400.

- 2001 de h de IEEE
(Revisión de - de h 400 de IEEE1991)
Padrones de IEEE
400
TM
Guía de IEEE para Field hacer pruebas y
La evaluación de la protección de
Ocultaba cable de energía eléctrica del sistema
Publicar by
Los institutos de Electrical e ingenieros electrónicos, Inc.
3 avenida de parques, Nueva York, NY 10016-5997, USA
29 enero 2002
Alta sociedad de ingeniería de potencia de IEEE
Patrocinar by el
Aisló directores comité
Padrones de IEEE
Letra: SH94972
El PDF: SS94972

Ace acreditado en
Padrón nacional estadounidense (ANSI))
Los institutos de Electrical e ingenieros electrónicos, Inc.
3 avenida de parques, Nueva York, NY 10016-5997, USA
Registra los derechos © 2002 por los institutos de Electrical e ingenieros electróni
cos, Inc.
All rights reserved. Publicar 29 enero2002. imprimir en los estados federales de
universidad - Ted de América.
La letra: SH94972 de 0-7381-3086 - 9 de ISBN
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Ninguna parte de esta publicación puede ser reproducida en cualquier moldes, hacia
dentro en el sistema de recuperación electrónico o por lo demás, sin el tten de wri p
revio por-
Misión de la editorial.
H de IEEE 400. - 2001
(La revisión de
- de h 400 de IEEE1991)
Guía de IEEE para Field hacer pruebas y
Evaluación de la protección de Shielded
Cable de energía eléctrica del sistema
Patrocinador
Aisló directores comité
Del
Alta sociedad de ingeniería de potencia de IEEE
Acreditado 29 abril 2002
Institutos de niveles nacionales estadounidenses
Aprobar 6 de diciembre de 2001
Junta de niveles de IEEE - SA
Extracto: este guía pone en una lista los métodos de pruebas sobre el terreno varios
que están actualmente disponible o bajo
El desarrollo con la orientación sobre cómo funcionar each hace pruebas. El guía a qui
en tapas protegieron, aislado
Si el cable consigue cosas proponer por el específico que los voltajes están modific
ado el sistema ha evaluado 5 kv a través de 500 kv unless declaraciones
Documento de "Punto".
Palabras clave: el voltaje de ca predispuesto por cc alternante - polaridad, la
disipación pruebas de campo de prueba de factor de alto voltaje
La prueba de cc la cc bajo - voltaje que evalúa ola baja parcial oscilando, caract
erísticas de propagación
Spectroscopy, la distribución residencial subterránea la frecuencia muy baja

Los padrones de IEEE de los que los documentos son desarrollados dentro de las s
ociedades de IEEE y los padrones coordinar comités el
Los padrones de Asociación (IEEE - SA) de niveles de IEEE abordan. El IEEE desarro
lla sus padrones a través de un consenso
El proceso de desarrollo, aprobado por los institutos de niveles del estadounide
nse nacionales que traen together a voluntarios
Representar que los puntos de vista variados y los intereses consigan el product
o final. Los voluntarios son necesarios necesariamente miembros del
Institutos y saque sin la compensación. Mientras el IEEE administra el proceso y e
stablece reglas para promocionar la imparcialidad
En el proceso de desarrollo de consenso, el IEEE del que los sueños necesarios por
separado valoran, pruebas, o verificar la exactitud de ninguno el
Información contenida en sus padrones.
El uso del en IEEE el nivel es completamente voluntario. El IEEE niega la respon
sabilidad para cualquier personal lesión, propiedad o otra dique-
La edad, of any nature whatsoever directamente o indirectamente dar como resulta
do directamente o indirectamente, whether especial, indirecto, importante, o com
pensatorio,
De la publicación, el uso de, o dependencia sobre esto, o cualquier otro documento
de nivel de IEEE.
El IEEE que los sueños contenidos necesario justifican o representan que la exacti
tud o el contenido de la tela hacia dentro, y expresamente niegan
Ninguno rápidamente o la garantía implícita, incluyendo cualquier garantía implícita de me
rchantability o buena salud para un propósito específico, o eso
El uso de la tela contenida hacia dentro está libre de la violación de patente. Los
documentos de niveles de IEEE son proporcionados a "Destacado IS."
La existencia de en los sueños de nivel de IEEE que las maneras a productos necesa
rias implican que hay ningún otro, pruebas, medida, la compra, el mercado,
O provee otros bienes y servicios relacionados con el alcance del padrón de IEEE.
Además, el punto de vista expresado en el
El tiempo en que un padrón es aprobado y suministrado es subject to change provoca
do a través de los desarrollos en el último y
Los comentarios recibieron de usuarios del padrón. Cada IEEE que el nivel arrienda
es subject a revi de evaluación a cada cinco años para-
Sion o reafirmación. Cuando un documento tiene más de cinco años y ha de necesario ser
reafirmado, es razonable concluir
Que sus contenido, aunque silenciosamente of some value, hace de necesario compl
etamente reflejar el estado actual del tipo. Los usuarios son advertidos a k de
chec
Para determinar que tienen la más reciente edición de cualquier padrón de IEEE.
In publicar y hacer este documento disponible, el IEEE es de necesario indicar o
dar otros servicios profesionales
Porque, o on dirigir de, cualquier persona o entidad. Ni el IEEE empezar a lleva
r a cabo cualquier servicio es debido por cualquier otra persona o
Entidad para otro. Cualquier persona que utiliza esto, y cualquier otro document
o de niveles de IEEE, debe depender del consejo de un com-
Profesional de petent in determinar el ejercicio del cuidado razonable en cualqu
ier circunstancias en particular.
Interpretativo: ocasionalmente las cuestiones podrían surgir respecto a el signifi
cado de portion of ace de niveles con el que se relacionan específico
Aplicaciones. When la necesidad porque interpretativo es traído a la atención de IEE
E, los institutos quieren iniciado acción al re de prepa
Destina las respuestas. Debido a que los padrones de IEEE representan un consens
o de los intereses preocupados, es importante asegurar ninguno a eso
La interpretación ha recibido el acuerdo de un balance de los intereses therefore.
Porque esta razón, IEEE y los miembros de su soci-
Eties y Coordinating de niveles que los comités is of necesario capaz proveer en l
a reacción inmediata para la interpretación los pedidos except presente
Esas cajas adónde el de débil haber recibido la consideración oficialmente antes.
Hace comentarios para la revisión de IEEE con el que los padrones son bienvenidos
de cualquier parte interesada, sin considerar la afiliación de admisión
IEEE. La sugestión por los cambios en documentos debe estar en los moldes de un ca
mbio propuesto de, con apropiado, las escrituras
Comentarios de soporte. Comentar sobre los padrones y request porque interpretat
ivo deber ser addressed hacerlo/serlo:
Secretario, IEEE - SA que los padrones abordan
445 azadas Lane
P..O. caja 1331
Piscataway, NJ 08855-1331
USA
La autorización de fotocopiar de la que portion of cualquier padrón individual para
el uso interno o personnel es grano - Ted por los institutos
Eléctricos e ingenieros electrónicos, Inc., siempre que el hada apropiada es pagada
al derecho de autor el centro de autorización. Para hacerlo/serlo
Encárgate del pago de hada de concesión de licencia, por favor contáctate con el centr
o de autorización de derecho de autor, los servicios al cliente, 222 palisandro Dr
ive,
Danvers, MA 01923 USA; + 1 978 7508400. el permiso para el que fotocopiar portio
n of cualquier padrón individual educativo
El uso de aula puede ser obtenido a través del centro de autorización de derecho de
autor therefore.
Categoría: la atención es llamada a la posibilidad de que la puesta en práctica de est
e padrón podría requerir el uso de felpudo en cuestión-
Ter cubierto por los derechos de patente. Por la publicación de este padrón, ningún pu
esto es obtenido con respecto a la existencia o
La validez de cualquier derechos de patente en la conexión con eso. El IEEE sí de ne
cesario ser responsable de identificar de patente
Para que una licencia puede ser requerida by en el nivel de IEEE o para dirigir
las investigaciones en el legalmente la validez o
Alcance de ésos de patente que son traídos a su atención.

2002 IEEE de © de derecho de autor. All rights reserved. Iii

Presentación
(Esta presentación es necesaria part of h de IEEE del que 400-2001, IEEE guian par
a la prueba de campo y la evaluación de la protección
Ocultaba cable de energía eléctrica del sistema.)
Éste es un nuevo guía de autobús que lo ha sido in preparation for nueve años. Provee en
la visión general de saber
Las técnica para llevar a cabo pruebas eléctricas para el campo on protegido consegu
ir cosas cambiando de lugar el cable del sistema. Es querido ayudar
El lector selecto uno pruebas que es apropiado para una situación específica del int
erés. Provee una descripción de carta de
Todas las conocidas fuentes solían llevar a cabo las pruebas sobre el terreno con
una discusión breve de pruebas específicas. El pre material-
Sented es descriptivo y curso y sueños, necesario abordan las pruebas de evaluación
de los resultados ni el de la especificación
Si el voltaje evalúa, dirige veces ni de la solicitud.
Los detalles adicionales la falta es suministrada en documentos de "Punto" (que
está actualmente bajo preparativos), el ace busca
P400 de IEEE.1. la prueba de voltaje directa; P400 de IEEE.2. la frecuencia muy
baja que hace pruebas; y P400 de IEEE.3., dissi-
Prueba de factor de pation.
Participantes
En las épocas en que algo terminó este guía, el grupo trabajador sobre Field de prueba
y la evaluación de Shielded
El poder del sistema de cable tenía the following admisión. Los miembros de votación e
n las épocas de la publicación están fichados
Con en el asterisco (*).
William A Thue, presidente
Ben Lanz, vice- presidente
T. A Balaska, vice- presidente
Puerta - Ben Aabo
Michael bávaro de gramos
Martin Baur*
Ámbar de S de Bruce
Glen J Bertini
Larry G Bonner
Willem W Boone*
Litros de Robert.Cunningham
Eugene Favrie
Stephen L Fitzhugh
Robert E Flemming
Phillip J George
Hans R Gnerlich*
Jorma Haapanen
Kenneth Hancock
Arpa de litros de Richard
Wolfgang Haverkamp
Stanley R Howell
Carlos Katz
Frank J Krajick
Howard W Lewis
Russell D Lowe
John M Makal
Matthew S Mashikan*
James D Medek*
C. David Mercier
Shantanu Nandi*
Shigeki Osawa
Robert A Resuali
Peter Reynolds*
Ray E Saccany
C. Saldivar - Cantu
Nagu N Srinivas*
J. p. Steiner*
William Torok
Kite Uzelac
Fred H de Hermann
T Shayne Wright
Nickolas A Zemyan

2002 IEEE de © de derecho de autor de IV. All rights reserved.

The following miembros del comité de votación sometieron a votación este padrón. Mayo de
Balloters tener votar por
La aprobación, la desaprobación, o la abstención.
Cuando la junta de niveles de IEEE - SA aprobó este padrón 6 diciembre 2001 sobre, t
enía lo siguiente
Admisión:
Donald N Heirman, presidente
James T Carlo, Vice presidente
Judith Gorman, Secretario
*Miembro emérito
Therefore incluir ser the following enlace de la junta de niveles de IEEE - SA s
in derecho a votar:
Alan Cookson nidos representativos
Donald R Volzka, representante de tabulador
Don Messina
Editor de proyecto de niveles de IEEE
Puerta - Ben Aabo
Roy W Alexander
R. W Allen
Theodore A Balaska
Martin Baur
Michael bávaro de gramos
M Thomas Black
David T Bogden
Harvey L Bowles
Kent W Brown
Paul S Cardello
Cereza de E de gata
John H Cooper
James M Daly
Swarn S Dhillon
Arthur R Fitzpatrick
Marcha de B de Robert
Kenneth Hancock
Arpa de litros de Richard
Stanley V Heyer
Lauri J Hiivala
John W Hoffman
Stanley R Howell
Richard A Huber
C Katz
Lawrence J Kelly
Carl Landinger
Mark E Lowell
Glenn J Luzzi
John M Makal
Matthew S Mashikian
John E Merando, Jr..
Dennis C Pratt
Peter Ralston
Darrell E Sabatka
Gilbert L Smith
Salmuera - esquí de J de Henry
Peter W Spencer
Orloff W Styve
John Tanaka
William A Thue
Don Tomaszewski
Daniel J Ward
Roland H W Watkins
Carl J Wentzel
William D Wilkens
Gemidos de G de William
José T Zimnoch
Satish K Aggarwal
Mark D Bowman
Gary R Engmann
Harold E Epstein
H. Landis Floyd
Jay Forster*
Howard M Frazier
Ruben D Garzon
James H Gurney
Richard J Holleman
Lowell G Johnson
Robert J Kennelly
José L Koepfinger*
Labios de H de Peter
L. Bruce McClung
Daleep C Mohla
Lodo de W de James
Robert f Munzner
Ronald C Petersen
Gerald H Peterson
John B Posey
Gary S Robinson
Akio Tojo
Donald W Zipse

2002 IEEE de © de derecho de autor. All rights reserved. V

Contenido1. visión general........................................................
........................................................................ .......
....... 1
1.1 alcance.....................................................................
........................................................... ............ 1
1.2 propósito.....................................................................
........................................................... ......... 2
2. referencias..................................................................
.............................................................. ............ 2
3. definición.....................................................................
........................................................... ...........3
4. presentación...................................................................
............................................................. .......... 3
4.1 influencias ambientales.....................................................
....................................................... 3
4.2 resumen de la prueba de voltaje directa.....................................
.......................................................... 4
4.3 resumen de la prueba alternativa............................................
........................................................ 4
4.4 necesidad para testings.....................................................
....................................................................... 6
4.5 conciencia de seguridad.....................................................
..................................................................... 6
5. prueba de voltaje de Direct..................................................
......................................................................... 7
5.1 presentación..................................................................
.............................................................. ..7
5.2 sensato para usar cc........................................................
.......................................................... 7
5.3 LVDC funcionando hace pruebas...............................................
................................................................ 8
5.4 HVDC funcionando hace pruebas...............................................
................................................................ 9
5.5 resumen de ventajas y desventajas...........................................
...................................... 9
6. suministra energía a la frecuencia haciendo pruebas............................
................................................................................
......... 10
6.1 presentación..................................................................
.............................................................. 10
6.2 requisitos de instrumentos de investigaciones...............................
....................................................................... 11
6.3 características de sistema de pruebas.........................................
.......................................................... 11
6.4 procedimientos de investigaciones...........................................
...............................................................................
12
6.5 ventajas y desventajas......................................................
............................................ 13
7. prueba de baja parcial.......................................................
.............................................................. 13
7.1 presentación..................................................................
.............................................................. 13
7.2 conclusión - amén - valles......................................................
....................................................................... 13
7.3 caracterización de baja parcial...............................................
............................................... 13
7.4 medición de la baja parcial...................................................
........................................... 14
7.5 ventajas y desventajas......................................................
............................................ 14
8. prueba de frecuencia (VLF, less than 1 Hz) muy baja..........................
.................................................. 15
8.1 presentación..................................................................
.............................................................. 15
8.2 testings de VLF con waveform de coseno - pulso..............................
.................................................... 16
8.3 testings de VLF con waveform sinusoidal.....................................
................................................. 18
8.4 Dissipation testings de factor con VLF (Waveform 0.1 - Hz. y sinusoidal.....
.................................... 19
8.5 conclusiones................................................................
................................................................ 21

2002 IEEE de © de derecho de autor de editor vi. All rights reserved.

9. prueba de factor de Dissipation..............................................
..................................................................... 21
9.1 presentación..................................................................
.............................................................. 22
9.2 pérdida de Dielectric.........................................................
................................................................... 22
9.3 método........................................................................
........................................................ ....... 23
9.4 medición y equipo.............................................................
........................................ 24
9.5 ventajas y desventajas......................................................
............................................ 24
9.6 método y valoración.............................................................
................................................ 25
9.7 disipación descompone en factores waveform sinusoidal con VLF.................
................................................... 25
9.8 ventajas y desventajas......................................................
............................................ 25
10. prueba de ola de Oscillating................................................
..................................................................... 25
10.1 presentación.................................................................
............................................................... 26
10.2 generales descripción de, pruebas de método....................................
........................................................ 26
10.3 ventajas y desventajas.....................................................
............................................. 26
10.4 instrumentos de investigaciones............................................
................................................................................
27
10.5 procedimiento de investigaciones...........................................
................................................................................
. 27
10.6 precauciones de seguridad..................................................
.................................................................... 28
10.7 desarrollo adicional funciona..............................................
........................................................... 28
Anexiona una frecuencia a motor (informativa) haciendo pruebas..................
...................................................................... 29
Bibliografía de B (informativo) de anexo..........................................
................................................................ 31

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