UNIVERSIDAD POPULAR DE LA

CHONTALPA
UNIVERSIDAD DEL PUEBLO Y PARA EL
PUEBLO

ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X

TRABAJO PARA EL SEGUNDO PARCIAL

INTEGRANTES DEL EQUIPO
 Jiménez Hernández Jeimy
 Ramírez Ramos Nadyethzna Esmeralda
 Sánchez Cerino Magdalena
 Vázquez Navarrete Cristopher Ian

EVIDENCIA DE INVESTIGACIÓN EN EQUIPO

Equipo Numero 1

LICENCIATURA EN QUÍMICO FARMACEÚTICO

BIÓLOGO

Cárdenas, Tabasco, México

2021
Tabla de contenido
ÍNDICE..............................................................................................................................................3
LISTADO DE FIGURAS

RESUMEN O ABSTRAC

INTRODUCCION

JUSTIFICACION

OBJETIVOS GENERALES Y ESPECIFICOS

ANTECEDENTES

1. ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X.................................................................................................13

CARACTERÍSTICAS............................................................................................................................13
1.1.1Características más importantes..............................................................................................13
FLUORESCENCIA DE RAYOS X...........................................................................................................13
1.1 FUNDAMENTOS BÁSICOS...........................................................................................................14
1.2.1 EMISIÓN DE RAYOS X POR BOMBARDEO CON UN HAZ DE ELECTRONES................................16
1.2.3 ESPECTROS CONTINUOS..........................................................................................................16
1.2.4 ESPECTROS DE LÍNEAS CARACTERÍSTICAS...............................................................................19
1.2.5 FLUORESCENCIA DE RAYOS X..................................................................................................20
1.2.6 DIFRACCIÓN DE RAYOS X ........................................................................................................21
1.2.7 EMISIÓN DE ELECTRONES POR RADIACIÓN X .........................................................................21
1.2.8 EMISIÓN DE ELECTRONES AUGER...........................................................................................22
1.3.CARACTERÍSTICAS MÁS IMPORTANTES......................................................................................22
1.4 FLUORESCENCIA DE RAYOS X.....................................................................................................22
1.5 DIFRACCIÓN DE RAYOS X ...........................................................................................................25
2. COMPONENTES DE LOS INSTRUMENTOS.....................................................................................28
2.1. Fuentes: El tubo de rayos X.......................................................................................................29
2.1.2 Ánodo......................................................................................................................................30
2.1.3Filtros.......................................................................................................................................32
2.1.4 Monocromadores....................................................................................................................33
2.2. Detectores de rayos X...............................................................................................................36
2.2.1. Detectores de gas...................................................................................................................36
3. MÉTODOS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X................................................................................37
3.1 INSTRUMENTOS.........................................................................................................................38
3.1.1 INSTRUMENTOS DISPERSORES DE LONGITUDES DE ONDA.....................................................38
3.1.2 INSTRUMENTOS DISPERSORES DE ENERGÍA...........................................................................40
3.2 ANÁLISIS CUALITATIVO Y SEMICUANTITATIVO...........................................................................43
3.2.1 ANÁLISIS CUANTITATIVO.........................................................................................................45
3.3.EFECTOS DE LA MATRIZ..............................................................................................................46
3.3.1CALIBRACIÓN CON PATRONES EXTERNOS...............................................................................47
3.3.2USO DE PATRONES INTERNOS..................................................................................................47
3.3.3DILUCIÓN DE LA MUESTRA Y DE LOS PATRONES.....................................................................47
4 . MÉTODOS DE ABSORCIÓN DE RAYOS X.......................................................................................48
5. METODOS DE DIFRACCION DE RAYOS X.......................................................................................49
5.1IDENTIFICACION DE COMPUESTOS CRISTALINOS........................................................................50
5.1.2 DETECTORES DE RAYOS X........................................................................................................52
5.1.3. DETECTORES DE GAS..............................................................................................................53
5.1.4 CONTADORES DE CENTELLEOS................................................................................................54
5.2 DETECTORES DE SEMICONDUCTOR............................................................................................54
5.2.1 INSTRUMENTACIÓN AUXILIAR................................................................................................55
5.2.3 ANALIZADORES DE ALTURAS DE IMPULSOS............................................................................55
6. LEY DE MOSELEY Y LEY DE BRAGG............................................................................................56
DISCUSIÓN

CONCLUSION

PERSPECTIVAS
TABLA DE CONTRIBUCIONES
BIBLIOGRAFIA
LISTADO DE FIGURAS

Figura 1. Distribución De Radiación Continúa En Blanco De Tungsteno.

Figura 1.1 Espectro De Líneas En Blanco De Molibdeno.

Figura 1.2 Tubo De Rayos X Clásico.

Figura 1.3 Esquema.

Figura 1.3.1 Angulación Del Ánodo.

Figura 1.4 Esquema De Ánodo Rotatorio.

Figura 1.5 Espectrómetro De Fluorescencia.

Figura 1.6 Espectro.

Figura 1.7 Condiciones De Excitación.

Figura 1.8 Instrumentos.

Figura 1.9 Ley De Moseley.

Figura 2 Ley De Bragg.

RESUMEN

Karl Manne Georg Siegbahn de Uppsala, Suecia (Premio Nobel 1924), fue uno de
los pioneros en el desarrollo de rayos X espectrometría de emisión. Midió las
longitudes de onda de los rayos X en muchos elementos de alta precisión,
utilizando electrones de alta energía como fuente de excitación.

La espectroscopía de rayos X, al igual que la espectroscopía óptica, se basa en la

medida de la emisión, absorción, difusión, fluorescencia y difracción de la
radiación electromagnética. Los métodos de fluorescencia de rayos X y absorción
de rayos X son muy utilizados para la determinación cualitativa y cuantitativa de
todos los elementos de la tabla periódica con números atómicos superiores al del
sodio. Con la ayuda de un equipo especial también se pueden determinar los
elementos con números atómicos comprendidos entre 5 y 10

ABSTRAC

Karl Manne Georg Siegbahn of Uppsala, Sweden (Nobel Prize 1924), was one of
the pioneers in the development of X-ray emission spectrometry. He measured the
wavelengths of X-rays in many high-precision elements, using high-energy
electrons as the excitation source.

X-ray spectroscopy, like optical spectroscopy, is based on the measurement of the

emission, absorption, diffusion, fluorescence and diffraction of electromagnetic
radiation. The X-ray fluorescence and X-ray absorption methods are widely used
for the qualitative and quantitative determination of all the elements of the periodic
table with atomic numbers higher than sodium. With the help of special equipment,
elements with atomic numbers between 5 and 10 can also be determined.
INTRODUCCION

La espectroscopía de rayos X es un término general para varias técnicas

espectroscópicas para la caracterización de materiales mediante el uso de la
excitación por rayos X. (Connor, 2019).

Cuando un electrón de la capa interna de un átomo es excitado por la energía de

un fotón, se mueve a un nivel de energía más alto. Dado que el proceso deja una
vacante en el nivel de energía de los electrones del cual proviene el electrón, los
electrones externos del átomo caen en cascada para llenar los niveles atómicos
más bajos, y uno o más rayos X característicos son generalmente emitidos Como
resultado, aparecen picos de intensidad bruscos en el espectro a longitudes de
onda que son características del material del que está hecho el objetivo anódico.
Las frecuencias de los rayos X característicos se pueden predecir a partir del
modelo de Bohr. El análisis del espectro de emisión de rayos X produce resultados
cualitativos sobre la composición elemental de la muestra. (Connor, 2019).

La espectroscopía de rayos X, se basa en la medida de la emisión, absorción,

difusión, fluorescencia y difracción de la radiación electromagnética. (skoog,
2008).

La emisión de rayos x se da cuando un conjunto de átomos son bombardeados

por un haz de electrones de elevada energía se producen rayos X.

La fluorescencia de rayos x es la absorción de rayos X produce iones excitados

electrónicamente que pueden volver a su estado fundamental mediante
transiciones que implican a los electrones de los niveles de energía más altos.

La difracción de rayos x es la interacción entre el vector eléctrico de la radiación X

y los electrones de la materia por la que pasa da lugar a una dispersión de los
rayos

Y la emisión de rayos x se da cuando un átomo o molécula, cuando es sometido a

bombardeo con un haz de rayos X de alta energía, produce una emisión de
electrones a partir de los niveles internos de los átomos de la muestra.
JUSTIFICACION
Tomando en cuenta la importancia que tiene la espectroscopia de rayos x para el
desarrollo de nuevos conocimientos y aplicaciones, en este trabajo se plantea
conocer más de cerca lo que es o lo que implica el estudio de la espectroscopia
de los rayos x la cual principalmente se basa en la medida de la emisión,
absorción, dispersión, fluorescencia y difracción de la radiación electromagnética.
Estás medidas dan información muy útil sobre la composición y la estructura de la
materia.

En este trabajo se propone hacer una investigación muy detallada sobre los
fundamentos básicos, así también como sus características, componentes de los
instrumentos, métodos de fluorescencia, métodos de absorción e difracción de los
rayos x.
 OBJETIVO GENERAL
Comprender los conceptos de la espectroscopia de rayos x y como se va
desarrollando este proceso, a medida de el estudio de las funciones del método
aplicado.

OBJETIVOS ESPECIFICOS

Analizar de efecto de la fluorescencia de rayos x, y el uso adecuado de esta

técnica
Experimentar el trabajo que se realiza en el laboratorio con el uso de los
instrumentos y materiales requeridos para la técnica.
Retroalimentar la información de cada uno de los aplicantes de la materia de
Análisis instrumental en el tema de espectroscopia de rayos x .
ANTECEDENTES

Un átomo o molécula, cuando es sometido a bombardeo con un haz de rayos X de

alta energía, produce una emisión de electrones a partir de los niveles internos de
los átomos de la muestra. (Skoog, 2008).
Los instrumentos que se utilizan en las aplicaciones analíticas que utilizan rayos X
contienen componentes similares a los utilizados en medidas espectroscópicas
ópticas; una fuente, un dispositivo para seleccionar la longitud de onda, un soporte
para la muestra un detector de radiación, un procesador de la señal y un
dispositivo de lectura. Estos componentes difieren considerablemente de los
ópticos, pero sus funciones son las mismas, así como la manera como se
combinan para formar un instrumento. (Skoog, 2008).
Dentro de estos instrumentos existen diferentes tipos, todos para un diferente uso
y aplicación, como por ejemplo los instrumentos dispersores de longitud de onda
que dispersan las longitudes de onda siempre contienen tubos como fuente debido
a las enormes pérdidas de energía que hay cuando el haz de rayos X es colimado
y dispersado en las distintas longitudes de onda que lo componen. O los
instrumentos dispersores de energía que dispersan la energía, esto permite usar
fuentes más débiles, como los materiales radiactivos o tubos de rayos X de baja
potencia, que son más baratos y en los que es menos probable que la radiación
cause daños en la muestra.
A continuación se detalla más estos instrumentos y todo lo referente a la
espectroscopia de rayos x.
1. ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X.
La espectroscopía óptica basada en la búsqueda de líneas características de
emisión y absorción dentro del espectro visible de la luz o inclusive fuera del
espectro visible (la espectroscopía en el infrarrojo y la espectroscopía en el
ultravioleta) no es el único tipo posible de espectroscopía. Hay otros tipos de
espectroscopías llevadas a cabo por otros medios que también permiten recabar
información valiosa acerca del átomo y las moléculas. Una de ellas, para cuyos
resultados se recurrió desde un principio al modelo atómico planetario de Bohr
para poder explicar las observaciones experimentales, es la espectroscopía de
rayos-X. Este tipo de espectroscopía se basa en bombardar una muestra de
material con electrones de alta energía, electrones capaces de producir rayos-X,
los cuales son generados dentro de un tubo de rayos-X en el cual se calienta un
filamento metálico hasta alcanzar el rojo vivo facilitando el desprendimiento de los
electrones del filamento mediante un proceso conocido como emisión termoiónica,
los cuales a su vez son acelerados con la ayuda de una fuente de alto voltaje
(típicamente por encima de los 20 mil voltios) para que impacten en el ánodo

CARACTERÍSTICAS.

1.1.1Características más importantes.

FLUORESCENCIA DE RAYOS X
 Aplicaciones principales: Análisis cualitativo general e inspección
semicuantitativo de todos los elementos de número atómico mayor de 5 (B);
análisis cuantitativo de precisión en especial de los mas pesados.
 Fenómeno atómico: Reemisión de rayos X de los átomos excitados
 Ventajas en el análisis cualitativo: General para todos los elementos de
número atómico mayor de 5; preparación mínima de la muestra.
  Ventajas en el análisis cuantitativo: General para todos los elementos de
número atómico mayor de 13 (Al), en algunos casos alta sensibilidad,
sencillez, preparación de la muestra mínima.
 Muestra promedio deseable: 500 mg (no destructivo)
 Limitaciones del método: Insensible a los elementos de número atómico
menor de 5, precisión limitada por la no uniformidad de la muestra
 Limitaciones para la muestra: Aplicable principalmente a sólidos y líquidos
no volátiles

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

 Aplicaciones principales: Identificación de compuestos sólidos, tamaño de

cristales,
 cambios de fase, cristalinidad.
 Fenómeno molecular: Difracción de rayos X por los planos de cristal
 Ventajas en el análisis cualitativo: Alta especificidad para sólidos cristalinos;
puede distinguir isómeros y diferentes estructuras hidratadas; específico
por compuesto.
 Ventajas en el análisis cuantitativo: Útil para cuantificar mezclas
 Muestra promedio deseable: 0.1 mg
 Limitaciones del método: La detección y la sensibilidad son dependientes
de la cristalinidad y del tamaño de los cristales.
 Limitaciones para la muestra: Aplicable a sólidos y polímeros cristalinos

1.1 FUNDAMENTOS BÁSICOS.

Los rayos X se definen como una radiación electromagnética de longitud de
onda corta. El intervalo de longitudes de onda de los rayos X va desde
aproximadamente 10-5 Å hasta alrededor de 100 Å; sin embargo, la
espectroscopía de rayos X convencional abarca la región de aproximadamente
0.1 Å a 25 Å. Cuando una radiación X o un chorro de electrones interacciona
 con la materia se producen una serie de procesos muchos de los cuales tienen
aplicación en el análisis químico.

se presentan esquemáticamente los más importantes. Excepto en la difracción de

rayos X las líneas horizontales representan los niveles energéticos

de los electrones del átomo sobre el que incide la radiación X o el haz de

electrones. El proceso primario que desencadena el efecto se representa en el
lado izquierdo.

Posteriormente se explican más detalladamente cada uno de los procesos

 Espectroscopía de emisión de Rayos X (XES): el haz electrónico primario

induce la salida de electrones de los niveles electrónicos internos,
emitiendo radiación X secundaria en la medida que los electrones de
niveles mas externos caen en los niveles internos vacantes.

 Espectroscopía de emisión de Rayos X (XES): el haz electrónico primario

induce la salida de electrones de los niveles electrónicos internos,
emitiendo radiación X secundaria en la medida que los electrones de
niveles mas externos caen en los niveles internos vacantes.

 Espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XFS): la radiación primaria

promueve la salida de electrones atómicos desde los niveles electrónicos
internos; a medida que los electrones de niveles mas externos caen a los
niveles internos vacantes se emite radiación X secundaria.
 Difracción de rayos X: los rayos X sufren difracción en los diferentes planos
de un cristal.
 Espectroscopía electrónica para el análisis químico (ESCA): los rayos X
primarios inducen la salida de electrones atómicos desde los niveles
electrónicos internos y se determina la energía de los electrones emitidos.
 Espectroscopía de emisión Auger (AES): la excitación con un haz de
electrones primarios induce la salida de electrones atómicos desde niveles
 electrónicos internos; cuando los electrones caen en los niveles internos
vacantes, por un proceso no radiatorio, el exceso de energía induce la
salida de electrones desde niveles mas externos (electrones Auger

1.2.1 EMISIÓN DE RAYOS X POR BOMBARDEO CON UN HAZ DE

ELECTRONES Cuando un conjunto de átomos son bombardeados por un haz de
electrones de elevada energía se producen rayos X. Al igual que los emisores del
ultravioleta y visible, los rayos X liberados producen un espectro continuo y otro
discontinuo (de líneas); ambos tipos tienen interés en análisis. La radiación
continua se llama también radiación blanca o Bremsstrahlung (que significa
radiación que pro viene de la desaceleración por partículas; esta radiación es
generalmente continua).

1.2.3 ESPECTROS CONTINUOS.

En un tubo de rayos X, los electrones producidos en un cátodo caliente son
acelerados hacia un ánodo metálico (el blanco) por un potencial del orden de los
100 kV; en la colisión, parte de la energía del haz de electrones se convierte en
rayos X.

En ciertas condiciones, únicamente se obtiene un espectro continuo

El espectro continuo que se muestra en las dos figuras se caracteriza por un

límite a longitud de onda corta bien definido (λo), que depende del potencial de
aceleración V pero es independiente del material del blanco. Así, la λo del
espectro producido por un blanco de molibdeno a 35 kV (Figura 6.2) es idéntica a
la λo para un blanco de tungsteno al mismo potencial (Figura 6.1).

La radiación continua de una fuente de haz de electrones es el resultado de las

colisiones entre los electrones del haz y los átomos del material del blanco. En
cada colisión, el electrón se desacelera y se produce un fotón de energía de rayos
X. La energía del fotón será igual a la diferencia entre la energía cinética del
electrón antes y después de la colisión. Generalmente, los electrones de un haz se
desaceleran en una serie de colisiones, y las pérdidas de energía cinética difieren
de una colisión a otraPor tanto las energías de los fotones de rayos X emitidos
varían de modo continuo en un intervalo considerable. La máxima energía del
fotón generada corresponde a la desaceleración instantánea del electrón hasta
una energía cinética cero en una única colisión.

Figura 1

Distribución de la radiación continua de un tubo de rayos X con un blanco de tungsteno.

 Figura 1.1

Espectro de líneas para un tubo con un blanco de molibdeno.

1.2.4

ESPECTROS DE LÍNEAS CARACTERÍSTICAS.

El bombardeo de un blanco de molibdeno produce líneas de emisión intensas
alrededor de 0.63 y 0.71 Å. Además una serie de líneas adicionales sencillas)
aparece en el intervalo de longitudes de onda más largo entre 4 y 6 Å.

El comportamiento del molibdeno como emisor es típico de todos los elementos

que tienen números atómicos superiores a 23; esto es, los espectros de líneas de
rayos X consisten en dos series de líneas. El grupo de longitud de onda más corta
se llama serie K y el otro serie L. Los elementos con números atómicos inferiores
a 23 dan sólo la serie K.

Una segunda característica de los espectros de rayos X es que el potencial de

aceleración mínimo necesario para la excitación de las líneas de cada elemento
aumenta con el número atómico. De este modo, el espectro de líneas para el
molibdeno (número atómico = 42) desaparece si el potencial de excitación es
inferior a 20 kV. el bombardeo de tungsteno (número atómico 74) no produce
líneas en la región de 0.1 a 1.0 Å, incluso a 50 kV. Sin embargo, las líneas K
características aparecen a 0.18 y 0.21 Á, si el potencial se aumenta hasta 70 kV.

Existe una relación lineal entre la raíz cuadrada de la frecuencia para una línea
dada (K o L) y el número atómico del elemento responsable de la radiación. Esta
relación fue descubierta por H. G. S. Moseley en 1914.

Los espectros de líneas de rayos X son el resultado de transiciones electrónicas

que implican a los orbitales atómicos más internos. Las series K de longitud de
onda más corta se producen cuando los electrones de más energía que provienen
del cátodo arrancan electrones de lo orbitales más cercanos al núcleo del átomo
del blanco. La colisión da lugar a la formación de iones excitados, los cuales
entonces emiten cuantos de radiación X cuando los electrones de los orbitales
externos sufren transiciones hacia el orbital vacío. Como se muestra en la Figura
6.3, las líneas de las series K implican transiciones electrónicas entre niveles de
elevada energía y la capa K. Las series de líneas L se producen cuando se pierde
un electrón del segundo nivel cuántico principal, como consecuencia de su
expulsión por un electrón del cátodo o de la transición de un electrón L a un nivel
K que produce un cuanto de radiación K. Es importante resaltar que la escala de 3
es logarítmica. Así, la diferencia de energía entre los niveles L y K es
significativamente mayor que entre los niveles M y L. Por tanto, las líneas K
aparecen a longitudes de onda cortas. Es también importante señalar que las
diferencias de energía entre las transiciones designadas por αl y α2 al igual que
aquellas entre β1 y β2 son tan pequeñas que sólo se observa una línea de
espectrómetros de mayor resolución

1.2.5 FLUORESCENCIA DE RAYOS X

La absorción de rayos X produce iones excitados electrónicamente que pueden
volver a su estado fundamental mediante transiciones que implican a los
electrones de los niveles de energía más altos. Así, cuando el plomo absorbe
radiación de longitudes de onda más corta que 0.14 A se produce un ión excitado
con una capa vacante K. Después de un breve período, el ion vuelve a su estado
fundamental a través de una serie de transiciones electrónicas caraterizadas por la
emisión de radiación X (fluorescencia) de longitudes de onda idénticas a las que
resultan de la excitación producida por bombardeo de electrones. Sin embargo, las
longitudes de onda de las líneas fluorescentes son siempre algo mayores que la
longitud de onda correspondiente a una discontinuidad de absorción, ya que la
absorción requiere la expulsión completa del electrón (ionización), mientras que la
emisión implica transiciones de un electrón desde un nivel de energía superior
dentro del átomo
1.2.6 DIFRACCIÓN DE RAYOS X .
La interacción entre el vector eléctrico de la radiación X y los electrones de la
materia por la que pasa da lugar a una dispersión de los rayos. Cuando los rayos
X son dispersados por el entorno ordenado de un cristal, tienen lugar
interferencias (tanto constructivas como destructivas) entre los rayos dispersados,
ya que las distancias entre los centros de dispersión son del mismo orden de
magnitud que la longitud de onda de la radiación.

El resultado es la difracción. La ley de Bragg. Cuando un rayo X alcanza la

superficie de un cristal a cualquier ángulo θ, una porción es dispersada por la capa
de átomos de la superficie. La porción no dispersada penetra en la segunda capa
de átomos donde otra vez una fracción es dispersada y la que queda pasa a la
tercera capa

1.2.7 EMISIÓN DE ELECTRONES POR RADIACIÓN X .

Un átomo o molécula, cuando es sometido a bombardeo con un haz de rayos X de
alta energía, produce una emisión de electrones a partir de los niveles internos de
los átomos de la muestra. Todos aquellos electrones cuyas energías de enlace
sean inferiores a la energía contenida en los rayos X de excitación serán
desalojados de la muestra. Las energías de enlace de electrones internos, Eb, se
pueden calcular con el uso de la siguiente expresión:

Eb = hv – Ek - Φ

donde Ek, es el valor de la energía cinética de los fotoelectrones emitidos, hv es la

energía de la radiación X incidente y Φ un factor corrector del entorno
electrostático del electrón. Las energías de enlace definen sin ambigüedad a cada
átomo específico.
1.2.8 EMISIÓN DE ELECTRONES AUGER.
Un átomo o molécula, cuando es sometido a bombardeo con un haz de rayos X de
alta
energía, produce una emisión de electrones a partir de los niveles internos de los
átomos
de la muestra. Todos aquellos electrones cuyas energías de enlace sean inferiores
a la
energía contenida en los rayos X de excitación serán desalojados de la muestra.
Las
energías de enlace de electrones internos, Eb, se pueden calcular con el uso de la
siguiente expresión:
Eb = hv – Ek - Φ
donde Ek, es el valor de la energía cinética de los fotoelectrones emitidos, hv es la
energía de la radiación X incidente y Φ un factor corrector del entorno
electrostático del
electrón. Las energías de enlace definen sin ambigüedad a cada átomo específico.

1.3.CARACTERÍSTICAS MÁS IMPORTANTES.

1.4 FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Los electrones se encuentran en el átomo distribuidos en los distintos niveles y
subniveles de energía. Los electrones se sitúan en estos niveles ocupando
primero aquéllos de menor energía hasta colocarse todos; a este estado de
mínima energía del átomo se le denomina estado fundamental.
Si ahora bombardeamos estos átomos con un haz de electrones o con fotones de
rayos X, una pequeña parte de la energía se invierte en la producción del espectro
característico de rayos X de los elementos quecomponen la muestra
bombardeada. El proceso de producción de este espectro característico
puedeesquematizarse del modo siguiente:
 Excitación: el choque de un electrón o fotón X incidente con un electrón de
las capas internas del átomo,produce la expulsión de dicho electrón
quedando el átomo en estado de excitado.
 Emisión: este átomo en estado excitado tiende a volver inmediatamente a
su estado fundamental, para lo cual se producen saltos de electrones de
niveles más externos para cubrir el hueco producido. En esteproceso hay
un desprendimiento de energía, igual a la diferencia de energía de los
 niveles entre los que seproduce el salto electrónico, en forma de radiación
electromagnética correspondiente a la región de rayos X.
 Posibilidades del método
Campo de aplicación. Es aplicable a cualquier elemento químico con número
atómico mayor de 4 (berilio), aunque en los espectrómetros comerciales
normalmente utilizados la zona de aplicación está limitada hasta el número
atómico 9 (flúor).
Espectro de rayos X. Muchas de las ventajas de esta técnica se derivan de la
relativa simplicidad del espectro de emisión de rayos X. En general, cada
elemento tiene unas pocas líneas (serie K: 2-3, L: 8-12, M: 2-6), muchas de las
cuales son de intensidad muy baja, y además cada serie aparece en zonas de
longitud de onda muy diferentes y localizadas. La posición de las líneas no
depende del tipo de compuesto en el que se encuentre el elemento (si
exceptuamos los 6-8 elementos de menor número atómico), ni por su estado
físico.
Interferencias espectrales entre líneas. Debido a la simplicidad del espectro de
rayos X, las interferencias espectrales (a no ser que exista un número muy
elevado de elementos, 30-40), son relativamente infrecuentes; en el caso de que
existan, hay muchas formas de evitarlas o corregirlas.
Efectos de absorción y refuerzo. Los elementos que se encuentran en la muestra
junto al que se desea determinar, pueden originar efectos de absorción y de
refuerzo de las líneas analíticas (efectos de matriz).
Estos efectos de matriz son los que más problemas causan a la hora de
determinar la concentración de un elemento, existiendo distintos métodos de
evitarlos y corregirlos, ya que son sistemáticos, previsibles y evaluables.
 Método no destructivo. Es un método de destructivo en el sentido en que la
muestra no sufre daños durante el análisis. Es, asimismo, no destructivo en
el sentido en que, frecuentemente, no es necesaria la toma de muestras; el
equipo puede ser dispuesto para acomodar objetos de grandes
dimensiones. Las muestras analizadas pueden volver a analizarse las
veces que se desee sin que sufran daños (muestras patrones, piedras
preciosas, pruebas judiciales, objetos de arte, antigüedades, etc.).
Existen ciertas limitación a este carácter no destructivo, ya que ciertos materiales
pueden deteriorarse cuando están sometidos durante largos pedidos a una intensa
radiación con rayos X. Así, determinados minerales, vidrios, cerámicas y otros
materiales inorgánicos pueden llegar a adquirir un color, normalmente pasajero,
distinto del original.
 Variedad de muestras. Existen pocos métodos analíticos que permitan tal
variedad de formas y tipos de muestras como la fluorescencia de rayos X.
 Las muestras pueden estar en forma de sólidos, pastillas, polvos, líquidos,
películas finas e incluso gases. El material puede ser metal, mineral,
cerámico, vidrio, plástico, tela, papel, o prácticamente cualquier tipo. La
forma y el tamaño pueden ser muy variables. El método puede ser aplicado
en condiciones especiales como altas y bajas temperaturas, atmósferas
especiales, etc.
 Rango de concentraciones. Es aplicable en un rango extremadamente
amplio de concentración y desde el 100% al 0,0001%, en los casos más
favorables. Es suficiente la construcción de una única recta de calibración
para todo el intervalo de concentraciones sin necesidad de dividirlo en
zonas.
 Sensibilidad. No se puede dar una norma general pues varía según el
elemento y el tipo de muestra. En general, es mayor cuanto mayor es el
número atómico del elemento a analizar y menores los números atómicos
de los elementos que forman la matriz.
Desventajas y limitaciones del método:
 Necesidad de patrones.
 Problemática de los elementos ligeros (menor de 14, Si). Absorción, baja
sensibilidad.
 Penetración baja - efectos de microheterogeneidad (tamaño de partículas y
textura de la superficie -variación de muestra a otra).
 Complejidad. Gran número de parámetros analíticos a controlar al
establecer la técnica analítica. Efectosde matriz (absorción y refuerzo).
 Error y tedio. En función del tipo de espectrómetro: secuencial, multicanal,
con ordenador (imprescindible para un análisis multielemental).
 Coste - muy elevado (20-30 millones pts.) y que requiere equipos
adicionales y accesorios caros.

1.5 DIFRACCIÓN DE RAYOS X .

La Difracción de Rayos X está basada en las interferencias ópticas que se

producen cuando una radiación monocromática atraviesa una rendija de espesor
comparable a la longitud de onda de la radiación. Los Rayos X tienen longitudes
de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatómicas de los
componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a
analizar, los Rayos X se difractan con ángulos que dependen de las distancias
interatómicas. El método analítico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste
en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales
colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley
de Bragg: nλ = 2d . senθ, en la que “d” es la distancia entre los planos
interatómicos que producen la difracción.

La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el

análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales,
polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de
capa fina, cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la
Difracción de Rayos X es la identificación cualitativa de la composición
mineralógica de una muestra cristalina

Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la

determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de
dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la
asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los
parámetros de la red.

Además, uno de los equipos de difracción que posee la unidad se puede

configurar para obtener las siguientes aplicaciones:

SAX. Esta función permite adquirir información sobre la estructura del material, por
ejemplo el tamaño y forma de las partículas.

Análisis de láminas delgadas. Mediante Reflectometria de rayos-X y Difracción de

Ángulo Rasante.

Microdifracción. Posibilidad de hacer análisis puntuales con una resolución de

100µm.
Análisis en Transmisión. Sin necesidad de montar capilares, la muestra se sitúa
entre dos láminas de mylar por lo que el volumen de muestra irradiado es más
elevado. En esta configuración se dispone de un espejo focalizador que garantiza
medidas de muy buena calidad y resolución.

Análisis en atmósfera y temperatura controladas (hasta 900ºC), para medidas de

cambios de fase y de composición.

 Equipamiento

Bruker D8-Advance con espejo Göebel (muestras no planas) con cámara de alta
temperatura (hasta 900ºC), con un generador de rayos-x KRISTALLOFLEX K
760-80F (Potencia: 3000W, Tensión: 20-60KV y Corriente: 5-80mA) provisto de un
tubo de RX con ánodo de cobre. Se dispone de la base de datos de la ICDD
(International Center for Diffraction Data)

Panalytical Empyrean equipo multifuncional para el análisis por difracción de rayos

X. El equipo en su configuración básica dispone de goniómetro con un tubo de
rayos X con cátodo de Cu Kα, y un detector PIXcel 3D. La configuración permite el
montaje de diferentes módulos (SAX, Reflectometría, etc.) de fácil instalación con
posiciones PreFix. El equipo posee además una cámara de reacción para análisis
de cambio de fase de los materiales durante su calentamiento hasta una
temperatura de 900°C. Se dispone de la base de datos de la ICDD (International
Center for Diffraction Data) y de la base de datos de la COD (Crystallography
Open Database) para determinación de minerales y compuestos.

Requisitos de las muestras

Las muestras deben entregarse adecuadamente etiquetadas,envasadas y

acondicionadas para asegurar su identificación,integridad y conservación durante
el transporte y garantizar la seguridad del personal que lo realiza.
Para un óptimo resultado, la muestra deberá ser una parte representativa y
homogénea del conjunto total a analizar.

Las cantidades de muestra necesarias para el análisis son:

Muestra molida: cantidad equivalente al contenido de una cucharilla de café, con

15 micras de tamaño medio de partícula.

 Muestra no molida: dimensiones compatibles con el portamuestras (4 cm de

diámetro y 0,6 cm de altura).

Para análisis por Reflectometría se necesita una muestra plana, adecuada para
este tipo de análisis (baja rugosidad -menos de 10 nm- y espesores inferiores a 1
µm) con dimensiones superiores a 1cm x 1cm.

En las medidas de SAX se requieren muestras con morfología de partículas

homogénea (esféricas, cilíndricas, etc), es decir, no se pueden analizar muestras
polimorfas. El análisis es para determinar tamaños de partículas de entre 10 y 100
nm.

 Cámara caliente.

Muestra molida: cantidad equivalente al contenido de una cucharilla de café, con

15 micras de tamaño medio de partícula.

Muestra no molida: dimensiones compatibles con el portamuestras (1,4 cm de

diámetro y 0,1 cm de altura).

 Incidencia Rasante. Muestras planas con dimensiones superiores a 1cm x

1cm.
 Microdifracción. Muestras sólidas (no pulverulentas) según morfología.
 El análisis por transmisión está dirigido a muestras peligrosas y muestras
sensibles al medio ambiente, poco absorbentes o transparentes a la
radiación (compuestos orgánicos, farmacéuticos, etc).
2. COMPONENTES DE LOS INSTRUMENTOS
Los instrumentos que se utilizan en las aplicaciones analíticas que utilizan rayos X
contienen componentes similares a los utilizados en medidas espectroscópicas
ópticas; una fuente, un dispositivo para seleccionar la longitud de onda, un soporte
para la muestra un detector de radiación, un procesador de la señal y un
dispositivo de lectura. Estos componentes difieren considerablemente de los
ópticos, pero sus funciones son las mismas, así como la manera como se
combinan para formar un instrumento.

2.1. FUENTES: EL TUBO DE RAYOS X

Se conoce como “tubo de rayos X” al lugar físico donde se genera esta radiación
electromagnética, mediante un proceso en el cual los electrones acelerados son
frenados al colisionar contra un material blanco.
Un tubo de rayos X convencional, como el que se muestra en la Figura 1a, está
compuesto básicamente por un ánodo y un cátodo alojados en una cavidad donde
se ha practicado vacío. Esta cavidad suele ser una ampolla de vidrio y el proceso
de producción de rayos X se da al emerger electrónes del cátodo e impactar en el
ánodo.

Figura 1.2: Tubo de rayos X clásico.

Un tubo de rayos X puede ser dibujado esquemáticamente como se muestra en la Figura 1.3
Como se puede observar, las partes principales de un tubo de rayos X incluyen:
→ Ánodo
→ Cátodo
→ Generador de diferencia de potencial
→ Generador de corriente
→ Ampolla con vacío

2.1.2 ÁNODO
El ánodo es el material (blanco) contra el que chocan los electrones para producir
rayos X, normalmente de wolframio. Se llama mancha focal al área del ánodo en
la que impactan los electrones procedentes del cátodo. La mayoría de la energía
de los electrones se convierte en calor y sólo el 1% se convierte en rayos X.
Puesto que el calor se distribuye uniformemente sobre la mancha focal, cuanto
más grande sea esta mayor cantidad de calor podrá acumular antes de que llegue
a producirse un daño en el ánodo. Sin embargo, cuanto mayor sea el área del foco
menor detalle podremos observar en las radiografías. Este conflicto se resolvió
dando una inclinación a la superficie anódica de modo que forme un ángulo con la
perpendicular al plano de incidencia del haz. Este ángulo difiere de unos tubos a
otros y puede variar de 6 a 20º.
Debido a esta angulación, cuando
la superficie inclinada de la
mancha focal es vista desde la
dirección en la cual los rayos
emergen del tubo de rayos X, la
superficie parece menor, o, dicho
de otro modo, el tamaño del foco
efectivo o aparente es
considerablemente menor que el
del foco real

Figura 1.3.1

Cuanto menor sea el ángulo del ánodo, menor será el tamaño del foco aparente.
Algunos tubos modernos utilizan un ángulo anódico de sólo 6º. El empleo de
ángulos tan pequeños permite aumentar el área sometida al impacto de los
electrones (y, por tanto, el área disponible para la disipación de calor),
manteniendo un tamaño de foco aparente muy pequeño. Sin embargo, a efectos
prácticos, hay un límite por debajo del cual no conviene disminuir más el ángulo
del ánodo que viene dictado por el efecto talón, del cual se hablará más adelante.
 Para radiografías de diagnóstico
general realizadas a distancias
foco-receptor de imagen de
alrededor de 1 m, el ángulo anódico
no suele ser inferior a 15º.
La forma y tamaño de la mancha
focal vienen determinados por la
forma y tamaño de la corriente de
electrones cuando ésta impacta
sobre el ánodo; a su vez, dichas
corrientes dependen de las
dimensiones del filamento, de la
copa focalizadora y de
Figura 1.4

la posición del filamento en la misma. Los tamaños de foco aparente comúnmente

usados son de 0,1, 0.3, 0.6, 1.2 y 1.5 mm.
Los ánodos pueden ser de dos tipos: estacionarios o rotatorios.
El ánodo estacionario consiste en una pequeña placa rectangular de wolframio de
2 a 3 mm de espesor embebida en una masa de cobre. Se utiliza wolframio como
material para el ánodo por varios motivos:
1. Tiene un alto número atómico (Z = 74) que lo hace más eficiente para la
producción de rayos X, es decir, tiene una alta emisividad termoiónica
2. Debido a su alto punto de fusión (3370º C), es capaz de soportar las altas
temperaturas producidas en el proceso de generación de RX, y
3. Es un material razonablemente bueno desde el punto de vista tanto de la
absorción de calor como de la disipación del mismo.
Sin embargo, a pesar de sus buenas propiedades térmicas, el wolframio no es
capaz de soportar el calor producido por exposiciones repetidas. El cobre es mejor
conductor del calor, con lo que aumenta la capacidad térmica total del ánodo y su
velocidad de enfriamiento, de ahí que se emplee también en la construcción del
ánodo.
El ánodo rotatorio (Fig. 4) consiste en un disco, en general de wolframio o aleación
de wolframio que rota teóricamente a una velocidad de unos 3600 rpm en el
momento de la exposición. Dicho disco tiene un borde inclinado, al igual que el
ánodo estacionario. El propósito del ánodo rotatorio es distribuir el calor producido
durante una exposición sobre un área anódica mayor. Debido a la inercia que
presenta el disco a la rotación, existe un pequeño retraso entre la aplicación de la
fuerza y el momento en que el rotor alcanza la máxima velocidad angular. Este
período normalmente varía entre 0.5 y 1 s. En los tubos existe un circuito de

seguridad que impide realizar una exposición hasta que el rotor ha alcanzado su
máxima velocidad.

2.1.3 FILTROS
Los filtros son capas de material metálico que se colocan a la salida del haz de
rayos X y absorben parte de la radiación que sale del tubo a través de la ventana,
fundamentalmente la radiación de baja energía. Dicha radiación de baja energía
no contribuye a la formación de la imagen ya que, dado su bajo poder de
penetración no es capaz de atravesar al paciente por completo para llegar al
receptor de imagen, pero en cambio sí aumenta la dosis al paciente.
Por tanto, si mediante filtros eliminamos parte de esos rayos X, conseguiremos
impartir menores dosis en piel sin afectar a la calidad de imagen.
La filtración inherente es el resultado de la absorción de los fotones de rayos X en
su paso a través del envoltorio de vidrio que recubre el cátodo y el ánodo, el aceite
aislante y la ventana del blindaje. La filtración inherente se mide en milímetros
equivalentes de aluminio, que representan el espesor de aluminio que produciría
el mismo grado de atenuación que el espesor del material en cuestión. La filtración
inherente normalmente varía entre 0.5 y 1 mm de Al.
La filtración añadida es aquella producida por absorbentes colocados a la salida
del haz de rayos X. La atenuación es más intensa cuando la interacción
predominante es el efecto fotoeléctrico y disminuye cuando aumenta la interacción
Compton. La energía de la radiación filtrada del haz puede regularse
seleccionando un material con número atómico apropiado.
Los materiales comúnmente seleccionados en radiodiagnóstico son el aluminio y
el cobre. El aluminio, con número atómico 13 es un filtro excelente para radiación
de baja energía y un buen filtro de propósito general. El cobre, con número
atómico 29 es un filtro más adecuado para radiación de alta energía. El cobre se
usa siempre en combinación con aluminio y el objeto de introducir el cobre es
reducir el espesor de filtrado. En un filtro compuesto de dos materiales, el material
con más alto número atómico se sitúa más cercano al foco de rayos X y el de
menor número atómico más cercano al paciente. En el caso del Al-Cu la mayor
filtración ocurre en el cobre, mientras que el papel del aluminio es absorber la
radiación característica producida en el cobre. La radiación característica
producida en el aluminio es de energía tan baja que se absorbe en el aire situado
entre filtro y paciente.
El espesor de filtro que debe ser añadido a un haz de rayos X depende de la
mínima tasa de exposición y calidad que se desea obtener en el haz. La tasa de
exposición disminuye a medida que el haz se endurece y, por tanto, debe hallarse
un compromiso entre ambos factores. Después de añadir un cierto espesor de
filtro a un haz de rayos X, la filtración adicional puede reducir la tasa de exposición
sin aumentar su calidad significativamente. Un espesor de 2 mm de Al es
suficiente para absorber el 82% de los fotones de energías inferiores a 20 keV.
Por tanto, la mayoría de las ventajas de la filtración se consiguen con este
espesor. Una filtración excesiva causaría una disminución global del haz,
principalmente por absorción de fotones de alta energía, ya que todos los fotones
de baja energía son absorbidos por las primeras capas de material. La calidad del
haz no se ve alterada significativamente, pero su intensidad disminuye mucho.
Esto hace que el tiempo necesario para realizar una exposición aumente y, por
tanto, aumente también la probabilidad de que el paciente se mueva durante el
estudio.

2.1.4 MONOCROMADORES
En muchos métodos espectroscópicos e requiere variar en forma continua la
longitud de onda de la radiación en un intervalo amplio. Este proceso se llama
barrido del espectro; los monocromadores están diseñados para realizar esto.
Todos los monocromadores para radiación ultravioleta, visible e infrarroja son
similares en cuanto a su construcción mecánica porque usan ranuras, lentes,
espejos, ventanas y redes o prismas.
→ Componentes. Entre ellos están una ranura o rendija de entrada que
proporciona una imagen óptica rectangular; una lente o espejo colimador que
produce un haz paralelo de radiación; un prisma o una red que dispersa la
radiación en las longitudes de onda que la componen; un elemento de enfoque
que reforma la imagen de la ranura de entrada y la enfoca sobre una superficie
plana denominada plano focal y una rendija de salida en el plano focal que aísla la
banda espectral deseada. Además de los elementos que impiden la entrada de
suciedad o polvo que genere desviaciones en el haz.
→ Rendijas. Las aberturas o rendijas de un monocromador desempeñan un
papel importante en la determinación de las características y la calidad del
funcionamiento del mismo. Las mordazas de la rendija están formadas por dos
piezas de metal cuidadosamente maquinadas que dan lugar a dos bordes afilados.
Ambos bordes deben estar paralelos entre sí y en el mismo plano. En algunos
monocromadores, las aberturas de las dos rendijas están fijas, pero lo más común
es que la separación entre ellas se pueda ajustar con un mecanismo micrométrico.
→ La rendija de entrada de un monocromador funciona como una fuente de
radiación; su imagen se enfoca en última instancia en el plano focal que contiene
la rendija de salida. Si la fuente de radiación consta de algunas longitudes de
ondas discretas, aparece una serie de imágenes rectangulares en esta superficie
como líneas brillantes, y cada una corresponde a cierta longitud de onda. Se
puede enfocar una línea particular en la rendija de salida haciendo girar el
elemento dispersor.
→ Los colimadores, como ya se ha dicho, son elementos que se encargan de
dar dirección al haz, con ellos se busca que todos los haces que inciden sobre los
elementos ópticos, sobre la muestra y finalmente al detector sean paralelos entre
sí.
→ Elementos dispersores. Hay dos tipos de dispersores en los
monocromadores, a saber, redes y prismas de reflexión. Para ilustrar su función
se considera un haz que emerge de la rendija de entrada constituido por dos
longitudes de onda λ1 y λ2 (λ1 > λ2). Esta radiación se alinea y luego choca contra
la superficie del elemento dispersor a un cierto ángulo. En el monocromador de
red, la dispersión angular de las longitudes de onda es el resultado de la
difracción, la cual se presenta en la superficie reflectora; en cuanto al prisma, la
refracción en las dos caras da como resultado una dispersión angular de la
radiación. En ambos diseños, la radiación dispersada se enfoca en el plano focal
formado por la rendija de salida, allí aparece como dos imágenes rectangulares de
la rendija de entrada λ1 y λ2. Al girar el elemento dispersor, una banda o la otra se
puede enfocar en la rendija de salida.
Los monocromadores antiguos eran casi todos instrumentos con prismas. En la
actualidad, casi todos los que están disponibles en el comercio se basan en redes
de reflexión porque son más baratas de fabricar, proporcionan mejor separación
de longitudes de onda y dispersan la radiación en forma lineal a lo largo del plano
focal.
La dispersión lineal quiere decir que la posición de una banda a lo largo del plano
focal (rendija de salida) para una red varía en forma lineal con su longitud de onda.
Por lo que se refiere a los instrumentos con prismas, las longitudes de onda más
pequeñas se dispersan a un grado mayor que las más grandes, lo cual complica el
diseño del instrumento.
Los prismas se pueden utilizar para dispersar radiación UV, visible e infrarroja. El
material que se usa para construirlos es distinto, pues depende de la región de
longitud de onda.
La dispersión de la radiación ultravioleta, visible e infrarroja se puede lograr
dirigiendo un haz policromático a través de una red de transmisión o sobre la
superficie de una red de reflexión. La segunda es, por mucho, la opción más
común. Las redes réplica, que se usan en la mayor parte de los monocromadores,
se manufacturan a partir de una red maestra. Esta es una superficie dura,
ópticamente plana, pulimentada con una gran cantidad de hendiduras paralelas
muy cercanas entre sí, hechas con una herramienta de diamante.
Una red para la región UV y visible tiene casi siempre de 300 a 2000
hendiduras/mm, y lo más común son 1200 a 1400. La manufactura de una buena
red maestra es tediosa, requiere mucho tiempo y es cara porque las hendiduras
tienen que ser de tamaño idéntico, exactamente paralelas y la separación entre
ellas debe ser la misma en toda la red (3 a 30 centímetros).
Las redes réplica se forman a partir de una red maestra por medio de un proceso
de vaciado con resina líquida con lo que conserva virtualmente perfecta la
exactitud óptica de la red original sobre una superficie de resina transparente. Por
lo regular, esta superficie se hace reflectora mediante un revestimiento de aluminio
o, a veces, de oro o de platino.
La red denominada de difracción de escalerilla, está constituida por hendiduras o
marcas de tal modo que tiene caras relativamente anchas desde las cuales hay
reflexión y caras angostas que no se unas. Esta geometría proporciona una
difracción de la radiación muy efectiva, y la función de las marcas es concentrar la
radiación de una dirección preferida. Cada una de las caras anchas se puede
considerar como una fuente de líneas de radiación, por consiguiente, puede haber
interferencia entre los rayos reflejados. Para que la interferencia sea constructiva
se requiere que las longitudes de la trayectoria difieran por un múltiplo entero n de
la longitud de onda λ del rayo incidente. nλ = d(sen i + sen r).
Esta ecuación hace pensar que hay varios valores de λ para un ángulo de
difracción dado r. Entonces, si una línea de primer orden (n = 1) de 900 nm se
encuentra en r también aparecen en este ángulo líneas de segundo orden (450
nm) y de tercer orden (300 nm). Por lo regular, la línea de primer orden es la más
intensa.
Las redes se pueden formar sobre una superficie cóncava de la misma manera
que en una superficie plana. Una red cóncava facilita el diseño de un
monocromador sin espejos o lentes auxiliares colimadores y de enfoque porque la
superficie cóncava además de dispersar la radiación la enfoca en la rendija de
salida. Esta disposición ofrece ventajas respecto al costo; además, la reducción en
la cantidad de superficies ópticas aumenta la energía en la totalidad del
monocromador.
Las redes holográficas están presentes cada vez más en los instrumentos ópticos
modernos, incluso en los más baratos. En la preparación de estas redes los haces
provenientes de un par de rayos láser idénticos son dirigidos con ciertos ángulos
aceptables sobre una superficie de vidrio preparada con un recubrimiento
fotográfico. Las franjas de interferencia resultantes provenientes de los dos rayos
sensibilizan el recubrimiento fotográfico de modo que puede ser disuelto, lo que
deja una estructura en bajorrelieve que se puede cubrir con aluminio u otra
sustancia reflectora para producir una red de reflexión. La separación de las
hendiduras se puede modificar cambiando entre sí el ángulo de los dos rayos
láser. Con este procedimiento se pueden fabricar redes grandes (~50 cm) casi
perfectas, de hasta 6000 líneas/mm a un costo relativamente bajo. Al igual que
con las redes rayadas, se pueden obtener por vaciado redes réplica a partir de
una red holográfica modelo. Al parecer, no hay prueba óptica que pueda distinguir
entre una red modelo y una red holográfica reproducida.
→ Rendija de salida. Cuando la radiación dispersada choca con la rendija
de salida que esta ajustado para una determinada longitud de onda λ'' y tanto la
rendija de entrada como la de salida tienen la misma anchura.
La imagen de la rendija de entrada llena justo la rendija de salida. El
desplazamiento del monocromadora un ajuste de λ' y λ''' da como resultado que la
imagen se mueva y quede completamente fuera de la rendija.
El ancho de banda efectivo de un monocromador depende de la dispersión de la
red o del prisma, así como de la anchura de las rendijas de entrada y de salida. La
mayor parte de los monocromadores contiene rendijas variables de modo que el
ancho de banda efectivo se pueda modificar. Se recomienda usar la anchura
mínima de rendija cuando se debe resolver bandas de absorción o de emisión
angostas. Por otro lado, la potencia radiante disponible disminuye de manera
notable cuando las rendijas son angostas, y se vuelve más difícil medir con
exactitud la potencia. Por consiguiente, se pueden usar anchuras de rendijas de
salida más amplias para análisis cuantitativo y no para el trabajo cualitativo, en el
que son importantes los detalles del espectro.
2.2. DETECTORES DE RAYOS X

2.2.1. DETECTORES DE GAS

Cuando la radiación X pasa a través de un gas inerte como el argón, xenón o
criptón, tienen lugar interacciones que producen un gran número de iones
positivos y de electrones (pares iónicos) por cada fotón de rayos X.
En la Figura 5 se muestra esquemáticamente un detector de gas típico. Cada
fotón de rayos X puede interaccionar con un átomo de argón, causando la pérdida
de uno de sus electrones externos. Este fotoelectrón tiene una elevada energía
cinética, y pierde el exceso ionizando algunos de los cientos de átomos
adicionales de gas. Bajo la influencia de un potencial aplicado, los electrones
móviles migran hacia el ánodo central mientras que los cationes que se mueven
más despacio son atraídos hacia el cátodo cilíndrico de metal. El efecto del
potencial aplicado sobre el número de electrones que alcanza el ánodo de un
detector por cada fotón que entra difiere según la región característica en que se
encuentra. En la Figura 6 se representa las diferentes zonas de amplificación
gaseosa, que se corresponden con diferentes tipos de detectores rellenos de gas.
De ellos el contador proporcional es el que se utiliza en espectrometría de rayos X
ya que tiene alta sensibilidad, son útiles para contar con rapidez extremadamente
alta (50000-200000 cuentas/s) y es posible utilizar la discriminación por amplitud
de pulsos ya que el número de electrones por impulso (la altura del impulso)
producido depende directamente de la energía (y por tanto de la frecuencia) de la
radiación. La vida de este contador prácticamente es ilimitada ya que el gas de
llenado se cambia continuamente.
3. MÉTODOS DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Aunque es posible obtener un espectro de emisión de rayos X si se incorpora la
muestra en la zona del blanco de un tubo de rayos X, esta técnica no es nada
conveniente para muchos tipos de materiales. En su lugar, la excitación se
consigue irradiando la muestra con un haz de rayos X procedente de un tubo de
rayos X o de una fuente radiactiva. Con esta técnica, los elementos de la muestra
se excitan como consecuencia de la absorción del haz primario y emiten sus
propios rayos X fluorescentes característicos. Por esta razón, este procedimiento
se denomina correctamente método de fluorescencia de rayos X o método de
emisión de rayos X. Se trata de una herramienta eficaz para las determinaciones
cuantitativas rápidas de todos los elementos, excepto los más ligeros. Además, se
le usa para la identificación cualitativa de elementos cuyos números atómicos son
mayores que el del oxígeno (>8) y a menudo se usa para los análisis elementales
semicuantitativos o cuantitativos. Una ventaja particular de dicho método es que
no se tiene que destruir la muestra, en comparación con la mayoría de las otras
técnicas de análisis elemental.

3.1 INSTRUMENTOS
Diversas combinaciones de los componentes de los instrumentos que se trataron
en la sección anterior originan los dos tipos principales de espectrómetros:
instrumentos de fluorescencia de rayos X dispersores de longitudes de onda y los
de fluorescencia de rayos X dispersores de energía.
3.1.1 INSTRUMENTOS DISPERSORES DE LONGITUDES DE ONDA
Los instrumentos que dispersan las longitudes de onda siempre contienen tubos
como fuente debido a las enormes pérdidas de energía que hay cuando el haz de
rayos X es colimado y dispersado en las distintas longitudes de onda que lo
componen. Las fuentes radiactivas producen fotones de rayos X a una velocidad
menor que 10-4 en comparación con un tubo de rayos X; la atenuación que añade
el monocromador generaría un haz difícil o imposible de detectar y medir con
exactitud.

Los instrumentos que dispersan longitudes de onda son de dos tipos, de un solo
canal o secuencial y multicanal o simultáneo. El espectrómetro es un instrumento
secuencial que se puede utilizar con facilidad para el análisis por fluorescencia de
rayos X. En este tipo de instrumento, el tubo de rayos X y la muestra están
acomodados. Los instrumentos de un solo canal pueden ser manuales o
automáticos. Los primeros proporcionan resultados satisfactorios en la
determinación cuantitativa de algunos elementos. Para esta aplicación, el cristal y
el transductor se colocan formando ángulos adecuados (0 y 20) y el conteo se
lleva a cabo de forma continua hasta que se hayan acumulado suficientes cuentas
para dar resultados precisos. Los instrumentos automáticos son mucho más
adecuados para el análisis cualitativo, que requiere el barrido de un espectro
completo. En estos aparatos, los movimientos del cristal y del detector están
sincronizados y la señal de salida de este último está conectada a un sistema de
adquisición de datos.

Los espectrómetros de un solo canal más modernos están equipados con dos
fuentes de rayos X. Por lo regular, una tiene un blanco de cromo para las
longitudes de onda más largas y la otra un blanco de tungsteno para las más
cortas. En el caso l >2 Å, es necesario eliminar el aire que haya entre la fuente y el
detector mediante una bomba de vacío o por desplazamiento con un flujo continuo
de helio. En este tipo de instrumento la dispersión de cristales tiene que ser
también fácil. Los instrumentos de un solo canal cuestan más de 50 000 dólares.
Los instrumentos multicanal de dispersión son equipos grandes y caros (>$150
000 dólares) que permiten detectar y determinar de manera simultánea hasta 24
elementos. En estos aparatos los canales individuales constan de un cristal
adecuado y de un detector, y están distribuidos en forma radial alrededor de la
fuente de rayos X y del portamuestra. Los cristales para todos o para la mayoría
de los canales están fijos, formando un ángulo apropiado respecto a una
determinada línea del analito; en algunos instrumentos se pueden mover uno o
más cristales para permitir un barrido del espectro.

En un instrumento multicanal, cada transductor contiene su propio amplificador, un

selector de alturas de pulso, un escalador y un contador o integrador. Estos
instrumentos están equipados con una computadora que controla el instrumento,
la organización de los datos y el despliegue de los resultados analíticos. Una
determinación de 20 o más elementos se puede terminar en pocos segundos o
pocos minutos.

Los instrumentos multicanal se usan ampliamente para determinar diversos

componentes en materiales industriales como aceros, otras aleaciones, cementos,
minerales y productos del petróleo. Tanto los instrumentos de un solo canal como
los de múltiples canales tienen la aptitud de manipular muestras en forma de
metales, sólidos pulverizados, películas evaporadas, líquidos puros o disoluciones.
Si es necesario, los materiales se colocan en una cubeta con una ventana de
Mylar o de celofán.
3.1.2 INSTRUMENTOS DISPERSORES DE ENERGÍA
Un espectrómetro de fluorescencia de rayos X que dispersa la energía consta de
una fuente policromática, que puede ser un tubo de rayos X o un material
radiactivo, un portamuestras, un detector semiconductor y diversos componentes
electrónicos necesarios para discriminar la energía.

Una ventaja obvia de los sistemas dispersores de energía es la sencillez y

ausencia de partes móviles en los componentes de excitación y detección del
espectrómetro. Además, la ausencia de colimadores y de un cristal difractor, así
como la cercanía entre el detector y la muestra, incrementa 100 veces o más la
energía que llega al detector. Estas características permiten usar fuentes más
débiles, como los materiales radiactivos o tubos de rayos X de baja potencia, que
son más baratos y en los que es menos probable que la radiación cause daños en
la muestra. En general, el precio de los instrumentos dispersores de energía es de
cuatro a cinco veces menor que el de un sistema dispersor de longitudes de onda.

En la figura se ilustra la cabeza de sensores del explorador enviado a Marte en

2004. La cabeza contiene una fuente de curio 244 que emite rayos X y partículas
alfa de 5.81 MeV. Los rayos X causan fluorescencia en las muestras de roca de
Marte, y las partículas alfa estimulan también la emisión de rayos X. La emisión de
rayos X estimulada por el bombardeo con partículas alfa y otras partículas
subatómicas como los protones se llama emisión de rayos X inducida por
partículas. El detector de rayos X es de un tipo nuevo que funciona a temperatura
ambiente, que en la baja temperatura de la noche marciana (por debajo de -40 °c)
produce poco ruido y una alta relación señal ruido, con lo que se tiene resolución y
sensibilidad excelentes. Observe el diseño concéntrico de la cabeza de sensores
con seis fuentes de cm-244 acomodados alrededor del detector central. El
espectro de rayos X de la figura se logró con dicha cabeza.

En un instrumento multicanal dispersor de energía todas las líneas de rayos X

emitidas se miden de ma- nera simultánea. El incremento de la sensibilidad y el
mejoramiento de la relación señal-ruido son el resultado de la ventaja Fellgett.
El principal inconveniente de los sistemas dispersores de energía, si se comparan
con los espectrómetros de cristal, es su resolución más baja a longitudes de onda
superiores a 1 Å. Por otra parte, a longitudes de onda más cortas, los sistemas
dispersores de energía manifiestan una resolución superior.

La figura 12.15a es una fotografía de un instrumento de fluorescencia de rayos X

dispersor de energía, básico, comercial, que se puede colocar sobre una mesa. Se
utiliza en la determinación de rutina de una amplia gama de elementos, desde el
sodio hasta el uranio en muestras provenientes de muchos procesos industriales.

Figura 1.5

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersor de energía. La excitación mediante rayos X desde a)un tubo de rayos
X y b) una sustancia radiactiva (curio 244, una partícula alfa de 5.81 MeV y una fuente de rayos X) como Se muestra en la
cabeza de sensores del espectrómetro de rayos X de protones y partículas alfa para las misiones a Marte. El detector de
rayos X es un nuevo tipo que trabaja a temperatura ambiente.
Espectro de rayos X que se obtuvo en Marte junto con los componentes del modelo de desconvolución. Los principales
picos característicos de los elementos (líneas Ka) están señaladas y las líneas Kb no lo están.

Figura 1.6
 3.2 ANÁLISIS CUALITATIVO
Y SEMICUANTITATIVO

En la figura se ilustra un
espectro que se obtuvo
mediante un instrumento que
dispersa energía. Con dicho
equipo, la abscisa está
calibrada generalmente en
número de canal o energía
en keV. Cada punto
representa el número de
conteos acumuladas en uno
de los varios cientos de canales.

Figura 1.7

La información cualitativa, se puede transformar en datos semi-

cuantitativos mediante la medición cuidadosa de las alturas de los picos.

Para obtener un cálculo aproximado de la concentración, se utiliza la siguiente

relacion:

Px= PsWx

donde Px es la intensidad relativa de la línea medida en términos del número de

conteos en un periodo fijo y Wx es la fracción en peso del elemento que se desea
en la muestra. El término Ps es la intensidad relativa de la línea que se observaría
en idénticas condiciones de conteo si Wx fuera la unidad. El valor Ps se determina
con una muestra del elemento puro o con una muestra patrón de composición
conocida.

Al utilizar la ecuación, como se señala en el párrafo anterior, se supone que la

emisión de la especie de interés no resulta afectada por la presencia de otros
elementos en la muestra. Ya se verá que esta suposición no se puede justificar.
Como consecuencia, la concentración calculada podría tener un error de un factor
igual o superior a dos. Por otro lado, esta incertidumbre es significativamente
menor que la asociada con un análisis semicuantitativo por emisión óptica en el
que son comunes los errores de un orden de magnitud

3.2.1 ANÁLISIS CUANTITATIVO

Los instrumentos modernos de fluorescencia de rayos X son capaces de efectuar
análisis cuantitativos de materiales complejos con una precisión igual o mayor que

Figura 1.8

a) Espectrómetro MiniPal 4 de fluorescencia de rayos X para mesa, en el que se muestra una base giratoria
desmontable hasta para 12 muestras. b) Diagrama en el que se ilustra la fuente de rayos X, la rueda del filtro,
el detector y la base giratoria para las muestras, visto todo desde abajo. c) Espectro de fluorescencia de rayos
X de una muestra de arroz. Las zonas sombreadas bajo las curvas son proporcionales a la cantidad de cada
elemento en la muestra. d) Curva de calibración que se obtuvo con nueve muestras de arroz. Las zonas
integradas de espectros similares al de c) se grafican contra las concentraciones certificadas de hierro en las

muestras.

la de los métodos químicos clásicos por vía húmeda o la de otros métodos

instrumentales. Sin embargo, para que la exactitud de los análisis alcance este
nivel es necesario disponer de patrones de calibración que se parezcan lo más
posible a las muestras, tanto en su composición química como física, o bien, de
métodos adecuados para enfrentar los efectos de la matriz.

3.3.EFECTOS DE LA MATRIZ
Es importante tener en cuenta que los rayos X producidos en un proceso de
fluorescencia se generan no sólo a partir de los átomos de la superficie de una
muestra, sino también de aquellos que están abajo de la superficie. Por tanto, una
parte de la radiación incidente y del haz fluorescente resultante atraviesan un
cierto espesor de la muestra en el que puede tener lugar absorción y dispersión. El
grado de atenuación de ambos haces depende del coeficiente de absorción de
masa del medio, el cual a su vez se determina a partir de los coeficientes de
absorción de todos los elementos de la muestra. Entonces, aunque la intensidad
neta de una línea que llega al detector en una medición de fluorescencia de rayos
X depende de la concentración del elemento que produce la línea, también la
afectan la concentración y los coeficientes de absorción de masa de los elementos
de la matriz.

Los efectos de absorción que ocasiona la matriz pueden hacer que los resultados
calculados a partir de la ecuación sean más altos o más bajos. Si, por ejemplo, la
matriz contiene una cantidad importante de un elemento que absorbe el haz
incidente o el emitido más fuertemente que el elemento por determinar, entonces
Wx será bajo, porque Ps se calcula con un patrón en el que la absorción es más
pequeña. Por otro lado, si los elementos de la matriz de la muestra absorben
menos que los del patrón, resultarán valores más altos de Wx.
Un segundo efecto causado por la matriz es el llamado efecto de intensificación
que también puede dar resultados mayores que lo esperado. Este comportamiento
se observa cuando la muestra contiene un elemento cuyo espectro de emisión
característico es excitado por el haz incidente y dicho espectro, a su vez, produce
una excitación secundaria de la línea analítica.

Se han perfeccionado varias técnicas para compensar los efectos de absorción y

de intensificación en los análisis por fluorescencia de rayos X.

3.3.1CALIBRACIÓN CON PATRONES EXTERNOS

En este caso, la relación entre la intensidad de la línea analítica y la concentración
se determina de modo empírico con un grupo de patrones que se aproximen
mucho a la muestra en cuanto a su composición global. Luego se supone que los
efectos de absorción y de intensificación son idénticos para la muestra y los pa-
trones, y se usan los datos empíricos obtenidos para convertir los datos de
emisión en concentraciones. El grado de compensación que se alcanza por esta
vía

depende de la similitud entre las muestras y los pa- trones.

3.3.2USO DE PATRONES INTERNOS

En este procedimiento se introduce un elemento a una concentración conocida y
fija, tanto en las muestras como en los patrones de calibración; el elemento
añadido no debe estar presente en la muestra original. La relación de las
intensidades entre el elemento por de- terminar y el patrón interno es la variable
analítica. En este caso se supone que los efectos de absorción y de
intensificación son iguales para las dos líneas, y que el uso de la relación de
intensidades compensa estos efectos.
3.3.3DILUCIÓN DE LA MUESTRA Y DE LOS PATRONES
Tanto la muestra como los patrones se diluyen con una sustancia que absorbe
muy poco los rayos X, es decir, contiene elementos cuyos números atómicos son
bajos. Entre los ejemplos de tales diluyentes están el agua; disolventes orgánicos
que sólo contienen carbono, hidrógeno, oxígeno y nitrógeno; almidón; carbonato
de litio; alúmina, y ácido bórico o vidrio de borato. Cuando se utiliza un exceso de
diluyente, los efectos de la matriz llegan a ser constantes en esencia para las
muestras y los patrones diluidos, y se alcanza una compensación adecuada. Este
procedimiento es muy útil para el análisis de minerales, en el que tanto las
muestras como los patrones se disuelven en bórax fundido; después de enfriarse,
la masa fundida se excita de la manera usual.
4 . MÉTODOS DE ABSORCIÓN DE RAYOS X
A diferencia de la espectroscopía óptica, en la que los métodos de absorción
tienen gran importancia, las aplicaciones de la absorción de rayos X son limitadas
si se las compara con los procedimientos de emisión y de fluorescencia de rayos
X. Las mediciones de absorción se puedan efectuar relativamente libres de los
efectos de la matriz, pero las técnicas son un poco engorrosas y requieren más
tiempo que los métodos de fluorescencia. Por ello, la mayoría de las aplicaciones
se restringen a muestras en las que los efectos de la matriz son mínimos.

Los métodos de absorción son parecidos a los procedimientos ópticos de esta

naturaleza en los que la atenuación de una banda o una línea de radiación X es la
variable analítica. La selección de la longitud de onda se lleva a cabo con un
monocromador, o bien, por medio de una técnica de filtración. Otra opción es
utilizar la radiación monocromática de una fuente radiactiva.

Debido a la anchura de los picos de absorción de rayos X, los métodos de

absorción directa son útiles sólo cuando se requiere determinar un único elemento
con un número atómico alto en una matriz que consta sólo de elementos más
ligeros. Entre los ejemplos de este tipo de aplicaciones está la determinación del
plomo en gasolinas o la de azufre y halógenos en hidrocarburos.
5. METODOS DE DIFRACCION DE RAYOS X.
Al igual que los otros tipos de radiación electromagnética, cuando la radiación x
atraviesa una muestra de materia, el vector eléctrico de la radiación interactúa con
los electrones de los átomos de la materia para producir difusión . Cuando los
rayos X son difundidos por el entorno ordenado de cristal, hay interferencias tanto
constructivas como destructivas entre los rayos dispersados porque las distancias
entre los centros de difusión son del mismo orden de magnitud que la longitud de
onda de la radiación. La difracción es el resultado. La dirección de rayos x es uno
de los métodos más importantes para identificar las estructuras de productos
naturales complejos, como esteroides, vitaminas y antibióticos.

La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el

análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales,
polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de
capa fina, cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la
Difracción de Rayos X es la identificación cualitativa de la composición
mineralógica de una muestra cristalina

Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la

determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de
dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la
asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los
parámetros de la red.

5.1IDENTIFICACION DE COMPUESTOS CRISTALINOS

reparación de la muestra

Para los estudios analíticos de difracción, la muestra cristalina se disuelve hasta

obtener un polvo fino homogéneo. Ya en polvo, los números cristalitos están
orientados en todas las direcciones posibles y, por tanto cuando un haz de rayos x
los atraviesa, se puede esperar que una cantidad importante de partículas este
orientada de tal manera que cumpla la condición de Bragg de la reflexión desde
todas las posiciones interplanares posibles.

Por lo regular, las muestras se colocan en el porta muestra, que contiene una
cavidad en dónde se acomoda la muestra. Estos recipientes están hechos de
aluminio, bronce, vidrio o lucita. La muestra se introduce desde un lado o desde
atrás. Se coloca una superficie de vidrio esmerilado, cerámica o cartón en el
frente, y la maestra se introduce con cuidado por el lado abierto o por la parte de
atrás. También se e puede cargar la muestra por arriba cuando son montajes
especiales conocidos como montaje de fondo acero. Otra posibilidad es mezclar
un espécimen con un aglutinante no cristalino adecuado y darle una forma
apropiada.

IDENTIFICACIÓN DE LAS FIGURAS DE DIFRACCIÓN

El fenómeno de difracción se produce cuando un haz de radiación

electromagnética se desvía ligeramente de su trayectoria. ... La ley de Bragg
relaciona el ángulo de desviación con la longitud de onda del haz incidente y el
tamaño de la rendija, provocando la separación de las radiaciones de distintas
longitudes de onda.

MONOCROMADORES: DISPERSIÓN DE LONGITUD DE ONDA.

El monocomador consta de un par de colimadores del haz que tienen la misma

finalidad que las rendijas en un instrumento óptico. Hay también un elemento
dispersor. Este último es un monocristal instalado sobre un goniómetro o placa
giratoria que permite variar y determinar en forma precisa el ángulo u formado por
la cara del cristal y el haz incidente colimado.

La función primordial del monocromador es proporcionar un haz de energía

radiante con una longitud de onda y una anchura de banda dada. La salida
espectral de cualquier monocromador usado como una fuente de radiación
continua, independientemente de su distancia focal y anchura de rendijas, consiste
en una gama de longitudes de onda con un valor promedio de longitud que se
presenta en el indicador del monocromador. La función secundaria consiste en el
ajuste del rendimiento de energía. El flujo lumínico que emerge de la rendija de
salida puede variarse ajustando el ancho de la rendija, sin embargo, esta
dimensión también controla la anchura de banda espectral.

Los requisitos básicos de los monocroma dores son: simplicidad de diseño,

resolución, gama espectral, pureza de la radiación de salida y poder de dispersión.

El funcionamiento de un monocromador comprende tres factores relacionados: la

resolución, el poder de captación de la luz y el poder de dispersión. La resolución
depende de la dispersión y perfección en la formación de imagen, mientras que la
pureza está denominada principalmente por la cantidad de luz dispersa.

5.1.2 DETECTORES DE RAYOS X

Un tipo de detector de rayos X es la película fotográfica, aunque existen muchos
otros tipos de detectores que se utilizan para producir imágenes digitales. Las
imágenes de rayos X que resultan de este proceso se llaman radiografías.

Hay tres tipos principales de detectores, que registran diferentes tipos de señales.

Contador; La actividad o intensidad de la radiación se mide en conteos por

segundo (cps). El contador más conocido es el contador Geiger-Müller. En los
contadores de radiación, la señal generada a partir de la radiación incidente se
crea contando el número de interacciones que ocurren en el volumen sensible del
detector.

Espectrómetro de radiación . Los espectrómetros son dispositivos diseñados para

medir la distribución de potencia espectral de una fuente. La radiación incidente
genera una señal que permite determinar la energía de la partícula incidente.

Dosímetro . Un dosímetro de radiación es un dispositivo que mide la exposición a

la radiación ionizante. Los dosímetros generalmente registran una dosis, que es la
energía de radiación absorbida medida en grises (Gy) de la dosis equivalente
medida en sieverts (Sv). Un dosímetro personal es un dosímetro, que la persona
que está monitoreando usa en la superficie del cuerpo, y registra la dosis de
radiación recibida.

EMULSIONES FOTOGRÁFICAS

Una emulsión fotográfica es una fina capa sensible a la luz sobre un soporte como
cristal, celulosa o poliéster. La emulsión fotográfica es la base de una película o
placa fotográfica.

En realidad no se trata de ninguna emulsión sino más bien una suspensión, una
colmatación de finos cristales sensibles a la luz repartidos en una gelatina, por
tanto un gel. Sin embargo el término emulsión, aunque erróneo, quedó
generalizado. Esos cristales sensibles a la luz son conocidos como sales o haluros
de plata.

Tras la exposición a la luz los cristales suficientemente iluminados se transforman

en plata metálica, y los demás todavía en forma de sales serán lavados
(eliminados) durante el proceso de fijación quedando así la emulsión estabilizada.
Éste es el principio del negativo.

Aunque los cristales de plata son sensibles a la luz, no lo son a toda la gama
cromática sino sólo a la de onda más corta, es decir a los tonos azules. Para hacer
una emulsión sensible a todo el espectro electromagnético visible, se recubren las
partículas con unos tintes moleculares que captan fotones y los envían a los
cristales.

En película de color y diapositiva se emplea un proceso más complejo de distintas

capas de emulsiones sensibles a distintas longitudes de onda separadas por filtros
de colores. De modo que la primera capa recibe la luz azul, debajo se encuentra
un filtro amarillo que permite el paso de las restantes longitudes de ondas y la
siguiente emulsión que al no ser sensible al rojo solo recogerá los tonos verdes,
luego otro filtro rojo para la tercera emulsión que es sensible a éste color
5.1.3. DETECTORES DE GAS
Un detector de gases es un aparato que detecta en el aire la existencia de un gas
nocivo, probablemente debido a una fuga. Cuando este gas alcanza una
determinada concentración considerada tóxica, el aparato produce una señal
óptica y acústica a modo de aviso para que las consecuencias de la fuga sean
mínimas.

En algunos modelos de detectores de gases existe la función de realizar un corte

en el suministro del gas inmediatamente después de descubrir la fuga. La única
manera de volver a ponerlo en funcionamiento es de forma manual y con esto
aseguramos, en primer lugar, que la fuga se detenga y, con ella, la concentración
de gas que puede dar lugar a incendios, explosiones o intoxicaciones, y en
segundo lugar, que la reparación se haga correcta y rápidamente

5.1.4 CONTADORES DE CENTELLEOS

Un contador de centelleo o detector de centelleo es un detector de radiación que
utiliza el efecto conocido como centelleo . El centelleo es un destello de luz
producido en un material transparente por el paso de una partícula (un electrón,
una partícula alfa, un ion o un fotón de alta energía). El centelleo ocurre en el
centellador, que es una parte clave de un detector de centelleo. En general, un
detector de centelleo consiste en:

Un centellador genera fotones en respuesta a la radiación incidente.

Foto detector . Un foto detector sensible (generalmente un tubo fotomultiplicador

(PMT), una cámara con dispositivo de carga acoplada (CCD) o un fotodiodo), que
convierte la luz en una señal eléctrica y electrónica para procesar esta señal.
El principio básico de funcionamiento implica que la radiación reacciona con un
centellador, que produce una serie de destellos de intensidad variable. La
intensidad de los destellos es proporcional a la energía de la radiación. Esta
característica es muy importante. Estos contadores son adecuados para medir la
energía de la radiación gamma ( espectroscopia gamma ) y, por lo tanto, pueden
usarse para identificar isótopos emisores de rayos gamma.

5.2 DETECTORES DE SEMICONDUCTOR

Un detector de semiconductores es un detector de radiación que se basa en un
semiconductor , como el silicio o el germanio, para medir el efecto de partículas o
fotones cargados incidentes. En general, los semiconductores son materiales,
inorgánicos u orgánicos, que tienen la capacidad de controlar su conducción
dependiendo de la estructura química, la temperatura, la iluminación y la presencia
de dopantes. El nombre semiconductor proviene del hecho de que estos
materiales tienen una conductividad eléctrica entre la de un metal, como cobre,
oro, etc. y un aislante, como el vidrio.

El funcionamiento de los detectores de semiconductores se resume en los

siguientes puntos:

La radiación ionizante ingresa al volumen sensible del detector e interactúa con el

material semiconductor.

La partícula que pasa a través del detector ioniza los átomos del semiconductor,
produciendo los pares de electrones . El número de pares de electrones es
proporcional a la energía de la radiación al semiconductor. Como resultado, se
transfieren varios electrones desde la banda de valencia a la banda de
conducción, y se crea un número igual de agujeros en la banda de valencia.

Bajo la influencia de un campo eléctrico, los electrones y los agujeros viajan a los
electrodos, donde producen un pulso que se puede medir en un circuito externo,
Este pulso lleva información sobre la energía de la radiación incidente original. El
número de tales pulsos por unidad de tiempo también proporciona información
sobre la intensidad de la radiación

5.2.1 INSTRUMENTACIÓN AUXILIAR

La instrumentación auxiliar consta de dispositivos y hardware que permite medir,
controlar o calcular, y que son necesarios para el funcionamiento eficaz de los
instrumentos primarios o secundaria.

5.2.3 ANALIZADORES DE ALTURAS DE IMPULSOS.

El analizador de altura de pulsos consta de dos discriminadores, uno para pulsos
más altos que un cierto límite y otro para aquellos más pequeños que una cierta
medida dada. La diferencia de energía entre el límite superior y el inferior es
llamada la "ventana" del analizador.
6. LEY DE MOSELEY Y LEY DE BRAGG
Lo que sigue a continuación son citas tomadas del segundo papel del trabajo
original de Moseley:

1. Cada elemento del aluminio al oro está caracterizado por un entero Z que
determina su espectro de rayos-X. Cada detalle en el espectro de un elemento
puede por lo tanto ser predicho de los espectros de sus vecinos.

2. Este entero Z, el número atómico del elemento, es identificado con el número

de unidades positivas de electricidad contenidas en el núcleo atómico.

3. Los números atómicos de todos los elementos del Al al Au han sido tabulados
sobre la suposición de que Z para el Al es 13.

4. El orden de los números atómicos es el mismo que el de los pesos atómicos,

excepto en donde el último esté en desacuerdo con el orden de las propiedades
químicas.

5. Elementos conocidos corresponden con todos los números entre 13 y 79

exceptuando tres. Hay posiblemente tres elementos que aún no han sido
descubiertos.

6. La frecuencia de cualquier línea en el espectro de rayos-X es aproximadamente

proporcional a A(Z-b)², en donde A y b son constantes.

Antes del trabajo pionero de Moseley, el número atómico Z era simplemente el

número del lugar de cada elemento en la tabla periódica de Mendeleiev
acomodados según su masa. Ya desde antes se sabía que el número atómico Z
de cada elemento era aproximadamente igual a la mitad de la masa atómica
(relativa) del elemento. Los experimentos llevados a cabo por Geiger y Marsden
demostraron que la carga nuclear era aproximadamente igual a la mitad de la
masa atómica relativa, mientras que los experimentos de esparcimiento del
científico inglés Charles Barkla demostraron que el número de los electrones en
un átomo era también igual a la mitad de la masa atómica relativa del elemento.
Sin embargo, había discrepancias en la tabla periódica de los elementos al estar
acomodados según su masa, y varios de los elementos parecían estar fuera de
lugar. Un ejemplo es el del dieciochavo elemento según la masa (después del
cloro), el potasio, con masa atómica relativa igual a 39.102, y el diecinonavo
elemento, el gas argón, con masa atómica relativa igual a 39.948. El acomodo
según la masa pone al potasio en la columna que corresponde a los gases nobles
o inertes, y pone a la vez al gas argón con los metales activos, algo contrario a sus
propiedades químicas conocidas. Moseley demostró que para que estos
elementos pudieran ser acomodados dentro de la línea recta que corresponde a la
raíz cuadrada de la frecuencia, √ f graficada contra el número Z, el número Z para
el argón tenía que ser 18 y para el potasio tenía que ser 19. Acomodando a los
elementos de acuerdo al número Z obtenido de la gráfica de la ley de Moseley y
no de acuerdo a su masa produjo una tabla periódica en completo acuerdo con las
propiedades físicas y químicas conocidas de los elementos. Por otro lado, antes
del trabajo de Moseley, el níquel, cuyo masa atómica es de 58.69, se había
anotado en la tabla periódica antes que el cobalto, cuya masa atómica es 58.94, y
se creía que los números atómicos del níquel y del cobalto eran 27 y 28,
respectivamente. Utilizando sus datos experimentales, Moseley demostró que
tanto el ordenamiento como los correspondientes números atómicos deberían
invertirse.

Figura 1.9

Ley de Bragg

Bragg se dio cuenta que los rayos X dispersados por todos los puntos de la red en
un plano (hkl) debían estar en fase para que las ecuaciones de Laue se vieran
sastisfechas y aún más, la dispersión a partir de sucesivos planos (hkl) debían
estar así mismo en fase. Para una diferencia de fase igual a cero las leyes de la
simple reflexión deben mantenerse para un plano sencillo y la diferencia de
camino para reflexiones de planos sucesivos debe ser un número entero de
longitudes de onda.

Figura 2

En la figura presentada arriba se ve como un haz incidente es difractado por dos

planos sucesivos hkl con espaciado interplanar dhkl. La diferencia de camino
recorrido por los dos haces de planos sucesivos viene dada por la ecuación

AB+BC = 2dhkl sen θ,

y de ahí la condición para que la difracción sea máxima:

2dhkl sen θ = nλ
Bragg encontró que las trayectorias de difracción en los cristales podían explicarse
como si hubieran producido por reflexión de rayos X por planos hkl, pero sólo
cuando la ecuación se satisface.

La mayor aplicación de la ley de Bragg se encuentra en la interpretación de

diagramas de difracción de rayos X de cristales completamente pulverizados
(diagramas de polvo). A partir del método de difracción del polvo se determinan los
parámetros de la red y en algunos casos las estructuras cristalinas a partir de las
intensidades de difracción.
DISCUSIÓN

Se estableció el concepto general de la espectrometría de rayos X, XPS o ESCA

(Espectroscopía Electrónica para Análisis Químico) la cual es un conjunto de
técnicas espectroscópicas para la determinación de la estructura electrónica de
materiales mediante el uso de excitación por rayos X.

La popularidad de esta técnica deriva del alto contenido de información que

suministra y la flexibilidad para ser utilizada en una gran variedad de muestras.

La técnica XPS se cataloga dentro de las técnicas analíticas de espectroscopías

electrónicas, denominadas de este modo porque se miden electrones.

El más básico análisis XPS de una superficie puede proporcionar información

cualitativa y cuantitativa de todos los elementos presentes, excepto H y He. Con
aplicaciones más sofisticadas de la técnica se obtiene información detallada de la
química, organización y morfología de la superficie.

La gran potencia de esta herramienta de trabajo se vislumbra en las siguientes

aplicaciones, realizadas en los primeros 10 nm de una superficie:

- Identificación de todos los elementos presentes (excepto H, He) en

concentraciones mayores al 0.1%.

- Determinación semicuantitativa de la composición elemental de la superficie

(error < ± 10 %).

- Información acerca del entorno molecular: estado de oxidación,átomos

enlazantes, orbitales moleculares, etc.

- Información sobre estructuras aromáticas o insaturadas a partir de las

transiciones Π* → Π.
- Información de grupos orgánicos utilizando reacciones de derivatización.

- Variaciones laterales en la composición de la superficie.

Interacción de la radiación X sobre la materia.

Para conocer la técnica XPS se ha de comprender el efecto fotoeléctrico y de

fotoemisión.

Cuando un fotón se encuentra con un átomo puede ocurrir:

→ Que pueda atravesarlo sin interacción alguna

→ Que sea dispersado por un electrón de un orbital atómico con lo

→ Que ocurre una pérdida de energía.

→ Que el fotón interaccione con electrón de un orbital atómico con una

transferencia total de la energía del fotón hacia el electrón, ocurriendo la emisión
del electrón del átomo

Los rayos X se definen como una radiación electromagnética de longitud de onda

corta. El intervalo de longitudes de onda de los rayos X va desde
aproximadamente 10-5 Å hasta alrededor de 100 Å; sin embargo, la
espectroscopía de rayos X convencional abarca la región de aproximadamente 0.1
Å a 25 Å
CONCLUSIÓN

Finalmente la longitud de onda mínima que se logre, la longitud más energética.

Depende del potencial que se aplique a al fuente primaria, en otra palabras,
depende de la energía cinética que alcance el electrón que arranca el átomo a la
sustancia que genera la radiación x.

La difracción de rayos x(desvío del ángulo del haz incidente producto de la

geometría del analito) solo sirve para determinar estructuras tanto atómica como
de sus cristales o granos del analito y no para fines cuantitativos.

Las señales en espectroscopia de rayos x dependen en gran parte del numero de

fotones captados por los detectores, y de esto depende las mediciones
cuantitativas por estos métodos.
PERSPECTIVAS

En perspectiva, La espectroscopia de rayos X es un término general para varias

técnicas espectroscópicas para la caracterización de materiales mediante el uso
de la excitación por rayos X.

En general, la espectroscopia es la ciencia del estudio de la interacción entre la

materia y la energía radiada, mientras que la espectrometría es el método utilizado
para adquirir una medición cuantitativa del espectro. La espectroscopia (scopy
significa observación ) no genera ningún resultado. Es el enfoque teórico de la
ciencia. La espectrometría (metry significa medición ) es la aplicación práctica
donde se generan los resultados. Es la medición de la intensidad de la radiación
utilizando un dispositivo electrónico. A menudo, estos términos se usan
indistintamente, pero cada espectrometría no es espectroscopia (por ejemplo,
espectrometría de masas.
TABLA DE CONTRIBUCIONES
BIBLIOGRAFIA

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