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InterferometriaContemporanea PDF
InterferometriaContemporanea PDF
Interferometría Óptica
Contemporánea
ideas fundamentales
GUSTAVO RODRÍGUEZ-ZURITA
LABORATORIO DE INTERFEROMETRIA.
PUEBLA-MEXICO.
2
Prefacio.
“John Bruning is well known as the co-inventor of the phase-shift interferometer which
revolutionized precision interferometry measurements. Prior to John’s invention one
could determine the figure of an optical flat or a lens to only about 1/50 of the
wavelength of light.”
Henry Smith, Associate Director, NanoStructures Laboratory, MIT.
3
Con el advenimiento de la luz láser en 1961, la Interferometría Clásica se
revitalizó inusitadamente. Las técnicas ya establecidas recibieron un
renovado ímpetu, como fue el caso de las Pruebas de Componentes
Ópticas. Los láseres fomentaron también otras nuevas técnicas, como la
Holografía, la Interferometría Holográfica, y la Interferometría de moteado
coherente (Speckle). Los Efectos Alineales (Non-Linear Effects) planteaban
nuevos materiales para registro y para generación de nuevas frecuencias y
de operaciones coherentes, todo de potencial relevancia en conjunto con la
Interferometría.
4
baja actividad se refleja en valores bajos de irradiancia, o incluso, en
valores nulos.
5
_ se pueden visualizar, y medir características, de estructuras
transparentes en dos y en tres dimensiones.
6
En el capítulo cuarto, se revisan diversos métodos y componentes de
sistemas interferométricos específicos, incluyendo los métodos de
polarización y electrónicos. En el quinto capítulo, se describen los
fundamentos de los métodos heterodinos y los cuasi-heterodinos en
Interferometría. Finalmente, en el capítulo sexto, se describen varios casos
ilustrativos de técnicas en interferometría de corrimiento de fase.
7
Reconocimientos.
Tal vez nunca agradeceré lo suficiente por las enseñanzas sobre estos
temas a A. Cornejo-Rodríguez, D. Malacara-Hernández, O. Harris-Muñoz,
M. Mantravadi, J. de J. Pedraza-Contreras, C. Roychoudhuri, P. Givens, W.
Schreiber, L. Wenke, B. Harnish, R. Rodríguez-Vera, A. Dávila-Álvarez,
A. J. Moore, V. Arrizón-Peña, A. Cordero-Dávila, A. Morales-Romero y
F. Mendoza-Santoyo. Sirva esta modesta mención para atenuar un poco el
peso de tan formidable compromiso.
8
Índice.
Capítulo 1.
Interferencia de Young.
Capítulo 2.
Interferencia de dos ondas planas (interferencia de Young en Campo
Lejano).
Capítulo 3.
El Interferómetro tipo Michelson.
9
3.1.2 El patrón debido a una fuente extendida…………………….48
Capítulo 4.
Otros interferómetros.
10
4.4.2 Interferometría de correlación fotográfica de speckle.……...105
4.4.3 Aplicaciones de ESPI: deformación…………………….…..106
A. El vector de sensibilidad
B. Sensibilidad fuera y dentro de plano
B.1 Configuración fuera de plano
B.2 Configuración en el plano
B.3 Deformaciones de una plancha plana combada en
cuatro puntos
Capítulo 5.
Interferometrías heterodina y cuasi-heterodina.
Capítulo 6.
Tópicos de interferometría de corrimiento de fase.
11
6.3 Algunas consideraciones suplementarias…………………………155
BIBLIOGRAFÍA BÁSICA…………….…………………………181
APÉNDICES.
Carré……………………………………………………….…209
12
Apéndice E. Elementos de un programa para ilustrar el método de
Hariharan………………………………………………..……213
13
14
Capítulo 1
Interferencia de Young.
15
La iluminación de ambas rendijas se obtiene de otra rendija (única y
centrada) practicad en la pantalla S0 al otro lado de S. Esta rendija se
ilumina con una onda plana de longitud de onda λ. Considerando el
principio de Huygens, la tarea de cada rendija consiste en seleccionar
fuentes secundarias de Huygens, o sea, fuentes puntuales luminosas. La
sincronía entre las fuentes en posiciones x’=± d se busca garantizar
con el empleo de una sola fuente puntual, que es la centrada.
(1.a)
16
diferencia consiste en que las amplitudes no son identicas por
recorrer cada frente distinta distancia. Esto es una consecuencia de la
atenuación propia de una onda esférica con frente de radio r.
ii) conduce al caso en que las fases entre los
frentes sea , lo cual indica que los frentes llegan fuera
de fase por π (ó 180°).
(1.2.a)
(1.2.b)
17
aproximación de Taylor
(1.3)
(1.4.a)
(1.4.b)
En el experimento de Young, conociendo los datos d, a y posiciones de
máximos (o mínimos ), puede determinarse el valor de λ. Esta es
la región asintótica de las hipérbolas. Ejemplo, dos rendijas
separadas por 0.65 mm proporcionan una separación entre mínimos
adyacentes de 1mm al observarlos a 1m de distancia. Con estos
datos, se obtiene por sustitución que:
18
valor que corresponde a un estímulo cromático rojo. Note que
diferentes valores de λ proporcionarían distintas separaciones
bajo iguales condiciones de d y de a.
19
Los elementos de un programa que use código en Mathcad® y que
muestre la superposición de amplitudes de dos ondas esféricas se
enlistan a continuación. Las gráficas son de tres dimensiones y se
pueden animar con las herramientas del mencionado paquete.
2 2 2 2
r2 ( xy ) ( y a) x r1 ( xy ) ( y a) x Am 1 t FRAME
10
r 0.000000001
i i
Am
E2( xy t) cos ( 15 r2( xy) t) E E1 x y t E2 x y t
r2( xy) r i j j j
Am
E1( xy t) cos ( 15 r1( xy) t)
r1( xy) r
E E
20
tienden a ser líneas rectas. Cuando el plano es normal al eje de
simetría, las líneas de igual diferencia de fase tienden a ser círculos
concéntricos.
Para encontrar la grafica (3D y las líneas de nivel) del disturbio total
formado por ondas esféricas en posiciones (0, ) se puede recurrir a un
paquete de cálculo avanzado para PC considerando los siguientes
elementos en código Mathcad®:
xM xm yM ym 2 2 2 2
x xm i y ym j r1 ( xy ) ( y a) x r2 ( xy ) ( y a) x
i N 1 j N 1
Am 1 r 0.000000001 t FRAME
10
Am Am
E1( xy t) cos ( 15 r1( xy) t) E2( xy t) cos ( 15 r2( xy) t)
r1( xy) r r2( xy) r
E
i j i i
E1 x y t E2 x y t
j j
1.2 División de frente de onda.
21
Figura 1.4. Espejo de Lloyd
22
onda no proporcionarán, en general, un valor de irradiancia igual a
cero.
Sin tener que usar distancias muy grandes, una lente de focal positiva
puede acercarse a la condición referida en la aproximación paraxial.
La razón estriba en que se pueden generar ondas planas que
interfieran, en vez de ondas esféricas, tal como se describe en el
siguiente capítulo.
23
24
Capítulo 2.
Interferencia de dos ondas planas
(interferencia de Young en campo
lejano).
25
Una doble rendija apropiadamente iluminada se coloca en el plano
focal anterior de la lente de focal f > 0. Por su posición respecto a la
lente, de ser onda esférica, al emerger de la misma lente lo hace
como una onda plana. La inclinación del vector de onda (i = 1,2)
está dada por
( 2.1 )
y
( 2.2 )
( 2.3 )
(2.4.a)
(2.4.b)
26
Habiendo dejado aparte el factor para usar unidades
arbitrarias. Así para dos ondas,
(2.5.a)
(2.5.b)
27
y
(2.5.c )
( 2.5.d)
28
interferencia). Dado que es una frecuencia angular espacial, se debe
tener la relación de la cual se puede obtener que,
de donde
. ( 2.6 )
, ( 2.7 )
29
( 2.8 )
Figura 2.2. Vectores de onda y dirección de campos eléctricos al ángulo 1. Caso
perpendicular.
(2.8.a )
30
Figura 2.3. Irradiancia total como función de la posición (patrón de interferencia)
(2.8.b)
donde
y (2.8.c,d)
(2.9.a)
31
(2.9.b)
se reduce a
( 2.10 )
32
Figura2.5. Modulación de franjas (caso escalar) en función del cociente de irradiancias
.
Figura 2.6. Vectores de onda y dirección de campos eléctricos al ángulo 1. Caso
paralelo.
33
Se halla que y forman un angulo de entre sí. Esto es una
diferencia del caso perpendicular. De hecho, ( )y
( ) de donde, en coincidencia con el análisis
grafico,
( 2.11 )
( 2.12 )
34
Figura 2.7. Superposición de campos con polarizaciones circulares iguales.
como sigue
( 2.13 )
(2.14.a)
(2.14.b)
35
2.3.2 Polarizaciones circulares opuestas.
( 2.15 )
(2.16.a)
(2.16.b)
36
Entonces, en el caso colineal, cuando efectivamente las polarizaciones
son ortogonales, la modulación es cero. Pero cuando haya franjas,
surge un cambio de signo en su contraste.
Nótese que la fase de la ec. 2.5 determina una translación del patrón
de interferencia. Por ello, si la fase no permaneciese constante
durante el tiempo de detección, dicha translación cambiaría
correspondientemente. Si estos cambios fuesen tan rápidos que no
pudieran ser resueltos en tiempo, sólo se registraría un promedio
temporal que ocultaría la naturaleza periódica del patrón. Esto explica
la dificultad de observar interferencia usando fuentes independientes,
ya que cada fuente tendría variaciones azarosas de 1 y 2,
proporcionando en su resta, por lo general, una función con
fluctuaciones al azar cuya rápida variación impida la observación de
un patrón de franjas.
Es debido a ello que, de no contar con fuentes sin variaciones
aleatorias rápidas, se puede conseguir una constante a partir de la
generación de una imagen de una fuente con variación 1. Esta imagen
resultaría con una fase de variación aleatoria 2 que resultaría ser la
37
imagen de 1. En otras palabras, 1 y 2 estarían correlacionadas. Se
esperaría entonces que la fuente reproducida tendría una variación 2 =
1 + constante, de modo que la resta resulte en dicha constante. Ésta
puede ser cero.
En resumen, el método de división de frente de onda busca
precisamente la generación de dos ondas con fluctuaciones de fase
idénticas.
Por lo anterior, un patrón de interferencia viene a ser un indicador de
la correlación entre dos fuentes.
***
9 90
N 128 i 0 N 1 600 10 p 0.0000000000001 1 i
i N 1
9 0
K 2 0 450 10 0
2 sin p 2 sin p
1 1
180 180
K0 2
0
38
6
110
7
810
i 610
7
0 i 7
410
7
210
0
0 20 40 60 80 100
1 i
7
310
7
Ki 210
K0i
7
110
0
0 20 40 60 80 100
1 i
Los períodos deben variar desde ∞ para cero rads, hasta /2, mientras
que K, desde cero hasta 4 .
9
600 10 p 0.0000000000001 0
39
CASO POLARIZACIÓN PERPENDICULAR
IT1( Kp x) I1 I2 2 I1 I2 cos ( Kp x )
a I1 I2
I1 I2
m1 2 m1 1 a 2
a
1.5
IT1 Kp 2 x
1 1 0.176
a 2
4
0.5 Kp 6.451 10
2
4
0 Kp 3.225 10
0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 1
x 6
Kp 2.094 10
0
1.5
IT1 Kp 3 x
a
1
IT2 Kp 3 x1 3
a
0.5
0
0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06
x
40
CASO POLARIZACIÓN CIRCULAR (IGUALES)
2
( 1) IT3(Kp x1) a(1 m3(1)cos (Kpx ))
m3(1) m1cos
1.5
IT1 Kp 5 x
a
1
IT3 Kp 5 x1 5
a
0.5
0
0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06
x
1.5
IT1 Kp 5 x
a
1
IT4 Kp 5 x1 5
a
0.5
0
0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06
x
41
Nótese el cambio del signo del contraste de franjas en el último caso
(circulares opuestas).
(2.17)
(2.18)
siendo y .
(2.19)
42
observar un patrón, debe permanecer suficientemente constante en
términos del tiempo de respuesta del detector como otra condición
necesaria.
Nótese que, atendiendo a la estructura del término espacial de la fase,
surge una longitud de onda , llamada en ocasiones,
longitud de onda sintética. Análogamente, para el término temporal, se
tiene una frecuencia . La tabla 2.1 muestra algunos valores de
y para casos usuales de pares de longitudes de onda cercanas, o
muy cercanas.
Tabla 2.1
43
del nuevo interferograma con el grabado se puede describir como la
superposición de dos rejillas de distinto período, por lo cual se formarán
franjas de moirè.
El período de estas franjas de moirè está dado por . En este caso, no
existiría inconveniente con los valores altos de puesto que ambos
patrones son estáticos. Sólo se reproduce el patrón y no la onda de
periodo Δ . La técnica tampoco demanda de un detector a .
44
Capítulo 3.
El interferómetro tipo Michelson.
El interferómetro de Michelson, una versión más simple del más
famoso interferómetro de Michelson-Morley, realiza una división de la
luz en dos haces basándose en la reflexión y transmisión propias de una
placa dieléctrica. El esquema incluye dos espejos a los lados de
una placa conocida como divisor de haz (DH, fig. 3.1).
Una onda proveniente de una fuente S incide sobre una placa plano
paralela a 45° aproximadamente, de modo que una parte del haz se
refleja, digamos que en la primera cara de la placa (externamente) y
parte se transmite rumbo a la segunda cara. En ella, vuelve a
transmitirse e incide normalmente en un espejo . Este retorna al
haz a la placa divisora. Por otro lado, el haz que primero se reflejó es
tornado a la placa divisora por otro espejo . Así, las ondas se reúnen
45
en la placa divisora y, al transmitirse rumbo a la lente L, se superponen,
pudiéndose observar su interferencia sobre un plano X.
46
( 3.1 )
( 3.2 )
47
considerados inicialmente definiendo un círculo de radio
centrado en el centro del plano focal. La irradiancia sobre dicho
círculo será igual si la asociada a cada rayo tiene igual valor. Esto
se debe a que . Se concluye que P contribuye con un
patrón de franjas circulares concéntricas en el plano focal de L.
( 3.3 )
( 3.4 )
48
3.2. El divisor de haz con espesor determinado.
49
3.3.a se muestran, sin embargo todos los rayos involucrados al
considerar las 2 incidencias de la fig.3.3.b. Esto incluye una amplitud
del rayo incidente desde el medio de índice , y a la
amplitud transmitida al medio de índice , que es .
Igualmente, el rayo incidente desde el medio se refleja con
amplitud indicando por el coeficiente de reflexión
de Fresnel de un medio con índice a otro índice . Finalmente, el
haz transmitido al medio superior tiene amplitud .
Para hacer compatibles las figs.3.3.b con 3.3.c, se identifican los haces
superpuestos con los haces de igual dirección, obteniéndose
i)
ii)
(3.5.a )
(3.5.b )
estando relacionados los valores angulares por
( 3.6 )
( 3.7 )
50
3.2.2 El cambio de fase de en un divisor de haz.
( 3.8 )
51
3.2.3 La dispersión y la aberración esférica.
52
Los patrones de interferencia bajo iluminación policromática
requieren de una compensación simultánea de la dispersión.
Medición de distancias
Mediciones de longitudes de onda monocromática
Medición de anchos de paquetes de onda
Extracción de espectros de fuentes por modulación de franjas
53
observar el centro de estas franjas. Es la condición de la ec.
3.2 la diferencia de caminos es únicamente de
( 3.9.a )
(3.9.b)
(3.10)
54
continuamente cerca de la posición inicial, llega un momento en el
que se observan franjas coloreadas de interferencia (ver apéndice I).
( 3.11 )
( 3.12 )
(3.13.a)
55
Estimaciones de ∆.
Para obtener una mejor idea del parámetro ∆, nótese primero que se
anula cuando
(3.13.b)
(3.13.c)
Siendo . Tomando
(3.13.d)
56
Espectroscopia de transformada de Fourier.
(3.14 )
(3.15.a)
(3.15.b)
(3.15.c)
57
B. La misma situación puede enfocarse pensando en que el divisor
de haz genera dos pulsos iguales de amplitudes y
de modo que, al superponerse sobre el campo de
observación se obtiene un promedio estimable en
(3.16)
58
3.2.5 Divisores cúbicos de haz.
59
refracción np) se unen con un apilamiento multicapa al ángulo de
Brewster alternando índices alto na y bajo nb de espesor efectivo /4.
Se debe cumplir que . A menudo se requiere el
uso de placas retardadoras de y de , como se ejemplifica más
adelante.
Figura 3.8. Campo linealmente polarizado incidente en una placa retardadora de un medio
(/2) y separado por un divisor cúbico de haz.
60
El efecto consiste en que la componente del campo en dirección de
eje rápido se adelanta medio periodo respecto de la componente
perpendicular a dicho eje.
61
El haz incidente es circularmente polarizado y de frecuencia . Los
retardadores tienen su eje rápido a 45° del plano del esquema para
ajustar las polarizaciones reincidentes en el divisor de modo que se
transmitan o reflejen hacia los detectores A o B según el caso (¿Qué
sucedería si no estuvieran presentes los retardadores?).
62
Capítulo 4.
Otros interferómetros.
4.1 Interferómetros con autorreferencia.
63
desplazada se generaría un patrón de interferencia con un
término de interferencia dependiente de la diferencia de fases
. El patrón de interferencia puede
interpretarse aproximadamente como si sus variaciones se
describieran por la derivada .
En el desplazamiento radial, una copia del frente de onda se contrae
de escala según , con ρ el cociente de la distancia radial de
un punto del patrón de interferencia con el radio máximo del frente de
onda sin contraer, y ρ´ el cociente de la misma distancia radial con el
máximo radio del frente contraído. Si el segundo frente de onda se
expande , con similar definición para ρ´, el desplazamiento
radial efectivo es . Las distancias Si medidas radialmente,
son iguales para dos puntos correspondientes. Puede realizarse con un
interferómetro Mach-Zehnder con un par telescopios intercalados en
cada brazo de distinto diámetro de salida. También, se logra con
interferómetros cíclicos y lentes colocadas asimétricamente respecto
al divisor de haz empleado.
Con la técnica rotacional, la copia del frente de onda se rota por un
cierto ángulo (con prismas Dove, por ejemplo). El resultado puede
interpretarse como debida a una derivada angular del frente de onda
. Puntos de un mismo radio sufren igual desplazamiento Si. El
desplazamiento inverso es un caso especial ( = 180°) con doble
sensibilidad, pero sólo a la parte impar del frente de onda (la parte par
no es detectada).
En el plegado, un frente se invierte respecto de alguna línea,
resultando en un desplazamiento perpendicular a dicha línea. El
desplazamiento Si se incrementa conforme el punto está más separado
de dicha línea. Se pueden usar prismas o espejos retro-reflectores para
lograr la inversión.
En conjugación de fase, la copia de la onda con factor espacial
se superpone con su onda compleja conjugada, de factor
. La diferencia de fase determinando el patrón de
interferencia resulta , duplicándose así la
sensibilidad del sistema respecto de uno basado en interferencia con
referencia plana. La onda conjugada puede obtenerse mediante
64
procedimientos holográficos, ya sea estáticos (fotográficos con alta
resolución, por ejemplo, H) o dinámicos (en tiempo casi real, con
materiales no lineales como los cristales fotorrefractivos, NLH).
65
Tabla 4.1. Casos de Autorreferencia
Patrón de
Desplazamiento interferencia
Nombre Superposición método
(shear) (desplazamiento
pequeño)
Lateral
Radial
Rotacional
66
Plegado
Conjugación
de fase
Temporales
67
4.2 Interferencia en placa dieléctrica de caras plano paralelas.
A. Dos haces pueden emerger paralelos de una placa paralela por reflexión
y transmisión de un haz incidente, corno muestra la fig. 4.1.
( 4.1 )
68
donde se uso también la ley de Snell, ec. 3.6. De la cuarta igualdad,
, de modo que
( 4.2 )
( 4.3 )
B. Nótese también que, si los rayos de la figura son los centrales de un haz
de sección finita (circular o rectangular, por ejemplo), se obtendrán dos
haces abandonando la placa de igual sección con sus centros mutuamente
desplazados por la cantidad (caso de haz colimado). Como
consecuencia de las relaciones geométricas anteriores ( )
( 4.4 )
69
número más reducido de franjas rectas dentro del campo de superposición,
siendo paralelas al desplazamiento.
***
N 1024 i 0 N 1
M 0
0 0 M 0 i
2 i N 1
0.9
0.8
0.7
0.6
shear_t i
0.5
shear_r i
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0 20 40 60 80 100
180
i
70
C. EI espesor y el índice de refracción de una placa puede estimarse
con conteo de franjas. Para ello, considérese la diferencia de caminos
ópticos de placas plano paralelas inclinadas, según la figura 4.2. Un rayo
vertical incide por abajo al ángulo respecto de la normal,
Figura 4.2. Diferencia de caminos ópticos entre dos rayos incidentes paralelos. Sólo uno de
ellos, atraviesa la placa dieléctrica.
donde
(4.5.b )
y
(4.5.c )
entonces, con
71
(4.6.a )
( 4.6.b )
Figura 4.3. Arreglo interferométrico para conteo de franjas como función del ángulo de
incidencia en placa dieléctrica.
72
D. La anterior situación puede realizarse mediante un arreglo Mach-
Zehnder, como se muestra en la figura 4.3.
( 4.7.a )
con
( 4.7.b )
El patrón puede verse en ambos lados del divisor DH2 con un contraste
que depende del comportamiento de la superficie parcialmente reflectora
a (ya sea dieléctrico o híbrido). es periódica con periodo y rango
de valores
(4.7.c)
(4.8.a)
73
(4.8.b)
7
6.32810
N 1024 i 0 N 1 d 1 n2 1.5
M 0
0 0 M 2 0 i
i N 1
( ) 2
d
2 2
n2 sin( ) 1 sin( )
2
W
( 0)
2
( ) (( ) (0))
74
6
710
6
6.310
6
5.610
6
4.910
6
4.210
( ) 3.5106
6
2.810
6
2.110
6
1.410
5
710
0
0 20 40 60 80 100 120 140160 180 200220 240 260 280300 320 340 360
180
7
1.210
7
110
i
810
6
2
( 0)
6
610
6
410
0 100 200 300 400
180
i
75
La ec. 4.8.b puede usarse para ajustar datos experimentales con
parámetros de ajuste y (o para calcular ) estimando por
conteo de franjas como función del ángulo .
76
razones de compensación de trayectorias, los divisores usados son
cúbicos.
(4.9)
77
D. Interferómetro cíclico tipo Sagnac.
78
E. Patrones de interferencia de frentes aberrados observados en
Twyman-Green.
a: esfericidad
b: coma
c: astigmatismo
d: defoco
e: inclinación en dirección y
f : inclinación en dirección x
g: fase constante
79
Coef. a b c d E f g
Gráfica
I 6 0 0 0 0, 1.7 0, 1.7 0
II 0 5 0 0 0. 1.7 0, 1.7 0
III 0 5 0 1.6 0, 1.7 0, 1.7 0
IV 0 0 2 0 0, 1.7 0, 1.7 0
V 0 0 2 -4 0, 1.7 0, 1.7 0
80
I. Esfericidad en foco paraxial e inclinaciones.
81
II. Coma en foco paraxial e inclinaciones.
82
III. Coma con defoco e inclinaciones.
83
IV. Astigmatismo sin defoco (foco de Petzval).
84
V. Astigmatismo en mejor foco (medio).
85
F. División por birrefringencia.
Dicha separación será a cierto ángulo, muchas veces menor a 90° (ondas
ordinarias y extraordinarias). Esta propiedad posibilita a la formación de
interferencia por desplazamiento lateral, con la ventaja de poder usar
iluminación policromática, como es el caso de la interferometría de
contraste diferencial (o de Nomarsky, de empleo en microscopía). Otro
arreglo para visualizar flujo de corrientes de aire (túnel de viento) se
muestra en el esquema de la fig. 4.7, donde se emplean dos espejos
parabólicos (fuera de eje con focos y ) y luz policromática de tamaño
limitado por un pequeño diafragma.
86
Figura 4.7. Interferómetro diferencial con elementos birrefringentes.
87
En la fig.4.8 se esquematiza una superficie plana con partículas o granos
de esparcimiento. Puesto que la superficie puede pertenecer a una placa,
habrá una segunda superficie a una distancia d. Se supondrá aquella
fuente puntual de alta reflectividad. Dos rayos coherentes
88
( 4.10 )
( 4.11 )
89
El haz procedente de la fuente cruza por la placa antes de enfocarse por
la lente L en el centro del espejo cóncavo. La posición de se elige sobre
el centro de curvatura de , de modo que su imagen aparecerá al otro
lado del centro cc con amplificación unitaria. Si ahí se coloca una
réplica de ( ), se tendrá la situación de la fig. 4.8. Diversas técnicas se
han sugerido para obtener réplicas de placas esparsoras; pero puede
colocarse un espejo plano en su lugar, y observar atrás de un divisor de haz
que sustituya a . En este caso, sin embargo, sólo los términos pares del
frente de onda podrían contribuir al patrón de interferencia (aunque su
contribución sería doble).
Nótese que los haces involucrados en la interferencia (directo-esparcido y
esparcido-directo) atraviesan por las mismas componentes ópticas. Sus
caminos ópticos son muy parecidos y puede iluminarse en luz
policromática. Usado en pruebas de taller óptico.
Otros elementos de efectos similares al de las placas de esparcimiento
también pueden usarse, como las placas zonales de difracción.
Otro tipo de arreglo con rejillas de difracción se muestra en la fig. 4.10. Dos
ventanas ( , separadas por ) se colocan en el plano focal anterior de
una lente de focal f. En su plano focal posterior se tiene una rejilla de
periodo .
Este plano está separado de una segunda lente por su respectiva
longitud focal, que es igualmente . En su plano focal posterior, se
forman las imágenes paraxiales de y (denotadas por y
); pero, producidos por la rejilla, también aparecen órdenes de
90
Figura 4.10. Interferómetro con rejilla de difracción.
91
de observación, como para implementar el método interferométrico de
corrimiento de fase (descrito en el capítulo 6).
92
A. En una holografía de doble exposición, en una misma emulsión
fotográfica se exponen dos hologramas en distintos tiempos. Cuando el
estado del objeto genera distintos frentes de onda en cada tiempo de
registro, al iluminar la rejilla resultante, se reconstruyen los dos frentes al
mismo tiempo. Así, estos frentes interfieren entre sí, ofreciendo al
espectador un patrón de interferencia en tres dimensiones por lo general
(fig.4.11).
Si el cambio en el frente de onda fuera relativamente pequeño (algunas
longitudes de onda), no se llegan a distingir dos objetos reconstruidos
como imagen doble. Sólo se detecta una imagen, aparentemente la misma
que estuvo presente en ambas tomas. Entonces, el patrón resultante
observable se superpone al objeto y contiene la información de la
diferencia entre los dos frentes de onda (Figs.4.11 y 6.7). Si otro objeto
estuvo ausente en alguna toma, se percibirá como transparente y sin
franjas. Mientras permanezcan los dos frentes reconstruidos, el patrón de
franjas no puede modularse.
Figura 4.11. Interferometría holográfica. Izquierda: grabación o registro holográfico clásico. R 1, expansor de
haz de referencia. Derecha: con la misma referencia, lectura de dos frentes de onda grabados en la misma
placa en tiempos diferentes.
93
Figura 4.12. Interferometría holográfica con emulsiones fotográficas Holograma tipo Fresnel de figurilla
Confucio con báculo y cervatillo (izquierda). Misma figurilla en doble exposición con única referencia
mostrando franjas de interferencia (derecha). El cambio se produjo con un balín sobre la plataforma perforada
en una toma, y sin él (fig.4.11, izquierda), en la otra. El balín se aprecia como un elemento transparente sin
franjas.
94
Figura 4.13. Interferencia holográfica con cristales fotorrefractivos Bi12GeO20 (BGO) en mezclas de dos ondas
con lectura no destructiva.
95
4.4. Interferómetros electrónicos
96
En un determinado tiempo , se adquiere el patrón de interferencia
existente sobre la cámara CCD. Dicho patrón debe ser de la forma (caso
escalar).
(4.12.a)
( 4.12.b )
(4.12.c)
( 4.13 )
97
donde la diferencia de fase contiene la diferencia
con un término aleatorio que si
es de rápida variación, será visible sólo con alta resolución.
(4.14)
98
fila), así como la resta de ellos (segunda fila, izquierda) y la suma
(segunda fila, derecha).
XM XM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159) 1.5 y
i N 1 j N 1 i j i j j
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R
i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
99
N 512 i 0 N 1 j 0 N 1 XM 10 Xm XM YM 10 Ym YM
XM XM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159) 3 x
i N 1 j N 1 i j i j i
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R
i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
100
N 512 i 0 N 1 j 0 N 1 XM 10 Xm XM YM 10 Ym YM
XM XM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159)
i N 1 j N 1 i j
a 1.2 b 1.3 a x b y
i j i j
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
101
N 512 i 0 N 1 j 0 N 1 XM 10 Xm XM YM 10 Ym YM
XM YM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159)
i N 1 j N 1 i j
a 0 b 0.6
i j i2 b yj2
a x
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
102
N 512 i 0 N 1 j 0 N 1 XM 10 Xm XM YM 10 Ym YM
XM YM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159)
i N 1 j N 1 i j
a 0.25 b 0.07
i j i2 b yj2
a x
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
103
N 512 i 0 N 1 j 0 N 1 XM 10 Xm XM YM 10 Ym YM
XM XM
x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159)
i N 1 j N 1 i j
1 2 0 0 1 1 2
a 8 10 b 5 10 c 2 10 d 4 10 e 5 10 f 5 10 g 0 10
2
1 2
i j i j
I0
i j
1 cos R ij I1
i j
1 cos R
i j
i j ID
i j
I0
i j
I1
i j
IS
i j
I0
i j
I1
i j
IP I0 I1
i j i j i j
ID: diferencia
IS: suma
IP: producto
104
4.4.2 Interferometría de correlación fotográfica de speckle.
105
fotografía, aunque debe indicarse que un cambio en arriba de cierto nivel,
puede perder la correlación con y requerir de otra fotografía. Las franjas
tienen .
A. EI vector de sensibilidad.
Considérese la superficie de un cuerpo deformada en dos instantes distintos.
Un rayo incide en el punto P en un primer estado de la superficie y se
refleja horizontalmente al ángulo respecto del rayo incidente (fig.
4.16).
106
En el segundo estado de la superficie, otro rayo, paralelo al primero
incidente, se encuentra con el mismo punto P pero en otra posición (P’).
Suponiendo que es dispersado igual que el primero por tratarse del mismo
punto, emerge de la superficie paralelamente al primer rayo emergente y a
una distancia . Esta distancia es la separación de P entre sus dos estados
en dirección vertical. En la otra dirección ortogonal existirá una separación
. A lo largo de la dirección del haz incidente, la separación de los planos
perpendiculares a dicho haz que pasan por los puntos es cada estado
. Entonces, la DCO entre el par de rayos considerados es
(4.15)
Este resultado puede rescribirse en términos del vector que une a los
puntos . Considerando las coordenadas del sistema en la fíg.
4.16, . Si las normales de los rayos incidente y difundido son
y respectivamente, pueden expresarse como.
(4.16.a)
habiendo considerado las orientaciones de la figura. Así, la expresión
(4.16.b)
107
B.1 Configuración fuera de plano
(4.17.a)
Posibilitando la medición de w únicamente.
y en consecuencia,
(4.17.b)
108
Figura 4.17.b. Detección de cambios dentro del plano.
(4.18.a.b.c)
109
de donde, para el caso de la inspección fuera de plano, por la ec. 4.17.a,
( 4.19)
(4.20.a)
que representan hipérbolas. Las asíntotas de ángulo más pequeño forman
un ángulo α que satisface
(4.20.b)
110
Midiendo experimentalmente el ángulo α, puede obtenerse la razón de
Poisson.
***
XM XM
Ym YM x Xm 2 i y Ym 2 j R rnd ( 2 3.14159)
i N 1 j N 1 i j
0.08
i j i2 yj2
x
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j I
i j
I0
i j
I1
i j
I0 1 cos R I1 1 cos R I I0 I1
i j i j i j i j i j i j i j i j
0.35
i j i2 yj2
x
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j I
i j
I0
i j
I1
i j
0.65
i j
x i2 yj2
I0
i j ij
1 cos R I1
i j
1 cos R i j
i j I
i j
I0
i j
I1
i j
111
I 128 I 128
112
• Desplazamiento rígido con rotación fuera de plano
• Esfuerzo en plano bajo carga axial
113
114
Capítulo 5.
Interferometrías heterodina y cuasi-
heterodina.
Un problema fundamental en interferometría consiste en extraer
información de fase a partir de interferogramas. Varios procedimientos se
han propuesto y usado para lograrlo cuando sólo se dispone de un
interferograma. Muchos de dichos métodos se basan en el examen de
franjas de valores extremos (máximos o mínimos), como la técnica de
esqueletización de franjas, entre otras. Pero al final de la década de los
70's se ha desarrollado Un nuevo paradigma, conocido corno
interferometría heterodina. Discutiendo esta idea, puede desprenderse la
técnica del corrimiento de fase como un caso especial. La interferometría con
un solo interferograma también ocupa un lugar dentro de dicho esquema.
En lo siguiente se discute la idea general.
(5.1.a)
( 5.1.b)
115
cuestión puede simplificarse al caso escalar), son los vectores de la
dirección de principal de cada disturbio, es la frecuencia angular de
cada onda.
Figura 5.1. Superposición de dos ondas, una plana y otra con desviaciones locales de fase respecto
de un frente de onda plano.
( 5.1.c )
116
donde , y en el caso
colineal Esta simplificación no es esencial ya que de no
cumplirse la aproximación colineal, en la siguiente aproximación,
es un término lineal que proporciona un patrón de franjas (que,
por otro lado, pueden observarse implícitamente en ).
( 5.2.a )
con
(5.2.b)
y
( 5.2.c )
( 5.3 )
117
que deja de ser una expresión dependiente de t. Es el caso homodino. Sus
características esenciales se discuten en el ejemplo de una distribución de la
forma arbitraria polinomial unidimensional dada por el camino óptico f(x) y
= 632.8 nm.
31.16
31.16 28.044
24.928
21.812
f ( x) 18.696
2 15.58
12.464
9.348
6.232
0 3.116
0
0.1 0.075 0.05 0.025 0 0.025 0.05 0.075 0.1
0.1 x 0.1
Figura 5.2.
PI0 Distribución de fase hipotética y patrón de interferencia correspondiente.
PI2
118
Por el contrario, para , en cada valor de fase que es múltiplo de π, se
genera un máximo o un minimo (gris de valor cero).
los datos más confiables ocurren en las posiciones de los valores extremos
(x) de (para esqueletizar, por ejemplo). Pero por ser valores
extremos, es en ellas donde precisamente existe menor sensibilidad en
la detección .
119
En algún tipo de problemas, y pueden mantenerse constantes,
como es el caso en la prueba de componentes ópticas. Pero cuando los
objetos de estudio son reflectores difusos, como en mecánica o en
holografía, esa condición no puede cumplirse. El resto de inconvenientes,
sin embargo, son más difíciles de superar.
120
Figura 5.3. Esquema general de modulación de fase para interferometrías heterodina y
cuasi-heterodina. 1.Ωt 2. 3. 4. Ωt con detección continua por
etapas.
( 5.4 )
121
cuarto tipo de modulación, ,) y en modulaciones espaciales (en los
cuales ). Según sea (t), o , surge la Tabla 5.1.
Tabla 5.1
Modulación Detección Procesamiento
Analógica, fotomultiplicador Medición
Sincrónica, fotomultiplicador Electrónica
Discreta, CCD, CMOS Sistema de ecuaciones
Discreta, CCD, CMOS Sistema de ecuaciones
Discreta, CCD, vidicón Filtraje de Fourier con
PC
122
muestra en el esquema, pero puede introducirse inclinando el espejo de
modulación (frecuencia portadora espacial). Para métodos como los
mencionados (corrimiento de fase, paquete de integración o método de
Takeda) algunos autores han empleado el término genérico de
interferometría cuasi-heterodina.
123
medición, eliminando así algunas de las inconveniencias propias de la
interferometría homodina.
124
5.3.2 Interferometría con modulación sinusoidal.
( 5.5 )
125
( 5.6 )
( 5.7 )
Por el desarrollo en serie finita como el caso anterior,
( 5.8.a )
126
(5.8.b )
Figura 5.7. Esquema de medición y desplegado de fase con cruce por cero.
127
La fase (mod ) se determina con dos flip-flops en paralelo: un reloj
arranca cuando la señal de referencia alcanza determinado valor y se
detiene cuando la señal de prueba cruza ese mismo valor.
El cociente del tiempo medido por el reloj y el período de la señal
proporciona la diferencia buscada. El signo se determina por el conteo de
pulsos en un mismo intervalo.
Dos contadores adicionales en serie con cada señal y controlados por las
pendientes baja/alta proporcionan valores que, al restarse, proveen el
número de saltos de fase. El método ofrece precisiones de . El
error en la medición de la fase depende inversamente de Ω (frecuencia
heterodina).
128
cuatro ondas (de amplitudes Ak, k =1,2,3,4), una de ellas es la llamada
onda con frente conjugado, A3, por expresarse como la amplitud compleja
conjugada de alguna de las tres, llamada señal A4, cumpliéndose que
.
La eficiencia en la generación de la onda conjugada es mayor si la
diferencia de fase equivalente en radianes es de /2. En ferroeléctricos
como BaTiO3 o LiNbO3, por ejemplo, el efecto de difusión y fotovoltáico
determinan una fase de /2, lo que hace que sean muy eficientes para
generar ondas conjugadas (espejo conjugador de fase). En contraste, en
cristales silénidos (silenitas) como los Bi 12(Si,Ge.Ti)O20 (abreviados BSO,
BGO y BTO respectivamente), la deriva (arrastre) es el mecanismo más
importante para la formación de rejillas y suele mejorarse con la aplicación
de un campo eléctrico transversal E0 de entre 5,000 y 10,000 volts/cm.
Pero, como resultado de esta técnica, la diferencia de fase espacial difiere
del valor para el óptimo acoplamiento, reduciendo la reflectividad del
espejo conjugador de fase.
129
interferómetro, la variación , puede servir también como señal
heterodina.
130
Las ondas de bombeo A1 y A2 se forman siguiendo las trayectorias e1-T-
dh1-BGO y e1-T-dh1-BGO-PZT-BGO respectivamente. La señal A4 se
forma con la trayectoria dh1-e2-T’-DH-e3-e4-BGO y se genera la conjugada
A3=A4* si PZT permanece estático, como si el cristal BGO fuera un
holograma, viajando esta onda conjugada en dirección inversa a la señal.
Una onda del interferómetro atraviesa entonces por DH-M1-DH, que es la
onda A4 pero propagada a lo largo del doble de la separación entre esas
componentes. La otra onda del interferómetro es la conjugada. Se
superpones así, A4 con A4* (autorreferencia, Tabla 4.1). Si PZT recibe un
voltaje tal que , el patrón oscilará correspondientemente como
se describe en la sec.5.3.
131
B. Monitoreo y resultados.
Dado que las señales desde A y B son sinusoidales, las figuras observadas
en un osciloscopio en modo horizontal-vertical serán elipses. Su
elipticidad e inclinación depende de la fase y las amplitudes detectadas.
Mientras permanezcan constantes, el proceso observado es suficientemente
estable. A bajas frecuencias (< 10 Hz), puede determinarse el signo de la
fase visualmente con observar el sentido de giro de la traza de Lissajouss.
a) b)
Figura 5.9 a) Patrón de interferencia con espejo conjugador. b) lecturas de diferencia de fase
y monitoreo en osciloscopio. La superficie es la diferencia de fases en una región del campo de
interferencia x,y.
132
Algunas elipses capturadas de la pantalla de un osciloscopio se aprecian en
la columna izquierda de la fig.5.9b. Su aparición y permanencia sin
deformación es una manera de monitorear la estabilidad del sistema
(fig.5.8). Algunas mediciones de la fase realizadas con un amplificador
lock-in entre un punto fijo referencial B y otro movible a lo largo de
campo de interferencia, A, se muestran en la gráfica de líneas de nivel,
obtenida por interpolación de las lecturas realizadas.
133
134
Capítulo 6.
Tópicos de interferometría de
corrimiento de fase.
Como se mencionó en referencia a la fig.5.3, un elemento
modulador tal como un trasductor piezoeléctrico puede introducir
corrimientos de fase discretos . Éstos corresponden a N
desplazamientos aparentes de cada interferograma resultante o, en otros
términos, se determinan N irradiancias. Puede entonces formarse un
sistema de ecuaciones, teniendo como a la incógnita principal a la
distribución de fase, para despejarla en cada situación particular. En este
capítulo se considerarán los casos N = 3 y 4 principalmente, discutiendo
las técnicas típicas con simulaciones en Mathcad® .
( 6.1 )
con
135
( 6.2 )
( 6.3 )
( 6.4 )
( 6.5 )
( 6.6 )
A.
( 6.7 )
136
mientras que si , se obtiene
( 6.8 )
( 6.9 )
( 6.10 )
B.
( 6.11 )
C.
( 6.12 )
de modo que,
( 6.13 )
y, combinando las dos fórmulas previas,
137
( 6.14 )
138
6.1.1 Tres corrimientos de fase.
PI0
PI1
PI2
139
Usando la expresión para corrimientos equidistantes y obteniendo la
tangente inversa, se obtiene la gráfica adjunta:
i j
atan Tan i j
El corte longitudinal del patrón se muestra a continuación, siendo una
distribución de fase llamada “envuelta”. Las discontinuidades de fase son
consecuencia de la inversa de la tangente, que proporciona la fase módulo
únicamente.
200 2
100 1
0
Tan i 10 0 i j
100
200 1
300 2
0 200 400
i
3 PI2 PI1
i j i j
Tan atan Tan
i j 2PI0 PI1 PI2 i j i j
i j i j i j
140
6.1.2 Cuatro corrimientos de fase.
Con cuatro patrones de interferencia y corrimientos de /2, se obtiene:
PI0
PI1
PI2
PI3
141
Las cuatro irradiancias obtenidas con corrimientos equidistantes de /2
proporcionan la relación siguiente:
3PI1i j PI2i j PI0i j PI3i j PI1i j PI2i j PI0i j PI3i j
TanC .
i j
PI1ij PI2ij PI0ij PI3ij
Usando la expresión para corrimientos equidistantes para este caso y
obteniendo la tangente inversa, se obtiene la gráfica adjunta:
200 2
100 1
0
Tan i 10 0 i j
100
200 1
300 2
0 200 400
i
142
Las expresiones correspondientes explícitamente empleadas en Mathcad ©
son las siguientes.
PI3 PI1
i j i j
Tan
i j
PI0 PI2
i j
atan Tan
i j
i j i j
143
PI0
PI1
PI2
PI3
144
c
p
200 2
174.17 1.567
100 1.5
0
Tan i 10 1 i j
100
200 0.5
4
280.733 3.40810
300 0
0 200 400
0 i 511
145
6.1.4 Modulación Espacial (Método de Takeda, o interferometría de
Fourier).
PT
146
(6.16)
20
CFTT i
10
0.026
0
0 51 102 153 204 255 306 357 408 459 510
0 i 510
147
Debido al empleo de la Transformada numérica de Fourier Rápida, la
figura adyacente muestra al espectro centrado partido por mitad. Una de
estas mitades se halla en el extremo izquierdo del campo, mientras que la
otra mitad, en el extremo derecho (trazos continuos). La posición relativa
if 0 i 50se
original deli espectro muestra i 51
FilteredC FTT2 FilteredC FTT1en línea segmentada
FilteredC FTT1 para comparación.
i 460
FilteredCFTT1 i 4
FilteredCFTT2 i
2
0
0 200 400
i
4
3.127
2
i 10 0
2
3.119
4
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
0 i 500
148
Cabe mencionar que este método, a diferencia de los métodos
secuenciales descritos para corrimiento de fase, requiere de una sola toma
para adquirir los datos interferométricos.
(6.18)
149
Las fases respectivas a cada longitud de onda son:
y
,
La resta de diferencias de fase resulta ser, usando definiciones de la
sec.2.5,
(6.19)
150
apenas un valor de 0.077. Así, los datos en la diferencia podrán
desenvolverse debido a que ésta resulta menor que /2. Algunos detalles
sobre la desenvoltura, en sección 6.3.4.B.
PI
151
6.2 Implementación experimental: ejemplos.
152
interferograma con cero voltaje, cada nuevo interferograma se puede
comparar con el grabado a cero volts; por ejemplo, por suma. Cuando se
consiga un interferograma de contraste complementario al grabado, se
obtiene el voltaje V que genera un corrimiento de en el interferograma
particular de trabajo.
Conocido el comportamiento del apilamiento, se pueden determinar así
los voltajes V y V requeridos para corrimientos respectivos de /2 y
de 3/2. Por ejemplo, en el caso lineal, los voltajes serían V = (V
yV = 3(V.
Los voltajes 0, V , V y V se aplican en secuencia, capturando el
respectivo interferograma. Se usa la relación de arco tangente por pixel, y
la tangente modulo 2 se busca en tablas. En un proceso intermedio,
pueden filtrarse los interferogramas si así se necesitara.
La calibración final puede realizarse mediante las fórmulas de Carré
(ec.5.20) tras observar las condiciones arriba expuestas. Un histograma
del número de puntos en función del corrimiento debe mostrar un
máximo en el corrimiento deseado, acompañado de una dispersión
reducida. Cada cambio en el interferómetro requiere de un proceso nuevo
de calibración para el transductor piezoeléctrico.
153
Para el propósito de modulación de franjas, un transductor piezoeléctrico
modula la fase de un haz de reconstrucción únicamente. De ese modo, el
patrón de interferencia holográfico puede desplazarse durante la
reconstrucción a determinado ángulo de detección según la posición de la
cámara empleada.
Para cada interferograma holográfico, las técnicas de extracción de fase
descritas pueden aplicarse de modo similar.
La calibración del transductor es también análoga a la descrita para un
interferómetro óptico de dos brazos.
En la reconstrucción del holograma, se deben usar las dos referencias
como ondas de lectura simultáneamente para poder observar las franjas de
interferencia (doble onda de lectura o de reconstrucción). La diferencia de
fase extraíble del patrón acarrea información de los cambios de estado del
objeto entre las dos exposiciones.
154
6.3 Algunas consideraciones suplementarias.
( 6.20)
las expresiones de Carré se modificarán a las siguientes
(6.21)
( 6.22)
155
PI0
PI1
PI2
PI3
PI4
156
6.3.2 Uso de un espejo auxiliar.
157
de irradiancia por intervalos de tiempo t. En consecuencia, se obtiene
una integración de patrones, uniformemente trasladados, de la forma
siguiente
( 6.23)
con c una constante de calibración (caso lineal ideal, c=1). Para el caso
cuadrático, la fase introducida es de la forma
( 6.24)
158
La irradiancia In acumulada durante el tiempo t puede expresarse como
( 6.25)
( 6.26)
,
(6.27a,b)
con
, ,
(6.28a,b,c)
159
6.3.4 Error en la recuperación de la fase por corrimiento de fase.
( 6.29)
160
Para el caso de modulación por efecto Zeeman, se deben tomar en cuenta
las observaciones de la se.2.5 para lograr frecuencias convenientemente
bajas.
161
voltajes que un actuador usa para trasladar la rejilla por fracciones de su
periodo (usualmente, múltiplos de ¼ de periodo).
A. Caso piezoeléctrico.
162
B. Caso rejilla.
(b)
Figura.6.5. Interferómetro con rejilla: O, objeto; DC, actuador; CCD, camera; PC,
ordenador. Interferómetro Michelson para calibración translación de rejilla en dependencia
del ancho de pulso de voltaje en actuador: M (sujeto al desplazador), M’, espejo; BS, divisor
de haz; PIN, detector al centro del patrón; OSC, osciloscopio. a) doble ventana (plano
objeto). Una contiene a la onda de inspección (objeto O) y la segunda a la onda de referencia.
b) Ancho temporal de pulso en función del número de franjas contadas (seis diversas alturas
de pulso).
163
tiempos requeridos para inducir los corrimientos elegidos (fig.5.13.b).
Éstos generalmente son submúltiplos del período de la rejilla empleada.
A diferencia del método piezoeléctrico, esta calibración resulta
independiente del interferograma. Sin embargo, también debe ser
secuencial.
( 6.25 )
donde ´es una fase introducida por algún retardador. Los disturbios
emergentes de un Polarizador Lineal l al ángulo caracterizado por una
transmisión dada por
( 6.26 )
( 6.27 )
El CORRIMIENTO originado es
( 6.28 )
164
con una amplitud dada por
( 6.29 )
165
A. Holografía interferométrica con doble referencia.
166
través de un polarizador lineal con eje de transmisión al ángulo . Esto
induce un corrimiento en el interferograma.
(a) (b)
167
Figura. 6.8.a. Determinación de la fase observada a dos ángulos distintos en el holograma de
la figura previa. b) Desenvolturas respectivas.
168
respecto a PBS). En la figura, a la entrada del sistema telecéntrico, se muestra
una separación de ventanas x0 (comparar con la fig.4.10). La distancia F0 es la
separación entre órdenes adyacentes
Figura 6.9. Interferómetro de trayectoria común con dos ventanas generadas con un interferómetro
cíclico equipado con divisor de haz cúbico polarizante (PBS). El retardador Q (/4) y el polarizador
lineal P a continuación del láser únicamente permiten ajustar una polarización lineal de inicio
apropiada.
Como se apuntó, por ajuste del espejo M, las ventanas saldrán con la
separación x0 que puede ser, en un caso, menor a F0, o, en otro caso, igual o
mayor a F0. Los órdenes de difracción (los cuales son repeticiones de las
amplitudes de las ventanas) se muestran en los recuadros A y B de la fig. 6.9,
según alguno de los dos casos referidos, respectivamente. En trazo continuo, se
esquematizan tres órdenes causados por una ventana. En trazo segmentado, se
esquematizan tres órdenes causados por la otra ventana. Note que las
polarizaciones asociadas a cada trazo son circulares de giros opuestos.
169
Entonces, cualquier patrón de interferencia en la superposición sólo se
observará a través de un polarizador lineal a determinado ángulo .
170
Figura 6.10. Interferogramas obtenidos con mallas de fase G(, ) simultánemente registrados en un
solo disparo. Se muestran resultados de cinco, siete y hasta nueve corrimientos. Los corrimientos
emplearon polarizadores lineales a distintos ángulos. Ver plano (x,y) en fig. 6.9.
171
6.4.3 Detección.
Detección Método
Cámaras TV
Fotomultiplicadores, Heterodino analógico
172
A. Ejemplos de filtros.
Muy empleados son los que promedian los valores ponderados de algunos
pixeles vecinos de uno central. Pueden emplearse matrices cuadradas
3X3. Se ejemplifican los efectos de éstas y de una 5X5 empleando una
función de Mathcad ®: quantfilt(Imagen, filtro, ponderación, fig.6.12). Se
usan ponderaciones de valores 0.2 y 0.4. El patrón original está graficado
en I00, mientras que el I01 es su versión con ruido agregado
(fluctuaciones azarosas dentro de 2 con 1.5 de ponderación) y se
muestran ambos en la fig.6.11. Los detalles y valores se pueden
inspeccionar en el apéndice H. El valor 127 normaliza los tonos de gris a
128 bits.
Figura 6.11. Interferogramas calculados sin ruido (izquierda) y con ruido aditivo azaroso
(derecha).
173
FiltroCuadro32127
FiltroCruz32127
FiltroCuadro52127
FiltroCruz52127
FiltroCuadro34127
FiltroCruz34127
FiltroCuadro54127
FiltroCruz54127
Figura 6.12. Interferogramas con ruido filtrados usando filtros cuadrado y en cruz de 3X3(recuadro
izquierdo) y 5X5 (recuadro derecho) con ponderaciones 0.2 (filas superiores) y 0.4 (filas inferiores).
B. Desenvoltura.
174
Para ello, puede usarse el procedimiento siguiente para una fila (fila 0,s) y
determinar los saltos mayores a /2
175
ind m 0
0 0
for s 0 M 1
F
s 0 s
for s 1 M 1
m m if F F
0 s 0 s 1 s s 1 2
m m 1 if F F
0 s 0 s 1 s s 1 2
m m 1 if F F
0 s 0 s 1 s s 1 2
m
. (6.31)
Desenvuelta T j
ind
0 j 0 j (6.32)
0 1
Desenvuelta0 j
0 j
5 T
2 ind j
10 3
12.566 4
15 4
0 40 80 120 160 200
0 j 200
176
ind2 for r 0 N 1
for s 0 M 1
F
r s r s
m 0
0 0
for s 0 M 1
m
0 s
ind T s
for r 1 N 1
for s 0 M 1
m m if F F
r s r 1 s r s r 1 s 2
m m 1 if F F
r s r 1 s r s r 1 s 2
m m 1 if F F
r s r 1 s r s r 1 s 2
m . (6.33)
ind2 ind2
Desenvuelta2 ind2
i j i j i j
(6.34)
177
Desenvuelta2 Desenvuelta2
178
6.5 Comentarios finales.
179
ejecución estarán más limitadas que las contrapartes cuasi-
heterodinos.
El método de Fourier (Takeda) es de una sola toma, por lo que
pueden analizarse distribuciones de fase variables en tiempo.
El corrimiento de fase no está restringido a ser secuencial si se
adopta un método de copiado de amplitudes (amplitude
multiplexing) junto con un procedimiento de corrimiento de fase
independiente en cada copia.
La modulación de la polarización resulta ser un método de
modulación de fase con ventajas sobre otros procedimientos. En
particular, posibilita capturas simultáneas de varios interferogramas
de la misma situación, teniendo cada interferograma un valor
diferente de corrimiento de fase. Esta propiedad posibilita el estudio
de evoluciones de fase dinámicas.
La modulación de polarización simplifica los procedimientos de
calibración.
Como técnicas de un solo disparo, las de Takeda y de modulación
de polarización se distinguen actualmente en que, la primera de
ellas trabaja con frecuencias espaciales relativamente altas para el
patrón de interferencia, mientras que la segunda, por el contrario,
usa frecuencias espaciales bajas (aun en su modelación, que es
paraxial).
Las técnicas heterodinas y las de corrimiento de fase pueden
aplicarse a interferómetros holográficos, a interferómetros
electrónicos, a interferómetros ESPI y a interferómetros con fibras
ópticas.
180
BIBLIOGRAFÍA BÁSICA.
Born, M. and E. Wolf, Principles of Optics, Pergamon Press, 1987.
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