414/22, 208 “raductor DESARROLLOS EN ESTANDARES DE PRUEBA Y EQUIPO DE ENSAYO PARA DISCONTINUIDADES (POROSIDAD) EN RECUBRIMIENTOS John Fletcher, Gerente de Soporte Técnico Elcometer Instrumentos Ltd Manchester, Reino Unido ABSTRACTO Probar los recubrimientos curados pata detectar defectos y defectos es a menudo una parte crucial del proceso de aceptacién de un recubrimiento evaluado segin su especificacién. Este es particularmente el caso de los recubrimientos de tuberias y tanques de almacenamiento y de los recubrimientos aplicados para la proteccién contra la corrosién, donde las discontinuidades en el recubrimiento pueden conducir a fallas prematuras. Los grupos de trabajo dentro de ASTM y CEN (ISO) han estado trabajando en métodos existentes y nuevos para pruebas de bajo voltaje, esponja htimeda y deteccién de "vacaciones" de alto voltaje. Se estin actualizando dos métodos de prueba ASTM y se esta desarrollando un nuevo método de prueba dentro del CEN para la votacién conjunta con ISO para establecer también planes de muestreo de prueba y eriterios de aceptacién / rechazo. La prictiea recomendada por la NACE, RPOIS8, también se esté considerando para su revision en 2007. Este documento describe el nuevo pensamiento en el érea de las pruebas de porosidad con especial referencia a la seleccién del voltaje de prucba correcto para las prucbas de alto voltaje y los desarrollos recientes en el equipo de prueba relevante, INTRODUCCION Los defectos y defectos en los recubrimientos conducirn a una falla prematura del recubrimiento en servicio y resultarin en datios por corrosién debido a los efectos del entomo eircundante, particulatmente si el recubrimiento esté sumergido o parciaimente sumergido, Las tuberias y los tanques de almacenamiento, por ejemplo, deben tener recubrimientos libres de agujeros de alfiler Par proteger el contenido del sustato para evita la contaminaciéno para proteger el sustato del contenido para evitar dafios quimicos. Las discontinuidades, defectos y defectos en los recubrimientos pueden tomar muchas formas y a veces se denominan "vacaciones", pero todos tienen una propiedad comin en cl sentido de que reducen la resistencia efectiva del recubrimiento y, por lo tanto, su durabilidad, Una medida de la resistencia de un recubrimiento orginico es la propiedad aislante del recubrimiento, su capacidad para resistir el flujo de corriente cuando se aplica un voltaje. La deteccién de debilidades en el recubrimiento cuando se aplica a un sustrato metilico se puede determinar mediante el uso de la prueba de esponja de bajo voltaje o la prueba de chispa de alto voltaje para recubrimientos no conductores aplicados a sustratos eléctricamente conductores como el acero. Los defectos se localizardn cuando la corriente fluya entre una sonda y el sustrato conductor, que esté conectado a la fuente de voltaje por un cable de retomno de sefial Este documento discute algunos de los problemas planteados por las pruebas de discontinuidad de los recubrimientos con especial referencia a los cambios en los métodos de prueba estindar que estin actualmente en la mano. DI DE RECUBRIMIENT Hay muchas causas de defectos de recubrimiento y algunos de los defectos encontrados con mayor frecuencia, que resultan en discontinuidades incluyen, agujeros de alfiler, corridas y caidas, crateres, cissing y espesor de recubrimientoincomrecto, Las caidas y caidas son causdas por un espesor excesivo del recubrimiento, mientras que los agujeros de alfiler son causados por cl atrapamiento de aire o medios de explosién. La cissing se caracteriza por roturas superficiales en la pelicula que revelan el sustrato y, a menudo, es el resultado de sustratos contaminados por grasa o aceite. Cissing también se conace como gateo 0 ojos de pez. La formacién de crateres es el resultado del aire liberado de la superficie ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html wn414/22, 208 “raductor del recubrimiento en el punto donde el recubrimiento esté parcialmente curado y el recubrimiento no fluye hacia atrés para cubrir el vacio creado por la liberacion de aire El espesor incorrecto del recubrimiento puede ser perjudicial, ya sea demasiado grueso o demasiado delgado. La Figura | muestra algunos ejemplos de estos defeetos de recubrimiento y hay muchos otros de naturaleza similar. La Figura 2 ilustra cémo se puede determinar el espesor del recubrimiento para verificario con la especiticacion. LOS AGUJEROS DE ‘ALFILER SE HUNDEN Y CORREN CRATERING CISSING Figura 1 —_Ejemplos de defectos de recubrimiento Figura 2 - Medicién del espesor del recubrimiento NORMAS PARA LA DETECCION DE DISCONTINUIDAD (VACACIONES) Los estandares y métodos de prucba han cxistido durante algiin tiempo en la Sociedad Americana de Pruebas y Materiales, ASTM, y la Asociacién Nacional de Ingenieros de Corrosién, NACE, organizaciones, pero hasta ahora no ha habido estandares equivalentes dentro de la Organizacién Internacional de Estindares, ISO. ASTM, Hay varios documentos que cubren ls deteccian de discantinuidad (vacaciones) publcados por ASTM, pero el subcomité D01.48 ahora ha retirado el Método de pruel ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html am414/22, 208 “raductor vacaciones en recubrimientos de tuberias, G 62. Cabe sefialar que, segiin las notmas de ASTM, los métodos de prucba requieren pruebas de round robin y las pricticas no lo hacen, Una prueba de round robin para la deteccin de vacaciones en recubrimientos de tuberias seré muy dificil de organizar y completar. Por esta razin, es probable que este método de prueba se haya retirado en favor de una prictica. El Subcomité 01.46, Recubrimientos Protectores Industriales, ha asumido recientemente la administracién de D5162, Practica para pruebas de discontinuidad (vacaciones) de recubrimientos protectores no conductores en sustratos metilicos y esta prictica se est sometiendo a una revision de cineo afios en 2007. Ambos documentos describen los métodos de alto y bajo voltaje para detectar vacaciones y proporcionan metodos para determinar el voltae de prueba apropiado pad la prueba de alo voltje én funcién del espesor del recubrimiento. E] método para determinar el voltaje de prueba dado en G 62 proporciona dos alternativas. © bien. multiplicar la descomposicién dieléctrica del recubrimiento en kV/mm por el espesor permitido del recubrimiento. or ejemplo, para determinar la tensién de ensayo de un recubrimiento con una resistencia dielécirica de 6 kV/mm y un espesor de 500 ym (0,5 mm) “Multiplicar 6 kV por 0,5 mm para producir una tensién de prueba de 3 kV. © el uso de una de las dos ecuaciones basadas en la raiz.cuadrada del espesor del recubrimiento y una constante, que depende de las unidades y el espesor por encima o por debajo de 1 min (40 mil) de la'siguiente manera V=MTe Donde: Y= voltaje de prueba Te= espesor del recubrimiento M= Constante determinada por espesor por encima o por debajo de | mm (40 mil) y por las unidades de espesor métrico (mm) o imperial (mi) La siguiente tabla, figura 3, proporciona los valores de M en Ia formula para unidades métricas e imperiales, Espesor Unidades M Te40 mil 1250 Figura 3 ‘Valores para la constante M en Ja formula ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html am414/22, 208 “raductor La prictica de ASTM, D 5162 proporciona una tabla de voltajes de prueba sugeridos para bandas de espesor de recubrimiento de 200 — 310 ym (8 — 12 mil) hasta 5,100 — 6,350 jum (201 — 250 mil). La Figura 4 es una reproduccion de eta tabla tl como se da ene! documento, qué fue aprobado por litima vez en 2001. Voltajes sugeridos para pruebas de chispas de alto voltaje Espesor total de la pelicula seca sugcrido Inspeccién, V mils mm 8-120.20-0.31 1 500 13-18 0,32-0.46 2.000 19-30 0.87-0.77 2.500 31-40 0.78-1.03 4 000 41-60 1.04-1.54 5 000 61-80 1.55-2.04 7 500 81-100 2.05-2.55 10 000 101-125 2.56-3.19 12.000 126-160 3.20-4.07 15 000 161-200 4.08-5.09 20 000 201-250 5.10-6.35 25 000 Figura 4 - Tabla 1 dela NORMA ASTM D 5162-2001 Cabe sefialar que también existe una prictica estindar, D 4787, titulada "Verificacién de continuidad para revestimientos liquidos o de Léminas aplicados a Sustratos de conereto", que cubre las pruebas de discontinuidades en recubrimientos sobre concreto utilizando tanto la esponja hiimeda de bajo voltaje como los métodos de prueba de chispa de alto voltaje. Esta préctica también esté siendo revisada en 2007 por el subcomité 01.46 bajo la regla de los cinco aiios. Iso El organismo europeo de normalizacién CEN ha aceptado un nuevo elemento de trabajo para crear ‘un método de prueba para probar Ia porosidad (discontinuidades) en recubrimientos de proteccion contra la corrosién en sustratos metalicos. Fsta norma, cuando esté completa, estard sujeta a votacién paralela tanto por parte de los miembros del CEN, los paises europeos y los miembros de la Organizacién Internacional de Normalizacién (ISO), en todo el mundo’ Esta norma esté siendo preparada por el Grupo de ‘Trabajo 2 del subcomité téenico CEN/TC 139/SC Ty adoptaré la misma forma que los métodos de prueba preparados recientemente para las pruebas dé espesor y adhesion del recubrimiento, Esto significa que el método de prueba deseribird los prineipios para las pruebas de alto y bajo voltaje, incluida la seleccién de voltaje de prueba para la prueba de alto voltaje. Describiré como configurar hasta las areas de inspeecién y los planes de muestreo y proporcionara criterios de aceptacién / rechazo basados en los resultados de las pruebas, El borrador inicial de esta norma se ha preparado y se ha examinado en una reunién del grupo de trabajo a mediados de septiembre de 2007. E! grupo de trabajo cuenta con representantes "expertos" de al menos cinco paises miembros y estos "expertos” representan a fabricantes de equipos, fabricantes de pinturas, profesionaes de inspecein, especifcadores de procesos y laboraotos de pruebas. Se pretende que esta norma cubra el uso tanto de pruebas de esponja himeda de bajo voltaje como de pruebas de chispas de alto voltaje y que la seleccién del valor de prucba de alto voltaje se basara en el espesor nominal del recubrimiento y se establecerd por encima del valor para la descomposicién del aire en este espesor nominal ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html an414/22, 208 “raductor Se recomendaran prucbas de esponja htimeda de bajo voltaje para recubrimientos en metales con un espesor de menos de 500 ym (20 mil) y se recomendarén pruebas de alto voltae para recubrimientos je més de 500 yum (20 mil), NACE ‘También hay una prictica recomendada por la Asociacién Nacional de Ingenicros de Corrosién (NACE), RPO188. Esta préctica utiliza una tabla similar a la dada en D 5162, pero las bandas de espesor Son diferentes. A modo de comparacién, Ia tabla 1 de RPO188 se reproduce como figura 5, con los voltajes mostrados en KV para la consistencia, cuadro 1 Voltajes sugeridos para pruebas de chispas de alto voltaje Espesor total dela pelicula | —Espesor total de la pelicula Voltaje de prueba seca seca (um) (mil) «wy De 200 a 260 De gait 15 De 300 a 380 De 12a 15 20 De 400 a 500 De 16 a 20 25 De 530 a 1.000 De 21240 30 De 1.010 a 1,390 De 41 a 55 40 De 1.420 a 2.000 De 56 a 80 60 De 2.060 a 3.180 De 81 a 125 100 De 3.200 a 4,700 De 126 a 185 15.0 Figura 5 - Tabla 1 de RPO188-99 ECCION DI DE PRUEBA El estudio de los métodos de alta tensidn descritos en las dos normas ASTM mencionadas anteriormente, G 62 yD 5162, muestra limitaciones para cada uno de los métodos de seleccién de tensidn de prueba, Utiizando el voltae de rupture tipico de ire en condiciones normales de presigny humedad 4 kV / mm, como voltae de prueba minimo y 6 kV / mm como la resistenia dielectric de un sistema de pintura tipico, ef voltaje de prueba éptimo para un recubrimiento de 1 mm de espesor es de 5 KV, es decir, a medio camino entre el voltaje minimo el voltaje maximo que soportard el recubrimiento. Si el voitaje cae por debajo del voltaje minimo, no habra suficiente potencial para crear una chispa a través de un defecto en el sustrato y el defecto no se detectara, Si el voltaje esta por encima del maximo, el recubrimiento puede datiarse por la tensién excesiva. Un aspecto importante en las pruebas de chispas de alto voltaje es el tema de las pruebas de bajo frente a las pruebas excesivas. La mayoria de los contratistas querran minimizar el voltaje de prueba para proteger el recubrimiento, afirmando que, si no hay un defecto evidente antes de la prueba, el acto de prueba no debe producir un defecto al quemar el recubrimiento con voltaje excesivo. Sin embargo, el propietario de la tuberia, a través del inspector de recubrimiento, probablemente querra asegurarse de que el recubrimiento cumpla completamente con la especificacién y querra que se detecten reas de baja resistencia incluso si el recubrimiento esti intacto antes dé la prueba. Esto significara maximizar el voltaje de prueba para garantizar que cuando se encuentre un espesor de recubrimiento bajo se produzcan resultados de quemaduras La aplicacién de las SSrmulas de voltaje de prueba dadas en G 62 produce voltajes de prueba que no cumplen con el requisito en todo el rango de espesor. Utilizando la constante para espesores ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html sit414/22, 208 “raductor inferiores a 1 mm, el voltaje de prueba es demasiado alto por debajo de 300 pm, aceptable en el rango de 300 a 700 jum pero demasiado bajo en el rango de 700 a 1.000 ym. Utitizando la constante para espesores superiores a 1 mm, los voltajes de prueba siguen el mismo patron, es decir, demasiado altos de 1.01 a 1.6 mm, aceptables de 1.7 2 3.5 mm pero demasiado bajos por encima de 4.0 mm. La aplicacién de las tensiones de ensayo indicadas en la tabla | de D 5162 produce valores que son, cn general, aceptables para el extremo inferior de las bandas de espesor, pero son demasiado bajos para el extremo superior de la misma banda de espesor Por ejemplo, para la banda de espesor de 0,47 a 0,77 mm, el voltaje de prueba recomendado es de 2,5 KV. El voltaje de prueba minimo para 0.47 mm, basado en 4kV / mm es de 1.9 KV y el voltaje de prucba maximo es de 2.8 kV, pero para 0.77 mm ef voltaje de prueba minimo es de 3.1 KV y, por lo {anto, el vollaje de prueba de 2.5 kV es demasiado bajo. Eluso de un grafico, ver figura 6, facilita la seleccién del voltaje de prucba correeto y reduce el riesgo de fallas faltantes porque no hay voltaje suficiente o dafios en el recubrimiento porque hay un voltaje demasiado alto, El grifico utiliza escalas logaritmicas de espesor contra voltaje de prueba, con el voltaje minimo de prueba grfico junto con una seleccién de valores de resistencia dieléctrica, Para determinar los Vvoltajes minimos de prueba, simplemente encuentre el grosor en el eje X y encuentre el voltaje de prueba en el punto donde el valor de espesor se cruza con la linea ‘AIR’ El valor de voltaje maximo se puede determinar con referencia a la resistencia dieléetrica del material de recubrimiento. Esta informacién normalmente esté disponible en el fabricante del recubrimiento. Figura 6— Tabla de seleccién de voltaje de prueba. EQUIPOS DE PRUEBA DE ALTO VOLTAJE Los probadores de chispas de alto voltaje deben disefiarse teniendo en cuenta tanto la seguridad como la faclidad de uso. Muchos recubrimientos de tuberias se probarén utilizando un voltaje entre 2.5y IS KV. A veces, el voltaje de prueba sera de 25 kV o superior. Por lo tanto, la fuente de alimentacién de alto voltaje debe tener una salida de corriente limitada para que el usuario esté a salvo del contacto accidental con la sonda de alto voltae, Aungue la cortente puede limitatse para que no cause dato aun individuo sano norma, I accion involuntaria que surge del contacto con un voltae tan alto inluso un nivel de corrent bajo significa que la sonda de alto voltaje debe tratarse con cuidado, particularmente en el siti. El iltimo disefio se ilustra en las figuras 7, 8, 9 y 10, y muestra el mango de alto voltaje y la carcasa resistente, que es impermeable al IP65 segiin se define en la norma BS EN 60529. La caja alberga ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html en414/22, 208 “raductor una bateria recargable, por lo que la unidad es totalmente portatil. Sin embargo, el alto voltaje se genera en el mango, que tiene una empufiadura de seguridad que garantiza que el alto voltaje solo esté presente cuando el mango se agarra correctamente. Hay tres mangos intercambiables de alta tension disponibles, de 0,343 kV¢-de 0,5 4 15 kV y de 0,58 30 RV. igura 7— Un probador de chispas de alto voltaje Este disefio utiliza un circuito de control de microprocesador para que el funcionamiento del probador esté controlado por mentis. Esto permite una calculadora de voltaje automatica basada en los estindares detallados en este documento. Simplemente ingrese el espesor del recubrimiento y se calculard y estableceri el voltaje de prueba correcto. La unidad tiene una comprobacién de voltaje de bucle cerfado para garantizar que el voltaje de salida sea correcto. Cuando se utiliza la prueba de chispa de alto voltaje de corriente continua (CC), el alto voltaje se aplica a la superficie recubierta utifizando una sonda con el detector de corriente conectado al sustrato metélico con un cable de retomo de sefial. Como este cable esté funcionando a baja tensién, su longitud no es critica, siempre y cuando no haya resistencia eléctrica que impida la detcecién correcia de corriente. Sin embargo, el cable de alto voltaje es eritico y por esta Faz6n el nuevo disefio tiene el alto voltaje generado en el mango de la sonda para mantener la posibilidad de caida de voltaje al minimo. El principio de la prueba es que a medida que Ia sonda de alto voltaje pasa a través de la superficie, Jn ausencia de flujo de corriente a través de cualquier chispa indica que el recubrimiento esta libre de defectos criticos. Sin embargo, en el instante en que se genera una chispa y la corriente fluye y se detecta, la prucba ha terminado y se ha localizado un defecto. Figura 8 — La unidad de control que muestra Ia pantalla y el cable de retorno de sefial Para mayor seguridad, la fuente de alimentacién de alto voltaje esti disefiada para que el alto voltaje colapse tan pronto como se extraiga una corriente significativa. Puede darse el caso de que se detecte un defecto en el limite del voltaje de prueba y tan pronto como el voltaje caiga, el defecto parece haber desaparecido, Cuando la enté de alisentacion restablece el votaje de prucba correcto, este jefecto se detectaré nuevamente. ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html am414/22, 208 “raductor Figura 9 - El mango de alto voltaje con cepillo de banda Una gama de accesorios de sonda est disponible para usar con el mango de alto voltaje para, permitir que las grandes superficies se prueben répidamente, para permitir un facil acceso a las superficies, por ejemplo, varillas de extensidn y para revestimientos de tuberias internas y externas. ws les la Figura 10 — Sonda de resorte rodante en uso en el revestimiento externo de tuberias PRUEBAS ESTENOPEICAS DE BAJA TENSIO! Cuando se requieren pruebas de recubrimientos delgados y deteccién de agujeros de alfiler que penetran a través del sustrato, se pueden usar detectores de agujeros de esponja hiimeda de bajo voltaje. Este método también esta cubierto por los estindares mencionados anteriormente, pero el principio es la deteccién de agujeros a traves del recubrimiento utilizando la humedad de la esponja como medio conductor para que la corriente generada por el detector fluya por el orificio en el recubrimiento y a través del sustrato metélico hasta el cable de retorno de seftal. Debe tenerse en cuenta que esté método solo detectara agujeros que penetran a través del recubrimiento hasta el sustrato. Es posible que no se detecten otros defectos, como araiiazos, inclusiones 0 huecos en el recubrimiento a menos que haya un camino para la hamedad a la superficie. Los voltajes de prueba estn en el rango de 9 a 90V con un voltaje de prueba particular de 67.5 V, gue remota su orgen a las baterias especializadas de 225 V utilizadas en los primeros dias. dela fotografia para encender el polvo del flash. Aunque estas baterias ya no se fabrican, el voltaje de prueba ha sobrevivido en los métodos de prueba La sensibilidad de deteccién depende de la configuracién de voltaje y para 9 V el detector emite una alarma audible cuando la sonda de esponja pasa sobre un agujero de alfiler que tiene una resistencia eléctrica inferior a 90,000 ohmios (+ 5%). A 67,5 V el umbral es de 125.000 ohmios ya 90 V el umbral es de 400.000 ohmios. El método de prueba de 9 V es adecuado para detectar agujeros en recubrimientos de hasta 300 jm de espesor y ef metodo de prueba de 90 Ves adecuado para recubrimientos de hasta 500 jim, El agua del grifo se utiliza para proporcionar la ruta conductora, ya que contiene minerales que permiten que la corrente Muy, Se puede agregar un sufactante para garantizar que la humedad penete en ls otificios mas pequefios. La Figura 11 muestra un probador de esponja hnimeda de bajo voltaje con su cable de retorno de sefial ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html ant414/22, 208 “raductor El nombre esponja hiimeda es un nombre inapropiado en la prictica, ya que la esponja debe ‘exprimirse para eliminar todo el exceso de agua, por lo que seria mas correcto llamar a esto una prueba de esponja hiimeda. Al igual que con el probador de chispas de alto voltaje, el detector de vacaciones de esponja himeda {dc bajo voltaje esta conectado al sustrato metalico mediante un cable de retorno de scial. Figura 11 —Detector de vacaciones de esponja hiimeda mostrando versiones de 9 V, 9 y 90 Vy 9, 67.5 y 90 V CONCLUSIONES El método principal para verificar los recubrimientos de tuberias en busca de defectos que potencialmente reduzcan la vida util del recubrimiento es la prucba de chispa de alto voltaje. Existen otros métodos de prueba especificamente para agujeros de alfiler, pero la prueba de esponja hiimeda de bajo voltaje se limita a recubrimientos iguales o inferiores a 500 yim (20 mil). Se esta trabajando en un nuevo trabajo tanto para revisar las normas ASTM existentes como para crear una nueva norma ISO para detectar Ia porosidad en recubrimientos en Sustratos metalicos utilizando los métodos de prueba de esponja himeda de alto voltae y bajo voltaje. La revision de los métodos ASTM se centars en el método para Seleccionar el voltaje de prueba correcta para que se pueda Jograr una alta cnfianza en la dteeein de defetos sn el riesgo de dais ene recubrimiento Con este fin, se ha presentado una tabla revisada de los valores de tensién de prucba recomendados para su consideracién por el Grupo de Tareas, en la que se han reducido las bandas de espesor del Fecubrimiento para garantizar que la tensién recomendada no exceda la tension maxima para el extremo inferior de la banda cuando la resistencia dieléctrica del recubrimiento sea del orden de 6 kV/mm. La Figura 12 muestra la tabla propuesta, que tiene mas bandas que la tabla utilizada actualmente para ASTM D 5162. Los probadores de chispas portatiles de alto voltaje estin disefiados para permitir pruebas de campo seguras y simples de recubrimientos de hasta un espesor de 7 mm, lo que requiere un voltaje de prucba de al menos 28 kv. Los accesorios de sonda para permitir prucbas en formas y drcas grandes ahora estén disponibles y facilitan las pruebas de estructuras complejas. Espesor total de la pelicula seca Propucsto Inspeccién, V nilimetro Mils 0.500-0590 197-232 2700 0,600-0.690 6-272 3300 0,700-0.790 276-31.1 3900 0,800-0,890 315350 4500 0.900-0.990 35.4290 5000 1.000-1.090 39.4829 5500 1.100-1.190 433-469 6000 1.200-1.290 472.508 6500 ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html ant22,905 “reductor 1.300-1,390 512-547 7000 1.400-1.490 551-587 7500 1.500-1.590 59.1-626 8000 1.600-1.690 63.0-665 8500 1.700-1.790 66.9-70.5 9000 1.800-1.890 709-744 10000 1.900-1,990 748-783 10300 2.000-2,090 787-823 11500 2,100-2,190 92.7-862 12000 2.200-2.290 866-902 12500) 2,300-2.390 90,6-94.1 13000 2.4002.490 945-980 13500 2.500-2.590 98.4-102.0 14000 2,600-2,690 102.4-105.9 14500 2.700-2.790 1063-1098 15000 2.800-2.890 1102-1138 153500 2.900-2,990 1142-1177 16000 3.000-3.090 1181-1217 16500 3.100-3.190 122.0-125.6 17000 3,200-3.290 126.0-129.5 17500 3300-3.390 129.9-133.5 18000 3.400-3.490 1339-1374 18500 3,500-3.590 13781413 19000 3,600-3.690, 1417-1453 19500) 3,700-3.790 145,7-149.2 20000 3.800-3.890 149,64153.1 21000 3.900-3.990 1535-15711 21800 4.000-4.190 157.5-165.0 22500 4.200-2.290 165.4-168.9 23000 4300-4,390 169.3-172.8 24000 4400-4490 1732-1768 25000 ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html sont22,905 “reductor 4,500-4,590 177.2-180.7 25800 4,600-4,690 181.1-184.6 26400 4,700-4.790 185,0-188.6 26800 4.800-4,890 189,0-192.5 27400 4.900-4.990 192.9-1965 28000 5,000-5.290 196.9-2083 28500 5.300-5.500 208,7-216.5 29000 5.600-8.000 2205-3071 30000 Figura 12 — Los voltajes de prueba recomendados propuestos para ASTM D 5162 ‘le: 1JC:1Users/ASUSIAppDatalL.ocal/MicrosofvWindows!INetCachelContent MSOIBBBASOAE html sn