‘Afio: 199( INgTMUTO NACIONAL De SeSLnAD EIENE ENELTRABRIO NTP 418: Fiabilidad: la distribucién lognormal Realiabiliy: the lognormal distribution Fiablité: ta distribution lognormale Las NTP son guias de buenas prictioas. Sus indicaciones no son obligatorias salvo que estén recogidas en una aisposicién ormativa vigente. A etectos de valorarla pertinencia de las recomendaciones contenidas en una NTP concreta es conveniente tener en cuenta su fecha de edicién Redactores: José M* Tamborero del Pino Ingenriero Industrial ‘Antonio Cejalvo Lapetia Ingeniero Industrial CENTRO NACIONAL DE CONDICIONES Introduccién La prevencién de fallos en instalaciones industriales de proceso estd basada on gran parte en la aplicacién de los probabilisticos de analisis de riesgos, Todo ello se ha llevado a cabo a través de una disciplina denominada ingenierla de abllidad, para la cual se dispone de las adecuadas técnicas de prediccién y prevencién, que han sido fundamentales para el aseguramiento de la calidad y la seguridad de productos y procesos. Los elementos y dispositvos con funciones clave de seguridad, ademas de ser idéneos ante unas exigencias del sistema, deben asegurar una correcta respuesta en el tiempo. Para ello es imprescindible establecer un programa de mantenimiento que permita mantenerlos en buenas condiciones de uso, renovandalos antes de que su tasa de fallos sea inaceptable. Todo ello requiere conocer a pririla fabilidad de los elementos de seguridad que se instalan en las instalaciones, informacién que deberia ser suministrada por los fabricantes, considerando como datos primordiales los empiricos existentes en bancos de datos de fiabiidad de componentes, funcionando en condiciones y ambientes determinados. Esta fiablidad debe ser debidamente controlada y contrastada a través del propio programa de mantenimiento afin de verfcar que se esta dentro de las condiciones de respuesta del sistema esperadas. Sélo entonces se podré afirmar que la probablidad de fallo de un componente es conocida y esta controlada. Nota: Para conocerlos conceptos bassicos sobre la fabilidad se remite al lector a la NTP N° 316 Distrbucién exponencial Objetivos El objetivo de la presente NTP os dar a conocer un tipo de distribucién estad'stica aplicable al estudio dela fiabilidad de componentes, ‘@enicas que, dentro de una misma clase, presentan distntos valores como consecuencia de la conjuncién de una serie de factores tales como su procedencia, carga, temperatura de su entozno, presién de trabajo, medio ambiente de trabajo (agua, aire, Acido.) otc. La distribucién lognormal tiene, principalmente, las siguientes aplicaciones: ‘2. Representa la evolucién con el tiempo de la tasa de fallos, i), en a primera fase de vida de un componente, la ccorresponciente a los falls infantiles en la "curva de la baiiera” entendiéndose como tasa de fallos la probabilidad de que un componente que ha funcionado hasta ol instante t,flle entre ty ¥ dt. En este caso la variable independiente de la cistibucion s el tiempo (figura 1) b. Parmite fjarliempos de reparacién de componentes, siendo también en este caso el tiempo la variable independiente de la distbucién «. Describe la dispersién de las tasas de falo de componentes, acasionada por diferente origen de los datos, distintas condiciones de operacién, entomo, bancos de datos diferentes, etc, En este caso la variable independiente de la distribucién es la tasa de falls,1500 | 7005 Fig. 4: Curva tipica de volucién de tasa de fallos Caracteristicas de la distribucién La distribucién lognormal se obtiene cuando los logaritmos de una Variable se describen mediante una distribucién normal. Es el caso en el que las variaciones en la fablidad de una misma clase de componentes técricos se representan considerando la tasa de fllos, }aleataria on lugar de una variable constant. Es fa distribucién natural a utlizar cuando tas desviaciones a partir del valor del modelo estén formadas por factores, proporciones 0 Porcentajes mas que por valores absolutos como es e! caso de la distribucién normal La distribucién lognormal tiene dos parémetros: m* (media aritmética del logaritmo de los datos 0 tasa de fallos) y a(desviacion estindar del logaritmo de los datos o tasa de fallos) Propiedades La distribucién lognormal se caracteriza por las siguientes propiedades: + Asigna a valores dela variable <0 la probabilidad 0 y de este modo se ajusta a las tasas y probabllidades de fallo que de esta forma sélo pueden ser postvas + Como depende de dos pardmetros, segin veremos, se ajusta bien a un gran nimero de cistribuciones empircas. + Es idénea para pardmetros que son a su vez producto de numerosas cantidades aleatorias (miliples efectos que influyen sobre la fiablidad de un componente). + La esperanza matematica 0 media en la distribucién lognormal es mayor que su mediana, De este modo da més importancia a los valores grandes de las tasas de fallo que una distribucion normal con los mismos percentiles del 5% y 60% tendiendo, por tanto, a ser pesimista, Esta propiedad se puede apreciaren la figura 2. fay Noma! gg = 10h Age25xi0%t 9 = 13x03 Loonomal Igq= S10“ ee 25do%i" Op} at 1083 1505 5x10 m2 2s doy Fig. 2: Comparacién entre una distribucién normal y una lognormal con los mismos percentiles del 5% y 50%. (Distribuci6n normal normalizada a 1, distribucién lognormal con el misme factor) Variable independiente: el tiempo La distribucién lognormal se ajusta a ciertos tipos de fallos (fatiga de componentes metalicos), vida de ls aislamientos eléctricos, procesos continuos (pracesos técnicos) y datos de reparacion y puede ser una buena representacién de la distibucion de lo tiemposde reparacién. Es también una distbucion importante en la valoracién de sistemas con reparacién, La distribucin lognormal es importante en la representacién de fenémenos de efectos proporcionales, tales como aquellos en los que lun cambio en fa variable en cualquier punto de un proceso es una proporcién alestoria del valor previo de Ia variable. Algunos fallos en 1 programa de mantenimiento entran en esta categoria, Segiin hemos visto, la distioucién lognormal es aquella en que el logaritmo de la variable esta distibuida narmalmente. Por tanto odemos obtener la funcién densidad de probabil de la distibucién lognormal a parlr de la distrbueidn normal mediante la transformacién: = Int(t) donde t esté cistrbuida normalmente. La funcién densidad de probabilidad de la distribuciin normal es: 1 32] © ; [ a ey Pera la distibucién normal el parémetro de localizacién, +g es también la media, por lo que se cumple que: n (3) donde + 9 = parametro de localizacion <= media Enla transformacién de cualquier distbucion estadistica se debe satisfacer la siguiente. condicion fae vy portanio forme © Teniondo en cuenta a transtrmacin 1) stone ar ry ® Entonces Ia distibucién lognormal puede ser obtenida sustituyendo las igualdades (1), (2) y (6) en la (5) obteniéndose: t= hyo f-ing] os tn)? aS = desviacién estandar en la dstibueién normal lyn tiempo medio iempo La ecuacién (7) también puede escribrse de la siguiente forma: oe ghaew [HOME] © Se puede resaltar que el pardmetro de localizacién de la distibucién normal original se ha convert ahora en un parémetro de escala coincidente con la media. La d'spersién a es también un pardmetro de forma sogin se puede ver en la figura 3, donde aparece la {uncién densidad de probablldad de la cistrbucién lognormal para distintos valores de o(0.4; 0,8; 1,0 y 1,4)iL gage vee hey BD sey as & Tiempo / Tiempo madto Fig. 3: Funcién densidad de probabilidad para distintos valores de o(0,4 a 1,4) Para valores medios y altos de o, la distibucién lognormal 6s signficativamente asimética, pero a medida que a decrece la Gistribucién es mas simétrica. Si ese acerca a la unidad, la distrbucién lognormal es equivalente aproximadamente a la distrbucién exponencial negativa. También se puede observar que para valores de << 0,2 la distribucién lognormal se aproxima ala distrbucién normal. (Ver figura 4), 0) 4.0, Bistrbucién exponereciat egativa DDistrbucton tognormat Mesa = 5.1 esviacin astandare = 1.02 Distbucton tognermal 10 Distribuotin logromal Unidades de tiempo Fig, 4: Comparacién entre la distribucién lognormal y las distribuciones normal y exponencial Para efectuar calculos se puede eserbirla ecuacién (8) de la siguiente forma: #€ safc ae Cc donde fy 6s la forma estandar de la funcién densidad de probabilidad de la dstribucién normal y puede ser obtenida a partir de tablas. La indisponibilidad @ (ts la funcién acumulativa de la probabildad y aplicada a los fllos de los componentes, representa la probabilidad de que el componente falle antes de t oe flee [ror feeeaes] ss Sendo Fy la funcién acumulativa normalizada de la distibucién normal, que también puede obtenerse en tablas esiadisticas. Asimismo odemos establecer la expresién de la Fiabidad R(t) obtonida a partir de Ia Indisponibiidad @ it} Renato tg ne] aY la tasas de fallos 3) a0 Fh Variable independiente: la tasa de fallos La aplcacién més importante de la distrbucién lognormal es la descripcin de la dispersin existente en los datos de tasas de fallos de componentes. La funcién densidad de 2, se puede escribir a partir de la ecuacién (7) de la siguiente forma: 4 A cnd-m'F 10. aan] a3 con A> 0; > 0; =< mt +in9.t-107 +46. 10°) - 14,2018, ‘ i t - 20 er Dyin oma Zh Dn 1018 - 9901 inge tena-io"® + 5 1 Calculemos los pardmetros que nos definen la distibucién lognormal Mediana~ agg ~erprt—amc-112018 = 423-10%h-4 4,990) a shan se) 2120 100 449 104? Moda= exotm* -07) = 840-408? natant?) fomis?y te 227408! Factor de dispersidn = 0 = exp[t,6450)= 39,38 D= 480 = 495 ge donde Bos” so gg =D Digg = 27,1986,03 10 = 486-104 gg =AgqfD=G03-10-8 127,198=3,12-10-7 ir! Mente Varianza =| Esto nos indica que el 95 % de los valores de las tasas de fallos obtenidas serdn superiores 0 iguales a 4,84 ~10-+h, Por otro lado, se puede afirmar que el 5% de los valores de las tasas de fallos obtenidas serdn infriores 0 iguales a 3,12 10" ht Bibliografia (1) PATRICK D. T. O'CONNOR Practical Reliability Engineoring John Wiley & Sons, Chichester, 1992 (2), MOTHES- J TORRENS-IBERN Estadistica aplicada a la ingenieria Eciciones Ariel. Esplugues de Llobregat 1970 (9) AE.GREEN Safety Systems Reliability John Wiley & Sons, Chichester, 1983 (4) NORBERT L. ENRICK y otrosControl de Calidad y Beneficio empresarial Ediciones DIAZ OE SANTOS, S.A., Madrid, 1989 (5) BERTRAND L. HANSEN, PRABHAKAR M. GHARE Control de Calidad. Teoria y aplicaciones Exiclonos DIAZ DE SANTOS, S.A.. Madrid, 1200 (6) A0.S, CARTER Mechanical reliability. Second Edition Macmillan Education Lyd, London 1986 (7) UHAUPTMANNS ‘Analisis de arboles de fallos Ediciones Bellator, S.A. Barcelona, 1986 @INSHT