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Caracterizacin de nanomateriales

En la sntesis de nuevos materiales, las propiedades de


stos dependen no slo de las propiedades de los
materiales de partida, sino tambin de su morfologa y
las caractersticas interfaciales, por lo que es muy
importante su determinacin.
-Yolanda Vargas, Introduccin a la caracterizacin de materiales, nanomateriales y
catalizadores, Revista Digital Universitaria ISSN: 1607 6079, 1 de mayo de 2013 vol.14,
No.5 .

Caracterizacin de nanomateriales
Difraccin de rayos X.
Microscopias de sonda de barrido
Microscopia electrnica

Difraccin de rayos X
Ley de Bragg
n= 2dsen
d=
Espacios
interatomicos

La microscopia de sonda de barrido


Consiste en una familia de formas de microscopia donde
una sonda puntiaguda barre la superficie de una
muestra, monitorizndose la interacciones que ocurren
entre la punta y la muestra.

Las dos principales formas de microscopias SPM son:


Scanning Tunneling Microscopy (STM). Desarrollada por
Binning y Roher en los laboratorios IBM (Suiza),
descubrimiento por el que recibieron el Premio Nobel de
Fsica en 1986
Atomic Force Microscopy (AFM).

Microscopia de efecto tunel


Punta y
muestra
deben ser
materiales
conductor
es

Microscopia de fuerza atomica


Aislantes
Conductores
Semiconductor
es

Las aplicaciones son muy diversas, en la medidas de


propiedades :
Conductividad superficial
Distribucin de carga esttica
Fricciones localizadas
Campos magnticos
Modulacin elstica

Microscopia electronica de
transmision
Fundamento:
Un haz de electrones que manejado a travs de lentes
electromagnticas se proyecta sobre una muestra muy
delgada situada en una columna d e alto vaco. Los
electrones atraviesan la muestra o bien chocan con
tomos d ela misma y acaban su viaje.

Fuente y flujo de electrones en TEM:


La fuente es un ctodo constituido por un filamento de
wolframio incandescente (alto vaco).
Los electrones son trmicamente arrancados a baja
velocidad.
Los electrones son acelerados mediante la creacin de
un alto potencial (cilindro de Wehnelt), el cual permite
una trayectoria rectilnea de los electrones de muy baja
longitud de onda.
Los electrones se desvan de s u trayectoria al atravesar
un campo electromagntico(lente electromagntica).
La desviacin s e acenta al colocar varias lentes
Un haz muy desviado, muy abierto, se recoge en una
pantalla fluoroscpica para poder ser visible al ojo

Seguimiento de crecimiento
cristalino

Aplicaciones
Grado de cristalinidad y morfologa
Defectos en semiconductores.
Perfiles de concentracin
Mapas de distribucin de elementos qumicos
Control del deterioramiento de los materiales

Gracias por su atencin

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