemperatureisanessentialmagnitudeandcloselyrelatedtoheat
transfer,itisnecessarytoquantitativelyobserveormeasurethetemperatureas
preciselyaspossibleinordertoinspect,evaluateandtestmaterialsandcontrol
processeswhereheattransferisfundamental.
S.1.3 Optical Methods to measure heat transfer and temperature

As it has been suggested, to be considered in previous sections, temperature
measurement is highly valuable in many processes (physical, chemical,
environmental, medical, mechanical) and that can be concluded just
consideringthehugehistoryofthermometry.Fromancienttimes,severaldevices
andsystemshavebeendevelopedtomeasuretemperatureandstandardizations
ofthemeasurementshavealsobeentreated.
Generally speaking, temperature measurement devices (thermoscopes
andthermometers)usetobebasedonthetemperaturegradientregisteredwhen
the materials of the instrument are in contact with the object under inspection.
Basically, the development of these artefacts carries out a previous thermal
characterizationoftheusedmaterialsandsubstances.
Usually,themostsuitablematerialsandsubstancesarethosewithalinear
thermal behaviour. When two bodies are put in contact, heat transfer is always
directed from the higher to the lower temperature object until the thermal
equilibrium between both is reached. So, the use of thermoscopes and

- S. 5 -
thermometersdealswithanindirectcontactmeasurementwheretheconduction
istheprimordialmechanismfortheheattransfer.
However,contactlessmeasurementscanbeperformedbymeansofother
heat transfer mechanisms, i.e. radiation. Optical methods are thus a good
solution.Itisextremelyinterestinginordertoquantifythetemperatureofbodies
inmovementoreventhosethataresohotthatcoulddegradetheinstrumentof
measurement. Besides, by using contactless testing and evaluation we are
contributingtononinvasivemethods.
Optical methods represent extremely versatile nonintrusive tools for
visualizing in realtime temperature distributions over the whole field. Rapidly
changingprocessescanbemonitored,astherearepracticallynoinertialerrors.In
general,opticalmeasurementsareofgreatersensitivityandaccuracycompared
to other methods, such as calorimetric measurements or temperature
measurements by thermocouples. Most of these methods are based on physical
principlesknownalongtimeagoandtheirusehasbeenmainlyqualitative.
Optical techniques can be broadly classified in accordance to four basic
principles:thermalradiation;lightscatteringfromtracerparticles;interactionof
fluidflowwithasolidsurface,andmethodsrelyingonrefractiveindexchanges
in the fluid. Techniques in the lastcategory can be further subdivided into two
groups:interferencemethods,basedondifferenceinopticalpathsandmethods
using light deflection. Other traditional classification divides the different
techniquesintermsofthespectralregioninwhichtheywork.
Recent development and commerce of lasers, cameras and processing
systemswithappropriatedsoftwarehavestimulatedarenaissanceoftechniques
and an expansion of the quantitative analysis possibilities. Nowadays, optical
methodsinvolveinthermometryarepyrometryandthermography.
Pyrometry and thermography (thermal imaging) offer the potential to
measure and control the temperature of an object, performed by measuring the
emittedthermalradiation.Inparticular,thesethermalinspectiontechniquescan
be fruitfully employed to measure heat fluxes, in both steady and transient
techniques. In the traditional technique of pyrometry, temperature is measured
atasinglepoint,orthespaceaveragedone.Thisconstraintmakesexperimental
measurementsparticularlytroublesomewhenevertemperature,and/orheatflux,
fields exhibit spatial variations. Thermography allows the performance of
accurate measurement of surface temperature maps even in the presence of
relativelyhighspatialtemperaturevariations.Therefore,muchmoreinformation
canbesuppliedusingthermographyinsteadofpyrometry:notonlytheprecise
temperaturevaluesbutalsospatialdistributionofthem.
S.1.4 Scope of the Dissertation

Nowadays,nobodyunderestimatestheimportanceofqualityasamainfactorin
themanagementofanyprocessorproduct.Thisisastronglyheterogenicword
which stands for the measurement of conformance of a product or service to
certain specifications or standards, a distinctive element, a level of superiority

- S. 6 -
SUMMARY
thatisusuallyhigh,adegreeofexcellenceorthatitisexceptionallygoodwithin
itskind.
As mentioned before, temperature or heat transfer measurement and
control is essential in a lot of processes and, besides, characterizes components,
products and structures. It is directly related to the manufacturing and the
implementationofaqualitycontroland,therefore,itcouldleadtothenecessity
of establishing thermal inspection techniques. The study and analysis of these
techniqueshavebecomethefirstgoaloftheworksherepresented.
Infrared thermography (IT) transforms the thermal energy, emitted by
objectsintheinfraredbandoftheelectromagneticspectrum,intoavisibleimage.
This feature represents a great potentiality to be exploited in many fields. The
search and identification of niches (industrial and market ones) where it is
possible to contribute with the use of IT becomes another goal in our work.
Mainly,qualitycontrolofmanufacturedproducts,evaluationofcomponentsand
structuresandmonitoringofindustrialprocessesconformtheaxisoftheworks
herepresented.
Finally, offering solutions to the inconveniences found in the niches
mentioned above requires understanding, analyzing, processing and solving
different facts related to heat transfer problems, precise measurement of the
temperature and data and image processing. The final goal is to develop
processingtoolsthatallowanyoperatortoperformathermographicinspection.
S.1.5 Structure of the Document

This document has been organized in four parts, each one dealing with an
essentialblockinthedissertation.
Thefirstpartreviewsthepreliminariesofthethesis.Inordertoprovidea
briefoverviewofthebasictechnologythatwillbeemployedalongthework,the
first chapter, Introduction, relates the thermal inspection to daily life and the
secondone,i.e.StateoftheArtinThermography,outlinesthestateoftheartand
thetrendsofthisfield.
The second part, Contributions, details the principal contributions
performedonITbytheauthor.Takingascommonapplicationintheresearchthe
detection of subsurface defects in materials, chapter 3, i.e. Subsurface defect
detectabilityinActiveThermographySystemswithpoordigitalization,describes
how the detectability can be enhanced and overcome poor digitalization on
thermographic systems. Chapter 4, Automation of the thermographic sequence
processing, is focused on the automation of the decision processes necessary to
subsurface defect detection as mentioned above. Removing in some cases the
human intervention and leading to possible automatic quality control software
forinspectionofcompositesandmaterialsdemonstrateefficiency.
The main conclusions and open research lines are summarized in the
thirdpartorchapter5.Inaddition,differentappendixesareaddedtotheworkat
the end presenting aspects of interest, technical characteristics of the used

- S. 7 -
equipment, algorithms and a list with all the contributions of the author to the
scientificknowledge.
S.2 State of the Art in Thermography

The previous section has been an invitation to a meditation. Temperature
measurement is directly related to manufacturing processes and evaluation of
materials,structuresanddevices.Theabilityofdeterminingthismeasurementin
a contactless way avoids the intrusion and possible alteration or destruction of
the sample under inspection. The ability of obtaining thermograms (thermal
images) allows observing the heat transfer mechanism bidimensionally,
providing much more information than conventional singlepoint measurement
techniques. The ability of adding the possibility of an analysis and temporal
recordofthosethermalimagesleadstoabettercontrolandunderstandingofthe
processesandobjectsunderinspection.
In this point, Infrared Thermography (IT) is positioned as a serious,
reliable and precise alternative in the Non Destructive Inspection, Testing and
Evaluation(NDI,NDT andNDE)fields.Itisrecognizedasoneoftheprincipal
NDE&T techniques among others as Radiographic Testing (RT), Ultrasonic
Testing(UT),ElectromagneticTesting(ET),MagneticParticleTesting(MT),Dye
Penetrant Testing (PT), Visual Testing (VT), Acoustic Testing (AT) or Leak
Testing(LT).
Each NDE&T technique has its proper advantages and disadvantages.
ThosebelongingtoITaresynthesizedinnexttable:
Advantages
Difficulties
fastinspectionrate
nocontact
safety(thereisnoharmfulradiationinvolved)
results are relatively easy to interpret (provides
images)
wide range of applications; unique inspection tool
forsomeniches
difficulty in obtaining a quick, uniform and highly
energetic
thermal
stimulation
(active
thermography)
effects of thermal losses (convection, radiation and
conduction)
limitedcapabilityofdetectingonlydefectsresulting
inameasurablechangeofthermalproperties
ability to inspect a limited thickness of material
underthesurface
emissivityproblems
Table 1. Advantages and difficulties of IR thermography

- S. 8 -
SUMMARY
700
Number of references
600
500
400
300
200
100
0
1960
1965
1970
1975
1980
1985
1990
1995
2000
2005
2010
Year
SCOPUS
COMPENDEX
INSPEC
Figure S.- 1 Identification of any of the terms: thermograph*, thermal imaging or infrared testing in the contents of
different databases sort by the year of publication.
S.2.1 Situation and Tendencies

Theimprovementandsophisticationofinfraredcameras,theriseofcomputing
power and the improvement of software used in the analysis of thermographic
sequenceshasinspiredtorecognizenewnicheswhereITbecomesuseful.Ithas
been clearly reflected in the boom of conferences and publications regarding
thermographictopics.
International conferences as Thermosense in America (annual, XXVIII
meetingin2006)andQIRT(biannual,8thmeetingin2006)inEuropearespecific
conferenceswiththescopefocusedonthescientific,industrialandgeneraluses
oftemperaturemeasurementandthermalimaging.Otherconferences,withwide
scopetowardsNDE&T,are:theNDTConference(annualBritishconference,45th
meetingin2006)andECNDT(9thmeetingin2006,eachfouryears)inEuropeand
the worldwide WCNDT (each four years, 7th edition in 2004). There are also
workshops as the IWASPNDE in Qubec (5th edition in 2005) and AITA (bi
annual,8thin2005)inItaly.Allthesemeetingsareclearexamplesoftheacquired
relevanceanddiffusionofthermographyinourdays.
Several publications collect in their volumes the advances of the IT
technology. Supported by different associations (ASNTMaterials Evaluation,
BINDTInsight, QIRTQirt Journal, IEEE, SPIE), their scope remains in the
fieldsofmaterialcharacterization(ResearchNondestructiveEvaluation,NDT&
E International), and optics and applied physics (Infrared Physics and
Technology, Optical Engineering, Advanced Physics, Optics and Laser
Technologies).
After a poll on Scopus, Inspec and Compendex databases looking for
several terms associated with IT (thermograph*, thermal imaging, infrared
testing) some conclusions can be extracted about the tendencies of the IT
technology. In Figure S. 1 can be clearly observed the bullish tendency of
- S. 9 -
Spain
Greece
Belgium
Australia
Holland
Taiwan
Sweden
Korea
Switzeland
India
Poland
Israel
Russia
Canada
Italy
France
Japan
Germany
China
UK
USA
36
36
38
41
42
45
53
55
62
74
128
134
159
170
185
231
281
299
322
845
2220
0
500
1000
1500
2000
Figure S.- 2 Identification of any of the terms: thermograph*, thermal imaging or infrared testing in the contents of different
databases (Inspec and Compendex since 1969) sort by the country of publication. Anglo-Saxon world dominates the scene.
publicationsrelatedtoITduringthelastyears.Thedataregardingin2005does
notcollecttheresultsforthewholeyear.
Other interesting graph is the one shown in Figure S. 2, where the
contributionofthetermsabovetotheInspecandCompendexdatabasesissorted
by the country of the first author. Without any doubt, USA is the country with
morecontributionsreachingashareof30.4%over7034publicationssince1969.
ThesecondcountryisUKwitha11.6%;beingChinaandGermanythethirdand
fourth countries with a 4.4% and a 4.1% respectively. These four countries
represent more than half of the contributions in this field. Spain remains in a
inconspicuous 21st place with a share of 0.5% behind countries like Greece,
Belgium,HollandandSweden,withlesspopulationandbelongingtothesame
politicalenvironment(EuropeanUnion).
Concerning the poll in terms of editors, four huge entities are
investigated:AIP,SPIE,ElsevierandIEEE.Duringthelastfiveyears,theonline
resources of these entities show a similar tendency for all of them, as shown in
FigureS.3.Ithastobementionedthatthetimeinvertedforapublicationina
peerreviewedprocessdependsonseveralfactors,whichvaryfromoneeditorto
another. Elsevier is getting a stronger position in the last years because of its
incrementinthenumberofpublications,thespeedupofitssubmissionprocess,
correctionandacceptationprocesses(usingwebtechnologies)andtheexemption
ofsubmissioncosts.
In an attempt to classify the different contributions detected, the topics
division of the international conferences is taken as a reference. Conferences
selected are a good example of the latest developments and researches
(publication quickness) and enough scientific acknowledgment. So, topics from
Thermosense and QIRT conferences in the last five years are blended, counted
and shown in Figure S. 4. Over a total of 377 papers, NDT is the richest topic
regarding contributions including the evaluation of samples, impact damages,
- S. 10 -
SUMMARY
120
100
80
60
40
20
0
2000
2001
2002
2003
2004
2005
2006
Year
Figure S.- 3 Contributions collected by different entities related with IT technologies and sort by the year of
publication.
leaks and other inspections. Solid and fluid mechanics is a usual topic in the
QIRTconferencecountingwithstudiesonthermophysicalproperties,modelling
of heat transfer, semiconductors and so on. In addition, worldwide events
influence this study. Columbias disaster in 2003 and SARS disease in 2004
provokethat,infollowingconferences,thesesubjectswherestudiedandbroadly
presentedbytheinternationalscientificcommunity.
S.2.1.1 Hardware
Abigvarietyofproductshasbeencommerciallydevelopedinthelastdecades.
ITwasamilitarytechnologyattheendoftheXXcenturybut,nowadays,itisa
common tool in numerous civil applications. This fact contributes to the
development of new cameras (compacter, lighter, quicker and cheaper devices,
evenworkingsimultaneouslyinseveralwavelengthranges)andnewexcitement
sources (powerful and with more features). Besides, computer capacity and
software development also improve the features of the present thermographic
systems, opening new application niches and characterizing more precisely the
8%
4%
NDT
3%
23%
Solids and Fluids Mechanics

Radiation Thermometry and Metrology
10%
Processes control and Industral applications

Buildings and Infrastructures
Biomedical
Image Processing and Data reduction
10%
19%
11%
Art and Enviroment

Others
12%
Figure S.- 4 Percentage of contributions distributed by topics extracted from Thermosense (2004,2005 and 2006) and Qirt
(2004 and 2005) conferences.

- S. 11 -
alreadyknownniches.Manybrochurescanbeconsulted.
S.2.1.2 Software
Software used in IT inspections groups a high number of functions defined for
processing of images, save and load of thermographic sequences, comparison
tools and even quantitative analysis. Usually, proprietary software includes
specialized procedures to control other hardware associated like, for example,
excitementsources(heatingsources,vibrationsources).
However, the development of other software is also interesting for IT
practitioners. Quantitative analysis is each day more and more demanded, and
so proprietary software includes each day new functions that facilitate data
transformations (e.g., Fourier Transform) or the modelling of the experimental
setup.Thenumericalcapabilitiesofferedbyfiniteelementmodelling(FEM)were
oncelimitedtostructuralanalysis,butithasbeenshowninseveralstudiesthat
3D finite element modelling of the pulse thermographic technique considers
aspectsofthermalmodellingthatgounaccountedwhencomparedto1Dand/or
2Dnumericalmethods.
S.2.2 Lacks on the state of the art

S.2.2.1 Influence of low binarization on IT
Removed from the present state of the art of thermographic systems, the low
binarization of digital outputs carries effects on the temperature resolution. In
some cases, this reduction is even more important than the very NEDT value.
This is due to the fact that the binarization is equivalent to a specific dynamic
range. The full range of temperatures in a scene can avoid precise temperature
measurements even when thermalcontrast ishigher than the NEDT value. The
nextequationdenotessuchaffirmation.
NEDT
Dinamic range = 2binarizati on bits
digital levels NEDT
ec. S.1
Thislowbinarizationintroducesdifficultiesonthedetectioncapabilityof
thermographic systems. However, as detectability of subsurface defects can be
improved by adding higher excitations, there is a way to compensate this
negativeinfluence.
S.2.2.2 Problems detected on usual methods

Rawthermogramsfromtypicalactivethermographytestsarerarelyadequateas
acquiredforquantitativeanalysis.Processingisamandatorysteppriortodefect
detection and/or characterization. A wide variety of methods from the field of
machine vision and signal processing have been specifically adapted for IT
applications. However, in our goal to develop an automatic procedure that
removes the human subjectivity of the process, not all the available techniques
aresuitable.
A wide variety of transformation algorithms can be applied to
thermographic pulsed data to analyze the information in an alternative space.
- S. 12 -
SUMMARY
Signaltransformationisusedwiththepurposeoffindinganalternativedomain
where data analysis is more straightforward. The Fourier transform (FT)
constitutes without a doubt the most commonly used transform in signal
processing. The FT uses sinusoids as basis functions to decompose the signal
from the temperature time space to a phase or amplitudefrequency space. The
phase has proved to be very useful, not only for qualitative but also for
quantitativeanalysis.
Although the use of oscillatory waves is very convenient in order to
extractamplitudeandphasedelayinformation,itmaynotbetheoptimalchoice
to correctly represent transient signals (as the temperature profiles typically
found in pulsed thermography). The use of waves of limited duration, or
wavelets,constitutesaninterestingalternative.Effortsarefocusedonanoptimal
selection of the mother wavelet in order to increase time resolution at early
stages.
Human intervention in these algorithms is high. An adequate time
resolution t and truncation window size w(t), should be selected during the
signal discretization process. Furthermore, these sampling and truncation
parameters are both function of the depth of the defect and of the thermal
propertiesofthespecimen/defectsystem.Onlyexperiencedoperatorscanexploit
the benefits of these techniques. Subjectivity in the determination of these
parametersistobefound.
Insteadofdefiningabasisfunction,anotherpossibilityistousestatistical
modes to discriminate spatial and temporal information. Principal component
thermography (PCT) also exploits the decomposition of the timevarying
temperaturesignalusingmoreappropriatefunctionsthantheoscillatoryones
obtained through Singular Value Decomposition (SVD). Singular value
decomposition provides a compact representation of data by sorting the spatial
information as a set of empirical orthogonal functions (EOFs) and time
information as a set of principal components (PCs). However, quantitative
analysisisreallyhardtoobtainfromthePCs.
Normalization is a processing technique where the sum (average) of the
totalimagestobeprocessedisdividedbytheaveragedsetofimageswherethe
zoneofinterest(e.g.asubsurfacedefect)isobservedinthetemperaturedata.An
obviousdifficultyistofindthoserelevantimages!
Thermographicsignalreconstruction(TSR)isanattractivetechniquethat
allows increasing spatial and temporal resolution of a sequence, reducing the
amount of data to be manipulated at the same time. TSR is based on the
assumptionthattemperatureprofilesfornondefectivepixelsshouldfollowthe
decay curve given by the onedimensional solution of the Fourier Equation.
ResearchersthusproposedtofitthetemperaturedecaycurveinPTsinceitvaries
(inafirstapproximation)ast.Usinglogarithms,thisyieldstoastraightlineof
slope . Afterwards, a ndegree polynomial is fitted for each pixel within the
fieldofviewandatemperaturereconstructionisprovided.Suchsyntheticdata
processing brings interesting advantages such as: significant noise reduction,
possibility for analytical computations (such as the PPT), and considerably less
- S. 13 -
storage required since the whole data set is reduced to n images (one per
coefficient).InadditiontorawtemperaturesthatcanbereconstructedinTSR,it
has been shown that first and second time derivative are efficient at defect
detection. Considered as one of the essential tools for quantitative analysis, its
principalinconvenientistheperfectsynchronizationbetweentheheatingsource
and the capture system. Prior instants contain most of the information of
shallowerdefects.Theheatingpulsearrivaltimeestimationshouldbecontrolled
toavoidmismatchesinthereconstruction.Nowadays,specialcareistakeninthe
pulsedescending flank. Its effects are retrieved by controllers and even
modelling.
Finally, various thermal contrast definitions exist, but they all share the
needofaknownsoundarea,i.e.anondefectiveregionwithinthefieldofview.
Among thermogram processing techniques, thermal contrast is often employed
forenhancingsubsurfacedefectsdetection,imagequalityandevenforobtaining
some quantitative approximations regarding the depth, thermal properties and
size of defects. The different contrast definitions require the identification of a
nondefectivezoneorsoundareaor,evenbetter,thecoldimage,andthisisoften
a limitation because it demands a priori knowledge of the specimen. The
definitionofthesoundareabecomesacriticalissueand,becauseitwillalways
beanassumption,thisisastronglimitationthatprovidesinaccuracytocontrast
methods. Some attempts have been proposed for avoiding this necessity of the
sound area knowledge and, moreover, overcoming other problems such as the
nonuniformityofthe thermalstimulationorthetiltoftheheatpulsesourceto
the normal of the specimen surface. Among these, the Differentiated Absolute
Contrast (DAC) method is one of the simplest and easiest to implement.
However,theexperienceofanoperatorworkinginthisfieldisstillnecessaryto
obtainsatisfactoryresultsandclearcontrastimages.
S.2.3 Objectives of the Dissertation

Within reference frame, this Dissertation aims at making an assessment and
improvement of Infrared Thermography capabilities. The objectives can be
mainlygroupedas:
Improvements of subsurface defect detection by means of low binarization

systems.
Automationofprocessesinvolvedinthermographicsequenceanalysis.
Taking into account the observed tendencies in the IT field, the

development of the hardware features, their versatility and diversity, it is also
convenient to establish some parameters able to precisely compare different
thermographicsystems.Thisgoalisapartialobjectiveincludedinchapter3.
Ontheotherhand,thedissertationdealsindepthwiththeassessmentof
software algorithms, which are able to automate the decision tasks of defect
detection. The main goal of this thesis work is to propose and demonstrate the
efficiency in the use of new software tools with capability to simplify the
detection of subsurface defects. As stated along the text and extracted from the
review of the State of the Art of the available thermographic software, present
- S. 14 -
SUMMARY
detection processes need high qualified human intervention. Operators have to

beexperiencedintheuseofimageprocessingtoolsandheattransfermodelling
to analyze a thermographic sequence. Entities such as ASNT or FLIR develop
differentprogramsinordertoprovideCertificationLevelstooperatorsastheir
knowledgeincreases.Eventhoughwidediversityofcontentswillbedealtwith,
this thesis is specially focused on those aspects, which have been identified as
resolvable human decisions. The purpose of these works has been the
development of algorithms, which, as automatically as possible, reproduce the
humandecisionsandprovideauniqueimagewhereallthedetectabledefectsare
presented.

- S. 15 -
Part 2 Contributions
S.3 Subsurface defect detectability
Systems of low binarization
in
Active
Thermography
ThemostimportantconditionforITtoprovideusefulresultsistheexistenceofa
temperature difference, or thermal contrast T, between the feature of interest
and its surroundings. A second condition is to have the appropriate thermal
imagingequipmentabletodetectthosethermalcontrastsandtoproducethermal
images or thermograms. In addition, it is also necessary to count with an
experiencedthermographertointerpretthethermographicresults.
In this chapter the detectability concept is introduced and analysed.
Several factors increase or decrease the thermal contrast produced by an
anomaly.Ourgoalistoidentifytheprocedure,andthentocompensatethepoor
digitalization of the thermographic captures. Studies have been set in the
detection of subsurface defects as this ability to predict subsurface defect
information in composite materials through a noninvasive, efficient inspection
protocolisfastbecomingavitalresearcharea.
S.3.1 Parameters to define the detectability concept in Thermography

The concept of detectability used in this study, defined as the availability of
detectingdefects,isbasedontheminimumdetectablesize,MDS,andthenoise
equivalenttemperaturedifference,NEDT.
When the feature of interest presents a size bigger than the MDS
parameter, the temperature of that feature can be determined from the emitted
radiance. However, if the object is smaller than the MDS, its shape and
temperaturearenotdiscernedasthesurroundingsradianceisalsocaptured.On
theotherhand,theNEDTparameterisdirectlyrelatedtothethermalsensitivity
oftheIRcamera,thethermalresolutionorlowerthermaldifferencethatcanbe
measured.Itisclearlyseenthatthethermalcontrastfordetectionmustbebigger
than the noise equivalent temperature difference (NETD) parameter provided
usually by manufacturers. If the absolute contrast goes below the thermal
sensitivity, it is impossible to know if it is a defect or not. Therefore, both
conditionsshouldbeconsideredfordefectdetections.
Thereexistsaparameterthatinvolvesthetwoconceptsmentionedabove.
Minimum resolvable temperature difference, MRTD, characterizes the detectors
and thermal inspection systems as the minimum thermal contrast that can be
discerned in a scene with a bar pattern of different width on a uniform
background. At low spatial frequencies, the thermal sensitivity defined by the
NETDparameterremainsthemoreimportant,whilstforhigherfrequenciesthe
dominant parameter is the MRS. MRTD combines both conditions using the
modulation transfer function, MTF, which considers the spatial effects of the
usedopticsandthecharacteristicparametersofthedetector.

- S. 17 -
S.3.1.1 Factors affecting the temperature measurement in Thermography

Different factors affect the precision of the temperature measurement in
Thermography. Noise factors are important, but not the only ones affecting the
measurement.Variationsonemissivity,reflectionsoreventhedegradationofthe
sensing equipment, regarding its optics and its electronic parts, produce fakes
anderroneousvaluesoftemperaturesinthethermograms.
Theeffectsofthesefactorscanbecorrectedviasoftwareandcalibrations.
Blackpaintingandotherconditioningofsampleshelptoreducetheimprecision
inmeasuringthespecimenstemperature.However,specialcareshouldbetaken
inavoidingthealterationoftheobjectunderinspection.
S.3.1.2 Factors improving

Thermography
the
detectability
of
subsurface
defects
in
Thanks to the heat transfer mechanism and its modelling, it is possible to

establisharelationshipbetweenthesurfacetemperaturevariationsofaspecimen
withthepresenceofaninternalorsubsurfacedefect.Thermalwavesgenerated
underthesurfacearereflectedinanyinternalanomaly,andthisfactisshownin
the surface. To improve the detectability, more energetic thermal waves should
begenerated.
It has been already mentioned that different excitations can increase the
thermalcontrastofsubsurfacedefectsduetotheextraenergysupplied.Howthis
energy is released leads to different thermographic techniques that can be
suitable for a specific kind of defects. In this point the use of direct problem
software,whichmodelsthedifferentheatingconditions,ishighlyvaluable.For
example, ThermoCalc software developed by the IR Thermography Laboratory
of the Tomsk Polytechnic University of Russia is a useful tool that involves
defects in multilayer solids with arbitrary excitations and uneven heating
patterns. Figure S. 5 shows the temperature increase of the surface of a CFRP
specimenunderdifferentexcitations:aflashexcitationandtwoexcitationsusing
alowerpowerpulseforalongerduration.
Asexplainedintheprevioussection,itisclearthattheenergyisreleased
at different times and therefore the initial conditions for the cooling process
analysis are different (the initial temperatures for each cooling process are
differentand,inordertoperformacomparison,normalizationshouldbecarried
out).Alargercontrastisobtainedwithlongdurationpulseexcitationsalthough
alowertemperatureriseonthesurfaceisobtainedduetothelowerpowerofthe
heating source. Defects are more easily detected as the differences between
defective and nondefective areas are more evident, even during the heating
process,usinglongpulseheating.

- S. 18 -
SUMMARY
Figure S.- 5 Simulated surface temperature evolution with 100KW/m2 flash excitation (upper figure) and 3KW/m2 longpulse excitation for 0.5, 2.5 and 5s duration (lower figure). Temperature evolutions correspond to 2mm diameter defects
and a sound area (solid curve). ThermoCalc-3DTM software has been used to simulate the different excitation conditions for
several defective samples.
S.3.2 Detection decision criteria

Detection criterion is usually considered in terms of the signal to noise, SNR,
ratio, when the thermal contrast is high enough compared with the noise level.
Thefollowingequationestablishesthisrelation:
SNR max =
Tm (t )
K sound (t ) t
=
mp
T
T
=
K Tres K NETD
ec. S.2
where soundisthetemperaturestandarddeviationinasoundarea,Kisaverdict
parametertosupportthedecisionandTresisthethermalresolutiongivenbythe
detector. Therefore, just by regarding the thermal contrast, referred to the
absolute contrast definition, it is possible to distinguish sound areas and
defectiveareasinathermogram.Discussionistobefoundinthedetermination
oftheoptimumobservationtime.
However,asintroducedabove,notonlytheNEDTthroughtheSNRratio
has to be considered as the decision value. MRTD should be also taken into
accountandlaterthebinarizationeffect.Generally,thewholeimagecapturedby
a camera covers the range of temperatures of the background as well as the
sound area and the defect temperatures in the sample. Some cameras have an
automatic gain control (AGC), which acts to adapt the output signal of the
detector and then the quantification is realised. The AD conversion algorithm
automatically adjusts, frame by frame, to maximize the contrast in darker
(colder) parts of the frame, while trying to avoid blanking of brighter (hotter)

- S. 19 -
Flash excitation
Long-pulse excitation
Figure S.- 6 a) Absolute and b) temperature ratio for two defects (darker one shallower than lighter one) under long-pulse
excitations of 0.5, 2.5 and 5 sc (darker background, right-handed) and under a flash (lighter background, left-handed).
objectsintheimageframe.Inthatsense,thetemperatureratiobetweenadefect
andasoundareashouldbethereforelimited.
ThetemperatureratioisrepresentedinFigureS.6anditisdefined,after
some easy derivations, as the ratio between the temperature rise on the surface
abovethecentreofthedefectandthetemperatureriseataregionremotefrom
the defect. Temperature ratio and the absolute contrast should be enough to
determineadecisioncriterionapplicabletoanykindofcamera.
Thus, the detectability could be estimated applying both criteria, the
absolutecontrastandthetemperatureratio,andguaranteeingthatbothcontrasts
arebiggerthanacertainvalue.
S.3.3 Detectability criteria for poor digitalizations

Theaimistoestablishadetectabilityofdefectcriterion,whichtakesintoaccount
the effect of a low binarization. Finite difference modelling has been used to
simulatethelongpulseexcitationtechniqueandtomakecomparisonswiththe
morewidelyusedshortpulse(typically2ms)excitationtechnique.ThermoCalc
3D software has been used to simulate the different excitation conditions for
several defective samples. The performance in defect detection of a poor
digitalization (or low binarization) has been evaluated using carbon fibre
reinforced plastic (CFRP) test pieces containing a range of defects of different
diametersandatdifferentdepths.
A detectability criterion is then defined as a combination of two
conditions. The thermal contrast should be higher than the NEDT value and,
- S. 20 -
SUMMARY
Figure S.- 7 a) Definition of area of Detectability. b) Depth versus diameter diagram limiting the detectability for long-pulse
and a flash heating.
besides, also bigger to binarization resolution imposed by the full range of

temperatures in the scene. Due to the fact that two conditions are needed, the
best way to represent the detectability concept is a bidimensional graph. It is
performedforthefullsetofsimulateddefects.
Four areas are clearly distinguished in Figure S. 7a. In each area a
differentcombinationofvaluesforthetwocontrastscanbefound.InareaI,for
deeperandsmallerdefects,theabsolutecontrastisbelowthethermalsensitivity
and the temperature ratio is not large enough; therefore no defects in this area
can be detected. In area II, pixels on a thermogram have an absolute contrast
differencelessthananestablishedNEDTvalue,althoughtheirtemperatureratio
is greater than the established relative contrast (temperature ratio value). An
examplecouldbetwopixels,oneadjacenttotheother,belongingtoanoisycold
soundarea.AreaIIIappliestoahotsoundarea.Twoadjacentpixelsmayhave
an absolute contrast greater than NEDT but they are not detectable when the
rangeoftemperaturescoveredinthequantificationprocessareallhighandthe
difference between the maximum and minimum values is small; the noise
equivalentlevelswillcorrespondtoahighertemperatureandthereforelimitthe
minimum detectable temperature difference. Finally, in area IV the absolute
contrastandthetemperatureratioarebothsufficientlylargeandsoitispossible
todetectthetemperaturedifferenceassociatedwithadefect.
S.3.4 Compensation of poor digitalizations

Compensation of the poor digitalization is expected as a result of the above
mentioned. Using long pulse thermography, more energy can be released for
specimen heating. Figure S. 7b shows the detectability graphs for a flash
(without binarization effect) and several longpulse excitations of different
durations and with a poor digitalization effect. The detectability reached for
- S. 21 -
Figure S.- 8 Depth vs. diameter diagram for a flash excitation and long-pulse excitations. Small gray points reveal the
combination of depth/diameter values that were tested.
heating times longer than 2.5s is comparable to the detectability for a flash
excitationformostofthedefects.However,thedetectabilityofsmallerdefectsis
reducedastheheatingtimeincreases.
S.3.5 Discussion of results

Using longpulse excitations, cameras with a low binarization can detect
subsurfacedefectsinthesamewaythatothermoresensibleandprecisesystems.
The increase of released energy compensates the deficiency on detectability of
thesecameras.
As a validation, several exhaustive works have been done with two
systems. On one hand, the commercial TWI Inc.s ThermoScope short pulse
excitation system was taken into consideration. On the other hand, a lowcost
system developed by using a miniature ThermoVision A10T microbolometer
camera from FLIR Systems and employing a long pulse excitation through
tungstenhalogenlamps.
Usingthesameprinciplesasshortpulseorflashthermography,asystem
based on thermal lamps and an uncooled camera was developed as a low cost
alternativebytheRCNDE,DepartmentofMechanicalEngineeringatUniversity
ofBath,UK.Theuseoflongpulseexcitationincreasesthecontrastofsubsurface
defects due to the longer exposure to the heat source that improves their
detectability.Thisincreaseindefectcontrastcompensatesforthelowerthermal
sensitivity of uncooled cameras (compared with the actively cooled cameras
foundinuseinmostotherthermographicsystems)andthepoorbinarizationof
theanalogicaloutput(8bits).
SeveraltestshavebeencarriedoutonCFRPtestpiecescontainingarange
of real and artificial defects. In Figure S. 8, the grey dots represent the defect
depthsanddiameterswhichweretested.Theothersymbolsandlinesshowthe
sizesanddepthsofdefectsthatwerejustdetectable.Defectsinallcombinations
ofdepthandsizebelowtheselinesweredetectable.
- S. 22 -
SUMMARY
Itcanbeseeninthisfigurehowanincreaseinthedurationofthelong
pulseheatingusingtheA10Tcamera,allowstodetectbymeansofthistechnique
defects comparable to those detected using flash excitation and the more
sensitive Merlin camera. A graph as shown in Figure S. 7 can be obtained for
each heating time; showing that detectability occurs when both criteria are
satisfied.
Additionally,thetheoreticalsimulationspredictedsimilarresultsforflash
andlongpulseexcitationofmorethan2.5sduration,whilereallythisrequiresa
longer heating time. However this mismatch is explained by the differences in
the nonuniformity of the heating for each test. It is important to highlight that
for a longpulse excitation the heating of nonuniformities is much more
influentialonthetemperaturedecayand,theycanbemistakenfordefects.Inthe
very first moment after the heating pulse has been delivered, more defects are
already shown and it is quite difficult to distinguish between the behaviour of
nonuniformlyheatedareasanddefectiveareas.Itisalsodifficulttoestimatethe
depthofthedefects,astheinformationpriortothedefectappearanceislost.
S.4 Automation of the thermographic sequence processing

The thermographer should have a basic knowledge of the radiation principles,
thefundamentalsofheattransfer,theinspectedmaterialand/orprocess,andthe
equipment.Personnelqualificationandcertificationstandards(levelI,IIandIII)
for Infrared and Thermal Testing exist, indicating that human expertise is a
critical part of the Thermography system. Analysis of raw thermal data is a
qualitative inspection method relying on the training and experience of the
thermographer.
Imageprocessingtechniqueshelponthecompletionofthistask.Various
methodshavebeendevelopedaroundtheworldtoimproveandwidentheuse
of IT, but human intervention and subjectivity is still present when the
thermographicsequenceshavetoprovidequantitativeresults.Independencyof
theoperatorspointofviewanalysisofsuchsequencesisoneofthegoalsthatthe
author,amongothers,hastriedtoget.Inordertodothat,aprioriknowledgeof
thespecimenisfundamental.
The problem of sound area location is solved with the differential
absolutecontrast(DAC).DACisbasedonabsolutecontrast.However,insteadof
finding a sound area somewhere on the image, the sound area temperature is
computedlocallyassumingthatonthefirstfewimagesalocalpointbehavesasa
soundarea.DACisbasedonthe1DsolutionoftheFourierdiffusionequationfor
aDiracdeltafunctionappliedonthesurface(z=0)ofasemiinfinitebody.
The first step in DAC is to define t as a given time value between the
instantwhenthepulsehasbeenlaunchedt0,andtheprecisemomentwhenthe
first defective spot appears on the thermogram sequence, i.e. when there is
enough contrast for the shallowest defect to be detected, t1. At t, there is no
indicationoftheexistenceofadefectivezoneyet,thereforethelocaltemperature
forasoundareaisexactlythesameasforadefectivearea.Fromthisresultand
- S. 23 -
the 1D Fourier model, the temperature of the sound area can be computed for
everypixelatanytimet.
S.4.1.1 Assessment of the acquisition times

Thecompletethermogramsequenceiscomposedbydistinctiveelements:acold
image,saturatedthermograms,thefirstusefulthermogram,thesubsequentvalid
thermogramsandtheLastRecordedThermogram.
Attimet0,beforetheheatreachesthespecimenssurface,acoldimageis
captured. The cold image can be used to eliminate spurious reflections due to
emissivity variations and to reduce fixed pattern artefacts. This is attractive for
thermal data visualization and quantification although it is less useful when
workingwithphasedelayimages.
During (and shortly after) the application of a heat pulse, the acquired
thermogramsaretemperaturesaturated,i.e.thereadingisoutofthecalibration
scaleandnoaccuratemeasurecanbecomputed.Theactualnumberofsaturated
thermogramsdependsonthesamplingfrequencyandonthethermalproperties
of the material being inspected: low conductivity materials remain saturated
longer than high conductivity materials, and more thermograms, saturated or
not,willberecordedusinghighsamplingrates.Saturatedthermogramsgiveno
valuable information and thereforecan be safely discarded from the processing
stage.
The first useful thermogram that comes into sight after saturation is
known as the Early Recorded Thermogram (ERT). Ideally, defects are still not
visible on the ERT, however, this condition is not always found in practice,
especiallywheninspectingshallowdefectsonhighconductivitymaterialsusing
low sampling frequencies and/or when strong nonuniform heating is present.
Normally, this situation does not constitute a problem for defect detection
purposes.However,sincedepthisafunctionoftime:z~t1/2,specialcaremustbe
takeninordertoperformquantitativeanalysis.
Starting at the ERT at t1, all subsequent thermograms are of interest for
defect inspection and constitute the thermogram sequence. The last acquired
image at tN corresponds to the Last Recorded Thermogram (LRT). From this
pointon,temperaturevariationsareconsiderednegligible.
Temperature decay curves for both the defective and the sound areas
behave similarly on the first instants after theapplication of heat sincethe heat
fronthasnotreachedthedefectyet.However,deviationfromthet1/2dependency
ontheusefulpartofthethermogramprovidesanindicationofthepresenceofa
defective area. This is, in fact, the basis for defect detection in active
thermography.
Avoidinghighlysubjectivealgorithms,onlyTSRandDACtechniquesare
interesting for automation. Both use the 1D approximation to model the heat
conduction in solids. Both identify a linear trend in a bilog plot of the
temperature surface increase versus time. In both cases, the acquisition times

- S. 24 -
SUMMARY
should be precisely known to follow a line of 1/2 slope. Incertitude of first

instantsisimportant.
S.4.1.2 Linear fitting

Theanalysisofathermographicsequenceforthedetectionofsubsurfacedefects
can be therefore reduced to the identification of the 0.5 slope in the surface
temperature decay for each pixel within the image. The simple knowledge
whetherthesamplecanbemodelledasa1Dsemiinfinitehomogeneousbodyor
it cannot help the analysis. It can be done, in an initial approximation, linearly
relating the logarithm of the temperature increase on sample surface to the
logarithmofthetimethattheprocessofheatconductiontakes.Insuchcase,and
under Pulsed Thermography (PT) excitation, the heat transfer at the surface
followsalineardecay,approximatinga0.5slope,duringalltheinspectiontime
foranondefectiveorsoundareainalogarithmicspace.Onthecontrary,thermal
decayforadefectiveareadivergesfromthisbehaviour,asitisshowninFigure
S.9.
Uptonow,bothdeterminingoftheinitialtimetaswellasestablishing
thebestagreementwiththeidealslopeof0.5forafreedefectareahavebeen
left to the user. These issues always give some uncertain results, mainly taking
intoaccountthatsubjectivityisalwaysinvolvedinhumancriterion.
The identification of a linear pattern is the object of the following
techniques.BlendingthesetechniquestotheexperienceinIT,theautomationof
decisiontasksisproposedandthehumansubjectivityremoved.
S.4.2 Statistical Methods

Linear fitting uses the method of least squares when fitting data. The fitting
processrequiresamodelthatrelatestheresponsedatatothepredictordatawith
oneormorecoefficients.Inthecaseoflinearfitting,alinearmodelisdefinedas
anequationthatislinearinthecoefficients.
Leastsquaresfittinginvolvestheminimizationofthesumofthesquared
residuals.Therearetwoprincipalinstanceswherethisminimizationproducesa
lessthansatisfactoryfit.Thefirstiswheresignificantoutliersarepresent.Inthis
case, the square of the residuals of these outlier points may, within a given
region, significantly shift the fitted curve away from the bulk of the data. The
other instance is when the Ydata span more than several orders of magnitude.
The squared residuals of the largest valued Ypoints can overwhelm the
influence of the squared residuals of the smallest Yvalued points, causing the
smallest Yvalue points to either be poorly fitted or not fitted at all. Other
instances are so scarcely lineal than the response errors dont follow a normal
distributionandthelackofhomoskedasticity.Inthehomoskedasticmodel,itis
assumed that the variance of the parameter is constant for all values of x or
equivalently,thatthevarianceoftheerrortermisconstantforallvaluesofx.

- S. 25 -
Uneven heating
Tvs.Tinloglogspace
(Temperatura
T) vs. (tiempo t) en espacio bi-logartmico
Lack of adjustment in
acquisition times
10
T[4,12](t); Q/e=7.67;
T[10,56](t); Q/e=7.01;
T[4,91](t); Q/e=6.01;
t' usado
Ts[ i j ](t)
Frame
No linearity
Outlier
heteroskedasticity.
0
10
-1
10
10
10
Figure S.- 9 Common instances in the linear fitting of temperature contrast profiles in IT. In some cases, the identification
of a -1/2 line is not obvious.
Figure S. 9 represents temperature evolutions in log space of defective

andsoundareapixels.Obviously,differentfeaturesmentionedaboveaffectthe
linearfittingoftheseevolutions.Specialcarehastobetakeninthefittingofthese
profiles.DatathatrequiresalogarithmicYscaletoseeallofthepointsmaybea
good candidate for robust fitting, especially if four or more major log divisions
arepresent.Nextsectionsshowthealternativesproposedbytheauthor.
S.4.2.1 Interpolation algorithm

An automation of the DAC method is proposed here, making the process of
contrast optimization independent of the operator and, instead, basing it on
several mathematical certainties. The Interpolated Differentiated Absolute
Contrast (IDAC) algorithm contributes to avoid the necessity of human
interventionduringtheprocessofobtainingthecontrastimages.
For each pixel, the developed algorithm can be summarized in the
followingsteps:
Identify, among the temporal evolution data, the first point having a slope
greater than a given threshold (0.35 has been used based on experience).
Thatpointinthecurvecouldbeinterpretedasthebeginninginthedetection
ofadefect(defectspoint).
From the first point of data up to the defects point, a search of the
optimizationpointisrun.Basically,theoptimizationpointistheonethathas
the closest slope to 0.5 in fitting the curve among itself, the next point and
thefollowingone,inthelogarithmicscalerepresentation.
Once the optimization point is found, the points in the temporal range
[t0,toptimization point] are compared with those obtained applying the
coefficients of the power regression (line in the logarithmic scale). A
minimizationfunctionhasbeenimplementedforgettingtheoptimalepsilon,
which,addedtothetemporalaxis,bestfitsthet0value.Inthisway,agood
Q/e[i,j]estimationcouldbeobtained.

- S. 26 -
SUMMARY
b)
T (C)
a)
T (C)
Horizontal
c)
Vertical
Figure S.- 10 a) DAC image b) Unique IDAC image to compare with c) Horizontal and vertical profiles at pixels 80 and 72,
respectively. Both methods detect same defects.
More specifically, the particularities of the IDAC are: pixelbypixel

computation of a corrected acquisition time, fitting best the 0.5 slope and 1D
thermal model assumption. Using the proposed algorithm, very useful
informationregardingsubsurfacedefectsdetectionandtheirsizeanddepthare
obtained automatically. Moreover, thanks to this automation, the data obtained
are really objective because the process of contrast optimization is independent
from the operator since it is based on several mathematical certainties.
Experimental works using different materials and plate configurations were
realized. Figure S. 10 shows a unique image where all the defects can be
observed. IDAC maintains a small shift in the results respected to DAC.
However,itisessentialtoremindthatIDACisanabsoluteautomaticprocedure.
Theultimatestep,quantification,appliesdifferentmethodsthatrelyona
sort of calibration either with a thermal model or with various specimens
representativeofunknownones.Forinstance,onecancomputedefectdepthzby
extractingafewparametersonthethermalcontrastcurvesuchasthemaximum
contrastanditstimeofoccurrence:
h
2
z = A t 1max
C max
ec. S.3
withparametersAandhobtainedfromthecalibrationprocess.Otherfunctions
canbeusedforsegmentationandshapeestimation.
S.4.2.2 Statistical robust methods applied to Thermography

Inrobuststatistics,robustregressionisaformofregressionanalysisdesignedto
circumvent the limitations of traditional parametric and nonparametric
methods.Oneinstanceinwhichrobustestimationshouldbeconsiderediswhen
there is a strong suspicion of heteroscedasticity. Heteroscedasticity allows the
- S. 27 -
Pto 4
Pto 2
Pixel
20
a)
Pto 1
40
2.5
Pto 5
60
80
100
Pto 3
Pto 6
20 40
60
80
Pixel
100 120 140

1.5
Pt.1
Pt.2
1.4
1.4
DATOS
RANSAC
0.8
0.8
0.6
0.4
0.2
0.2
-3
-2
-1
log(t)
Pt.3
0
-4
1.4
-2
-1
log(t)
Pt.4
1
0.8
log(T)
0.6
0.6
0.4
0.4
0.2
0.2
-3
-2
-1
log(t)
DATOS
RANSAC
1.2
0.8
0
-4
-3
1.4
DATOS
RANSAC
1.2
log(T)
0.6
0.4
0
-4
DATOS
RANSAC
1.2
log(T)
b)
log(T)
1.2
0
-4
-3
-2
-1
log(t)
Figure S.- 11 Linear fitting with RANSAC algorithm. a) Selection of points analyzed in b).
variancetobedependentonx,whichismoreaccurateformanymodels.Another
commonuseofrobustestimationiswhenthedatacontainoutliers.
The random sample consensus (RANSAC) estimator is adopted to
eliminatetheundesirableeffectsshowninFigureS.9.TheRANSACalgorithm
of Fischler and Bolles searches for suitable solutions directly using the data,
repeatedly constructing solutions from randomly sampled minimum subsets.
These subsets are not restricted to either an assumption of smoothness or the
computational form of the objective function. In contrast to most optimisation
algorithms, which attempt to maximise the quantity of data used to identify a
solution, RANSAC constructs solutions from the minimum subset of data
necessary (e.g. two points for a line). Provided that sufficient repetitions are
performed,RANSACisexpectedtoidentifysolutionscomputedfromoutlierfree
data. RANSAC gives us the opportunity to evaluate any estimation of a set of
parameters,independentlyofhowrobustoraccuratethemethodthatgenerated
thissolutionmightbe.
Applied in IT profiles as those in Figure S. 9, the RANSAC algorithm
obtainsresultsasthoseinFigureS.11.
S.4.3 Transformation of the data space

A wide variety of transformation algorithms can be applied to thermographic
pulseddatainordertoanalyzetheinformationinanalternativespace.Extracted
fromitscommonuseinmachinevisionandimageprocessing,HoughandRadon
- S. 28 -
SUMMARY
Figure S.- 12 Parameter space (,) for the free-defect area pixels and the defective area pixels on Figure S.- 11. Curves are
similar in both graphs but the curves spread more in the region 1<<1.2 for the graph of pixels belonging to a defective area
because there are more points that do not belong to the same line.
transformsareabletoconverttwodimensionalimageswithlinesintoadomain
of possible line parameters, where each line in the image will give a peak
positioned at the corresponding line parameters. This has lead to many line
detectionapplications.
S.4.3.1 Hough Transform

The Hough Transform (HT) is a standard tool in image analysis that allows
recognition of patterns in an imagespace. Basically, this technique finds curves
that can be parameterized like straight lines, polynomials, circles, etc., in a
suitableparameterspace.TheHTusestheparametricrepresentationofaline:
= x cos + y sin
ec. S.4
A pixel at coordinates (x,y) is transformed into the parameter space

(,) wherethevariable isthedistancefromtheorigintothelinealongavector
perpendiculartotheline,and istheanglebetweenthexaxisandthisvector.
TheHTgeneratesaparameterspacematrixwhoserowsandcolumnscorrespond
to and valuesrespectively.Eachpoint(xi,yj),withi,j=1,,N,istransformed
into sinusoidal curves in the (,) plane, as those shown in Figure S. 12. The
intersectionofallthosecurvesshowstheexistenceofalineintheimage.
However,assumingasemiinfinitehomogeneousmaterial,thegoalisnot
toidentifyalineinthetemporalprofileofeachpixel,whichcouldbeconsidered
as a fitting or regression of data. The goal is to know if that pixel belongs to a
defective or a nondefective area. Therefore, locating the number of points that
followsa0.5slopemakesthediscrimination.Fromec.S.4,itcanbededucedthat

- S. 29 -
Figure S.- 13 Histograms of values in column 1.1071 rad for those pixels selected in Figure S.- 11. In each graph the
parameters of the fitting fit (x ) = a exp
x b
are given.
y=mx+b with m=cos()/sin(). Thus, for getting the points that follow a slope
m=0.5, theinformationresidesinthecolumn 1.1071 rad.
If all the points in the temporal history agree with a line of 0.5 slope,
whatshouldbeseenintheHoughspaceisthatallthecurvesintersectinonlya
point at the column 1.1071 rad. The coordinate for that point will be the
offsetoftheline.Moreover,thereareasmanypointsinthecolumnaslineswith
different offsets but the same 0.5 slope in the temporal history. Therefore,
analyzing the distribution of the matches in the column selected above, it is
possibletoknowifthepixelbelongstoanondefectivearea(sharpdistribution)
orifitbelongstoadefectivearea(broaddistribution,broaderfordeeperdefects),
asisshowninFigureS.13.
Once the HT is applied to each pixeltemperature temporal history, the
algorithm evaluates the obtained histograms fitting them with an exponential
function. In order to know if a pixel belongs to a defective or a nondefective
area,itisenoughtoobservetheparametersofthefitting.AsseeninFigureS.13,
thecoefficientsaandcofanypixelshowacorrelationwiththeexistenceornotof
adefect,aswellaswithitsdepth.Mappingthevaluesofthesetwocoefficients,
an image (see Figure S. 14) is obtained whereit is possible to divide easily the
pixelsdependingontheexistenceornotofthedefects.Theparametertakeninto
accountfortheresultsistheccoefficientoftheusedexponentialfitting.Similar
images and results can be also obtained using the parameter a. Computing the
twodimensional correlation coefficient between the obtained contrast images,
valuesof0.93areachieved.
When a defect is presented, the depth can be also estimated. The
information according to the depth is maintained and also the colour scale
- S. 30 -
SUMMARY
PTHTa
IDAC
1
20
20
40
40
0.5
0.5
60
60
80
100
80
20 40 60 80 100120140
100
20 40 60 80 100120140
DAC
Derivadas
1
20
20
40
40
0.5
60
60
80
80
100
20 40 60 80 100120140
100
PPT
0.5
20 40 60 80 100120140
Contraste absoluto
1
20
20
40
40
0.5
60
0.5
60
80
100
80
20 40 60 80 100120140
100
20 40 60 80 100120140
Figure S.- 14 A comparative among different methods of analysis of thermographic sequences is shown. Best contrast
images for: a) PTHTa algorithm b) IDAC algorithm c) DAC method d) Best of first and second derivatives e) PPT method
and f) regular absolute contrast (contrast of the image with respect to the average of pixels belonging to a window of 20x20
pixels in the center of the image).
presents a good correlation with the depth as can be seen in Figure S. 15. This
PTHTaalgorithmhasthebestlinearityofallthealgorithmsconsidered.
S.4.3.2 Radon Transform

The Radon transform is an integral transform whose inverse is used to
reconstructimages.TheRadontransformg(,)ofafunctionf(x,y)isdefinedas
the integral along a straight line defined by its slope and line offset. Several
expressions of the Radon transform exist, but its most popular form uses the
parametric representation of a line, where is the angle and the smallest
distancetotheoriginofthecoordinatesystem.
Theparametricrepresentationofalineisalsousedbytheothercommon
computer vision operation, i.e. the Hough transform. Therefore, being closely
related,theradonfunctioncanimplementaformoftheHoughtransformusedto
detect straight lines. The Radon transform is able to convert twodimensional
Figure S.- 15 The scaling value (dimensionless) for each defect on the graphs within Figure S.- 14 is printed versus the
depth of the defect. The full scale colorbar of all the images are set between [0,1] to compare. The new PTHT algorithm
herein presented shows the best linear behavior.

- S. 31 -
R (X) - Pt.1
-45 degrees profile - std=0.44957
-100
3.5
-50
0
number of matches
2.5
50
X
100
150
1.5
1
200
0.5
250
300
-50
-45
0
-600
-40
-400
-200
(degrees)
R (X) - Pt.4
400
600
4.5
4
3.5
number of matches
-50
50
X
200
-45 degrees profile - std=0.63364
-100
100
150
200
3
2.5
2
1.5
1
250
300
-50
0
X
0.5
-45
-40
(degrees)
0
-600
-400
-200
0
X
200
400
600
Figure S.- 16 Transformed domain for some defective area (Pt. 1) and free-defect area (Pt. 4) pixels on Figure S.- 11. On
second column, differences on sharpness of distributions are clear.
imageswithlinesintoadomainofpossiblelineparameters,whereeachlinein
theimagewillgiveapeaklocatedatthecorrespondinglineparameters.Thishas
lead to many line detection applications within image processing, computer
vision,andseismics.
By applying the Radon transform to captured thermographic sequences,
each pixel evolution can be transformed into the Radon domain. The various
slopes of the temporal decay of pixels are associated to peaks located in the
correspondent Radon transform matrix. However, the goal is not to identify a
line,whichcouldbeconsideredasafittingorregressionofdata.Thegoalisto
distinguish if a pixel belongs to a defective or a nondefective area. Therefore,
assuming a semiinfinite homogeneous material, only the inspection of the 0.5
slopeareaisrequiredtomakethediscrimination.
Translatingthatslopeintoangles,a0.5slopecorrespondsto45degrees.
Ifallthepointsinthetemporaldecayagreewithalineof0.5slope(45degrees),
whatshouldbeseenintheRadondomainwouldbeastrongpeakjustinapoint
atthecolumn45degrees.Thissimplicityneverhappens,becausethetemporal
evolutionsofthesuperficialtemperaturegradientcanbeconsideredhighlynoisy
lines in the log space. Analyzing the distribution of the matches in the selected
column for the Radon transform matrix, we can find different profiles. A
correlationexistswiththeexistenceornotofadefect,aswellaswithitsdepth.
Consequently,itispossibletoidentifypixelsbelongingtoanondefectiveareaas
they present a sharp distribution of matches at column 45 degrees. Otherwise,
pixelsbelongingtoadefectiveareashowabroaddistribution,broaderfordeeper
defects,asitisshowninFigureS.16.

- S. 32 -
SUMMARY
0.4
dimensionless color scale
0.3
0.2
y = 0.081*x - 0.07
0.1
-0.1
-0.2
0
0.5
a)
1.5
2
2.5
depth (mm)
3.5
b)
Figure S.- 17 a) Unique contrast image for Radon Transform algorithm b)Dimensionless value on the Radon Transform
obtained image for each defect versus the depth of the defect. The presented algorithm exhibits a high linear behavior. The
deviation from the linear fitting is always less than 2%.
OncetheRadontransformisappliedtoeachpixeltemperaturetemporal
history, the algorithm evaluates the obtained distributions of matches and
performs some statistics on them (mean and standard deviation). In order to
classifyapixelinadefectiveoranondefectiveareapixel,itisenoughtoobserve
theresultsofthosestatistics.Bymappingthevaluesofthestandarddeviation,an
image as the one depicted in Figure S. 17a is obtained, where it is possible to
easily classify the pixels depending on the existence or not of defects. When a
defectistobefound,thedepthcanbealsoestimatedinarelativewayasshown
inFigureS.17b.
In summary, this algorithm makes feasible the elimination of errors due
todifferentoperatorsinterventionsandthen,itoffersabetterperformanceinthe
inspectionofspecimens.Alltheinformationiscontainedinjustoneimageand
leadstoaquantitativeestimationofthedefectdepths.Besides,theselectionofa
soundarea,necessaryinmostthermographicpostprocessingtechniques,ishere
eluded due to its beingbased in a 1D model.However its computation carries
moretimethanPTHTa.
S.4.4 Identification of linear behaviours

Apart from the bilogaritmic plots of surface temperature contrast versus time
shown above, several linear trends have been found in other thermographic
inspections. In this section, other applications of the use of interpolations,
statistical methods and data transforms as those in previous sections, are
presented with the same goal of leading to automate analysis process of
thermographicimagesequences.
S.4.4.1 Phase behaviour

Above all methods used in Infrared Thermography (IT), those originating from
Pulsed Phase Thermography (PPT) are getting more importance thanks to the
fact that the thermal respond can be decomposed into amplitude and phase
following the application of the Fourier Transform. Phase data provide good
contrastbetweendefectiveandnondefectiveareasbeingpracticallyundisturbed
- S. 33 -
Figure S.- 18 Phase profiles for a PlexiglasTM specimen with 6 flat-bottomed holes (N=450, fs=4.5 Hz, t=0.88889 s,
T=400 s), the one in Figure S.- 11. Bars show the approximate locations of fb.
by nonuniformities in heating, environmental reflections, surface emissivity

variations and surface geometry. PPT has proved to be effective in the
quantitativeandqualitativeevaluationofdefectsondifferentspecimens.
Moreover, PPT provides a good enough quantitative results on defect
depthanalyzingtheblindfrequencyfb,i.e.thefrequencyatwhichadefectata
particular depth presents enough phase contrast to be detected. Figure S. 18
showsthepositivepartofthephaseprofilesforaPlexiglasspecimenwith6flat
bottomedholes.Humaninterventionisnecessaryinthedeterminationoffbsince
phase contrasts with respect to a sound area are involved in the process. This
addscertainsubjectivity.
Inordertoestimatefb,anabsolutephasecontrastmustbedefinedasthe
differencebetweenthephaseofthezoneofinterestandanondefectiveareaor
sound area. Blind frequency values are calculated using the phase contrast
definition = d s, by locating the frequency at which no significant phase
contrastcanbeobserved:<threshold.Thresholdvaluesareestablishedbased
on experimentation and depend on a variety of factors related to both the
materials being inspected and the setup configuration (thermal properties,
signaltonoiseratio,etc.).
Therefore, the knowledge of the position of a sound area is necessary.
However,analyzingFigureS.18,theselectionofasoundareacanbeavoidedby
noticing that all phase profiles merge at high frequencies into a straight line
whose slope and shift can be obtained by, for instance, least square regression.
Allthiscanbedoneifitisassumedthatphasedataiscorrectlysampled(i.e.time
resolution t is high enough) and truncated (i.e. truncation window T is large
enough)fortheparticularcombinationofsoundanddefectivethermalproperties
anddefectdepth.
Inthatsense,theimplementationofthetechniquespresentedpreviously
(i.e.interpolation,statisticalrobustmethods,HoughTransform(HT)andRadon
Transform)tophaseanalysiscanbeexecuted.Itmakespossibletheelimination
of errors due to different operators point of views and so, represents better
capabilitiesintheassessmentofspecimens.
- S. 34 -
SUMMARY
a)
d)
b)
e)
c)
f)
Figure S.- 19 Phase profiles for the 6 defects on Figure S.- 11. The non-defective slope (dotted-line) and the estimated blind
frequency (circle) are also shown for each depth..
For example, it is possible to mathematically locate the frequency at

which the separation in phase profiles occurs (i.e. the blind frequency) without
the need of phase contrast calculations. Basically, the algorithm estimates the
curve slope by least squares regression starting from the higher available
frequency to a given frequency. This frequency is progressively decreased (so
more points are included on the regression at each time) and the slope is
recalculatedandcomparedtothepreviousvalue.Theprocedureisrepeatedup
toafrequencyatwhichtheslopeisconsideredtodivergefromthenondefective
slope. Precision parameters were established based on experimentation. From
nowon,thisalgorithmbasedoninterpolationiscalledPoly.
Forthesakeofclarity,phaseprofilesforthedefectivezonesinFigureS.
11,areredrawnindividuallyinFigureS.19.Thecorrespondingdepthforthese
- S. 35 -
Figure S.- 20 z vs. fb correlations using phase contrast and the proposed automatic algorithm.
profiles increases from the top left to the bottom right. A dotted blue line
represents the slope for the nondefective part of the phase automatically
calculated with the algorithm. Blind frequency values are marked with a blue
circleforeachcase.Resultsobtainedfrombothcontrastcalculations(withhuman
intervention) and automatic procedure, are presented in Figure S. 20. Good
correlationvalidatestheautomaticmethod.
Ontheotherhand,algorithmsbasedondatatransformationsalsoremove
perfectlytheoutliersandnonlinearityofphaseprofiles.Infact,inFigureS.21,
thedependenceofthefittingaccordanceonTisexposed.Fittingresultsusingthe
HT are shown darker colour. Comparison with least squares regression is also
shownfortwocases:withnohumaninterventionatall(appearingaslinearin
Figure S. 21) and with minimum human intervention (referred as Poly in
Figure S. 21) as described in previous paragraphs. All fitting techniques are
affected by the number of points included in the regression, however, the HT
presentlessvariationsontheestimationoffbfordifferentT.Noweightedwith
frequencyinterpolationcanbeconsideredduetothefactthattheblindfrequency
is unknown for the entire image. Taking a safe number of points is neither a
desiredsolutionbecausetheprocessingtimeincreases.
S.4.4.2 Electrical excitations

In some applications, thermal evolutions can be fitted to a linear tendency. For
example, if a ramp of electrical current is generated in an element purely
resistive, the temperature contrast observed is quite linear. In this section,
thermographyispresentedasaNDT&Etechniquefortheassessmentofradiant
heatersinthemanufacturingindustry.
LookingforaquickandsafeNDTtechniqueusefulforradiantheaters,a
systemisdevelopedbasedoninfraredthermography.Heatisstimulatedineach
radiantheaterbyashortelectricalpulse(0.1sc)andaninfraredcameracaptures
the evolution of the heater temperature. Different parts of the heater show
evolutions(allfollowingaquasilineartendencyofdifferentslope)fromwhichit
- S. 36 -
SUMMARY
Figure S.- 21 Impact of T on phase curves fitting (fs=4.5 Hz, t=0.88889 s).
is possible to identify defects of several origins. Differences are also clear

betweenthewireandthesubstrate
The heating can be approximated by a straight line as it was
demonstrated in Figure S. 22. For instance, the analysis of the heating wire
during the heating flank shows differences among pixels corresponding to
defective points and pixels belonging to nondefective areas of the wire. The
detectionofdefectscanbecarriedoutjustconsideringthevalueoftheslopeon
heatingflanks.
Thethermographicimagesofinterestarethoseregardingjusttheheating
flank.Inordertomakeacorrectlinearfitting,theexacttimeofthebeginningand
end of the impulse must be known. Certain synchronization between the
electricalpulsesourceandthecameramustbeprovided.However,thisisnotan
easy task. Nevertheless, the use of specialized transforms applied in image
processingandcreatedforthedetectionoflinesinnoisyenvironmentsmayhelp.
Thedatatransformationspresentedaboveareclearcandidates.
To calculate the actual slope of the heating flank, the image processing
transformspresentedaboveareusedavoidingtheknowledgeoftheexactframe
numberscorrespondingtothebeginningandendoftheimpulse:theHoughand
Radontransform.Inthatsense,theautomationisprovidedbythedevelopment
ofanalgorithmthatlooksfortheslopeoftheheatingevolutionofeachpixel.
Just with the observation of the unique image, like that in Figure S. 23,
provided by the algorithm, an operator can quickly locate the possible defects.
Hotpoints(asseeninthecolourpaletteofFigureS.23)willcorrespondtoareas
- S. 37 -
Figure S.- 22 a) Location of pixels under inspection. Pt 1, Pt 5 and Pt 6 are located on defects along the wire element. Pt 2
and Pt 3 belong to defect-free points in the heating element while Pt 4 is on the substrate. b) Digital levels of infrared
radiation intensity along the sequence recorded showing a linear temporal evolution.
wheretheslopeishigherand,accordingtoJouleslaw,wherethereisabigger
resistance.Therefore,itcanbeinferredthatanexcessofmaterialexistsinthose
parts. Colder points along the wire pattern are related to areas with a lower
resistance. This can be due to cuts in the heating cable, straight segments or
brackets(smallmetalpieceswhichanchortheheatingcabletothehighthermal
capacity substrate). Although they are not strictly defects, brackets should be
well placed for the correct fixing of the wire to the substrate. They are also
revealedintheimage.Blurringareasarerelatedtodefectivefixingofthewireto
the substrate. If the blurring is observed over the heating element area, it is
related to an area without substrate underneath. Otherwise, if the blurring is
observed between spires, then part of the substrate is partially burying the
heatingelement.
S.4.5 Discussion of results

Focusedonthematerialsubsurfacedefectdetection,inthischapterseveraltools
have been developed to automate the analysis of thermographic sequences. In
this way, subjectivity of human decisions is removed and it is possible the
eliminationoferrorsduetodifferentoperatorspointofviewsandso,represents
bettercapabilitiesintheassessmentofspecimens.
The selection of a sound area, necessary in the most part of the
thermographicpostprocesses,iseludedifa1Dmodelisused.Thisdetailhelps
to obtain results that are independent on the nonuniformity that could be
suffered during the heating. The analysis of a thermographic sequence for the
detection of subsurface defects is then reduced to the identification of the 0.5
slope in the surface temperature decay for each pixel within the image, under
PulsedThermography(PT)excitation.Employingtechniquescommonlyusedin

- S. 38 -
SUMMARY
Figure S.- 23 Image containing the normalized heating slope of each pixel obtained by means of the Hough transform.
Several areas are circled. These exhibit big slope differences with the neighborhood: 1) defects due to excess of heating
material (links, doubled coils); 2) deficit of substrate underneath heating cable; 3) excess of substrate accumulated between
spires; 4) brackets.
statisticsandcomputervision,severalalgorithmsaredevelopedinordertolook
for the 0.5 slope in the temporal temperature decay profiles of each pixel. The
influenceoftheinitialacquisitiontime,whichaddsanerrortothemeasurement
andahighnonlinearityinthelogrepresentationofthetemporaldecay,isalso
avoided thanks to the fact that dispersed data are not so representative in an
algorithmbasedonoccurrences.
Thefinalresultprovidedbyallthesealgorithmsisanimageshowingthe
different defects, avoiding the necessity of evaluating parameters as relevant in
otheralgorithmsasthedelayedtimeofthefirstimageoranysubjectivepointof
viewintheanalysis.Alltheinformationiscontainedinonlyoneimageandleads
toaquantitativeestimationofthedefectdepths.
Amongthealgorithmsmentionedabove,themaindifferenceyieldsinthe
timeconsumedinthecomputationofthesamesequence.Statisticalmethodsdo
notrequiretransformationsofdataand,thus,arefaster.BetweentheHoughand
Radon transforms, the fastest algorithm is the one based on the Hough
transform, as it can be understood as a discrete version of the Radon one.
Optimizationisstillafutureresearchline.
The principal limitation for the set of algorithms presented is that the
specimens under inspection should be semiinfinite homogeneous samples
because this algorithm is supported on a 1D Fourier diffusion equation
approximation. However, experimental works using a Plexiglas specimen were
performedshowingagoodagreementwithothertechniqueswheretheoperator
pointofviewandexperienceishighlyrelevant.
Itmustberememberoncemorethatthesealgorithmsarefreeofhuman
intervention. Software tools have been developed to get a function, which only
requires the name of a 3D matrix containing the full thermographic image
sequence. The function returns only one image where all defects detectable are
present.
- S. 39 -
Part 3 Conclusions
S.5 Conclusions and Open Research Lines
The previous chapters have described the work carried out in this Thesis,
reviewingtheobtainedresultsanddiscussingthem.Somelineswillbedevoted
to emphasizing the main conclusions, stressing the original contributions of the
workandoutliningsomepossiblefuturelinesofresearch.
The central guideline throughout this thesis work has been the use and
improvementofthetechniquesinvolvedinthefieldofInfraredThermography.
Focused on the subsurface defect detection in materials as one of the most
important niches where IT offers its advantages (as can be extracted from the
StateoftheArtofThermography,chapter2),thefirstcontributionsarefocused
onthecomparisonamongthermographicsystems.Thedevelopmentofdifferent
techniquesandsystemsbasedoninfraredradiationencouragestheintroduction
of some rules to compare them. Inthis sense, chapter 3 includes the text which
analyses indepth the concept of detectability regarding subsurface defects. The
factors that alter the detectability, and offer ways to improve it, are also
presented. Finally, a compensation of a poor digitalization is provided using
longpulseexcitations.Both,alowcosthomemadesystemandacommercialone
havebeenusedasabasistovalidatethenewdetectabilitycriterionofsubsurface
defectsusinglowbinarizationsystems.
Chapter 4 deals with various approaches to the automation of the
processesinvolvedinthedetectionofsubsurfacedefectsinIT.Themaingoalof
the different proposals has been to provide software tools able to help any
operator in the analysis of thermographic sequences, avoiding as much as
possible the inherent subjectivity of his decisions. Given that the analysis of a
thermographicsequenceforthedetectionofsubsurfacedefectsisreducedtothe
identification of the 0.5 slope in the surface temperature decay for each pixel
within the image, several techniques for line identification are blended in the
thermographicanalysis.
The first approach has dealt with fittings and robust statistical methods
thatadjustthelineartendencyofthesurfacetemperaturecontrastinawaythat
traditional linear fittings cannot. There are two principal instances where this
minimization produces a nonsatisfactory fit: when significant outliers are
present, and when there is low linearity (temperature evolution in a defective
area).
Thesecondapproachhasdealtwithdatatransformationsmainlyusedin
computer vision to detect lines with images. Several transformations have been
usedtodevelopalgorithmsthatidentifytheslopeofthetemperatureevolution
and relate the results with the presence of a subsurface defective area and its
depth.HoughandRadontransformshavebeenused.
Thefinalresultprovidedbyallthesealgorithmsisanimageshowingthe
different defects avoiding the necessity of evaluating relevant parameters in
otheralgorithms,asthedelayedtimeofthefirstimageoranysubjectivepointof
- S. 41 -
view in the analysis. All the information is contained in only one image, and it
leadstoaquantitativeestimationofthedefectdepths.Themaincontributionis
the automation of the decisions involved in the analysis of the temperature
evolutionprofiles.
In addition, another active approach has considered the automation of
otherprocessesasthoserelatedwiththephaseprofiles(PPTfundamentals)and
linear electrical excitations. In all of them, the identification of the slope of a
linear tendency is fundamental and can be obtained by the application of the
algorithmspresentedinthiswork.
Accordingtotheopenresearchlines,severaltopicshavebeenoutlinedin
the course of this thesis, which could be the origin of future works. A first line
could deal with new systems with better capabilities. Different excitations and
exhaustive control of the source timing would provide better possibilities in
generating internal thermal waves which, once studied and characterized,
conducttoabetterknowledgeoftheinterioroftheinspectedspecimens.
A second line could be focused on software improvements. Faster and
more precise software with a friendlier interface can be developed. New
algorithms and functions could be added, like shape and size estimation of the
defects.Newtoolsbasedonmodelsdifferenttothe1Dmodelcouldenhancethe
efficiency in the analysis of more complex structures and materials (anisotropic
andmultilayersmaterials).

- S. 42 -
Part 4 Appendix
S.6 List of publications
Finally, it is necessary to mention that the contributions found here have
originatednumerouspublicationsinSCIpeerreviewjournalsandinternational
conferencespapers,ascanbeextractedfromtherevisionofthelastsection,i.e.
ListofPublications.
Table2. List of Publications.
International
Publications
Book chapters
Refereed
Journals
International
Conferences
National
National
Conferences
Partial sum
TOTAL
Number of
IT
Others
1
20
27
30
15
45

- S. 43 -

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ESCUELA TCNICA SUPERIOR DE INGENIEROS

CONTRIBUCIONES A LAS TCNICAS NO

DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ

Sensor Optoelectrnico para la medida de la TEmperatura de las

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

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DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ TESIS DOCTORAL

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aprovechan el mayor contraste trmico inducido por las excitaciones de pulso

DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ TESIS DOCTORAL

DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ TESIS DOCTORAL

Listas de smbolos especiales

Letras Griegas (Unidades)

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

nodef,s, sound, soundarea libre

h universal (o Planck), h = 6.6256 x 10-34 Js

DANIEL AQUILINO GONZLEZ FERNNDEZ TESIS DOCTORAL

Energa trmica, calor y temperatura....................................................................... 5

Fsica del calor............................................................................................................. 6

Estructura del documento ........................................................................................ 12

Estado del arte de la termografa infrarroja..........................................................17

Problemticas detectadas ......................................................................................... 25

PARTE 2 CONTRIBUCIONES ....................................................................................35

Parmetros que definen la detectabilidad de defectos........................................... 40

3.2.1 Factores que influyen en la inexactitud de la medida termogrfica...........................41

Criterio de decisin ................................................................................................... 52

Criterio de detectabilidad ante una escasa digitalizacin...................................... 53

Compensacin de una escasa digitalizacin............................................................ 54

Discusin de los resultados ....................................................................................... 55

Conclusiones y resultados relevantes ...................................................................... 56

Automatizacin del procesado de imgenes ..........................................................61

Transformaciones en el espacio de datos ................................................................ 74

Identificacin de patrones lineales........................................................................... 83

4.4.1 Fusin de procesados.................................................................................................83

Discusin de los resultados ....................................................................................... 92

Conclusiones y resultados relevantes....................................................................... 93

PARTE 3 CONCLUSIONES Y LINEAS FUTURAS .................................................. 97

Conclusiones y lneas futuras ................................................................................ 99

PARTE 4 REFERENCIAS y ANEXOS ..................................................................... 105

Referencias por captulos........................................................................................ 107

Referencias del captulo 1........................................................................................107

Referencias ordenadas alfabticamente ................................................................ 110

Contribuciones del doctorando consecuencia de la tesis...................................... 114

6.3.1 Contribuciones en el campo de la termografa infrarroja ........................................114

Anexos .......................................................................................................................... 123

Principios fundamentales de la Fsica del calor...................................................125

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

La obtencin de mapas de temperatura de objetos en base a la captura y

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

Energa trmica, calor y temperatura

La materia est compuesta de tomos y molculas y la energa hace que los

muy presente en el mundo con enorme influencia en fenmenos naturales, en

Fsica del calor

La disponibilidad de sofisticados mtodos numricos que simulen la

Termometra: Parte de la Termologa que trata la medicin de temperaturas.

UNIVERSIDAD DE CANTABRIA (2006)

Los mtodos pticos son, inherentemente, no intrusivos y de aplicacin

Pirometra o Termografa? Cul de estas dos tcnicas utilizar? Para

mantenerlas dentro de unos mrgenes determinados. Entre dichos procesos se

Estructura del documento

La presente memoria se divide en cinco partes, como se aprecia en la siguiente

La primera parte comprende los preliminares de la obra con la

conductividad 0.07 [W/(mK)], de capacidad trmica de 928 [(Ws)/(kg*K)],