Microscopio SEM

(Scanning Electron Microscope)

• Apoyándose en los trabajos de Max Knoll en 1930 fue
Manfred von Ardenne quien logró inventar el MEB en 1937
Espectro Electromagnético
• El espectro electromagnético se extiende desde la radiación de
menor longitud de onda, como los rayos gamma y los rayos X,
pasando por la radiación ultravioleta, la luz visible y la radiación
infrarroja, hasta las ondas electromagnéticas de mayor longitud de
onda, como son las ondas de radio.
 Fuerza de Lorentz

• Para una partícula sometida a un campo eléctrico combinado

con un campo magnético, la fuerza electromagnética total o
fuerza de Lorentz sobre esa partícula viene dada por:

F = e (E + v x B)
El Funcionamiento del MICROSCOPIO ELECTRONICO
DE BARRIDO. (Scanning Electron Microscope) o SEM,
es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un
haz de luz para formar una imagen.
Permite obtener imágenes de gran resolución en
materiales pétreos, metálicos y orgánicos.
 Lentes Electromagnéticas
Estas lentes tratan de focalizar el haz de electrones
que sale del cañón en la parte alta del microscopio. El
principio de funcionamiento es sencillo, crean un
campo magnético en el que las líneas de campo van
alineadas en la dirección del flujo de electrones de
forma que estos toman un camino espiral
dirigiéndose al centro del toroide.
• Su funcionamiento consiste en hacer incidir un barrido de haz de
electrones sobre la muestra. La muestra (salvo que ya sea
conductora) está generalmente recubierta con una capa muy fina de
oro o carbón, lo que le otorga propiedades conductoras. La técnica de
preparación de las muestras se denomina “sputtering” o
pulverización catódica.
• Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan
principalmente las siguientes partículas
• – Electrones retrodispersados (e1)
• – Electrones secundarios (e2)
Electrón secundario
• Es un electrón arrancado de la superficie de un sólido en un proceso de
ionización producido por la interacción con otro tipo de radiación llamada
"radiación primaria". La radiación primaria puede consistir en iones,
electrones o fotones, cuya energía debe ser mayor que el potencial de
ionización.

• El proceso por el cual se genera un electrón secundario se llama emisión

secundaria.
Potencial de ionización

• Es la energía necesaria para arrancar un e- de un átomo aislado en

fase gaseosa en su estado fundamental y obtener un ion
monopositivo gaseoso en su estado fundamental más un electrón sin
energía cinética.
La ionización
• Es el fenómeno químico o físico mediante el cual se producen iones,
estos son átomos o moléculas cargadas eléctricamente debido al
exceso o falta de electrones respecto a un átomo o molécula neutra.
A la especie química con más electrones que el átomo o molécula
neutros se le llama anión, y posee una carga neta negativa, y a la que
tiene menos electrones catión, teniendo una carga neta positiva. Hay
varias maneras por las que se pueden formar iones de átomos o
moléculas.
 Electrones Retrodispersados
• Cuando los electrones del haz incidente con el que excitamos la
muestra penetran en su interior, sufren diversas interacciones con los
átomos de la misma, que se van a traducir en su progresivo frenado
así como en una dispersión en distintas direcciones.
• Las interacciones que los electrones incidentes tienen con los núcleos
atómicos de la muestra son de tipo elástico, sufriendo el electrón una
notable desviación respecto de su dirección primitiva, pero sin
perdida significativa de su energía. Por el contrario, las interacciones
de los electrones incidentes con los de la muestra son de tipo
inelástico, con transferencia de parte de su energía pero
generalmente con escasa desviación de su dirección.
Hoy en día, la microscopía electrónica de barrido se utiliza en
campos que van desde la biología a la ciencia de los
materiales, pasando por la arqueología, y muchos fabricantes
ofrecen aparatos de serie equipados con detectores de
electrones secundarios y cuya resolución se sitúa entre 4 y
20 nanómetros.3
• Además de radiación electromagnética (rayos X) y otras partículas
menos significativas.
• El microscopio se encuentra internamente equipado con unos
detectores que recogen la energía y la transforman en las siguientes
imágenes y datos:
• – Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron
Image) con los que obtenemos las imágenes de alta resolución.
• – Detector de electrones retrodispersados: (BEI – Backscattered
Electron Image) Con menor resolución de imagen pero mayor
contraste para obtener la composición de la muestra.
• Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive
Spectrometer) detecta los rayos X generados y permite realizar un
análisis espectrográfico de la composición de la muestra.
• Aplicaciones prácticas en materiales de construcción
• – Morteros y hormigones: Microestructura, fases cristalinas, impurezas,
detección e identificación de sales, microfisuración, etc.
• – Materiales metálicos: Fases cristalinas, texturas, composición, tamaño de
grano, patologías y deterioro (corrosión, fatiga, defectos, fragilización, etc.)
• – Análisis de fracturas en distintos materiales.
• – Determinación de espesores.
• – Productos cerámicos: Microestructura, evaluación de la temperatura de
cocción, fases cristalinas, impurezas, detección e identificación de sales,
etc.
• – Geología: Cristalografía, composición mineralógica, petrología, estudio de
composición de arcillas, etc.

• – Patrimonio, Conservación y Rehabilitación: Análisis de materiales pétreos,

morteros y pinturas, grado y origen de alteración, estado, caracterización del
sistema poroso, biodeterioro, efecto de los tratamientos de limpieza y
consolidación, análisis de sales y costras, análisis de pigmentos.

• Las aplicaciones son múltiples y muy útiles donde otros análisis y ensayos
comunes en los laboratorios tradicionales de construcción no pueden llegar.

• Otra de las ventajas de la SEM es la escasa porción de muestra que se necesita

para el análisis, lo que lo convierte prácticamente en un ensayo no destructivo.
Este es el espectrograma que obtenemos y su
composición química simple.