Análisis de Capacidad

Ph.D. Marcos Buestán

Análisis de Capacidad
Objetivo
Comparar la Voz del Proceso (Variación del Proceso)
con respecto a la Voz del cliente (Límites de
especificación).
Voz del Cliente

Debemos asegurarnos que los límites de especificación

realmente reflejen los requerimientos del cliente interno
o externo.
Voz del Cliente
• “Goal Post” A ACEPTABLE
B ACEPTABLE
LIE VObjetivo LSE
C ACEPTABLE

DEFECTUOSAS A B C DEFECTUOSAS
ACEPTABLES
Voz del cliente
• “Función de Pérdida”
A ACEPTABLE
LIE VObjetivo LSE
B GENERA PERDIDA
C GENERA MUCHA MAS
PERDIDA

DEFECTUOSAS
DEFECTUOSAS A B C
ACEPTABLES
Voz del cliente
Ancho de banda permitido

LIE LSE
Voz del Proceso

LIC LSC
3s 2s 1s 1s 2s 3s

ANCHO DE BANDA OCUPADO POR EL PROCESO

Capacidad del Proceso
• Mide la frecuencia con que los productos o
transacciones que se obtienen de un proceso
cumplen con las especificaciones.
• Determina si la variabilidad de las característica de
calidad que se está evaluando figura entre los límites
de especificación establecidos.
Capacidad del LIEProceso LSE

0,00135% 0,00135%

LIC 3s 2s 1s 1s 2s 3s LSC
62%
95%
99,73%
Diferentes niveles de capacidad
LIE LSE

LIC LSC
3s 2s 1s 1s 2s 3s

ANCHO DE BANDA OCUPADO POR

EL PROCESO
Diferentes niveles de capacidad
LIE LSE

LIC 3s 2s 1s 1s 2s 3s LSC

ANCHO DE BANDA OCUPADO POR

EL PROCESO
Capacidad de Procesos
Recolección de datos
• Los grupos de datos recolectados deben mantener las
características de un “subgrupo racional”.
Subgrupos
Se desea monitorear el peso neto (en oz) de un producto blanqueador, para
esto se tomaron muestras (subgrupos) de tamaño n=5. Los datos de 20
muestras preliminares se muestran a continuación.
Subgrupo X1 X2 X3 X4 X5
1 15.8 16.3 16.2 16.1 16.6
2 16.3 15.9 15.9 16.2 16.4
3 16.1 16.2 16.5 16.4 16.3
4 16.3 16.2 15.9 16.4 16.2
5 16.1 16.1 16.4 16.5 16
6 16.1 15.8 16.7 16.6 16.4
7 16.1 16.3 16.5 16.1 16.5
En este caso estoy 8 16.2 16.1 16.2 16.1 16.3
realizando un análisis 9 16.3 16.2 16.4 16.3 16.5
10 16.6 16.3 16.4 16.1 16.5
de capacidad de una Y
11 16.2 16.4 15.9 16.3 16.4
12 15.9 16.6 16.7 16.2 16.5
13 16.4 16.1 16.6 16.4 16.1
14 16.5 16.3 16.2 16.2 16.4
15 16.4 16.1 16.3 16.2 16.2
16 16 16.2 16.3 16.3 16.2
17 16.4 16.2 16.4 16.3 16.2
18 16 16.2 16.4 16.5 16.1
19 16.4 16 16.3 16.4 16.4
20 16.4 16.4 16.5 16 15.8
Análisis de Capacidad
• Recordemos
Compara la Voz del Proceso (Variación del
Proceso) con respecto a la Voz del cliente
(Límites de especificación).
Análisis de Capacidad
CORTO s2DENTRO
PLAZO
Análisis de
Capacidad

LARGO
s2TOTAL
PLAZO
ANALISIS DE CAPACIDAD
DATOS NORMALES
Condiciones
• Se asume que los datos siguen una distribución de
tipo normal.
• Se asume que el proceso se encuentra en estado
estable.
Capacidad Potencial del Proceso Cp
• Compara el ancho de las especificaciones con
respecto a la amplitud de la variación real del proceso
a corto plazo.
• No considera el centrado del proceso.
• Considera la variación a corto plazo.

Cp= Variación Tolerada

Variación Real a corto plazo
Capacidad Potencial del Proceso Cp
Cp= Variación Tolerada
Variación Real a corto plazo

Cp= LSE-LIE
6sCP
sCP= Rprom/d2
d2 Valores a utilizarse
Tamaño de muestra d2
2 1.128
3 1.693
4 2.059
5 2.326
6 2.534
7 2.704
8 2.847
9 2.97
10 3.078
Cálculo de variación a corto plazo
Subgrupo X1 X2 X3 X4 X5 R
1 15.8 16.3 16.2 16.1 16.6 0.8

scp= R
2 16.3 15.9 15.9 16.2 16.4 0.5
3 16.1 16.2 16.5 16.4 16.3 0.4
4 16.3 16.2 15.9 16.4 16.2 0.5 prom/d2 = 0,475/2,326
5 16.1 16.1 16.4 16.5 16 0.5
6 16.1 15.8 16.7 16.6 16.4 0.9

scp= 0,204
7 16.1 16.3 16.5 16.1 16.5 0.4
8 16.2 16.1 16.2 16.1 16.3 0.2
9 16.3 16.2 16.4 16.3 16.5 0.3
10 16.6 16.3 16.4 16.1 16.5 0.5
11 16.2 16.4 15.9 16.3 16.4 0.5
12 15.9 16.6 16.7 16.2 16.5 0.8
13 16.4 16.1 16.6 16.4 16.1 0.5
14 16.5 16.3 16.2 16.2 16.4 0.3
15 16.4 16.1 16.3 16.2 16.2 0.3
16 16 16.2 16.3 16.3 16.2 0.3
17 16.4 16.2 16.4 16.3 16.2 0.2
18 16 16.2 16.4 16.5 16.1 0.5
19 16.4 16 16.3 16.4 16.4 0.4
20 16.4 16.4 16.5 16 15.8 0.7

Rprom= 0,475
 Variación permitida
Cálculo de Cp LSE-LIE

LIC LIE LSE LSC

Cp= LSE-LIE Cp=1

6s CP
Proceso Aceptable

Incluye el
3s 2s 1s 1s 2s 3s 99,73% de los
datos
 Variación permitida
Cálculo de Cp LSE-LIE
LSC
LIC LIE LSE

Cp<1
No Capaz

2,5 % 2,5 %

3s 2s 1s 1s 2s 3s
Incluye el 95%
de los datos

Cp= LSE-LIE
6sCP
 Variación permitida
Cálculo de Cp LSE-LIE

LIE LSE
LIC LSC

Cp= LSE-LIE Cp=2

6s CP
Proceso Seis Sigma

LIC LSC
Incluye el
6s 5s 4s 3s 2s 1s 1s 2s 3s 4s 5s 6s 99,99999997%
Cálculo de Cp
• Luego de desarrollar un proceso de corte se espera
que la longitud de la pieza final, oscile entre 123.5
mm. (LIE) y 126.5 mm.(LSE), en caso de no acogerse a
estos límites se ha comprobado que existe un alta
posibilidad de que dicha pieza presente futuros
problemas de ajuste. Actualmente el proceso
mantiene un promedio de m=124.61 mm. y una
desviación de estándar scp=0.49.
Analizar Cp
Valor índice Cp Clase o categoría Decisión si el proceso
está centrado

Cp>2 Clase Mundial Calidad Seis Sigma

1.33<Cp<2 1 Proceso Adecuado o

proceso Capaz
1<Cp<1.33 2 Parcialmente
adecuado
0.67<Cp<1 3 Análisis muy
necesario
Cp<0.67 4 No adecuado
Cálculo de Cp
LIE LSE

Cp=1

LIC LSC
3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cálculo de Cp
LIE LSE

Cp=1

LIC LSC
3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cp
• El análisis de capacidad potencial del proceso no
considera la ubicación o el centrado del proceso,
revisemos su fórmula.

Cp= LSE-LIE
6sCP

• Por eso lleva el nombre de potencial, no

necesariamente la ubicación del proceso es la
correcta.
Capacidad Real del Proceso Cpk
• Evalúa la capacidad real del proceso considera: las dos
especificaciones, la variación y el centrado del
proceso.
• Consiste en el valor mínimo entre el índice de
capacidad superior Cps y el índice de capacidad
inferior Cpi.
Cpk= min (Cpi, Cps)
Cálculo de Cpi/Cps m=VO
LIC LSC
m-LIE LSE-m
LIE LSE
Cpi = m-LIE Cps = LSE-m
3sCP 3sCP

Cpi= 1 Cps= 1

3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cálculo de Cp m≠VO
LIC LSC
m-LIE

Cpi = m-LIE
3sCP
Cpi< 1

LIE 3s 2s 1s 1s 2s 3s LSE
Cálculo de Cp m≠VO
LIC LSC
m-LIE LSE-m

Cpi = m-LIE Cps = LSE-m

3sCP 3sCP

Cpi< 1 Cps> 1

LIE LSE
3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cálculo de Cp m≠VO
LIC LSC
m-LIE LSE-m
LIE LSE
Cpi = m-LIE Cps = LSE-m
3sCP 3sCP

Cpi< 1 Cps> 1

3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cálculo de Cp LSE-m
LIC
m≠VO LSC

LIE LSE
Cpi = m-LIE Cps = LSE-m
3sCP 3sCP

Cpi> 1 Cps< 1

3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cpk=min (Cpi,Cps)
Cpi = m-LIE
3sCP

Cps = LSE-m
3sCP
Calcule el Cpk
• Luego de desarrollar un proceso de corte se espera
que la longitud de la pieza final, oscile entre 123.5
mm. (LIE) y 126.5 mm.(LSE), en caso de no acogerse a
estos límites se ha comprobado que existe un alta
posibilidad de que dicha pieza presente futuros
problemas de ajuste. Actualmente el proceso
mantiene un promedio de m=124.61 mm. y una
desviación de estándar s=0.49.
Nivel de Sigma
• Cuantifica el número de sigmas que pueden caber entre
la media del proceso y el límite de especificación
superior (Zs) o, entre la media del proceso y el límite de
especificación inferior (Zi).

LIE LSE

Mayor número de
sigma mayor valor
de Z

LIC LSC
3s 2s 1s 1s 2s 3s
Cálculo de Z
Zs = LSE-m 3Cps = Zs
sCP

Zi = m-LIE 3Cpi = Zi
sCP
En base a Z podemos
calcular el porcentaje
de defectuosos o PPM
Calcule el nivel sigma…T
m= 124.61 sCP = 0.49

Defectuosos

Defectuosos

LIE VO LSE
123.5 126.5
Calcule el nivel sigma…
m
Zi = 124.61-123.5 Zs = 126.5-124.61
0.49 0.49
Zi= 2,26 Zs= 3,85

Defectuosos

Defectuosos

LIE VO LSE
123.5 m= 124.61 126.5
sCP = 0.49
Nivel Esde sigma a corto plazo
un indicador que se relaciona directamente con el número de defectuosos en el
proceso.
Un proceso Seis sigma
Z ~ N(0,1) posee no más de 3,4
PPM en el largo plazo

11,900 PPM

0,0119= 1,19%
59 PPM
0,0059%

VO
Nivel Sigma a corto plazo
Agrupe el total de defectos en un solo lado de la cola de la curva,
preferentemente a la derecha.

1,19%
0,0059%
0,0119 0,000059
59 PPM
11,900 PPM

1,1959 %
0.011959
11,959 PPM
Nivel Sigma a corto plazo
Obtenga la diferencia hacia la izquierda e insértela en la fórmula
DISTR.NORM.ESTANDAR.INV de Excel que me permite conocer el valor de Z dada
una probabilidad acumulada.
1-0.011959=0.988041

1,1959 %
0.011959
11,959 PPM

Z=2,25
Variación a largo plazo
• Un conjunto de datos representa el comportamiento
a “largo plazo” del proceso, si durante su recolección,
es posible observar un 80% de los cambios que el
proceso sufre de manera normal.
• Para su cálculo se consideran todos las mediciones
recolectadas
Calculo de variación a largo plazo
Subgrupo X1 X2 X3 X4 X5
1 15.8 16.3 16.2 16.1 16.6
La variación a largo plazo, considera
2 16.3 15.9 15.9 16.2 16.4 todos los datos al momento de su
3 16.1 16.2 16.5 16.4 16.3
cálculo. No se centra en el
4 16.3 16.2 15.9 16.4 16.2
5 16.1 16.1 16.4 16.5 16 promedio de las variaciones en
6 16.1 15.8 16.7 16.6 16.4 cada sub-grupo
7 16.1 16.3 16.5 16.1 16.5
8 16.2 16.1 16.2 16.1 16.3
9 16.3 16.2 16.4 16.3 16.5

s
10 16.6 16.3 16.4 16.1 16.5
11 16.2 16.4 15.9 16.3 16.4
12 15.9 16.6 16.7 16.2 16.5 LP= DESVEST()
13 16.4 16.1 16.6 16.4 16.1
14 16.5 16.3 16.2 16.2 16.4
15 16.4 16.1 16.3 16.2 16.2
16 16 16.2 16.3 16.3 16.2
17 16.4 16.2 16.4 16.3 16.2
18 16 16.2 16.4 16.5 16.1
19 16.4 16 16.3 16.4 16.4
20 16.4 16.4 16.5 16 15.8
Desempeño Potencial del Proceso Pp
• Se calcula empleando la misma fórmula usada para
calcular la Capacidad Potencial del Proceso. En este
caso se considera la variación a largo plazo.

Pp= Variación Tolerada

Variación Real a largo plazo

Pp= LSE-LIE
6sLP
Desempeño real del proceso Ppk
Ppi = m-LIE
3sLP

Pps = LSE-m
3sLP
Desempeño Real del Proceso Ppk
• Un proceso de tipo Seis Sigma mantendrá un índice
Ppk igual a 1,5. Esto se debe a que en la Metodología
Seis Sigma en el largo plazo la media del proceso una
vez centrada tenderá a moverse 1,5s a la derecha o a
la izquierda.
Desplazamiento de la media del proceso
1,5 s

LIE m LSE
Desplazamiento de la media del proceso

% defectuosos % defectuosos

LIE m LSE
Desplazamiento de la media del proceso
1,5 s

% defectuosos

LIE m LSE
Nivel de Z a largo plazo
• Es el indicador que de mejor manera expresa la
variación de la media a largo plazo.
• Es un indicador versatil ya que permite el cálculo de
otros indicadores de manera sencilla.
• Permite realizar comparaciones entre proyectos de
diferente índole
Cálculo de Z a largo plazo
• Se pueden calcular igual que el Z a corto plazo.

ZsLP = LSE-m 3Pps = ZsLP

sLP

ZiLP = m-LIE
3Ppi = ZiLP
sLP
Cálculo de Z a largo plazo
• Si se tiene acceso a la variación a largo plazo el nivel Z
de largo plazo se calcula empleando la misma
metodología que utilizamos para calcular el Z de corto
plazo.
Cálculo de Z a largo plazo
• A menudo los datos existen solamente para corto o largo plazo.
• En ese caso por convención asumimos que en el largo plazo la
media del proceso se desplazará 1,5s hacia cualquiera de los
dos lados, de ese modo Z se cambia 1.5 sigma.
Cálculo de Z a largo plazo
ZLP = ZCP – 1.5
ZCP= ZLP + 1.5
Una vez obtenido Z es posible obtener otros
indicadores como el Cpk o el Ppk.
En la práctica Análisis de Capacidad
• Los datos con los cuales se realiza un análisis de
capacidad deben ser de tipo normal, si se desean
emplear todas las fórmulas y los indicadores
revisados anteriormente.
• Cuando los datos son normales podemos emplear
todos los indicadores antes vistos, tanto a largo como
a corto plazo.
Prueba de normalidad
Stat > Basic Statistics > Normality Test
Prueba de normalidad DATOS
NORMALES
Probability Plot of Datos
Normal
99,9
Mean 5,707
StDev 2,881
99 N 100
AD 0,432
95 P-Value 0,300
90
80
70
Percent

60
50 P>0.05
40
30
20
10 Puntos
5 coincidentes con
la línea
1

0,1
-5 0 5 10 15
Datos
Prueba de normalidad DATOS NO
NORMALES
Probability Plot of Datos
Normal
99,9
Mean 1,447
StDev 0,8988
99 N 100
AD 3,502
95 P-Value <0,005
90
80
70
Percent

60
50
40
P<0.05
30
20 Puntos No
10 coincidentes con
5 la línea
1

0,1
-2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7
Datos
Análisis de Capacidad
Datos normales
Análisis de Capacidad en MINITAB
• Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Normal
Análisis de Capacidad en MINITAB
Process Capability of Pesos

LSL USL
P rocess D ata W ithin
LS L 595,00000 Ov erall
Target *
USL 605,00000 P otential (Within) C apability
S ample M ean 600,23000 Cp 1,00
S ample N 100 C PL 1,04
S tD ev (Within) 1,67231 C PU 0,95
S tD ev (O v erall) 1,87861 C pk 0,95
C C pk 1,00
O v erall C apability
Pp 0,89
PPL 0,93
PPU 0,85
P pk 0,85
C pm *

595,5 597,0 598,5 600,0 601,5 603,0 604,5

O bserv ed P erformance E xp. Within P erformance E xp. O v erall P erformance
P P M < LS L 0,00 P P M < LS L 881,77 P P M < LS L 2684,93
P P M > U S L 0,00 P P M > U S L 2169,93 P P M > U S L 5556,82
P P M Total 0,00 P P M Total 3051,70 P P M Total 8241,75
Análisis de Capacidad
• Un fabricante de llantas desea analizar la profundidad
de los hilos del producto. Los límites de especificación
son para el LSE 5.011 mm y para el LIE 4.92 mm.
• Cuáles el nivel de capacidad del proceso.
• Se puede considerar un proceso adecuado ?
• Para el cálculo de scp considere un n=2

Tirethread.mtw
Análisis de Capacidad
• Los resultados del análisis en una bomba de combustible arrojaron los
resultados que se pueden observar en Fuelpump.mpj, considerando
un LIE es 73.9 y LSE es 83.1.
• Establezca si el proceso es o no capaz en el corto y largo plazo.
• Emplee un tamaño de subgrupo de 3.
Análisis de Capacidad
Datos no normales
Análisis de Capacidad en MINITAB
Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Nonnormal
Análisis de Capacidad en MINITAB
Process Capability of Pesos 1
Calculations Based on Weibull Distribution Model

LSL USL
P rocess D ata O v erall C apability
LS L 595,00000 Pp 1,88
Target * PPL 1,18
USL 605,00000 PPU 3,79
S ample M ean 599,54800 P pk 1,18
S ample N 100
E xp. O v erall P erformance
S hape 953,93953
P P M < LS L 429,609
S cale 599,85511
PPM > USL 0,000
O bserv ed P erformance P P M Total 429,609
P P M < LS L 0
PPM > USL 0
P P M Total 0

595,5 597,0 598,5 600,0 601,5 603,0 604,5

Baldosas
• Ud trabaja en una compañía que elabora baldosas, una
de las características de calidad más importantes en
este proceso es la deformación que sufren estas al ser
instaladas.
• Si la máxima deformación permitida es de 8 mm.
determine usando los datos incluidos en el archivo
Baldosas.mpj, si el proceso puede o no considerarse
capaz.