Práctica 2. Cristalografia y DRX1

Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Laboratorio de Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Gestión Administrativa de las Prácticas de Laboratorios Académicos
Guía de las Prácticas de Laboratorio
Fecha: 29 de enero de 2020 Código: FOR-GPLA-GPL Página: 1 de 7 Versión: 1.0
INFORMACIÓN BÁSICA
Periodo
Fecha de diligenciamiento (dd/mm/aaaa): 20/01/2021 Sección(es) 1,2,3,4 2021-10
académico:
Nombre del Curso: Materiales para IEE
Nombre de la práctica: Cristalografía y Difracción de rayos X
Práctica No.: 2 Versión de la guía: 1.0

(seguimiento a modificaciones)
Asistente(es)
Profesor(es): Alba Graciela Ávila Maidy L. Cabrera Penna
Graduado(s):
Nomenclatura del espacio a
Semana de la práctica (1-16): 5-6 Virtual
utilizar:
CONTENIDO DE LA GUÍA
Objetivos
Objetivo general
Entender la relación de estructura cristalina con las diferentes propiedades de los materiales, determinando el
impacto del ordenamiento de los átomos, iones o moléculas en estas propiedades.
Objetivos específicos
• Identificar la estructura cristalina de diferentes materiales usados en ingeniería eléctrica y electrónica mediante
la herramienta NanoHub.
• Reconocer las propiedades de diferentes materiales de acuerdo con su estructura cristalina.
• Entender la técnica de caracterización de DRX y el funcionamiento de un difractómetro de rayos X.
Procedimiento de la práctica de laboratorio
Elementos y equipos para la realización de la práctica.

1. Computador, Tablet, celular con conexión a Internet.
Recomendaciones.
• Leer la guía antes de cada sesión de clase.
• Simbología y terminología se maneja de acuerdo con IEEE estándares.
• Las respuestas a las preguntas y argumentaciones de la guía deben hacer uso de los simuladores, material
de clase y sus propias investigaciones.
Procedimiento.
El Desarrollo de la práctica se divide en dos partes:
Semana 5. Simulación en la Herramienta “Cristal Viewer Tool” de NanoHub.

Semana 6. Caracterización de materiales por medio de Difracción de Rayos X (DRX).
Entregables BrightSpace/Bloque Neón.

• Informe formato IEEE máximo 6 páginas.
• Enlace video máximo 2 minutos.
Parte 1. Simulación en la Herramienta “Cristal Viewer Tool” de NanoHub.
Introducción a NanoHub.
NanoHUB.org: Es un sitio web dedicado a la investigación de nanotecnología computacional. NanoHUB almacena
una variada colección de programas de simulación para fenómenos a nanoescala y comportamiento de dispositivos
electrónicos, que se pueden ejecutar en la nube y que se acceden en línea directamente desde cualquier navegador
de internet. En la presente práctica de laboratorio se utilizará el simulador Crystal Viewer Tool, el cual permite visualizar
estructuras cristalinas de diferentes materiales.
Para ingresar al simulador, seguir los siguientes pasos.

1. Ingresar a la página web de NanoHub, mediante el siguiente enlace: https://nanohub.org/home
2. Crear una cuenta ingresando a la sección ¨Sign Up (Free) ¨, en la parte superior derecha de la pantalla.
3. Una vez creada la cuenta, acceder a los simuladores mediante la opción “Resources >>Tools”
4. Buscar en Tag la opción “Cristal Viewer Tool”, y seleccionar en Resources la opción “Cristal Viewer Tool”. Por
último, dar clic en la opción “Launch Tool”.
Nota: Para familiarizarse con la aplicación leer el documento “First Time User Guide (PDF)”. Se puede descargar
de la página web de NanoHub, por medio de las pestañas: Home >> Tools >> Crystal Viewer Tool >> About.}
Figura 1. Estructura Cristalina
A partir de la Figura 1 responder las siguientes preguntas:

1. ¿A qué red cristalina corresponde la estructura mostrada en la Figura 1?
2. Mencione al menos 3 materiales que se utilicen en aplicaciones de ingeniería eléctrica y/o electrónica que
posean la estructura cristalina de la figura 1 y nombre las propiedades de estos materiales.
3. ¿Cuántos átomos hay en una celda unitaria para la estructura cristalina de la Figura 1? Explique.
4. ¿Para qué se utiliza los índices de Miller? ¿Cuántos índices se requieren para describir planos y direcciones
de la estructura cristalina de la figura 1?
5. ¿Qué es un parámetro de red? ¿Cuál es el parámetro de red para la estructura cristalina de la figura 1?
6. Para la red cristalina de la Figura 1, calcule el factor de empaquetamiento atómico (APF) y explique para que
es útil saberlo en el trabajo con materiales.
Apoyándose en la herramienta “Crystal Viewer Tool” de NanoHub,

7. Simule la estructura cristalina del Cu y del Co. Muestre gráficamente cómo se ven los átomos en cada uno de
los planos (100), (110), (010), (001) y (111). Halle para cada caso la densidad atómica planar en los planos
cristalinos (100), (111) y la densidad atómica lineal a lo largo de las direcciones [100], [111] y compárelas.
Comente en qué le aporta a usted conocer las diferentes densidades incluida la densidad volumétrica de los
materiales.
8. El Titanio es un metal ligero que presenta dimorfismo, ya que en estado puro presenta una transformación
alotrópica a 882°C, cambiando de una estructura cristalina hexagonal compacta a una estructura cubica
centrada en el cuerpo. Simule ambas estructuras cristalinas para el Titanio y explique las propiedades para
cada caso.
9. Determine las condiciones de simulación para obtener una estructura cristalina tetragonal, monoclínica y
hexagonal simple. Para cada estructura cristalina dé al menos dos ejemplos de materiales que la posean y las
aplicaciones en la industria de estos materiales.
10. El Cobre y el Tungsteno son materiales anisotrópicos, es decir que algunas de sus propiedades físicas
dependen de la dirección cristalográficas tomada para su medida. Para cada uno de estos materiales, simule
las direcciones cristalográficas [100], [110] y [111] y explique algunas propiedades que dependan de estas
direcciones cristalográficas para cada uno de os materiales.
11. Determine las condiciones de simulación para obtener una estructura de diamante y calcule la densidad lineal
a lo largo de las direcciones [1 0 1] y [1 0 0]. ¿Qué material se esperaría que fuera más denso: uno con
estructura de diamante o uno con estructura hexagonal compacta?
12. El Arseniuro de Galio (GaAs) y el platón son aleaciones muy comunes en la industria. Para cada uno calcule la
densidad planar en los planos (110), (111) y (001) y de al menos 3 ejemplos donde se utilicen estas aleaciones
en su campo laboral.
13. Calcule la densidad de Au, Ag, Si, y Zn mediante conceptos de estructuras cristalinas, y compárela con la
encontrada en la tabla periódica. Además, para cada elemento haga una lista de las aplicaciones para la que
es usado en su campo de acción.
14. Para la Figura 2, ¿Cuántos átomos hay en una celda unitaria? ¿Cuál es el factor de empaquetamiento?
15. Explique las diferencias entre la estructura cristalina mostrada en la Figura 1 y la Figura 2. Haga para esto un
cuadro comparativo donde muestre las características de cada estructura cristalina.
Figura 2. Estructura Cristalina
16. Identifique un material o elemento que usualmente es utilizado en su entorno como ingenieros eléctricos o
electrónicos diferente a los trabajados en los puntos anteriores.
a) ¿Qué material escogió? ¿Por qué? ¿En qué aplicaciones es utilizado?
b) ¿Qué estructura cristalina tiene? Simulela utilizando la herramienta “Crystal Viewer Tool” de NanoHub.
Parte 2. Caracterización de materiales por medio de Difracción de Rayos X (DRX).
La difracción de rayos X es ahora una técnica común para el estudio de estructuras cristalinas y espaciamiento
atómico. Esta técnica se basa en la interferencia constructiva de rayos X monocromáticos y una muestra cristalina.
Los rayos X son una forma de radiación electromagnética que tiene elevada energía y corta longitud de onda: del
orden de los espacios interatómicos de los sólidos. [2].
Tomado de: Introducción a la Ciencia e Ingeniería de los Materiales. CALLISTER, W. Reverté S.A. Pag 57.
Figura 3. Difracción de Rayos X por los planos atómicos (A-A’ y B-B’).
En la figura 3 se consideran dos planos paralelos de átomos A-A’ y B-B’ que tienen los mismos índices de Miller h, k
y l, y están separados por una distancia interplanar dhkl. Se supone que un haz paralelo, monocromático y coherente
(en fase) de rayos X de longitud de onda λ incide en estos dos planos según un ángulo θ. Dos rayos de este haz,
señalados como 1 y 2, son dispersados por los átomos P y Q. Según su ángulo θ con los planos, ocurre una
interferencia constructiva de los rayos dispersados 1’ y 2’, siempre que las diferencias de recorrido entre 1-P-1’ y 2-
Q-2’ (p.ej. 𝑆𝑄 + 𝑄𝑇) equivalen a un número entero, n, de longitud de onda [3]. Es decir, la condición para la difracción
es:
𝑛𝜆 = 𝑆𝑄 + 𝑄𝑇 (1)
ó
𝑛𝜆 = 𝑑𝑘𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃 + 𝑑𝑘𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃 = 2𝑑𝑘𝑘𝑙 𝑠𝑖𝑛𝜃 (2)
La ecuación (2) es conocida como ley de Bragg: donde n es el orden de difracción, que puede ser cualquier
número entero (1, 2, 3…) siempre que 𝑠𝑖𝑛𝜃 no exceda la unidad. Así, se obtiene una simple expresión que relaciona
la longitud de onda de los rayos X y la distancia interatómica con el ángulo de incidencia del haz difractado. Sino
cumple la ley de Bragg, la interferencia es de naturaleza no constructiva y el campo del haz difractado es de muy
baja intensidad [3].
Los rayos X son generados en un tubo de rayos catódicos calentando un filamento para producir electrones. Los
electrones son acelerados hacia la muestra aplicando un voltaje y de esta manera es bombardeado el material con
electrones. Cuando los electrones tienen suficiente energía para desalojar los electrones de la capa interna del
material objetivo, se producen espectros de rayos X característicos. Estos espectros constan de varios componentes,
siendo el más común 𝐾𝛼 y 𝐾𝛽 [2].
La figura 4 es un espectro de difracción de una muestra de plomo pulverizada. Los picos de alta intensidad
aparecen cuando algún conjunto de planos cristalográficos cumple la condición de difracción de Bragg. Estos picos
de la figura corresponden a índices de planos [3].
Figura 4. Espectro de difracción de plomo pulverizado. (Cortesía de Wesley L. Holman) [3]
Esta parte del laboratorio se desarrollará haciendo uso del material audiovisual que se presenta a continuación. En
el primer enlace (video 1), encontrarán una charla brindada por un experto en DRX del departamento de Ingeniería
Mecánica de la Universidad de los Andes, mientras que en los enlaces 2 y 3, encontrarán información del
funcionamiento de la técnica de DRX y la generación de rayos X.
Video 1: https://youtu.be/vYCZJUqgm-E
Video 2: https://www.youtube.com/watch?v=QHMzFUo0NL8
Video 3: https://www.youtube.com/watch?v=07iZ7-IEyYE
A partir de la información suministrada. Responda:

1. Haga un video corto, máximo de 2 minutos, donde explique de manera sencilla, en qué consiste la técnica de
Difracción de Rayos X (DRX), liste los principios físicos en que esta se basa y se realice una breve descripción
general de un equipo de difracción de Rayos x.
2. De los temas discutidos hasta ahora en clase, describa cuales son esenciales para entender la técnica de DRX.
Utilice para esto un mapa conceptual. Sean Creativos
3. ¿En qué áreas usted como ingeniero eléctrico y/o electrónico utilizaría la técnica de DRX? Dé 3 ejemplos (puede
aquí usted describir escenarios o situaciones de proyectos).
4. ¿Qué información o datos se pueden conocer a partir de la técnica DRX y para que se usan?
En la figura 4 y 5, se observa los difractogramas de una muestra de sustrato de silicio y de una muestra de óxido de
Titanio respectivamente, suministrados por el laboratorio de mecánica de la Universidad de los Andes.
Figura 5. Difractograma Sustrato de Silicio.
Figura 6. Difractograma Óxido de Titanio.

5. Comparando los difractogramas de las figuras 5 y 6:

a. ¿Qué diferencias encuentra usted entre los difractogramas de la figura 5 y 6? ¿Qué conclusiones podría
sacar a partir de la información dada por los difractogramas de los dos materiales?
b. Si a usted le entregaran los dos difractogramas que se muestran en la figura 5 y 6, pero no conociera el
nombre de los materiales, ¿Cómo averiguaría de qué materiales se trataría?
c. ¿Cuál material tiene mayor densidad planar? Justifique su respuesta.
d. ¿Cuál material tiene menos planos cristalográficos? Justifique su respuesta.
Bibliografía recomendada
[1] Introducción a la Ciencia de los Materiales. WILLIAM CALLISTER JR. Disponible online:
https://www.academia.edu/21549297/Introduccion_a_la_Ciencia_e_Ingenieria_de_los_Materiales_WILLIAM_CALLIS
TER_JR_.
[2] NDT Resource Center, Disponible de Internet: https://www.nde-ed.org/index_flash.htm]
[2] X-Ray Diffraction: Instrumentation and Applications. Critical Reviews in Analytical Chemistry (2015) 45, 289–299.
[3] Introducción a la Ciencia e Ingeniería de los Materiales. CALLISTER, W. Reverté S.A. Pag 56-60.
[4]Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias. Vol. 3, No. 2, julio-diciembre, 2010.
www.mundonano.unam.mx
[5] https://youtu.be/vYCZJUqgm-E
[6] https://www.youtube.com/watch?v=B99Sd1MQPkY
[7] https://www.youtube.com/watch?app=desktop&v=07iZ7-IEyYE
CRITERIOS DE EVALUACIÓN (SI APLICA)
Criterio No. Criterio Descripción % Nota de la práctica
Entrega de informe con los requerimientos dados por el
1 Informe 90
profesor de laboratorio.
Asistencia y Asistencia y participación durante la sesión virtual de
2 10
participación laboratorio.

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Para ingresar al simulador, seguir los siguientes pasos.

Figura 1. Estructura Cristalina

A partir de la Figura 1 responder las siguientes preguntas:

Apoyándose en la herramienta “Crystal Viewer Tool” de NanoHub,

Figura 2. Estructura Cristalina

Parte 2. Caracterización de materiales por medio de Difracción de Rayos X (DRX).

Figura 3. Difracción de Rayos X por los planos atómicos (A-A’ y B-B’).

Figura 4. Espectro de difracción de plomo pulverizado. (Cortesía de Wesley L. Holman) [3]

A partir de la información suministrada. Responda:

Figura 5. Difractograma Sustrato de Silicio.

Figura 6. Difractograma Óxido de Titanio.

5. Comparando los difractogramas de las figuras 5 y 6:

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