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Trabajo Acadmicamente Dirigido

Curso 2005 - 2006

Espectroscopia de
Transformada de Fourier

Departamento de Fsica Aplicada

Realizado por Jess Corts Rodicio


Dirigido por Sebastin Jarabo Lallana

NDICE

Pgina
I. Introduccin..................................................................................................... 1
II. Fundamentos tericos de la espectroscopia mediante Transformada de
Fourier ............................................................................................................ 3
1. Teora Bsica............................................................................................ 3
2. Ventajas de la espectroscopia por Transformada de Fourier ................... 7
3. Limitaciones de la espectroscopia por Transformada de Fourier............. 8
III. Montaje experimental y reconstruccin del perfil........................................... 9
1. Instalacin experimental. Determinacin de la velocidad del motor ....... 9
2. Mtodos de reconstruccin del perfil espectral...................................... 12
2.1. Mtodo completo............................................................................ 12
2.2. Mtodo simplificado ...................................................................... 13
2.3. Mtodo hbrido............................................................................... 14
2.4. Simulaciones.. ................................................................................ 14
3. Posibles mejoras al clculo de la TF ..................................................... .15
3.1. Apodizacin ................................................................................... 15
3.2. Problemas debido al muestreo........................................................ 18
3.3. Integracin numrica por el mtodo Simpson................................ 19
3.4. Suavizado de curvas ...................................................................... .20
3.5. Correccin la seal de fondo.......................................................... 20
4. Software desarrollado............................................................................. 21
IV. Aplicacin a filtros pticos............................................................................ 23
1. Filtro de 1nm de anchura........................................................................ 24
2. Filtro de 3nm de anchura........................................................................ 25
3. Filtro de 10nm de anchura...................................................................... 28
V. Otras medidas realizadas ............................................................................... 31
1. Lser He-Ne ........................................................................................... 31
2. Lser de Nd-YAG doblado (532 nm)..................................................... 32
3. Lmpara espectral de Cesio.................................................................... 33
4. Espectro de fluorescencia del rub.......................................................... 35
VI. Conclusiones.................................................................................................. 39
VII. Bibliografa................................................................................................... 41

I Introduccin
El objetivo de este Trabajo Acadmicamente Dirigido (TAD) es la de
familiarizarse y profundizar en los diferentes aspectos que comprende la espectroscopia
mediante transformada de Fourier, analizando y discutiendo los resultados obtenidos en
el mismo. La obtencin de resultados concretos no es el fin ltimo de este trabajo, sino
las conclusiones del porqu de esos resultados.
Aunque el uso en espectroscopia del interfermetro de Michelson ya fue
indicado por el propio Michelson con anterioridad, la primera aplicacin
espectroscpica data de 1911, por Rubens and Wood, principalmente porque ya
disponan de detector. No obstante, el problema de calcular la transformada inversa
llevaba a realizar nicamente un anlisis cualitativo de los interferogramas, a partir de
sus caractersticas. De hecho, si se conoce informacin parcial del espectro ptico
(nmero de lneas, forma aproximada del perfil, etc) es relativamente fcil determinar
longitudes de onda de emisin y anchuras a partir de medidas globales sobre el
interferograma.
El empleo de esta tcnica espectroscpica se relanz en los aos 50 y 60 [1, 2,
3], aunque la herramienta definitiva que permiti utilizar esta espectroscopia es el
algoritmo de transformada rpida de Fourier (FFT) desarrollado por Cooley and Tukey
en 1965 [4]. A partir de entonces, la aplicacin a diferentes campos se multiplica y as
hasta nuestros das. De hecho, en la actualidad, los espectrmetros por transforamda de
Fourier son una herramienta bsica en campos como la Qumica Analtica y en
Astronoma. [5]. Evidentemente, los interfermetros de Michelson han sufrido
modificaciones tcnicas [6] (en el propio interfermetro, en la deteccin, en la captura
de datos, etc) fundamentales para llevar a cabo una espectroscopia fiable. Normalmente,
se adapta el interfermetro, los filtros, la cadena de deteccin, el algoritmo numrico,
etc a cada aplicacin concreta.
La base terica de esta tcnica se encuentra en libros de texto [7], aunque no se
tratan los detalles de su aplicacin. Aunque resulta difcil encontrar libros que
profundicen en estos aspectos (son bastante antiguos), s es fcil encontrar informacin
en internet debido a la amplia utilizacin de esta espectroscopia [8].
Siguiendo estas directrices se abordar, en primer lugar, un desarrollo terico
que explique los fundamentos en los que se basa la espectroscopia por Transformada de

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

Fourier haciendo especial hincapi en las limitaciones de esta tcnica. Se comentar


cmo el tiempo de medida nos limita la resolucin y se explicar cmo mejorar este
problema mediante una tcnica de apodizacin. Adems, tambin se discutir
brevemente el problema de aliasing, debido al nmero finito de puntos de medida
(muestreo de la seal).
En el captulo II se tratar de describir el montaje experimental realizado y los
posibles problemas que puede presentar. Asimismo, se describir el programa de
anlisis desarrollado para este TAD, programa que permite tanto la obtencin de
medidas como el anlisis de las mismas para obtener el espectro problema.
En el captulo III se muestra una aplicacin concreta del montaje en la
determinacin de los perfiles de transmisin de algunos filtros pticos comerciales
diseados para la lnea de 632.8 nm del He-Ne con diferentes anchuras espectrales (1
nm, 3 nm y 10 nm, concretamente). Estos resultados se compararn con medidas
realizadas con un espectrofotmetro comercial y con los resultados de datos de
simulacin cuando sta sea relevante.
Finalmente, por completitud del trabajo, se muestran los resultados obtenidos en
la medida de otras fuentes: Fluorescencia del rub (Cr3+), lmpara espectral de Cesio,
lser Nd-YAG doblado...y se discutirn con mayor profundidad las limitaciones que
tiene la tcnica de medida.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

II Fundamentos tericos de la espectroscopia mediante


Transformada de Fourier
1.- Teora bsica
Un montaje bsico para poder desarrollar una aplicacin de espectroscopia por
transformada de Fourier consta de una fuente de luz, cuyo haz es introducido en un
interfermetro de Michelson (Fig. II-1). ste ha sido preparado de forma que uno de sus
espejos se puede desplazar a velocidad constante v con ayuda de un motor.
Interfermetro de Michelson

v
Fuente de luz

L1

Fig

II-1.

Montaje

bsico

para

L2

desarrollar la tcnica de espectroscopia


mediante Transformada de Fourier.
Detector

Supongamos que la fuente de luz presenta un perfil prcticamente


monocromtico (p.e. un lser de He-Ne) de frecuencia ptica o e intensidad Io y que en
t = 0 ambos espejos estn situados de forma que quedan igualados los caminos pticos
(orden cero). Desde el momento en que el motor se pone en funcionamiento, la
diferencia de caminos pticos entre los dos haces que interfieren vara segn la
expresin

(t ) = 2vt

(I-1)

Si consideramos que el interfermetro es ideal, la intensidad a la salida del


mismo depender de la diferencia de caminos pticos y, por tanto, variar
temporalmente segn la expresin (I-2). Ntese que, como la diferencia de caminos
pticos es independiente de la direccin de desplazamiento del espejo, la funcin I(t)
ser simtrica respecto a la posicin del orden cero.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

Io
[1 + cos(k(t ))]
2

I (t ) =

(I-2)

Esta expresin la podemos desarrollar, aproximando el ndice de refraccin del aire a 1,


Io
2

I (t ) =

2v

1 + cos c o t

(I-3)

y si, finalmente, se modifica esta expresin segn


I (t )
1
I (t )

I ' (t ) =

(I-4)

es decir, se utiliza la componente AC de la seal I(t), resulta que


2v

I ' (t ) = cos o t
c

(I-5)

donde o es la frecuencia ptica que proporciona la fuente y v es la velocidad de


desplazamiento del espejo mvil. Se consigue as una funcin peridica en el tiempo
con periodo

T=

(I-6)

2v

donde o es la longitud de onda de la fuente. As, midiendo el periodo de la seal AC


de salida del interfermetro se puede determinar la longitud de onda del lser si se
conoce previamente la velocidad del espejo v. Ahora bien, cualquier imprecisin en la
determinacin de la velocidad del espejo o bien en el camino recorrido por ste (por
errores en el alineamiento) afectar directamente en el valor de o.
Este desarrollo se puede generalizar para el caso de una fuente de luz
policromtica y catica con perfil espectral In(). En este caso, a la salida del
interfermetro la intensidad I(t) resulta
+

1
2v
I (t ) = dI n ( ) 1 + cos
t
2 0
c

(I-7)

y si se considera que el perfil espectral est normalizado a rea unidad,


+

d I

( ) = 1

(I-8)

se obtiene, finalmente, que


+

2v
I ' (t ) = dI n ( ) cos
t
c

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

(I-9)

que no es ms que la transformada coseno de Fourier (en adelante, TF) del perfil
espectral de la fuente. Ntese de nuevo que la funcin I(t) ser simtrica respecto al
orden cero, de forma que slo ser necesario tomar medidas para tiempos positivos o
negativos, es decir, slo se tendr que desplazar el espejo en un nico sentido a partir
del orden cero. No obstante, conviene verificar esta propiedad de simetra del
interferograma en las medidas reales.
A la vista de la expresin anterior y basndonos en las propiedades de la
transformada de Fourier (teorema de translacin de la TF), para un perfil espectral
centrado en o siempre se obtendr el producto de dos funciones. La primera de ellas es
una funcin coseno que vara rpidamente (batidos) y lleva informacin de la posicin
del centro del perfil espectral o. La segunda funcin ser la TF del perfil espectral, el
cual vara ms lentamente (envolvente). Adems, las anchuras del perfil espectral y de
su TF son siempre inversamente proporcionales entre s.
Por ejemplo, si la fuente presenta una lnea espectral sin ensanchamiento,
I n ( ) = ( o )

(I-10)

el interferograma ser

2v
I ' (t ) = cos o t

(I-11)

ya que la transformada de una funcin delta es la funcin unidad. Esto es, lgicamente,
el mismo resultado que obtuvimos anteriormente.
En el caso de que la lnea espectral tenga ensanchamiento gaussiano, entonces:
o 2
I n ( o ) =
exp



1

(I-12)

y el interferograma resultante ser


v 2

2v
t
I ' (t ) = cos o t exp

c
c

(I-13)

siendo la semianchura a 1/e del mximo. Como vemos, la respuesta temporal es el


producto de dos funciones. La primera de ellas, la funcin coseno, vara ms
rpidamente (batidos) y lleva informacin de la posicin del centro del perfil espectral
o. La segunda funcin es otra gaussiana (ya que la TF de una gaussiana es otra
gaussiana, las cuales tienen anchuras inversamente proporcionales entre s) que vara
ms lentamente (envolvente). En la Fig II-2 se muestra este resultado, donde la
variacin temporal se ha representado en unidades del tiempo de coherencia c. ste
Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

viene dado por la semianchura a 1/e del mximo de la gaussiana transformada y resulta
ser

c =

c 1
v

(I-14)

Se puede, por tanto, definir la longitud de coherencia Lc del perfil espectral como
Lc = 2v c =

2c

(I-15)

Lnea espectral con ensanchamiento gaussiano


1.2

Perfil gaussiano (u.a.)

0.8

0.6

0.4

0.2

0
-3.0

-2.0

-1.0

0.0

1.0

2.0

3.0

(-o)/

Respuesta temporal
1.2

envolvente

0.8

0.6

espectral con ensanchamiento

0.4

gaussiano

(arriba)

la

correspondiente transformada
de Fourier (derecha).

Respuesta temporal (u.a.)

Fig II-2. Ejemplo de lnea

0.2

0
-0.3

0.2

0.7

1.2

1.7

2.2

-0.2

-0.4

-0.6

-0.8

batidos
-1

-1.2

t/c

Es posible, por tanto, determinar dicho perfil midiendo esta funcin temporal y
aplicndole la transformada coseno de Fourier inversa (en adelante, TF-1), es decir:
I n ( ) =

2v
2v
dtI ' (t ) cos
t

c
c

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

(I-16)

o bien,
4v
I n ( ) =
c

2v
t
c

dtI ' (t ) cos


0

(I-17)

ya que el integrando es una funcin par. Por otra parte, una vez obtenido el perfil
espectral In() normalizado a rea unidad siempre se puede renormalizar para que
represente la intensidad espectral realizando una medida de la intensidad total que emite
la fuente. Por este motivo, los resultados que se mostrarn en este trabajo se han tomado
sin tener en cuenta la constante de normalizacin utilizando, entonces, unidades
arbitrarias.

2.- Ventajas de la espectroscopia por Transformada de Fourier


La tcnica de espectroscopia por TF presenta una serie de caractersticas que la
hacen ms adecuada en algunas aplicaciones en las que otras tcnicas tendran
problemas.
Permite, por ejemplo, medir la longitud de onda de forma absoluta sin necesidad
de hacer medidas de referencia o calibrados en como ocurre con otras tcnicas
(monocromador, interfermetro Fabry-Perot...). En esta propiedad reside el xito de la
tcnica no como espectrmetro, sino como medidor de longitudes de onda.
Adems, a diferencia de otros montajes, no utiliza elementos dispersores para
determinar el espectro (redes de difraccin, prismas, etc) por lo que, en principio, al
detector le llega una cantidad de luz mucho mayor, consiguiendo una relacin sealruido superior (ventaja multiplex). Por este motivo, resulta muy til a la hora de medir
espectros de fuentes dbiles, por ejemplo, en astronoma.
Finalmente, con un Michelson ideal no existe, en principio, el problema de otras
tcnicas como el interfermetro de Fabry-Perot del intervalo espectral libre. Es por ello
que, de una sola medida con el Michelson se podra determinar el espectro completo de
la fuente.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

3.- Limitaciones de la espectroscopia por Transformada de Fourier


Como se ha visto, con este tcnica espectroscpica se podra reconstruir el perfil
espectral a partir de la medida de la intensidad en funcin del tiempo. Esto no
presentara limitaciones a priori, siempre que se conociera el interferograma completo.
As pues, cualquier causa en el proceso de medida que impida conocer el interferograma
completo modificar el perfil reconstruido limitando, por tanto, la resolucin y el
intervalo espectral libre del resultado.
Esta tcnica de medida se ver siempre afectada por dos efectos inherentes al
proceso de medida. Por una parte, el tiempo de medida no puede ser infinito y, adems,
no se puede tomar un continuo de medidas (muestreo). Se puede entender
cualitativamente que estos efectos influyan fuertemente en el proceso de reconstruccin.
Supongamos que se ha medido el interferograma correspondiente a un perfil
gaussiano. Si el tiempo de medida es muy inferior al tiempo de coherencia de la fuente,
no tendremos suficiente informacin de la envolvente como para poder reconstruir el
perfil espectral. Adems, si el intervalo de tiempo entre dos medidas consecutivas es
mayor que el periodo de los batidos, jams se podr determinar con precisin la
frecuencia central del perfil.
Adems de estos efectos, la medida siempre se ver afectada por cualquier
variacin temporal de la intensidad de la fuente de luz o en la deteccin, ya sea por
vibraciones mecnicas, por el proceso electrnico de filtrado de la seal, etc. Esto
repercutir directamente en el interferograma y, por tanto, en el correspondiente perfil
reconstruido.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

III Montaje experimental y reconstruccin del perfil


1.- Instalacin experimental. Determinacin de la velocidad del motor.
Un esquema del montaje preparado para la realizacin de este TAD se muestra
en la figura III-1. En sta se distinguen los diferentes elementos utilizados a lo largo del
trabajo:
-

Fuente de luz. Para el alineamiento del montaje se utiliz un lser de He-Ne,


mientras que como fuente problema se emplearon diferentes tipos: lmpara
incandescente, lmpara de Cesio, lser de Nd-YAG doblado, etc.

L1: Lente convergente que permite colimar el haz de luz a la entrada del
interfermetro.

Interfermetro de Michelson: formado por una lmina divisora, una lmina


compensadora y dos espejos planos y ortogonales, uno de los cuales tiene asociado
un motor que lo desplaza a velocidad constante.

L2: El objetivo de esta lente convergente es la de concentrar el haz de interferencia


sobre el detector. Cambiando la posicin de esta lente se puede hacer variar la seal
sobre el detector, teniendo cuidado de que ste no llegue a saturarse.

Filtros: Los filtros que han sido objeto de estudio se han colocado entre la lente L2 y
el diafragma del detector. En otras medidas realizadas (fluorescencia del rub) se
han utilizado filtros no para obtener su perfil de transmisin sino para seleccionar
parte del espectro que llegaba al detector, eliminando el bombeo residual.
Justo antes del detector se coloca un diafragma de 1mm de dimetro que permite

seleccionar slo la parte central de los anillos de interferencia. As, se evitan variaciones
angulares de la seal, consiguiendo que el sistema sea menos sensible a los posibles
problemas de alineamiento. Lgicamente, conlleva prdidas en la cantidad de luz que
llega al detector.
En principio, con la colocacin del diafragma no sera necesario colimar el haz
con la lente L1. Sin embargo, esta lente se mantendr ya que as se aprovecha al
mximo la luz disponible y se pueden tomar, por tanto, medidas ms largas del
interferograma. Se consigue as ms informacin de la envolvente y, en consecuencia,
del perfil espectral.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

Una vez detectada la seal, se le hace pasar por un filtro electrnico. Un filtro
pasa-banda sera adecuado ya que as se puede eliminar el fondo y medir directamente
la seal en AC (se eliminan las frecuencias bajas) y, adems, se puede eliminar el
posible ruido existente (eliminando frecuencias altas). En particular, se utiliz como
frecuencia de corte inferior 0.1Hz. La eleccin de esta frecuencia fue importante pues se
saba, a priori, que la frecuencia de los batidos seran del orden de 2.7 2.8Hz. Si el
filtro utilizado cortase la seal a partir de una frecuencia cercana a la de los batidos se
modificara el interferograma.
Esta seal filtrada es introducida en un amplificador y que fue ajustado para que
la tensin de fondo final fuese lo menor posible. Adems, anular el fondo tambin es
necesario para no saturar el amplificador. Se realizaron unas medidas comprobando que
el mejor voltaje de fondo conseguido estaba en torno a 15 mV. Por este motivo y,
viendo cmo afecta el voltaje de fondo en la reconstruccin de los espectros (captulo
II-3), ser necesario eliminar numricamente la seal de fondo del interferograma
medido.
Finalmente, el voltaje es introducido en la tarjeta de adquisicin de datos Pico
ADC200 (20 MHz, 8 bits) y, de aqu, al PC para su posterior tratamiento. La tarjeta
ADC200 nos va a limitar el tiempo de medida a 100s por lo que no se podrn medir
envolventes ms largas. Esto, en principio, no sera un problema si la velocidad del
motor fuese algo ms elevada.
Interfermetro

v
d

Fuente de luz

L1

Fig III-1. Montaje desarrollado para

L2

Filtro ptico

la caracterizacin de filtros y otras


medidas realizadas.

Tarjeta
A/D

PC

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

Diafragma
Detector

Amplificador

Filtro
AC

10

Este montaje presenta dos problemas que pueden afectar de manera


determinante a la obtencin de resultados. El primero de ellos reside en el
desplazamiento del espejo mvil. Se presupone que este movimiento se produce de
manera continua y sin saltos bruscos que puedan afectar al interferograma. La aparicin
de estas irregularidades (ya sea por falta de continuidad en la velocidad del motor, por
vibraciones de la mesa de trabajo, etc) afecta de manera drstica al clculo del espectro
problema. Adems, existe un error asociado a la medida de la velocidad del motor que
repercute en la determinacin de la longitud de onda central del espectro. Por ejemplo,
un error del 1% en la velocidad del espejo supone un error superior a 6 nm en la medida
de la longitud de onda del lser de He-Ne. El montaje podra ser mejorado simplemente
utilizando otro tipo de desplazamiento, por ejemplo, usando un piezoelctrico. Con este
tipo de desplazamiento se pueden conseguir velocidades de hasta 4mm/s por lo que los
100s de medida que proporciona la tarjeta ADC200 seran ms que suficientes para
cualquier medida (con el motor empleado se conseguan desplazamientos de unas
80micras en 100s). Adems, se podra controlar la velocidad del espejo mediante una
fuente de tensin en rampa con lo que se garantiza un movimiento prcticamente
uniforme.
El otro problema fundamental reside en el alineamiento del montaje. Una falta
de paralelismo entre los haces que producen la interferencia afecta a la calidad del
interferograma de salida. Este efecto puede ser una fuente de error irreparable en los
espectros que resulten del anlisis de las medidas.

Determinacin de la velocidad del motor

Para determinar la velocidad del motor se coloc el espejo mvil en las cercanas
de la posicin de orden cero. Se midi la posicin inicial y se dej funcionar durante 75
minutos, anotando entonces la posicin final. El motor mueve un tornillo micromtrico
que tiene una precisin de 5m. As
x i = 27,000mm
x f = 23,248 0,005mm

v = 0,8338 0,0011m / s

(III-1)

t = 4500 1s
donde el error en la velocidad de ha obtenido siguiendo la expresin

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

11

v = 2x + t2
v = error relativo en la velocidad
t = error relativo en el tiempo = 0.2 por mil
x = error relativo en la distancia recorrida = 1,3 por mil

(III-2)

Vemos que, aun a pesar de mantener el motor funcionando durante bastante


tiempo para minimizar los errores en la medida de v, el error asociado es del 1,32, por
lo que tendremos un error en la determinacin de la longitud de onda central de los
espectros de He-Ne ligeramente inferior a 0,9 nm.

2.- Mtodos de reconstruccin del perfil espectral


En esta seccin se describirn de manera somera los tres mtodos desarrollados
para la reconstruccin del perfil espectral y se expondrn algunos resultados de
simulacin que den cuenta del correcto funcionamiento del programa. Se considerar
que el intervalo temporal entre dos medidas consecutivas es suficientemente pequeo
para evitar los problemas de muestreo, y que el tiempo de medida es suficientemente
largo para evitar los problemas de limitacin del tiempo de medida.

2.1.- Mtodo completo

Este mtodo consiste en aplicar el mtodo general de la Transformada de


Fourier inversa a todo el interferograma, obteniendo directamente el perfil espectral de
la fuente problema. Para ello, se puede adaptar la ecuacin (I-11) para hacer clculo
numrico de la forma
I n ( )

2v
2v m
t I ' (t k ) cos
tk
c
k
c

(III-3)

siendo t el tiempo transcurrido entre dos medidas consecutivas. Este mtodo resulta
til en los casos en los que no se disponga de ninguna informacin acerca del perfil
espectral de la fuente. Sin embargo, el tiempo de clculo requerido resulta elevado en
comparacin con el mtodo simplificado. Existen algoritmos que pueden reducir
notablemente el tiempo de clculo (Fast Fourier Transform, FFT). Sin embargo, no es el

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

12

fin ltimo de este TAD ni el desarrollo ni el empleo de un algoritmo ptimo que realice
transformadas de Fourier.

2.2.- Mtodo simplificado

Resulta que, aunque no se conozca el perfil espectral de la fuente, muchas veces


se dispone de alguna informacin parcial. Por ejemplo, si el perfil espectral corresponde
a una lnea espectral con una cierta anchura, ya sea porque corresponde a una lnea de
emisin o porque corresponde a una fuente policromtica filtrada. En este caso, y en
virtud del teorema de la traslacin de la TF, se pueden tratar de forma separada los
batidos y la envolvente del interferograma normalizado, de acuerdo a lo tratado en la
introduccin terica.
En primer lugar se procede a calcular los ceros del interferograma y, por tanto, el
nmero de periodos existente entre dos tiempos concretos. Se puede as determinar la
frecuencia central del perfil espectral segn dice la ecuacin (I-6). Ntese que no es
necesario conocer los tiempos concretos en los que se producen cada uno de los ceros
del interferograma.
A continuacin se calculan numricamente los valores mximos y mnimos del
interferograma y generar as la envolvente del mismo. Ntese que este mtodo asigna
siempre valores positivos a las envolventes, es decir, funciona bien trabajando , por
ejemplo, con exponenciales, gaussianas...Sin embargo surgirn problemas en el
momento en que sepamos que la envolvente toma valores negativos (p.e. la
transformada de Fourier de una funcin rectngulo), pues el algoritmo calcular el
mdulo de la envolvente. Si se diese este caso, deberemos aportar al programa
informacin adicional (signo de la envolvente) ya que sino, el espectro reconstruido no
se corresponder al real.
Aplicando la TF inversa a esta envolvente se consigue determinar el perfil
espectral en funcin de la variable -o, es decir, se pierde la informacin de la
frecuencia central del perfil:
I n ( o )

2v
2v m
t env I ' env (t j ) cos
tj
c
j
c

(III-4)

donde tenv es la separacin temporal entre dos puntos consecutivos de la envolvente.


Con este mtodo se consigue evitar el ruido que existe entre los mximos de los batidos
y se consigue menor tiempo de clculo ya que hay muchos menos puntos para calcular
Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

13

la transformada de Fourier inversa (los puntos de la envolvente vienen siendo 20 30


veces menos que si tenemos en cuenta el interferograma completo).

2.3.- Mtodo hbrido

Finalmente, se ha desarrollado un tercer mtodo mezcla de los dos anteriores


consistente en tomar el interferograma, calcular los puntos de la envolvente e interpolar
una funcin coseno entre puntos consecutivos de sta. Se aplica la transformada de
Fourier a todos los puntos calculados de esta manera, de la misma forma que se hace en
el mtodo completo. As se consigue eliminar el ruido existente en los batidos aunque
aumenta de manera notable el tiempo de clculo del programa.

2.4.- Simulaciones

Los algoritmos desarrollados fueron evaluados y comprobados para determinar


el buen funcionamiento del programa. As, podremos saber que las desviaciones de los
resultados respecto a lo esperado son debidas a errores del proceso de medida y no al
mtodo de clculo.
A continuacin se realizar una comparacin de los tres mtodos. Para ello se ha
realizado una simulacin (Fig. III-2) del interferograma que resultara de un perfil
lorentziano centrado en =632.8 nm.
Ampliacin para apreciar los batidos

Interferograma de simulacin Lorentziana


1.0

1.2

0.8
0.9

0.6

Transformada de Fourier (u.a.)

Transformada de Fourier (u.a.)

0.6

0.3

0.0

-0.3

0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4

-0.6

-0.6
-0.9

-1.2
-20

-0.8
-1.0
-10

10

20

30

40

50

60

70

80

10

11

12

13

14

15

16

17

18

tiem po (s)

tiempo (s)

Fig III-2. Interferograma implementado para desarrollar la


simulacin de un espectro lorentziano (izquierda) y un detalle de
los batidos (derecha)

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

14

19

20

Al ejecutar el programa con cada uno de los tres mtodos se recupera el perfil
espectral como muestra la figura III-3:
Espectros de simulacin
Lorentziana
1.2

Mtodo Simplificado
Mtodo Completo

Mtodo Hbrido

Fig III-3. Resultado de aplicar los


tres mtodos de reconstruccin al
interferograma de simulacin

Espectro (u.a.)

0.8

0.6

0.4

0.2

0
605

615

625

635

645

655

Lam bda (nm )

Se aprecia que, tanto el mtodo simplificado como el completo dan un resultado


muy similar mientras que el mtodo hbrido se desva notablemente de la tendencia
anterior. No obstante, resulta importante fijarse en que los tres mtodos coinciden en la
determinacin de la longitud de onda central del espectro.

3.- Posibles mejoras al clculo de la TF


En el programa desarrollado se han incluido, adems, una serie de opciones que
permiten mejorar los resultados. Estas opciones son las de apodizacin, integracin
numrica por el mtodo Simpson y suavizado de curvas (interferogramas y/o
envolventes) que disminuye el ruido existente. A continuacin se describirn cada una
de estas opciones y se evaluarn mediante la realizacin de simulaciones.

3.1.- Apodizacin

Se ha visto anteriormente que una de las limitaciones de la espectroscopia por


TF reside en el hecho de no poder tomar interferogramas durante un tiempo infinito.
Este efecto se puede entender como el producto de dos funciones: El interferograma
infinito multiplicado por una funcin rectngulo. Como consecuencia de ello, el perfil

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

15

reconstruido es el producto de convolucin entre el perfil espectral real y la funcin TF


de la funcin rectngulo, es decir, la funcin seno partido por arco (sinc). Si, por
ejemplo, consideramos un perfil espectral monocromtico centrado en o es decir,
(-o) obtendremos que la reconstruccin del interferograma es
I ( ) =

2v
2v

Tmed sin c Tmed


c
c

(III-5)

donde =-o, ya que la transformada de una funcin delta es la funcin unidad. La


funcin sinc es una funcin par que alcanza su mximo en = 0. Por ello, sabemos
que el tiempo de medida no va a producir errores en la determinacin de la frecuencia
central del haz problema. Sin embargo, la resolucin espectral que nos proporciona la
espectrocopia por TF vendr dada por la anchura de la funcin sinc y, por tanto, por el
tiempo de medida.
Si nos fijamos nicamente en el mximo principal de la funcin sinc, la anchura
a 1/e del mximo es de 1,4. Siendo ms exigentes podemos tomar un valor de 2 ya
que el primer cero de la funcin se encuentra en . Con esta consideracin se obtiene
una relacin para la resolucin espectral de la forma
=

o2
2vTmed

(III-6)

siendo Tmed el tiempo de duracin del interferograma. Por ejemplo, midiendo el lser de
helio-nen durante 100 s (mximo tiempo de la tarjeta de adquisicin) se conseguira
una resolucin de 2,4 nm. Vemos que la resolucin mejora conforme aumenta el tiempo
de medida. Tambin se puede relacionar la resolucin con el nmero de batidos a cada
lado del orden cero Nbat usando la ecuacin I-6
=

o
N bat

(III-7)

Sin embargo, se debera considerar una situacin ms realista en la que se tengan en


cuenta los mximos y mnimos secundarios que, adems toman valores negativos.
Como los mximos secundarios toman valores bastante elevados, se debera determinar
la resolucin del mtodo considerando que la anchura de la funcin sinc alcanza hasta
un determinado cero de la funcin (es decir , 2, 3, ...). Como estos mximos decaen
lentamente habra que elegir un cero suficientemente alejado, por ejemplo 9 resultando
una anchura de 18. En este caso, la resolucin ha empeorado en un factor 9, es decir,
=

9 o2
9
= o
2vTmed N bat

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

(III-8)

16

Una forma de disminuir los efectos del tiempo finito de medida consiste en
multiplicar el interferograma por una funcin triangular que vale 1 en t=0 y 0 en los
extremos del intervalo de medida. De esta forma, al realizar el clculo de In(-o) se
debe tener en cuenta la siguiente expresin (para el mtodo simplificado)

I n ( o )

t
2v
2v m
t env I ' env (t j ) cos
t j 1
c
c
Tmed
j

(III-9)

Factor de apodizado

Al realizar la TF se consigue el producto de convolucin entre el espectro real y


la TF de la funcin tringulo, es decir, la funcin sinc2

I ( ) =

v
Tmed sin c 2 Tmed
c

(III-10)

La mejora es notable, pues esta funcin no toma valores negativos y los


mximos laterales son menores y decrecen ms rpidamente que en el caso de la
funcin sinc (Fig. III-4):
Funciones sinc y sinc^2
1.2

sinc

sinc^2

0.8

Fig III-4. Comparacin entre


las curvas sinc y sinc2 para
evaluar los efectos del tiempo
de medida finito.

0.6

0.4

0.2

0
0

10

15

20

25

-0.2

-0.4

Se puede estudiar la resolucin del mtodo con esta mejora de forma similar ha
lo hecho hasta ahora. Si tenemos en cuenta los mximos secundarios de la funcin
vemos que stos toman valores mucho menores. Debemos determinar la resolucin
considerando que a anchura de la funcin sinc2 alcanza hasta un determinado cero de la
funcin y, como los mximos decaen ms rpidamente que antes, se podra elegir un
cero relativamente cercano al origen, por ejemplo 6. Con esta eleccin, la anchura sera
de 12 y la resolucin sera
ap

3 2o
6
=
= o
vTmed N bat

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

(III-11)

17

Comparando que la ecuacin (III-8) vemos que la resolucin ha mejorado en un


factor 1,5 cuando apodizamos. Si nos restringimos a considerar que la anchura de la
funcin es debida nicamente al mximo principal (i.e. anchura de 2), entonces la
resolucin vendra dada por
ap =

o2
vTmed

2 o
N bat

(III-12)

Por ejemplo, midiendo el lser de helio-nen durante 100 s (mximo tiempo de


la tarjeta de adquisicin) se conseguira una resolucin de 4,8 nm.
No obstante, la ventaja principal del apodizado consiste en que, prcticamente,
los mximos secundarios de la funcin sinc son eliminados, ya que stos podran
inducirnos a errores en la apreciacin de las lneas de emisin. A modo de ilustracin,
se ha realizado una simulacin para visualizar el efecto de la apodizacin. Se ha
utilizado de nuevo el interferograma de simulacin de un perfil lorentziano ejecutando
nicamente el mtodo simplificado (Fig. III-5). Ntese cmo disminuye claramente el
rizado caracterstico de la funcin sinc.
Simulacin del efecto de Apodizacin
1.2

sin apodizar

con apodizado

mtodo

simplificado

de

reconstruccin a la simulacin de

Espectro (u.a.)

0.8

Fig III-5. Resultado de aplicar el

lorentzianas teniendo en cuenta el


efecto de la apodizacin.

0.6

0.4

0.2

0
600

610

620

630

640

650

660

670

Lam bda (nm )

3.2.- Problemas debido al muestreo


Como ya se ha comentado, no se puede conocer la funcin I(t) de forma
instantnea sino que se toman medidas discretas (muestreo). Se puede, por tanto
considerar que el interferograma est multiplicado por una funcin peine de muestreo.
Como consecuencia, el perfil reconstruido es el producto de convolucin entre el perfil

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

18

espectral real y la funcin TF de la funcin peine, que no es ms que otra funcin peine
de muestreo de frecuencia inversa a la inicial. As, el espectro reconstruido se repetir
con una frecuencia que resulta inversamente proporcional a la frecuencia de muestreo.
Este efecto se conoce por aliasing. Dicho de otro modo, esta repeticin del espectro
reconstruido nos limita el intervalo espectral libre de esta tcnica espectroscpica.
Sin embargo, se ha comprobado en este trabajo que el efecto de aliasing es, a
todos los efectos, despreciable ya que la frecuencia de muestreo es lo suficientemente
elevada (incluso cuando se trabaja con envolventes) como para que los espectros de
reconstruccin no se afecten unos a otros. Concretamente, el intervalo espectral libre
viene dado por la expresin = 2o /(2vt ) , que para nuestro motor y midiendo el
lser de helio-nen, resulta que = 240 nm /t (en segundos). Basta tomar un tiempo
entre medidas de 0,1 s para que el intervalo espectral libre sea muy superior a lo que se
necesita.

3.3.- Integracin nmerica por mtodo Simpson de orden 3

Esta opcin permite el clculo nmerico de la integral mediante el mtodo


Simpson de orden 3. Segn este mtodo, el valor del dato i-simo tiene asociado un
peso pi que es 1 en todos los casos excepto:
p1 = p N = 17 / 48
p 2 = p N 1 = 59 / 48

(III-13)

p3 = p N 2 = 43 / 48
p 4 = p N 3 = 49 / 48

Segn esto, la expresin para el mtodo simplificado (para los otros mtodos es
anlogo) se modifica quedando
I n ( o )

t
2v
2v m
t j 1
t env p j I 'env (t j ) cos
c
c
Tmed
j

(III-14)

Cabe comentar que esta opcin no resulta determinante en el clculo del


espectro (a diferencia del apodizado o el suavizado que se describir a continuacin) ya
que el nmero de puntos N para calcular la integral es suficientemente grande tanto en
el mtodo completo como en el mtodo de las envolventes.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

19

3.4.- Suavizado de las curvas

La opcin de suavizado permite disminuir el ruido del interferograma o la


envolvente con la que se desea trabajar. Para ello toma un punto del interferograma I(ti)
y calcula el promedio de los puntos de alrededor guardando el resultado de nuevo en
I(ti), es decir,
I (t i ) =

I (t i 2 ) + I (t i 1 ) + I (t i ) + I (t i +1 ) + I (t i + 2 )
5

(III-15)

Repitiendo el clculo para cada uno de los puntos del interferograma se consigue
eliminar el ruido de ste. Se vio que hacer el promedio con cinco puntos era adecuado
pues se consegua eliminar notablemente el ruido sin que disminuyese demasiado la
precisin en ti.
Esta opcin resulta, a priori, interesante al aplicarla a las envolventes pues, en
principio, eliminara el rizado consecuencia de un mal ajuste del voltaje de fondo. Se
evaluaron las mejoras conseguidas y se comprob que el perfil de reconstruccin s
mejora ligeramente, aunque no resulta crucial en la consecucin de resultados.

3.5.- Correccin de la seal de fondo

Cuando se emplea el mtodo simplificado existe, finalmente, un ltimo


problema que a priori no debera ser tal. Segn la ecuacin (I-4) la funcin sobre la que
se calcula la TF-1 , i.e. I(t), debe estar medida en AC, es decir, esta funcin no debe
tener una componente continua cumpliendo que <I(t)>=0. Pero, qu ocurrira si el
interferograma medido tuviese una cierta seal de fondo?
Para evaluar este efecto se realizaron una serie de simulaciones que nos
permitieron determinar la importancia del mismo. En ellas se utiliza un interferograma
al que aadimos un trmino de fondo

I ' ' (t ) = I ' (t ) + fondo

(III-16)

y le aplicamos el programa de reconstruccin por el mtodo simplificado. El resultado


se puede comprobar en la Fig III-6. Vemos en ella que, para una seal de fondo de un
0,5% respecto de la seal en el orden cero apenas existen diferencias en el espectro
reconstruido. Sin embargo, si el fondo representa un 1% respecto al mximo las

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

20

diferencias son notables. Bsicamente se mantiene la forma del espectro pero el clculo
de la longitud de onda central es incorrecto.
Efecto del voltaje de fondo
1.2
fondo=0
fondo=0.5%

Fig

III-6.

Espectros

de

reconstruccin para evaluar el efecto


del voltaje de fondo al utilizar el
mtodo simplificado

Espectro de simulacin (u.a.)

fondo=1%

0.8

0.6

0.4

0.2

0
590

600

610

620

630

640

650

660

670

680

690

700

lambda (nm)

Para corregir este efecto no queda sino medir de forma cuidadosa el


interferograma y acompaarlo de una medida del voltaje de fondo que poder aadir al
programa para que lo corrija numricamente.
Como se comprob mediante simulaciones, si se utiliza el mtodo completo no
existe este problema ya que no es necesario calcular el periodo de los batidos.

4.- Software desarrollado


Para la realizacin de este TAD se ha desarrollado un programa con dos
funciones bsicas. Por una parte, permite el control y adquisicin de datos de la tarjeta
Pico ADC200. Para ello se ha de introducir el tiempo de medida , el nmero de puntos
que se desea tener en el fichero y el mximo valor de voltaje que se espera tener.
Adems cuenta con un cuadro de texto en el cual introducir el valor del voltaje de fondo
para poderlo eliminar en el momento de grabado de datos. Esta opcin resulta muy
interesante, ya que, como se ha visto anteriormente, el clculo del nmero de batidos
para la determinacin de la longitud de onda central del espectro resulta complicado si
se dispone de un interferograma medido con un cierto voltaje de fondo.
Una vez que se ha registrado el interferograma se puede pasar a analizarlo con el
mismo programa abriendo la ventana de anlisis de datos. En sta, lo primero que se ha

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

21

de hacer es calcular el periodo del interferograma para obtener la longitud de onda


central del espectro, o bien abrir un archivo de la envolvente (til en el caso de realizar
simulaciones). En este momento se puede calcular el espectro mediante alguno de los
tres posibles algoritmos implementados para la reconstruccin del perfil espectral.

Fig III-7. Aspecto de la ventana de medida y de anlisis de los datos para la


reconstruccin de los pefiles

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

22

IV Aplicacin a filtros pticos


En este apartado se muestran los resultados de la aplicacin de la tcnica de
medida explicada hasta ahora. En particular se mide la funcin de transferencia de tres
filtros, todos ellos centrados en torno a 632.8 nm, y con diferentes anchuras: 1nm, 3nm
y 10nm. Los resultados expuestos se han conseguido ejecutando el mtodo simplificado
con las opciones de apodizado, suavizado y pesado de datos (mtodo Simpson de
integracin numrica). Con el filtro de 3nm se realiza, adems, una simulacin que da
cuenta de la validez del programa informtico en detrimento del mtodo de medida.
Antes de comenzar a exponer los resultados, se muestran las medidas realizadas
sobre los filtros con un espectrofotmetro comercial con una resolucin de 1 nm. stas
medidas servirn como referencia a la hora de discutir los resultados obtenidos.
Factor de Transmisin de los diferentes filtros
80

70

Filtro 1nm
Filtro 3nm
60

Filtro 10nm

T%

50

40

30

20

10

0
600

610

620

630

640

650

660

Lam bda (nm )

Fig IV-1. Resultados de las medias del factor de transmisin


de cada uno de los filtros utilizados.

Se aprecia que, en efecto, los filtros presentan un mximo de transmisin en


torno a 632nm y la anchura de stos aumenta. Cabe destacar la forma casi cuadrada que
presenta el filtro de 10nm. Es de esperar que el interferograma correspondiente se
parezca ligeramente a la transformada de una funcin rectngulo, es decir, una funcin
seno partido por arco, alternando ciclos de valores positivos y ciclos de valores
negativos. Como la envolvente no es una funcin definida positiva, el mtodo

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

23

simplificado necesitar informacin adicional sobre la envolvente para evitar trabajar


con su mdulo.

1.- Filtro de 1nm:


El interferograma medido se muestra en la Fig. IV-2 junto a la envolvente
calculada a partir del mismo
Interferograma del filtro 1nm

Detalle del orden cero del filtro 1nm

1.2

1.5

0.9

Trasformada de Fourier (u.a.)

0.3

-0.3

0.5

-0.5

-0.6

-1
-0.9

-1.2
0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

-1.5

100

10

12

14

16

tiem po (s)

18

20

22

tiem po (s)

Envolvente del filtro 1nm


1.2

Fig IV-2. Interferograma del filtro de


1nm de anchura junto con un detalle de
los

batidos

(arriba)

envolvente

correspondiente (derecha)

0.8

envolvente (u.a.)

Trasformada de Fourier (u.a.)

0.6

0.6

0.4

0.2

0
0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

tiempo (s)

Como era de esperar, ste decae lentamente pues la anchura espectral es


pequea. Llama la atencin en la grfica el rizado que aparece a lo largo de la
envolvente (aun a pesar de utilizar la opcin de suavizado) y las grandes oscilaciones
situadas en torno a la posicin del orden cero.
Si se aplica el mtodo simplificado con apodizado y suavizado para reconstruir
el espectro se obtiene la Fig IV-3:

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

24

100

Espectro Filtro 1nm


1.2

Fig

IV-3.

Espectro (u.a.)

0.8

Espectro

reconstruido

del

haz

despus de atravesar el

0.6

0.4

filtro de 1nm de anchura.

0.2

-0.2
600

610

620

630

640

650

660

670

Lambda (nm)

Se comprueba que, a pesar de utilizar todas las tcnicas disponibles para


minimizar los errores de la tcnica, la curva obtenida dista bastante de la medida con el
espectrofotmetro. No obstante, s que se distingue un pico en torno a 636nm con una
anchura del orden del 3nm, lo cual resulta un xito pues en este caso la resolucin,
usando la ecuacin (III-11) es de unos 14nm. Hay que recordar que, debido slo al error
en la medida de la velocidad del espejo, ya se iba a cometer un error de casi 1nm en la
determinacin de la longitud de onda central, por lo que el resultado se encuentra dentro
de las expectativas.

2.- Filtro de 3nm:


En este caso, como muestra las Fig IV-4a y IV-4b, el interferograma decae ms
rpidamente, pues aumenta la anchura del perfil de transmisin del filtro:
Interferograma del filtro 3nm
1.2

Transformada de Fourier (u.a.)

0.9

0.6

Fig IV-4a. Interferograma y

0.3

medidos del filtro de 3nm de


anchura espectral.

-0.3

-0.6

-0.9

-1.2
0

10

15

20

25

30

35

40

45

50

55

60

65

70

75

80

85

90

95

100 105

tiem po (s)

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

25

Envolvente del filtro 3nm


1.2

Fig IV-4b. Envolvente


0.8

interferograma anterior.

envolvente (u.a.)

obtenida a partir del


0.6

0.4

0.2

0
0

10

20

30

40

50

60

70

80

tiempo (s)

Ntese cmo el interferograma resulta, salvo ruido aleatorio, prcticamente


simtrico. Por tanto slo es necesario medir para tiempos positivos o negativos, es decir,
desde la posicin del orden cero slo es necesario desplazar el espejo en un slo sentido.
La envolvente obtenida y el espectro de recunstruccin se muestran en la Fig IV-5:
Espectro Filtro 3nm
1.2

0.8

Fig IV-5. Espectro reconstruido


filtro de 3nm de anchura

0.6

Espectro (u.a.)

del haz despus de atravesar el

0.4

0.2

-0.2

-0.4
600

610

620

630

640

650

660

670

Lambda (nm)

De nuevo se distingue un pico centrado en 637nm y con una anchura del unos
5nm. Para comprobar que el resultado obtenido no es debido a un mal funcionamiento
del programa desarrollado, se ha realizado un interferograma de simulacin que se
aproxime al medido experimentalmente. La envolvente correspondiente a esta
simulacin y el espectro reconstruido en las mismas condiciones que la medida anterior
se muestran en la Fig IV-6:

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

26

Envolvente de simulacin del filtro 3nm


1.4

1.2

0.8

0.6

0.4

0.2

0.0
-10

10

20

30

40

50

tiempo (s)

Espectro de simulacin del filtro 3nm


1.2

Fig IV-6. Envolvente de simulacin


del interferograma correspondiente al
filtro de 3nm (arriba) y el espectro
reconstruido a partir del mismo
(derecha).

0.8

espectro (u.a.)

envolvente (u.a.)

1.0

0.6

0.4

0.2

0
590

600

610

620

630

640

650

660

Lam bda (nm )

Se comprueba que el perfil resultante, adems de no presentar valores negativos


y variaciones bruscas, se asemeja bastante al perfil medido con el espectrofotmetro
Varian: longitud de onda central en 633nm con una anchura de 5nm. Por tanto se puede
afirmar que el mtodo de clculo es correcto y que las discrepancias existentes entre un
resultado y otro es debido a las limitaciones del mtodo de medida (tiempo de medida
finito, errores de alineamiento, errores en la medida de la velocidad del espejo, ruido del
detector, variaciones de la seal debido a la electrnica, etc).

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

27

670

3.- Filtro de 10nm:


Finalmente, el filtro de 10nm presenta el interferograma representado en la Fig
IV-7. Se comprueba, de nuevo, que ste es prcticamente simtrico y que decae muy
rpido, llegando incluso a alcanzar valores negativos en la envolvente.
Envolvente del filtro 10nm

Interferograma del filtro 10nm


1.2

1.2

0.9

0.6

envolvente (u.a.)

0.6

0.4

-0.3
0.2
-0.6

-0.9

-0.2

-1.2
0

15

30

45

60

75

90

105

10

15

20

25

30

35

40

45

tiempo (s)

tiempo (s)

Espectro del filtro 10nm


1.2

0.8

espectro (u.a.)

transformada de Fourier (u.a.)

0.8

0.3

0.6

0.4

0.2

-0.2
630

635

640

645

650

655

660

Lambda (nm)

Fig IV-7. Interferograma y envolvente medidos del filtro de 10nm de anchura


espectral (arriba a derecha e izquierda respectivamente) y el espectro de
reconstruccin correspondiente (abajo).

En este caso el perfil presenta un pico centrado en 645nm con una anchura de
unos 10nm. Para concluir debe hacerse notar que lo que se ha medido no es exactamente

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

28

50

la funcin de transferencia de los filtros, sino que se mide el espectro de emisin de una
lmpara blanca a travs del interfermetro y del filtro.
Vemos que, en general en todos los casos tratados hasta ahora, el interferograma
se mide correctamente, obteniendo medidas que se adecan bien a lo esperado. Sin
embargo, la reconstruccin espectral no es del todo correcta no por problemas del
software desarrollado (pues funciona bien con las simulaciones) sino por problemas del
montaje experimental (velocidad del motor, alineamiento...).
A la vista de los resultados obtenidos comprobamos, por tanto, que el mtodo de
espectroscopia por TF puede no resultar muy adecuado para la determinacin de perfiles
espectrales. Esto es debido a que existen muchos efectos que dan lugar a errores y,
adems, stos se manifiestan fuertemente en la forma del perfil reconstruido. No
obstante, la ventaja ms clara del mtodo reside en que mide de forma absoluta la
longitud de onda central del espectro, capacidad que no tiene ningn otro mtodo
(monocromadores, interfermetros Fabry-Prot...). En efecto, con un montaje adecuado
se podra medir la longitud de onda de forma muy precisa, siendo sta la aplicacin
directa ms utilizada de un montaje de espectroscopia por TF.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

29

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

30

V Otras medidas realizadas


Adems de la aplicacin en la caracterizacin de filtros descrita en la seccin
anterior, se han podido tomar otra serie de medidas que se describen a continuacin. Los
resultados aqu mostrados corresponden todos ellos al algoritmo de la TF simplificada
con apodizado suavizado y pesado de datos (mtodo Simpson).

1.- Lser de He-Ne


Una de las primeras medidas realizadas fue sobre el lser de He-Ne utilizado en
el alineamiento del montaje. El interferograma y el espectro reconstruido se muestran en
la Fig V-1:
Detalle del interferograma del lser He-Ne

0.9

0.9

0.6

0.6
Transformada de Fourier (u.a.)

1.2

0.3

-0.3

0.3

-0.3

-0.6

-0.6

-0.9

-0.9

-1.2

-1.2
20

30

40

50

60

70

80

90

30

100

30.5

31

31.5

32

32.5

33

33.5

34

34.5

35

tiem po (s)

tiem po (s)

Espectro del lser de He-Ne


1.2

Fig V-1. Interferograma medido

0.8

del lser de He-Ne junto con un


detalle de los batidos (arriba) y el
espectro reconstruido a partir del

Espectro (u.a.)

Transformada de Fourier (u.a.)

Interferograma del lser He-Ne


1.2

0.6

0.4

mismo (derecha).
0.2

-0.2
620

625

630

635

640

645

Lam bda (nm )

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

31

650

Se puede comprobar que el interferograma apenas decae durante el tiempo de


medida debido al elevado tiempo de coherencia de la fuente problema. Vemos que el
espectro presenta un pico bien diferenciado centrado en 634.8nm, valor que se aproxima
bastante al valor esperado de 632.8nm. Adems el pico presenta una anchura a 1/e de
unos 5nm, valor que esta de acuerdo con el valor esperado segn la relacin (III-12) en
el caso de tomar 2 como anchura de la funcin sinc2.

2.- Lser de Nd-YAG doblado


Adems del lser de He-Ne se tuvo la oportunidad de medir el interferograma
correspondiente a un lser Nd:YAG doblado. ste emite en torno a 532nm y ser
utilizado ms adelante para el bombeo de una muestra de rub. El interferograma y el
espectro se representan en la Fig V-2:
Interferograma del lser verde
1.5

0.5

-0.5

-1

-1.5
20

30

40

50

60

70

80

90

100

tiem po (s)

Espectro del lser verde


1.2

0.8

Fig V-2. Interferograma medido


del lser de Nd-YAG doblado

Espectro (u.a.)

Transformada de Fourier (u.a.)

0.6

0.4

(arriba) y el espectro reconstruido a


partir del mismo (derecha).

0.2

-0.2
500

510

520

530

540

550

560

570

Lam bda (nm )

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

32

De nuevo, el interferograma decae muy poco durante el tiempo de medida,


dando cuenta de la alta coherencia temporal de la fuente a estudio. No obstante, s que
se observa un cierto decaimiento de la envolvente, por lo que se tiene algo ms de
informacin para reconstruir el espectro que en el caso del lser He-Ne. En efecto, la
anchura que presenta el pico a 1/e del mximo es de unos 2nm mientras que la
resolucin en este caso sera de unos 3,3nm. Adems, presenta un pico a 533.5nm,
resultado que se ajusta bastante bien al valor terico, teniendo en cuenta las limitaciones
de nuestro montaje.

3.- Lmpara de Cesio


En este caso se intentar obtener el doblete que presenta el cesio en torno a
850nm y 894nm. En esta medida se utiliza un filtro que selecciona nicamente el
doblete de infrarrojo del cesio. Adems se tuvo que emplear otro programa de medida,
ya que el utilizado en este trabajo no permite medir ms all de 100s y, para obtener un
interferograma adecuado, el tiempo de medida debera ser mayor. Teniendo esto en
cuenta, el interferograma utilizado y un detalle del mismo se muestran en la Fig V-3:
Interferograma y envolvente del Cesio
1.5

0.5

-0.5

-1

-1.5
200

250

300

350

400

450

500

550

600

Interferograma y envolvente del Cesio

tiem po (s)

1.5

Fig

V-3.

Interferograma

medido a partir de la lmpara de


Cesio (arriba) y un detalle del

Transformada de Fourier (u.a.)

Transformada de Fourier (u.a.)

mismo (derecha).

0.5

-0.5

-1

-1.5
250

255

260

265

270

275

280

tiem po (s)

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

33

Ntese cmo aparecen los batidos caractersticos debidos a que el espectro est
formado bsicamente por dos longitudes de onda bien diferenciadas. Al ejecutar el
programa de reconstruccin se obtiene como resultado el espectro de la Fig V-4:
Espectro del Cesio
1.2

Espectro (u.a.)

0.8

0.6

0.4

0.2

-0.2
850

860

870

880

890

900

910

920

Lam bda (nm )

Fig V-4. Espectro reconstruido a partir del


interferograma de la lmpara de Cesio.

Vemos que, en efecto, aparecen dos picos separados en el espectro. Sin embargo
la separacin entre ambos no coincide con el valor terico, aunque uno de los picos s
coincida bastante bien con los datos de la bibliografa (895.9nm frente a los 894.3nm
tericos). A continuacin se muestran los valores tericos de emisin del doblete del
cesio as como los valores obtenidos y su separacin:
1teo = 852,11 nm

1exp = 873,5 nm

2teo = 894,35 nm

1exp = 895,9 nm

teo = 42,24 nm

teo = 22,4 nm

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

34

Correccin a la medida del doblete del Cesio


Esta medida resulta un claro ejemplo de caso en el que no se puede aplicar el
mtodo simplificado ya que la informacin que nos proporciona la envolvente es la
semi-diferencia de frecuencias y los batidos van con la semi-suma (en lugar de la TF del
perfil espectral y la longitud de onda central del espectro, respectivamente). Nos
tendremos que limitar a usar el mtodo completo. Se comprob que en el espectro
reconstruido no aparecen picos significativos que se puedan asociar al doblete.
Sin embargo, resulta sencillo obtener informacin de las longitudes de onda, sin
aplicar ningn mtodo de reconstruccin, midiendo el periodo, tanto de los batidos
como de la envolvente. Si se realizan estas medidas se obtienen dos longitudes de onda:
1 = 843,3 nm
2 = 885,6 nm
mientras que los valores reales de emisin del doblete del cesio se corresponden a:
1teo = 852,11 nm
2teo = 894,35 nm
Se aprecia que, si bien es cierto que hay una cierta desviacin en el valor
absoluto de la longitud de onda, la separacin entre ambas lneas de emisin ( = 42,4
nm) se ajusta bastante bien a la separacin real ( = 42,2 nm).

4.- Fluorescencia del rub


Para medir la fluorescencia del rub (Cr3+) se tuvo que modificar algo el
montaje utilizado hasta ahora. Un esquema del mismo se muestra en la Fig V-5 :
Interfermetro

P1
v
d

Lser Verde

Rub

L1

L2

Fig V-5. Montaje modificado


para

la

medida

de

Filtro

la

fluorescencia emitida por una


muestra de rub.

Tarjeta
A/D

Detector

Amplificador
inversor

PC

Filtro
AC

En este montaje se utiliza un lser Nd:YAG doblado en frecuencias que emite en


532nm para el bombeo de una muestra de rub. A la salida del lser de bombeo se
coloca un polarizador P1 que permite regular la potencia incidente sobre la muestra.
Como la deteccin se realiza de forma longitudinal, es decir, la fluorescencia detectada
lleva la misma direccin que el bombeo
residual, es necesario colocar un filtro
(figura V-6) antes del detector que elimine lo
mximo posible ese bombeo residual. Si no
se

hace

as

apareceran

los

batidos

caractersticos debidos a la coexistencia de


dos longitudes de onda: una correspondiente
Fig V-6. Factor de transmisin del
filtro utilizado para eliminar el haz
verde antes del detector

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

a la fluorescencia y otra debida al bombeo


residual del lser Nd:YAG.

35

Disponemos de una muestra de rub, Al2O3 con impurezas de Cr3+ como medio
activo. El diagrama de niveles del in se representa en la Fig V-7:

Energa (1000 cm-1)


5
10
15
20

25

Rub (Al2O3:Cr3+)

F1

400 nm

F2

540 nm
2

1 ps
g(2A)=2
g()=2

E
R2 (692,8 nm)

2A
N2 2=3ms

R1 (694,3 nm)
N1
g(4A2)

A2
Fig V-7. Esquema de niveles de energa del in Cr3+

El bombeo de los iones por parte del lser de Nd-YAG doblado se hace entre los
niveles 4A2 y 4F2, decayendo de ste rpidamente (~ps) por transiciones no-radiativas al
nivel 2E que aumenta su poblacin N2. Este nivel esta degenerado, por lo que en el
medio cristalino se desdobla en los niveles 2A y por efectos de red, como por ejemplo
efecto Stark. El aumento de la poblacin N2 implica un aumento significativo de la
emisin espontnea (fluorescencia), que ser detectable. El espectro de fluorescencia
presenta, por tanto, dos picos centrados en 692,8 y 694,3nm. Como la resolucin de
nuestro montaje es como poco de 6nm, segn la ecuacin (III-12), no podremos
resolverlas.
Teniendo esto en cuenta, se puede intentar medir el interferograma
correspondiente. ste se muestra en la Fig V-8, junto con el espectro reconstruido con el
mtodo simplificado:

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

36

Interferograma y envolvente del Rub


1.2

0.9

Transformada de Fourier (u.a.)

0.6

0.3

-0.3

-0.6

-0.9

-1.2
0

10

20

30

40

50

60

70

80

90

tiem po (s)

Espectro del rub


1.2

Fig

V-8.

Interferograma
0.8

muestra de rub (arriba) y el


espectro reconstruido a partir del

Espectro (u.a.)

medido correspondiente a la
0.6

0.4

mismo (derecha).
0.2

-0.2
660

670

680

690

700

710

720

730

Lam bda (nm )

Vemos cualitativamente en el interferograma que se trata de un doblete aunque


no ideal, sino con una de las lneas bastante ms alta que la otra. El espectro obtenido
presenta un pico en 700.6nm, valor que no se aleja demasiado del valor terico de
694nm.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

37

740

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

38

VI Conclusiones
En este trabajo acadmicamente dirigido se ha estudiado los fundamentos
tericos que permiten desarrollar una tcnica espectroscpica basada en la transformada
de Fourier. Se han considerado las limitaciones que esta tcnica presenta y se han
propuesto soluciones que resuelvan esos problemas.
Se ha puesto a punto la instalacin experimental que permite tomar las medidas
de los interferogramas y se ha desarrollado un programa informtico que, por una parte
controle la tarjeta Pico 200ADC para el registro de las medidas y, adems, permita el
tratamiento de las medidas para la reconstruccin de los espectros a partir de los
interferogramas. Se ha evaluado el correcto funcionamiento del programa y se ha
comprobado la validez de las posibles mejoras de la tcnica de espectroscopia por
transformada de Fourier (apodizacin, suavizado de curvas y mtodo Simpson de
integracin numrica) mediante la realizacin de varias simulaciones.
Se ha aplicado el montaje a la caracterizacin del factor de transmisin de varios
filtros y se han discutido los resultados, entendiendo los motivos de las diferencias con
los resultados esperados.
Finalmente, se han medido otras fuentes como son el lser de He-Ne, lser
verde, lmpara de Cesio y fluorescencia del rub. En los dos primeros casos se
determina relativamente bien el pico de emisin de la fuente problema. En el caso de la
lmpara de Cesio se obtiene un doblete aunque no en las posiciones que indica la
bibliografa. En el caso de la fluorescencia del rub se ha modificado ligeramente el
montaje y se ha medido el pico de emisin, encajando bastante bien con el valor
esperado.

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

39

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

40

VII Bibliografa
1. New developments in inteference spectroscopy, P. Jacquinot, Reports on progress in
Physics, vol. 23, pp. 268-312 (1960)
2. A propos de la thorie du spectromtre interfrentiel multiplex, P. Fellgett, Le journal
de Physique et le radium, vol. 19, pp. 187-191 (1958).
3. Spectromtre interfrentiel multiplex pour mesures infra-rouges sur les toiles, P.
Fellgett, Le journal de Physique et le radium, vol. 19, pp. 237-240 (1958).
4. The fast Fourier transform, E. Oran Brigham, ed. Prentice-Hall, New Jersey, 1974.
5. http://physlab2.nist.gov/Divisions/Div844/facilities/ftmw/ftmw.html,
http://www.awi-potsdam.de/www-pot/atmo/ftir/ftir.html,
http://www.minerals.si.edu/labs/ftir.html
6. Fourier-transform spectroscopy instrumentation engineering, V. Saptari, ed. SPIE
Press, 2004.
7. Laser spectroscopy: basic concepts and instrumentation, W. Demtrder, ed. Springer,
1998.
8. http://scienceworld.wolfram.com/physics/FourierTransformSpectrometer.html

Espectroscopia mediante Transformada de Fourier

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