4 Diapos Sobre Control de Procesos

Cap 3: Cartas de Control y Capacidad
Cartas de Control y Capacidad de Procesos

3.1 Introduccin a las cartas de control
3.2 Cartas de Control para Variables
3.3 Cartas de Control para Atributos
3.4 Capacidad de Procesos
3.5 Estructura de un Informe

EJEMPLO DE ESTRUCTURA PARA INFORME TECNICO
INTRODUCCION
Datos correspondientes a la variable espesor de
Palets extrados cada 1 hora durante los Turnos
de la semana del 23 al 28 de Agosto de 2003
para atender pedido del Cliente XYZ con
especificaciones tcnicas de
27 +/- 2 mm.
INDICADORES ESTADISTICOS

N de Muestras: 30 Tamao Muestra: 3
Media : 27.68 mm Max : 29.76
Desv Estndar: 1.13 mm Mn : 24.78
Cp : Rango : 4.98
Cpk : 0.41
Especificaciones :27 +/- 1% Fuera de Espec: 11.10%
CONCLUSIONES ( Respecto a:)
Estabilidad del proceso en el periodo bajo
estudio,
Presencia o no de causas atpicas o convenientes
de sealar,
Comportamiento del proceso frente a las
especificaciones tcnicas,

Aptitud del proceso para cumplir esas
especificaciones (Cpk),
Porcentaje de producto observado fuera de
especificaciones y estimacin a futuro,
Recomendaciones o sugerencias para
mejorar, etc.

GRAFICOS
Alternativas grficas para complementar
informes de produccin
Control Estadstico de
Procesos
Definicin:

Conjunto de
herramientas para la
resolucin de problemas
que puede aplicarse a
cualquier proceso
Herramientas:
Histograma
Diagrama de Pareto
Diagrama de Causa y
Efecto
Cartas de Control
Diagrama de Dispersin
Hoja de Verificacin
Grficos de lnea
3.1 Introduccin a las cartas de control
Herramientas:
Cartas de Control
Herramientas:
Tablas de Muestreo
Tipos de Cartas de Control disponibles en
Statgraphics
Para Variables
Xbarra y Rango ( X - R)
Xbarra y Sigma ( X - S)
Xbarra y Sigma
2
( X S
2
)
X- Individual y Rango Mvil
(X-Ind- RM(2))
Cartas multivariadas
Cartas Avanzadas (Cusum,
EWMA y MA.)
Para Atributos
Carta c (Nmero de defectos)
Carta u (Defectos por unidad)
Carta p (Fraccin defectuosa)
Carta np (Nmero de artculos
defectuosos)
Carta de Control
Es una representacin grfica de un
Proceso
Construida a partir de Muestras y
durante un Periodo de Tiempo
Permite conocer si un proceso est o
no bajo Control y si existen Causas
Asignables o No Asignables
Su Lnea Central es un Promedio
Sus Lmites, Superior e Inferior de
Control se ubican a +/- 3 del
promedio
Discrimina entre responsabilidad de
Gestin y de Operacin

0 2 4 6 8 10
subgroup
96
98
100
102
104
106
X
- b
a
r
(X 0.01)
Charti ng LIBRAS.l i bras
1.0056
1.04367
0.967531
Tiempo
Campo de aplicacin de Cartas de Control
X-individual y Rango Mvil (2)
Cuando es posible tomar, a lo largo del tiempo, solamente un dato a la vez,
o una muestra tamao n= 1 a la vez.

Xbarra y Rango
Cuando es posible tomar una muestra de tamao n = 2 3 4. .. etc.

Cartas c (carta de Defectos)
Cuando se registra el nmero de defectos en los lotes de igual tamao
( defectos, quejas, reclamos y trminos anlogos..)
Cartas u (Carta defectos por unidad)
Idem a la carta c, pero el tamao de los lotes es variable.

Cartas p (Carta para Fraccin defectuosa)
Cuando se registra la cantidad de piezas en cada uno de los lotes que se
producen en el tiempo.
3.2 Cartas de Control para Variables
Frmulas para estas Cartas de Control
X Individual y Rango Mvil,
tamao 2 :
A
2,
D
3 .
D
4
son

constantes que dependen del tamao de la muestra y se encuentran
en tablas

de factores para cartas de control. Ver tabla al final del captulo
Xbarra y Rango
Carta X-Ind y RM(2)
La viscosidad de un producto qumico es una caracterstica de calidad importante. El
producto se elabora por lotes, y debido a que la produccin de cada lote tarda varias
horas, la tasa de produccin es demasiado lenta para permitir tamaos muestrales
mayores que uno. La viscosidad de los ltimos 15 lotes se indica en la siguiente tabla.
Construya las cartas de control X barra y Rango Mvil (2)
NUMERO VISCOSIDAD RANGO MVIL
LOTE
1 33,75 Frmulas para determinar los Lmites de Control
2 33,05 0,70
3 34,00 0,95 Carta X-Individual
4 33,81 0,19 LSC= Xbarra + 3 RM / d
2

5 33,46 0,35 LC = Xbarra
6 34,02 0,56 LIC = Xbarra - 3 RM / d
2

7 33,68 0,34
8 33,27 0,41
9 33,49 0,22 Carta de Rango Mvil tamao dos : RM(2)
10 33,20 0,29 LSC = D
4
* RM
11 33,62 0,42 LC = RMbarra
12 33,00 0,62 LIC = D
3
* RM
13 33,54 0,54
14 33,12 0,42 d
2
se obtiene de tablas y depende del
15 33,84 0,72 tamao de muestra o longitud del
X barra = 33,52 RM
barra
= 0,48 rango consideraado
Camino para obtener una Carta X Ind y RM(2) para la variable Viscosidad
En Observations se asignan los datos previamente registrados en una columna
Labels corresponde a algn rtulo de los datos, por ejemplo, en nombre del turno de cada dato
Select, permite filtrar los valores para construir una carta omitiendo aquellos valores que no
se considerarn en la construccin de la carta
La carta de Individuales permite detectar:
si el proceso est o n bajo control,
saber cuando estuvo fuera de control,
conocer los intervalos de confianza, o mejor dicho los
lmites de control para esa variable bajo anlisis.
adems, a travs de la opcin Exclude (clic derecho sobre
los resultados y seleccionando Analysis Options) permite
construir una carta de control revisada y por ende conocer
lmites de control para fijar especificaciones tcnicas a
futuro.
Carta X-Ind y RM(2) para los mismos datos
Ejemplo de planilla de datos (% de humedad en un
proceso pesquero) para construir Cartas Xbarra y Rango
Dia m1 m2 m3 m4 m5 m6 m7 m8 m9 m10 m11 m12 Media Rango
1 43.2 45.6 45.9 44.90 2.70
2 45 44.4 44.5 49 48 49.6 46.75 5.20
3 44.9 46.2 45.9 45.67 1.30
4 48.03 47.33 45.43 45.89 43.02 47.93 47.61 47.63 46.61 5.01
5 46.2 49.1 45 48.7 47.25 4.10
6 48.69 45.79 47.14 47.58 46.01 49.97 50.38 44.09 47.46 6.29
7 46.5 47.3 46.8 45.7 46.58 1.60
8 47.4 45.3 48.2 47.2 47.03 2.90
9 47.18 45.41 47.9 41.36 43.01 44.97 6.54
10 47.21 47.38 47.26 46.11 46.22 46.88 46.84 1.27
11 48.1 54.2 47.7 53.1 48.8 50.38 6.50
12 46.2 43.3 44.75 2.90
13 48.26 47.98 47.2 46.1 45.3 44.38 46.54 3.88
14 46.01 45.26 46.11 45.33 45.68 0.85
15 47.5 45.8 48.9 47.40 3.10
18 45.5 46.2 45.85 0.70
19 41.87 41.76 44.99 42.42 44.69 43.6 43.22 3.23
20 44.38 44.91 44.65 0.53
21 45.4 43.2 44.30 2.20
22 43.54 41.86 43.13 45.32 41.92 42.37 43.02 3.46
23 44.2 40.1 46 42.9 42 43.7 43.8 44.2 44.7 46.1 44.8 44.1 43.88 6.00
24 46.7 47.01 45.45 45.6 46.26 41.5 46.8 45.62 5.51
25 45.56 42.16 45.66 39.14 43.13 6.52
26 43.2 43.4 42.1 42.6 43.8 45.4 42.4 43.27 3.30
27 45.3 46.2 46.8 46.2 45.6 45.26 45.89 1.54
28 48.13 46.7 48.3 47.71 1.60
29 45.8 45.7 44.9 44.2 45.7 45.26 1.60
30 46.8 49.2 45.4 44.2 46.9 44 46.2 46.10 5.20
Ejemplos de cartas Xbarra y Rango para las
muestras de humedad
Cartas de Control Xbarra y Rango
Las cartas Xbarra y de Rango, son dos cartas
independientes que se deben construir necesariamente
para juzgar si un proceso est o no bajo control
estadstico

Tal necesidad radica en que la carta de Xbarra
representa la variabilidad entre las muestras, en cambio
la carta de Rango representa la variabilidad dentro de
cada muestra, y ambas variabilidades son
independientes
Carta X
barra
y Rango
Ejemplo utilizando 18 muestras de tamao n = 5, cada una.
Origen de los X
barras
y Rangos
x
1barra
, x
2barra
, ..x
ibarra
.... : X
barra barra
R
1
, R
2
, . R
i
... : R
barra
mbito de aplicacin general de las cartas de
control para variables Xbarra y Rango
Cuando es posible tomar, a travs del tiempo, muestras
mayores que n =1 ( preferentemente entre 3 y diez)

Cuando interesa controlar la tendencia central y la variabilidad
de un producto.

La variabilidad entre las muestras se acusa al analizar la carta
de Xbarra y la variabilidad dentro de las muestras se acusa al
analizar la carta de Rango
Ejercicio en Clases
Registro de mediciones en madera.

Se deseaba conocer 2 cosas:
1.- La estabilidad del proceso
2.- Si el proceso era capaz de cumplir con las
especificaciones tcnicas para el espesor
de ( +/- mm), impuestas por un cliente.
Ambitos de aplicacin general de dos cartas de
control para variables
GRAFICA X barra - R

Cuando es posible tomar
muestras mayores que n=1
( entre 3 y diez)
Cuando interesa controlar la
tendencia central y la
variabilidad de un producto
(La variabilidad entre las
muestras y dentro de las
muestras)
GRAFICA X-Individuales y
Rango Mvil(2)
Para procesos lentos, resulta
inconveniente esperar otra
medicin
Donde las mediciones
cercanas slo difieren por el
error de medicin
Cuando hay inspeccin
automtica en todas las
unidades producidas
Resulta costoso inspeccionar
ms de un artculo
X
barra
v/s R
barra
Puntos Fuera de Control en X
barra
Detecta si existe un cambio general
que pueda afectar a todas las piezas.
Se debe estudiar el registro de datos,
ver la operacin del proceso y la
experiencia existente

Causas Tpicas: Los cambios de
material, de personal, de
preparacin de mquinas, el
desgaste de las herramientas, la
temperatura o la vibracin

Monitorea la Tendencia Central de
un proceso sobre el tiempo
Puntos fuera de control en R
barra
Cambios en la Uniformidad del
Proceso
Causas tpicas: cambios de
personal, un increnento en la
variabilidad del material, un
excesivo desgaste en la maquinaria
del proceso ( Un caso donde, un
repentino incremento de las R avis
de un inminente accidente de la
mquina )
Una sola R fuera de control puede
ser causada por un cambio del
proceso producido mientas se
obtena el subgrupo
Monitorea la variabilidad de Corto
Plazo
Uno de los criterios para determinar el
Tamao de Muestra en cartas de control para
variables: utilizando la Norma MIL STD 414
Tamao del Lote % a Muestrear
60 a 300 10%
301 a 1.000 5%
1.001 a 5.000 2%
Ms de 5.000 1%
3.3 Cartas de Control para Atributos:
Cartas C y U
Para aquellos casos donde
se registra informacin
relacionada con el
nmero de defectos de
los productos
manufacturados
Por ejemplo: N de
defectos, N de quejas por
mal servicio y en general
defectos que sigan una
distribucin de Poison.

Carta c: para registro de
defectos (o quejas) en
lotes de tamao constante
Carta u: para el registro de los defectos
por unidad en cada lote inspeccionado, el
cual considera lotes de tamao variable.
PLANTILLA PARA REGISTRO DE DEFECTOS
Carta c
Depto. Producto: Operacin: Inspeccin Final
Fecha: 2 3 4 5 6 9 10 11 12 13 16 17 18 19 20 23
N de Piezas 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10
45
40 LS C = 3 5. 16
35
30
25 LC = 2 1. 3 1
20
15
10 LIC = 7. 4 6
5
0
Tipo de Defectos Totales
1.- Ampollas 3 5 2 5 4 4 4 6 7 6 5 5 6 4 8 7 81
2.- Hoyos 7 7 0 1 9 10 5 8 6 7 17 6 0 7 6 0 96
3.- Quemaduras 5 0 7 5 7 8 6 0 11 9 7 5 9 4 10 5 98
4.- Marcas 6 5 2 5 6 3 2 3 6 7 3 5 6 4 2 1 66
5.-
6.-
Total de defectos 21 17 11 16 26 25 17 17 30 29 32 21 21 19 26 13
Frmulas para las cartas c y u
C : N de defectos
C
barra
: N promedio de defectos
totales
u : N promedio de defectos
por unidad
u
barra
: Total de defectos /
Tamao muestra total
Frmulas para una carta c:
Defectos
Frmulas para una carta u:
Defectos por unidad
n = Tamao promedio de
los lotes
Aplicacin
Registro mensual de
nmero de personas
intoxicadas que han estado
en contacto con agentes
txicos en una empresa
durante los ltimos 12
meses.
Datos recuperados de los
registros de la enfermera

Cartas de Control para Atributosp y np
(Fraccin defectuosa y nmero de artculos defectuosos)
GRAFICA p y , GRAFICA np
En estas Cartas la caracterstica de Calidad, que es un Atributo, se representa
por el Nmero de Unidades Defectuosas encontradas en los Lotes, llamada
Fraccin Defectuosa.
np : Para tamao de muestra constante
p : Para tamao de muestra variable

GRAFICA c, GRAFICA u
En estas cartas la caracterstica de calidad, que es un Atributo, se representa a
travs del nmero de defectos encontrados en las piezas que conforman los
lotes ( rayones, tejido desigual en telas,nmero de nudos y otros defectos en
los paneles, etc.)
c : Para dimensiones constantes.
u : Para dimensiones variables
Consideraciones en la implementacin
de Cartas de Control
1.- Determinar el propsito
de la carta
2.-Evaluar situacin actual
3.- Determinar y seleccionar
las variables crticas
4.- Elegir carta apropiada
5.- Decidir cmo muestrear
6.- Definir frecuencia y
tamao de muestra

7.- Estandarizar toma de
datos
8.- Asegurar cooperacin
9.- Entrenar al usuario
10.- Analizar resultados
11.- Asegurar efectividad
12.- Mantener inters y
modificar la carta
13.- Eliminar la carta
3.4 Capacidad de Procesos ( Cp, Cpk)
(Capability Process)
Los indicadores de Cp y Cpk nos proporcionan informacin
respecto a la capacidad o aptitud que tiene un proceso para
satisfacer las especificaciones tcnicas que requiere el
producto
Criterios bsicos para juzgar la Capacidad o aptitud de un
proceso:
Si Cp (o Cpk) > 1 El proceso es capaz
Si Cp (o Cpk) = 1 El proceso tiene potencial
Si Cp (o Cpk) < 1 El proceso no es capaz
NOTA: Cuando la media nominal (tarjet) es diferente de la media de los
datos se debe considerar Cpk para juzgar adecuadamente su capacidad
Capacidad de Procesos para la variable Dimensin
Indicadores
Cp = (LSE - LIE )
6
Cpk = Min{ (LSE - Media) ; (Media - LIE ) }
3 3
Otros indicadores:
K : Indica qu tan lejos est la media del proceso respecto de la
media nominal
CR : Es el valor inverso de Cp
Cpm: Es un indicador de capacidad, anlogo a Cp , pero es menos
exigente que Cp.
LSE: Lmite Superior de Especificacin
LIE : Lmite Inferior de Especificacin
Comentario:
En 1991 la Asociacin Americana de Control de Calidad zanj la discusin en
relacin a la forma de calcular los ndices de capacidad
Dado que el valor del ndice Cp y Cpk
vara cuando se utiliza para su clculo
la Desv. Estndar muestral y la Desv.
Estandar poblacional, la Asociacin
Americana de Control de Calidad zanj
la discusin estableciendo qu:

Cuando se utilice el Sigma Muestral se
hablar de Pp y Ppk y cuando de utilice
el Sigma Poblacional (estimado a
travs de R
barra
/d
2
) se hablar de Cp y
Cpk.

= (x
i
- x
barra
)
2

(n-1)
= R
barra
/d
2

El estimado para
referirse a Cp y Cpk
Capacidad
potencial o aptitud
del Sistema
El calculado para
referirse a Pp y Ppk
y representa el desempeo
actual del proceso
Pp y Ppk Cp y Cpk
^
^
Valores de Cp en trminos de la cantidad de piezas malas, bajo el supuesto de
normalidad y de
que el proceso est centrado en el caso de doble especificacin

Proceso con doble especificacin Proceso con solo una especificacin
Valor del % fuera de Partes por % fuera de Partes por
Indice especificacin milln fuera especificacin milln fuera
0,25 45,33 453.225 22,66 226.268
0,50 13,36 133.614 6,68 66.807
0,60 7,19 71.861 3,59 35.931
0,70 3,57 35.729 1,79 17.865
0,80 1,64 16.395 0,82 8.198
0,90 0,69 6.934 0,35 3.467
1,00 0,27 2700 0,135 1.35
1,10 0,097 967 0,048 484
1,20 0,032 318 0,016 159
1,30 0,010 96 0,005 48
1,40 0,003 27 0,0014 14
1,50 0,0007 7 0,0004 4
1,60 0,0002 2 0,0001 1
Fte: Calidad total y productividad, Tabla 9.11 pg. 201 Autor: Humberto Gutirrez P. - Mc Graw Hill, (1997)
3.5 Estructura de un Informe
cuando se utilizan datos para su anlisis
INTRODUCCIN
Informacin orientadora para quien leer el informe

INDICADORES ESTADSTICOS
Informacin estadstica objetiva tales como. Indicadores de posicin (Media), dispersin
(Rango y/o Desv. Estndar), ndices de Capacidad de Procesos (Cp, Cpk), Porcentajes de
producto fuera de especificaciones, etc.

GRFICOS
Grficos pertinentes que ayuden a la visualizacin de los datos, grficos que reflejen los datos
grupales y/o individualmente.

CONCLUSIONES, SUGERENCIAS, ETC.
Opinin y conclusin precisa y concisa del comportamiento de los datos o proceso bajo estudio
tales como:

Presencia o no de causas atpicas o convenientes de sealar, Estabilidad del proceso
en el periodo bajo, Comportamiento del proceso frente a las especificaciones
tcnicas, Aptitud del proceso para cumplir esas especificaciones (Cpk),
Porcentaje de producto observado y/o estimado fuera de especificaciones
Recomendaciones o sugerencias para mejorar, etc

Zona 1, destinada a entregar antecedentes
orientadores para quien lee el informe: Origen
de los datos, periodo bajo estudio, supuestos a
tener en cuenta, etc..

Zona 2, destinada a entregar informacin
estadstica, objetiva, a travs de indicadores
estadsticos: que nunca falte un indicador de
posicin y uno de dispersin que tienen los
datos.. (promedios y rangos respectivamente..,
por ejemplo)
Adems, indicadores de capacidad: Cp, Cpk ,
% de datos observados y estimados fuera de
especificaciones, y no muchos ms.. lo
preciso para dar a conocer objetivamente el
comportamiento de los datos..

Zona 3: Nada mejor que mostrar imgenes de
los datos (Grficos) : grficos que muestren
los valores individuales ( grficos de lnea,
cartas de control, por ejemplo) y grficos que
muestren la agrupacin que tienen los datos (
Un Histograma vendra bien, o un Diagrama
de Caja y Bogote.. pero no ms) ... Ahora, si
se muestra el Histograma, con la superposicin
de las especificaciones tcnicas del producto y
encima, adems, la curva normal, estara
super., es decir, un grfico que ayuda mucho..

Zona 4: Conclusiones, comentarios y
recomendaciones..
Ejemplo
Frmulas para Cartas de Control
para Variables
X Individual y Rango Mvil,
tamao 2 :
A
2,
D
3 .
D
4
son

constantes que dependen del tamao de la muestra y se encuentran
en tablas

de factores para cartas de control. Ver Anexo Cap 3 Factores para Cartas
de Control
Xbarra y Rango
Enunciado y datos para construir
una grfica de control X-Ind y RM(2)
La viscosidad de un producto qumico es una caracterstica
de calidad importante.
El producto se elabora por lotes, y debido a que la
produccin de cada lote tarda varias horas, la tasa de
produccin es demasiado lenta para permitir tamaos
muestrales mayores que uno.
La viscosidad de los ltimos 15 lotes se indica en la
siguiente tabla.

La tabla siguiente muestra los 15 valores de viscosidad
sealados en rojo
NUMERO VISCOSIDAD RANGO MVIL
LOTE Xi RM
1 33,75 ---
2 33,05 0,70 = 33.75 33.05
3 34,00 0,95 = 33.05 34.00
4 33,81 0,19 = 34.00 33.81
5 33,46 0,35
6 34,02 0,56 Estos Rangos corresponden
7 33,68 0,34 a su valor absoluto
8 33,27 0,41
9 33,49 0,22
10 33,20 0,29
11 33,62 0,42
12 33,00 0,62
13 33,54 0,54
14 33,12 0,42
15 33,84 0,72

X
barra
= 33,52 RM
barra
= 0,48
Datos de Viscosidad para
construir cartas X-Ind y
RM(2)
Clculos y grficos obtenidos a travs de Excel
Carta X-Individual
31.00
32.00
33.00
34.00
35.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Carta RM(2)
0.00
0.50
1.00
1.50
2.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14

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