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Espectroscopia de Transformada de Fourier
Espectroscopia de Transformada de Fourier
Espectroscopia de
Transformada de Fourier
NDICE
Pgina
I. Introduccin..................................................................................................... 1
II. Fundamentos tericos de la espectroscopia mediante Transformada de
Fourier ............................................................................................................ 3
1. Teora Bsica............................................................................................ 3
2. Ventajas de la espectroscopia por Transformada de Fourier ................... 7
3. Limitaciones de la espectroscopia por Transformada de Fourier............. 8
III. Montaje experimental y reconstruccin del perfil........................................... 9
1. Instalacin experimental. Determinacin de la velocidad del motor ....... 9
2. Mtodos de reconstruccin del perfil espectral...................................... 12
2.1. Mtodo completo............................................................................ 12
2.2. Mtodo simplificado ...................................................................... 13
2.3. Mtodo hbrido............................................................................... 14
2.4. Simulaciones.. ................................................................................ 14
3. Posibles mejoras al clculo de la TF ..................................................... .15
3.1. Apodizacin ................................................................................... 15
3.2. Problemas debido al muestreo........................................................ 18
3.3. Integracin numrica por el mtodo Simpson................................ 19
3.4. Suavizado de curvas ...................................................................... .20
3.5. Correccin la seal de fondo.......................................................... 20
4. Software desarrollado............................................................................. 21
IV. Aplicacin a filtros pticos............................................................................ 23
1. Filtro de 1nm de anchura........................................................................ 24
2. Filtro de 3nm de anchura........................................................................ 25
3. Filtro de 10nm de anchura...................................................................... 28
V. Otras medidas realizadas ............................................................................... 31
1. Lser He-Ne ........................................................................................... 31
2. Lser de Nd-YAG doblado (532 nm)..................................................... 32
3. Lmpara espectral de Cesio.................................................................... 33
4. Espectro de fluorescencia del rub.......................................................... 35
VI. Conclusiones.................................................................................................. 39
VII. Bibliografa................................................................................................... 41
I Introduccin
El objetivo de este Trabajo Acadmicamente Dirigido (TAD) es la de
familiarizarse y profundizar en los diferentes aspectos que comprende la espectroscopia
mediante transformada de Fourier, analizando y discutiendo los resultados obtenidos en
el mismo. La obtencin de resultados concretos no es el fin ltimo de este trabajo, sino
las conclusiones del porqu de esos resultados.
Aunque el uso en espectroscopia del interfermetro de Michelson ya fue
indicado por el propio Michelson con anterioridad, la primera aplicacin
espectroscpica data de 1911, por Rubens and Wood, principalmente porque ya
disponan de detector. No obstante, el problema de calcular la transformada inversa
llevaba a realizar nicamente un anlisis cualitativo de los interferogramas, a partir de
sus caractersticas. De hecho, si se conoce informacin parcial del espectro ptico
(nmero de lneas, forma aproximada del perfil, etc) es relativamente fcil determinar
longitudes de onda de emisin y anchuras a partir de medidas globales sobre el
interferograma.
El empleo de esta tcnica espectroscpica se relanz en los aos 50 y 60 [1, 2,
3], aunque la herramienta definitiva que permiti utilizar esta espectroscopia es el
algoritmo de transformada rpida de Fourier (FFT) desarrollado por Cooley and Tukey
en 1965 [4]. A partir de entonces, la aplicacin a diferentes campos se multiplica y as
hasta nuestros das. De hecho, en la actualidad, los espectrmetros por transforamda de
Fourier son una herramienta bsica en campos como la Qumica Analtica y en
Astronoma. [5]. Evidentemente, los interfermetros de Michelson han sufrido
modificaciones tcnicas [6] (en el propio interfermetro, en la deteccin, en la captura
de datos, etc) fundamentales para llevar a cabo una espectroscopia fiable. Normalmente,
se adapta el interfermetro, los filtros, la cadena de deteccin, el algoritmo numrico,
etc a cada aplicacin concreta.
La base terica de esta tcnica se encuentra en libros de texto [7], aunque no se
tratan los detalles de su aplicacin. Aunque resulta difcil encontrar libros que
profundicen en estos aspectos (son bastante antiguos), s es fcil encontrar informacin
en internet debido a la amplia utilizacin de esta espectroscopia [8].
Siguiendo estas directrices se abordar, en primer lugar, un desarrollo terico
que explique los fundamentos en los que se basa la espectroscopia por Transformada de
v
Fuente de luz
L1
Fig
II-1.
Montaje
bsico
para
L2
(t ) = 2vt
(I-1)
Io
[1 + cos(k(t ))]
2
I (t ) =
(I-2)
I (t ) =
2v
1 + cos c o t
(I-3)
I ' (t ) =
(I-4)
I ' (t ) = cos o t
c
(I-5)
T=
(I-6)
2v
1
2v
I (t ) = dI n ( ) 1 + cos
t
2 0
c
(I-7)
d I
( ) = 1
(I-8)
2v
I ' (t ) = dI n ( ) cos
t
c
(I-9)
que no es ms que la transformada coseno de Fourier (en adelante, TF) del perfil
espectral de la fuente. Ntese de nuevo que la funcin I(t) ser simtrica respecto al
orden cero, de forma que slo ser necesario tomar medidas para tiempos positivos o
negativos, es decir, slo se tendr que desplazar el espejo en un nico sentido a partir
del orden cero. No obstante, conviene verificar esta propiedad de simetra del
interferograma en las medidas reales.
A la vista de la expresin anterior y basndonos en las propiedades de la
transformada de Fourier (teorema de translacin de la TF), para un perfil espectral
centrado en o siempre se obtendr el producto de dos funciones. La primera de ellas es
una funcin coseno que vara rpidamente (batidos) y lleva informacin de la posicin
del centro del perfil espectral o. La segunda funcin ser la TF del perfil espectral, el
cual vara ms lentamente (envolvente). Adems, las anchuras del perfil espectral y de
su TF son siempre inversamente proporcionales entre s.
Por ejemplo, si la fuente presenta una lnea espectral sin ensanchamiento,
I n ( ) = ( o )
(I-10)
el interferograma ser
2v
I ' (t ) = cos o t
(I-11)
ya que la transformada de una funcin delta es la funcin unidad. Esto es, lgicamente,
el mismo resultado que obtuvimos anteriormente.
En el caso de que la lnea espectral tenga ensanchamiento gaussiano, entonces:
o 2
I n ( o ) =
exp
1
(I-12)
2v
t
I ' (t ) = cos o t exp
c
c
(I-13)
viene dado por la semianchura a 1/e del mximo de la gaussiana transformada y resulta
ser
c =
c 1
v
(I-14)
Se puede, por tanto, definir la longitud de coherencia Lc del perfil espectral como
Lc = 2v c =
2c
(I-15)
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-3.0
-2.0
-1.0
0.0
1.0
2.0
3.0
(-o)/
Respuesta temporal
1.2
envolvente
0.8
0.6
0.4
gaussiano
(arriba)
la
correspondiente transformada
de Fourier (derecha).
0.2
0
-0.3
0.2
0.7
1.2
1.7
2.2
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
batidos
-1
-1.2
t/c
Es posible, por tanto, determinar dicho perfil midiendo esta funcin temporal y
aplicndole la transformada coseno de Fourier inversa (en adelante, TF-1), es decir:
I n ( ) =
2v
2v
dtI ' (t ) cos
t
c
c
(I-16)
o bien,
4v
I n ( ) =
c
2v
t
c
(I-17)
ya que el integrando es una funcin par. Por otra parte, una vez obtenido el perfil
espectral In() normalizado a rea unidad siempre se puede renormalizar para que
represente la intensidad espectral realizando una medida de la intensidad total que emite
la fuente. Por este motivo, los resultados que se mostrarn en este trabajo se han tomado
sin tener en cuenta la constante de normalizacin utilizando, entonces, unidades
arbitrarias.
L1: Lente convergente que permite colimar el haz de luz a la entrada del
interfermetro.
Filtros: Los filtros que han sido objeto de estudio se han colocado entre la lente L2 y
el diafragma del detector. En otras medidas realizadas (fluorescencia del rub) se
han utilizado filtros no para obtener su perfil de transmisin sino para seleccionar
parte del espectro que llegaba al detector, eliminando el bombeo residual.
Justo antes del detector se coloca un diafragma de 1mm de dimetro que permite
seleccionar slo la parte central de los anillos de interferencia. As, se evitan variaciones
angulares de la seal, consiguiendo que el sistema sea menos sensible a los posibles
problemas de alineamiento. Lgicamente, conlleva prdidas en la cantidad de luz que
llega al detector.
En principio, con la colocacin del diafragma no sera necesario colimar el haz
con la lente L1. Sin embargo, esta lente se mantendr ya que as se aprovecha al
mximo la luz disponible y se pueden tomar, por tanto, medidas ms largas del
interferograma. Se consigue as ms informacin de la envolvente y, en consecuencia,
del perfil espectral.
Una vez detectada la seal, se le hace pasar por un filtro electrnico. Un filtro
pasa-banda sera adecuado ya que as se puede eliminar el fondo y medir directamente
la seal en AC (se eliminan las frecuencias bajas) y, adems, se puede eliminar el
posible ruido existente (eliminando frecuencias altas). En particular, se utiliz como
frecuencia de corte inferior 0.1Hz. La eleccin de esta frecuencia fue importante pues se
saba, a priori, que la frecuencia de los batidos seran del orden de 2.7 2.8Hz. Si el
filtro utilizado cortase la seal a partir de una frecuencia cercana a la de los batidos se
modificara el interferograma.
Esta seal filtrada es introducida en un amplificador y que fue ajustado para que
la tensin de fondo final fuese lo menor posible. Adems, anular el fondo tambin es
necesario para no saturar el amplificador. Se realizaron unas medidas comprobando que
el mejor voltaje de fondo conseguido estaba en torno a 15 mV. Por este motivo y,
viendo cmo afecta el voltaje de fondo en la reconstruccin de los espectros (captulo
II-3), ser necesario eliminar numricamente la seal de fondo del interferograma
medido.
Finalmente, el voltaje es introducido en la tarjeta de adquisicin de datos Pico
ADC200 (20 MHz, 8 bits) y, de aqu, al PC para su posterior tratamiento. La tarjeta
ADC200 nos va a limitar el tiempo de medida a 100s por lo que no se podrn medir
envolventes ms largas. Esto, en principio, no sera un problema si la velocidad del
motor fuese algo ms elevada.
Interfermetro
v
d
Fuente de luz
L1
L2
Filtro ptico
Tarjeta
A/D
PC
Diafragma
Detector
Amplificador
Filtro
AC
10
Para determinar la velocidad del motor se coloc el espejo mvil en las cercanas
de la posicin de orden cero. Se midi la posicin inicial y se dej funcionar durante 75
minutos, anotando entonces la posicin final. El motor mueve un tornillo micromtrico
que tiene una precisin de 5m. As
x i = 27,000mm
x f = 23,248 0,005mm
v = 0,8338 0,0011m / s
(III-1)
t = 4500 1s
donde el error en la velocidad de ha obtenido siguiendo la expresin
11
v = 2x + t2
v = error relativo en la velocidad
t = error relativo en el tiempo = 0.2 por mil
x = error relativo en la distancia recorrida = 1,3 por mil
(III-2)
2v
2v m
t I ' (t k ) cos
tk
c
k
c
(III-3)
siendo t el tiempo transcurrido entre dos medidas consecutivas. Este mtodo resulta
til en los casos en los que no se disponga de ninguna informacin acerca del perfil
espectral de la fuente. Sin embargo, el tiempo de clculo requerido resulta elevado en
comparacin con el mtodo simplificado. Existen algoritmos que pueden reducir
notablemente el tiempo de clculo (Fast Fourier Transform, FFT). Sin embargo, no es el
12
fin ltimo de este TAD ni el desarrollo ni el empleo de un algoritmo ptimo que realice
transformadas de Fourier.
2v
2v m
t env I ' env (t j ) cos
tj
c
j
c
(III-4)
13
2.4.- Simulaciones
1.2
0.8
0.9
0.6
0.6
0.3
0.0
-0.3
0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.6
-0.9
-1.2
-20
-0.8
-1.0
-10
10
20
30
40
50
60
70
80
10
11
12
13
14
15
16
17
18
tiem po (s)
tiempo (s)
14
19
20
Al ejecutar el programa con cada uno de los tres mtodos se recupera el perfil
espectral como muestra la figura III-3:
Espectros de simulacin
Lorentziana
1.2
Mtodo Simplificado
Mtodo Completo
Mtodo Hbrido
Espectro (u.a.)
0.8
0.6
0.4
0.2
0
605
615
625
635
645
655
3.1.- Apodizacin
15
2v
2v
(III-5)
o2
2vTmed
(III-6)
siendo Tmed el tiempo de duracin del interferograma. Por ejemplo, midiendo el lser de
helio-nen durante 100 s (mximo tiempo de la tarjeta de adquisicin) se conseguira
una resolucin de 2,4 nm. Vemos que la resolucin mejora conforme aumenta el tiempo
de medida. Tambin se puede relacionar la resolucin con el nmero de batidos a cada
lado del orden cero Nbat usando la ecuacin I-6
=
o
N bat
(III-7)
9 o2
9
= o
2vTmed N bat
(III-8)
16
Una forma de disminuir los efectos del tiempo finito de medida consiste en
multiplicar el interferograma por una funcin triangular que vale 1 en t=0 y 0 en los
extremos del intervalo de medida. De esta forma, al realizar el clculo de In(-o) se
debe tener en cuenta la siguiente expresin (para el mtodo simplificado)
I n ( o )
t
2v
2v m
t env I ' env (t j ) cos
t j 1
c
c
Tmed
j
(III-9)
Factor de apodizado
I ( ) =
v
Tmed sin c 2 Tmed
c
(III-10)
sinc
sinc^2
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0
10
15
20
25
-0.2
-0.4
Se puede estudiar la resolucin del mtodo con esta mejora de forma similar ha
lo hecho hasta ahora. Si tenemos en cuenta los mximos secundarios de la funcin
vemos que stos toman valores mucho menores. Debemos determinar la resolucin
considerando que a anchura de la funcin sinc2 alcanza hasta un determinado cero de la
funcin y, como los mximos decaen ms rpidamente que antes, se podra elegir un
cero relativamente cercano al origen, por ejemplo 6. Con esta eleccin, la anchura sera
de 12 y la resolucin sera
ap
3 2o
6
=
= o
vTmed N bat
(III-11)
17
o2
vTmed
2 o
N bat
(III-12)
sin apodizar
con apodizado
mtodo
simplificado
de
reconstruccin a la simulacin de
Espectro (u.a.)
0.8
0.6
0.4
0.2
0
600
610
620
630
640
650
660
670
18
espectral real y la funcin TF de la funcin peine, que no es ms que otra funcin peine
de muestreo de frecuencia inversa a la inicial. As, el espectro reconstruido se repetir
con una frecuencia que resulta inversamente proporcional a la frecuencia de muestreo.
Este efecto se conoce por aliasing. Dicho de otro modo, esta repeticin del espectro
reconstruido nos limita el intervalo espectral libre de esta tcnica espectroscpica.
Sin embargo, se ha comprobado en este trabajo que el efecto de aliasing es, a
todos los efectos, despreciable ya que la frecuencia de muestreo es lo suficientemente
elevada (incluso cuando se trabaja con envolventes) como para que los espectros de
reconstruccin no se afecten unos a otros. Concretamente, el intervalo espectral libre
viene dado por la expresin = 2o /(2vt ) , que para nuestro motor y midiendo el
lser de helio-nen, resulta que = 240 nm /t (en segundos). Basta tomar un tiempo
entre medidas de 0,1 s para que el intervalo espectral libre sea muy superior a lo que se
necesita.
(III-13)
p3 = p N 2 = 43 / 48
p 4 = p N 3 = 49 / 48
Segn esto, la expresin para el mtodo simplificado (para los otros mtodos es
anlogo) se modifica quedando
I n ( o )
t
2v
2v m
t j 1
t env p j I 'env (t j ) cos
c
c
Tmed
j
(III-14)
19
I (t i 2 ) + I (t i 1 ) + I (t i ) + I (t i +1 ) + I (t i + 2 )
5
(III-15)
Repitiendo el clculo para cada uno de los puntos del interferograma se consigue
eliminar el ruido de ste. Se vio que hacer el promedio con cinco puntos era adecuado
pues se consegua eliminar notablemente el ruido sin que disminuyese demasiado la
precisin en ti.
Esta opcin resulta, a priori, interesante al aplicarla a las envolventes pues, en
principio, eliminara el rizado consecuencia de un mal ajuste del voltaje de fondo. Se
evaluaron las mejoras conseguidas y se comprob que el perfil de reconstruccin s
mejora ligeramente, aunque no resulta crucial en la consecucin de resultados.
(III-16)
20
diferencias son notables. Bsicamente se mantiene la forma del espectro pero el clculo
de la longitud de onda central es incorrecto.
Efecto del voltaje de fondo
1.2
fondo=0
fondo=0.5%
Fig
III-6.
Espectros
de
fondo=1%
0.8
0.6
0.4
0.2
0
590
600
610
620
630
640
650
660
670
680
690
700
lambda (nm)
21
22
70
Filtro 1nm
Filtro 3nm
60
Filtro 10nm
T%
50
40
30
20
10
0
600
610
620
630
640
650
660
23
1.2
1.5
0.9
0.3
-0.3
0.5
-0.5
-0.6
-1
-0.9
-1.2
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
-1.5
100
10
12
14
16
tiem po (s)
18
20
22
tiem po (s)
batidos
(arriba)
envolvente
correspondiente (derecha)
0.8
envolvente (u.a.)
0.6
0.6
0.4
0.2
0
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
tiempo (s)
24
100
Fig
IV-3.
Espectro (u.a.)
0.8
Espectro
reconstruido
del
haz
despus de atravesar el
0.6
0.4
0.2
-0.2
600
610
620
630
640
650
660
670
Lambda (nm)
0.9
0.6
0.3
-0.3
-0.6
-0.9
-1.2
0
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100 105
tiem po (s)
25
interferograma anterior.
envolvente (u.a.)
0.4
0.2
0
0
10
20
30
40
50
60
70
80
tiempo (s)
0.8
0.6
Espectro (u.a.)
0.4
0.2
-0.2
-0.4
600
610
620
630
640
650
660
670
Lambda (nm)
De nuevo se distingue un pico centrado en 637nm y con una anchura del unos
5nm. Para comprobar que el resultado obtenido no es debido a un mal funcionamiento
del programa desarrollado, se ha realizado un interferograma de simulacin que se
aproxime al medido experimentalmente. La envolvente correspondiente a esta
simulacin y el espectro reconstruido en las mismas condiciones que la medida anterior
se muestran en la Fig IV-6:
26
1.2
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
-10
10
20
30
40
50
tiempo (s)
0.8
espectro (u.a.)
envolvente (u.a.)
1.0
0.6
0.4
0.2
0
590
600
610
620
630
640
650
660
27
670
1.2
0.9
0.6
envolvente (u.a.)
0.6
0.4
-0.3
0.2
-0.6
-0.9
-0.2
-1.2
0
15
30
45
60
75
90
105
10
15
20
25
30
35
40
45
tiempo (s)
tiempo (s)
0.8
espectro (u.a.)
0.8
0.3
0.6
0.4
0.2
-0.2
630
635
640
645
650
655
660
Lambda (nm)
En este caso el perfil presenta un pico centrado en 645nm con una anchura de
unos 10nm. Para concluir debe hacerse notar que lo que se ha medido no es exactamente
28
50
la funcin de transferencia de los filtros, sino que se mide el espectro de emisin de una
lmpara blanca a travs del interfermetro y del filtro.
Vemos que, en general en todos los casos tratados hasta ahora, el interferograma
se mide correctamente, obteniendo medidas que se adecan bien a lo esperado. Sin
embargo, la reconstruccin espectral no es del todo correcta no por problemas del
software desarrollado (pues funciona bien con las simulaciones) sino por problemas del
montaje experimental (velocidad del motor, alineamiento...).
A la vista de los resultados obtenidos comprobamos, por tanto, que el mtodo de
espectroscopia por TF puede no resultar muy adecuado para la determinacin de perfiles
espectrales. Esto es debido a que existen muchos efectos que dan lugar a errores y,
adems, stos se manifiestan fuertemente en la forma del perfil reconstruido. No
obstante, la ventaja ms clara del mtodo reside en que mide de forma absoluta la
longitud de onda central del espectro, capacidad que no tiene ningn otro mtodo
(monocromadores, interfermetros Fabry-Prot...). En efecto, con un montaje adecuado
se podra medir la longitud de onda de forma muy precisa, siendo sta la aplicacin
directa ms utilizada de un montaje de espectroscopia por TF.
29
30
0.9
0.9
0.6
0.6
Transformada de Fourier (u.a.)
1.2
0.3
-0.3
0.3
-0.3
-0.6
-0.6
-0.9
-0.9
-1.2
-1.2
20
30
40
50
60
70
80
90
30
100
30.5
31
31.5
32
32.5
33
33.5
34
34.5
35
tiem po (s)
tiem po (s)
0.8
Espectro (u.a.)
0.6
0.4
mismo (derecha).
0.2
-0.2
620
625
630
635
640
645
31
650
0.5
-0.5
-1
-1.5
20
30
40
50
60
70
80
90
100
tiem po (s)
0.8
Espectro (u.a.)
0.6
0.4
0.2
-0.2
500
510
520
530
540
550
560
570
32
0.5
-0.5
-1
-1.5
200
250
300
350
400
450
500
550
600
tiem po (s)
1.5
Fig
V-3.
Interferograma
mismo (derecha).
0.5
-0.5
-1
-1.5
250
255
260
265
270
275
280
tiem po (s)
33
Ntese cmo aparecen los batidos caractersticos debidos a que el espectro est
formado bsicamente por dos longitudes de onda bien diferenciadas. Al ejecutar el
programa de reconstruccin se obtiene como resultado el espectro de la Fig V-4:
Espectro del Cesio
1.2
Espectro (u.a.)
0.8
0.6
0.4
0.2
-0.2
850
860
870
880
890
900
910
920
Vemos que, en efecto, aparecen dos picos separados en el espectro. Sin embargo
la separacin entre ambos no coincide con el valor terico, aunque uno de los picos s
coincida bastante bien con los datos de la bibliografa (895.9nm frente a los 894.3nm
tericos). A continuacin se muestran los valores tericos de emisin del doblete del
cesio as como los valores obtenidos y su separacin:
1teo = 852,11 nm
1exp = 873,5 nm
2teo = 894,35 nm
1exp = 895,9 nm
teo = 42,24 nm
teo = 22,4 nm
34
P1
v
d
Lser Verde
Rub
L1
L2
la
medida
de
Filtro
la
Tarjeta
A/D
Detector
Amplificador
inversor
PC
Filtro
AC
hace
as
apareceran
los
batidos
35
Disponemos de una muestra de rub, Al2O3 con impurezas de Cr3+ como medio
activo. El diagrama de niveles del in se representa en la Fig V-7:
25
Rub (Al2O3:Cr3+)
F1
400 nm
F2
540 nm
2
1 ps
g(2A)=2
g()=2
E
R2 (692,8 nm)
2A
N2 2=3ms
R1 (694,3 nm)
N1
g(4A2)
A2
Fig V-7. Esquema de niveles de energa del in Cr3+
El bombeo de los iones por parte del lser de Nd-YAG doblado se hace entre los
niveles 4A2 y 4F2, decayendo de ste rpidamente (~ps) por transiciones no-radiativas al
nivel 2E que aumenta su poblacin N2. Este nivel esta degenerado, por lo que en el
medio cristalino se desdobla en los niveles 2A y por efectos de red, como por ejemplo
efecto Stark. El aumento de la poblacin N2 implica un aumento significativo de la
emisin espontnea (fluorescencia), que ser detectable. El espectro de fluorescencia
presenta, por tanto, dos picos centrados en 692,8 y 694,3nm. Como la resolucin de
nuestro montaje es como poco de 6nm, segn la ecuacin (III-12), no podremos
resolverlas.
Teniendo esto en cuenta, se puede intentar medir el interferograma
correspondiente. ste se muestra en la Fig V-8, junto con el espectro reconstruido con el
mtodo simplificado:
36
0.9
0.6
0.3
-0.3
-0.6
-0.9
-1.2
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
tiem po (s)
Fig
V-8.
Interferograma
0.8
Espectro (u.a.)
medido correspondiente a la
0.6
0.4
mismo (derecha).
0.2
-0.2
660
670
680
690
700
710
720
730
37
740
38
VI Conclusiones
En este trabajo acadmicamente dirigido se ha estudiado los fundamentos
tericos que permiten desarrollar una tcnica espectroscpica basada en la transformada
de Fourier. Se han considerado las limitaciones que esta tcnica presenta y se han
propuesto soluciones que resuelvan esos problemas.
Se ha puesto a punto la instalacin experimental que permite tomar las medidas
de los interferogramas y se ha desarrollado un programa informtico que, por una parte
controle la tarjeta Pico 200ADC para el registro de las medidas y, adems, permita el
tratamiento de las medidas para la reconstruccin de los espectros a partir de los
interferogramas. Se ha evaluado el correcto funcionamiento del programa y se ha
comprobado la validez de las posibles mejoras de la tcnica de espectroscopia por
transformada de Fourier (apodizacin, suavizado de curvas y mtodo Simpson de
integracin numrica) mediante la realizacin de varias simulaciones.
Se ha aplicado el montaje a la caracterizacin del factor de transmisin de varios
filtros y se han discutido los resultados, entendiendo los motivos de las diferencias con
los resultados esperados.
Finalmente, se han medido otras fuentes como son el lser de He-Ne, lser
verde, lmpara de Cesio y fluorescencia del rub. En los dos primeros casos se
determina relativamente bien el pico de emisin de la fuente problema. En el caso de la
lmpara de Cesio se obtiene un doblete aunque no en las posiciones que indica la
bibliografa. En el caso de la fluorescencia del rub se ha modificado ligeramente el
montaje y se ha medido el pico de emisin, encajando bastante bien con el valor
esperado.
39
40
VII Bibliografa
1. New developments in inteference spectroscopy, P. Jacquinot, Reports on progress in
Physics, vol. 23, pp. 268-312 (1960)
2. A propos de la thorie du spectromtre interfrentiel multiplex, P. Fellgett, Le journal
de Physique et le radium, vol. 19, pp. 187-191 (1958).
3. Spectromtre interfrentiel multiplex pour mesures infra-rouges sur les toiles, P.
Fellgett, Le journal de Physique et le radium, vol. 19, pp. 237-240 (1958).
4. The fast Fourier transform, E. Oran Brigham, ed. Prentice-Hall, New Jersey, 1974.
5. http://physlab2.nist.gov/Divisions/Div844/facilities/ftmw/ftmw.html,
http://www.awi-potsdam.de/www-pot/atmo/ftir/ftir.html,
http://www.minerals.si.edu/labs/ftir.html
6. Fourier-transform spectroscopy instrumentation engineering, V. Saptari, ed. SPIE
Press, 2004.
7. Laser spectroscopy: basic concepts and instrumentation, W. Demtrder, ed. Springer,
1998.
8. http://scienceworld.wolfram.com/physics/FourierTransformSpectrometer.html
41