MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA

Edith Margarita Hernandez Torres

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopías de Sonda de Barrido. que abarca los reinos de los microscopios óptico y electrónico. Es una herramienta de imagen con un amplio rango dinámico. . distribución de carga estática. (SPM) La microscopia SPM consiste en una familia de formas de microscopia donde una sonda puntiaguda barre la superficie de una muestra. fricciones localizadas. También se le considera como un perfilador con una resolución 3-D. monitorizándose la interacciones que ocurren entre la punta y la muestra. y modulación elástica. campos magnéticos. Las aplicaciones son muy diversas: medidas de propiedades como la conductividad superficial.

.Un detector. (SPM) Las dos principales formas de microscopias SPM son: 1) Microscopía de Tunelamiento.Un escaner . .Un sistema de aislamiento de vibración.Una punta. Las técnicas de microscopia SPM tienen en común: .MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopías de Sonda de Barrido.Una electrónica y/o informática de control. 2) Microscopía de Fuerza Atómica. . .

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de Operación de las SPM La punta se selecciona de acuerdo al tipo de muestra y a las propiedades que se desean obtener. su rango de barrido el cual depende del material piezoeléctrico. expandiéndose en una dirección y contrayéndose en otra como resultado del voltaje aplicado a sus electrodos. sus dimensiones y el voltaje aplicado. También se caracterizan por su frecuencia de resonancia. Estos escáneres se caracterizan por tener tres grados de libertad. las más comunes son de Nitruro de Silicio o de Silicio. ésta puede ser de diferentes materiales. El diseño del escáner tiene forma de tubo y es de un material cerámico piezoeléctrico que cambia de dimensiones como respuesta a un voltaje aplicado. . El mayor intervalo de operación de un escáner es de »100 micras en movimiento lateral y »10 micras en movimiento vertical.

El tamaño de la sonda es la que limita la resolución en vez de los efectos de difracción .MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de Operación de las SPM No se usan lentes.

muy sensible al efecto de las fuerzas. La sonda va acoplada a un listón microscópico. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología. de sólo unos 200 —m de longitud. semiconductores y conductores. El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento mecanoóptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewton. para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas. se registra continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. Este tipo de medida se puede realizar en aislantes. Al analizar una muestra.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscopio de Fuerza Atómica. .

las fuerzas entre la punta y la muestra deflectan el cantilever según la ley de Hooke. . de mecánica de contacto. Al acercar el cantilever a la superficie de la muestra.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. F = . que puede ser de nitruro de silicio. electrostáticas. magnéticas y de enlace químico. Las fuerzas entre la punta y la muestra provocan la deflexión del cantilever. simultáneamente un detector mide esta deflexión a medida que la punta se desplaza sobre la superficie de la muestra generando una micrografía de la superficie. El Microscopio de Fuerza Atómica monitorea la superficie de la muestra con una punta de radio de curvatura de 20 a 60 nm que se localiza al final de un cantilever.k x Ley de Hooke Varias son las fuerzas que contribuyen a la flexión del cantilever como la fuerza de van der Waals.

La detección de la deflexion del cantilever se realiza mediante la reflexion de un láser hacia un arreglo de fotodiodos.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. .

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Microscópio de Fuerza Atómica .

MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. El microscopio de AFM puede realizar dos tipos de medidas: 1)imagen y 2)fuerza. la superficie es barrida en el plano de la superficie por la punta. Esta flexión es registrada por el sensor adecuado y la señal obtenida se introduce en el circuito o lazo de realimentación. . Durante el barrido la fuerza interatómica entre los átomos de la punta y los átomos en la superficie de la muestra. La fuerza interatómica se puede detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie de la muestra. En la modalidad de imagen. provoca una flexión del cantilever.

Las medidas de fuerza son útiles en estudios de fuerzas de adhesión y permiten estudiar a nivel de una sola molécula interacciones específicas entre moléculas así como caracterizar la elasticidad de polímeros. por lo que también resulta útil para materiales no conductores.MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA Principio de funcionamiento AFM. al medir las fuerzas mecánicas en la punta detectora. El Microscopio de Fuerza Atómica provee la imagen de una superficie sin que intervegan los efectos eléctricos. También es útil en estudios de indentación de materiales blandos (polímeros) que permitan caracterizar propiedades elásticas de la muestra como el módulo de elasticidad o visco elásticas. . En medidas de fuerza la punta se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexión del cantilever.

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