0% encontró este documento útil
Cargando
Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
Documento
7.uncertainty of VNA S-Parameter Measurement Due To Nonideal TRL Calibration Items
Agregado por Panda lin
Documento
Dielectric Material Characterization Up To Terahertz Frequencies Using Planar Transmission Lines
Agregado por Panda lin
Documento
On-Wafer Microwave Measurements and De-Embedding (Errikos Lourandakis)
Agregado por Panda lin
Documento
Characterization and Design of CMOS Components For Microwave and Millimeter Wave Applications.
Agregado por Panda lin