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DISEOS FACTORIALES 2K

INTRODUCCION
PROBLEMA
HIPOTESIS
SIGNOS DE LAS INTERACCIONES
OBTENCION DEL CONTRASTE
EFECTOS PROMEDIO
PARETO
SUMA DE CUADRADOS
ANOVA
EFECTOS PROMEDIO
EFECTOS DE INTERACCION
GRAFICA DE RESPUESTA

INTRODUCCION
Los diseos factoriales son ampliamente utilizados en experimentos en los
que intervienen varios factores para estudiar el efecto conjunto de stos sobre
una respuesta.
Un caso especial e importante ocurre cuando se tienen k factores, cada uno
con dos niveles:
Cuantitativos (valores de temperatura, presin o tiempo), o

Cualitativos (dos mquinas, dos operadores, los niveles superior e


inferior de un factor o, la ausencia o presencia de un factor.
Una rplica completa de tal diseo requiere que se recopilen 2*2*...*2=2k
observaciones y que se conoce como diseo factorial 2k. Se supone que:
1) los factores son fijos,
2) los diseos son completamente aleatorizados, y
3) se satisface la suposicin de normalidad.

APLICACIN: FILTRAR FACTORES


El diseo 2k es particularmente til en las primeras fases del trabajo
experimental, cuando es probable que haya muchos factores por investigar si
tienen influencia sobre la variable de respuesta.

HAY UN MUNDO DE FACTORES QUE INFLUYEN!


Este diseo es el ms econmico en el sentido de que es el diseo factorial
completo que implica el menor nmero de corridas con las cuales pueden
estudiarse k factores.

Debido que slo hay dos niveles para cada factor, debe suponerse que la
respuesta es aproximadamente lineal en el intervalo de los niveles elegidos de
los factores.

PROBLEMA

Un ingeniero est interesado en el efecto que tiene la rapidez de


corte (factor A), la configuracin (factor B) y el ngulo de corte
(factor C) sobre la resistencia de una herramienta. Se eligen dos
niveles de cada factor y se realiza un diseo factorial con dos
replicas. Los resultados se muestran a continuacin:

Combinacin

replica I

replica II

(1)

18.2

18.9

a
b
ab

+
+

+
+

27.2
15.9
41.0

24.0
14.5
43.9

c
ac
bc
abc

+
+

+
+

+
+
+
+

12.9
22.4
15.1
36.3

14.4
22.5
14.2
39.9

Variable de respuesta: Resistencia de una herramienta


Factores controlados:
Rapidez de corte (A)
Configuracin (B)
Angulo de Corte (C)
Hiptesis:
Ho:No influye la rapidez de corte en la resistencia de una herramienta.
Ha:Si influye la rapidez de corte en la resistencia de una herramienta.
Ho:No influye la configuracin en la resistencia de una herramienta.
Ha:Si influye la configuracin en la resistencia de una herramienta.
Ho:No influye el ngulo de corte en la resistencia de una herramienta.
Ha:Si influye el ngulo de corte en la resistencia de una herramienta.

Ho: No hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte y la


configuracin en la resistencia de una herramienta.
Ha: Si hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte y la
configuracin en la resistencia de una herramienta.
Ho: No hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte y el ngulo de
corte en la resistencia de una herramienta.
Ha: Si hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte y el ngulo de
corte en la resistencia de una herramienta.

Ho: No hay efecto de interaccin entre la configuracin y el ngulo de


corte en la resistencia de una herramienta.
Ha: Si hay efecto de interaccin entre la configuracin y el ngulo de corte
en la resistencia de una herramienta.
Ho: No hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte, la
configuracin y el ngulo de corte en la resistencia de una herramienta.
Ha: Si hay efecto de interaccin entre la rapidez de corte, la configuracin
y el ngulo de corte en la resistencia de una herramienta.

SOLUCION ESTADISTICA DEL DISEO 23


1. CALCULAR LOS SIGNOS DE LAS INTERACCIONES
Combinacin A B C AB AC BC ABC

replica I

(1)
a

+
-

+
-

+
+

18.2
27.2

b
ab
c

+
-

+
+
-

+
+

+
-

+
+

15.9
41.0
12.9

ac
bc
abc

+
+

+
+

+
+
+

+
+

+
+

22.4
15.1
36.3

replica
II
18.9
24.0
14.5
43.9
14.4
22.5
14.2
39.9

2.- Calcular los contrastes de los efectos. El contraste se define el


efecto total y se obtienen mediante las siguientes ecuaciones:
Combinacin A B C AB

(1)
a

b
ab
c
ac
bc
abc

AC BC ABC

replica
I

replica SUMA
II

18.2

18.9

37.1

+ -

27.2

24

51.2

+
+
+

+
+
+
+

+
+
+

+
+
+

+
+

+
+
+

15.9
41
12.9
22.4
15.1
36.3

14.5
43.9
14.4
22.5
14.2
39.9

30.4
84.9
27.3
44.9
29.3
76.2

+
+
+
+

CONTRASTE (A)= (A+ )- (A- )=(51.2+ 84.9+44.9+76.2)(37.1+30.4+27.3+29.3)=133.1

CONTRASTE (B)= (B+ )- (B- )=(30.4+84.9+29.3+76.2)(37.1+51.2+27.3+44.9)=60.3


CONTRASTE (C)= (C+ )- (C- )=(27.3+44.9+29.3+76.2)(37.1+51.2+30.4+84.9)=-25.9
CONTRASTE (AB)= (AB+ )- (AB- )=(37.1+84.9+27.3+76.2)(51.2+30.4+44.9+29.3)=69.7
CONTRASTE (AC)= (AC+ )- (AC- )=(37.1+30.4+44.9+76.2)(51.2+84.9+27.3+29.3)=-4.1
CONTRASTE (BC)= (BC+ )- (BC- )=(37.1+51.2+29.3+76.2)(30.4+84.9+27.3+44.9)=6.3
CONTRASTE (ABC)=(ABC+ )-(ABC- )=(51.2+30.4+27.3+76.2)(37.1+84.9+44.9+29.3)=-11.1

3. Estimacin de los efectos promedio:


EFEC(A)=CONTRASTE(A)/(n2K-1)=133.1/(22)*2=133.1/8=16.6375
EFEC(B)= CONTRASTE(B)/(n2K-1)=60.3/(22)*2=60.3/8=7.5375
EFEC(C)= CONTRASTE(C)/(n2K-1)=-25.9/(22)*2=-25.9/8=-3.2375

EFEC(AB)=CONTRASTE(AB)/(n2K-1)=69.7/(22)*2=69.7/8=8.7125
EFEC(AC)= CONTRASTE(AC)/(n2K-1)=-4.1/(22)*2=-4.1/8=-0.5125

EFEC(BC)= CONTRASTE(BC)/(n2K-1)=6.3/(22)*2=6.3/8=0.7875
EFEC(ABC)=CONTRASTE(ABC)/(n2K-1)=-11.1/(22)*2=-11.1/8=-1.387

Tabla de Estimaciones de los efectos promedio para


resistencia
-----------------------------------------------------------------average
= 23.8312
A:rapidez
= 16.6375
B:configuracion = 7.5375
C:angulo
= -3.2375
AB
= 8.7125
AC
= -0.5125
BC
= 0.7875
ABC
= -1.3875
----------------------------------------------------------------------

PARETO NORMAL

Pareto Chart for Resist


RResistencia
A:Factor_A
AB
B:Factor_B
C:Factor_C
ABC
BC
AC
3

Effect

12

15

18

SSTOTAL= SS(A)+SS(B)+SS(C)+ SS(AB)+SS(AC)+SS(BC)+SS(ABC)+ SSERROR

ssTOTAL
i 1 j 1 k 1

y
l 1

ijkl

....

abcn

SSTOTAL=10,796.69-9086.85=1709.84

SS(A)=(CONTRASTE(A))2/(2K)n=(133.1)2/8*2=1107.22
SS(B)=(CONTRASTE(B))2/(2K)n=(60.3)2/8*2=227.25
SS(C)=(CONTRASTE(C))2/(2K)n= (-25.9)2/8*2=41.92
SS(AB)=(CONTRASTE(AB))2/(2K)n= (69.7)2/8*2=303.63
SS(AC)=(CONTRASTE(AC))2/(2K)n= (-4.1)2/8*2=1.05
SS(BC)=(CONTRASTE(BC))2/(2K)n= (6.3)2/8*2=2.48

SS(ABC)=(CONTRASTE(ABC))2/(2K)n =(-11.1)2/8*2=7.70
SSERROR =SSTOTAL-SSA-SSB-SSC- SSAB-SSAC-SSBC-SSABC
SSERROR =1709.84-1107.22-227.25-41.92-303.63-1.05-2.48-7.70=18.565

Source

Sum of
Squares

Mean
Df Square

FRatio

P-Value

A:Rapidez

1107.23

1107.23 477.12

0.0000

B:Configuracio
n

227.256

227.256

97.93

0.0000

C:Angulo

41.9256

41.9256

18.07

0.0028

AB

303.631

303.631 130.84

0.0000

AC

1.05063

1.05063

0.45

0.5200

BC

2.48063

2.48063

1.07

0.3314

ABC

7.70063

7.70063

3.32

0.1060

18.565

2.32063

Total error
Total

1709.83 15

Son Significativos los efectos de la rapidez de corte (A), la


configuracin(B), el ngulo de corte(C) , y la interaccin de la
rapidez y la configuracin(AB), con una confianza estadstica del
95%.

RSquare=(SCTOTAL-SCERROR)/SCTOTAL=

0.989142

RSquare Adj=(CMTOTAL-CMERROR)/CMTOTAL=0.979642

CM ERROR
ERROR ESTNDAR==
n2 K

2.320625
16

= 0.3808

Standardized Pareto Chart for Resis


A:Factor_A
AB
B:Factor_B
C:Factor_C
ABC
BC
AC
4

12

16

20

24

Standardized effect

Son Significativos los efectos de la rapidez de corte (A), la


configuracin(B), el ngulo de corte(C) , y la interaccin de la
rapidez y la configuracin(AB), con una confianza estadstica
del 95%.

GRAFICAS DE EFECTOS:

Nivel

media

15.51
32.15

Main Effects Plot for Resistencia


33

32,15

Resistencia

30
27
24
21
18
15

15,5125
-1,0

1,0
Factor_A

EXISTE UN EFECTO POSITIVO: CUANDO CAMBIO DE NIVEL BAJO A


NIVEL ALTO SE OBTIENE MAYOR RESISTENCIA.
SE RECOMIENDA USAR NIVEL ALTO DE LA RAPIDEZ DE CORTE

FACTOR B

Nivel

media

20.06
27.6

Main Effects Plot for Resistencia

Resistencia

28

27,6

26
24
22
20

20,0625
-1,0

1,0
Factor_B

SE OBSERVA UN EFECTO POSITIVO, CUANDO SE CAMBIA DE NIVEL


BAJO A NIVEL ALTO SE OBTIENE MAYOR RESISTENCIA.
SE RECOMIENDA USAR NIVEL ALTO DE CONFIGURACION

FACTOR C

Nivel

media

25.45
22.21

Main Effects Plot for Resistencia


26

Resistencia

25,45
25
24
23
22,2125

22
-1,0

1,0
Factor_C

SE OBSERVA UN EFECTO NEGATIVO, CUANDO CAMBIO DE NIVEL BAJO


A NIVEL ALTO SE OBSERVA MENOR RESISTENCIA. SE RECOMIENDA
USAR NIVEL BAJO DE LA CONFIGURACION DEL ANGULO

CONCLUSIONES DE LAS GRAFICAS DE EFECTOS:


PARA LA RAPIDEZ DE CORTE (FACTOR A):
EXISTE UN EFECTO POSITIVO: CUANDO CAMBIO DE NIVEL
BAJO A NIVEL ALTO SE OBTIENE MAYOR RESISTENCIA.
SE RECOMIENDA USAR NIVEL ALTO DE LA RAPIDEZ DE
CORTE
PARA LA CONFIGURACION (FACTOR B):
SE OBSERVA UN EFECTO POSITIVO, CUANDO SE CAMBIA
DE NIVEL BAJO A NIVEL ALTO SE OBTIENE MAYOR
RESISTENCIA. SE RECOMIENDA USAR NIVEL ALTO DE
CONFIGURACION.

PARA LA CONFIGURACION DEL ANGULO (FACTOR C):


SE OBSERVA UN EFECTO NEGATIVO, CUANDO CAMBIO DE
NIVEL BAJO A NIVEL ALTO SE OBSERVA MENOR
RESISTENCIA. SE RECOMIENDA USAR NIVEL BAJO DE LA
CONFIGURACION DEL ANGULO.

GRAFICA DE INTERACCIONES

16.1

23.95

14.92

40.27

Interaction Plot for resistencia


44
Factor_A=1,0

Resistencia

39
34
29
24

Factor_A=1,0

19
Factor_A=-1,0

Factor_A=-1,0

14
-1,0

1,0
Factor_B

INTERPRETACION DE LA INTERACCION SIGNIFICATIVA:


AB

SI SE TRABAJA EN EL NIVEL BAJO DE LA RAPIDEZ DE


CORTE Y SE CAMBIA DE NIVEL BAJO A NIVEL ALTO EN LA
CONFIGURACION SE OBSERVA QUE NO HAY UN CAMBIO
EN LA RESISTENCIA.
SI SE TRABAJA EN EL NIVEL ALTO DE LA RAPIDEZ DE
CORTE Y SE CAMBIA DEL NIVEL BAJO A NIVEL ALTO EN LA
CONFIGURACION SE NOTA UN INCREMENTO EN LA
RESISTENCIA.
SE RECOMIENDA USAR NIVEL ALTO DE LA RAPIDEZ DE
CORTE Y NIVEL ALTO DE CONFIGURACION.

CONCLUSION Y RECOMENDACION:

POR LOS RESULTADOS OBTENIDOS ANTERIORMENTE SE PUEDE


CONCLUIR QUE:
LOS RFECTOS SIGNIFICATIVOS SON:
RAPIDEZ DE CORTE, CONFIGURACION, ANGULO DE CORTE Y LA
INTERACCION DE RAPIDEZ DE CORTE Y LA CONFIGURACION.
LOS NIVELES RECOMENDADOS PARA OBTENER MAYOR
RESISTENCIA SON NIVEL ALTO DE RAPIDEZ DE CORTE, NIVEL
ALTO DE CONFIGURACION Y NIVEL BAJO DEL ANGULO DE
CORTE.

Cube Plot for Resistencia


-,+,+
-,-,+

Angulo

1.0

+,+,+

14.65

13.65

+,-,+

38.1

22.45

-,+,-,-,-

+,+,-

15.2

+,-,-

18.55
-1.0
-1.0

Rapidez

25.6
-1.0
1.0

42.45

1.0

Configuracion