5.3.3 Uso de la tabla Mil-Std-414.

USO E INTERPRETACION DEL MILITAR STANDARD 414:

3.3.3 UNO Y DOS LMITES
MIL STD 414 (ANSI/ASQC Z1.9) Es un plan de muestreo para aceptacin por
variables, se introdujo en 1957, su punto focal es el nivel de calidad aceptable,
que varia de 0.04 a 15%. Existen cinco niveles de inspeccin, donde el nivel IV
se considera normal. Utiliza letras cdigos para los tamaos de muestra, los
tamaos mustrales son una funcin del tamao del lote y del nivel de
inspeccin. En esta norma se pueden emplear dos procedimientos: para el
caso de lmites unilaterales se aplica el procedimiento 1 o 2. Si hay limites
bilaterales, se utiliza el procedimiento 2. Esta norma se divide en cuatro
secciones: Seccin A.- es una descripcin general de los planes de muestreo,
incluyendo ediciones, letras cdigo para el tamao de la muestra, y curvas CO
para varios planes de muestreo. Seccin B.- ofrece planes de muestreo por
variables que se basan en la desviacin estndar de la muestra, para el caso
en el cual se desconoce la variabilidad del lote o del proceso. Seccin C.presenta planes de muestreo por variables que se basan en el mtodo de la
amplitud muestral. Seccin D.- proporciona planes de muestreo por variables
para el caso en el que se conoce la desviacin estndar del proceso. La MIL
STD 414 proporciona informacin para un cambio a la inspeccin estricta o a la
reducida, cuando ella se justifica. Se usa la media del proceso como base para
determinar cuando se realizara dicho cambio. Como media del proceso se
toma el promedio de las estimaciones mustrales del porcentaje defectuoso,
calculadas a partir de los lotes sometidos a la inspeccin original. Normalmente
la media del proceso se calcula a partir de la informacin de los 10 lotes
anteriores. Debe implantarse la inspeccin estricta siempre que la media del
proceso exceda al NCA, y cierto numero de los lotes (mayor a un valor T en los
que se basa la media del proceso tenga estimaciones del porcentaje
defectuoso mayores que el NCA. La tabla 11.6 presenta los valores de T. Se
utiliza la inspeccin reducida cuando: 1.- los 10 lotes anteriores han estado
bajo la inspeccin normal y no se ha rechazado ninguno, 2.- el porcentaje
defectuoso estimado para cada uno de dichos lotes es menor que un limite
inferior especificado, para el cual se proporciona una tabla especial, o en
ciertos planes, cuando el porcentaje defectuoso estimado es igual a cero para
un numero especificado de lotes consecutivos; 3.- La produccin es estable. Es
necesario estimar la fraccin defectuosa cuando se aplica el procedimiento 2
de la MIL STD 414. Tambin se requiere implementar las reglas de cambio
entre la inspeccin normal, la estricta y la reducida. En la norma se
proporcionan tres tablas para estimar la fraccin defectuosa. La seleccin de la
tabla adecuada depende de que se suponga conocida la desviacin estndar,
se estime la desviacin estndar mediante la desviacin estndar muestral, o
se use la amplitud de los datos mustrales. Estas tablas se denominan a veces
Lieberman- Resnikoff (tabla 11.7), se emplean para estimar la fraccin
defectuosa correspondiente a ZLIE y ZESE cuando se desconoce la
variabilidad del proceso, y se estima mediante la desviacin estndar muestral.
Los nmeros en la tabla son las probabilidades de que la variable normal sea
menor que o igual a Z. Estas tablas no solo son tiles para el muestro por
variables, sino tambin para cualquier situacin problemtica en la que se
necesita una estimacin de los percentiles de una distribucin normal con una
media y una desviacin estndar desconocidas. Cuando se empieza a utilizar

la MIL STD 414, puede elegirse entre los procedimientos de la desviacin

estndar conocida y la desviacin estndar desconocida. Cuando no se tiene
alguna base para conocer Sigma, debe utilizarse obviamente el plan de la
desviacin estndar desconocida. Sin embargo, es conveniente llevar una
grafica de R o de S para los resultados de cada lote, con objeto de obtener una
cierta informacin acerca del estado de control estadstico de la dispersin en
el proceso de manufactura. Si este diagrama indica un control estadstico, ser
posible cambiar a un plan de sigma conocida. Tal cambio reducira el tamao
muestral requerido. Incluso en un proceso sin control perfecto, la grafica de
control podra proporcionar informacin conducente a una estimacin
conservadora de sigma para su uso en un plan de sigma conocida. Cuando se
utiliza un plan de sigma conocida, es necesario llevar un diagrama de control R
o S como una verificacin continua de la suposicin de variabilidad estable y
conocida del proceso. La MIL STD 414 contiene un procedimiento especial
para planes mixtos de muestreo de aceptacin por variables y atributos. Si el
lote no satisface los criterios de aceptacin del plan por variables, se obtendr
un plan de muestreo por atributos MIL STD 105D utilizando la inspeccin
estricta y el mismo NCA. Se puede aceptar un lote por cualquiera de los
planes, pero tiene que ser rechazado por ambos mtodos por variables y por
atributos. Uno y dos lmites
Es posible disear planes de muestreo para aceptacin en casos en los que se
conoce o desconoce la variabilidad del lote o el proceso, y en los que hay
lmites unilaterales o bilaterales de especificacin para caracterstica de
calidad. En el caso de los lmites unilaterales se puede aplicar el procedimiento
1 o el procedimiento 2. Si hay limites bilaterales, entonces habr que utilizar el
procedimiento 2. Si se conoce y es estable la variabilidad del lote o del
proceso, los planes que corresponde a una variabilidad conocida son los ms
eficaces econmicamente. Cuando se desconoce la variabilidad del lote o del
proceso se podra usar la desviacin estndar o la amplitud de la muestra para
el plan de muestreo. El mtodo de la amplitud necesita un tamao maestral
ms grande y, por lo general, no se recomienda su uso.
Diferentes procedimientos del mil-std 414
Esta norma puede aplicarse a una especificacin con solo un lmite, S o I, o a
una especificacin con dos lmites. Los planes con sigma conocida incluidos en
la norma estn designados como de variabilidad conocida. En estos ltimos
planes era posible aplicar o bien el mtodo de la desviacin estndar o el
mtodo de amplitud para estimar la variabilidad del lote.
Se dispona de dos formas de hacer los clculos. En la forma 2 , la decisin
de aceptacin o rechazo requera el uso de una tabla auxiliar que
proporcionaba un valor estimado del porcentaje defectuoso del lote basado en
un ndice de calidad calculado a partir de cierto valor estadstico de la
muestra. En la forma 1 , que era solamente para especificaciones
unilaterales, no hacia falta esa tabla auxiliar, las diferencias entre las dos
formas se aplicaban solamente al procedimiento de clculos y las dos daban
resultado idnticos en cuanto aceptacin y rechazo se refiere .
ANEXO 1
Tablas militares
Los pasos necesarios para poner en marcha el muestreo son los siguientes: 1.
Debemos definir el tamao del lote. 2. Conocer el nivel de inspeccin. 3.
Consultar una tabla y localizar el cdigo correspondiente al tamao de la

muestra. 4. Consultar en la tabla del nivel de inspeccin correspondiente

(normal, reducido o riguroso) el cdigo correspondiente al tamao de la
muestra la cantidad a inspeccionar y los NCA para los defectos crticos,
mayores y menores. 5. Tomar las muestras aleatoriamente y decidir la
aceptacin o rechazo del lote. Recuerda que toda inspeccin inicia como
normal y segn el comportamiento se incrementa o reduce su margen de
aceptacin.
A continuacin se detallan estos 5 pasos 1, 2, 3 y 4. Una vez conocido el
tamao del lote y determinado el nivel de inspeccin, se consulta en la tabla el
rango en el que se encuentra el tamao del lote que se inspeccionara y el nivel
de inspeccin que se aplicara, en donde se cruce la fila del tamao, con la
columna del nivel, se encontrara el cdigo correspondiente al tamao de la
muestra de la cantidad a inspeccionar. Si tenemos un lote de 10000 piezas y un
nivel de inspeccin de I, el cdigo ser J, si el lote fuera del 3150 y el nivel de
inspeccin de II, el cdigo ser K.
TAMAO DEL LOTE NIVELES DE INSPECCION GENERALES I II III 28 A B
915 A B C 1625 B C D 2650 C D E 5190 C E F 91150 D F G 151280 E
G H 281500 F H J 5011200 G J K 12013200 H K L 320110000 J L M
1000135000 K M N 35001150000 L N P 150001500000 M P Q 500001-en
adelante N Q R Paso 4 Conocido el cdigo el nivel de inspeccin (normal,
riguroso o reducido), se selecciona la tabla correspondiente del anexo 3, se
busca en estas tablas la letra cdigo del tamao de la muestra en la primer
columna, una vez localizada, se buscan los valores de aceptacin de los NCA
correspondientes a los defectos crticos, mayores o menores del anexo 2. Este
ejemplo nos ayudara a poner en prctica lo anterior. Tenemos un lote de 10500
piezas, utilizaremos un nivel de inspeccin I, en inspeccin normal, con un NCA
de 0.65 para defectos crticos, 1.0 para mayores y 1.5 para menores. La letra
cdigo correspondiente es K, el tamao de la muestra es de 125, el criterio de
aceptacin para defectos crticos es de 2 o menos piezas no conformes para
aceptar y 3 o ms para rechazar el lote completo, para los defectos mayores es
de 3 o menos para aceptar y 4 o ms para rechazar, para los defectos menores
se aceptara el lote con 5 o menos defectuosos y se rechazara con 6 o mas.
Nmeros aleatorios y como usarlos La tcnica bsica del muestreo aleatorio
consiste en asignar un numero a cada una de las unidades del lote. Para esto
se necesita una tabla con nmeros aleatorios como la de la pgina siguiente.
Se escoge cualquier parte de la tabla y se van escogiendo nmeros uno tras
otro (de izquierda a derecha o de arriba abajo), los nmeros que no aplican, se
descarta o se dividen grficamente en 2, un ejemplo seria escoger la serie 10,
42, 56,32 y 43. El 10 pudiera ser el palet (1 si el lote fuera menor de 10 palets),
42 la cama (si el palet tuviera solo 20 camas, se toma el 4, 56 la fila (5 si no
tuviera 56 filas) y 32 la columna (3 si no tuviera 32 columnas). La lata a
inspeccionar ser la que se encuentre en la interseccin de fila con columna,
en la cama y el palet seleccionado. Este plan puede ser modificado por las
caractersticas del material a inspeccionar, pero lo importante es no olvidar que
debe de ser aleatorio para poder tomar muestras representativas.