Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
x(t) x(n)
t n
t n
Señales digitales
y[n]
Rango discreto y
Discreta en el Dominio
Señales digitales:
Son variables eléctricas con dos niveles bien diferenciados
que se alternan en el tiempo transmitiendo información
según un código previamente acordado. Cada nivel eléctrico
representa uno de dos símbolos: 0 ó 1, V o F, etc.
Las señales digitales tienen la particularidad de tener sólo
dos estados y por lo tanto permiten representar, transmitir o
almacenar información binaria. Para transmitir más
información se requiere mayor cantidad de estados, que
pueden lograrse combinando varias señales en paralelo
(simultáneas), cada una de las cuales transmite una
información binaria.
Digitalización de la señal
La digitalización de una señal, así como las estimaciones
que se realicen con las muestras obtenidas son las nuevas
técnicas utilizadas en la medición en la actualidad.
Si se toman muestras de tensión y corriente de forma
simultánea, el valor eficaz de estas señales se puede obtener
promediando los valores de las muestras elevadas al
cuadrado en un número entero de períodos y
posteriormente extrayendo la raíz cuadrada de este
promedio: 1/ 2
1
n
2
Y yk
n k 1
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
El proceso de muestreo
ISTEC & G.Jaquenod 2002, All Rights Reserved. Hot Lab Support Initiative
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Espectro de la señal muestreada
ISTEC & G.Jaquenod 2002, All Rights Reserved. Hot Lab Support Initiative
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
El proceso de muestreo
ISTEC & G.Jaquenod 2002, All Rights Reserved. Hot Lab Support Initiative
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Muestreo periódico
C/D
Xc(t) X [n] = Xc (nT)
p(t)
t -2T -T T 2T t
0 0
-2T -T T 2T t -2 -1 1 2 n
0 0
Xc(j) X P ( j )
1
[ X c ( j ) * P ( j ) ]
2
2
S = 2/T
X(j)
P( j ) k S
T k
A
1
X P ( j ) X c j ( k S )
T k
-M M
M
-M -2S -S S 2S
0
S - M > M XP(j)
A/T
-S -M 0 M S
(S - M )
s/2 M Criterio de s 2 M
Nyquist f s 2 fM
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Muestreo de señales continuas con solapamiento
Xc(j) 2/T P(j)
A
M
-M
-2S -S S 2S
0
S - M < M
XP(j)
A/TS
-S S
0
(S - M )
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Reconstrucción de señales muestreadas
-C 0 C
-M M -M M
p(t)
XP(j)
A/T
-S -M 0 M
(S - M ) S
xr(t)=cos( s- 0)t
Xr(j )
Con
0> /T
Solapamiento
e) -( s- 0) ( s- 0)
s= 2/T> 2 N
Frecuencia de Nyquist
X p ( j) c
x (
n
nT )e jnT
x [n] = xc (nTs)
X (e j
) x[n ]e jn
n
X p ( j) X e j T
X e jT
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Muestreo de señales continuas
) X c j ( k S )
jT 1
X (e
T k
2
S T
T
1 2k
X (e ) X j (
j
)
T k T T
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Muestreo de señales continuas
A Xc(j)
-M M
A/T XP(j)
-S -M 0 M S
(S - M )
A/T X(ej)
xc(t)=cos(4 000 t)
T=1/6 000
x[n]=xc(nT)=cos(4 000Tn)=cos(on)
/T /T
-16.000 -12.000 -8.000 -6.000 -4.000 0 4.000 6.000 8.000 12.000 16.000
X(ej)=Xs(j/T)
T
/T /T
-16.000 -12.000 -8.000 -6.000 -4.000 0 4.000 6.000 8.000 12.000 16.000
X(ej)=Xs(j/T)
T
fm
Ck Mod [F [k ]] a b 2
k
2
k
1 bk
k Arg [F [k ]] tan
k
a
fm1
Filtro analógico B Filtro digital FIR Diezmador
x(t) x[n]
A/D M
fm2
f m 2 Mf m1
f cB f cA
Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y de Telecomunicaciones
Medidores digitales
Sistemas de medición: filtros antisolapamiento sin
sobremuestreo
Filtro analógico A
x(t) x[n]
A/D
Atenuación
fm1
0 dB
- 98 dB f
0 fcA=f50 fm1/2 fm1-fcA fm1
50 Hz 2,5 kHz 3,2 kHz 3,9 kHz 6,4 kHz
Atenuación fm2
0 dB
- 98 dB f
0 f50 fcB fm2/2 fm2- fcB fm2= Mfm1
50 Hz 2,5 kHz 5 kHz 25,6 kHz 46,2 kHz 51,2 kHz
Conversión A/D
Conversión Analógica/Digital (A/D)
Cuantificación
Teorema de Muestreo
e[n]=x(nT)- xq[n]
|e[n]| /2
Conversión A/D
Muestreo y Convertidor
x(t) retención A/D
x0[n] x[n]
Periodo de
muestreo T
e[n]
-/2 /2 e