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7/14/2019 Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español
ARTÍCULO 7
EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS
MAGNÉTICAS – CÓDIGO ASME
SECCION V – 2010
Preparado por: Ing. William José Mendoza

C.I.V: 202734, CAWI/AWS Nº 98080574
Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

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CONTENIDO Pag.
Artículo 7 Examinación por Partículas Magnéticas……………………………………………………4

T-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………….4
T-720 GENERAL………………………………………………………………………………………………………..4
T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos………………………………………4
T-721.1 Requerimientos……………………………………………………………………………………4
T-721.2 Calificación de procedimientos…………………………………………………………….5
T-730 EQUIPOS………………………………………………………………………………………………………..5
T-731 Medio de examinación……………………………………………………………………………5
T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS………………………………………………………………………….5
T-741.1 Preparación………………………………………………………………………………………..5
T-741.2 Aumento de contraste superficial No magnético…………………………………7
T-750 TÉCNICA…………………………………………………………………………………………………………7
T-751 Técnicas…………………………………………………………………………………………………7
T-752 Técnicas de las pinzas (Prods)…………………………………………………………………7
T-752.1 Procedimiento de magnetización…………………………………………………………7
T-752.2 Corriente magnetizante……………………………………………………………………….7
T-752.3 Separación de las pinzas………………………………………………………………………7
T-753 Tecnica de magnetización longitudinal……………………………………………………………8
T-753.1 Procedimiento de magnetización………………………………………………………..8
T-753.2 Densidad de campo magnético……………………………………………………………8
T-753.3 Corriente magnetizante………………………………………………………………………9
T-754 Tecnicas de magnetización circular………………………………………………………………..9
T-754.1 Técnicas de contacto directo………………………………………………………………9
T-754.2 Técnica del conductor central…………………………………………………………..10
T-755 Técnica del Yugo………………………………………………………………………………………….11
T-756 Técnica de magnetización multidireccional………………………………………………….11
T-756.1 Procedimiento de magnetización……………………………………………………..11
T-756.2 Densidad del campo magnético………………………………………………………. 12
T-760 CALIBRACIÓN………………………………………………………………………………………………12
T-761 Frecuencia de la calibración………………………………………………………………………..12
T-761.1 Equipos de magnetización……………………………………………………………….12
T-761.2 Medidores de luz…………………………………………………………………………….12
T-762 Energía de levante de los Yugos…………………………………………………………………..12
T-763 Gausímetros………………………………………………………………………………………………..13
T-764 Suficiencia y dirección del campo magnético………………………………………………..13
T-764.1 Suficiencia del campo magnético………………………………………………………13
T-764.1.1 Indicadores de campo de partículas magnéticas de forma de torta..14
T-764.1.2 Shims de falla artificial…………………………………………………………………..15
T-764.1.3 Exploración del campo tangencial del efecto Hall…………………………..15
T-764.2 Dirección del campo magnético………………………………………………………..15
T-764.2.1 Para las técnicas de magnetización multidireccional……………………… 16
T-764.3 Determinación de la suficiencia…………………………………………………………16
T-765 Contaminación y concentración de las partículas magnéticas……………………….16
T-765.1 Concentración…………………………………………………………………………………..16
T-765.2 Volúmenes de la sedimentación………………………………………………………..17
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T-765.3 Contaminación………………………………………………………………………………………….17
T-766 Ejecución de sistemas de unidades horizontales…………………………………………..18
T-770 EXAMINACIÓN……………………………………………………………………………………………..19
T-771 Examinación primaria…………………………………………………………………………………..19
T-772 Dirección de la magnetización……………………………………………………………………….19
T-773 Método de examinación……………………………………………………………………………….19
T-774 Cobertura de la examinación…………………………………………………………………………20
T-775 Corriente rectificada……………………………………………………………………………………..20
T-776 Remoción del exceso de partículas……………………………………………………………….21
T-777 Interpretación………………………………………………………………………………………………21
T-777.1 Partículas magnéticas visibles (contraste de color)……………………………..21
T-777.2 Partículas magnéticas fluorescentes con luz negra……………………………..21
T-777.3 Partículas magnéticas fluorescentes con otras longitudes de ondas de
excitación fluorescentes…………………………………………………………………………………………22
T-778 Desmagnetización…………………………………………………………………………………………22
T-779 Limpieza posterior a la examinación……………………………………………………………..23
T-780 EVALUACIÓN…………………………………………………………………………………………………23
T-790 DOCUMENTACIÓN………………………………………………………………………………………..23
T-791 Magnetización Multidireccional……………………………………………………………………23
T-792 Registro de las indicaciones………………………………………………………………………….23
T-792.1 Indicaciones No rechazables……………………………………………………………..23
T-792.2 Indicaciones rechazables…………………………………………………………………..23
T-793 Registros de la examinación………………………………………………………………………….23
Figuras
T-754.2.1 Técnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble…………………………….10

T-754.2.2 La Examinación de la Región Efectiva Cuando se Usa un Conductor Central
Descentrado………………………………………………………………………………………………………….11
T-764.1.1 Indicador de Campo de Forma de Torta de Partículas Magnéticas………….13
T-764.1.2.1 Shims de Falla Artificial………………………………………………………………………..14
T-764.1.2.2 Shims de Falla Artificial………………………………………………………………………..16
T-766.1 Anillo de Ensayo Ketos (Betz)…………………………………………………………………….20
Tablas
T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partículas Magnéticas……………………6

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ARTÍCULO 7 EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS
T-710 ALCANCE
Cuando se especifica mediante la sección del Código de referencia, las técnicas de

examinación por partículas magnéticas descritas en este artículo deberán ser usadas.
En general, este artículo esta en conformidad con SE-709, Guia estándar Para la
Examinación Por Partículas Magnéticas. Este documento suministra detalles a ser
considerados en el procedimiento usado. Cuando este artículo esta especificado
mediante una sección del Código de referencia, el método por partículas magnéticas
descrito en este artículo deberá ser usado junto con el Artículo I, Los requerimientos
generales. La definición de términos usados en este artículo esta en el apéndice
obligatorio II.
T-720 GENERAL
El método de examinación por partículas magnéticas es aplicado para detectar

grietas y otras discontinuidades en las superficies de materiales ferromagnéticos. La
sensibilidad es la mayor para discontinuidades superficiales y disminuye
rapidamente con el aumento de la profundidad de las discontinuidades por debajo
de la superficie. Los tipos típicos de discontinuidades que pueden ser detectados por
este método son grietas, solapes, costuras, colds Shuts, y laminaciones.
Al principio, este método trae consigo magnetizar un área para ser examinada, y
aplicar las partículas ferromagnéticas (el medio de examinación) a la superficie. El
patrón de partículas se forma sobre la superficie donde el campo magnético es
forzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar un campo de fuga
que atrae las partículas. Los patrones de partículas son por lo general característicos
del tipo de discontinuidad que es detectada.
Cualquiera que sea la técnica usada para producir el flujo magnético en la pieza, la
sensibilidad máxima será para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular
a las líneas de flujo. Para la efectividad optima en la detección de todos los tipos de
discontinuidades, cada área que va a ser examinada se debe magnetizar al menos
dos veces, con las líneas de flujo durante una examinación que sea
aproximadamente perpendicular a las líneas de flujo durante la otra.
T-721 Requerimientos de los Procedimientos Escritos
T-721.1 Requerimientos. La examinación por partículas magnéticas deberá ser

desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito, el cual contendrá, como
mínimo, los requerimientos listados en la tabla T-721. El procedimiento escrito
establecerá un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento.

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T-721.2 Calificación de Procedimientos. Cuando la calificación de procedimiento es

especificada por la sección del Código de referencia, un cambio de un requerimiento
en la tabla T-721.2 identificado como una variable esencial requerirá recalificación
del procedimiento escrito mediante demostración. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial no requiere recalificación del

procedimiento escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales
de aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito requerirá revisión de, o
una adenda para, el procedimiento escrito.
T-730 EQUIPOS
Deberá ser empleado medios disponibles y apropiados para producir el flujo

magnético necesario en la pieza, usando una o más de las técnicas listadas y
descritas en T-750.
T-731 Medio de Examinación
Las partículas divididas en forma menuda usadas para la examinación deberán

presentar los siguientes requerimientos.
(a) Tipos de partículas. Las partículas deberán ser tratadas para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de
hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie que va
a ser examinada.
(b) Las partículas. Las partículas secas y húmedas y vehículos en suspensión
deberán estar en concordancia con SE- 709.
(c) Limitaciones de temperatura. Las partículas deberán ser usadas dentro de las
limitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de
las partículas. Alternativamente, las partículas pueden ser usadas fuera de las
recomendaciones del fabricante de las partículas siempre que el
procedimiento este calificado en concordancia con el Artículo 1, T-150 a la
temperatura propuesta.
T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS

T-741 Condicionamiento Superficial
T-741.1 Preparación.
(a) Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficies

estan en las condiciones soldadas, laminadas, fundidas o forjadas. Sin
embargo, la preparación superficial mediante esmerilado o maquinado puede
ser necesaria donde las irregularidades superficiales pudieran enmascarar las
indicaciones debido a las discontinuidades.

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TABLA T-721
REQUERIMIENTOS DE UN PROCEDIMIENTO DE EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS
MAGNÉTICAS
Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial

Tecnica Magnetizante X …………………………
Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rango X ………………………
especificado por este artículo o como se especificó
previamente
Preparacion de la superficie X ………………………
Partículas magnéticas (Fluorescente/visible, color, tamaño
de partícula, húmedo / seco)
Método de aplicación de las partículas X ………………………
Método de la remoción del exceso de partícula X ………………………
Intensidad mínima de luz X ………………………
Revestimientos existente, mayores que el espesor X ………………………
demostrado
Aumento del contraste superficial No magnético, cuando X
es utilizado
Demostración de ejecución, cuando sea requerido X
Temperatura superficial de la pieza de examinación fuera X
del rango de temperatura recomendado por el fabricante
de las partículas o como se calificó previamente.
Forma y tamaño del objeto sometido a ensayo ……………………… X
Equipo del mismo tipo ……………………… X
Temperatura (dentro de aquellas especificadas por el ……………………… X
fabricante o como se calificó previamente)
Tecnica de desmagnetización ……………………… X
Tecnica de limpieza post ensayo ……………………… X
Requerimientos de calificación del personal ……………………… X
(b) Antes de la examinación por partículas magnéticas, la superficie que va a ser

examinada y todas las áreas adyacentes dentro de al menos de 1” (25 mm)
deberá estar seca y libre de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas de

fundición, fundentes de soldadura, salpicaduras, aceites y otras materias
extrañas que pudieran interferir con la examinación.
(c) La limpieza puede llevarse a cabo usando detergentes, solventes orgánicos,
soluciones de decapado, removedores de pintura, desengrase al vapor,
chorro de arena o granalla o métodos de limpieza por ultrasonido.
(d) Si se dejan revestimientos no magnéticos sobre la pieza en el área que va a
ser examinada, se deberá demostrar que las indicaciones pueden ser
detectadas a través del espesor máximo del revestimiento aplicado. Cuando

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se usa la tecnica de magnetización por Yugo con CA, la demostración deberá

estar en concordancia con el Apéndice I obligatorio de este Artículo.
T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magnético.
Los contrastes superficiales no magnéticos pueden ser aplicados por el examinador

para superficies no revestidas, solo en cantidades suficientes para incrementar el
contraste de las partículas. Cuando se usa el aumento del contraste superficial no
magnético, deberá demostrarse que las indicaciones pueden ser detectadas a través
del incremento. No es requerida la medición del espesor de este incremento de
contraste superficial no magnético.
Nota: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostración requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.
T-750 TÉCNICA
T-751 Técnicas
Una o más de las siguientes cinco técnicas de magnetización deberán ser usadas:
(a) Técnica de Pinzas (Prods)

(b) Técnica de magnetización longitudinal
(c) Técnica de magnetización circular
(d) Técnica del Yugo (Yoke)
(e) Técnica de magnetización Multidireccional.
T- 752 Técnica de las Pinzas (Prods).

T- 752.1 Procedimiento de magnetización. Para la técnica de pinzas, la magnetización
se lleva a cabo mediante contactos eléctricos tipo pinzas portátiles presionadas
contra la superficie del área que va a ser examinada. Para evitar arcos, se debe
suministrar un interruptor de control remoto, el cual puede ser incorporado en los
mangos de las pinzas, para permitir que la corriente sea aplicada después que las
pinzas hayan sido posicionadas de manera apropiada.
T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deberá usar corriente magnetizante directa o

rectificada. La corriente deberá ser de 100 amperios/pulgs. (mínimo) (4
amperios/mm) hasta 125 amperios /pulgs. (máximo) (5 amperios/mm) de
separación de las pinzas para secciones de ¾”. (19 mm) de espesor o mayores. Para
secciones menores de ¾” (19 mm) de espesor, la corriente deberá ser de 90 amperios
/pulgs. (3.6 amperios /mm) hasta 110 amperios /pulgs. (4.4 amperios/mm) de
separación de las pinzas.
T-752.3 Separación de las Pinzas. La separación de las pinzas no deberá exceder de 8”

(200 mm). Se pueden usar separaciones mas cortas para adaptarse a las limitaciones
geométricas del área que va a ser examinada o para incrementar la sensibilidad,

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pero las separaciones de las pinzas menores de 3” (75 mm) son por lo general poco
práctico debido a la acumulación de partículas alrededor de las pinzas. Las puntas
delas pinzas deberán conservarse limpias y ahusadas. Si el voltaje de circuito abierto
de la fuente de la corriente magnetizante es mayor que 25 voltios, se recomienda
pinzas con extremos de plomo, acero, o aluminio (más que cobre) para evitar
depósitos de cobre sobre la pieza que va a ser examinada.
T-753 Técnica de Magnetización Longitudinal
T-753.1 Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva

a cabo por el paso de la corriente a través de una bobina fija de múltiples vueltas (o
cables) que se enrollan alrededor de la pieza o sección de la pieza que va a ser
examinada. Esto produce un campo magnético longitudinal paralelo al eje de la
bobina. Si se usa una bobina pre- devanada fija, la pieza deberá estar ubicada cerca
del lado de la bobina durante la inspeccion. Esto es de vital importancia cuando la
abertura de la bobina es más de 10 veces el área de la sección transversal de la pieza.
T- 753.2 Densidad de campo magnético. La corriente directa o rectificada deberá ser

usada para magnetizar las partes examinadas por esta técnica. La densidad de campo
requerido deberá ser calculado basado en la longitud L y el diámetro D de la pieza en
concordancia con T-753.2 (a) y (b), o como se establece en (d) y (e), más adelante.
Las piezas largas deberán ser examinadas en secciones que no excedan 18” (450
mm), y deberá usarse 18” (450 mm) para la parte L para calcular la densidad de
campo requerida. Para partes cilíndricas, el diámetro D deberá ser la máxima
sección diagonal.
(a) Piezas con la relación L/D igual o mayor que 4. La corriente

magnetizante deberá estar dentro de ± 10% del valor vuelta-amperios
determinado como sigue:
Vuelta – Amperios = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10”

(250 mm) de largo X 2” (50 mm) de diámetro tiene una relación L/D de 5”. Por lo
tanto,
35.000/[(10/2) +2] = 5000 vueltas – amperios

(b) Piezas con la relación L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corriente
magnetizante vueltas- amperios deberá estar dentro de ± 10% del valor
vuelta – amperios determinado como sigue:
Vueltas – amperios = 45.000/ (L/D)

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(c) Piezas con la relación L/D menor que 2. No se puede usar la tecnica de
magnetización con bobina.
(d) Si el área que va ser magnetizada de extiende mas allá de 9” (225 mm)
en cualquier lado del centro de la bobina, se deberá demostrar la
suficiencia del campo usando un indicador de campo magnético o

Shims de fallas artificiales. Según T-764.
(e) Para grandes piezas debido a su forma y tamaño, la corriente
magnetizante deberá ser de 1200 vueltas-amperios hasta 4500 vueltas-
amperios. La suficiencia del campo deberá ser demostrada usando
Shims de falla artificial o un indicador de campo magnético en forma de
torta en concordancia con T-764. Un Gausímetro de prueba de Efecto
Hall no deberá ser usado con las técnicas de magnetización de bobina
envolvente.
T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de

campo necesario deberá ser determinada por dividir las vueltas-amperios obtenidas
en los pasos T-753.2 (2) ó (b) entre el número de vueltas en la bobina como sigue:
Amperios (lectura en metros)= (vueltas – amperios) /vueltas

Por ejemplo, si se usa una bobina de 5 vueltas y las vueltas- amperios requeridas
son 5000, usar
5000/5= 1000 (± 10)

T-754 Técnicas de Magnetización Circular
T-754.1 Técnica de Contacto Directo
(a) Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva

a cabo mediante el paso de corriente a través de la pieza a examinar. Esto
produce un campo magnético circular que es perpendicular a la dirección del
flujo de corriente en la pieza.
(b) Corriente magnetizante. Deberá usarse corriente magnetizante directa o
rectificada (media onda rectificada ú onda completa rectificada)
(1) La corriente deberá ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800
amp/pulg. (31 Amps/mm) de diámetro exterior.
(2) Las piezas con formas geométricas diferentes a las redondas con la
diagonal seccional transversal más grande en un plano en un ángulo
recto al flujo de corriente determinará las pulgadas que van a ser usadas
en T-754.1 (b) (1) antes mencionado.

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(3) Si los niveles de corriente requeridos por (b) (1) no pueden ser obtenidos,
se debe usar la máxima corriente asequible y la suficiencia del campo
deberá ser demostrada en concordancia con T-764.
T-754.2 Técnica del Conductor Central
(a) Procedimiento magnetizante. Para esta técnica, se usa un conductor central

para examinar las superficies internas de las piezas de forma de anillo o
cilíndricas. La técnica del conductor central también pueden ser usadas para
examinar las superficies externas de estos tipos de formas. Donde los
cilindros de gran diámetro van a ser examinados, el conductor deberá ser
posicionado cerca de la superficie interna del cilindro. Cuando en conductor
no está centrado, la circunferencia del cilindro deberá ser examinado en
pequeñas porciones. Se deberá usar las mediciones de la densidad de campo
en concordancia con T-764
FIG. T-754.2.1 TECNICA DE CONDUCTOR CENTRAL DE PASO SIMPLE Y DOBLE
para determinar la extensión del arco que puede ser examinado para cada posicion
del conductor o las reglas en T-754.2 (c) antes mencionado puede aplicarse. Las
barras o cables, que pasan a través del hueco de un cilindro, pueden ser usadas para
inducir la magnetización circular.
(b) Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deberá ser igual a

aquella determinada en T-754.1 (b) para un conductor central de una sola
vuelta. El campo magnético aumentará en proporción al número de veces que
el cable del conductor central pasa a través de la parte hueca. Por ejemplo, si
se requieren 6000 amperios para examinar una pieza usando un conductor
central de pase simple, entonces son requeridos 3000 amperios cuando se
use un conductor de pase doble, y 1200 amperios son requeridos si se usan 5
pases (Ver Figura T-754.2.1). Cuando se use la técnica del conductor central,

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la suficiencia del campo magnético deberá ser verificada usando un indicador

de campo de partículas magnéticas en concordancia con T-764.
(c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a través del
interior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los niveles

de corriente, así dados en T-754.1 (b) (1) aplicarán, excepto aquél diámetro
usado para el cálculo de la corriente deberá ser la suma del diámetro del
conductor central y dos veces el espesor de la pared. La distancia a lo largo de
la circunferencia de la pieza (exterior) que es efectivamente magnetizado
deberá ser tomado como cuatro veces el diámetro del conductor central,
como se ilustra en la figura T-754.2.2. La circunferencia completa deberá ser
inspeccionada mediante la rotación de la parte en el conductor, dejando
aproximadamente un solape de campo magnético del 10%.
T-755 Técnica de Yugo
Para esta técnica, se deberán usar los yugos electromagnéticos de corriente alterna o
directa, o yugos de imanes permanentes
T-756 Técnica de Magnetización Multidireccional

T-756.1 Procedimiento de Magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva
a cabo mediante paquetes de energía de alto amperaje que operan tanto como tres
circuitos que son energizados uno a la vez en rápida sucesión.
FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIÓN DE LA REGIÓN EFECTIVA CUANDO SE USA UN

CONDUCTOR CENTRAL DESALINEADO
El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rápidas es producir una

magnetización total de la pieza en múltiples direcciones. Los campos magnéticos

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circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinación usando las

tecnicas diversas descritas en T-753 y T-754.
T-756.2 Densidad de Campo Magnético. Solamente corriente rectificada de onda

completa, de tres fases deberá ser usada para magnetizar la pieza. Los
requerimientos de la corriente magnetizante inicial para cada circuito deberá ser
establecido usando las guías descritas previamente (Ver T-753 y T-754). La suficiencia
del campo magnético deberá ser demostrada usando Shims de fallas artificiales o un
indicador de campo de partículas magnéticas de forma de torta en concordancia con
T-764. Un Gaussímetro explorador del efecto Hall no deberá ser usado para medir la
suficiencia del campo para la técnica de magnetización multidireccional. Un campo
adecuado deberá obtenerse al menos en dos direcciones perpendiculares
aproximadamente, y las intensidades del campo deberan estar balanceadas a fin de
que un campo fuerte en una dirección no domine el campo en la otra dirección. Para
las áreas donde las densidades de campo adecuado no pueden ser demostradas,
deberán ser usadas tecnicas de partículas magnéticas adicionales para obtener la
cobertura requerida en dos direcciones.
T-760 CALIBRACIÓN
T-761 Frequencia de Calibración
T-761.1 Equipos de Magnetización
(a) Frecuencia. El equipo de magnetización deberá ser calibrado con un

amperímetro al menos una vez al año, o todas las veces que el equipo haya
estado sometido a una reparación eléctrica mayor, revisión periódica, o
daños. Si el equipo no ha estado en uso por un año o mas, debe hacerse la
calibración antes del primer uso.
(b) Procedimiento. La precisión del medidor de la unidad deberá ser verificado
anualmente mediante la trazabilidad del equipo a un estándar nacional.
Deben ser tomadas lecturas comparativas por lo menos a tres diferentes
niveles de salida de corriente que abarca el rango usual.
(c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deberá desviarse por más
del ±10% de la escala completa, relativo al valor de la corriente actual como
se muestra por el medidor de ensayo.
T-761.2 Medidores
vez al año de veces
o todas las luz. Los medidores
que de haya
el medidor luz deberán ser calibrados
sido reparado. al menos una
Si los medidores no
han estado en uso por un año o más, la calibración deberá ser hecha antes de su uso.
T- 762 Energía de Levante de los Yugos
(a) Antes de usar, la energía magnetizante de los yugos electromagnéticos

deberá revisarse anualmente. La energía magnetizante de los yugos
magnéticos permanentes deberá ser inspeccionada diariamente antes de
usar. La energía magnetizante de todos los yugos deberá ser revisada todas
las veces que el yugo haya sido dañado o reparado.

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(b) Cada yugo electromagnético de corriente alterna deberá tener una energía de
levante de al menos 10 libras (4.5 Kgs.) en la separación máxima del polo que
será usada.
(c) Cada yugo magnético permanente o de corriente directa deberá tener una
energía de levante de al menos 40 libras (18 Kgs) en la separación máxima del
polo que será usado.
(d) Cada peso deberá ser pesado con una balanza de un fabricante respetable y
calibrado con un peso nominal aplicable antes de su primer uso. Un peso solo
requiere ser verificado de nuevo si se daña de una manera que pudiera haber
causado perdida potencial de material.
FIG. T-764.1.1 INDICADOR DE CAMPO DE PARTÍCULAS MAGNÉTICAS DE FORMA DE

TORTA.
T-763 Gausímetros
Los Gausímetros de prueba del efecto Hall usados para verificar la densidad del
campo magnetizante en concordancia con T-754 deberá estar calibrado al menos una
vez al año p todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparación mayor,
revisión periódica, o daño. Si el equipo no ha sido usado por un año o más, la
calibración deberá ser realizada antes de su primer uso.
T-764 Suficiencia y Dirección del Campo Magnético
T-764.1 Suficiencia del Campo Magnético. El campo magnético aplicado deberá tener
suficiente densidad para producir indicaciones satisfactorias, pero no deberá ser tan
fuerte porque puede enmascarar las indicaciones relevantes mediante
acumulaciones no relevantes de partículas magnéticas. Los factores que influencian
la densidad de campo requerido incluyen el tamaño, forma, y la permeabilidad del

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material de la pieza; la técnica de magnetización; los revestimientos; el método de

aplicación de las partículas; y el tipo de ubicación de las discontinuidades para ser
detectadas. Cuando es necesario verificar la suficiencia de la densidad del campo
magnético, se deberá verificar por el uso de uno o más de los tres métodos
siguientes.
T-764.1.1 Indicador de Campo de Partículas Magnéticas de Forma de Torta. El

indicador, mostrado en la figura T-764.1.1, deberá ser posicionado sobre la superficie
que va a ser examinada, tal que el lado de la placa de cobre esté alejada de la
superficie inspeccionada. Se indica una densidad de campo apropiada cuando una
línea (o líneas) claramente definida de partículas magnéticas se forman
transversalmente a la cara de cobre del indicador cuando las partículas magnéticas
son aplicadas simultáneamente con la fuerza magnetizante. Cuando no se forma una
línea de partículas claramente definidas, deberá ser cambiada la tecnica
magnetizante cuando sea requerida. Los indicadores del tipo torta se usan mejor con
los procedimientos de partículas secas.
FIG. T-764.1.2.1 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

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NOTA GENERAL: Lo anterior son ejemplos de Shims de falla artificial usados en la verificación del
sistema de inspección por partículas magnéticas (el dibujo no esta a escala). Los Shims son
construidos de acero de bajo contenido de carbono (Hoja de Acero 1005). La falla artificial es atacada
o maquinada en un lado de la hoja a una profundidad del 30% del espesor de la hoja.
T- 764.1.2 Shims de Falla Artificial. Uno de los Shims mostrados en la figura T-

764.1.2.1 o la figura T- 764.1.2.2 cuya orientación es tal que puede tener un
componente perpendicular al campo magnético aplicado deberá ser usado. Los
Shims con muescas lineales deberan estar orientadas a fin de que al menos una
muesca sea perpendicular al campo magnético aplicado. Los Shims solo con muescas
circulares pueden ser usados en cualquier dirección. Los Shims deberán estar
sujetados a la superficie para ser examinados, tal que el lado de la falla artificial del
Shim este hacia la superficie inspeccionada. La densidad del campo apropiado es
indicada cuando una línea claramente definida (o líneas) de partículas magnéticas,
representando el 30% de profundidad de la falla, aparecen en la cara del Shim
cuando las partículas magnéticas son aplicadas simultáneamente con la fuerza
magnetizante. Cuando una línea de partículas claramente definida no se forma,
deberá cambiarse la técnica de magnetización así requerida. Los indicadores tipo
Shims son mejores usados con procedimientos de partículas húmedas.
Nota: Los Shims circulares mostrados en la figura T-764.1.2.2 ilustración (b) tambien tienen
profundidades de fallas menores y mayores del 30%.
T-764.1.3 Exploración del campo tangencial del efecto Hall. Un gausímetro y una
sonda de campo tangencial del efecto Hall deberán ser usados para medir el valor
pico de un campo tangencial. La sonda deberá ser ubicada sobre la superficie que va
a ser examinada, de manera tal que la densidad máxima del campo sea determinada.
Se indica una densidad de campo apropiada cuando el campo medido esta dentro
del rango de 30 G hasta 60 G (2.4 kAm-1 hasta 4.8 kAm-1) mientras la fuerza
magnetizante esta siendo aplicada. Ver el Artículo 7, Apéndice A No obligatorio.
T-764.2 Dirección del Campo Magnético. La dirección de la magnetización deberá ser

determinada mediante las indicaciones de partículas obtenidas usando un indicador
o Shims como se muestra en la figura T-764.1.1 o la figura T-764.1.2. Cuando no se
forma una línea de partículas claramente definidas en la dirección deseada, la
técnica magnetizante deberá cambiarse así requerida.

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T-764.2.1 Para las tecnicas de magnetización multidireccional, la orientación de las

líneas de flujo deberán estar en al menos dos direcciones casi perpendicularmente.
Cuando las líneas de partículas claramente definidas no se forman en al menos dos
direcciones casi perpendiculares, la tecnica magnetizante deberá ser cambiada así
requerida.
T- 764.3 Determinación de la suficiencia y dirección de los campos magnéticos

usando indicadores de campos magnéticos o Shims de falla artificial se permiten
solamente cuando son específicamente referenciadas mediante tecnicas
magnetizantes en T-753.2 (d), T-753.2 (e), T-754.1 (b) (3), T- 754.2(a), T-754.2(b), y T-
756.2.
T-765 Contaminación y Concentración de las Partículas Húmedas.
Las unidades horizontales para baños húmedos deberán tener la contaminación y

concentracion del baño determinado mediante la medición de su volumen de
sedimentación. Esto se lleva a cabo a través del uso de un Método de ensayo ASTM
D 96 de un tubo centrífugo en forma de pera con una espiga de 1-mL (divisiones 0.05-
mL) para suspensiones de partículas fluorescentes o una espiga de 1.5-mL (divisiones
0.1-mL) para suspensiones no fluorescente. Antes del muestreo, la suspensión
deberá fluir a través de un sistema de recirculación por al menos 30 min. para
asegurar la mezcla completa de todas las partículas las cuales pudieran haberse
sedimentado en el tamíz del sumidero y a lo largo de los lados o en la base del
tanque.
T-765.1 Concentración. Tomar una porción de 100-mL de la suspensión de la
manguera o boquilla,
aproximadamente 60 minutos desmagnetizar
con suspensionesy depermitir que sedimente
petróleo destilado por
ó 30 minutos,
con suspensiones a base de agua antes de la interpretación. El volumen sedimentado
en la base del tubo es indicativo de la concentración de las partículas en el baño.
FIG. T-764.1.2.2 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

Página 16
T-765.2 Volúmenes de la Sedimentación. Para las partículas fluorescentes, el

volúmen de sedimentación requerido es de 0.1 hasta 0.4 mL en una muestra de baño
de 100-mL y de 1.2 hasta 2.4 mL por 100 mL de vehículo para partículas no
fluorescentes a menos que se especifique lo contrario por el fabricante. La inspeccion
de la concentracion deberá hacerse al menos cada ocho horas.
T-765.3 Contaminación. Tanto las suspensiones fluorescente y las no fluorescentes

deberán ser inspeccionadas periódicamente por si tienen contaminantes tales como
sucio, cascarillas de fundición, aceite, pelusas, pérdida de pigmentos fluorescentes,
agua (en el caso de las suspensiones a base de aceite), y aglomerado de partículas las
cuales pueden afectar adversamente la ejecución del proceso de examinacion por
partículas magnéticas. El ensayo para detectar la contaminación deberá desarrollarse
al menos una vez a la semana.

Página 17
(a) Contaminación Portadora. Para baños fluorescentes, el líquido

directamente sobre el precipitado deberá ser examinado con luz de
excitación fluorescente. El líquido tendrá poca fluorescencia. Su color
puede ser comparado con una muestra recién hecha usando los mismos
materiales o con una muestra sin usar del baño original que fue retenida
para este propósito. Si la muestra “usada” es evidentemente más
fluorescente que el estándar de comparación, el baño deberá ser
reemplazado.
(b) Contaminación de las Partículas. La porción graduada del tubo deberá ser
examinada bajo luz de excitación fluorescente si el baño es fluorescente y
bajo la luz visible (tanto para partículas fluorescentes y no fluorescentes)
para las estrías o bandas, se diferencia en el color o apariencia. Las
bandas o estrías pueden indicar la contaminación. Si el volumen total de
los contaminantes, incluyendo las bandas o estrías que exceden el 30%
del volumen de las partículas magnéticas, o si el líquido es evidentemente
fluorescente, el baño deberá ser reemplazado.
T-766 Ejecucion de Sistemas de Unidades Horizontales.
La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deberá ser usada en la
evaluación y comparación de la ejecucion y sensibilidad total tanto de las técnicas
por partículas magnéticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y húmedas usando
una técnica de magnetización de conductor central.
(a) El Material del Anillo de Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero de

herramientas (Ketos) deberá ser maquinado del material AISI 01 en
concordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo de
acero deberá ser revenido a 1650ºF (900ºC), enfriado a 50ºF (28ºC) por hora a
1000 (540ºC) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para dar
resultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismo
tratamiento. El material y el tratamiento térmico son importantes. La
experiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento del
anillo mediante la dureza (90 a 95 HRB).
(b) Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-T66.1), es
magnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada
pasándolo a través
11/4” (25mm de un conductor
a 32mm) de diámetrocentral con un
ubicado enhueco de 1 pulgada
el centro hasta
del anillo. El
conductor deberá tener una longitud mayor de 16” (400 mm). La corrientes
usadas deberán ser de 1400, y 3400 amperios. El número mínimo de huecos
mostrados deberán ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde del anillo
deberá ser examinado con cualquier luz negra o luz visible, dependiendo del
tipo de partícula involucrada. Este ensayo deberá ser realizado en tres
intensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos tipos de
amperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no deberán
excederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el número requeridos de
huecos, el equipo deberá ser sacado de servicio y la causa de la pérdida de

Página 18
sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deberá ser realizado al

menos una vez por semana.
T-770 EXAMINACIÓN
T-771 Examinación Primaria
Antes de que la examinación por partículas magnéticas sea llevada a cabo, se deberá
conducir una revisión de la superficie sometida a la examinación para localizar
cualquier discontinuidad abierta a la superficie en la cual las partículas magnéticas
no puedan ser atraídas y sostenidas debido a su ancho.
T-772 Dirección de la Magnetización
Al menos dos examinaciones separadas deberán ser efectuadas sobre cada área.
Durante la segunda examinación, las líneas del flujo magnético deberán ser
aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primera
examinación. Una tecnica diferente para la magnetización deberá ser usada para la
segunda examinacion.
T-773 Método de Examinación.
Las partículas magnéticas usadas en un medio de examinación pueden ser de

cualquier tipo secas o húmedas, y pueden ser fluorescentes o no fluorescentes.
(a) Partículas secas. La corriente magnetizante deberá permanecer mientras el

medio de examinación está siendo aplicado y mientras cualquier exceso del
medio de examinación es eliminado.
(b) Partículas húmedas. La corriente magnetizante deberá ser aplicada despues
que las partículas hayan sido aplicadas. El flujo de partículas deberá
detenerse con la aplicación de la corriente. Las partículas húmedas aplicadas
desde envases presurizados pueden ser aplicados antes y/o después que la
corriente magnetizante sea aplicada. Las partículas húmedas pueden ser
aplicadas durante la aplicación de la corriente magnetizante si no son
aplicadas directamente al área de examinación y se permite que fluyan sobre
el área de examinación o son aplicadas directamente al área de examinación
con velocidades
acumuladas. insuficientemente bajas para remover las partículas

Página 19
FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)
Hueco 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
(mm)
Diám. 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07
[Nota(1)] (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8)
“D” 0.07 0.14 0.21 0.28 0.35 0.42 0.49 0.56 0.63 0.70 0.77 0.84
[Nota(2)] (1.8) (3.6) (5.3) (7.1) (9.0) (10.8) (12.6) (14.4) (16.2) (18.0) (19.8) (21.6)
NOTAS GENERALES:
(a) Todas las dimensiones son ± 0.03” (± 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2).
(b) Todas las dimensiones estan en pulgadas, a excepción como se nota ( ).

(c) El
(d) El material es acero
anillo puede de herramienta
ser tratado ANSI 01como
térmicamente de annealed round stock.
sigue: Calentar de 1400ºF hasta 1500ºF (760ºC hasta
790ºC). Mantener esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mínima de 40 ºF/h (22ºC/h)
hasta bajarla a 1000ºF (540ºC). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo a
RMS 25 y protegerlo de la corrosión.
Notas:
(1) Todos los diámetros de los huecos son ± 0.005” (± 0.1 mm). Los números de los huecos del 8
hasta el 12 son opcionales.
(2) La tolerancia en la distancia D es ± 0.005” (±0.1 mm).
T-774 Cobertura de la Examinación
Todas las examinaciones deberán ser dirigidas con solape suficiente del campo para
asegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764).
T-775 Corriente Rectificada
(a) Donde quiera que la corriente directa sea requerida la corriente rectificada
puede ser usada. La corriente rectificada para la magnetización deberá ser
cualquier corriente trifásica (rectificada de onda completa), o corriente de
fase simple (rectificada de media onda).

Página 20
(b) El amperaje requerido con corriente de fase triple, rectificada de onda

completa deberá ser verificada mediante la medición de la corriente
promedio.
(c) El amperaje requerido con corriente de fase simple (rectificada de media
onda) deberá ser verificada mediante la medición de la salida de corriente
promedio durante la conducción solamente del medio ciclo.
(d) Cuando se mide la corriente rectificada de media onda con un medidor de
ensayo de corriente directa deberá ser multiplicada por dos.
T-776 Remoción del Exceso de Partículas
Las acumulaciones del exceso de las partículas secas en las examinaciones deberán
ser removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentes
de flujo de aire seco a presión. La corriente o energía de la examinación deberá ser
mantenida mientras se remueve el exceso de partículas.
T-777 Interpretación
La interpretación deberá identificar si una indicación es falsa, no relevante, o

relevante. Las indicaciones falsas y no relevantes deberán ser comprobadas como
falsas o no relevantes. La interpretación deberá ser llevada a cabo para identificar la
ubicación de las Indicaciones y la característica de la indicación.
T-777.1 Partículas Magnéticas Visibles (Contraste de color). Las discontinuidades

superficiales se indican mediante las acumulaciones de partículas magnéticas las
cuales deberían contrastar con la superficie de la examinación. El color de las
partículas magnéticas deberán ser lo suficientemente diferentes que el color de la
superficie de la examinación. Se requiere una intensidad mínima de luz de 100 fc
(1000Lx) sobre la superficie que va a ser examinada para asegurar la sensibilidad
adecuada durante la examinación y evaluación de las indicaciones. Se requiere que la
fuente de luz, la técnica usada, y la verificación del nivel de luz sea demostrada a
tiempo, y mantenida en archivo.
T-777.2 Partículas Magnéticas Fluorescentes Con Luz Negra. Con las partículas
magnéticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo como en T-777.1,
con la excepción
365nm nominal),que la examinación
llamada luz negra.se La
ejecuta usando una
examinación luz ultravioleta
deberá (es decir,
desarrollarse como
sigue:
(a) Deberá ejecutarse en un área oscura.

(b) Los examinadores deberán estar en un área oscura por al manos 5 min.
Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten
a la inspección en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los
examinadores no deberán ser fotocromáticos o mostrar cualquier
fluorescencia.

Página 21
(c) Las luces negras deberán alcanzar un mínimo de 1000 μW/cm2 sobre la
superficie de la pieza que va a ser examinada en todas las partes de la
examinacion.
(d) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes deberán ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
agrietados o rotos deberán ser reemplazados inmediatamente.
(e) La intensidad de la luz negra deberá ser medida con un medidor de luz
negra antes de usarla, todas las veces que la fuente de luz negra sea
interrumpida o cambiada, y al culminar la examinación o series de
examinaciones.
T-777.3 Partículas Magnéticas Fluorescentes Con Otras Longitudes de Ondas de

Exitación Fluorescentes.
Por otra parte los requerimientos en T.777.2, las examinaciones pueden ser
ejecutados usando fuentes de luz de longitud de ondas alternas las cuales causan
fluorescencias en revestimientos de partículas específicos. Cualquier designación de
partículas específicas y fuentes de luz de longitud de onda de luz alterna usadas
deberán estar calificadas en concordancia con el Apendice Obligatorio IV. La
examinación deberá ser desarrollada como sigue:
(a) Deberá ejecutarse en un área oscura.

(b) Los examinadores deberán estar en un área oscura por al manos 5 min. Antes
de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a la
inspección en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los
examinadores no deberán ser fotocromáticos o mostrar cualquier
fluorescencia.
(c) Si la fuente de luz de excitación fluorescente emite intensidades de luz
mayores que 2 fc (20 Lx), el examinador deberá llevar lentes – filtros que
aumentan-la fluorescencia aprobado por el fabricante de fuentes de luz para
usarse con aquella fuente de luz.
(d) Las fuentes de luz de excitación fluorescente deberán alcanzar al menos el
mínimo de intensidad de luz sobre la superficie de la pieza en todas partes de
la examinación así calificada en los ensayos del Apéndice Obligatorio IV.
(e) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes deberán ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
(f) agrietados o rotos

La intensidad de ladeberán ser reemplazados
luz de excitación inmediatamente.
fluorescente deberá ser medida con un
medidor de luz de excitación fluorescente antes de usarla, todas las veces que
la fuente de energía de luz sea interrumpida o cambiada, y al culminar la
examinación o series de examinaciones.
T-778 Desmagnetización
Cuando el magnetismo residual en la pieza pudiera interferir con el procesamiento

subsecuente o uso, la parte deberá ser desmagnetizada alguna vez después de
culminar la examinación.

Página 22
T-779 Limpieza Posterior a la Examinación.
Cuando se requiere la limpieza posterior a la examinación, debería ser dirigida tan

pronto como práctico sea usando un proceso que no afecte adversamente la pieza.
T-780 EVALUACIÓN
(a) Todas las indicaciones deberán ser evaluadas en términos de los estándares
de aceptación de la Sección del Código de referencia.
(b) Las discontinuidades sobre o próximas a la superficie se indican mediante la
retención del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidades
superficiales localizadas debido a las marcas de maquinado u otras
condiciones superficiales pueden producir indicaciones falsas.
(c) Áreas amplias de acumulaciones de partículas, las cuales podrían enmascarar
las indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales áreas
deberán ser limpias y reexaminadas.
T-790 DOCUMENTACIÓN
T-791 Magnetización Multidireccional
Tecnica del Croquis
Deberá prepararse una tecnica de croquis para cada geometría examinada,

mostrando la geometría de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corriente
magnetizante para cada circuito, y las áreas de examinacion donde se obtienen las
densidades del campo magnético adecuado. Las partes con geometrías repetidas,
pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simple
siempre que la densidad de campo magnético sea adecuada cuando se demuestre en
concordancia con T-755.2.
T-792 Registro de las Indicaciones

T-792.1 Indicaciones No Rechazables. Las indicaciones no rechazables deberán ser
registradas como se especifica por la Sección del Código en referencia.
T-792.2 Indicaciones Rechazables. Las indicaciones rechazables deberán ser

registradas. Como mínimo,
ubicación y extensión eldiámetro
(longitud, tipo de oindicaciones (linealsero registradas
alineada) deberán redondeadas), la
T-793 Registros de la Examinación
Para cada examinación, la información siguiente deberá ser registrada:

(a) Identificación y revisión del procedimiento.
(b) Equipos y tipo de corriente de partículas magnéticas
(c) Partículas magnéticas (visible o fluorescente, húmedo o seco)
(d) La identificación del personal de examinación y si se requiere mediante el
(e) Código
Mapa oen referencia,
registros el nivel de calificación.
de identificación para T-792.
Página 23
(f) Material y espesor

(g) Equipo de iluminación
(h) Fecha de la examinación

Página 24
ARTICLE 7
APENDICES OBLIGATORIOS
CONTENIDO Pag.
APÉNDICE I Examinación por partículas magnéticas que usa la tecnica del yugo con
CA en materiales revestidos ferríticos con recubrimientos no magnéticos…………… 27
I-710 ALCANCE………………………………………………………………………………………………………27
I-720 GENERAL………………………………………………………………………………………………………27
I-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos…………………………………………….27
I-722 Calificacion del Personal……………………………………………………………………………….27
I-723 Procedimiento/Demostración de la Técnica………………………………………………….27
I-730 EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………….27
I-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS………………………………………………………………………..28
I-741 Medicion del Espesor del Revestimiento………………………………………………….28
I-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………….29
I-751 Calificación de la Técnica…………………………………………………………………………29
I-760 CALIBRACION……………………………………………………………………………………………….30
I-761 Fuerza Máxima de Levante del Yugo………………………………………………………..30
I-762 Medicion de la Intensidad de la Luz………………………………………………………….30
I-760 EXAMINACION……………………………………………………………………………………………..31
I-780 EVALUACION………………………………………………………………………………………………..31
I-790 DOCUMENTACION………………………………………………………………………………………..31
I-791 Registro de la Examinacion………………………………………………………………………31
APENDICE II – GLOSARIO DE TERMINOS PARA LA EXAMINACION POR PARTÍCULAS
MAGNÉTICAS………………………………………………………………………………………………………..32
II-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………..32
II-720 RQUERIMIENTOS GENERALES………………………………………………………………………32
II-730 REQUERIMIENTOS……………………………………………………………………………………….32
APENDICE III – EXAMINACION POR PARTICULAS MEGNETICAS USANDO LA TECNICA

DEL YUGO CON PARTICULAS FLUORESCENTES EN UN AREA NO OSCURA……………….33
III-710
III-720 ALCANCE…………………………………………………………………………………………………….33
GENERAL…………………………………………………………………………………………………….34
III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito……………………………………………34
III-723 Demostración de Procedimiento………………………………………………………….34
III-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………..34
III-751 Estándar de Calificacion………………………………………………………………………..34
III-760 CALIBRACION………………………………………………………………………………………………34
III-761 Medición de la Intensidad de la Luz Negra……………………………………………34
III-762 Medición de la Intensidad de la Luz Blanca…………………………………………..34
III-770 EXAMINACION…………………………………………………………………………………………….34
III-777
III-790 Interpretación………………………………………………………………………………………35
DOCUMENTACION………………………………………………………………………………………35
Página 25
III-791 Registro de Examinación…………………………………………………………………………….35
APÉNDICE IV — CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA

PARA LA EXCITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES…………………………………………36
IV-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………36
IV-720 GENERAL……………………………………………………………………………………………………36
IV-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos………………………………………..36
IV-723 Demostración de Procedimiento………………………………………………………….36
IV-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………..36
IV-751 Estándar de Calificacion………………………………………………………………………..36
IV-752 Cristales de Filtro………………………………………………………………………………….36
IV-770 EXAMINACIONES DE LA CALIFICACION…………………………………………………………36
IV-771 Intensidad de la Luz Negra…………………………………………………………………….36
IV-772 Requerimientos de la Examinacion……………………………………………………….37
IV-773 Calificacion de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partículas
Magnéticas…………………………………………………………………………………………………………….37
IV-790 DOCUMENTACION……………………………………………………………………………………….37
IV-791 Registro de Examinacion……………………………………………………………………………..37

Página 26
CONTENIDO
APÉNDICE I EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS QUE USA LA TECNICA DEL

YUGO CON CA EN MATERIALES REVESTIDOS FERRÍTICOS CON RECUBRIMIENTOS NO
MAGNÉTICOS
I-710 ALCANCE
Este apéndice suministra la metodología de la examinación de Partículas Magnéticas

y los requerimientos de los equipos aplicables para ejecutar la examinación por
Partículas Magnéticas en materiales ferríticos con revestimientos no magnéticos.
I - 720 GENERAL
Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sean modificados por este
Apéndice.
I – 721 Requerimientos de Procedimientos Escritos
I – 721.1 Requerimientos. La examinación por Partículas Magnéticas deberá ser
desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito el cual deberá, como
mínimo, contener los requerimientos listados en las tablas T- 721 y I – 721. El
procedimiento escrito deberá establecer un solo valor, o rango de valores, para cada
requerimiento.
I – 721.2 Calificación de Procedimiento/Validación de la Técnica.

Cuando se especifica la calificación de procedimiento, un cambio de un
requerimiento en la tabla T- 721 ó I – 721 identificado como una variable esencial del
valor especificado, o rango de valores, deben requerir recalificación del
procedimiento escrito y la validación de la técnica. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores,
especificado mediante el procedimiento escrito deberá requerir revisión de, o una
adenda para, el procedimiento escrito.
I – 722 Calificación del Personal
Los requerimientos
Sección dereferencia.
del Código en calificación del personal deberán estar en concordancia con la
I – 723 Procedimiento/Demostración de la Tecnica.
El procedimiento/Tecnica deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector

en concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia.
I –730 EQUIPOS
I – 730.1 El equipo de magnetización deberá ser estar concordancia con el Articulo 7.

Página 27
I – 730.2 Cuando se usa la tecnica del polvo seco, deberá ser utilizado un soplador de
polvo para la aplicación del polvo. No deberá ser usado aplicadores de partículas
exprimidas manualmente cuando se use la tecnica del polvo seco.
I – 730.3 Las partículas magnéticas deberá contrastar con el fondo del componente.
I – 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plástico disponible
puede ser usado para simular revestimientos no magnéticos no conductores para
calificación de procedimiento y personal.
I – 740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS

I – 741 Medición del Espesor del Revestimiento
El procedimiento de la demostración y ejecución de las examinaciones deberan ser

precedidos por la medicion del espesor del revestimiento en las áreas que van a ser
examinadas. Si el revestimiento es no conductor, se debe usar una técnica de
corriente de Eddy o técnica magnética para medir el espesor del revestimiento. La
tecnica magnética deberá estar en concordancia con SD-1186, Métodos de Ensayos
Estándar para la Medición de Espesores de Revestimientos Delgados Secos de
Revestimientos No Magnéticos Aplicados a una Base Ferrosa. Cuando los
revestimientos son conductores y no magnéticos, deberá ser usada un tecnica
espesor de revestimiento en concordancia con SD-1186. Se deberá usar el equipo de
medicion de revestimiento en concordancia con las instrucciones del fabricante del
equipo. Deberán ser tomadas las mediciones del espesor del revestimiento en las
intersecciones de un patrón cuadrícula maximo de 2” (50 mm) sobre el área de
examinación y al menos una mitad de la máxima separación de los apoyos del yugo
más allá del área de examinación. El espesor deberá ser la media de las tres lecturas
separadas dentro de ¼” (6 mm) de cada intersección.

Página 28
TABLA I-721
REQUERIMIENTOS DE LA TECNICA DEL YUGO CON CA EN COMPONENTES FERRITICOS
REVESTIDOS
Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial
Identificación de las configuraciones de la superficie a ser
examinada, incluyendo los materiales del revestimiento, el X ---------------------
maximo espesor de revestimiento calificado, y las formas del
producto (ejemplo., material base o superficie soldada)
Requerimientos de la condición superficial y métodos de X ---------------------
preparación.
Fabricante y Modelo de Yugo CA X ---------------------
Fabricante y tipo de las partículas magnéticas X ---------------------
Separación mínima y máxima de los polos X ---------------------
Identificación de los pasos en la ejecución de la examinación X ---------------------
Intensidad mínima de la iluminación y los requerimientos de
energía de levante [como se midió en concordancia con la X ---------------------
Técnica de Calificación (I-721.2)]
Métodos de identificación de fallas y distinguir entre las
indicaciones producidas por discontinuidades e indicaciones X ---------------------
falsas o no relevantes (ejemplo., registro magnético, o
partículas retenidas por irregularidades superficiales).
Instrucciones para la identificación y confirmación de X ---------------------
indicaciones de fallas bajo sospechas.
Método de medición de espesores de revestimientos --------------------- X
Criterio de registro --------------------- X
Requerimientos único de calificación de personal para esta --------------------- X
técnica
Referencia a los registros de calificación de procedimiento --------------------- X
I-750 TÉCNICA
I-751 Calificación de la técnica
(a) Se requiere una muestra de calificación. La muestra deberá ser de

geometría similar o perfil de soldadura y que contenga al menos una
grieta superficial no mayor que el tamaño máximo de falla permitido en
el criterio de aceptación aplicable. El material usado para la muestra
deberá
materialser de la misma especificación
ferromagnético revestido que vay tratamiento térmico
a ser examinado. como
Como el
una
alternativa a los requerimientos del material, otros materiales y
tratamientos térmicos pueden ser calificados con tal que:
(1) La máxima fuerza de levante del yugo medida en el material a ser examinado
sea igual o mayor que la fuerza máxima de levante en la calificación del
material de la muestra. Ambos valores deberán ser determinados con el
mismo o equipo comparable y deberá ser documentado como se requiera en
I-751 (c).
(2) Todos los requerimientos de I-751 (b) hasta (g) son presentados para el
material alterno.

Página 29
(b) Examinar la muestra descubierta en la mayoría de la orientación

desfavorable esperada durante la ejecución de la examinación de
producción.
(c) Documentar la máxima energía de levante del yugo medido, niveles de
iluminación, y los resultados.
(d) Medir el espesor máximo de revestimiento en el artículo a ser examinado
en concordancia con los requerimientos de I-741.
(e) Cubrir la muestra con el mismo tipo de recubrimiento, conductor o no
conductor, para el máximo espesor en el artículo de producción que va a
ser examinado Alternativamente, se pueden usar shim disponible no
conductor para simular revestimientos no conductores.
(f) Examinar la muestra revestida en la orientación desfavorable esperada
durante la ejecución de la examinacion de producción. Documentar la
máxima energía medida de levante del yugo, nivel de iluminación, y los
resultados de examinacion.
(g) Comparar la longitud de la indicacion resultante de la falla mas larga no
mayor que el tamaño de falla maximo permitido por el criterio de
aceptación aplicable, antes y después del revestimiento. Se califica el
espesor del revestimiento cuando la longitud de la indicación en la
superficie revestida es de al menos del 50% de la longitud de la indicación
correspondiente antes del revestimiento.
(h) Se requiere la recalificación del revestimiento para una disminución en
cualquier energia de levante del yugo CA o el nivel de examinacion, o
para un aumento en el espesor de recubrimiento.
I-760 CALIBRACIÓN
I-761 Fuerza Máxima de Levante del Yugo
La máxima fuerza de levante del yugo CA deberá ser determinada en la separación

normal de los apoyos del yugo a ser usada en la examinacion. Esto puede ser llevado
a cabo por mantener el yugo con un peso ferromagnético de 10 libras (4.5Kgs) entre
los apoyos (piernas) del yugo y agregando pesos adicionales, calibrados en una
postage u otra escala, hasta que el peso ferromagnético sea retirado. La energía de
levante del yugo deberá ser el peso combinado del material ferromagnético y los
pesos agregados, antes de que el peso ferromagnético haya sido retirado. Pueden
ser usados otros métodos tales como indicadores de presiones.
I-762 Medición de la Intensidad de Luz
La intensidad de la luz negra o blanca (así apropiada) sobre la superficie del

componente no deberá ser menor que aquel usado en el ensayo de calificación. Un
medidor de luz blanca y/o luz negra calibrado apropiado deberá ser usado para los
ensayos. Las intensidades de luz blanca o luz negra mínima deberán cumplir con los
requerimientos de T-777.1 o T-777.2 así aplicable.

Página 30
I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deberá ser medida en la superficie de
inspección. La intensidad de luz blanca para la examinación no deberá ser menor que
la que fue usada en la examinación.
I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deberá ser medida en la distancia de la
luz negra en la calificación del procedimiento y en la misma distancia de la muestra
de la examinación. La intensidad de la luz negra no deberá ser menor que aquella
usada para calificar el procedimiento. En resumen, la máxima intensidad de la luz
blanca deberá ser medida como luz de fondo en la superficie de inspección. La luz
blanca de fondo para la examinación no deberá ser mayor que la que fue usada en la
calificación.
I-770 EXAMINACIÓN
(a) Las superficies que van a ser examinadas, y todas las áreas adyacentes dentro
de al menos 1” (25 mm), deberá estar libre de todo sucio, grasas, pelusas,
cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarillados
sueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado.
(b) Examinar el artículo revestidos en concordancia con el procedimiento
calificado.
I-780 EVALUACIÓN
Si una indicación mayor que el 50% del tamaño máximo de falla permisible es
detectada, el recubrimiento en el área de la indicación deberá ser removido y
repetida la examinacion.
I-790 DOCUMENTACIÓN
I-791 Registro de la Examinación
Para cada examinación, la informacion requerida en la sección de los registros de T-

793 y la siguiente información deberá ser registrada:
(a) La identificación del procedimiento/tecnica
(b) La identificación del personal que ejecuta y es testigo de la calificación
(c) La descripción y dibujos o esquemas de la muestra de calificación, incluyendo
(d) las mediciones

Equipos del espesor
y materiales usadodel revestimiento y dimensiones de la falla.
(e) Nivel de iluminación y energía de levante del yugo
(f) Resultados de la calificación, incluyendo el espesor de revestimiento máximo
y fallas detectadas.

Página 31
APENDICE II — GLOSARIO DE TÉRMINOS PARA LA EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS

MAGNÉTICAS
II-710 ALCANCE
Este Apéndice obligatorio es usado para el propósito de establecer los términos

estándar y definiciones de los términos los cuales aparecen en el Artículo 7,
Examinación por Partículas Magnéticas.
II- 720 REQUERIMIENTOS GENERALES
(a) La Terminología Estándar para las Examinaciones No Destructivas (ASTME

1316) ha sido adoptada por el comité SE-1316.
(b) La Sección SE-1316 7 suministra las definiciones de términos listados el II-730
(a).
(c) Para los términos generales, tales como Indicacion, Falla, Discontinuidad,
Evaluacion, etc., Referirse al Artículo 1, Apendice I Obligatorio
(d) El parágrafo II-730(b) suministra una lista de términos y definiciones, los
cuales son en adicion para SE-1316 y son específicos del Código.
II-730 REQUERIMIENTOS
(a) Los siguientes términos SE-1316 son usados conjuntamente con este Artículo:
Vuelta-amperios, luz negra, conductor central, magnetización circular,
desmagnetización, polvo seco, corriente directa de onda completa, corriente
de media onda, magnetización longitudinal, campo magnético, densidad de
campo magnético, examinacion por partículas magnéticas, indicador de
campo de partículas magnéticas, partículas magnéticas, magnetización
multidireccional, imanes permanentes, pinzas, sensibilidad, suspensión, yugo.
(b) Los siguientes términos del Codigo son usados conjuntamente con este
Artículo:
Intensidad de luz negra: Es una expresión cuantitativa de la irradiación
ultravioleta.
Flujo magnético: Es el concepto en que el campo magnético fluye a lo largo de
la fuerza que sugiere que estas líneas son por lo tanto líneas de “flujo”, y son
llamado
líneas deflujo
flujomagnético. La densidad
que atraviesan delde
una unidad campo
área se defineenpor
tomada el número
ángulos rectosdea
la dirección de las líneas.
Corriente magnética rectificada: Por medio de un dispositivo llamado
rectificador, el cual permite que la corriente fluya solo en una dirección, la
corriente alterna puede ser convertida a una corriente unidireccional. Esto se
diferencia de la corriente directa en que el valor de la corriente varía de un
nivel estable. Esta variación puede ser extrema, como en el caso de la CA de
fase simple de media onda rectificada, o de poca importancia, como en el
caso de la CA rectificada trifásica.

Página 32
TABLA III-721
REQUERIMIENTOS PARA UNA TECNICA DE YUGO DE CDMO (HWDC) O CA CON
PARTÍCULAS FLUORESCENTES EN UN ÁREA NO OSCURECIDA
REQUERIMIENTOS VARIABLE ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL

Identificación de las configuraciones superficiales a
ser examinadas y formas de productos X ----------------------
( ejemplo,. Material base o superficie soldada)
Requerimiento dela condición superficial y métodos X ----------------------
de preparación
Fabricante y modelo del yugo X ----------------------
Fabricante y designación de partículas X ----------------------
Separación de los polos maximo y mínimo X ----------------------
Identificación de los pasos en la ejecución de la X ----------------------
examinación
Máxima intensidad de la luz blanca X ----------------------
Máxima intensidad de la luz negra X ----------------------
Requerimientos para la calificación del personal ---------------------- X
Referencia a los registros de calificación de ---------------------- X
procedimientos
Corriente rectificada de media onda CA: Cuando una corriente alterna de fase simple
es rectificada en la manera mas simple, la inversión del ciclo es bloqueado
completamente. El resultado es una corriente pulsatoria unidireccional con
intervalos cuando la corriente no esta fluyendo en su totalidad. Esto a menudo es
referido como corriente directa de media onda o corriente directa pulsatoria.
Corriente rectificada de onda completa: Cuando la mitad del ciclo inverso cambia de
posicion fluye en la misma dirección como en la mitad de avance directo. El
resultado es una corriente rectificada de onda completa. Cuando la corriente alterna
trifásica es rectificada de onda completa es unidireccional con muy poca pulsación;
solo una tensión de variación de ondulación la diferencia de la CD de fase simple.
APENDICE III — EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS USANDO LA TÉCNICA

DEL YUGO CON PARTÍCULAS FLUORESCENTES EN UN ÁREA NO OSCURA
III- 710 ALCANCE
Este Apéndice suministra la metodología y requerimientos de equipos para

examinación por Partículas Magnéticas aplicables para ejecutar las examinaciones
por partículas magnéticas que usan un yugo con partículas fluorescentes en un área
no oscura.

Página 33
III-720 GENERAL
Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apéndice.
III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito
III-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de las tablas T-721 y III-721 aplican.
III-721.2 Calificacion de Procedimiento. Los requerimientos de la tabla T-721 y III-721

aplican.
III-723 Demostración de Procedimiento
El procedimiento deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector en

concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia.
III-750 TÉCNICA
III-751 Estándar de Calificación
Un Shim(s) ranurado estándar como se describe en T-764.1.2 deberá ser usado como
el estándar de calificación.
III-760 CALIBRACIÓN
III-761 Medición de la Intensidad de luz negra.

La intensidad de la luz negra sobre la superficie del componente deberá ser no
menor que el usado en el ensayo de calificación.
III-762 Medición de la Intensidad de la luz Blanca
La intensidad de la luz blanca sobre la superficie del componente deberá ser no

mayor que el usado en el ensayo de calificación.
III-770 EXAMINACIÓN
El estándar de calificación deberá ser ubicado sobre una plancha de acero al carbono
y examinado en concordancia con el procedimiento a ser calificado y un
procedimiento que haya sido previamente demostrado como apropiado para el uso.
El procedimiento estándar puede utilizar una tecnica fluorescente o visible. Las
indicaciones de falla deberán ser comparadas; si aparece la misma la indicación
obtenida bajo las condiciones propuestas o mejor que la obtenida bajo las
condiciones estándar, el procedimiento propuesto deberá ser considerado calificado
para su uso.

Página 34
TABLA IV-721
REQUERIMIENTOS PARA LA CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE
ONDAS ALTERNAS PARA LA EXITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES ESPECÍFICAS
REQUERIMIENTOS VARIABLES ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL

Fabricante y designación de partículas X -------------------------
Vehículo (agua, o aceite); Si es aceite, fabricante X -------------------------
y tipo de designación.
Fabricante y modelo de la fuente de luz de X -------------------------
longitud de onda alterna
Medidores, fabricante y modelo de la fuente de X -------------------------
luz de longitud de onda alterna
Cristal de filtro ( si es necesario) X -------------------------
Intensidad de luz de longitud de onda alternativa X -------------------------
mínima
Registros de calificación ------------------------- X
III-777 Interpretación
Para la interpretación, tanto la intensidad de luz negra y blanca deberán ser medida
con medidores de luz.
III-790 DOCUMENTACIÓN
III-791 Registro de la Examinación
Para cada examinación, la información requerida en T-793 y la siguiente información

deberá ser registrada:
(a) Identificación y revisión del procedimiento calificado.

(b) Identificación y revisión del procedimiento estándar.
(c) Identificación estándar de la calificación.
(d) Identificación del personal que ejecuta y es testigo de la calificación.
(e) Equipos y materiales usados.
(f) Niveles de iluminación (luz negra y blanca).
(g) Resultados de la calificación.

Página 35
APÉNDICE IV — CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA

PARA LA EXCITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES.
IV-710 ALCANCE
Este Apéndice suministra la metodología para calificar le ejecución de las

examinaciones de partículas fluorescentes que usan fuentes de longitud de ondas
alternas.
IV-720 GENERAL
Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apéndice.
IV-721 Requerimientos de Procedimiento Escritos.
IV-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de la tabla IV-721 aplican a los

requerimientos de los procedimientos escritos (T-721.1) y cuando se especifican
mediante la Sección del Código de referencia para la calificación (T-721.2).
IV-723 Demostración del Procedimiento
El procedimiento deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector en

concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia.
IV-750 TÉCNICA
IV-751 Estándar de Calificación
Los Shims ranurados (s) de 0.002” (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% de
profundidad de material removido descrito así en T-764.1.2 deberán ser usados para
calificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partículas específicas. Los
Shims deberán estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnéticos
y usados como se describe en 7-764.1.2 con la muesca contra la superficie del objeto.
IV-752 Cristales de filtro

Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite en una porción visible del
espectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deberá llevar
puestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuente
de luz para bloquear la luz de excitación visible reflejada mientras se transmite la
fluorescencia de las partículas.
IV-770 EXAMINACIONES DE LAS CALIFICACIONES
IV-771 Intensidad de la Luz Negra.

Página 36
La intensidad de luz negra sobre la superficie de examinación deberá ser ajustada

mediante la variación de la distancia o energía a fin de que tenga una intensidad
mínima de 1.100 μW /cm 2.
IV-772 Requerimientos de la Examinación
Los parámetros de la examinación para el objeto seleccionado deberán ser

determinados por las reglas de T-750 aplicable al objeto seleccionado y al método de
magnetización. Cualquier técnica de magnetización listada en T-751 puede ser usada.
Las mismas indicaciones de las discontinuidades del Shim deberán ser usadas tanto
para la luz negra y para las examinaciones de luz de longitud de onda alterna
IV-772.1 Examinaciones con Luz Negra. El estándar de calificación con el shim(s)

sujetado deberá ser examinado con los parámetros establecidos y partículas
específicas en un área oscura con iluminación de luz negra. Las indicaciones de
partículas resultantes deberán ser fotografiadas.
IV-772.2 Examinación con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismas
indicaciones examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de longitud de onda
alterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variación de la distancia o energía,
para establecer las indicaciones de partículas esencialmente iguales a aquella
(aquellas) que se obtuvieron con la luz negra según como se realizó antes. La
intensidad de la luz deberá ser medida con un medidor de luz de longitud de onda
alternativa. La indicacion(s) de partículas resultantes deberá ser fotografiada usando
las técnicas fotográficas idénticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para
usar filtros de lentes de camara apropiados con la fuente de luz de longitud de onda
alterna debería ser usado para registrar la indicacion(s), cuando sea requerida.
IV-773 Calificación de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partículas

Específicas.
Cuando la misma indicacion(s) de partículas así logradas con la luz negra pueden
obtenerse con la fuente de luz de onda alterna, la fuente de luz de longitud onda
alterna puede ser usada para las examinaciones por partículas magnéticas. La fuente
de luz de longitud de onda alterna con al menos la mínima intensidad de luz
calificada deberá ser usada con la designación de partículas especificas empleadas en
la calificación.
IV-790 DOCUMENTACIÓN
IV-791 Registro de la Examinación. Para cada examinación, la información requerida

en T-793 y la siguiente información deberá ser registrada:
(a) La fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.

(b) El medidor de fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.

(c)
(d) Cristales
Fabricantefiltro, cuando seadenecesario
y designación las partículas fluorescentes.
Página 37
(e) Identificación del estándar de la calificación.

(f) Detalles técnicos.
(g) Identificación del personal que ejecuta la calificación y testigos de la misma.
(h) Equipos y materiales usados.
(i) Intensidad de luz de longitud de onda alterna mínima.
(j) Luz negra y fotos de la calificación de luz de longitud de onda alterna,
calibraciones de la exposición, y filtros, si son usados.

Página 38
ARTICULO 7
APÉNDICE NO OBLIGATORIO
CONTENIDO………………………………………………………………………………………………………Pag.
APÉNDICE A — MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON

GAUSÍMETROS…………………………………………………………………………………………………….40
A-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………40
A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES…………………………………………………………………..40
A-730 EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………40
A-750 PROCEDIMIENTOS……………………………………………………………………………………..40
A-790 DOCUMENTOS/REGISTROS………………………………………………………………………..41

Página 39
APÉNDICE A — MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON

GAUSÍMETROS
A-710 ALCANCE
Este Apéndice No obligatorio es usado con el propósito de establecer procedimientos

y especificaciones delos equipos para medir la densidad de campo magnético
tangencial aplicado.
A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES
Los requerimientos de calificación del personal deberán estar en concordancia con el

Artículo 1.
Los gausímetros y equipos relacionados deberán estar en concordancia con T-763 del
Artículo 7.
Definiciones: La terminología estándar para las examinaciones por partículas

magnéticas se presenta en SE-1316.
A-730 EQUIPOS
El gausímetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores típicos de
la intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausímetro deberá ser de
al menos de O Hz hasta 300 Hz.
La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debería ser no mayor de 0.2” (5mm) X
0.2” (5 mm) y debería tener una ubicación del centro máximo de 0.2” (5 mm) de la
superficie de la pieza. Los cables de la sonda deberán ser protegido o enrollados para
evitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios de
campos encontrados durante las examinaciones por partículas magnéticas.
A-750 PROCEDIMIENTO
Se deberá tener precaución cuando de mida las densidades del campo tangencial
aplicado en T-764.1.3. El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie
de la pieza
llevar en la
a cabo ubicaciónla de
mediante la medición
orientación dentro Puede
manual. de 5º . ser
Estousado
puedeuna
ser difícil
matrizdeo
accesorio para asegurar que esta orientación sea alcanzada y mantenida. La dirección
y magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede ser
determinada mediante la ubicación de la sonda de campo tangencial de Efecto Hall
sobre la superficie de la parte en el área de interés. La dirección del campo puede
ser determinada durante la aplicación del campo magnetizante por la rotacion de la
sonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que se
obtenga la mayor lectura del campo en el Gausímetro. La orientación de la sonda,
cuando se obtiene el mayor campo, indicará la dirección del campo en ese punto.
Los Gausímetros
magnéticos notécnicas
para las se pueden usar para determinar
de magnetización de bobinalaysuficiencia de los campos
multidireccionales.
Página 40
Una vez que la densidad del campo suficiente ha sido demostrada con los Shims de
falla artificial, la lectura de los Gausímetros puede ser usada para el aclope del Shim
en piezas idénticas o configuraciones similares para verificar la intensidad y dirección
del campo.
A-790 DOCUMENTACIÓN /REGISTROS
La documentacion debería incluir lo siguiente:
(a) Modelo del equipo y descripciion de la sonda.

(b) Esquemas o dibujos mostrando donde son realizadas las mediciones
(c) Intensidad y dirección de la medicion del campo .

Dokumen - Tips - Codigo Asme Seccion V Articulo 7 2010 en Espanol

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7/14/2019 Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español

Preparado por: Ing. William José Mendoza

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

Artículo 7 Examinación por Partículas Magnéticas……………………………………………………4

T-754.2.1 Técnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble…………………………….10

T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partículas Magnéticas……………………6

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

ARTÍCULO 7 EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS

Cuando se especifica mediante la sección del Código de referencia, las técnicas de

El método de examinación por partículas magnéticas es aplicado para detectar

T-721 Requerimientos de los Procedimientos Escritos

T-721.1 Requerimientos. La examinación por partículas magnéticas deberá ser

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

T-721.2 Calificación de Procedimientos. Cuando la calificación de procedimiento es

identificado como una variable no esencial no requiere recalificación del

Deberá ser empleado medios disponibles y apropiados para producir el flujo

T-731 Medio de Examinación

Las partículas divididas en forma menuda usadas para la examinación deberán

T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS

(a) Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficies

indicaciones debido a las discontinuidades.

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial

(b) Antes de la examinación por partículas magnéticas, la superficie que va a ser

deberá estar seca y libre de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas de

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

se usa la tecnica de magnetización por Yugo con CA, la demostración deberá

T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magnético.

Los contrastes superficiales no magnéticos pueden ser aplicados por el examinador

(a) Técnica de Pinzas (Prods)

T- 752 Técnica de las Pinzas (Prods).

T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deberá usar corriente magnetizante directa o

T-752.3 Separación de las Pinzas. La separación de las pinzas no deberá exceder de 8”

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

T-753 Técnica de Magnetización Longitudinal

T-753.1 Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva

T- 753.2 Densidad de campo magnético. La corriente directa o rectificada deberá ser

(a) Piezas con la relación L/D igual o mayor que 4. La corriente

Vuelta – Amperios = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10”

35.000/[(10/2) +2] = 5000 vueltas – amperios

Vueltas – amperios = 45.000/ (L/D)

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

suficiencia del campo usando un indicador de campo magnético o

T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de

Amperios (lectura en metros)= (vueltas – amperios) /vueltas

5000/5= 1000 (± 10)

T-754.1 Técnica de Contacto Directo

(a) Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva

en T-754.1 (b) (1) antes mencionado.

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T-754.2 Técnica del Conductor Central

(a) Procedimiento magnetizante. Para esta técnica, se usa un conductor central

(b) Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deberá ser igual a

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

la suficiencia del campo magnético deberá ser verificada usando un indicador

(c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a través del

interior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los niveles

T-755 Técnica de Yugo

T-756 Técnica de Magnetización Multidireccional

FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIÓN DE LA REGIÓN EFECTIVA CUANDO SE USA UN

El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rápidas es producir una

Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,wmendozaws@gmail.com,04163332202

circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinación usando las