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INSTITUTO DE QUÍMICA
Profesor:
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TABLA DE CONTENIDO
0. INTRODUCCIÓN: 3
2. PARA EL PRODUCTO: 7
8. BIBLIOGRAFÍA. 17
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1. INTRODUCCIÓN:
En Gray Matter® se obtiene como principal producto Nitrato de Hafnio Hf(NO3)4, el cual
es un sólido blanco. Este compuesto se emplea en la transición de interfaces en los
dispositivos fotónicos de Si, reduciendo de esta manera las pérdidas debidas a
reflexiones, ya que el Nitrato de Hafnio posee un índice de refracción intermedio entre el
silicio y el aire.
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Figura 1. Diagrama de flujo para la obtención de Hf(NO3)4.
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Figura 2: Separador por densidades Floatex®
• Energía eléctrica.
• Sellos de seguridad.
• Etiquetas.
• Recipientes de almacenamiento.
• Material de aseo.
• Trajes adecuados de seguridad.
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1.2.Cantidades de HNO3 con base en 2 kg de HfOCl2.
El HfOCl2. Conseguido comercialmente esta 99%, así que 2000 g de materia prima tienen
1980 g de HfOCl2.
=1880.24 g de HNO3
Y además se sabe que la reacción tiene una eficiencia del 86%, entonces:
2. PARA EL PRODUCTO.
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son determinantes en su uso, en los dispositivos fotónicos de Si. Además es importante
su conductividad eléctrica y su pureza para su uso como semiconductor.
Características Especificación
Olor Inodoro
Índice de refracción de
0.1903
Fermiones
Dado que el principal uso del Hf(NO3)4 es como semiconductor en dispositivos fotónicos
de Si, debe tener según lo especificado por la literatura un índice de refracción de
fermiones entre 0.2051 y 0.1502. Es entonces de vital importancia para garantizar la
calidad del producto que el valor de su índice de refracción de fermiones realmente sea
aproximado a 1.903.
2.3.Unidad de garantiía:
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Producto: Sulfato de Aluminio Hidratado Fecha: 15 de febrero de 2011
% Impurezas / 2
Conductividad / 1
Temperatura de Fusión // 2
Otros ////// 9
Total: 21
Total Rechazados / 1
8
Total 342 100
Especificación
% Impurezas
120
Costo
($) de
defectos
1100000
Total
acumulado
1100000
Composición
porcentual
(%)
18.3
Porcentaje
acumulado
18.3
100
Temperatura de Fusión 1400000 3700000 23.3 61.6
80
9
DIAGRAMA PARET O
1600000 120
1400000
100
1200000
1000000
80
Núm ero de defectos
800000 60
% acum ulado
600000
40
400000
fc
eC
td
o
s
200000
20
0 0
1 2 3 4 5 6
Tipo de defecto
Figura 4. Diagrama PARETO con costos totales de unidades defectuosas por
mes
Para la obtención de datos la mejor manera por dado el producto que tenemos seria la del
muestreo sistemático, en el proceso de síntesis por cada “tanda” de producto obtenido
seleccionamos una muestra a la cual se le efectuaran las pruebas.
♦ Las muestras se tomaran al final del proceso, es decir cuando el sólido resultante
esté listo.
♦ Las horas dependerán del número de procesos realizados en el día, por ejemplo si la
jornada empieza a las ocho de la mañana y cada proceso dura alrededor de cuatro
horas las doce del día se tomara la primer y a las cuatro de la tarde una segunda,
hora en la que se acaba la jornada.
♦ Las muestras se tomaran tres cinco días a la semana pero se tomaría solo una
muestra de una de las dos jornadas.
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5 4 8 1
Distribución de frecuencias:
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1.1. Diagrama de tallo-hoja:
Tallo Hojas
0.16 42 53 84
0.17 15 19 42 57 85 96
0.18 18 23
0.19 26 25 54 73 98
0.20 12 12 31 55
0.21 23 35 56 56
0.22 21 34 70
0.23 56
Figura 4. Diagrama de tallo y hoja para los datos.
1.2. Histograma:
Figura 5. Histograma
En el histograma podemos observar que no hay una distribución central del tamaño de las
muestras, al escoger los datos aleatoriamente es posible que no se hallan tomado valores
muy cercanos entre si sino que los valores son muy dispersos, es decir sin una tendencia
general. En general las muestras deberían efectivamente mostrar una tendencia que si es
en pro de la calidad debe ser “centrada” ya que allí está el intervalo en el cual está la
especificación de calidad definida.
Límites de especificación son que el índice de refracción de fermiones esté entre (0.1502
– 0.2051). Ya que la calidad del producto depende de que su índice de fermiones este
entre este intervalo para su uso como semiconductor en dispositivos fotónicos de Si.
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Total 28 -5 70
Donde:
(Intervalo de clase)
U=
( x − a) h = 0.0119
h
∑U × f
Media → X = a + h × = 0,1952
n
( ∑U × f ) 2
∑ (U × f ) −
2
n
Desviaciónestándar → s = h × = 0,02
n −1
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, donde: S = 0.002 =0.1916
St X
µ=X±
n
t= 2.77 n=28
En este caso, una especificación de nivel de confianza del 99% no produce mayor
diferencia con el valor encontrado para una especificación del 95%, esto puede ser debido
a que la desviación estándar de las muestras evaluadas es pequeña.
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La distribución específica de los costos de calidad, realizada en agosto de 2009, en dinero
y en porcentaje, con respecto al costo total se muestra en la tabla 7. Mensualmente para
costos de calidad se destinan 15 millones de pesos, los cuales se distribuyen de acuerdo
con el tipo de costos en los que se incurra.
Retrabajo
Conciliación de quejas
Inspección y pruebas en
el proceso 4’450.000 35.33
Prueba final
7. DISTRIBUCION t:
X = 0.1952
S = 0.020
1. H0 = µ=0.2
H1 = µ≠0.2
15
2. α = 5% (0.05)
3. t0 = X - µ0
S/√n
5. t0 = -1.2699
6. como 1.2699 < 2.05 no se rechaza la hipótesis nula, y no hay una diferencia
significativa entre la media experimental y el valor estándar.
8. Bibliografía:
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