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5.

Uno de los principales problemas en la manufactura de tarjetas electrónicas es la cantidad de cortos de soldadura
generan en el proceso de soldadora de ola.
Para tratar de encontrar las variables de entra- da del proceso que influyen en esta problemática se investiga si hay a
relación entre la cantidad de flux Imm) que se aplica en el proceso de soldado y la cantidad de cortos. Los datos obten
muestran a continuación. Haga un diagrama de dispersión para los datos y calcule el coeficiente de correlación. Cuales
conclusiones?

Chart Title
FLUX CORTOS 8
23 6
23.5 5 7

24 5 6
25 5 f(x) = − 0.336411965092483 x + 13.5104431239283
5 R² = 0.809846919379349
26 7
Cortos

26 5 4
26 5
3
28 4
28 3 2
28 4
1
30 4
30.1 2 0
22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 42
30.8 4 Flux
32 1
32.2 3
32.5 3
34 3
34.8 2
34.8 1
35.2 0 r(-)
35.7 2 -0.899914951192251
36 2 Correlación Negativa alta entre la cantidad de flux y los cortos
38 1
38.5 1
38.9 1
39 0
39.5 0
tidad de cortos de soldadura que se

blemática se investiga si hay alguna


ad de cortos. Los datos obtenidos se
ciente de correlación. Cuales son sus

36 38 40 42

)
1192251
d de flux y los cortos
6. Como parte del análisis del problema de ausentismo se decide investigar la relación
entre edad del empleado y días que faltó a laborar en el año.
Los datos del último año se muestran en el recuadro de abajo.
a) Mediante un diagrama de dispersión analice la relación entre estas dos variables.
b)¿Qué tipo de relación observa y cuáles son algunos hechos especiales?
c) Calcule el coeficiente de correlación e interprételo.

EMPLEADO EDAD FALTAS


12
1 29 7
2 33 5 10
3 40 2
4 23 5 8

Faltas en días
5 31 6
6 20 11 6 R² = 0.052625423927026
7 26 6
8 30 4 4
9 42 5
2
10 34 5
11 31 5
0
12 18 5 15 20 25 30 35 40
13 33 10
Edad
14 33 4
15 33 4
16 32 4
17 36 6 r= -0.22940232 correlación negativa baja entre las variables edad
18 30 7
19 20 3 A medida que aumenta la edad disminuye los días faltados
20 38 6
estigar la relación
año.
bajo.
tas dos variables.
especiales?
o.

30 35 40 45

baja entre las variables edad y faltas

sminuye los días faltados


En un proceso de manufactura de tarjetas electrónicas se quiere investigar la relación entre:
X: rendimiento de pruebas (yield), y Y: desperdicio (scrap).
Los datos obtenidos son los siguientes.

X Y
89.1 2116 Chart Title
92 1531 6000
90.1 2717
89.5 2004 5000

89.8 2984 4000 f(x) = − 535.216189802178 x + 50758.2526202272


91.5 1380 R² = 0.766794786115941
91 2545 3000

91.8 1611 2000


88.5 3477
87.9 3860 1000

91.7 1947 0
91.8 1594 86 87 88 89 90 91 92 93

91.5 2059
88.9 2880
86.7 4814
89.9 1827
90.3 3071
88 4015 r(-)
91.1 1975 r= -0.875668194075782
90.8 2352 Correlación Negativa alta

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