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Rayos X Historia
Rayos X Historia
TECNOLGICO
DE CD. MADERO
DIVISIN DE ESTUDIOS
DE POSGRADO
E INVESTIGACIN
Presenta:
DIFRACCIN DE RAYOS X
Cristalino
Amorfo
Policristalino
ESTRUCTURAS CRISTALINAS
Diamante
Grafito
Cloruro de Sodio
Diamante
REDES DE BRAVAIS
pequea que les permite servir como electos de una rejilla de difraccin
tridimensional para los rayos X.
Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de cobre, al que
se le someti a la accin de los rayos X haciendo que el haz incidiera en una
LEY DE BRAGG
Difundida por W.L. Bragg para el anlisis de la estructura de cristales.
Donde n es el orden de una reflexin (n {1,2,3....}), es la longitud
de onda, d es la distancia entre planos paralelos de la lattice y es el
anglo entre el rayo incidente y el plano del enrejado conocido
tambin como el anglo de Bragg.
DIFRACCIN DE RAYOS X
La difraccin (de los rayos X) es el fenmeno fsico a travs del cual se
manifiesta la interaccin fundamental de los rayos X con los cristales
(materia ordenada).
originan
radiacin
en
todas
direcciones,
producindose
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.
Fuente de rayos-x
b)
Goniomtro de 2 crculos ( y 2)
c)
Portamuestras
d)
Detector
e)
PREPARACIN DE LA MUESTRA
Primero molienda
Segundo tamizado
Tercero montaje del
portamuestras.
METODOLOGA
En esta tcnica se usan muestras slidas y tamizadas a tamao
menor de 53 m. Las muestras pulverizadas se depositan sobre un
porta muestra, evitando, en lo posible, la orientacin preferente de
los cristales.