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MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO (SEM)

En el microscopio electrónico de barrido se


acelera un haz de electrones en la columna
del microscopio, mediante una diferencia de
potencial que puede ir desde 50 hasta 30
000 voltios. Un bajo voltaje es útil para
muestras muy sensibles, como podrían ser
las muestras biológicas sin preparación
adicional o muestras muy aislantes. Los
voltajes elevados se utilizan para muestras
metálicas, ya que éstas en general no sufren
daños y de esta manera se aprovecha la
menor longitud de onda para tener una
mejor resolución. Los electrones acelerados
Figura 1. Diagrama de un SEM equipado con un detector de
salen del cañón, y se enfocan mediante las rayos X "EDS" (de dispersión de energía)(1)
lentes condensadora y objetiva, cuya
función es reducir la imagen del filamento,
de manera que incida en la muestra un haz de electrones lo más pequeño posible (para así tener
una mejor resolución). Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de electrones sobre la
muestra.
El principal uso del SEM se da en la biología celular. Aunque permite una menor capacidad de
aumento que el microscopio electrónico de transmisión, éste permite apreciar con mayor
facilidad texturas y objetos en tres dimensiones que se hayan pulverizado con un metal antes de su
observación. Por esta razón solamente pueden observarse organismos muertos, y no se puede ir
más allá de la textura externa que se quiera ver.
Este instrumento permite la observación y caracterización superficial de materiales inorgánicos y
orgánicos, entregando información morfológica del material analizado. A partir de él se producen
distintos tipos de señal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus
características. Con él se pueden observar los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de
diversos materiales, además del procesamiento y análisis de las imágenes obtenidas.

MICROSCOPIO ELECTÓNICO DE BARRIDO AMBIENTAL (ESEM)

Pese a su gran potencial, la técnica SEM cuenta con algunas limitaciones:

– El ensayo debe realizarse en condiciones de vacío (alto vacío) lo que impide estudiar
muestras que no sean estables a baja presión.
– No pueden usarse muestras húmedas, contaminadas o que puedan desprender gases bajo
presión.
– Las muestras deben metalizarse antes el ensayo.
La microscopía electrónica de barrido ambiental o
ESEM, denominada así debido a que las muestras
pueden examinarse en condiciones de presión
ambientales, es decir, a la presión atmosférica o muy
cercana a su valor. Igualmente, ya no es necesario
metalizar la muestra para obtener una imagen de alta
resolución.

Lo microscopios ESEM disponen de un analizador de


gases (BSED). Se puede igualmente variar las
condiciones de humedad, presión y temperatura de la
cámara de ensayo (hasta 1.500 grados) lo que es Figura 2. Diagrama de un ESEM convencional.
bastante útil para determinadas investigaciones. En
lugar del vacío donde opera la SEM, en la ESEM puede utilizase vapor de agua, aire, oxigeno, helio
o nitrógeno, dependiendo de nuestras necesidades. En la cámara de ensayo podrían introducirse
otros mecanismos que sometan a fuerzas a las muestras (compresión, flexión, etc.) analizado de
este modo el comportamiento de materiales bajo tensión.

ESEM es especialmente útil para materiales no metálicos, no recubiertos y biológicos. La presencia


de gas, principalmente argón, alrededor de una muestra permite trabajar con una presión superior
a 500 Pa en comparación con los requisitos de SEM convencionales, muestras al vacío de
aproximadamente 10-3 a 10-4 Pa. Este nivel de vacío crea la posibilidad de operar en condiciones
no conductoras. Muestras sin ningún tipo de preparación o especímenes hidratados sin carga.

BIBLIOGRAFÍA

1.- G. D. Danilatos “Introduction to the ESEM instrument”. Microscopy Research and Technique.
Agosto 1993.

2.- Frederic Doucet “Visualisation of natural aquatic colloids and particles - A comparison of
conventional high vacuum and environmental scanning electron microscopy” ResearchGate. Mayo
2005.

3.- “Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM)” Disponible en http://www.linan-ipicyt.mx

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