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Dif.

Entre microscopio y lupa estereoscpica -La principal diferencia es la magnificacin que te permite obtener cada uno de estos aparatos, la diferencia se debe a que el microscopio posee dos sistemas de lentes (objetivo y ocular), mientras que la lupa solo posee uno (ocular) -El microscopio da una imagen plana y la lupa estereoscpica o microscopio estereoscpico ofrecer una imagen estereoscpica (3D) de la muestra. -La lupa es apropiada para observar objetos de tamaos relativamente grandes, por lo que no es necesario modificar los objetos a ver, (laminar) ni tampoco lo es que la luz pase a travs de la muestra. El microscopio permite observar objetos que son demasiado pequeos para ser vistos a simple vista. Dif . de macroscopia y microscopia la microscopia observa lo infinitamente pequeo, y la macroscopia nos permitira observar lo infinitamente complejo, a la manera primitiva, frente a lo cual no se ha definido todava un sistema experimental. Dif. Microscopio ptico y electrnico La diferencia principal entre microscopio electrnico y ptico es el uso de un haz de electrones en lugar de luz para enfocar la muestra, consiguiendo aumentos de hasta dos millones de veces (106 X). Dif. Entre microataque y macroataque Macroataque es una prueba que permite revelar tanto la macroestructura como la heterogeneidad de los metales. Provee informacin detallada acerca de puntos especficos asi como tambin acerca de estructura como el tamao de grano, lneas de flujo, etc. El microataque consiste revelar a la vista la microestructura con el fn de obtener informacin y relacionarla con propiedades mecnicas, fsicas o apreciar cambios. Difer. Pulido mecanico y pulido electroltico pulido mecnico, el cual produce una superficie especular debido a que "obliga" al material a presentar un plano uniforme y refleja la luz en una sola direccin. En el pulido electrolitico, la superficie es diferente, ya que si bien est libre de rayaduras y tensiones, presenta una estructura tridimensional que refleja la luz en todas direcciones, lo cual le da un aspecto satinado.

ORDENE LOS MICROSCOPIOS DE: A)FUERZA ATOMICA (AMF), B) ELECTRONICO DE BARRIDO (MEB), C) ELECTRONICO DE EFECTO TUNEL (METE), D) ELECTRONICO D E RESOLUCION ATOMICA, E) OPTICO (MO), F) ELECTRONICO DE TRANSMISION (MET), SEGN:

1) Su poder de magnificacin Microscopio electrnico de resolucin atmica Microscopio de fuerza atmica(AMF) Microscopio electrnico de efecto tnel Microscopio electrnico de transmisin(MET) (100.000 X) Microscopio electrnico de barrido (MEB) (100.000 X) Microscopio ptico (1000X 1500X)

2) Su resolucin Microscopio electrnico de resolucin atmica Microscopio de fuerza atmica(AMF) (1 nm) Microscopio electrnico de efecto tnel (1 nm) Microscopio electrnico de transmisin(MET) (2 nm) Microscopio electrnico de barrido (MEB) (3-20 nm) Microscopio ptico ( 0,2 micrmetros)

3) Facilidad de manejo y precio de compra mas barato Microscopio ptico Microscopio de fuerza atmica (AMF) Microscopio electrnico efecto tnel Microscopio electrnico barrido (MEB) Microscopio electrnico de transmisin (MET) Microscopio electrnico de resolucin atmica. mas caro

METALOGRAFIA CUANTITATIVA La metalografa cuantitativa pudiera definirse como la tcnica de muestreo utilizada para cuantificar los aspectos morfolgicos de las imgenes obtenidas de un material mediante microscopa ptica, microscopa de barrido o microscopa de transmisin. La metalografa cuantitativa, juega un rol importante en la ciencia de los materiales y la ingeniera pues permite establecer relaciones entre los procesos, microestructura y propiedades mecnicas de los materiales suministrando informacin de primera mano necesaria para el establecimiento de modelos matemticos, que permitan el control y optimizacin de procesos y productos. Microscopio electrnico de transmisin (MET): permite la observacin de muestra en cortes ultrafinos. Un TEM dirige el haz de electrones hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada del espcimen. Para utilizar un TEM debe cortarse la muestra en capas finas, no mayores de un par de miles de ngstroms. Se coloca una placa fotogrfica o una pantalla fluorescente detrs del objeto para registrar la imagen aumentada. Los microscopios electrnicos de transmisin pueden aumentar un objeto hasta un milln de veces.

Un microscopio electrnico de barrido (MEB) crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto. No es necesario cortar el objeto en capas para observarlo con un SEM, sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos. El SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, al contrario que el TEM, que examina una gran parte de la muestra cada vez. Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisin. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o provocar la aparicin de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrnico situado a los lados del espcimen. Cada punto ledo de la muestra corresponde a un pxel en un monitor de televisin. Cuanto mayor sea el nmero de electrones contados por el dispositivo, mayor ser el brillo del pxel en la pantalla. A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor. Los microscopios electrnicos de barrido pueden ampliar los objetos 200.000 veces o ms. Este tipo de microscopio es muy til porque, al contrario que los TEM o los microscopios pticos, produce imgenes tridimensionales realistas de la superficie del objeto.

Mapeo elemental Se trata de describir las diferentes fases de un proceso. Se suele incluir informacin sobre los "Agentes" que intervienen, los resultados que se obtienen en cada fase, las herramientas que se usen en cada caso Microanlisis elemental El Microanlisis posibilita la determinacin y cuantificacin de los elementos qumicos presentes en prcticamente cualquier material. Para ello cuenta con las tcnicas de anlisis elemental por combustin, la espectrometra de emisin atmica mediante plasma ICP y electroforesis capilar.