Pruebas con el mdulo de

prueba Pulse Ramping

Ejemplo prctico de uso

Pruebas con el mdulo de prueba Pulse Ramping

Versin del manual: Expl_PRP.ESP.1 - Ao 2011

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Este manual es una publicacin de OMICRON electronics GmbH.
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La informacin, especificaciones y datos tcnicos del producto que figuran en este manual representan el
estado tcnico existente en el momento de su redaccin y estn supeditados a cambios sin previo aviso.
Hemos hecho todo lo posible para que la informacin que se da en este manual sea til, exacta, actualizada
y fiable. Sin embargo, OMICRON electronics no se hace responsable de las inexactitudes que pueda haber.
El usuario es responsable de toda aplicacin en la que se utilice un producto de OMICRON.
OMICRON electronics traduce este manual de su idioma original ingls a otros idiomas. Cada traduccin de
este manual se realiza de acuerdo con los requisitos locales, y en el caso de discrepancia entre la versin
inglesa y una versin no inglesa, prevalecer la versin inglesa del manual.

Prlogo
En este documento se describe cmo probar el valor de arranque del 2 elemento de los rels de proteccin
contra sobrecorriente direccionales y no direccionales con las caractersticas de disparo IDMT o DTOC.
Contiene un ejemplo de aplicacin que se utilizar en la totalidad del documento.
Se explicar asimismo el fundamento terico para la prueba del valor de arranque del 2 elemento con el
mdulo de prueba Pulse Ramping. En este documento se trata asimismo la definicin de los ajustes
necesarios del Equipo en prueba as como la Configuracin del hardware para probar el valor de
arranque del 2 elemento de los rels de proteccin contra sobrecorriente direccionales y no direccionales.
Finalmente se usa el mdulo de prueba Pulse Ramping para realizar las pruebas necesarias para probar el
valor de arranque del 2 elemento de los rels de proteccin contra sobrecorriente direccionales y no
direccionales.
Complementos:

Requisitos:

Nota:

Archivos de muestra del Control Center:

Example_PulseRamping_OvercurrentDirectional.occ y
Example_PulseRamping_OvercurrentNonDirectional.occ (a los que se hace
referencia en este documento).
Test Universe 2.40 o posterior; licencias de Pulse Ramping y Control Center.

El mdulo de prueba Pulse Ramping puede usarse tambin para probar casi todos
los elementos secundarios (y superiores) en cuanto a proteccin ante corriente,
tensin y frecuencia, etc.

Ejemplo de aplicacin
10,5 kV
Funciones de proteccin
er

1 elemento (67) / caracterstica direccional hacia delante

(IDMT)

200/1

2 elemento (50/51) / caracterstica

no direccional (DTOC)
Rel de sobrecorriente

Figura 1: Diagrama de conexiones del alimentador del ejemplo de aplicacin

OMICRON 2011

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Nombre del parmetro

Valor del parmetro

Frecuencia

50 Hz

TT (primario/ secundario)

10500 V / 110 V

TC (primario/secundario)

200 A / 1 A

1er elemento

CEI muy inversa

Caracterstica de disparo

Direccional hacia delante

Caracterstica direccional hacia delante

300 A

Arranque = 1,5 x In TC primario

1,2
45

2 elemento

Notas

Ajuste del multiplicador de tiempo (TD; TMS; P,

etc.) (nicamente para caractersticas IDMT)
ngulo del rel de la caracterstica (nicamente
para funcin de proteccin direccional)

DTOC

Caracterstica de disparo

600 A

Arranque = 3 x In TC primario

100 ms

Retardo del tiempo de disparo

Tabla 1: Parmetros de rel para este ejemplo

Introduccin terica

2.1

Definicin de las rampas de pulsos para probar el valor de arranque del 2 elemento
En este ejemplo usaremos las tolerancias de tiempo y corriente siguientes para definir las rampas de
pulsos.
Nombre del parmetro

Absoluta

Relativa

Tiempo de retardo

10 ms

1%

Corriente de arranque

10 mA

3%

Valor de reposicin/arranque
Faltas de ngulo 1)

95%
3

---

1) slo necesarios para rels de sobrecorriente direccionales

Tabla 2: Tolerancias de rel y datos tcnicos (slo vlidos para este ejemplo)

Nota:

OMICRON 2011

Las tolerancias dependen del tipo de rel. Pueden obtenerse de las especificaciones tcnicas
del manual del rel.

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Tiempo de disparo / s

1000
Muy inversa (elemento 1)
DTOC (elemento 2)
100

10

0,1

0,01
200

300

400

500

600

Ip 1.1Ip

700

800

Corriente de falta / A

= El elemento 1 puede probarse con el mdulo de prueba Ramping

= Tolerancias de corriente de arranque de elemento 2 (3%)
Figura 2: Caracterstica de tiempo de disparo IDMT para el ejemplo (Tabla 1) con tolerancias de corriente

Nota:

OMICRON 2011

Algunos rels tienen un mayor valor de arranque para las caractersticas IDMT. Por ejemplo, el
rel utilizado en este ejemplo tiene un verdadero valor de arranque que es 1,1 veces mayor
que el valor de ajuste del elemento 1.

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Tiempo de disparo / s

2,5

DTOC (elemento 1)
1,5

DTOC (elemento 2)

0,5

200

300

400

500

600

700

800

Corriente de falta / A

= El elemento 1 puede probarse con el mdulo de prueba Ramping

= Tolerancias de corriente de arranque de elemento 2 (3%)

Figura 3: Caracterstica de tiempo de disparo DTOC con tolerancias de corriente

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Corriente de
falta / A

Con el mdulo de prueba Pulse Ramping puede probarse el valor de arranque del elemento 2 (vase la
Figura 4):

2
elemento

1er
elemento

Tiempo de prueba / s
= Tolerancias de corriente de arranque

= corriente de prueba

= valor de arranque medido

Figura 4: Rampa de pulsos para probar el valor de arranque del elemento 2

Nota:

OMICRON 2011

El comando de disparo se tiene que enrutar hacia una entrada binaria. No es posible cambiar
la condicin de parada para la seal de arranque. Por tanto, no puede probarse el valor de
reposicin.

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2.2

Estructura del mdulo de prueba Pulse Ramping

Una rampa de pulsos se define como un cambio escalonado de una magnitud fsica que vuelve a un
determinado valor de reposicin tras cada paso. Pueden realizarse varios ajustes en este mdulo de
prueba.

2
6

7
1.
2.
3.
4.

5.
6.

7.

Pueden establecerse las Seales y la Magnitud para definir los valores que se sometern a rampa. Las
seales y las magnitudes que pueden elegirse se definen mediante el Modo de ajuste.
Para la prueba hay que definir el inicio y el final de la rampa de pulsos. Lo mismo ocurre con , que es el
tamao del paso.
Establezca el Tiempo de falta para definir la duracin de los pulsos de prueba.
El Estado de falta define los valores que se generan durante los pulsos de prueba. Con el Modo de
ajuste el usuario puede definir si va a cambiar directamente las tensiones y corrientes de salida, o si se
utilizarn valores calculados como componentes simtricas, valores de falta o impedancias de falta. Los
valores que se muestran con fondo gris han sido modificados por la rampa y, por tanto, no pueden
editarse aqu.
Nota: Los valores analgicos deben probarse de acuerdo a valores de falta realistas. Por ejemplo,
desfase de 180 de las corrientes para faltas de fase a fase.
Con el Estado de reposicin pueden definirse los valores que se generan entre dos pulsos de prueba.
Estos valores tienen que garantizar una reposicin del rel.
El Tiempo de prefalta es el tiempo anterior al primer pulso de prueba mientras que el Tiempo de
restauracin es el tiempo entre dos pulsos de prueba. Durante estos tiempos, el Estado de reposicin
estar activo. El Tiempo de restauracin tiene que ser superior al tiempo de reposicin del rel.
Use la Medida para evaluar la prueba. Aqu el usuario puede definir la condicin de trigger y el valor
nominal as como las tolerancias. El usuario tambin puede usar tolerancias relativas para la
evaluacin.

Nota:

OMICRON 2011

Si est activa la funcin de proteccin de carga desequilibrada (secuencia negativa), hay que
usar una falta trifsica para la prueba.

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Introduccin prctica a las pruebas con el mdulo de prueba Pulse

Ramping
El mdulo de prueba Pulse Ramping figura en la Start Page del OMICRON Test Universe. Puede insertarse
asimismo en un archivo del OCC (documento delControl Center).

3.1

Definicin del equipo en prueba

Antes de comenzar la prueba hay que definir la configuracin del rel que se va a probar. Para hacerlo, el
Equipo en prueba debe abrirse haciendo doble clic en el Equipo en prueba del archivo del OCC o
haciendo clic en el botn Equipo en prueba del mdulo de prueba.

OMICRON 2011

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3.1.1 Ajustes del dispositivo

La configuracin general del rel (por ejemplo, tipo de rel, ID del rel, datos de la subestacin, parmetros
de TC y TT) Se introduce en la funcin Dispositivo de RIO.

Nota:

OMICRON 2011

Los parmetros V mx e I mx limitan la salida de las corrientes y tensiones para evitar daos
en el dispositivo en prueba. Estos valores tienen que adaptarse a la Configuracin del
hardware correspondiente cuando se conectan las salidas en paralelo o cuando se usa un
amplificador. El usuario debe consultar el manual del dispositivo sometido a prueba para
asegurarse de que no se supere su capacidad de entrada.

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3.2

Configuracin del hardware global de la unidad CMC para rels de sobrecorriente

direccionales
La Configuracin del hardware global especifica la configuracin de entrada/salida general de la unidad
de prueba CMC. Es vlido para los mdulos de prueba subsiguientes y, por tanto, tiene que definirse de
acuerdo a las conexiones del rel. Se puede abrir haciendo doble clic en la entrada Configuracin del
hardware del archivo del OCC.

3.2.1 Ejemplo de configuracin de salida para rels de proteccin con corriente secundaria nominal de
1A

VA

VC
VB

Vn

IA
IB
IC
In

Nota:

OMICRON 2011

Para los rels de sobrecorriente no direccionales pueden establecerse las salidas de tensin
como <no usado>.

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3.2.2 Ejemplo de configuracin de salida para rels de proteccin con corriente secundaria nominal de
5A

VA

VC
VB

IA

Vn

IC
IB

Nota:

In

Compruebe que la capacidad de los cables es suficiente al conectarlos en paralelo.

Para los rels de sobrecorriente no direccionales pueden establecerse las salidas de tensin
como <no usado>.
Las explicaciones siguientes slo se aplican a los rels de proteccin con una corriente
secundaria nominal de 1 A.

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3.2.3 Salidas analgicas

La salidas analgicas, as como las entradas y salidas binarias, se pueden activar individualmente en la
Configuracin del hardware local del mdulo de prueba en cuestin (vase el captulo 3.3 ).
3.2.4 Entradas binarias
4

1
2

2.
3.

Arranque

4.

El comando de inicio es opcional (no es necesario para esta prueba).

El comando de disparo se tiene que conectar a una entrada binaria. Puede usarse BI1 BI10.
En caso de contactos hmedos, adapte las tensiones nominales de las entradas binarias a la tensin del
comando de disparo del IP o seleccione Sin potencial para contactos secos.
Las salidas binarias y las entradas analgicas, etc., no se utilizarn en las pruebas siguientes.

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Disparo

1.

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3.2.5 Cableado de la unidad de prueba para rels de sobrecorriente direccionales

Nota:

Los diagramas siguientes son slo ejemplos. El cableado de las entradas analgicas de
corriente puede ser diferente si se proporcionan funciones de proteccin adicionales como
proteccin contra falta a tierra sensible. En este caso IN puede cablearse separadamente.

Rel de
proteccin
VA
VB
VC
(-) (-)
IA
IB
IC
IN

Disparo
opcional

(+)
Arranque
(+)

Rel de
proteccin
VA
VB
VC
(-) (-)
IA
IB
IC
IN

Disparo
opcional

(+)
Arranque
(+)

Nota:

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Para rels de sobrecorriente no direccionales no es necesario el cableado de las salidas de

tensin.

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3.3

Configuracin del hardware local para pruebas de proteccin direccional contra

sobrecorriente
La Configuracin del hardware local activa las salidas/entradas de la unidad de prueba CMC para el
mdulo de prueba seleccionado. Por tanto, tiene que definirse separadamente para cada mdulo de
prueba. Puede abrirse haciendo clic en el botn Configuracin del hardware del mdulo de prueba.

3.3.1 Salidas analgicas

Nota:

Para los rels de sobrecorriente no direccionales las tensiones ya se han desactivado en la

Configuracin del hardware global (consulte el captulo 3.2 Error! Reference source not
found.). Por tanto, no estarn visibles en esta ficha.

3.3.2 Entradas binarias

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3.4

Definicin de la configuracin de la prueba

3.4.1 Planteamiento general

Al realizar las pruebas del valor de arranque del elemento 2 para los rels de sobrecorriente direccionales y
no direccionales, se recomiendan los pasos siguientes:
Clculo de los valores nominales:
Para probar el elemento 2 de la funcin de proteccin contra sobrecorriente, hay que conocer los ajustes
(Tabla 1) as como las tolerancias (Tabla 2).
Valor de arranque nominal:
Tolerancias de corriente:

Arranque

2 elemento
3% o 10 mA

Valor nominal

TOL-

TOL+

3A

90 mA

90 mA

Tabla 3: Corriente nominal y tolerancias para este ejemplo

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Ajustes en el mdulo de prueba

1
6

2
3
4

1.
2.

Como todas las corrientes se sometern directamente a rampa, el Modo de ajuste debe ser Directo.
En este ejemplo se aplica una falta de fase a fase.
Nota: Si se activa una proteccin contra carga desequilibrada en el rel, hay que elegir una falta
trifsica porque una falta fase a fase disparara la proteccin contra carga desequilibrada en vez de la
proteccin contra sobrecorriente.

3.
4.

5.
6.

7.
8.
9.

Para el elemento 2 de la funcin de proteccin contra sobrecorriente se somete a rampa la Magnitud.

La rampa de pulsos se establece entre el 80% y el 120% del valor de arranque nominal.
El define el tamao del paso de la rampa de pulsos. Hay que establecer este valor para garantizar
que haya pasos suficientes dentro de la banda de tolerancia. Se recomienda que haya
aproximadamente 4 pasos en cada mitad de la banda de tolerancia. Esto proporciona suficiente
exactitud y reduce el tiempo de la prueba.
El Tiempo de falta tiene que ser superior al del tiempo de disparo del elemento 2 pero inferior al tiempo
de disparo ms rpido del elemento 1.
Para los rels de sobrecorriente direccionales hay que establecer las tres tensiones en la tensin
nominal. Adems, hay que adaptar los ngulos y las corrientes al tipo de falta. Por ejemplo, una falta de
fase a fase tiene 180 entre cada corriente de falta. Para los rels de sobrecorriente direccionales
tambin hay que ajustar los ngulos a la caracterstica direccional.
Los ajustes realizados en el Estado de reposicin han de permitir que el rel pueda reposicionarse.
El Tiempo de restauracin tiene que ser superior al tiempo de reposicin del rel.
En Medida hay que establecer el trigger binario, el valor nominal y las tolerancias.
Nota: Si se usan tolerancias relativas se sobrescribirn todos los vnculos a XRIO para las
tolerancias.

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