La espectrometría de fluorescencia de rayos-X es un método de análisis cualitativo y

cuantitativo para elementos químicos basado sobre la medición de las longitudes de

onda y las intensidades de las líneas espectrales emitidas por excitación secundaria.
(Jenkins, 1999).
El rayo primario procedente de un tubo de rayos-X irradia la muestra, excitando cada
elemento para emitir líneas espectrales secundarias, teniendo longitudes de onda
características de cada elemento e intensidades relacionadas a su concentración.
Entre las ventajas de la técnica de espectroscopia de fluorescencia de rayos-x se
encuentran (Burke, Jenkins, Deane. 1998):
1) Selectividad.
2) Técnica no destructiva.
3) Análisis de sólidos, pastillas, polvos, líquidos o incluso gases, de materiales tanto
metálicos como minerales, cerámicos, plásticos, textiles, papel, etc.
4) Método relativamente rápido.
5) Mejoría en el control de proceso.
6) Análisis para amplios intervalos de concentración.
7) Análisis multielemental para elementos con número atómico mayor al del flúor.
8) Técnica sensitiva, con buena precisión y exactitud.

Las desventajas que presenta son:

1) Dificultad para el análisis de elementos ligeros con número atómico menor al del
flúor.
2) La medición se realiza sobre una delgada capa superficial (< 0.01 mm).
3) Las relaciones entre intensidad y concentración pueden ser seriamente afectados
por la matriz (efecto matriz).
4) Los estándares empleados para el análisis cuantitativo deben tener la misma
composición química de la muestra, así como ser preparados de la misma forma en la
que ésta sea preparada (pastilla, polvo, fundido, líquido).
Análisis químico de materiales silicoaluminosos por fluorescencia de rayos X (uanl.mx)
Jenkins, R. X-ray fluorescence spectrometry. 2da. ed. John Wiley & Sons, Inc., USA,
1999.
Burke, V.E.; Jenkins, R.; Deane, K. A practical guide for the preparation of specimens
for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis, la. ed. John Wiley and Sons, Inc.,
USA, 1998.