UNIVERSIDAD NACIONAL DEL ALTIPLANO

FACULTAD DE INGENIERÍA CIVIL Y ARQUITECTURA

ESCUELA PROFESIONAL CIENCIAS FÍSICO MATEMÁTICAS

PROYECTO DE INVESTIGACIÓN PARA OPTAR EL TÍTULO

DE LICENCIADO EN Cs. FÍSICO MATEMÁTICAS

ANÁLISIS ESPECTRAL DE
Lemna spp “LENTEJA DE AGUA”
POR FLUORESCENCIA DE RAYOS X
EN REFLEXIÓN TOTAL

Presentado por el Bachiller:

Guido Quispe Lima

PUNO PERÚ
2010
ii

Guido Quispe Lim @.

Índice general

I. INTRODUCCIÓN V

1. Datos generales 1
1.1. Titulo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.2. Tesista . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.3. Director . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.4. Asesor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.5. Área de investigación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.6. Lugar de ejecución . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

2. Plan de investigación 3
2.1. Planteamiento y definición del problema . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
2.1.1. Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
2.1.2. Justificación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
2.1.3. Hipótesis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2.1.4. Antecedentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2.2. Marco teórico conceptual . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.3. Fı́sica de Rayos X . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.3.1. Propiedades de los Rayos X . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.3.2. Ecuación Fundamental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3.3. Producción de Fluorescencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3.4. Atenuación de Radiación en la Materia . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3.5. Principios del Análisis por Fluorescencia de Rayos X . . . . . . . . 12
2.4. Análisis por Reflexión Total de Rayos X . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.4.1. Desarrollo del Método . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.4.2. Parámetros Caracterı́sticos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.4.3. Diseño Experimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.4.4. Caracterı́sticas del Substrato y de la Muestra . . . . . . . . . . . . 15
2.4.5. Ventajas y Aplicaciones del Método de Reflexión Total . . . . . . . 17

3. Metodologı́a 19
3.1. Precisión del método de estudio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
3.2. Precisión de la Técnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19

iii
iv ÍNDICE GENERAL

4. Cronograma de Actividades 21
4.1. Actividades principales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
4.2. Recursos de la investigación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
4.2.1. Recursos Humanos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
4.2.2. Recursos Materiales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

VII. BIBLIOGRAFÍA 23

Guido Quispe Lim @.

 INTRODUCCIÓN

En este trabajo se lleva a cabo un estudio sobre ‘Análisis Espectral de Lemna

spp “Lenteja de Agua” por Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total’. La
caracterización de elementos quı́micos de Lemna spp “Lenteja de Agua” producida por
la contaminación y otros factores en el lago Titicaca de la ciudad de Puno, resulta de
gran importancia, tanto para la identificación de los factores que originan el crecimiento
contaminante de Lemna spp “Lenteja de Agua”. El estudio con este método es utilizada
para determinar concentraciones de elementos quı́micos en diversos tipos de muestras [1,
2, 3]. El análisis de la composición de la muestra mediante la medición de un espectro
de Fluorescencia de Rayos X (XRF) se lleva a cabo en diversas áreas de investigación
como biologı́a, medicina, control ambiental, geologı́a, por nombrar algunas [4, 5, 6]. Es
un método de alta precisión, con la ventaja de ser no destructivo en la mayorı́a de las
aplicaciones y de poder preparar la muestra de manera simple. Radica en la existencia de
un sistema atómico con distintos niveles de energı́a y las posibles transiciones electrónicas
entre ellos. La base del método de Fluorescencia de rayos-X (XRF) por dispersion en lon-
gitud de onda (WDXRF, abreviatura del inglés wavelength dispersive X-ray fluorescence),
es la medida de la energı́a de la radiación emitida en éstas transiciones energéticas y es
conocida como fluorescencia de rayos-X.

Sin embargo, el método de análisis por fluorescencia de rayos X no resultan adecuadas

para campos de aplicación que requieren métodos analı́ticos de alta sensibilidad. Uno
de sus puntos débiles es el lı́mite de detección, siendo de varios ppm. Por esta razón,
surgen las técnicas no convencionales que buscan principalmente confinar el volumen de
excitación del haz de rayos X incidente en la muestra.

Uno de estos métodos es el análisis por reflexión total de rayos X (TXRF). Mediante
este método se irradia una superficie ópticamente plana y suave (que puede cumplir la fun-
ción de porta muestra o bien ser el objeto a analizar) con ángulos de incidencia rasantes,
menores al ángulo crı́tico para el cual se produce reflexión total en la superficie. De esta
manera, se logra excitar a la muestra con el haz incidente y el reflejado, prácticamente
duplicando la intensidad de la radiación incidente. Además, hay una baja profundidad
de penetración de los rayos X incidentes en el substrato, por lo cual el mismo práctica-
mente no contribuye al fondo del espectro. El método de reflexión total tiene una notable
aplicación para análisis multielemental de trazas en soluciones lı́quidas [7], puesto que en
este método son utilizadas cantidades muy pequeñas de muestras (menores que 10µl de
muestras lı́quidas y evaporadas o menores que 10µg de muestras sólidas) depositadas en
un soporte, de manera a formar un filamento muy fino contando con la ventaja de la fácil
preparación de las muestras. También resulta adecuada para análisis superficial directa-
mente sobre una muestra sólida [8]. Permite medidas de densidad, rugosidad y espesores
de láminas [9, 10]. Una reciente aplicación de la radiación de sincrotrón en TXRF es el es-
tudio no destructivo del perfil de concentraciones en profundidad [11]. Este procedimiento
se basa en el estudio de la emisión fluorescente realizando un barrido angular alrededor
vi ÍNDICE GENERAL

del ángulo crı́tico.

Centrandonos a su descripción y caracterización. Una vez estandarizadas para ser

utilizadas en condiciones de reflexión total, analizaremos muestras de tipo ambiental y
botánico, describiendo estas aplicaciones en la ciudad de Puno Lago Titicaca (en las aguas
y lentejas). Puesto que el análisis por reflexión total resulta un dispositivo muy eficiente
para el análisis, logrando resultados exactos y muy sorprendentes.

Guido Quispe Lima

Guido Quispe Lim @.

Capı́tulo 1

Datos generales

1.1. Titulo
Análisis Espectral de Lemna spp “Lenteja de Agua” por el Método de
Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total

1.2. Tesista
Bachiller: GUIDO QUISPE LIMA

1.3. Director
Licenciado: MATÍAS HUILLCA ARBIETO

1.4. Asesor
Licenciado: VICTOR ROMAN SALINAS

1.5. Área de investigación

• Fı́sica Moderna

• Rayos-X

1.6. Lugar de ejecución

• Universidad Nacional del Altiplano - Puno, E.P. de Ciencias Fı́sico Matemáticas.

• Laboratorio de TXRF (IPEN - LIMA)

1
2 1.6. Lugar de ejecución

Guido Quispe Lim @.

Capı́tulo 2

Plan de investigación

2.1. Planteamiento y definición del problema

Según[26]: Lemna spp “Lenteja de Agua”, es un macrófito de distribución cosmopoli-
ta, habitat libre y flotante sobre la superficie de los lagos, pantanos y cursos de aguas
muy lentas, es perenne y aparentemente abundante. Para algunos corrientes cientı́ficas,
la “Lenteja de Agua” es un problema debido a que causa desequilibrio ecológico puesto
que no permite el ingreso de los rayos solares hacia la zona bentónica, alterando la orga-
nización de los componentes bióticos de la laguna del Malecón y Orillas del lago Titicaca;
para otros entendidos esta especie contribuye favorablemente en la descontaminación de
las aguas residuales debido a su gran capacidad para la absorción de nutrientes tales como
fósforo y nitrógeno.

El método de fluorescencia de rayos X (XRF) ha sido utilizada para la evaluación

cuali-cuantitativa de la composición quı́mica en varios tipos de muestras, de interés
agropecuario, agroindustrial, botánico, geológico y ambiental. Esta técnica, por ser no
destructiva e instrumental, permite el análisis de varios elementos simultáneamente, de
modo rápido y con bajo costo, tiene un elevado potencial de aplicaciones en varias áreas,
donde hay necesidad de correlación entre los elementos esenciales y tóxicos. Este trabajo
tiene por objetivo una introducción a la fluorescencia de rayos X (XRF) y una de las
variantes principales: por reflexión total (TXRF).

El problemas fundamental nace de la contaminación que viene produciendo la “Lente-

ja de Agua”, por su rápido crecimiento de esta especie. Por estas razones el método de
Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total (TXRF) tiene como objetivo analizar la
composición mineral de muestras de agua del Lago Titicaca y la Lemna spp “Lenteja de
Agua” para estudiar la calidad y poder detectar fuentes de contaminación. La composición
del agua depende de diversos factores, entre ellos la actividad industrial desarrollada a lo
largo de los rı́os que contaminan este Lago; las cloacas y fábricas instaladas arrojan sus
desechos al Lago, el cual provee de agua a la población indigente. La importancia de este
estudio radica en que la calidad del agua que debe ser pura y sin contaminación ya que
es un asunto muy importante para el crecimiento de la “Lenteja de Agua” contaminando
el agua del Lago Titicaca. Puesto que el agua es un recurso primordial para la población

3
4 2.1. Planteamiento y definición del problema

y los animales que habitan en ella, de ingreso de metales al organismo.

Este método consiste en excitar estas muestras, este tiene que excitar los electrones del
nivel interno de los átomos, y como consecuencia de esto, estos electrones de los niveles
de energı́a mayores realizan un salto cuántico para llenar la vacancia. Cada transición
electrónica constituye una perdida de energı́a para el electrón, esta energı́a es emitida
en la forma de un fotón de rayo X, de energı́a caracterı́stica y bien definida para cada
elemento. Ası́, de modo resumido, el análisis por fluorescencia de rayos X consiste de tres
fases: excitación de los elementos que constituye la muestra, dispersión de los rayos X
caracterı́sticos emitidos por la muestra y detección de esos rayos X. Entonces planteamos
la siguiente pregunta ¿podrá el método de Florescencia de Rayos X en Reflexión Total
(TXRF) hacer el Análisis Espectral de Lemna spp “Lenteja de Agua” de la Bahı́a del lago
Titicaca?

2.1.1. Objetivos
Objetivo general
Hacer un Estudio del Análisis Espectral de Lemna spp “Lenteja de Agua” con el
Método de Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total.

Objetivo especifico
Desarrollar la teorı́a de Fı́sica de Rayos X

Desarrollar la teorı́a del método de Reflexión Total de Rayos X.

Aplicación del método de Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total (TXRF): en

la Lemna spp“Lenteja de Agua” abundante en la bahı́a del Lago Titicaca.

2.1.2. Justificación
A lo largo del tiempo se an planteado diversos tipos de soluciones para frenar el
crecimiento contaminante de la Lemna spp “Lenteja de Agua”, esto a generado muchas
inquietudes de solución de partes de las autoridades del local e instituciones publicas y
privadas logrando simplemente evitar el crecimiento y mas no desaparecer la Lemna spp
“Lenteja de Agua” en su totalidad, la “Lenteja de Agua” da una mala imagen al malecón
Eco Turı́stico de Puno y la Bahı́a. Por tanto proponemos una alternativa de estudio y
análisis con el método de Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total (TXRF) aplicado
a la Lemna spp “Lenteja de Agua”.

¿ Por que usar este método para el análisis de muestras?; es demás manifestar que
es un método muy eficaz, sencillo y de muy fácil de preparación de las muestras puesto
que considerables esfuerzos se han realizado para superar y mejorar el método de análisis
de fluorescencia de rayos X (XRF), alcanzándose un notable progreso cuando en 1971

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 5

Yoneda y Horiuchi utilizaron en análisis por XRF el fenómeno de reflexión total (descu-
bierto por Compton en 1930), dirigiendo un haz de rayos X sobre una superficie pulida
de cuarzo con ángulos de incidencia menores al ángulo crı́tico. Cantidades del orden de
los 10 − 9 gramos fueron detectadas por primera vez utilizando un detector dispersivo en
energı́a [12]. Posteriormente surgieron nuevos trabajos, destacándose autores como Aigin-
ger y Wobrauschek [13] quienes presentaron las primeras aplicaciones y describieron los
principios fı́sicos y considerables aportes como los de Klockenkämper, Schwenke, Prange
y Knoth al desarrollar un equipo de alta estabilidad [14]. El análisis por reflexión total de
rayos X (TXRF) difiere del análisis por fluorescencia convencional (XRF) en dos aspectos
fundamentales [15]:

El haz incide sobre una superficie plana y suave que cumple la función de porta
muestras (substrato reflector) o bien es el objeto a analizar.

El haz primario incide sobre la muestra con un ángulo rasante menor al ángulo
crı́tico para el cual se produce la reflexión total en el substrato reflector (el ángulo
se mide desde la interface).

Diferencias notables se observan en lo referente a la preparación y tipo de muestra,

a la calibración, al análisis de datos y a la detección. Hay componentes básicas que son
comunes a ambos métodos, como la fuente de rayos X, el detector dispersivo en energı́a y
los dispositivos electrónicos para el análisis de los datos.

2.1.3. Hipótesis
Es posible hacer el estudio de Lemna spp “Lenteja de Agua” por el método de análisis
de Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total en la bahı́a del Lago Titicaca.

2.1.4. Antecedentes
Tenemos instituciones publicas (La UNA - PUNO Facultades a fin) y privadas traba-
jando por dar una correcta solución al crecimiento de la Lemna “Lenteja de Agua” sin
embargo hasta el momento no se ha podido solucionar de manera definitiva al problema
de la “Lenteja de Agua”. El Método de Fluorescencia de Rayos X en Reflexión Total es
mas eficiente y eficaz en la obtención de medidas y resultados, que es estudio de nuestro
trabajo de investigación para lo cual nos sostenemos a los recientes estudios realizados
hasta el momento, que son los siguientes:

De[28]: La investigación “Determinación de Activadores Quı́micos y Capacidad de

Adsorción de Carbon Activado Obtenido a Partir de Lemna spp “Lenteja de Agua” y
Schoenoplectus “Totora”.” desarrollado durante el año 2002, en laboratorios de la UNA-
PUNO; tuvo como objetivo obtener carbon activado y probar su capacidad de adsorción,
ası́ como comparar dos activadores quı́micos.

De acuerdo con[26]: La Bahı́a de los Incas es contaminado por diversos factores, para
lo cual era fundamental determinar tres puntos fundamentales a) Evaluar la biomasa de

Guido Quispe Lim @

6 2.1. Planteamiento y definición del problema

Lemna spp “Lenteja de Agua” existente en la Bahı́a de los Incas, b) determinar el análisis
proximal de Lemna spp “Lenteja de Agua” y c) determinar los factores fı́sico - quı́micos
del agua del Malecón Eco Turı́stico.

De[27]: En las ultimas décadas se están observando una abundante elevada de Lemna
spp “Lenteja de Agua”, en la bahı́a interior de Puno, como consecuencia de la contami-
nación que implica el enriquecimiento del lago con nutrientes provenientes de los desagües
de la ciudad de Puno.

Las dos primeras reuniones internacionales para discutir esta técnica fueron realizadas
en 1986 y 1988 en Alemania, la tercera en 1990 en Áustria y la cuarta nuevamente en
Alemania, en 1992. Publicaciones más recientes sobre los conceptos fı́sicos y aplicaciones
prácticas de la TXRF, asi como detalles sobre la geometria del soporte de la muestra,
filtros de corte para rayos X de altas energı́as y tendencias de esta nueva técnica, son
presentadas en revistas especializadas.

De acuerdo con KLOCKENKÄMPER, en 1989 ya habı́a aproximadamente 20 labora-

torios trabajando con equipos comerciales en una variedad de aplicaciones, envolviendo
las áreas de Oceanografı́a, Mineralogı́a, Biologı́a, Medicina, Medicina Legal e investigación
Ambientales.

La técnica de TXRF fué inicialmente utilizada para análisis de ultratrazas en solu-

ciones acuosas. Donde se muestra un espectro de rayos X para una muestra de agua pluvial
obtenido con tubo de Mo, siendo posible visualizar las lı́neas caracterı́sticas de los rayos
X K y L de 14 elementos, en el rango de 2 ppb para el V hasta 1700 ppb para Ca.

La comparación del análisis de muestras de aguas residuales por TXRF y ICP in-
dicó que el 1o método ofrece en geral, lı́mites de detección más bajos que el CO2 . Algunos
métodos de preparación de muestras de lodo de desagüe, suelos y sedimentos son descritos
en la literatura y otros trabajos bastante interésantes sobre el punto de vista de compara-
ción de técnicas analı́ticas fueron también presentados.

Los análisis de trazas de elementos en aguas naturales (rio, lluvia y mar) han sido
relatados. Para el análisis de metales en agua del mar, la separación de los metales se
realiza por complexación con NaDBTC (di-benzil-ditio-carbamato de sódio), en cuanto
que los particulados suspensos en agua de rio son separados de la fase lı́quida por filtración
sobre presión y los filtros, entonces digeridos con ácido. Además de soluciones acuosas, un
grande número de otros tipos de muestras se han analizado por TXRF en un rango por
debajo de ppb, como reagentes y ácidos de alta pureza, aceites y grasas, silı́cio y quartzo.

En algunos casos es necesário un tratamiento prévio de la matriz, como liofilización, in-

cineración, complexación y técnicas cromatográficas. Muestras sólidas y filtros de aerosoles
son geralmente analisados después de digestión con ácidos, con limites de detección por
debajo de ppm, pudiendose también pipetar diretamente sobre el soporte alı́cuotas de
suspensiones de materiales en polvo muy fino.

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 7

En la utilización de impactores para coleta de aerosoles, el material para el análisis es

depositado directamente sobre el soporte, y de ese modo, se consiguio limites de detec-
ción del orden de 0,1 ng.m−3 para elementos considerados poluidores, encuanto que para
análisis de metales y ligas se puede utilizar polvos dispersos sobre el soporte.

Utilizando un tubo de estrutura foco fino (10 por 0,1 mm), refletor de corte y camara
de vacio, AIGINGER y WOBRAUSCHEK analisaron muestras biológicas y ambientales,
como agua, sedimentos, algas, tejido humano, cabello, sangre, suero, enzimas, particu-
lados del aire, etc., y son discutidos también el análisis de aerosoles y metales pesados en
agua del mar.

El análisis de soluciones acuosas, agua del mar, leche en polvo, sangre y suero, utilizan-
do un sistema con reflector de corte, camara de vacio y tubos de rayos X con ánodos de
Cu y Mo, fué realizado por WOBRAUSCHEK y AIGINGER. También fueron analisadas
muestras sólidas digeridas en bomba de Teflon, usando ácido nı́trico sobre alta presión a
la temperatura de 180 o C. Material en polvo también fué analisado, pipetandose pocos
microlitros de la mixtura del polvo con agua tridestilada sobre el soporte, resultando una
espesura del orden de 0,1 mm.

Un levantamiento de las ventajas y restricciones de la TXRF en ciencia de suelo, asi

como su aplicacción en el análisis de muestras lı́quidas, es presentado por GERWINSKI y
GOETZ. Los autores presentan además un estudio de dos tipos de digestión para mues-
tras sólidas: una solo con ácido nı́trico y otra con mezcla de ácidos nı́trico, fluorı́drico y
bórico. Los digeridos fueron diluı́dos para 20 ml y filtradas, y a seguir una alı́cuota de 4
hasta 15 l fué evaporada en vacio, concluyendo que la digestión con la mezcla de ácidos
presentó mejores resultados.

La determinación de la concentración de Fe, Zn, Cu y Br fué realizada por YAP en

muestras de suero humano, utilizando en la excitación un tubo de Mo operado en 40 kV -
20 mA y tiempo de medida de 2000 s. Las muestras fueron diluı́das con igual volumen de
agua bidestilada conteniendo elemento Y como estandar interno (25 ppm) y alı́cuotas de
10 l fueron depositadas sobre el soporte y analisadas. Una técnica rápida de preparación
de muestra para determinación de Pb en sangre humano consiste en pipetar una alı́cuo-
ta de 2 l sobre un soporte de quartzo y secar. Con un tiempo de medida de 1000 s y
utilizandose en la estandarización interna 250 l de una solución contendo 5 ppm de Sr,
fué obtenido un limite de detección de 30 ppb.

Las varias áreas de aplicacción de la TXRF son descritas por KLOCKENKÄMPER

et al., enfatizando los análisis de agua, suelo y aire en Monitoramiento Ambiental; sangre,
fluı́dos corporales y tejidos en la Medicina, plantas y alimentos en la Biologia. Entre estas
aplicaciones se puede destacar el análisis de pescado, a través de la digestión de 150 hasta
350 mg en bomba de Teflon, con ácido nı́trico y aquecimiento sobre presión.

Para tejidos biológicos se puede analizar cortes histológicos de 10 m (200 g), colocados

Guido Quispe Lim @

8 2.2. Marco teórico conceptual

directamente sobre el soporte. Como ilustración de esta técnica, la Figura 35 muestra el

espectro de rayos X de un corte de tejido de pulmón de un pintor de casas, obtenido con
excitación con tubo de Mo, pudiendose visualizar claramente los rayos X caracterı́sticos
K y L de los elementos Ti y Pb, respectivamente, provenientes de tintas y barnizes.

2.2. Marco teórico conceptual

Cuando una muestra es irradiada con rayos X, puede ocurrir que la radiación sea
dispersada sin pérdida de energı́a (Rayleigh) o con pérdida de energı́a (Compton) o bien
puede crearse una vacancia en una capa atómica (efecto fotoeléctrico). En este último
caso, el estado atómico excitado decae al llenarse la vacancia por un electrón de una capa
más externa y se libera una cantidad de energı́a de dos maneras posibles:

Como un fotón de rayos X, cuya probabilidad de ocurrencia se representa mediante

la producción de fluorescencia.

Trasfiriéndose a otro electrón de una capa más externa (por ejemplo, de la LIII ) el
cual es eyectado del átomo quedando el mismo con dos vacancias (efecto Auger).

La fluorescencia de rayos X se dedica al estudio del primer proceso, identificando y

caracterizando las lı́neas fluorescentes. de la Mecánica Clásica.

Definiciones básicas
Empezaremos definiendo algunos conceptos básicos de importancia para un mejor
entendimiento el cual es como sigue:

2.3. Fı́sica de Rayos X

2.3.1. Propiedades de los Rayos X
Los rayos X fueron descubiertos en 1895 por Wilhelm Conrad Röntgen en la Universi-
dad de Würzburg, Bavaria. El observó que ciertos cristales de Ba, estando completamente
sellados con papel negro, eran luminiscentes cuando cerca de ellos se producı́a una descarga
generada por un tubo de rayos catódicos. Gracias a este trabajo, Röntgen recibió en 1901
el primer premio Nobel de Fı́sica. Dadas sus similitudes con la luz, Röntgen realizó pruebas
para verificar si satisfacı́an las propiedades ondulatorias: polarización, difracción, reflexión
y refracción. Con facilidades experimentales limitadas, Röntgen y sus contemporáneos no
encontraron evidencia de esto y por lo tanto, estos rayos fueron designados con la letra X
(desconocidos).

La naturaleza de los rayos X generó controversias. En 1906, Barkla encontró evidencias

en experimentos de dispersión de que los rayos X podı́an ser polarizados y por lo tanto,
debı́an ser ondas. Por otra parte, estudios de Bragg indicaban que tenı́an comportamiento
corpuscular. En 1912 Laue, Friedrich y Knipping mostraron que los rayos X podı́an ser
difractados por un cristal, señalando su naturaleza ondulatoria, encontrando luego Bragg

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 9

la ley de reflexión. En 1908 Barkla y Sadler dedujeron, a través de experimentos de dis-

persión, que los rayos X contenı́an componentes caracterı́sticas del material analizado;
dichas componentes fueron denominadas K y L.

De esta manera, gracias a importantes aportes teóricos y experimentales, los rayos X

fueron clasificados como radiación electromagnética de baja longitud de onda, es decir,
alta energı́a. La energı́a de los fotones de rayos X (E) y su frecuencia (f ) están rela-
cionadas mediante la conocida expresión E = hf , siendo h la constante de Plank. Como
la frecuencia es inversamente proporcional a la longitud de onda λ(f = c/λ, donde c es la
velocidad de la luz), se puede relacionar la energı́a de un fotón con su longitud de onda
(expresada en Å) mediante la relación

12, 4
E(keV = )
λ

De esta forma, un fotón de longitud de onda de 100Å tiene una energı́a de 0,124keV y un
fotón de 0,05Å tiene una energı́a de 24,8keV .
Entre sus propiedades pueden mencionarse:

Son invisibles

Se propagan en lı́nea recta a la velocidad de la luz

No son afectados por campos eléctricos o magnéticos

Pueden ser reflejados, difractados, reflejados y polarizados

Pueden afectar propiedades eléctricas de lı́quidos y sólidos

Pueden liberar electrones de capas profundas de los átomos

Pueden producir reacciones biológicas, como por ejemplo dañar o matar células vivas
o producir mutaciones genéticas

Son emitidos con espectros caracterı́sticos de elementos quı́micos, por lo cual pueden
ser utilizados para la caracterización de materiales

2.3.2. Ecuación Fundamental

Para excitación mono-energética, como las obtenidas com tubos de rayos X (con irra-
diación directa y utilizando filtros, o indirecta con rayos secundarios) y fuentes radioacti-
vas, hay una relación simple entre la intensidad de una lı́nea caracterı́stica (Kα y Lα ) y
la concentración de un elemento en la muestra.
Asumiendo una muestra homogénea con espesura uniforme D y despreciando los efec-
tos de refuerzo (enhancement), la intensidad de la lı́nea Kα de un elemento de interés
producida en una capa dx a una profundidad x (Figura 2.1) es producto de tres proba-
bilidades:

Guido Quispe Lim @

10 2.3. Fı́sica de Rayos X

D dX
X

a0 a

Figura 2.1: Representación esquemática de la geometrı́a de excitación para el haz mono-

energético en fluorescencia de rayos X

La probabilidad P1
De la radiación de excitación llegar a la capa dx a una profundidad x:

P1 = e−µ0 .ρ0 .x/senα0 (2.1)

Donde:

µ0 es el coeficiente de absorción de masa de la matriz (cm2 .g −1 ) en la energı́a

de los fotones incidentes
ρ0 es la densidad de la matriz (g.cm−3 )
α0 es el ángulo de incidencia (entre la dirección del haz incidente y la superficie
de la muestra).

La probabilidad P2
De la radiación de excitación producir una vacancia en los átomos de un elemento
de interés contenidos en la capa dx, con consecuente producción de rayos X carac-
terı́sticos:

1
P2 = τ (1 − ).w.f.ρ.dx (2.2)
j

Donde:

µ0 es el coeficiente de absorción de masa de la matriz (cm2 y g −1 ) en la energı́a

de los fotones incidentes
j es la razón de salto (jump ratio) K −→ L
w es el rendimiento de fluorescencia de la capa K.
f es la fracción de fotones K emitidos como rayos Kα caracterı́sticos, y
ρ es la densidad (g.cm−3 ) o concentración del elemento de interés en base de
volume en la capa dx.

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 11

La probabilidad P3
Del rayo X Kα caracterı́stico producido en la capa dx al no ser absorbido en la
espesura x y llegar a el detector, produciendo un pulso electrónico (o una cuenta),
es dado por:

P3 = e−µ.ρ0 .x/senα .ε (2.3)

Donde:

µ0 es el coeficiente de absorción de masa de la matriz (cm2 .g −1 )

ε es la eficiencia del detector en la energı́a de los fotones caracterı́sticos, y
α es el ángulo de emergencia (entre la superficie de la muestra y la dirección
del haz emergente).

2.3.3. Producción de Fluorescencia

Una consecuencia importante del efecto Auger es que el número de fotones fluores-
centes emitidos es menor al esperado, dado que una vacancia se puede llenar por una
transición no radiactiva. La probabilidad de que una vacancia en una capa atómica sea
llenada por una transición radiactiva se denomina producción de fluorescencia y se define
como el cociente entre el número de fotones emitidos y el número de vacancias [16].

2.3.4. Atenuación de Radiación en la Materia

Si un haz de rayos X monocromático con intensidad I0 incide sobre un material de
espesor uniforme t (en cm) y densidad ρ (en g/cm3 ) tal como se muestra en la Figura 2.2
, el haz emergente tendrá una intensidad I menor que I0 , indicando que los rayos X se
atenúan al atravesar la materia; tienen lugar procesos de absorción y de dispersión. De
esta manera, la pérdida de intensidad está dada por:

Io I

t cm

Figura 2.2: Disposición para atenuación de la radiación en la materia

dI
= −µdt (2.4)
I

Guido Quispe Lim @

12 2.3. Fı́sica de Rayos X

siendo µ una constante de proporcionalidad conocida como el coeficiente de atenuación

lineal del material a la energı́a considerada; sus unidades son cm−1 . Integrando la expresión
(2.4) se obtiene:

I = I0 e−µt (2.5)

ya que µ es independiente de t. El coeficiente de atenuación lineal representa la fracción

de intensidad atenuada por centı́metro del material atravesado.

Dispersión Coherente (Rayleigh)

Este tipo de dispersión es un proceso por el cual los fotones son dispersados por
electrones atómicos y en el cual el átomo no es ionizado ni excitado. El fotón incidente es
dispersado sin cambiar su frecuencia; la intensidad de la radiación dispersada por un átomo
se determina sumando las amplitudes de la radiación dispersada de manera coherente por
cada uno de los electrones del átomo.
La dispersión Rayleigh se da a bajas energı́as y en materiales de número atómico alto.

Dispersión Incoherente (Efecto Compton)

Cuando la radiación pasa por una región en la que hay electrones libres, además de la
radiación incidente, se observa otra radiación de frecuencia distinta. Esta nueva radiación
se interpreta como la radiación dispersada por los electrones libres. La frecuencia de la
radiación dispersada f es menor que la de la incidente (f0 ) y en consecuencia su longitud
de onda es mayor (es decir, tiene menor energı́a). La longitud de onda de la radiación
dispersada es diferente para cada dirección de dispersión. Este fenómeno se conoce como
efecto Compton.

Absorción Fotoeléctrica
Tal como se explicó en el efecto Compton, un fotón no puede ser totalmente absorbido
por un electrón libre según la conservación de momento y energı́a. La absorción total puede
tener lugar si el electrón se encuentra inicialmente ligado en el átomo, conservándose el
momento en el átomo residual. Aquellos electrones más ligados, tienen mayor probabilidad
de absorber un fotón incidente. Dado que participa todo el átomo, este efecto puede verse
como una interacción entre el fotón incidente y toda la nube electrónica en la cual el fotón
de energı́a hf es absorbido y un electrón (generalmente de la capa K o L) es desprendido
del átomo con una energı́a T dada por:

T = hf − Be (2.6)

siendo Be la energı́a de ligadura del electrón.

2.3.5. Principios del Análisis por Fluorescencia de Rayos X

Cuando una muestra es irradiada con rayos X, puede ocurrir que la radiación sea
dispersada sin pérdida de energı́a (Rayleigh) o con pérdida de energı́a (Compton) o bien

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 13

puede crearse una vacancia en una capa atómica (efecto fotoeléctrico). En este último
caso, el estado atómico excitado decae al llenarse la vacancia por un electrón de una capa
más externa y se libera una cantidad de energı́a de dos maneras posibles:
Como un fotón de rayos X, cuya probabilidad de ocurrencia se representa mediante
la producción de fluorescencia.
Trasfiriéndose a otro electrón de una capa más externa (por ejemplo, de la LIII ) el
cual es eyectado del átomo quedando el mismo con dos vacancias (efecto Auger).
A continuación se describe el análisis por fluorescencia de rayos X para excitación con ra-
diación monocromática y policromática. Se tienen en cuenta las siguientes consideraciones
generales:
Los haces incidentes y emergentes son paralelos, uniformes y de sección transversal
infinita, es decir, el haz tiene una sección mucho mayor que el espesor de penetración
de la radiación en la muestra.
La superficie de la muestra es pulida, extensa, homogénea y de espesor infinito.
Siendo µi (λ) el coeficiente de absorción de un elemento en particular para una
longitud de onda λ, P
para una muestra multi componente el coeficiente de absorción
total sera µM (λ) = i µi (λ)Ci donde Ci es la fracción en peso del elemento i.

Figura 2.3: Geometrı́a de excitación de la muestra y detección de la radiación caracterı́stica

En la Figura 2.3 se muestra la geometrı́a de la excitación y detección en el análisis por

fluorescencia de rayos X y a continuación se detalla la notación utilizada en las ecuaciones
del proceso de fluorescencia.
Ωes el ángulo sólido efectivo subtendido por el detector.
φ1 es el ángulo formado por el haz de radiación incidente y la dirección normal al
plano de la muestra.
φ2 es el ángulo formado por haz de radiación emergente y la dirección normal al
plano de la muestra.
λ es la longitud de onda de la radiación monocromática incidente.

Guido Quispe Lim @

14 2.4. Análisis por Reflexión Total de Rayos X

2.4. Análisis por Reflexión Total de Rayos X

2.4.1. Desarrollo del Método
El método de fluorescencia de rayos X convencional (XRF) resulta adecuada para el
análisis de muestras sólidas en diversos campos (como la geologı́a, el control ambiental) ya
que es una técnica no destructiva y la preparación de las muestras es sencilla sin tener que
dedicarle demasiado tiempo. Sin embargo no es adecuada para el análisis de elementos
traza y presenta notables errores sistemáticos debidos a efectos de matriz.
Considerables esfuerzos se han realizado para superar estas dificultades, alcanzándose
un notable progreso cuando en 1971 Yoneda y Horiuchi utilizaron en análisis por XRF
el fenómeno de reflexión total (descubierto por Compton en 1930), dirigiendo un haz
de rayos X sobre una superficie pulida de cuarzo con ángulos de incidencia menores al
ángulo crı́tico. Cantidades del orden de los 10-9 gramos fueron detectadas por primera
vez utilizando un detector dispersivo en energı́a [12]. Posteriormente surgieron nuevos
trabajos, destacándose autores como Aiginger y Wobrauschek [13] quienes presentaron las
primeras aplicaciones y describieron los principios fı́sicos y considerables aportes como los
de Klockenkämper, Schwenke, Prange y Knoth al desarrollar un equipo de alta estabilidad
[14].
El análisis por reflexión total de rayos X (TXRF) difiere del análisis por fluorescencia
convencional (XRF) en dos aspectos fundamentales [15]:

El haz incide sobre una superficie plana y suave que cumple la función de porta
muestras (substrato reflector) o bien es el objeto a analizar.

El haz primario incide sobre la muestra con un ángulo rasante menor al ángulo
crı́tico para el cual se produce la reflexión total en el substrato reflector (el ángulo
se mide desde la interface).

Diferencias notables se observan en lo referente a la preparación y tipo de muestra,

a la calibración, al análisis de datos y a la detección. Hay componentes básicas que son
comunes a ambas técnicas, como la fuente de rayos X, el detector dispersivo en energı́a y
los dispositivos electrónicos para el análisis de los datos.

2.4.2. Parámetros Caracterı́sticos

El efecto de la excitación en XRF utilizando la reflexión total se puede caracterizar
mediante tres parámetros que siguen los principios de la radiación electromagnética: el
ángulo crı́tico, la reflectividad y la profundidad de penetración [15].

Ángulo Critico
Al atravesar la interface que separa dos medios homogéneos distintos, los rayos X
son refractados y reflejados ası́ como lo hace la luz. La reflexión y la refracción están
determinadas por el ı́ndice de refracción.

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 15

Reflectividad
La reflectividad se define como el cociente entre la intensidad reflejada y la intensidad
incidente.

Profundidad de Penetración
La profundidad de penetración se define como la distancia normal medida desde la
interface para la cual la intensidad disminuye en un factor de 1/e.

2.4.3. Diseño Experimental

El método TXRF tiene una notable aplicación como método de análisis multielemental
de trazas en soluciones lı́quidas [17, 18, 19]. El procedimiento usual consiste en sacar una
pequeña alı́cuota de solución sobre un medio homogéneo de superficie ópticamente plana,
que constituye el substrato. Posteriormente se excita la muestra con un haz de rayos X a
incidencia rasante con un ángulo menor al ángulo crı́tico de reflexión total de la superficie,
correspondiente a la máxima energı́a del espectro de excitación. Esta geometrı́a se muestra
en la Figura 2.4.

Figura 2.4: Arreglo experimental correspondiente a la técnica TXRF.

2.4.4. Caracterı́sticas del Substrato y de la Muestra

Caracterı́sticas del Substrato
Entre las caracterı́sticas que debe tener un substrato reflector para análisis por TXRF
podemos mencionar algunas de estas caracteristicas:

Superficie plana y suave.

Resistente a las agresiones por quı́micos y al estrés mecánico.

Libre de lı́neas fluorescentes dentro del rango de energı́as de interés.

Libre de contaminación.

Hidrofóbico.

Guido Quispe Lim @

16 2.4. Análisis por Reflexión Total de Rayos X

Alta reflectividad

Costo accesible.

En realidad, no se conoce material que satisfaga todos estos requisitos. De acuerdo a la

experiencia a desarrollar puede elegirse el más conveniente.

Caracterı́sticas de la Muestra
Los lı́mites de detección en TXRF dependen considerablemente de las propiedades de
la muestra: los lı́mites de detección aumentan al aumentar la concentración de la matriz
porque los átomos de la misma contribuyen al fondo de radiación [20]. Si los espectros
fluorescentes son adquiridos con una tasa máxima de conteo (que se logra, por ejemplo,
ajustando la corriente del tubo) y si el conteo de los elementos traza se mantiene bajo en
relación al conteo total, hay una relación lineal entre concentración de matriz y lı́mite de
detección [15].
Mediante cálculos teóricos es posible determinar la intensidad fluorescente y de disper-
sión en función del espesor de la muestra, ası́ como estudiar la intensidad de la radiación
emitida por la muestra antes y después de la reflexión [20]. Estos cálculos revelan la im-
portancia de trabajar con muestras delgadas, ya que al aumentar el espesor de la muestra
aumenta la contribución de la radiación de dispersión y la intensidad de radiación emitida
luego de la reflexión decae. También permiten determinar, según el tipo y composición de
la muestra, cuál es el espesor máximo conveniente.
Por lo tanto, la preparación de la muestra es un paso importante en el análisis por
reflexión total. La forma de preparación dependerá de la muestra a analizar [21], por lo
que mostramos los gráficos (Figura 2.5 y 2.6), tipos de muestras a analizar y las técnicas,
por ejemplo en los casos de:

Agua: el procedimiento consiste en colectar 1 litro y reducirlo a la décima parte

por evaporación.

Plantas: el método consiste en secar el material a 100 o C por dos horas y pul-
verizarlo; mezclar luego 250 mg con 2 ml de ácido nı́trico y llevarlo a las condiciones
de 260 o C y 13 MPa. Finalmente, la solución se diluye en 100 ml de agua destilada.

Guido Quispe Lim @.

2. Plan de investigación 17

Fuente: Toma realizada por el ejecutor a la bahía de Puno. Marzo del 2010

Figura 2.5: Podemos apreciar las aguas del Lago Titicaca contaminada de la Lemna spp “Lenteja
de Agua”, ha orillas del malecón eco turı́stico de Puno

Fuente: Toma realizada por el ejecutor a la Lemna spp. Marzo del 2010

Figura 2.6: En la figura apreciamos la Lemna spp contaminando las aguas y en su forma fı́sica

2.4.5. Ventajas y Aplicaciones del Método de Reflexión Total

Expondremos algunas de estas ventajas sobre el método de Reflexión Total de rayos
X (TXRF):

Se logra una eficiente excitación de la muestra. Esto se debe a que en condiciones

de reflexión total, la muestra es excitada por el haz incidente y el haz reflejado en
el substrato, prácticamente duplicando la intensidad de la radiación de excitación.

Debido a la baja profundidad de penetración de los rayos X en el substrato, hay una

baja transferencia de energı́a y se reduce la intensidad de la radiación de dispersión.

También se logra una eficiente detección de la radiación caracterı́stica al colocar el

detector próximo y perpendicular a la muestra.

Esto permite obtener buenos lı́mites de detección, del orden de los pico gramos.

Guido Quispe Lim @

18 2.4. Análisis por Reflexión Total de Rayos X

Al reducirse los efectos de reforzamiento y autoabsorción, el proceso de cuantificación

es sencillo

Guido Quispe Lim @.

Capı́tulo 3

Metodologı́a

3.1. Precisión del método de estudio

El método que emplearemos durante el proceso de investigación será: empı́rico exper-
imental. Usaremos estos métodos con la finalidad de fundamentar teorı́as que nos permi-
tirán seleccionar y estudiar variables , además de permitir el análisis e interpretación de
los datos obtenidos con un enfoque cualitativo y cuantitativo.

3.2. Precisión de la Técnica

Para acopio de datos: Observación, entrevista, internet, paper, trabajos de investi-
gación y el medio (bahı́a del Lago Titicaca).

Instrumentos de recolección de datos: Equipo de Fluorescencia de Rayos X en Re-

flexión Total (TXRF) (IPEN - Lima).

Para el procesamiento de datos: Consistenciación, codificación y clasificación de

resultados.

Técnicas para el análisis o interpretación de datos: Estadı́stica descriptiva para cada

análisis.

Para la presentación de datos: Cuadros, tablas y gráficos.

Para el informe final: Esquema propuesto por la E.P. de Ciencias Fı́sico Matemáticas.

19
20 3.2. Precisión de la Técnica

Guido Quispe Lim @.

 Capı́tulo 4

Cronograma de Actividades

4.1. Actividades principales

Meses de trabajo
1er Mes 2do Mes 3er Mes
ACTIVIDADES POR SEMANA 1ra 2da 3ra 4ta 5ta 6ta 7ma 8va 9na 10ma 11va 12va
Consulta a docentes • • • • • • • • •
Acopio de bibliografı́a • • • •
Revisión de bibliografı́a • • • • •
Formulación del problema • • •
Objetivos y hipotesis • •
Justificación y antecedentes • •
Desarr. del marco teórico • • •
Desarr. de objetivos • • • • •
Toma de muestras • • • • • •
Análisis de muetras • •
Ajuste de programación • • •
Viajes a laboratorios • • • • •
Resultados • • •
Conclusiones • •
Elaboración del Borrador • • • • • • • •

4.2. Recursos de la investigación

Los recursos de la investigación para el presente proyecto se ha distribuido aproxi-
madamente de la siguiente forma:

4.2.1. Recursos Humanos

El presente trabajo estará conformado básicamente por el tesista, Técnico laboratorista
y el asesor.

21
22 4.2. Recursos de la investigación

4.2.2. Recursos Materiales

Los recursos materiales resumidos se muestran en la tabla:

Cantidad Descripción Total en S/.

3 millares papel bond A4 90.00
10 unidades de lapiceros bicolor 15.00
1 millar papel bulking 25.00
10 libros pagos por compra 300.00
180 horas uso de internet 180.00
2 memorias USB de 2G para almacenamiento 120.00
1 Cámara Dig. Para toma de imag. 900.00
1 juego alquiler de computadora 100.00
1/2 millar impresión 50.00
un instrumento de aplicación 300.00
otros 1000.00
Costo total 3080.00

Guido Quispe Lim @.

Bibliografı́a

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[24] ROBERT MARTIN EISBERG FÍSICA MODERNA. Editorial Limusa, S.A.

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[25] M. DIAZ PEÑA, A. ROIG MUNTANER QUÍMICA FÍSICA. Editorial Alham-

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[26] ASUNCIÓN RAMOS CRUZ, Maria, 2005 . Determinación de la Biomasa de la

Lemna spp “Lenteja de Agua” en el Malecón Eco Turistico “Bahı́a de los Incas” de la
Ciudad de Puno. Tesis presentada para optar el Titulo Profesional de Licenciado en
Biologia. Facultad de ciencias Biologicas, Universidad Nacional del Altiplano. Puno
Peru.

[27] QUISPE, L 1999. Determinación del Valor Nutricional de la “Lenteja de Agua”

(Lemna spp) en ovinos. Tesis presentada para optar el Titulo Profesional de Licenci-
ado en Biologia. Facultad de ciencias Biologicas, Universidad Nacional del Altiplano.
Puno Peru.

[28] CARCAUSTO PUMA, Jesús W. 2008. Determinación de Activadores Quı́mi-

cos y Capacidad de Adsorción de Carbon Activado Obtenido a Partir de Lemna sp
“Lenteja de Agua” y Shoenoplectus totora “totora”. Tesis presentada para optar el
Titulo Profesional de Licenciado en Biologia. Facultad de ciencias Biologicas, Uni-
versidad Nacional del Altiplano. Puno Peru.

Guido Quispe Lim @.