Estándar Número

1 E2544-09B
2 E2641-09
3 F0004-66R05

4 F0007-95R06
5 F0015-04R09
6 F0016-67R06

7 F0018-64R06

8 F0019-64R05E01
9 F0029-97R09
10 F0030-96R09
11 F0031-05
12 F0044-95R06
13 F0072-06
14 F0073-96R09
15 F0076-08

16 F0083-71R09
17 F0085-76R09
18 F0096-77R05
19 F0106-06
20 F0180-94R05
21 F0204-76R09
22 F0205-94R05
23 F0219-96R09
24 F0256-05E01
25 F0269-60R09
26 F0288-96R09
27 F0289-96R09
28 F0290-94R05
29 F0364-96R09
30 F0375-89R05
31 F0390-98R03
32 F0448-99R05
33 F0458-06
34 F0459-06
35 F0487-88R06
36 F0526-97R03
37 F0528-99R05
38 F0584-06E01
39 F0615M-95R08

40 F0744M-97R03
41 F0773M-96R03
42 F0980M-96R03

43 F0996-98R03

44 F1094-87R05

45 F1190-99R05
Estándar Número
46 F1192-00R06

47 F1238-95R03
48 F1262M-95R08
49 F1263-99R05
50 F1269-06
51 F1367-98R03
52 F1372-93R05

53 F1373-93R05

54 F1374-92R05

55 F1375-92R05

56 F1376-92R05
57 F1394-92R05
58 F1396-93R05
59 F1397-93R05
60 F1398-93R05

61 F1404-92R07

62 F1438-93R05

63 F1466-99R05
64 F1467-99R05

65 F1512-94R03
66 F1513-99R03

67 F1578-07
68 F1593-08

69 F1594-95R03
70 F1595-00R05
71 F1596-07
72 F1598-95R07

73 F1661-09
74 F1662-04

75 F1663-09
76 F1680-07A
77 F1681-07A

78 F1683-09

79 F1684-06

80 F1689-05
81 F1709-97R08
82 F1710-08

83 F1711-96R08

84 F1761-00R05
85 F1762-07
86 F1812-09
Estándar Número
87 F1842-09

88 F1843-09

89 F1844-97R08

90 F1845-08

91 F1892-06
92 F1893-98R03
93 F1894-98R03

94 F1895-98R04
95 F1896-98R04
96 F1995-00R05

97 F1996-06
98 F2072-01R07
99 F2073-01R06
100 F2112-02
101 F2113-01R07

102 F2187-02

103 F2188-02

104 F2357-04

105 F2358-04
106 F2359-04
107 F2360-08
108 F2405-04

109 F2576-09
110 F2577-06
111 F2592-09
112 F2617-08E01

113 F2725-08

114 F2749-09
115 F2750-09
116 F2771-09

117 F2792-09
Título

Terminología para sistemas de imágenes tridimensionales (3D)

Practique las mejores prácticas para la aplicación segura de la tecnología de imágenes 3D
Especificación para Carbonizado Níquel Tira y Carbonizado Niquelado y Niquelado Acero
Tira para Electrón Tubos
Especificación para polvo de óxido de aluminio
Especificación para la aleación de sellado de hierro-níquel-cobalto
Prueba Métodos para Medición Diámetro o Grosor de Cable y Cinta para Electrónico Dispositivos
y Lámparas
Especificación y Prueba Método para Evaluación de Vidrio a metal Encabezados Usado en Electrón
Dispositivos
Método de prueba para pruebas de tensión y vacío Sellos de cerámica metalizados
Especificación para alambre Dumet para aplicaciones de sellado de vidrio a metal
Especificación para aleaciones de sellado de hierro y níquel
Especificación para 42% de níquel-6% de aleación de sellado de cromo-hierro
Especificación para superficies metalizadas en cerámica
Especificación para el alambre de oro para la unión de plomo de semiconductores
Especificación para alambre de aleación de tungsteno-renio para dispositivos electrónicos y lámparas
Prueba Métodos para Medición Resistividad y salón Coeficiente y Determinando salón Movilidad en
Cristal individual Semiconductores
Práctica para la definición y determinación de constantes termiónicas de emisores de electrones
Práctica para la nomenclatura de cables utilizados como conductores en tubos de electrones
Especificación para aleaciones electrónicas de cobre y níquel en formas forjadas
Especificación para soldar metales de relleno para dispositivos electrónicos
Método de prueba para la densidad de alambre fino y alambre de cinta para dispositivos electrónicos
Método de prueba para defectos superficiales en varilla de sellado de tungsteno y alambre
Método de prueba para medir el diámetro del alambre fino pesando
Métodos de prueba de prueba de alambre fino redondo y plano para dispositivos electrónicos y lámparas
Especificación para aleaciones de sellado de cromo y hierro con 18 o 28 por ciento de cromo
Método de prueba para pandeo de alambre de tungsteno
Especificación para alambre de tungsteno para dispositivos electrónicos y lámparas
Especificación para alambre y varilla de molibdeno para aplicaciones electrónicas
Especificación para alambre redondo para enrollar laterales de rejilla de tubo de electrones
Especificación para alambre aplanado de molibdeno para tubos de electrones
Especificación para material de marco de plomo de circuito integrado
Método de prueba para la resistencia de la lámina de películas metálicas delgadas con una matriz colineal de cuatro sondas
Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
Práctica para pruebas de tracción no destructivas de enlaces de alambre
Métodos de prueba para medir la resistencia a la tracción de los enlaces de alambre microelectrónicos
Especificación para alambre fino de aluminio al 1% de silicio para unión de plomo a semiconductores
Método de prueba para medir la dosis para uso en acelerador lineal Pruebas de efectos de radiación pulsada
Método de prueba de medición de ganancia de corriente CC de emisor común de transistores de unión
Práctica para la inspección visual del cable de unión de plomo de semiconductores
Práctica para Determinando Seguro Actual Funcionamiento por pulsos Regiones para Metalización en
Semiconductor Componentes (Métrico)
Método de prueba para medir el umbral de la tasa de dosis para el trastorno de los circuitos integrados digitales (métrico)
Práctica para medir la respuesta de la tasa de dosis de los circuitos integrados lineales (métrica)
Guía para Medición de Rápido Recocido de Inducida por neutrones Desplazamiento Dañar en Silicio
Semiconductor Dispositivos (Métrico)
Prueba Método para Separando un Ionizante Inducida por la radiación MOSFET Límite voltaje Cambio
Dentro
Componentes Debido a Óxido Atrapado Agujeros y Interfaz Estados Utilizando el Subliminal Actual- voltaje
Caracteristicas
Prueba Métodos para Microbiológico Supervisión de Agua Usado para Procesando Electrón y
Microelectrónico Dispositivos por Directo Presión Grifo Muestreo Válvula y por el Preesterilizado El plastico
Bolso Método
Guía para la irradiación de neutrones de componentes electrónicos imparciales
Título
Guía para el Medición de Soltero Evento Fenómenos (SEP) Inducido por Pesado Ion Irradiación
de Semiconductor Dispositivos
Especificación para objetivos de refractarios de silicona para aplicaciones microelectrónicas
Guía para la prueba de umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales (métrica)
Guía para el análisis de datos de sobreexpresión en pruebas de radiación de piezas electrónicas
Métodos de prueba para pruebas de corte destructivo de enlaces de bola
Especificación para objetivos de cromo sputtering para aplicaciones de película delgada
Prueba Método para Exploración Electrón Microscopio (SEM) Análisis de Metálico Superficie Condición para
Gas Distribución Sistema Componentes
Prueba Método para Determinación de Ciclo Vida de Automático Valvulas para Gas Distribución Sistema
Componentes
Prueba Método para Iónico / Orgánico Extraíbles de Interno Superficies-IC / GC / FTIR para Gas Distribución
Sistema Componentes
Prueba Método para Energía Dispersivo Radiografía Espectrómetro (EDX) Análisis de Metálico Superficie
Condición para Gas Distribución Sistema Componentes
Guía para el análisis metalúrgico de los componentes del sistema de distribución de gas
Método de prueba para la determinación de la contribución de partículas a partir de las válvulas del sistema de distribución de gas
Método de prueba para la determinación de la contribución de oxígeno por los componentes del sistema de distribución de gas
Método de prueba para la determinación de la contribución de humedad por componentes del sistema de distribución de gas
Prueba Método para Determinación de Total Hidrocarburo Contribución por Gas Distribución Sistema
Componentes
Prueba Método para Cristalográfica Perfección de Galio Arseniuro por Fundido Potasio Hidróxido
(KOH) Grabar al agua fuerte Técnica
Prueba Método para Determinación de Superficie Aspereza por Exploración Tunelización Microscopía para
Gas
Distribución Sistema
Especificación Componentes
para aleaciones de hierro-níquel-cobalto para aplicaciones de sellado de metal a cerámica
Guía para Utilizar de un Radiografía Ensayador ([aproximado] 10 keV Fotones) en Ionizante Radiación
Efectos
Pruebas de Semiconductor
Práctica para Dispositivosde
la evaluación ultrasónica y Microcircuitos
la unión del escáner en C de conjuntos de placas de respaldo objetivo
Especificación para Puro Aluminio (Puro) Fuente Material para Electrónico Delgado Película
Aplicaciones
Método de prueba para el ciclo de cierre de contacto de un interruptor de membrana
Prueba Método para Rastro Metálico Impurezas en Electrónico Grado Aluminio por Alto Resolución masiva
Descarga luminosa Masa Espectrómetro
Especificación para el material fuente de aluminio puro (sin alear) para aplicaciones de revestimiento al vacío
Práctica para ver condiciones de inspección visual de interruptores de membrana
Método de prueba para la exposición de interruptores de membrana a temperatura y humedad relativa
Prueba Método para Determinando el Efectos de Químico / Solvente Exposición a una Membrana
Interruptor / Gráfico Cubrir (Mancha Prueba Método)
Método de prueba para determinar el tiempo de rebote de contacto de un interruptor de membrana
Prueba Método para Verificando el Especificado Dieléctrico Resistir a voltaje y Determinando el
Dieléctrico Descompostura voltaje de una Membrana Cambiar
Método de prueba para determinar la capacitancia de un interruptor de membrana
Método de prueba para determinar la resistencia del circuito de un interruptor de membrana
Prueba Método para Determinando Actual Que lleva Capacidad de una Conductor como Parte de una
Membrana
Cambiar para
Práctica Circuito
Arrugamiento o Doblar una Membrana Cambiar, Membrana Cambiar Flexionar Cola Montaje o
Membrana Cambiar Componente
Especificación para Hierro-níquel y Hierro-Níquel-Cobalto Aleaciones para Bajo Térmico Expansión
Aplicaciones
Método de prueba para determinar la resistencia de aislamiento de un interruptor de membrana
Especificación para objetivos de dispersión de titanio de alta pureza para aplicaciones electrónicas de película delgada
Prueba Método para Rastro Metálico Impurezas en Electrónico Grado Titanio por Alto Resolución masiva
Resplandor Descarga Masa Espectrómetro
Práctica para Medición Sábana Resistencia de Delgado Película Conductores para Plano Panel Monitor
Fabricación Utilizando una Cuatro puntos Investigacion Método
Método de prueba para pasar a través del flujo de objetivos de dispersión magnética circular
Práctica para exponer un interruptor de membrana a la variación de la presión atmosférica
Método de prueba para determinar la efectividad de la protección contra ESD del interruptor de membrana
Título
Prueba Método para Determinando Tinta o Revestimiento Adhesión en El plastico Sustratos para Membrana
Cambiar
Aplicaciones
Práctica para Muestra Preparación de Transparente El plastico Película (s usado en Membrana Cambiar
Superposiciones para De espejo Brillo Mediciones
Práctica para Medición Sábana Resistencia de Delgado Película Conductores por Plano Panel Monitor
Fabricación Utilizando una Sin contacto Remolino Actual Calibrar
Prueba Método para Rastro Metálico Impurezas en Electrónico Grado Aluminio-cobre, Aluminio-
Silicio, y Aluminio-Cobre-Silicio Aleaciones por Alta resolución masiva Resplandor Descarga Masa
Espectrómetro
Guía para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
Guía para la medición del agotamiento de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores
Prueba Método para Cuantificación Tungsteno Siliciuro Semiconductor Proceso Película (s para
Composición y
Grosor
Práctica para la inmersión de un interruptor de membrana
Método de prueba para determinar la resistividad eléctrica de un material conductor impreso
Prueba Método para Determinando el Enlace Fuerza de una Superficie Montar Dispositivo (SMD) en una
Membrana Cambiar por Aplicando Cortar Fuerza
Método de prueba para la migración de plata para circuitos de interruptores de membrana
Práctica para la conexión de un interruptor de membrana
Método de prueba para pruebas no destructivas de cortocircuito de un interruptor de membrana
Terminología para interruptores de membrana
Guía para Análisis y Informes el Impureza Contenido y Grado de Alto Pureza Metálico
Sputtering Objetivos para Electrónico Delgado Película Aplicaciones
Prueba Método para Determinando el Efecto de Aleatorio Frecuencia Vibración en una Membrana Cambiar
o Membrana Cambiar Montaje
Prueba Método para Determinando el Efecto de Variable Frecuencia Vibración en una Membrana Cambiar
o Membrana Cambiar Montaje
Prueba Método para Determinando el Abrasión Resistencia de Tintas y Revestimientos en Membrana
Interruptores Utilizando el normando Herramienta "RCUNA" Abrader
Guía para medir las características de los sustratos de zafiro
Método de prueba para determinar el color de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
Método de prueba para determinar la luminancia de un interruptor de membrana retroiluminado con fuente de luz difusa
Prueba Método para Rastro Metálico Impurezas en Alto Pureza Cobre por Alta resolución masiva
Resplandor
Descarga Masa
Terminología Espectrómetro
relativa a sustancias declarables en materiales
Guía para la evaluación de materiales y productos para sustancias declarables
Método de prueba para medir el desplazamiento forzado de un interruptor de membrana
Prueba Método para Identificación y Cuantificación de Cromo, Bromo, Cadmio, Mercurio, y
Dirigir en Polimérico Material Utilizando Energía Dispersivo radiografía Espectrometria
Guía para europeo De la Unión Registro, Evaluación, y Autorización de Productos quimicos (ALCANZAR)
Suministro Cadena Información Intercambiar
Método de prueba para determinar los efectos de doblar un conjunto o interruptor de membrana
Método de prueba para determinar los efectos de doblar un interruptor o conjunto de membrana
Prueba Método para Determinando el Luminancia Curva de un Electroluminiscente Lámpara a Ambiente
Condiciones
Terminología para tecnologías de fabricación aditiva
triz colineal de cuatro sondas

egrados digitales (métrico)

os digitales (métrica)

s del sistema de distribución de gas

l sistema de distribución de gas
sistema de distribución de gas

respaldo objetivo

cas de película delgada

uente de luz difusa
con fuente de luz difusa