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Dispositivo de resistividad

En el dispositivo normal, se pasa una corriente de intensidad constante entre


dos electrodos A y B. la diferencia de potencial resusltante se mide entro los
otros dos electrodos M y N. Los electrodos A yM se encuentran en la sonda la
distancia AM se conoce como el espaciamiento y el punto de la medición esta
en O (entre A y M)
En el dispositivo lateral básico, se pasa una corriente constante entre A y B,
se mide la diferencia de potencial entre M y N , localizados en dos superficies
equipotenciales, esféricas y concéntricas que se centran en A , el voltaje
medido es proporcional al gradiente de potencial entre M y N , punto de
medición en O (entre M y N) ,espaciamiento AO (18 PIES 8 pulg) . esta sonda
reciproca graba los mismos valores de resistividad como la sonda básica
En cuanto mayor sea el espaciamiento, mayor es la investigación dentro de la
formación. Así los registros de resistividad ES, el lateral de 18 pies 8 pul,
tuene la mayor profundidad de investigación y el normal de 16 pulg la mas
somera
Curvas Normal y Lateral
(Casos en formaciones no invadidas)
Fugura 7-3 respuesta del dispositivo normal en estratos mas resistivos que las
capas que los rodean (las resistividades de los diferentes medios se muestran
en la figura.
La parte superior muestta la respuesta en una capa espesa h=10 AM). LA
CURVA ES simtrica y con un máximo en el centro de la capa donde la lectura
es casi igual a Rt( no hay invasión). El espesor aparente de la capa s menor
que el espesor real de la capa en una cantidad igual al espaciamiento. La
parte inferior da respuesta en una capa con un espesor menor al
espaciamiento. Es simétrica la curva pero se ha invertido, se observa una
resistividad aparente minima. La distancia entre ambos picos es igual al
espesor de la capa mas el espaciamiento del normal
Fig 7-4 respuesta del dispositivo normal en capas espesas o delgadas que son
menos resistivas que las formaciones adyacentes, curvas son simétricas y el
espesor aparente de la capa es mayor que el espesor real de la capa en una
medida igual al espaciamiento de AM
Fig 7-5 respuesta del dispositivo lateral en capas mas resistivas que las
formaciones adyacentes. Los casos que se presentan corresponden a
espesores de capa aprox de 190,28 y 9 pies. Todas las curvas son
asimétricas , en la capa de 190 pies la curva muestra una meseta
moderadamente grande con lecturas mas o menos iguales a Rt. En el caso de
una capa delgada Se presenta una cresta de resistividad muy notorio frente
está seguida de lecturas bajas en la parte baja de la capa con zonas llegan
entonces aparece un pico de reflexión igual espaciamiento
en la figura 7-6 muestra la respuesta al dispositivo lateral en capas menos
resistivas que las formaciones circundantes de nuevo las curvas son
asimétricas en ambos casos la anomalía se extiende por debajo de la capa a
una distancia ligeramente mayor que el espaciamiento AO
la figura 7-3 hasta 7-6 corresponde a formaciones con resistividades
moderadas en aquellas altamente resistivas las curvas normales ya no son
simétricas en la figura 7-7 muestra una capa espesa de resistividad infinita un
instrumento normal de los electros todavía daré una curva simétrica pero un
instrumento normal de tres electrodos como el que se emplean realidad sea
una curva de forma triangular con el pico del triángulo localizado a la
distancia AN debajo del límite superior
Rt en base al registro ES
Las reglas generales para obtener RT los registros eléctricos se basan en la
resistividad relativa de la capa comparada con las resistividades de lodo y de
la formación adyacente por lo tanto las formaciones se subdividen en tres
clases dependiendo la proporción la regla simplificada que se presentan en
seguidas derivados de curvas de resistividad de partida
1. resistividad baja cuando R 16”/ Rm <10 (invasión hasata 2d)
Los espaciamientos más cortos cómo lo normal es de 16 y 64 pulgadas son de
Gran utilidad para encontrar RT con frecuencia Rm parecido R, en cuyo caso
el valor aparente la normal de 64 pulgadas puede corregirse fácilmente para
Rt, dependiendo de la proporción R 64”/R y el espesor de la capa
2. Resistividad media cuando 10< R16”/Rm <50 en este caso la normal de
64 pulg resulta muy útil en los rangos de resistividad baja. Cuando
R16”/Rm>20 la lateral de 18 pies 8 pulg cobra importancia ya sea para
encontrar Rt o para confirmar el valor aparente de la normal de 64
pulg la lateral tiene una curva asimétrica
3. Resistividad alta cuando R16”/Rm > 50 . la invasión afecta en gran
medida la normal de 64 pulg por lo que la lateral de 18 pies 8 pulg,
resuslya la mejor opción para calcular Rt

Registro con electrodos de enfoque

El poZO y las formaciones adyacentes pueden afectar de manera


considerable la respuesta de los sistemas eléctricos convencionales
de registro dichas influencias se minimizan por medio de una familia
herramientas de resistividad que utiliza corrientes de enfoque para
controlar la trayectoria que sigue la corriente de medición electrodos
especiales en la Sonda emiten dichas corrientes las herramientas con
electrodos de enfoque incluyen el laterolog y el registro de enfoque
esférico SFL, dichas herramientas son muy superiores a los
instrumentos ES, en el caso valores grandes de RT sobre RM (lodos
salinos y/o formaciones de alta resistividad) y en contraste de alta
resistividad con cpas(Rt/ R o Rs/Rt) también son más adecuados y
para la resolución de capa con espesor Delgado. existen sistemas
disponibles con electrodos d enfoque con profundidades de
investigación somera media y profunda. los dispositivos que usen este
principio tiene como aplicación cuantitativa determinar RT Y Rzo los
instrumentos de lectura profunda incluyen el laterolog 7, el laterolog 3
y el laterolog profundo del registro doble laterolog DLL*. Los
instrumentos de medición media a somera están integrados con
herramientas doble inducción- laterolog DIL* , el laterolog poco
profundo de la herramienta DLL y el SFL de las combinaciones ISF
DIL-SFL

LATEROLOG 7
El instrumento comprende un electrodo central Ao, y tres partes de
electrodos M1 y m2; M1’ y m2’ y A1 y A2los electrodos de capa par
están simétricamente localizados con respecto a Ao y eléctricamente
conectados unos con otros por medio de un cable de corto circuito.
Ao emite una corriente constante io,se emiten una corriente ajustable
a través de electrodos compensadores A1 Y A2 ;la intensidad de
corriente compensadores se ajusta de manera automática para llevar
los dos pares de electrodos de supervisión, M1 y M2 y M1’ Y M2’ al
mismo potencial. la caída potencial se me enteré uno de los
electrodos de supervisión y la electro de la superficie con una corriente
constante io, esté potencial varía directamente con la resistividad de la
formación
ya que la diferencia potencial entre el par M1-M2 Y el de M1’Y M2’ se
mantiene en cero, no fluye corriente de Ao en el agujro entre M1 y M1’
o entre M2 y M2’ por lo tanto la corriene de Ao debe penetrar las
formaciones de manera horizontal

LATEROLOG 3
La herramienta utiliza corrientes de electrodos compensadores para
enfocar la corriente de medición en una hoja horizontal que penetra la
formación colocados de manera simétrica a cada lado del electrodo
central Ao, encuentran dos electrodos muy largos A1 Y A2 que están
conectados por un corto circuito. Una corriente io, fluye el electrodo
Ao, cuyo potencial es fijo. Una corriente de compensación fluye de A1
Y A2 y se ajusta de manera automática para mantener A1 Y A2 al
potencial de Ao. así todos los electrodos de las Sondas se mantienen
el mismo potencial constante .entonces la magnitud de la corriente io,
es proporcional a la conductividad de la formación

LATEROLOG 8
La medición a nivel profundo se graba con electrodos pequeños en las
en la Sonda doble inducción-laterolog .en principio, el instrumento es
parecido a la herramienta LL7 excepto por tener espaciamientos más
cortos .
el espesor de corriente io, es de 14 pulgadas y la distancia entre los
dos electrodos Opuestos de un poco menor a 40 pulgadas -el
Electrodo de regreso de la corriente se localiza relativamente a corta
distancia de Ao. En esta configuración el instrumento muestra un
detalle vertical muy agudo y el agujero y la zona inválida influyen más
sobre la lectura de este instrumento

SISTEMA DOBLE LATEROLOG- Rxo


El objetivo de todos los instrumentos de resistividad para lectura
profunda es medir la resistividad real de la formación Rt Se diseñaron
dichos instrumentos de manera que, hasta donde sea posible su
respuesta será determinada por la resistividad de la formación virgen
(Más allá de la zona invadida). Por desgracia ninguna misión ha sido
capaz de eliminar por completo los efectos de la zona invadida
Una solución es medir la resistividad con diferentes arreglos que
tengan diferentes profundidades de investigación para obtener una
mayor exactitud en la interpretación una combinación de las siguientes
características Debería ser requeridas:
-los efectos del agujero deben ser pequeños y o corregibles
-las resoluciones verticales de los instrumentos deben ser similares
-las investigaciones radiales deben encontrarse bien distribuidas; esto
es una lectura debe ser tan profunda como practica otra será poco
profunda y una tercera se hará entre ambos extremos

Esto provoco el desarrollo de la herramienta doble laterolog DLL


MicroSFL con mediciones simultáneas. Ambos usan los mismos
electrodos y tienen el mismo espesor de haz de corriente, pero tienen
un tipo de enfoque diferente para proporcionar sus distintas
características sobre profundidad de investigación

Las herramientas de DLL tiene una respuesta que va de 0.2 a 40.000


ohm-m, Rango mucho más amplio que aquel que cubre los
instrumentos laterolog anteriores para obtener la actitud necesidades
altas o bajas,se emplea un sistema de medición de potencia constante
. en este se varian y se miden las corrientes de medición y el voltaje
medición
La medida de laterolog profundo (LLD) de la herramienta DLL posee
una profundidad de investigación mayor que las herramientas
anteriores Y se extiende a una gama y condiciones de la formación En
dónde es posible determinar de manera confiable RT

La medición del Laterolog somero (LLS) tiene la misma resolución


vertical del instrumento laterolog profundo (2 pies),pero responde d
manera más pronunciada a la región alrededor del agujero afectado
por la invasión utilizan tipo de enfoque llamado pseudolaterolog por el
cual la corriente de enfoque regresa Los electrodos cercanos en lugar
de electrodos remotos .esto provoca que la corriente de medición se
dispersa rápidamente una vez que entrado a las formaciones, así se
produce una profundidad de investigación relativamente somera

Efecto de Delaware

Si los electrones B y N se colocan en el agujero la lectura de LLD


pueden exhibir un efecto de Delaware (o gradiente) en secciones
localizadas justo abajo de capas espesas y no conductivas como la de
la Anhidrita. este efecto Se presenta como una resistividad
anormalmente alta durante más o menos 80 pies bajo la capa resistiva
Mientras el electrodo entra en la capa de anhidrita, el flujo de corriente
se confina al agujero y si la capa es de suficiente espesor De hecho
toda la corriente fluirá en la parte del agujero localizada debajo de B.
Entonces cuando el electrodo N entra a la capa ya no puede
permanecer en uno potencial nulo Cómo se pretendía.se le expone a
un potencial negativo en aumento a medida que sube y se aparta el
límite de la capa. Este potencial causa un aumento gradual (gradiente
en la resistividad registrada

Efecto de groningen

Un efecto similar fue observado posteriormente en la curva LLD. se


conocio por el gran yto holandés de gas donde se observo por primera
vez. Se presenta durante aproximadamente 100 pies debajo de una
capa de gran espesor y de alta resistividad.como la corriente de
medición y de compensación no puede fluir con facilidad a través de la
capa altamente resistiva, regresa por la columna de lodo y crea un
potncial ngativo en la “zona de referencia nula” si se tiene
revestimiento en la zona resistiva el efecto es mas pronunciado. Se
recomienda llevar a cabo un registro inducción para una evaluación
seria de la formación en el caso de estas capas conductivas

ESCALAS
Un problema común de todos los dispositivos de resistividad y
conductividad es proporcional una escala que pueda leerse con
exactitud en todo un rango de respuesta. Las lecturas muy bajas ya
sea de resistividad o conductividad eras difíciles de leer, se
introdujeron curvas de apoyo con mayor sensibilidad, pero seguía
siendo difícil de leer y aglomeraban los registros
Durante algún tiempo se emplea la escala hibrida, presentaba la
resistividad lineal en la primera mitad de la pista del registro, y la
conductividad lineal en la segunda. De este modo un galvanómetro
podía grabar todas las resistividades desde cero al infinito.la escala
hibrida suministrada una sensibilidad aceptable en formaciones de
baja conductividad y resistividad
En la actualidad la escala logarítmica es la mas aceptada para
registrar curvas de resistividad su forma es una rejilla dividida en 4
ciclos que va de 0.2 a 2000 ohm-m
REGISTRO ESFERICO ENFOCADO
El instrumento SFL mide la conductividad de la formación cerca del
pozo y proporciona la investigación a un nivel relativamente poco
profundo, que es requerida para evaluar los efectos de la invasión en
mediciones de resistividad de mayor profundidad, es el caso del
instrumento de espacioamiento corto que ahora se utiliza en la
herrameinta DIL-SFL
El sistema SFL establece en esencia esferas de potencial constante
alrededor del electrodo de corriente, el SFL puede preservar la
distribución de potencial esférico en la formación a pesar de una gran
cantidad de variables de pozo , este instrumento se compone de dos
sistemas de corriente separador compensadora, sirve para “tapar” el
agujero y establecer las esferas equipotenciales. El sistema de rastreo
de corriente io, provoca que una corriente de rastreo independiente
fluya a través del “volumen de investigación” la intensidad de dicha
corriente es proporcional a la conductividad de la formación
SFL consiste de electrodos de emisión de corriente, otros para regreso
de corriente y otros de medición. Ya que el volumen de formacion es
constante entre ambas superficies y la caída de voltaje también es
constante, la conductividad de este volumen de formacion puede
determinarse al medir el flujo de corriente

INFLUENCIA DE LAS VARIABLES DE POZO Y CORRECCIONES


DE REGISTOS
El lodo del pozo,las capas adyacentes y la zona invadida influyen
sobre las lecturas del laterolog y del SFL, como a la mayoría de las
mediciones de resistividad. Se han preparado cattas en base a
simulaciones matemáticas para corregir dichas influencias en las
lecturas. Las correcciones siempre se haran: efecto de pozo, espesor
de capa e invasión

Efecto de pozo: Las cartas Rcor-2a y 2b muestran la corrección de


lecturas para el laterolog profundo y somero para una sonda
centralizada. La excentralizacion tiene poco efecto en la curva LLD,
pero puede perjudicar la lectura de LLS. La carta Rcor-1 produce las
correcciones efecto de pozo para los instrumentos LL8 y SFL. La carta
Rcor-3 corrige los efectos de pozo para el SFL utilizado con la
herramienta de inducción phasor.
Efecto de Capas Adyacentes: La carta Rcor-8 muestra las correccions
por efecto de capa adyacente para las lecturas del laterolog profundo
y somero de la herramienta DLL en capas no invadidas

Factores Pseudogeometricos: Un factor geométrico puede definirse


como la fracción de la señal total que se originaria en un volumen que
guarda una orientación goemetrica especifica con la sonda en un
medio infinito y homogéneo, estas herramientas de inducción deben
cumplirse rigurosamente.
La resistividad aparente Ra medida en una capa espesa

Corrección de invasión: incluye tres incognitas, la resistividad de la


zona invadida( Rxo); la resistividad real se la zona virgen o no
contaminada, (Rt); y el diámetro de invasión(di) .
El valor de resistividad real obtenido puede usarse en la ecuación de
saturación de agua de Archie para determinar la saturación o puede
recurrirse con el mismo propósito a la relación de resistividad (Rxo/Rt)
en la ecuación de proporción de saturación de agua

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