TCNICAS DE CARACTERIZACIN

PETROGRFICA

Dr. Juan Josu Enciso

Crdenas
Maltos Acua J., Macas Sanchez A.R., Lpez Monsivais S.A., De La Cruz
Snchez A.D.
Universidad Autnoma de Coahuila
Blvd. Adolfo Lpez Mateos S/N, C.P. 26800, Nueva Rosita,
Coahuila, Mxico

QU ES LA
PETROGRAFA?
La Petrografa es un campo de la petrologa que se ocupa de la descripcin y clasificacin de las rocas
mediante la observacin microscpica de secciones o lminas delgadas derivadas de las rocas en
estudio, en un microscopio petrogrfico (Figura 1), clasificndolas segn su textura y composicin
mineralgica.

Figura 1. Microscopio Petrogrfico

ESTUDIO PETROGRFICO
Un estudio petrogrfico requiere, en primer lugar, del examen fsico de la roca (descripcin
megascpica) que nos brinde informacin sobre el aspecto, textura, color, dureza, tamao de grano
o granularidad de la roca.
Cuando los constituyentes son tan pequeos que no son apreciados a simple vista se dice que la roca
presenta textura afanita o afantica, y cuando los cristales s pueden ser apreciables a simple vista o
con lupa se le denomina fanertica (Figura 2).

Figura 2. Textura afantica (Izq.), y textura fanertica (Dcha.).

ESTUDIO PETROGRFICO
Despus de las observaciones megascpicas se realiza una descripcin microscpica.
Una descripcin microscpica consiste en determinar la composicin mineralgica y los rasgos texturales,
con lo que es posible obtener mucha informacin de donde se origin la roca; tambin se determina la forma y
color de los cristales, tipo u origen de cada mineral (primarios o secundarios), la textura, la relacin mutua
entre los minerales y/o asociaciones minerales, as como la matriz o cementante en caso que est presente.
Cada tipo de roca tiene caractersticas microscpicas especficas muy importantes en una clasificacin.

MICROSCOPIA PTICA DE POLARIZACIN (MOP)

En esta tcnica se analiza la composicion mineralgica, la textura y microtextura y
microestructura de las muestras analizadas.
Cuando la luz incide en un material, parte de la radiacin se refleja y parte se refracta,
producindose los fenmenos denominados reflexin y refraccin de luz respectivamente.
En el microscopio petrogrfico de polarizacin de luz transmitida, el rayo de luz incide en los
minerales y los atraviesa, siendo esencial para obtener informacin que los minerales sean
transparentes a la luz.

MICROSCOPIA PTICA DE POLARIZACIN

(MOP)
El microscopio que se utiliza es el microscopio polarizante (Figura 3 y 4), el cual se emplea para examinar
los minerales transparentes. El material que se usa para los polarizadores son prismas de nicol de calcita,
que dejan pasar nicamente luz que vibra en un nico plano.
Esta luz produce en el campo del microscopio claridad u oscuridad, segn que los dos ncoles estn
paralelos o cruzados.
Algunoscompuestos inorgnicos responden alefectode laluz, stos tienen un alto
grado de orientacin molecular (sustancias anistropas), que hace que laluzque los
atraviesa pueda hacerlo en determinados planos vibratorios atmicos.

Figuras 3 y 4. Microscopios petrogrficos,

tambin utilizados para la microscopia
ptica de polarizacin.

MICROSCOPIA PTICA DE POLARIZACIN (MOP)

Es empleado para:
-

Examinar tanto granos minerales, fragmentos y pequeos cristales, como secciones

delgadas de minerales, rocas y otros cristales.

Determinar las propiedades pticas de los cristales individuales o agregados.

- Interpretar las texturas y relaciones varias de las sustancias naturales o artificiales, tal
como aparecen en las secciones delgadas.

MICROSCOPIA PTICA DE POLARIZACIN (MOP)

Las propiedades pticas de los minerales se estudian con luz polarizada, esto es, luz que vibra en una nica
direccin.
Para ello, se emplean materiales que actan como filtros, dejando pasar solo una direccin de vibracin.
Los microscopios petrogrficos tienen dos de estos filtros, el polarizador y analizador, refirindose a ambos
como nicoles. Segn su colocacin , los minerales se observan con los nicoles paralelos o cruzados, a 90

Polarizacin de la luz y nicoles empleados en

microscopia ptica

MICROSCOPIA PTICA DE POLARIZACIN (MOP)

Laminas delgadas
El estudio de laminas delgadas permiten conocer aspectos composicionales y texturales de los materiales
ptreos, tanto primarios como debido a su alteracin fsica y qumica.

Una lamina delgada es una seccin o muestra del mineral de inters la cual ser reducida de un espesor
de uno a dos milmetros hasta unos treinta micrones de espesor. Posteriormente si la muestra lo requiere
es teida, existen dos tipos de teido una para minerales silicios y otra para minerales carbonaticos .

DIFRACCIN DE RAYOS X
Los mtodos difractometricos se basan en la difraccin de radiaciones que producen la materia
cristalina.
Los cristales pueden ser utilizados como rendijas de difraccin de la radiacin X, al presentar el
espaciado reticular entre sus planos magnitudes del mismo orden que la longitud de onda de la
radiacin X. Por este motivo, los rayos X pueden experimentar fenmenos de difraccin al
interaccionar con la materia cristalina.
Cuando un has de rayo X incide sobre un cristal, la estructura cristalina hace que los rayos se
reflejen en cada uno de los planos de la red cristalina, produciendo fenmenos de difusin o
dispersin.
Los rayos difundidos generan proceso de interferencia, en su mayor parte destructivas. Sin embargo, en
algunas direcciones, estas interferencias son constructivas (esto es, iguales a un numero entre de
onda), tendiendo entonces lugar el fenmeno de la difraccin.

DIFRACCIN DE RAYOS X
Ladifraccin en polvoes un mtodo que permite identificar los minerales por su estructura
cristalina. La utilidad de este mtodo ha crecido y su campo se ha extendido con la introduccin del
difractmetro de rayos X.
Lo anterior es posible gracias a que los minerales son cristalinos y la distribucin regular en el espacio
de sus componentes se describe por medio de las redes cristalinas, que manifiestan la repeticin
peridica de la celda del mineral.
El mtodo de polvo cristalino permite obtener una lista de espaciados e intensidades (datos de
difraccin) de una forma rpida y sencilla. La muestra de mineral o de roca para anlisis
difractomtrico se prepara reducindola a polvo fino, y se extiende sobre un portamuestras, usando
una pequea cantidad de aglomerante adhesivo. El resultado de la pulverizacin es la obtencin de
un nmero muy elevado de pequeos cristalitos, los cuales pueden reflejar los rayos X.

Figura 6 y 7. Difractmetro para la difraccin en polvo.

DIFRACCIN DE RAYOS X
El instrumento para la medida del difractorama es el difractmetro en polvo. Est formado por una fuente
de rayos X, un portamuestras montado sobre un genimetro giratorio y un detector.
El portamuestras, situado en posicin, gira segn la trayectoria de un haz colimado de rayos X, mientras
que un detector de estos rayos, que se encuentra montado en un brazo, gira alrededor para captar las
seales difractadas de los mismos.
Una vez que se obtiene el difractograma, el cual es un grfico que en abscisas indica el ngulo de
difraccin y en ordenadas la intensidad correspondiente, y los datos de la muestra analizada, la
identificacin consiste en hallar en la base de datos el mineral cuyo difractograma corresponde.
Actualmente, la mayora de los laboratorios utilizan la identificacin automtica mediante software, que
son proporcionados por los mismos proveedores de equipos de difraccin.

MICROSCOPIA PTICA DE FLUORESCENCIA

La fluorescencia es la propiedad que tienen algunas sustancias, tanto orgnicas como
inorgnicas, de absorber energa en forma de radiacin electromagntica de onda corta (por
ejemplo, luz ultravioleta) y de volver a emitirla parcialmente, con una longitud de onda mas
larga, dentro del espectro visible.
El microscopio de fluorescencia profundiza en ciertos aspectos texturales y microtexturales
relacionados directamente con la porosidad de las muestras (porcentajes, tipologas, evolucin,
etc.)

MICROSCOPIA PTICA DE FLUORESCENCIA (MOF)

Para poder estudiar los geomateriales mediante MOF es necesario acoplar al microscopio ptico de
polarizacin una fuente de iluminacin que emita luz ultravioleta (lmpara de mercurio) y dos
filtros, de excitacin y de emisin (Figura 8).

Figura 8. Microscopia petrogrfico con lmpara

de mercurio acoplada

MICROSCOPIA PTICA DE FLUORESCENCIA (MOF)

Para el estudio de los geomateriales mediante esta tcnica igualmente se preparan secciones o laminas
delgadas de 30 micrmetros de espesor, siendo siempre necesario el embutido de las mismas, pues la
sustancia fluorescente se introduce en la resina del embutido. Esta sustancia se introduce en la red poral,
hacindola fluorescente bajo la luz ultravioleta.
Antes de estudiar una muestra mediante MOF, es aconsejable observar las laminas delgadas con el
microscopio petrogrfico de polarizacin, obtenindose imgenes tanto en ncoles paralelos como en
ncoles cruzados.
Despus, se apaga su fuente de iluminacin y se enciende la lmpara de mercurio que emite la luz ultra
violeta, consiguindose las mismas imgenes de la zona estudiada, pero con distintas intensidades de
verde sobre un fondo oscuro. Tales reflejos verdes indican el tipo de porosidad que tiene la muestra, se
obtiene el porcentaje y evolucin (Figura).

MICROSCOPIA PTICA DE FLUORESCENCIA (MOF)

Figura 9. Imgenes al
microscopio petrogrfico
de
polarizacin,
con
ncoles paralelos (a) y
cruzados (b), con emisin
de
fluorescencia
(c).
Ladrillo (1), caliza (2) y
granito (3).
La intensidad de fluorescencia emitida depende
del tipo y cantidad de porosidad existente en la
muestra, cuanto mas intenso sea el verde,
mayor ser su porosidad.

MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO (MEB)

El MEB complementa al microscopio petrogrfico, ya que la resolucin de ste alcanza los 50
aumentos (50x), mientras que la del MEB oscila entre 20 (20x) y 20,000 (20,000x).
El MEB aporta informacin valiosa sobre los distintos aspectos texturales que pueden
aparecer en las muestras analizadas, tanto a escala microscpica como nanoscopica, as
como sobre la composicion qumica de sus componentes.
Esta tcnica utiliza un haz de electrones, que incide sobre la muestra despus de rebotar en
varias lentes magnticas. Estos electrones barren la superficie de la muestra sin llegar a
atravesarla y provocan la emisin de distintos tipos de radiaciones electromagnticas
(electrones secundarios, electrones retrodispersados y rayos X, entre otros), que son
discriminadas segn el detector seleccionado.

MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO (MEB)

Los electrones secundarios (SE) son electrones de baja energa que permiten obtener
imgenes en gris de gran resolucin y con relieve, es decir, imgenes en 3D. Este modo
de anlisis del MEB proporciona informacin grafica de la morfologa de los distintos
componentes que constituyen la muestra analizada (Figura).
En cuanto a los electrones retrodispersados (BSE), son electrones de alta energa y su
principal utilidad es que permiten el anlisis composicional cualitativo de la muestra,
segn el numero atmico de los elementos qumicos presentes en sus distintos
componentes.
As pues, las imgenes obtenidas de zonas con distinta composicion presentan diferentes
intensidades de grises (Figura). Cuanto menor sea el peso molecular de la sustancia
observada, mas oscuro ser el tono de gris en la imagen (ej. Cuarzos, feldespatos,
dolomita), y al revs, si el peso molecular es alto, los tonos tienden mas blanco
(biotitas, calcita, Zn, Ti, Fe, etc.)

MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO (MEB)

Figura 10. Imgenes tomadas con distintas
tcnicas microscpicas. Microscopia ptica
de Polarizacin (MOP) con ncoles paralelos
(Sup. Izq.). Microscopia Electrnica de
Barrido en modo electrones secundarios
(MEB-SE) sobre un fragmento (Sup. Dcha.).
Microscopia electrnica de barrido en modo
electrones
retrodispersados
(MEB-BSE),
sobre lamina delgada (Inf. Centro).

MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO (MEB)

La energa de la radiacin X generada al bombardear una muestra con electrones, caracterstica
de cada elemento qumico, es recogida por un microanalizador acoplado de energa dispersiva de
Rayos X (EDX). Este analizador permite determinar de forma cualitativa y semicuantitativa la
composicion qumica de los distintos componentes de la muestra. Se obtienen espectros de
identificacin de los elementos qumicos que constituyen la muestra, tanto anlisis puntuales
como zonales. La concentracin de los elementos qumicos puede obtenerse tanto en elementos
como en xidos.
Para el empleo de esta tcnica microscpica, las muestras primero tienen que estar
completamente deshidratada y han de hacerse conductoras al haz de electrones. Para ello bien,
se metalizan con oro, bien se evaporan con grafito. La metalizacin con oro permite obtener
imgenes al MEB-SE de muy buena calidad pero dificulta el empleo del EDX, pues el oro
enmascara los espectros de otros elementos qumicos que pudieran existir en la muestra.
Cuando se necesite utilizar el EDX es preferible evaporar la muestra con grafito, tenindolo en
cuenta a la hora de analizar el contenido de carbono.

MICROSCOPIA ELECTRNICA DE BARRIDO (MEB)

Figura 11. Preparacin de muestras para MEB. Fragmento metalizado con

oro (izqda.), evaporado con grafito (centro) y lmina delgada evaporada con
grafito (dcha.).

GRACIAS POR
SU ATENCION!

ZONEAMIENTO
Es la distribucin espacial de los minerales o elementos en un

espacio.

PLEOCROSMO
El pleocrosmo es la facultad que presentan algunos minerales de

absorber las radiaciones luminosas de distinta manera en funcin

de la direccin de vibracin.

MACLAS
Lasmaclasson asociaciones de varios cristales de un mismo

mineral que presentan relaciones cristalogrficas entre ellos.

Cristal de plagioclasas

CLIVAJE
El clivaje puede ser descrito como la manera en que un mineral tiende
a dividirse al aplicarle una fuerza y est relacionado con la fractura
pero no es lo mismo.

PRISMA DE NICOL

Un prisma de Nicol es un tipo de prisma ptico polarizador, es decir, crea un haz de luz

polarizada a partir de un haz de luz sin polarizar.