UNIVERSIDAD NACIONAL DE TRUJILLO

ESCUELA DE INGENIERA DE
MATERILAES

TEMA: INTRODUCCIN AL CURSO DE

CARACTERIZACIN DE MATERIALES

CURSO: Caracterizacin de Materiales

DOCENTE: Ing. Dionicio Otiniano Mndez

dionicioo@hotmail.com

18 05 - 2017
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 INTRODUCCIN AL LA CARACTERIZACIN DE MATERIALES
ptica
Elctrica
Mecnica
Electroqumica
SEAL Electromagntica
Trmica
Qumica
Fsica
Interaccin
Perturbacin
agresin Mecnicas
INFORMACIN Topografa Fsicas
PROPIEDADES
Morfologa Qumicas
Composicin quim. Elctricas
Estructura Trmicas
Apariencia superficial

Seleccionar un material
Mejorar la durabilidad, Asegurar un para una aplicacin
eficiencia, rendimiento en desempeo especifica
los materiales, sistemas o ptimo del
procesos material Valorar su utilidad en
diversas aplicaciones

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 ESPECTROSCOPIA INFRARROJA

Fig. 1 Equipo de Espectroscopia

Infrarroja
Fig. 2 Informacin de IR

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 ESPECTROSCOPIA UV-VISIBLE

Fig. 1 Equipo de Espectroscopia

UV-Visible
Fig. 2 Informacin de UV-Visible

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PROPIEDADES
EMCANICAS

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 Difraccin de Rayos X (XRD)

Fig. 1 Equipo de Difraccin de

Fig. 2 Reporte de resultados
Rayos X (XRD)

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 Difraccin de Rayos X (XRD)

Fig. 1 Equipo de Difraccin de

Rayos X (DRX) Fig. 2 Informacin de DRX

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 MICROSCOPIA ELECTRONICA
Este equipo permite realizar observaciones a nivel microscpico a muy alta
resolucin, aumentar un objeto entre dos y 300 mil veces su tamao
real, permitiendo resultados de manera ms expedita en el anlisis de
materiales, metales, la corrosin o cualquier otra clase de observacin de
microestructuras de cualquier tipo.

Microscopio Electrnico de Barrido 8

 MICROSCOPIA ELECTRONICA

Microscopio Electrnico de Barrido Informacin de UV-Visible

Este microscopio electrnico de barrido cuenta con un can de electrones

de emisin de campo (FEG) que permite trabajar en modo de alta
resolucin especial para el estudio de nano-materiales y est equipado
con una amplia variedad de detectores que garantizan su versatilidad para
diferentes aplicaciones.
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 MICROSCOPIA ELECTRONICA

Microscopio electrnico de transmisin (TEM) Fig. 2 Informacin de TEM

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APLICACIN DE LA MICROSCOPIA
ELECTRONICA

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 SILABO DE CARACTERIZACIN DE MATERIALES

UNIDAD N I: TCNICAS DE CARACTERIZACIN Y ESPECTROSCOPIA

6 semanas:
INICIO: 15-05-2017 TERMINO: 23-06-2017

1. Introduccin al curso de Caracterizacin de Materiales.

2. Fundamentacin de la Caracterizacin de Materiales.
3. Tcnicas y Mtodos de caracterizacin de materiales.
4. Espectroscopia Infrarroja (IR).
5. Espectroscopia Ultravioleta-Visible (UV) y de Fluorescencia.
6. Primer examen parcial

LABORATORIOS PRIMERA UNIDAD

Lab. N 01: Medicin de espesores con o sin recubrimientos. .

Lab. N 02: Lab. N 2a: Curva de calibracin para anlisis de
Lab. N 2b: Anlisis de iones sulfatos

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 SILABO DE CARACTERIZACIN DE MATERIALES

UNIDAD N 2: MTODOS, TCNICAS DE DIFRACCIN Y MICROSCOPIA

5 semanas:
INICIO: 26-06-2017. TERMINO: 28-07-2017

1. Teora, conceptos y leyes de difraccin de rayos X.

2. Teora, conceptos y leyes de microscopa ptica.
3. Microscopia electrnica de barrido (SEM).
4. Microscopa electrnica de transmisin (TEM).
5. Segundo examen parcial.

LABORATORIOS DE SEGUNDA UNIDAD

Lab. N 03: Lab. N 3: Metalografa ptica del Cu, Al y Latn.
Lab. N 04: Lab.N 4: Ensayo de dureza del Cu, Al y Latn.

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 SILABO DE CARACTERIZACIN DE MATERIALES

UNIDAD N 3 TCNICAS DE ANLISIS TRMICO Y ANLISIS DE SUPERFICIES

5 semanas:

INICIO: 31-07-2017. TERMINO: 01-09-2017.

1. Teora y conceptos de Termogravimetra. Anlisis trmico diferencial y

calorimetra diferencial de barrido.
2. Anlisis termomecnico y trmico dinmico mecnico.
3. Propiedades Reolgicas. Caracterizacin de fundidos.
4. Tcnicas de anlisis de superficies y pelculas delgadas.
5. Tercer Examen Parcial

LABORATORIOS TERCERA UNIDAD

Lab. N 06: Lab. N 5: Ensayos de Traccin para el Cu,Al y Latn.
Lab. N 07: Lab. N 6: Anlisis trmico por DSC y TG del HDPE

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 NORMAS DE EVALUACIN
NUi = (0.5*NTi )+ (0.3*NLi*) + (0.2*ACTi).

NTi= (0.8*Examen parcial + 0.2*Trabajo)

NLi=(0.5.NL1i + 0.5.NL2i)

ACTi=[puntualidad+participacin en clase))

NP = (NP1+NP2+NP3)/3.

PARA APROBAR LA ASIGNATURA DEBE:

Tener igualo mas 70% de asistencia a clase

Tener dos unidades aprobadas
CONSEJERIA:
NP = o > a 10.5 Jueves de 10 a 13 horas

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REFERENCIAS BIBLIOGRAFICAS:

1.Pertolas J.- Ros R. y Casals J. Tecnologa de Superficies en Materiales.

1ra ed. Editorial Sntesis, S.A. Madrid-Espaa. 2010.

2. Askeland D. Fundamento de la Ingeniera y Ciencia de Materiales. 2da ed.

Editorial Progreso, S.A. de
C.V. Mxico. 2010.

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