ANÁLISIS DE MUESTRA DESCONOCIDA POR MICROSCOPIA DE FUERZA

ATÓMICA (AFM) Y SU CARACTERIZACIÓN.

García Gómez, Alina; De León Portilla, Paulina.
Catedrático: Dr. N. Rutilo Silva González.
Instituto de Física “Luis Rivera Terrazas”. Benemérita Universidad Autónoma de Puebla.

Resumen.
L
Introducción.
La microscopia de fuerza atómica es una variante de la técnica descubierta por Gerd Binnig y
Christoph Gerber en 1985 llamada microscopia de efecto túnel (scanning tunneling microscope
STM). En febrero de 1986, Binnig, Quate y Gerber introducen el primer prototipo del AFM, seis
meses antes que Binnig y Heinrich Rohrer recibieran el premio Nobel por el STM.
El microscopio de efecto túnel, se basa en el efecto túnel de la mecánica cuántica, donde una
corriente fluye entre una punta afilada y una superficie conductora por el efecto de una tensión
eléctrica, de los datos obtenidos con el mismo uno puede hacer un mapa de tres dimensiones a
escala atómica de la superficie.
En contraste con el microscopio de fuerzas atómicas, se produce una fuerza entre los átomos de una
punta y la superficie. Como si fuera una varilla muy fina, el microscopio AFM siente la fuerza de
los átomos de una superficie para crear una imagen de la topografía atómica local. Montado en una
palanca que tiene una constante de resorte k, la punta puede ir a lo largo de la superficie, mientras
una computadora controla la realimentación para mantener la de deflexión constante o la punta
puede deliberadamente vibrar de arriba abajo y explorar la superficie.
En un AFM, se distinguen tres modos de operación básicos que son el modo de contacto, contacto
intermitente o “tapping” y no-contacto.
En el modo de contacto, la punta barre la superficie de la muestra, aplicando una fuerza constante
(F = constante) y sin levantar la punta de la superficie como se muestra en la figura 1. La fuerza
aplicada está relacionada con la deflexión que experimenta la punta mediante la constante de fuerza
del cantilever; así F = - k · D, donde F es la fuerza aplicada, k es la constante de fuerza del
cantilever y D la deflexión. Por tanto, trabajar a una determinada deflexión (D = cte) es equivalente
a trabajar a una fuerza constante, pues son proporcionales. Se fija la deflexión de trabajo y, a
medida que se hace el barrido, el escáner sube o baja (en Z) para mantener una deflexión constante
(D = cte por lo tanto F = cte). El movimiento vertical del tubo de barrido permite obtener una
imagen topográfica de la muestra que generalmente se llama Imagen de Alturas.

Figura 1. (a) Punta de AFM operando en el modo de contacto sobre la muestra; (b) Relación entre
Fuerza (F), Deflexión (s) y Constante de fuerza (k).
En el modo de contacto intermitente se aplica una señal sinusoidal, haciendo oscilar a la punta a su
frecuencia de resonancia. Los barridos se efectúan a una amplitud de oscilación constante,
denominada amplitud de trabajo como se muestra en la figura 2. El escáner de barrido sube y baja
(en Z) para mantener esa amplitud constante en todo momento. El movimiento vertical del tubo de
barrido, proporciona, de nuevo la imagen topográfica. Por efecto de la interacción de la punta con
los distintos constituyentes de la muestra, se produce un cambio en la fase de la onda sinusoidal
aplicada, esto es, un desfase. El registro de este desfase, permite obtener la denominada Imagen de
Fase. El cambio en la fase de la señal sinusoidal está relacionado con las propiedades mecánicas y
viscoelásticas del material bajo observación. Por ello, la denominada imagen de fase está
relacionada con los constituyentes (fases) del material bajo observación.

Figuara 2. (a) Amplitud y Fase de la señal sinusoidal aplicada a la punta en TM-AFM; (b) Punta de
AFM operando sobre la muestra en el modo de contacto intermitente.

Por otra parte, cuando se trabaja en condiciones de no – contacto, también se aplica una onda
sinusoidal, pero sin llegar a tocar la superficie de la muestra. Es más complejo, ya que debido a la
capa de contaminación de agua que recubre a todas las muestras, podría en cualquier momento
pasar a tocar la muestra. Sus aplicaciones se limitan al caso de muestras muy planas.
La geometría de la punta usada en el barrido por AFM tiene un rol importante en la calidad de
imágenes, en especial lo concerniente a la resolución lateral. Cuando la superficie de una muestra es
barrida a una distancia constante, la punta “se aproxima” con ella, producto de esa colisión se
desprende partículas, y dependiendo del área de la punta, dependerá el área que puede ser barrida y
por lo tanto visualizada.

Figura 3. Cantiléver triangular de Silicio con punta piramidal.

El cantilever donde se localiza la punta debe cumplir con propiedades específicas para lograr
resolución atómica; este debe tener propiedades elásticas, por lo que debe ser de material resistente
pero flexible; el cantilever debe cumplir con la ley de Hook, está relacionado con su longitud, el
módulo de Young E y su momento de inercia I; por medio de : K= 3EI/L3 Así, para una resolución
atómica, las flexiones del cantilever serán de algunos angstroms, por lo que se puede determinar
que K debe ser de entre 10-2 a 102 Newton/metro [Manzano. Aunque el catálogo de puntas usadas
para realizar barridos en AFM es amplio, hay dos tipos de puntas mucho muy empleadas en AFM
que son las de modo contacto y modo Tapping (figura 3) que en su totalidad son hechas de silicio
barnizado antimonio. Algunos aspectos importantes, son su tipo de geometría, que puede ser
isotrópica (tienen las mismas propiedades físicas en todas las direcciones) o anisotrópica (que son
diferentes en distintas direcciones), la altura, el tipo de ángulo, entre otras
Microscopía electrónica de barrido (SEM).
La técnica de microscopia electrónica de barrido (SEM) se basa en el principio de la microscopia
óptica en la que se sustituye el haz de luz por un haz de electrones consiguiendo con esto una
resolución superior a cualquier instrumento óptico.
Su funcionamiento consiste en hacer incidir un haz de electrones, el cual es generado en la parte
superior del microscopio por medio del calentamiento de un filamento de Tungsteno (W), el haz de
electrones sigue un recorrido a traves de la columna de vacio del microscopio, para evitar dispersión
de electrones, siendo direccionado por un conjunto de bobinas deflectoras que lo hacen recorrer la
muestra punto por punto a lo largo de líneas paralelas; a su vez atraviesa lentes condesadoras o
electromagnéticas que permiten el centrado en la muestra. El tamaño de los haces de electrones son
modificados por una rejilla de diferentes diámetros que permiten el manejo de la intensidad del haz
sobre la muestra como se muestra en la figura 1.
La muestra es colocada en un pequeño espacio, al cual se le hace vacío después de cerrada la puerta.
La puerta tiene tres palancas que el operador usa para: subir y bajar la muestra, rotar la muestra y
acercarla o alejarla. El porta muestra se introduce al microscopio electrónico a través de la
antecámara, en la cual se debe generar un vacío con la finalidad de mantener las condiciones
óptimas en el brazo del microscopio por donde viaja el haz de electrones, este vacío es de 10−4Torr.
El microscopio permite 5 grados de libertad para la platina que sirve de base para colocar la porta
muestra.
Cuando los electrones primarios golpean chocan con la muestra, son emitidos electrones
secundarios. Estos electrones secundarios son atraídos por un colector (“detector de centelleo” que
emite fotones cuando es excitado por los electrones que inciden sobre el) donde se aceleran y se
dirigen al escintilador, donde la energía cinética es convertida en puntos de mayor o de menor
luminosidad, es decir, en luz visible.
Esta luz es dirigida a un amplificador donde se convierte en señal eléctrica, la cual pasa a una
pantalla de observación donde la imagen es formada línea por línea y punto por punto, al ser por
electrones secundarios se obtiene una imagen SEI. Los circuitos que dirigen las bobinas de barrido
(que obligan al haz a barrer la muestra), son las mismas que dirigen la parte de colección de
electrones y que producirán la imagen.
Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan principalmente:
* Electrones retrodispersados.
* Electrones secundarios.
* Rayos X característicos del material.
El microscopio se encuentra internamente equipado con detectores que recogen la energía y
permiten la obtención de imágenes y datos significantes para su análisis. Los detectores con los que
se obtiene dicha información son:
- Detector de electrones secundarios (SEI): Obtenemos imágenes de alta resolución.
- Detector de electrones retrodispersados (BEI): Menor resolución de imagen pero mayor contraste
para obtener topología de la superficie.
- Detector de energía dispersada (EDS): Detecta los rayos X característicos generados por la
transición de los electrones hacia los niveles más bajos de energía atómica, y permite realizar un
análisis espectro gráfico de la composición de la muestra.

Figura 4. Diagrama de trabajo del microscopio SEM.

Espectroscopia de dispersión de energía de rayos x (EDS)

La técnica de caracterización EDS utiliza los rayos X característicos provenientes de una muestra
para identificar y cuantificar los porcentajes atómicos de los elementos presentes en ella. Consiste
en bombardear al objeto con electrones primarios los cuales si tienen la energía apropiada generan
la emisión de rayos X característicos provenientes de la muestra bajo análisis. Cuando el haz de
electrones de alta energía interactúa con la muestra, expulsa electrones de las capas internas dejando
vacancias. Con esto se tiene un átomo ionizado el cual regresa a su estado fundamental emitiendo
fotones de rayos X característicos. Estas transiciones electrónicas en forma de fotones de rayos X
corresponden a transiciones entre capas externas y la capa K Esta espectroscopia se realiza
habitualmente en un microscopio electrónico. El componente principal de un espectrómetro EDS es
un detector de estado sólido el cual produce
Por cada fotón incidente un pulso de voltaje proporcional a su energía. Cada vez que un fotón de
rayos X incide sobre el detector se crea una pequeña corriente producto de la remoción de un
electrón del detector hecho generalmente de silicio. La energía inicial de cada fotón de rayos X se
podrá determinar midiendo la cantidad de corriente producida. Con esta información, se podrá
construir un histograma que cuenta el número de fotones de rayos X existentes en cada valor
particular de energía.

Desarrollo experimental.
Material:
- Muestra desconocida.
- Disco metálico.
- Pinzas metálicas

Procedimiento:

Con las pinzas metálicas se tomó el disco metálico, se montó sobre el porta muestras con
pintura de carbón. Se monta posteriormente sobre el disco la muestra que se analizó.
Para realizar el estudio de la muestra mediante microscopia de fuerza atómica se introdujo
en el equipo el portamuestras sobre una platina. La cual mediante el manejo del tornillo
giratorio subimos la platina lo más seca del cantiléver sin llegar a tocarlo.
Utilizando el software WinSPM System Scaning se realizó un acercamiento de la muestra
al cantiléver donde se colocó una distancia aproximada y el sistema realizo un acomodo
para que el contacto del cantiléver sea el más cercano sin llegar a romper la punta.
Se escogió un área de escaneo en el centro de la muestra, el tiempo de escaneo para la
toma de imagen la calculo el sistema dependiendo de la velocidad y del área que se
escogió.
Resultados.
La realización de las imágenes topográficas se llevaron a una velocidad de 8.41um/s para
las dos y tiempo de escaneado 1827 segundos la imagen 1 a) con una área de escaneado
de 7.5 y la segunda de 3654 segundos de la imagen1 b) con una área de escaneado 15 y
el donde se obtuvieron en dos imágenes diferentes topográficas debido al área de
escaneado.
Imagen 1. Las imágenes topográficas muestran una superficie granular algo rugosa dentro
de esos mismos granos y que hay unos más grandes que otros por lo que no es constante los
tamaños.

Las imágenes topográficas por AFM son rugosas por consiguiente se realizó un estudio
perfilometría para conocer el tamaño y la altura de los granos se muestran en la imagen 2 la
distancia de la zona donde se tomó la topografía y el tamaño de grano.
Imagen 2. Loa perfiles de tamaño de la muestra se tomaron en cuenta las zonas en horizontal y el
tamaño de un grano. Los radios obtenidos son parámetros del área donde tomaron los perfiles.

Teniendo las imágenes topográficas por AFM mostraron una superficie rugosa y que tiene
una morfología algo granular con diferentes tamaños para comparación se realizó tomas de
imágenes SEI por el microscopio de electrones de barrido para la afirmación de la
morfología de la muestra; la muestra desconocida se apreció que tiene montículos como se
muestra en la imagen 4 Los cuales en las imágenes topográficas por AFM también se
aprecian confirmando la rugosidad.

Imagen 4. Muestra desconocida a una amplificación de X950 se observó unos bultos que
aparecen en las imágenes topográficas de AFM. La muestra presentó aglomeración en un
montículo grande a esta amplificación por lo que se debido a su tipo de depósito.

En la zona central de la muestra se tomaron imágenes SEI con una mayor amplificación
para tener mayor idea de la morfología y de si es demasiado rugoso como se observó en las
imágenes de topográficas AFM la imagen 5 a una amplificación de 15000X y 12000X
confirma la rugosidad.

Imagen 5. Diferentes zonas en el centro de la muestra donde se realizó las imágenes

topográficas AFM confirmando la rugosidad por el tipo de morfología no definida que
presenta variación de hojuelas en la superficie.
Las imágenes SEI confirman que la superficie de la muestra es rugosa pero no con
morfología granular como se muestra en la imágenes topografías por AFM esto se debe a el
tiempo en que se llevó acabo los saltos del cantiléver que dan una idea de que es granular la
superficie.
Para conocer que material es la capa delgada Donde se realizó las técnicas de AFM y la
obtención de imágenes SEI por la técnica no destructiva del EDS en las zonas del centro de
la muestra, misma donde se realizaron la toma de imágenes SEI se obtuvieron los espectros
mostrados en el histograma

Histograma 1. Se muestra una comparación de los espectros tomados en las imágenes 5 donde se
aprecia los componentes en gran medida de Estaño (Sn) y Oxígeno (O) con u poco de Carbono (C)
típico debido al contacto con el ambiente y con Nitrógeno (N) aunque no aparecen ese sitio donde
está el segundo pico es su posición.

Conociendo la muestra que es de Dióxido de Estaño ( SnO 2) la morfología que se apreció en

las imágenes SEI y en la topografía por fuerza AFM que mostraban rugosidad dentro de los
granos se confirmó que son las hojuelas dentro de las aglomeraciones de la capa delgada de
SnO 2.
Conclusiones.
La técnica de AFM nos da una información de cómo es la superficie de la muestra debido a
la interacción con el cantiléver con la muestra debido a la interacción de las fuerzas de Van
der Waals y que esa información debe complementarse con otra técnica para la
confirmación de la morfología de la película porque el tiempo de contacto, mejora la
imagen definiendo bien el tamaño y rugosidad, sea de largo se obtendrá la imagen con
mayor detalle de la superficie.
El tiempo en que se lleva a cabo la toma de imagen topográfica afecta la imagen como
también existen factores que afectan la imagen como el ruido y vibraciones que el
cantiléver puede sentir.
Referencias
Manual del Microscopio de Fuerza atómica (Digital Instruments/Veeco Metrology Group)