Walter A.

Shewhart

Padre del control de calidad estadstico

Fecha de nacimiento: 18-marzo-1891.
Fecha de muerte 11-marzo-1967.
Shewhart escribi en control estadstico de procesos industriales.
Estudio Fsica, Ingeniera.
Calidad Shewhart la definia en una frase:
La bondad de un producto.
Naci en New Canton, Illinois, U.S.A., acudi a la Universidad de Illinois, y se
doctor en fsica en la Universidad de California en Berkeley en 1917. Shewhart
tuvo una excelente preparacin en ciencias e ingeniera. Obtuvo la licenciatura
y maestra de la Universidad de Illinois, y en 1917 el doctorado en fsica en la
Universidad de California en Berkley. Dio clases en las universidades de Illinois
y California.
Bsqueda de individuos conocedores y con ideas brillantes, metdicamente
cultivaba estas fuentes y obtena de ellos informacin y consejo que lo hacan
muy apreciado. En una serie de reconocimientos a Shewhart publicados en
Industrial Quality Control en agosto de 1967, el comentario ms impactante de
los colaboradores, fue su reconocimiento por el respetuoso acercamiento de
Shewhart y el sincero inters por el trabajo y las preocupaciones de los otros.
El trabajo de Shewhart precis la importancia de reducir la variacin en un
proceso de fabricacin y la comprensin que proceso-ajuste continuo en la
reaccin a la variacin realmente creciente de la inconformidad y a la calidad
degradada.
Asignable-cause y ocasin-cause variacin e introducido la carta del control
como herramienta para distinguir entre los dos.

Teoras estadsticas matemticas puras, l entenda que los datos de procesos

fsicos nunca producen distribucin normal curva .
l descubri que la variacin observada en datos de la fabricacin no se
comport siempre la misma manera
Cada proceso exhibe la variacin, la exhibicin de algunos procesos control la
variacin que es natural al proceso, mientras que otras exhiben la variacin
incontrolada que no est presente en el sistema causal de proceso siempre.
En su esquela para la American Statistical Association, Deming escribi de
Shewhart: "Como hombre fue apacible, gentil, inalterable, nunca fuera de su
dignidad. Conoci la decepcin y la frustracin, a travs del fracaso de muchos
escritores de estadsticas matemticas por entender sus puntos de vista".
Fue editor fundador del Wiley Series in Mathematical Statistics, un cargo que
mantuvo por 20 aos, siempre promoviendo la libertad de expresin y confiado
en publicar opiniones diferentes a las suyas.
Sus reconocimientos incluyen:
Miembro fundador, integrante y presidente del Institute of Mathematical
Statistics;
Miembro fundador, primer miembro honorario y primero en ganar la medalla
Shewhart de la American Society for Quality Control;
Miembro y presidente de la American Statistical Association;
Miembro del International Statistical Institute;
Miembro honorario de la Royal Statistical Society;
Ganador de la medalla Holley de la American Society of Mechanical Engineers;
Doctor Honorario en Ciencias del Indian Statistical Institute, en Calcuta, India.
Grficos de control
Los grficos para el control de productos industriales fueron desarrollados
inicialmente por W. Shewhart en 1931, con el principal objetivo de investigar si
un proceso se encuentra bajo control estadstico.
Se basa en la asuncin de la normalidad de los resultados de medida: cuando
se lleva a cabo algn proceso de forma sistemtica, es decir, bajo las mismas
fuentes de influencia o variacin, el proceso se ver afectado por errores
aleatorios que conducirn a una distribucin normal de los resultados.
Con los resultados iniciales de la muestra de control se establece el valor de la
lnea central. Este valor debera obtenerse con un mnimo de 15- 30 anlisis de
la muestra de control. Los diferentes lmites suelen establecerse a una
distancia del valor central 2s (lnea de aviso), y a una distancia del valor
central 3s (lnea de control).