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Imperfecciones en sólidos
Ingeniería Electromecánica
2do cuatrimestre 2do año
Nicolás Zabala
1. Introducción
Límite que separa dos pequeños granos o cristales que tienen diferentes
orientaciones cristalográficas en materiales policristalinos.
Son posibles varios grados de desalineación cristalográfica entre granos
adyacentes. Para ángulos pequeños se pueden describir en términos de
matrices de dislocación.
Cuando el ángulo de desorientación es paralelo al límite, se produce un límite
de torsión, que puede describirse con dislocaciones de tornillo.
6. Defectos superficiales
Maclas
Una macla es un tipo especial de límite de grano a través del cual hay una simetría
en espejo de la red; es decir, los átomos en un lado del límite están ubicados en
posiciones de imagen de espejo de los átomos en el otro lado
El hermanamiento se produce en un plano cristalográfico definido y en una
dirección específica, los cuales dependen de la estructura cristalina.
Macla de cuarzo
6. Defectos superficiales
Defectos interfaciales varios
Defectos mucho más grandes que los discutidos hasta ahora. Normalmente se
introducen durante el procesamiento, fabricación y servicio.
Estos incluyen poros, grietas, inclusiones extrañas y otras fases.
Poros: se forman por gases atrapados en solución durante el llenado de moldes
Grietas: se forman por tensiones en el material durante la solidificación, esfuerzos
excesivos en funcionamiento, enfriamientos bruscos en tratamientos térmicos,
laminado excesivo, etc.
Inclusión: cualquier material que queda atrapado dentro de un cristal de mineral
durante su formación y crecimiento
8. Vibraciones atómicas
(1) carcasa, (2) emisor de electrones, (3) electrones, (4) cátodo, (5)
ánodo, (6) Lente condensador, (7) muestra analizada, (8) Lente objetivo,
(9) Lente proyector, (10) Detector (sensor o película fotográfica).
9. Técnicas microscópicas
Microscopia electrónica
Microscopio electrónico de barrido (SEM)
Características importantes:
Posible examen a escala nanométrica (atómico y molecular). Se
logran resoluciones mucho mejores que con otras técnicas
microscópicas.
Generan imágenes tridimensionales de la topografía de la
superficie
Pueden operarse en una variedad de entornos (vacío, aire, líquido)
el material puede ser examinado en su ambiente más adecuado.
Las técnicas microscópicas de sondas de exploración específicas
difieren entre sí con respecto al tipo de interacción que se
monitoriza (electrónicas u otras) entre la sonda y la superficie
de la muestra.
Estos nuevos SPM han ayudado a iniciar la era de los
nanomateriales, materiales cuyas propiedades están diseñadas
por ingeniería atómica y estructuras moleculares Silicio: plano de superficie de tipo (111)
9. Técnicas
microscópicas
10. Determinación del tamaño de grano