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oe DS P IIe Iie a Pe Control Estadistico de Proce Ciilculo de limites de contro’ jotacién: UCL — Limite de control superior ‘ Promedio de las ediciones LCL — Limite de control inferior ‘-— Promedio de promedios CL — Linea central K Rango n Tamano de la ravestra R Promedio de a PCR — indice de capacidad del proc USL — Limite de especificacién sup o Desviaciin estindar del proceso LSL — Limite de especiticacién int atos de variables (Cartas de control ura de control n \ D D. UCL = 3'+ AR 3 1880 0.000, 3.267 LCI Ak 31.023 0.000 2.874 cL. =i 4 #29 0.000> * 3.282 > 0.000 2.115 una de conirot & sy Gi ames UCL = RD, é re ECL = Rp s (30 I cL =R 9 337 Tete tudio de capacidad 10 308 220 C, = (USL — LSLIM6a): donde & = Rid atos de atributos(Cartas de control p. np, cy «) Formulas de las cartas de c fa 7 = 5 cs = | rp (imero de «© sconteo de sviconteo de | pciraveiony tnidades disconformes) | disconformidades) | disconformidades / unidad) | P np | t a | : fe t 4 np + 3Nnplt — p> Bone mp | cu (=? mont Sous | Sin varia, usar fon, debe ser in debe ser Sin varia, usar Zion, mediciones inividules | ansecorstne | _unaconstne ediciones individvales : J Contenido CAPITULO 1 EI mejoramiento de calidad en el ambiente moderno de los negocios 1 1-1 Significado de calidad y de mejoramiento de calidad 2 I-11 Dimensiones de ta calidad 2 11.2 Terminologia de la ingenieria de calidad 6 1-2 Breve historia del control y mejoramiento de calidad 8 1-3 Métodos estad calidad 12 tigos de control y mejoramiento de 1-4 Otros aspectos del control y mejoramiento de calidad 17 1.4.1 Filosofia de calidad! y estrategias de administracién 18 1-4.2 La conexi6n entre calidad y productividad 25 1-4.3 Costos de la calidad 26 1-44 Aspectos legales de la calidad 32 1.4.5 Implementacién del mejoramiento de calidad 34 PARTE I Métodos estadisticos sitiles en el mejoramiento de calidad 37 CAPITULO 2 ‘Modelado de la calidad del proceso 39 2-1 Descripei6n de la variacién 40 2-11 Diagrama de tallo y hoja 40 2-1.2 Distribucién de frecuencia y el histograma 43 2-13 Resumen numérico de datos 45 2-1.4 Diagrama de caja 48 5 Muestra de una salida de computadora 49 2-1.6 Distribuciones de probabilidad 51 2-2 Distribuciones discretas importantes 56 2-2.1 Distribucién hipergeométrica 56 2.2.2 Distribucién binomial $8 2-2.3 Distribucién de Poisson 60 2-24 Distribucion de Pascal y otras distribuciones relacionadas 61 2.3 Distribuciones continuas importantes 62 2-3.1 Distribucién normal 63 2.3.2 Distribucién exponencial 69 2.3.3 Distribucién gamma 71 2-3.4 Distribucién de Weibull 73 2-4 Algunas aproximaciones tiles 74 2-4.1 Aproximacion binomial de la distribucién hipergeométrica 75 2-4.2 Aproximacién de Poisson de la distribucidn binomial 75 3 Aproximacién normal de la distribucién binomial 75 2-4.4 Comentarios sobre las aproximaciones 76 2-5 Ejercicios 77 CAPITULO 3 Inferencias sobre la calidad del proceso 82 3-1 Los estadisticos y las distribuciones de muestreo 83 3-11 Muestreo de una distribuci6n normal 85 CONTENIDO. 3.1.2 Muestreo de una distribucién de Bernoulli 89 streo de una distribucidn de Poisson 89 ‘macién puntual de pardmetros de procesos 90 nforencia estadistica para una sols muestra 93 | Inferencia de la media de una poblac varianza conocida 94 211 uso de valores P para probar hipdtesis 98. 33 Infer a de la media de una distribucisn normal, varianza desconocida 99 3.3.4 Inferencia de la varianza de una distribucién normal 103 5.5 Inferencia de una proporcidn poblacional 105 3.6 La probabilidad del error tipo Il 107 3.3.7 Graficacién de probabilidades 110 3 Inferencia estadistica para dos muestras 114 %-4.1 Inferencia para una diferencia de medias, varianzas conocidas 114 3-42 Inferencia para una diferencia de medias de dos distribuciones normales, varianzas desconocidas 117 44.3 Inferencia de las varianzas de dos distribuciones normales 127 3.4.4 Inferencia de las proporciones de dos poblaciones 128 3-5 ; Qué ocurre cuando hay més de dos poblaciones? El anilisis de varianza 130 3:5.1 Un ejemplo 131 3.5.2 El andlisis de varianza 133 3.5.3 Verificacién de supuestos: andlisis de residuales 140 Fjercicios 142 PARTE IL Métodas hisicos de control estadistico de procesos y indlisis de capacidad de procesos 151 CAPITULO 4 Métodos y filosofia del control estadistico de drocesos 153 4-1 Introduccin 154 4-2 Causas fortuitas y asignables de la variacién de la calidad 184 4-3 Fundamentos estadisticos de la carta de control 186 4-3.1 Principios basics 156 4.3.2 Elecci6n de los limites de control 164 4-3.3 Tamafo de la muestra y frecuencia del muestreo 166 les 170 4-2.5 Anilisis de patrones en cartas de contol 172 4.3.4 Subgrupos racion 4-26 Discusi6n de las reglas de sensibilizacién para cartas de control 175 te magni 4-5 Implementacién del SPC 184 4-6 Una aplicacién del SPC 186 4-7 Aplicaciones de! control estadistico de pro. de la manufactura 193 4-8 Ejercicios 201 4-4 El resto de las 7 CAPITULO 5 Cartas de control para variables 206 5-1 Introduccién 207 Caras de control para Ty R207 5-2.1 Fundamentos estadisticos de las cartas 207 5-2.2 Desarrollo y uso de las cartas T y R212 5-2.3 Cartas basadas en valores estindares 228 5-2.5 El efecto del incumplimiento de la normalidad en las cartas Fy R 232 5-2.6 La funcién de operacién caracteristica 233 5-2.7 La longitud promedio de la corrida para la carta F236 5-3 Cartas de control para ¥ y S239 5-3.1 Consiruccién y operacién de las cartas ¥ y s 239 5-3.2 Las eartas de control ¥ y § con tamafo de la ‘muestra variable 244 5-3.3 La carta de control S$? 248 5-4 La carta de control de Shewhart para mediciones individuales 249 5-5 Resumen de procedimientos para las cartas ¥. R yS 260 5-6 Aplicaciones de las cartas de control para variables 260 5-7 Bjercicios 265 CAPITULO 6 ‘artas de control para atributos 283 6-1 Introduceién 284 6-2 La carta de control para 6-2.1 Desarrollo y operacién de Ia carta de control 286 6-2.2 Tamaiio de Ja muestra variable 298 fracci6n disconforme 284 6 3 Aplicaciones fuera de la manufactur 303 6-2.4 La funcién de operaci6n caracteristica y el sulo de la longitud promedio de la corrida 30S 6-3 Cartas de control para disconformidades (defectos) 308 6-3.1 Procedimientos con tamaiio de la muestra constante 308 6-3.2 Procedimientos con tamaito de la muestra iable 319 eal 6-34 La funcién de operacién caracteristica 324 sistemas de demérito 322 6-35 Tratamiento con lox niveles de defectos bajos 325 6-3.6 Aplicaciones fuera de la manufactura 328 6-4 Elecci6n entre cartas de control para atributos y para variables 329 6-5 Lineamientos para implementar cartas de control 333 6-6 Ejercicios 339 CAPITULO 7 Anilisis de capacidad del proceso y de sistemas de medicién 349 7-1 Introduccién 350 7-2 Analisis de capacidad del proceso utilizando un histograma o una gréfica de probabilidad 352 7-2.1 Utilizando un histograma 352 7-2.2 Graficacién de probabilidades 385 7-3 {ndices de capacidad del proceso 357 7-3.1 Uso e interpretacion de C, 357 7-3.2 indice de capacidad del proceso para un proceso fuera del centro 362 7-3.3 La normalidad y el indice de capacidad del proceso 364 CONTENIDO xv 7-3.4 Mis acerca del centrado de procesos 365, 7-3.5 Imtervalos de confianza y pruebas para los indices de 7-4 Anilisis de control 373 idad del proceso 367 icidad del proceso usando una carta de 7-5 Anélisis de capacidad del proceso usando experimentos disefiados 376 7-6 Estudios de medici acidad de instrumentos y sistemas de 377 7-6.1 Cartas de control y métodos tabulares 377 7-6.2 Métodos basados en el andlisis de varianza 384 7-1 Establecimiento de los limites de las especificacién para componentes discretos 388 7-7.1 Combinaciones lineales 388 7-7.2 Combinaciones no lineales 392 7-8 Estimacién de los limites de tolerancia natural de un proceso 394 7-8.1 Limites de tolerancia basados en la distribucién normal 395 7-8.2 Limites de tolera 7-9 Ejercicios 397 cia no paramétricos 396 PARTE IIL Otras téenieas de monitoreo y control estadistico de procesos 403 CAPITULO 8 Cartas de control de suma acumulada y de promedio mévil ponderado exponencialmente 405 8-1 La carta de control de suma acumulada 406 8-1.1 Principios basicos: la carta de control cusum para ‘monitorear la media del proceso 406 8-1.2 La cusum tabular 0 algoritmica para monitorear Ia media del proceso 410 8-1.3 Recomendaciones pata el disefio de la cusum 415 8-14 La cusum estandarizada 417 8-1.5 Subgrupos racionales 418 8-1.6 Mejoramiento de la respuesta de la cusum para corrimientos grandes 418 8-1.7 La respuesta inicial répida o caracteristica de ventaja anticipada 419 XVi CONTENIDO X-1.8 Cusums unilaterales 421 81.9 Una cusum para monitorear la variabilidad del proceso 421 $1.10 Cusums para otros estadisticos muestrales 422 8-1. El procedimiento de la mascara V_ 423 8-2 Lavearta de control del promedio mévil ponderado exponencialmente 425 8-21 La carta de control del promedio mévil ponderado exponencialmente (EWMA) para monitorear la media del proceso 426 Di fio de una carta de control EWMA 431 Subgrupos racionales 432 Robustez del EWMA para la no normalidad 432 Extensiones del EWMA 433 8-4 La carta de control del promedio mévil 437 440 CAD Otras técnicas de monitoreo y control estadistico de Procesos con una sola variable 443 ‘ 1.09 1 Control estadistico de procesos para corridas de produccién cortas 444 9-11 Cartas de control ¥ y R para corridas de producci6n cortas 444 9-1.2 Cartas de control de atributos para corridas de produccién cortas 447 91.3 Otros métodos 448 Cartas de control modificadas y de aceptacién 449 9-21 Limites de control modificados para la carta F449 9-2.2 Cartas de control de aceptacién 453 ©-3 Cartas de control para procesos de flujos imiltiples 454 9.3.1 Procesos de flujos miltiples 454 9-3.2 Cartas de control grupales 455 9-3.3 Otros enfoques 457 Y-4 SPC con datos de procesos autocorrelacionados 458 9-4.1 Fuentes y efectos de autocorrelacién en datos de process 458 9-4.2 Enfoqves basados en modelos 462 9-43 Unenfoque sin modelo 473 9.5 Procedimientos de muestreo aduptables 478 9.6 Disefio econsmico de eartas de control 479 9.6.1 9.6.2 Caracteristicas:del proceso 480 9.6.3 Parémetros del costo 481 9-64 Trabajos iniciales y diser semieconémico 482 El diseno de una carta de control 479 9.6.5 Un modelo econémico de la carta de control X 484 9.6.6 Otros trabajos 493 9-7 Visidn breve de otros procedimientos 494 9-7. Desgaste de herramientas 494 9-7.2. Cartas de control basadas en otros estadisticos muestrales 495 9.7.3. Problemas de control de lenado 496 9-74 Precontrol 497 9.8 Ejercicios 499 CAPITULO 10 Monitoreo y control de procesos con variables miltiples 507 10-1 El problema del control de calidad con variables miltiples 508 10-2 Descripeién de datos de variables miltiples $10 10-2.1 La distribucién normal de variables miiltiples 510 10-2.2 El vector de la media muestral y la matriz de covarianza muestral 511 10-3 La carta de control T? de Hotelling 512 10-3.1 Datos subagrupados $12 10-3.2 Observaciones individuales 522 10-4 La carta de control EWMA para variables miltiples 526 i 10-5 Ajuste de regresién 529 10-6 Cartas de control para monitorear la variabilidad 532 10-7 Métodos de estructura latente 535 10-7.1 Componentes principales $35 10-7.2 Minimos cuadrados parciales $42 10-8 Ejercicios 542 CAPITULO 11 Ingenieria de control de procesos (EPC) y SPC 546 wl 11-2 Control del proceso por ajuste de retroalimentacion 5. Monitoreo del proceso y regulacidn del proceso 547 11-2.1 Un esquema de ajuste 548, imple: el control imtegeal 11-2.2 La arta de ajuste 11-2.3 Variantes de la carta de ajuste $87 11-2.4 Otros tipos de controladores de coNTENIDO. xvii CAPITULO 13 Optimizacién de procesos con experimentos diseftados 639 13-1 Métodoy y disenos de superficie de respuesta 640 13-1.1 El metodo del ascenso mas pron 13-1.2. Analisis dew Superficie de respuesta de 645 ndo orden 13-2 Estudios de robuster de procesos 651 13 651 13-2. 2.1 Antecedentes El enfoque de la superficie de respuesta para Feaal lmenecion 36h los estudios de robustez de procesos 653 11-3. Combinacién del SPC y el EPC 562 18°3 Operacion cvoleivas 662 V1 Blerahd oan E64 13.4 Ejercicios 668 PARTE IV PARTE V Disefio y mejora de procesos con experimentos Muestreo de aceptacién 673 disefiados 569 : CAPITULO 14 CAPITULO 12 Experimentos factoriales y factoriales fraccionados _yuestreo de aceptacidn lote por lote para para el disefio y mejora de procesos 571 trina G75 12-1 {Qué es el diseito experimental? $72 14-1 El problema del muestreo de aceptacién 676 12-2 Bjemplos de experimentos diseftados en el 14-11 Ventajas y desventajas del muestreo 677 See ie 14-1.2 Tipos de planes de muestreo 678 3 Pautas para el disefio de los experimentos 577 Wiig ae yams 12-4 Experimentos factoriales $79 Le te a a te A Ge a ee 14-1.5 Lineamientos para usar el muestreo de 12-4.2 Anilisis estadistico 583 aceptacién 680 12-4.3 Analisis de residuales $88 14-2 Planes con una sola muestra para atributos 682 12-5 El disefio factorial 2" 591 14.2.1. Definicién de un plan con una sola 2.5.1 El diseno 2 591 muestra 682 12-5.2 El disefio 2* para k 2 3 factores 598 EncuraOG 682 12-5.3 Una sola réplica del diseiio 2* 12 ol 5.4 Adicién de puntos centrales en el dis lo “615 12-5.5 Separacién en bloques y confusién (mezclado) en el diseito 2* 620 622 12-6.1 La fraccién un medio del diseio 2 Réplicas fraccionadas del disefio 2 622 12-6.2 Fracciones menores: el disefio factorial fraccionado 2" 628 12-7 Rjercicios 635 Disefto de un plan de una sola muestra con una curva OC especificada 689 14.2.4 Inspeccién con rectificacién 690 14-3 Muestreo doble, miiltiple y secuencial 694 14-3.1 Planes de muestreo doble 694 14.3.2 Planes de muestreo miltiple 701 14-33 Planes de muestreo secuencial 701 ndard 105E (ANSUASQC Z.L4, ISO xviii CONTENIDO 14.4.1 Descripeién del estindar 705 14.4.2 Procedimiento 707 14-43 Discusién 712 14.5 Los planes de muestreo de Dodge-Romig 714 14-5.1 Planes AOQL. 716 14.5.2 Planes LTPD 716 14.5.3, Estimacidn del promedio del proceso 719 14.6 Hjercicios 719 CAPITULO 15 Otras técnicas de muestreo de aceptacién 722 15 I Muestreo de aceptacién por variables 723 15-1.1 Ventajas y desventajas del muestreo por variables 723 15-1.2 Tipos de planes de muestreo existentes 724 15-1.3 Precauciones en el uso del muestreo por variables 725 15-2 Disefo de un plan de muestreo por variables con una curva OC especificada 726 15.3 MIL STD 414 (ANSUASQC Z1.9) 729 15-3.1 Descripeién general del estindar 729 15-3.2 Uso de las tablas 730 15-3.3 Discusi6n del MIL STD 414 y el ANSASQC Z19 733 15-4 Otros procedimientos de muestreo por variables 734 15-4.1 Muestreo por variables para dar seguridad acerca de Ia media del lote o proceso 734 15-4.2 Muestreo secuencial por variables 735 15-5 15-6 Muestreo continuo 737 15-6.1 CSP-1 738 15-6.2 Otros planes de muestreo continuo 740 Muestreo en cadena 735 15-7 Planes de muestreo por salto de lotes 741 15-8 Bjercicios 748 Apéndice 749 1. Resumen de las distribuciones de probabilidad comunes usadas en el control estadistico de calidad 751 IL. Distribucién normal esténdar acumulada 752 IIL. Puntos porcentuales de Ia distribucién 2754 IV, Puntos porcentuales de la distribucién 758 V. Puntos porcentuales de la distribucién F 756 VI. Factores para construir cartas de control para variables 761 VIL, Factores para limites de tolerancia normales bilaterales 162 VILL. Factores para limites de tolerancia normales uunilaterales 763 IX. Numeros aleatorios 764 Bibliografia 765 Respuestas de ejercicios seleccionados 777 Indice 791 Glosario de abreviaturas Sighas en Término 0 nombre completo ‘Traduecién inglés en espaiiol al espafiol AIAG Automotive Industry Action Group Grupo de Accién de la Industria Automotriz ANOVA Analysis of Variance Anélisis de varianza ANSI American National Standards Institute Instituto Nacional Americano para Normatividad A0Q Average Outgoing Quality Calidad de salida promedio AOQL Average Outgoing Quality Limit Limite en la calidad de salida promedio APC Automatic Process Control Control automético del proceso AQL Acceptable Quality Levei Nivel de calidad aceptable AR() Autoregressive Models (lag 1) Modelos autorregresivos (desfasamiento 1) ARIMA Autoregressive Integrated Moving Average Modelos autorregresivos de promedio mévil Models integrados ARL. Average Run Length Longitud promedio de la corrida ARMA, Autoregressive Moving Average Models Modelos autorregresivos de promedio mévil ASN Average Sample Number Niimero de muestra promedio ASN(R) Average Sample Number of the Reference- Niimero de muestra promedio de! plan sampling plan de muestreo de referencia ASQC ‘American Society for Quality Control Sociedad Americana para el Control de Calidad ATI Average Total Inspection Inspeccién total promedio ATS Average Time to Signal Tiempo promedio hasta la seftal c ‘One-sided lower CUSUM Lateral inferior de la suma acumulads cS One-sided upper CUSUM Lateral superior de la suma acumutada cep Central Composite Design Diseio central compuesto ChsP-1 Chain Sampling Plan Plan de muestreo en cadena cL Central Line Linea central ic Process Capability Ratio (PCR) indice de capacidad del proceso C,@) ‘Quantile-based PCR: Indice de capacidad del proceso basado en cuantiles c.. Confidence PCR (Lucefio, 1) Indice de capacidad del proceso confiable ca One-sided PCR (min(C,.. C,,)) {ndice de capacidad del proceso unilateral cy PCR (lower specification only) Indice de capacidad del proceso (especificacién inferior tnicamente) ce PCR (better indicator of centeri indice de capacidad de! proceso (mejor indicador del centrado) xix CSP-1 CUSUM cwec DNOM A) EC) EL) Er) EPC EVoP EWMA EWMS EWMV EWRMS FIR ccc GMA IQR Iso. Det LNTL LOL LSI LSL LTPD MAD MEWMA, MIL STD MR MR MSP NID ICAP GLOSARIO DE ABREVIATURAS PCR (upper specification only) Continuous § sampling Process Cummulative Sum Company-Wide Quality Control Deviation from Nominal (control chart based on) Expected cost per unit time Expected total cost incurred during a cycle Expected loss per hour incurred by the process Expected length (long term average length) of a cycle Engineering Process Control Evolutionary Operation lly Weighted Moving Average Exponentially Weighted Mean Square error Exponent Expontentially Weighted Moving Variance Exponentially Weighted Root Mean Square Fast Initial Response Group Control Chart Geometry Moving Average InterQuartile Range Internation 1 Organization for Standarization Lower Control Limit Lower Natural Tolerance Limits Limiting Quality Level Large-Scale Integration Lower Specification Limit Lot Tolerance Percent Defective Mean Absolute Deviation Multivariate EWMA Military Starxiard Sampling Plans Average of the Moving Ranges Moving Range (of two successive observations) Multiple-Stream Process Normal and Independently Distributed Operating-Characteristic Out-of-Control Action Plan Indice de capacidad del proceso (especificacisn superior tinicamente) Proceso de muestreo continuo ‘Suma acumulada Control de calidad en toda la compania Desviacién del valor nominal (basado en la) Costo esperado (por unidad de tiempo) Costo total esperado (incurrido durante un ciclo) Pérdida esperada (por hora, obligada por el proceso) Longitud esperada (longitud promedio a largo plazo) de un ciclo Ingenieria del control de procesos Operacién evolutiva Promedio mévil ponderado exponencialmente Error cuadrético medio ponderado exponencialmente Varianza mévil ponderada exponencialmente Raiz cuadritica media ponderada exponencialmente Respuesta inicial ripida Carta de contro! grupal Promedio geométrico movil Rango intercuarti Organizacién Internacional para la Normatividad Limite inferior de control Limite de tolerancia natural inferior Nivel de calidad limite Integracién en gran escala Limite de especificacién inferior Tolerancia del porcentaje defectuoso en un lote Desviaci6n absoluta promedio Promedio movil ponderado exponencialmente muttivariado Planes de muestreo del Military Standard Promedio de los rangos méviles Rango mévil (de dos observaciones sucesivas) Proceso de flujo miiltiple Normal ¢ independientemente distribuida Operacién caracteristica Plan de accién para condiciones fuera de control pr PC lines PCA PCR PL PID ac Precision-to-Tole! nce ratio Precontrol Limits Principal Components Analysis, Process Capability Ratio Proportior Integral control equation Proportional Integral Derivative control equation Partial Least Squares Process Performance Indices Quality Control Quesenberry run SPC) Robust Parameter Design Rejectable Quality Level Response Surface Methodology Skip-lot Sampling Plan Statistical Process Control Sequential Probability Ratio Test art (procedures for short- Sum of Squares ‘Total Quality Assurance Total Quality Management Unweighted Batch Means Upper Control Limits Upper Natural Tolerance Limits Upper Specification Limits Upper Specification Limits Video Cassette Recorder Very-Large-Scale Integration GLOSARIO DE ABREVIATURAS, xxi Razén precisi6n-toleranci Limites de precontrol And indice de capacidad del proceso s de componentes principales Ecuacién de control integral proporcional Ecuacién de control derivada integral proporcional Minimos cuadrados parciales indices de desempefo (cumplimiento) del proceso Control de calidad Carta Quesenberry (procedimiento para el control estadistico de procesos de corrida corta) Disefto paramétrico robusto Nivel de Metodologia para superticies de respuesta alidad rechazable Planes de muestreo por salto de lote Control estadistico de procesos Raz6n de prueba de la probabilidad secuencial Suma de cuadrados Aseguramiento de calidad total Administraci6n de calidad total Medias de cargas (lotes) no ponderadas Limites de control superior Limites de tolerancia natural superior Limites de especificacién superior Limites de especificacién inferior Grabadora de cassette de video Integraci6n a muy grande escala El mejoramiento de calidad en el ambiente moderno de los. negocios PLAN GENERAL DEL CAPITULO 1-1 SIGNIFICADO DE CALIDAD Y DE 1-4 OTROS ASPECTOS DEL CONTROL Y MEFJORAMIENTO DE CALIDAD MEJORAMIENTO DE CALIDAD 11.1 Dimensiones de 1a calidad 1.4.1. Filosofia de calidad y estrategias de {1.2 Terminologia de la ingenieria de or, calidad 1-4.2 La conexién entre calidad y productividad 1-2, HREVE HISTORIA DEL CONTROL Y 1-4,3 Costos de la calidad MEJORAMIENTO DE CALIDAD 1-4.4. Aspectos legates de la calidad 1-3 METODOS ESTADISTICOS DE 1-4.5 Implementacién del mejoramiento de (CONTROL Y MEJORAMIENTO DE calidad CALIDAD VISION BREVE DEL CAPITULO Este libro trata de Jos métodos estadisticos y otras técnicas para resolver problemas dirigidos a mejorar la calidad de los productos utilizados en nuestra sociedad, Estos productos son bienes manufacturados tales como automéviles, computadoras y ropa, as{ como servicios como la gene- racidn y distribucién de energia eléctrica, el transporte pablico, la banca y la atencién médica. Los métwlos de mejoramiento de calidad pueden aplicarse en cualquier drea de una compafifa u orga- nizwwidn, incluyendo la manufactura, el desarrollo de procesos, el disefio de ingenieria, las finan- zas y contabilidad, la comercializacion y el servicio en campo de productos. En este texto se preseutan las herramientas téenicas que se necesitan para conseguir el mejoramiento de calidad en estas organizaciones. w Ll 1-1 )R AMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIENTE MODERNO 0 CAPITULO I ELM Jo s¢ presentan las definiciones bésicas de calidad, mejoramiento de calida empleada en la ingenierfa de calidad. Se discute asimismo el desarrollo hist6rico de la metodolog:: de! mejoramiento de calidad y se da una visién general de las herramientas estadisticas esenczles ea la practica profesional moderna. También se ofrece una breve discusién de algunos aspec:>s aSninistrativos y de negocios para implementar el mejoramiento de calidad. En este capit otra terminolog SIGNIFICADO DE CALIDAD Y DE MEJORAMIENTO DE CALIDAD zs <¢ definir calidad. El concepto de calidad que se forma la mayoria de las one con una 0 mas caracteristicas deseables que deberfa poser un producto 0 So esta comprensién conceptual es ciertamente un buen punto de partida, se Hay muchas me personas se re servicio. Aun ¢ dard una definic La calidad se he dores para elegir portar si el cons rus precisa y titi evertido en uno de los factores de decisiGn mas importantes de los consumi- < productos y servicios que compiten. El fenémeno es generalizado, sin im- «es un individuo, una organizacién industrial, una tienda minorista 0 un programa de defecs: =ilitar. Por consiguiente, entender y mejorar la calidad es un factor clave que lleva al éxito de ios negocios. al crecimiento y a una posicién competitiva fortalecida. La calidad mejorada y la uriizacion exitosa de la calidad como una parte integral de la estrategia de negocios global redundan ea ez -etorno sobre la inversién sustancial, En esta secci6n se presentan algunas definiciones opersivzs Je calidad y mejoramiento de calidad. Se empieza con una breve discusién de las diferentes :m=-siones de la calidad y parte de la terminalogia basica. Dimensiones de ta calidad Existen varias mzners: Je evaluar la calidad de un producto. Con frecuencia es de suma importan- cia distinguir estzs Gverentes dimensiones de Ia calidad. Garvin (1) ofrece una excelente discu- sin de los ocho comzenentes © dimensiones de la calidad. Resumimos sus puntos clave respecto de estas dimensiones -2mo sigue: 1. Desempefio _ !2; caracte- risticas de la calidad en los componentes y subensamblajes que constituyen ¢1 producto, asf como Jos valores deseados para las caracteristicas de la calidad en el producto final. Por ejemplo, el didmetro de una flecha usada en una transmisin automotriz no puede ser demasiado grande por- que no cabré en el cojinete de acoplamiento, y tampoco puede ser demasiado pequeflo, porque resultaré en un ajuste holgado que producira vibracién, desgaste y una falla prematura del ensam- blaje. En las industrias de servicios, es tipico hacer las especificaciones en términos de la cantidad ‘maxima de tiempo para procesar un pedido o proporcionar un servicio dado "Al valor de una medicién que corresponde con el valor deseado para es caracterfstica de la alidad se le llama el valor objetivo o nominal de dicha caracteristica. Estos valores objetivos suelen estar acotados por un rango de valores que, la mayorfa de las veces, se considera que estarin lo suficientemente cerca del objetivo como para no impactar ef funcionamiento o desempefio del pro- ducto si la caracteristica de la calidad se encuentra en ese rango. Al valor maximo permitido de una caracterfstica de la calidad se le llama el limite superior de la especificacién (USL, por sus siglas en inglés) y al valor minimo permitido de una caracteristica de la calidad se le lama el limite inferior de la especificacién (LSL, por sus sigias en inglés), Algunas caracterfsticas de la calidad tienen Iimites de las especificaciones en un solo lado del objetivo. Por ejemplo, es probable que la resisten- cia a la compresién de un componente usado en la defensa de un automévil tenga un valor objetivo y tun Iimite inferior de la especificacién, pero no un limite superior de la especificacién. sificar los datos sobre las carac- CAPITULO 1 EL MEJORAMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIENTE MODERNO DE LOS NEGOCIOS Las especificaciones son generalmente el resultado del proceso de diseito de ingenieria del pro- ducto. Tradicionalmente, los ingenieros de disefio Hegan a una configuracién del disefio del producto mediante el uso de los principios cientificos de la ingenieria, lo cual suele resultar en la espe ficacidn por parte del disefiador de los valores objetivo de los pardmetros criticos del disefio. Se procede entonces a la construcciGn y prueba del prototipo. Esta prueba con frecuencia se hace de manera no estructurada, sin el uso de procedimientos de disefio experimental con una base esta- distica y sin mucha interaccién © conocimi ducir las partes componentes y el producto final. Sin embargo, mediante este procedimiento general, el ingeniero de disefio determina generalmente los limites de las especificaciones. tonces el producto final se libera para su fabricacién. Hacemos referencia a este enfoque del disefio como el enfoque asistematico. Los problemas con la calidad del producto suelen ser mayores cuando se utiliza el enfoque asistemdtico en el disefio. En este enfoque, las especificaciones con frecuencia se establecen sin tomar en consideracién la variabilidad inherente que existe en materiales, procesos y otras partes del sistema, lo cual resulta en componentes 0 productos que son disconformes; es decir. que dejan de cumplir con una o més de sus especificaciones. A un tipo especffico de falla se le Hama disconformidad. Un producto disconforme no es necesariamente inapropiado para su uso; por ejemplo, un detergente puede tener una concentracién del ingrediente activo que esté abajo del limite inferior de la especificaci6n, pero atin asf puede tener un desempefio aceptable si el con- sumidor utiliza una cantidad mayor del producto. Un producto disconforme se considera defec- tuoso si tiene uno o mds defectos, que son disconformidades que son lo suficientemente graves para afectar de manera importante la seguridad o el uso efectivo del producto. Obviamente, e1 fracaso por parte de la compafifa para mejorar sus procesos de manufactura también pueden causar disconformidades y defectos. EI proceso del disefio asistematico ha sido objeto de gran atencién en los tiltimos 20 afos. Los sistemas CAD/CAM han contribuido en mucho para automatizar el proceso de disefio y para trans- formar con mayor efectividad las especificaciones en procesos y actividades de manufactura. El disefio de manufacturabilidad y ensamblaje ha surgido como una parte importante para superar los problemas inherentes del enfoque asistemtico del disefio, y hoy en dia la mayorfa de los ingenie- ros reciben cierta formacién sobre esas areas como parte de su educacién formal. El énfasis recien- te en la ingenierfa de concurrencia ha fortalecido el enfoque de equipo en el disefio, gracias al cual especialistas en manufactura, ingenierfa de calidad y otras disciplinas trabajan juntos con el disefiador del producto en las etapas iniciales del proceso de disefio del producto. Ademés, la aplicacién efectiva de la metodologia de mejoramiento de calidad que se discute en este libro —en todos los niveles del proceso empleado en el disefio, desarrollo y fabricacién del producto— juega un papel crucial en el mejoramiento de calidad, nto de los procesos de manufactura que deben pro 1-2. BREVE HISTORIA DEL CONTROL Y ' MEJORAMIENTO DE CALIDAD La calidad ha sido siempre parte integral de virtualmente todos los productos y servicios. Sin ‘embargo, nuestra conciencia de su importancia y la introduccién de métodos formales de control y mejoramiento de calidad han tenido un desarrollo evolutivo. En la tabla 1-1 se presenta la cronolo- gia de algunos parteaguas importantes en este proceso de evoluci6n. Se discutirén brevemente algunos de los eventos de esta cronologia. eniie 1-2. BREVE HISTORIA DEL CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD 9 ‘Tabla 1-1 Cronologfa de los métodos de calidad 1700-1900 1875 1900-1930, 1901 1907-1908 1908 1915-1919 1919 Anos 1920 1922-1923 1924 1928 1931 1932 1932-1933 1933 1938 1940. 1940-1943 1942 1942-1946 1944 1946 1946-1949 La calidad se determina en gran medida por los esfuerzos de los artesanos individuales. Eli Whitney introduce las partes estandarizadas intercambiables para simplificar el ensamblaje Frederick W. Taylor introduce los principios de la “Administracién Cientifica” para dividir el trabajo en unidades mis pequeias que pueden Hevarse a cabo con mayor facilidad —el primer enfoque para abordar los productos y procesos mas complejos. El interés se centraba en la productividad. Gilbreth y Gantt hicieron aportaciones posteriores. Henry Ford introdux ea de ensamblaje, un refinamiento adicional en los métodos de trabajo a fin de mejorar la productividad y la calidad; Ford desarroll6 conceptos de ensamblaje a prueba de errores, la autoverificacién y la inspeceién dentro del proceso. Se establecen en Gran Bretafia los primeros laboratorios de estindares. ATT inicia la inspeccién y prueba sistematica de productos y materiales. W, S. Gosset (bajo el seudénimo “Student”) introduce la distribucién 1, resultado de su trabajo en el control de calidad en la Cervecerfa Guiness WWI; el gobierno briténico inicia un programa de certificacién de proveedores Se funda en Inglaterra la Asociacién de Inspeccién Técnica; posteriormente se convierte en el Instituto de Aseguramiento de Calidad. Los Laboratorios Bell de AT&T forman un departamento de calidad, centrindose en la calidad, la inspeccién y las pruebas, y en la confiabilidad del producto. B. P. Dudding emplea métodos estadisticos en General Electric de Inglaterra para controlar la calidad de las bombillas eléctricas. R.A, Fisher publica una serie de escritos fundamentales sobre experimentos disefiados y su aplicacién en las ciencias agricolas W. A. Shewhart introduce el concepto de carta de control en un memordndum técnico de los Laboratorios Bell. H. F. Dodge y H. G. Romig desarrollan y perfeccionan la metodologia del muestreo de aceptacién en los Laboratorios Bell. W. A. Shewhart publica Economic Control of Quality of Manufactured Product, donde se describen métodos estadisticos para usarlos con los métodos de cartas de produccién y control. W. A. Shewhart dicta conferencias sobre métodos estadisticos de cartas de produccién y control en la Universidad de Londres. La industria textil y de la lana en Gran Bretafia y la industria quimica en Alemania inician el uso de experimentos disefiados para el desarrollo de productos y procesos. La Real Sociedad de Estadistica instituye la Secci6n de Investigaci6n Industrial y Agricola. W. E, Deming invita a Shewhart a presentar seminarios sobre las cartas de control en la Escuela de Graduados del Departamento de Agricultura de Estados Unidos. El Departamento de Guerra de Estados Unidos publica una guia para usar cartas de control en el anilisis de datos de procesos. Los Laboratorios Bell desarrollan los precursores de los planes de muestreo. “military standards” para el ejército estadounidense. Se funda en Gran Bretafia el Ministerio de Servicios de Aseso de Calidad para Suministros. Se imparten en la industria cursos de capacitacién sobre control estadistico de calidad. Tnicia sus publicaciones Industrial Quality Control. Se funda la Sociedad Americana de Control de Calidad (ASQC, por sus siglas en inglés) como una fusién de diferentes sociedades de calidad Deming es invitado a Japén por la Seccién de Servicios Econémicos y Cientificos del Departamento de Guerra de Estados Unidos para ayudar a las fuerzas de ocupaci6n a reconstruir la industria japonesa. Se funda la Unidn Japonesa de Cientificos e Ingenieros (JUSE, por sus siglas en inglés). Deming es invitado a dar seminarios de control estaclistico de calidad en la industria japonesa. con ka fa en Métodos Estadisticos y Control (continiia) 10 CaPfroLo 1 EL MEIORAMIENTODE CALIDAD E MODERNO DE LOS NEGOCIOS Tabla 1-1 (Continuacién) 1948 Profesor G. Taguchi inici: © sido y aplicacin del disefio experimental 1950 Deming inicia ta educacién ce «:-sinistradores industriales japoneses: se ini generalizada de los métodos ~ -ntrol estadistico de calidad en Japén EI profesor K. Ishikawa inti.» +1 diggrama de causa y efveta. Ms 1950//°Se publican ls textos sin 4» control estidticn de calidad de Eugene. Granvy A, J.-D 1951 EI Dr. A. V. rblica la primera edicién de su libro Tonal Quality. Control La JUSE establece el ng” para los logroy importantes en el control de calidad y en lt metodologia de calidad ost+ G. E-F Bax y KB. Wilks ubmecan obra. fundaaipeninee sobre el uso de los experimentos diseiados. ¥ la metodologia de superticie. sx respuesta Para la optimizacin de procesos: el interés se centra en indestria quimica: Las pti aa de ios" ckperinseaice Achar era industria quimica crecen de manera sostenida después oh os. 954 El'DevJoseph Mtluran cs ities ie Toe! eines a UII ¥ mejoramiento de call) El especialista en estalistis teitgrice ES, Page introduce la carta de control de suma acumulada (CUSUM. por sus siglts en inp ri 057 Pascoe Dera lena Cra ral ce eae Non i y FM. Gryna, ee Ss finds Technorati. ou pein deugendislicaipaadannicnceeme quimicas y de ingenieria): J. Stuart Hunter esc; editor fundador S, Roberts inode Is catia de conceal del praemetin et oe cea exponencialmente (EWMA. Por sus siglas en inglés) El programa de Vclos espacial tpulados de. Estates Unidos hace USAW etl la industria de la necesidad de’ productos'cuifistle\” este’ e8 el Punto de partida para el desarrollo del campo de I ingenierfa de confiabilidad ja enseftanza wean, algunas conferencias sobre administracién 60) G.E. P. Box y J. S. Hunter exesiten trabajos fundamentales sobre los diseftos factoriales 2». Et cones pls dé: efeculs ue Cavin de daligad os tnkeaierioien Japén por K. Ishikawa. 61 Se,finda.en Gran, Becton olitenaaia NadionslsdevCaligad ¥ Productividad (NCQP, por sus siglas en inglés) como pete dell Colca Briaice de ERRUCIV is TP atta le CONG GH idGce-calidadine geacalienafeosion Programas académicos de Ingenierfa Industrial Se introducen programas de ¢444, defectos (ZD. por sus siglas en inglés) en algunas industrias estadounidenses. 59 Deja de publicarse Industria Quality Control; es reemplazada por Quality Progress y Journal of (Qicliy Technotony tel Lee TNipa SNe ed alee Tia ali os JOT) os 1970 En Gran Bretafia se fusionan ce! NCOP y el Instituto de Aseguramiento de Calidad para formar la Asociacién Briténica de ( '5-1978 Empiezan a aparecer lity.» Hida " solte experimentos disefiados dirigidos a ingenieros y cientificos Fippiezs e! interés por. ls ofr aid oalataticabnte tie es Eee a erece hasta formar el Se Hae a administicicn de calidad total CTQM, por sus siglas om inglés). > 1980. Se introducen y son adopwidin ln mélodos del dicate experimental en un grupo més amplio de Se Tadnese aap ete00 Ny luting eectrGnica, sespegperial, Ae seh ee ¥ automotiz. Seen be dita Nel eh (xccloe Uniting tor Tabata eel profesor G. Taguchi sobre experimentos diseftados, 4 La Asociacion Americana de Hsjdistica (ASA, por sus siglas en inglés) establece el Comité Ad Hoc Bary Calidad y Erblctiyidlad ae coamieiae cons eel aka las cA Seccién completa de la ASA. 6 Box y otros especialistay-visitin Yapgn, donule observa el use generalizado de los experimentos disefiados y otros métodos o ; El Congreso de Estadox Unidos establece:el Premio’ Nacional de Calidad Malcolm Baldrige. ) Aparece la revista Quality Laincering Nace la iniciativa seis sigma de Motecola 1 aD iyencreenean 185 aetividaly da cern aeRO en la industria estadounidense; los ore radar el Pet Mi lesaumenaniic maseneeneee ce estados patrocinan Premios Se celica WERK ci kon crlssioms cel Pear Baldrige. 1995 1997 1998 1-2 BREVE HISTORIA DEL CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD, Il Muchos programas de posgrado en ingenieria exigen cursos formales en técnicas estadisticas, enfocdndose en los métodos biisicos para Ia caracterizacién y mejoramiento de procesos. El enfoque seis sigma de Motorola se extiende a otras industrias. La Sociedad Americana de Control de Calidad se convierte en la Sociedad Americana de Calidad (ASQ, por sus sighas en inglés), en un mejoramiento de calidad lento por seiialar los aspectos mas amplios det campo del Frederick W. Taylor introdujo algunos principios de Ia administracidn cientifica cuando empez- ron a desarrollarse las industrias de produccién en masa antes de 1900, Taylor fue pionero en kat divisi6n del trabajo en tareas para que fuera mas facil la fabricacién y ensamblaje del producto. Su trabajo lev6 a mejoras sustanciales de la productividad. Asimismo, como consecuencia de la estandarizacién de los métodos de produccién y ensamblaje, también hubo un impacto positivo en Ja calidad de los bienes manufacturados. Sin embargo, junto con la estandarizaci6n de los métodos de trabajo vino el concepto de estandares de trabajo —un tiempo estindar para Hevar a cabo el trabajo, © un ntimero especificado de unidades que deben producirse por periodo. Frank Gilbreth y otros ampliaron este concepto al estudio del mecanismo y el disefio del trabajo. Mucho de esto tuvo un impacto positivo sobre la productividad, pero con frecuencia resté énfasis al aspecto de la calidad del trabajo. Ademas, llevados a los extremos, los estandares de trabajo tienen el riesgo de detener la innovacién y el mejoramiento continuo, lo cual reconocemos hoy como uno de los aspectos vitales de todas las actividades laborales. Los métodos estadisticos y su aplicacién cn el mejoramicnto de calidad han tenido una larga historia. En 1924, Walter A. Shewhart de Bell Telephone Laboratories desarroll6 el concepto de carta de control estadistico, el cual suele considerarse como el inicio formal del control estadistico de calidad. Hacia el final de los afios 1920, Harold F. Dodge y Harry G. Romig, ambos en la misma empresa citada, desarrollaron el muestreo de aceptacién basado en la estadistica, como una alter- nativa para la inspecci6n del 100%. Para mediados de los afios 1930, los métodos de control esta- distico de calidad se usaban ampliamente en Western Electric, el brazo manufacturero de Bell System. Sin embargo, el valor del control estadistico de calidad no disfrutaba ina aceptacién generalizada en la industria. La Segunda Guerra Mundial presenci6 un uso y aceptacién mucho més amplios de los conceptos del control estadistico de calidad en las industrias manufactureras. La experiencia de la guerra puso de manifiesto que las técnicas estadfsticas eran necesarias para mejorar y controlar la calidad de los productos. En 1946 se fund6 la Sociedad Americana de Control de Calidad. (on pro- mueve el uso de las técnicas del mejoramiento de calidad para todo tipo de productos y servicios. Hasta la fecha, ofrece diversas conferencias, publicaciones técnicas y programas de capacitacién de aseguramiento de calidad. Los afios 1950 y 1960 vieron el surgimiento de la ingenieria de contiabilidad, asi como la introduccién de varios libros de texto importantes sobre control estadistico de calidad y del punto de vista de que la calidad es una manera de administrar una organizaci6n. En los afios 1950 se introdujeron por primera vez en Estados Unidos los experimentos disefia- dos para el mejoramiento de productos y procesos. Las aplicaciones iniciales fueron en la industria quimica, Estos métodos se explotaron ampliamente en la industria quimica y se citan con frecuen- cia como una de las principales razones de que la industria quimica estadounidense sea una de las mas competitivas del mundo y de que haya perdido pocos negocios frente a compaifas extranjeras. La expansién de estos métodos fuera de la industria quimica fue relativamente lenta hasta fines de los afios 1970 y principios de los 1980, cuando muchas compaffas occidentales descubrieron que sus competidores japoneses habian estado utilizando experimentos disefiados de manera sistemsti- Esta organiza CAPITULO 1 EL MEJORAMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIENTE MODERNO DE_ ;OCIOs ca desde los afios 1960 en la eliminacién de problemas de procesos, el desarrollo de nuevos proce- sos, la evaluacion de disefios de nuevos productos, el mejoramiento de la confiabilidad y del desempefio en campo de los productos, y muchos otros aspectos del disefio de productos, incluyen- do la seleccidn de las tolerancias de componentes y sis Este descubrimiento despert6 un mayor interés en los experimentos disefiados estadisticamente y redund6 en esfuerzos extensivos para introducir la metodologia en la ingenieria y las organizaciones de desarrollo de ta indust asf como en los programas de estudio de ingenieria Desde 1980 ha habido un profundo crecimiento en el uso de los métodos estadisticos para el mejoramiento de calidad en Estados Unidos. Esto ha sido motivado, en parte, por la amplia pérdida de negocios y mercados sufrida por muchas compaiifas estadounidenses que se inicié durante los 5 1970. Por ejemplo, la industria automotriz de Estados Unidos précticamente fue destruida por la ‘competencia extranjera durante este periodo. Una compaiifa automotriz. estadounidense estimaba sus pérdidas de operacién en cerca de 1 millén de délares por hora en 1980. La adopcién y el uso de métodos estadisticos ha jugado un papel central en el resurgimiento de la industria estadounidense. También han surgido varias estructuras de administracién como marcos en los cuales implementar el mejoramiento de calidad. En las dos secciones siguientes se discuten brevemente los métodos esta- disticos que son el centro de interés de este libro y se ofrece un panorama general de algunos aspectos clave de la administraci6n de calidad total (TQM, por sus siglas en inglés). 1-3. METODOS ESTADISTICOS DE CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD Este libro de texto se concentra en la tecnologia estadistica y de ingenierfa itil en el mejoramiento de calidad. Especificamente, nos enfocamos en tres Areas principales: el control estadistico de procesos, el disefio de experimentos y (en menor grado) el muestreo de aceptacién. Ademés de estas técnicas, varias otras herramientas estadisticas son utiles para analizar los problemas de calidad y para mejorar el desempefio de los procesos de produccién. El papel de algunas de estas Entradas controlables a % 5 Entrada, materias primas, ‘componentes y subensamblajes Salida Producto Caracteristica de lacalidad 4 Ps . Entradas no controlables Figura 1-3 Entradas y salidas de un proceso de producci6n: 1-3. METODOS ESTADISTICOS DE CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD, 13 uct. cu. Z : 5 Le. ‘Tiempo (0 niimero de muestra) ra 1-4 Una carta de control tipica herramientas se ilustra en la figura 1-3, donde se presenta un proceso de produccién como un sistema con una serie de entradas y una salida. Las entradas x,,.x,. ... .x, son factores controlables, tales como temperaturas, presiones, velocidades de alimentacién y otras variables de procesos. Las entradas z,, z,, . » ¢, Son entradas no controlables (o dificiles de controlar), tales como los factores ambientales 0 las propiedades de las materias primas suministradas por el proveedor. El proceso de manufactura transforma estas entradas en un producto terminado que tiene varias caracterfsticas de la calidad, La variable de salida y es una medida de la calidad del proceso. La carta de control cs una de las principales técnicas del control estadistico de procesos 0 SPC (por sus siglas en inglés). En la figura 1-4 se muestra una carta de control tipica. En esta carta los promedios de las mediciones de una caracteristica de la calidad hechas en muestras tomadas de! proceso se grafican contra el tiempo (0 el nimero de muestra). La carta tiene una linea central (CL, por sus siglas en inglés) y los limites de control superior e inferior (UCL y LCL, por sus siglas en inglés, en la figura 1-4), La linea central representa el sitio donde deberia localizarse esta caracte~ ristica del proceso en caso de no estar presentes fuentes inusuales de variabilidad. Los limites de control se determinan a partir de consideraciones’estadisticas simples que se discutiran en los capitulos 4, 5 y 6. De manera tipica, las cartas de control se aplican a la 0 las variables de salida en un sistema como en la figura 1-4. Sin embargo, en algunos casos también se han aplicado con buenos resultados a las entradas. La carta de control es una técnica de monitoreo del proceso muy util; cuando estén presentes fuentes inusuales de variabilidad, los promedios muestrales graficados se localizaran fuera de los limites de control. Esta es una sefial de que debera hacerse cierta investigacién del proceso y emprenderse una accién correctiva para eliminar estas fuentes inusuales de variabilidad. El uso sistematico de una carta de control es una excelente manera de reducir la variabilidad. Un experimento disefiado es de suma utilidad para descubrir las variables clave que influyen en las caracteristicas de la calidad que son de interés en el proceso. Un experimento disefiado es un enfoque para hacer variar de manera sistematica los factores de entrada controlables del proceso y determinar el efecto que tienen estos factores sobre los parémetros del producto de salida. Los experimentos disefiados estadisticamente son invaluables para reducir la variabilidad de las carac- terfsticas de la calidad asf como para determinar los niveles de las variables controlables que optimizan el desempeno del proceso. Un tipo importante de los experimentos diseftados es el disefto factorial, en el cual los factores se hacen variar conjuntamente de tal modo que se prueban todas las combinaciones posibles de los niveles de los factores. En la figura 1-5 se muestran dos disefios factoriales posibles para el proceso 14 CAPITULO | EL MEIORAMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIENTE MODERNO DE Lt (CH | Bajo S NEGOCIOS Alto Bajo 4 4) Dos factores, x,y x, 2) Tres tactores, x, x.y X, Figura 1-5 _Disenios factoriales para el proceso de la figura 1-3 de la figura 1-3, para los casos en que los factores controlables son p = 2 y p = 3. En la figura 1-Sa los factores tienen dos niveles, bajo y alto, y las cuatro combinaciones de prueba posibles en este experimento factorial forman los vértices de un cuadrado. En la figura 1-5b hay tres factores con dos niveles cada uno, que dan lugar a un experimento con ocho combinaciones de prueba dispue: tas en los vértices de un cubo. Ls distribuciones que se muestran en los vértices del cubo represen- tan el desempefio del proceso para cada combinacién de los factores controlables x, x, y x. Es evidente que algunas combinaciones de los niveles de los factores producen mejores resultados que otras. Por ejemplo, cuando x, se incrementa del nivel bajo al alto, el nivel promedio de la salida del Proceso se incrementa y podria apartarlo del valor objetivo (7). Adem, la variabilidad del proce- So parece sufrir una reducci6n sustancial cuando el proceso se opera en la cara posterior del cubo, donde x, y x, estén en sus niveles altos. Los experimentos diseftados son una importante herramienta de control de calidad fuera de linea. ya que por lo general se utilizan durante las actividades de desarrollo y en las etapas iniciales de Ia manufactura, en vez de usarse como un procedimiento rutinario en linea o dentro del proce- So. Juegan un papel crucial para reducir la variabilidad. imeem, }ODOS ESTADISTICOS DE CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD. 15 Una vez que se ha identificado una lista de variables importantes que afectan la salida del proceso, suele ser necesario modelar la relacién entre las variables de entrada influyentes y las caracteristicas de la calidad a la salida. Entre las técnicas estadisticas titiles para construir estos modelos se encuentran el anélisis de regresiGn y el anzlisis de series de tiempo. Montgomery (3). Montgomery y Peck (9) y Box, Jenkings y Reinsel (7) incluyen discusiones detalladas del modela- do con experimentos disefiados, andlisis de regresién y series de tiempo Cuando se han identificado las variables importantes y se ha cuantificado Ja naturaleza de la relaci6n entre las variables importantes y la salida del proceso, es posible aplicar con considerable efectividad una técnica de control estadistico de procesos en linea para monitorear y vigilar el proc so. Téenicas tales como las cartas de control pueden usarse para monitorear la salida del proceso y detectar cusndo son necesarios cambios en las entradas para regresar el proceso a un estado bajo control. Los modelos que relacionan las entradas influyentes con las salidas de los procesos ayudan a determinar la naturaleza y la magnitud de los ajustes necesarios. En muchos procesos. una vez. que se comprende la naturaleza dinémica de las relaciones entre las entradas y las salidas, puede ser posible hacer el ajuste rutinario del proceso para que los valores futuros de las caracterfsticas del producto estén aproximadamente en el objetivo. A este ajuste rutinario suele llamérsele control de ingenieria, control automiitico o control de retroalimentacién. En el capitulo 11 se discutiran brevemente estos tipos de esquemas de control de procesos, y se ilustraré cémo los métodos del SPC puede! integrarse exitosamente en un sistema de manufactura en el que se aplica el control de ingenieria La tercera area del control y mejoramiento de calidad que se discute es cl muestreo de acepta- cin. Guarda una estrecha relacién con la inspeccién y prueba del producto, que es uno de los Primeros aspectos del control de calidad, cuyos origenes se remontan mucho antes de que se desa- rrollara una metodologia estadistica para el mejoramiento de calidad. La inspeccién puede ocurrir en muchos puntos de un proceso. El muestreo de aceptaciGn, definido como la inspecci6n y clasi- ficacién de una muestra de unidades seleccionadas al azar de una carga 0 lote més grande y la decisién final acerca de la forma en que se dispondri del lote, ocurre por lo general en dos puntos: en las materias primas 0 componentes de entrada o en la produceién final En la figura 1-6 se muestran diferentes variantes del muestreo de aceptaci6n. En la figura 1-6a la operacién de inspecci6n se realiza inmediatamente después de la produccién, antes de que el producto se embarque al cliente, Suele llamérsele inspeccién de salida. En la figura 1-6b se ilustra la inspeccién de entrada; es decir, una situacién en la que se hace el muestreo de varios lotes o cargas del producto cuando se reciben del proveedor. En la figura 1-6c se ilustran varias decisiones acerca de la forma en que se dispondra de los lotes, Los lotes muestreados pueden ser aceptados © rechazados. De manera tipica, los articulos de un lote rechazado se desechan 0 se reciclan, o pueden reprocesarse 0 reemplazarse con unidades buenas. A este tiltimo caso suele llamarsele inspeccién de rectificacién. : Los sistemas modernos de aseguramiento de calidad frecuentemente hacen menos énfasis en el muestreo de aceptacién y procuran concentrar sus esfuerzos en el control estadistico del proceso y en los experimentos disefiados. El muestreo de aceptacién tiende a reforzar el punto de vista de la “conformidad con las especificaciones” de la calidad y no sirve de retroalimentacién para el proce- so de produccién o para el disefio o desarrollo de ingenieria que Ilevaria necesariamente al mejora- miento de calidad. En la figura 1-7 se muestra la evolucién tipica de la utilizaciGn de estas técnicas en la mayoria de las organizaciones. En el nivel de madurez més bajo, la administracion puede no saber absolutamente nada de cuestiones de calidad, y es posible que no haya ningtin esfuerzo organizado efectivo para el mejoramiento de calidad. Con frecuencia habré aplicaciones modestas de los métodos del muestreo 16 CAPITULO | EL MEJORAMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIENTE MODERNO DE LOS NEGOCIOS Embarq Proceso [-——=| _inspeccion pease] Cente a) Inspeccion de salida rae Inspaccion Cente 2) Inspeccién do entradarecepcion Aceptado Proceso Inspeceién +O Cente otal oe rmiento @) Forma de disponer de los loles Figura 1-6 Variantes det muestreo de aceptacién. de aceptacién, por lo general en Ia inspeccién de recepcién. La primera actividad cuando aumenta la madurez es intensificar el uso de la inspecci6n de muestras. El uso del muestreo aumentard hasta que haya conciencia de que la calidad no puede inspeccionarse © probarse dentro del producto, En ese punto, la organizacién por lo general empieza a enfocarse en el mejoramiento del proceso. El control estadistico del proceso y el diseflo experimental tienen un impacto potencial importante sobre la manufactura, las actividades de diseiio del producto y el desarrollo del proceso. La introduc- cin sistemética de estos métodos con frecuencia marca el principio de mejoramientos sustanciales de la calidad, de los costos y la productividad en la organizacion. En los niveles més altos de madu- rez, las compafias utilizan de manera intensiva los experimentos disefiados y los métodos de control estadistico de procesos y hacen un uso relativamente modesto del muestreo de aceptacién. 100 Muosteo de s apicacn a 4 Control dot z proceso, 2 3 i é Diseho de experimentos Tiempo Figura 1-7 Diagrama de fase del uso de los métodos de la ingenierfa de calidad 1-4 OTROS ASPECTOS DEL CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD a Limite superior de la especificacion roe =r" 7 ( Media del proceso, 1 t Limite interior det mie : | specticacion Mucstreo de Control estadistico Diseho de aceptacen el roces0 expermentos Figura 1-8. Aplicacién de las téenicas de la ingenierfa de calidad y la reduccién sistemtiea de la variabilidad del proceso. El objetivo principal de los esfuerzos de la ingenieria de calidad es la reduccién sistemética de Ia variabilidad en las caracterfsticas clave de la calidad del producto. En la figura 1-8 se mues- tra cémo ocurre esto con el tiempo. En las etapas iniciales. cuando el muestreo de aceptacién es la principal técnica en uso, la “poreién caida” del proceso, 0 las unidades que no cumplen con Jas tspecificaciones, constitayen un porcentaje elevado de la salida del proceso. La introduccién del control estadisti¢o del proceso lo estabilizard y reduciré la variabilidad. Sin embargo, no es satis- factorio limitarse a cumplir con los requerimientos —la reduccién adicional de la variabilidad por Jo general lleva a mejorar el desempefio del producto y a tener una posicién competitiva fortaleci- da, como lo demostré con toda claridad el ejemplo de las transmisiones automotrices discutido antes. Los experimentos disefiados estadisticamente pueden emplearse en conjuncién con el con- trol estadistico del proceso para minimizar la variabilidad de los procesos en précticamente todos Jos escenarios industriales. 1-4 OTROS ASPECTOS DEL CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD ‘Aun cuando las técnicas estadisticas son las herramientas criticas en el control y el mejoramiento de Ia calidad, para que su uso sea més efectivo deben implementarse y ser parte de un sistema de administraciGn cuya motivacién sea la calidad. De hecho, el sistema de administraci6n debe dirigir Ia filosoffa de mejoramiento de calidhd y asegurar su implementaci6n en todos los aspectos del negocio. Uno de los marcos administrativos usados para llevar a cabo esto es la administracién de calidad total (o TQM), aun cuando otros nombres de uso comin incluyen control de calidad en toda la compafifa (CWQC, por sus siglas en inglés), aseguramiento de calidad total (TQA. por sus siglas en inglés) y seis sigma. En esta secci6n se hace una breve revisién general de los elementos clave de la TQM. Se discuten algunas de las principales filosofias de calidad, la conexidn entre calidad y productividad, tas implicaciones legales y econ6micas de la calidad, y algunos aspectos de la implementacion. 18 1-4.1 CAPITULO | EL MEIORAMIENTO DE CALIDAD EN EL AMBIE} ITE MODERNO DE LOS NEGOCIOS Filosofia de calidad y estrategias de administracién Muchas personas han contribuido en la metodologia estadistica del mejoramiento de calidad. Sin embargo. en términos de ta filosofia de la implementaciGn y la administracion, sureen tres indivi- duos como lideres: W. E. Deming. J. M. Juran y A. V, Feigenbaum, Se revisan ahora los enfoques ¥ la filosofia de estos Iideres en, la administracién de calidad. W. Edwards Deming Lina de las razones de que los fabricantes japoneses exhibieran una gran capacidad en el control fAadistico y el mejoramiento de la calidad durante los aiios 1970 y 1980.es el trabajo del De. W. jdwards Deming. Durante la Segunda Guerra Mundial. el Dr. Deming trabajé para el Departamento de Guerra y la Oficina del Censo. Después de la guerra, se hizo consultor de las industriae japonesas Y convencid a sus ejecutivos del poder de los métodos estadisticos y de la importancia de la calidad como arma competitiva, Este compromiso con los métodos estadisticos y su aplicacién ha side un elemento clave en la expansion de la industria y la economia de Japén. La Unién Faponesa de Cien. Liicos ¢ Ingenieros instituy6 el Premio Deming para el mejoramiento de calidad en su honor, Hlaxta Su muerte en 1994, el Dr. Deming fue un activo consultor y conferencista: fue una fuerva de inspira- cién para el mejoramiento de calidad en Estados Unidos y en todo el mundo. Era su firme convieeion ue la responsabilidad de la calidad descansa en la administracién; es decir, la mayoria de lac oportu- nidades para mejorar la calidad requieren la aecién de la administracion, y que muy pocas oportuni- dades se encuentran en el nivel de Ia fuerza de trabajo 0 de los operadores. El Dy Deming fue un severo criticw de muchas pricticas administrativas estadounidenses. 1. Tilosoffa del Dr. Deming es un importante marco para implementar el mejoramiento de la calidad y la productividad. Se presenta ahora una breve enunciacién y discusién de los Lt puntos del Dr. Deming: 1. Crear la constancia en los propésitos enfocados en el mejoramiento de productos y servi- Cios. Intentar constantemente mejorar el disefio y el desempeiio del producto. La inver Si6n en Investigacion, desarrollo e innovacién tendré una retribucién en el largo plaro para la organizacién. 2. Adoptar la nueva filosofia de rechazar la mano de obra deficiente, los productos defectuo- S08 0 los malos servicios. Cuesta lo mismo producir una unidad defectuosa que producir una buena (y muchas veces més). El costo para manejar los desechos. el reprocesamiento ¥ otras pérdidas creadas por unidades defectuosas representa una enorme sangria de los recursos de una compafifa. 3. No confiar en la inspeccién en masa para “controlar” la calidad. Lo vnico que puede hacer la inspecci6n es descartar las unidades defectuosas, y en este punto es demasiado tarde Porque se ha pagado ya por producirlas. La inspeccién ocurre tipicamente demasiado tarde en el proceso, es costosa y con frecuencia es ineficaz. La calidad resulta de la preven- Cién de unidades defectuosas a través del mejoramiento del proceso, no de Ia inspeccion, 4. No hacer contratos con proveedores atendiendo tinicamente al precio, sino considerando también la calidad. El precio sélo es una medida significativa del producto del proveedor si se considera en relaci6n con una medida de la calidad. En otras palabras, debe conside. arse el costo total del articulo, no s6lo el precio de compra. Cuando se considera la 10. Ae 12. 13. 1-4 OTROS ASPECTOS DEL CONTROL Y MEJORAMIENTO DE CALIDAD a9 calidad, muchas veces quien presenta la cotizacién mas baja no es el proveedor con el costo mais bajo. Deberd darse preferencia a los proveedores que emplean métodos de mejoramiento de calidad modernos en sus negocios y que puedan demostrar el control y Ia capacidad del proceso. 0 y 0

es una estimacién del verdadero valor desconocido del parémetro binomial p. La distribucién de probabilidad de p se obtiene a partir de la distribucién binomial, ya que eel ipsam? {Esa ptesne=$("lora-py : donde [1a] denota el entero més grande menor © igual que na. Es sencillo demostrar que la media dep es py que la varianza de jp es 1=p) ot = Pil=p : n Distribucién de Poisson Una distribucién discreta util en el control estadistico de calidad es la distribucién de Poisson, definida como sigue. Definicion | La distribucién de Poisson es P(x) (2-15) x! donde el parémetro 4. > 0. La media y la varianza de la distribucién de Poisson son wad (2-16) (217) Obsérvese que la media y la varianza de la distribuci6n de Poisson sort ambas iguales al parme- tro A. Una aplicacién tipica de la distribucién de Poisson en el control de calidad es como un modelo del nimero de defectos o disconformidades que ocurren en una unidad de producto. De hecho, la distribucién de Poisson suele ser una aproximacién adecuada de cualquier fendmeno aleatorio que ocurre sobre una base por unidad (0 por unidad de area, por unidad de volumen, por unidad de tiempo, etc.). Como un ejemplo, suponer que el ntimero de defectos por unidad en la conexi6n de alambres que ocurre en un dispositive semiconductor sigue una distribucién de Poisson con 2-24 2:2. DISTRIBUCIONES DISCRETAS IMPORTANTES 61 aed Figura 2-14. Distribuciones de probabilidad de Poisson para valores selecciona- dos de A parimetro A = 4. Entonces la probabilidad de que un dispositivo semiconductor seleccionado al azar contenga dos o menos defectos en la conexién de alambres es = 0.0183+ 0.0733 + 0.1464 = 0.2380 En la figura 2-14 se muestran varias distribuciones de probabilidad de Poisson. Obsérvese que s trata de una distribuci6n sesgada; es decir, la cola de la derecha es més larga. Conforme el parémetr 2 se hace més grande, la apariencia de la distribucién de Poisson se hace simétrica La distribuci6n de Poisson puede derivarse como una forma limite de la distribucién binomial Es decir, si en una distribucién binomial con pardmetros n y p se hace que 1 tienda a infinito y tienda a cero de tal modo que np = 2 sea una constante, se obtiene la distribucién de Poissor También es posible derivar la distribucién de Poisson utilizando un razonamiento de probabilida puro, Para mayor informacién acerca de la distribuci6n de Poisson, ver Hines y Montgomery (1 Montgomery y Runger (12). ribucién de Pascal y otras distribuciones relacionadas La distribucién de Pascal, al igual que la distribucién binomial, tiene su base en los ensayos ¢ Bernoulli, Considérese una secuencia de ensayos independiente, cada uno con probabilid: de éxito p, y Sea que x denote los ensayos en los que ocurre el éxito r-ésimo. Entonces + ¢s w variable aleatoria de Pascal con la distribucién de probabilidad definida como sigue. n CAPITULO 2 MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO. | Definicién La distribucién de Pascal es resi (Ft an renrthrr2, (2-18) donde r2 1 es un entero. La media y la varianza de la distribucién de Pascal son (2-19) (2-20) respectivamente. Dos casos especiales de la distribucién de Pascal son de interés. El primero de ellos es cuando r > Oy no es necesariamente un entero. A la distribuci6n resultante se le Hama distribucién binomial negativa. Es relativamente comin referirse a la ecuacién 2-18 como la distribucin binomial nega- tiva, aun cuando r es un entero. La distribucién binomial negativa, al igual que la distribucin de Poisson, en ocasiones es itil como el modelo estadfstico fundamental para varios tipos de datos Conteos”, tales como la ocurrencia de disconformidades en una unidad de producto (ver la seccién 6-3.1). Existe una importante dualidad entre la distribucién binomial y la binomial negativa. En la distribucién binomial se establece el tamafio de la muestra (el niimero de ensayos de Bernoulli) y se observa el ntimero de éxitos; en la distribucién binomial negativa se establece el nimero de Exitos y se observa el tamafio de la muestra (el ntimero de ensayos de Bernoulli) que se necesita para conseguirlos. Este concepto es de particular importancia en varias clases de problemas de muestreo. 8 El otro caso especial de la distribucién de Pascal es cuando r = 1, en cuyo caso se tiene la distribucién geométrica. Se trata de la distribucién del nimero de ensayos de Bernoulli hasta que ocurre el primer éxito. ‘ -3 DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES En esta seccién se discuten varias distribuciones continuas que son importantes en el control esta- distico de calidad, las cuales incluyen la distribucién normal, la distribucién exponencial, la distri- bucion gamma y la distribucién de Weibull. 2.3 DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES, 63 2-3.1 Distribucién normal Probablemente la distribucién normal sea la la apl proba ibucién més importante tanto en la teoria como en cacién de la estadistica, Si x es una variable aleatoria normal, entonces la distribucién de lad de x se define como sigue. Definicion La distribucién normal es f= ec x 0. La utilizacién de la distribucién normal es tan frecuente que muchas veces se emplea una notacién especial, x ~ Niu, 6°), para denotar que x sigue una distribucién normal con media jt y varianza o° La apariencia visual de la distribucién normal es una curva simétrica, unimodal o en forma de campana, la cual se muestra en la figura 2-15. Hay una interpretacién simple de la desviacién estindar o de una distribucién normal, la cual se ilustra en la figura 2-16. Obsérvese que 68.26% de los valores de la poblaci6n se localizan entre los limites definidos por la media mas menos una desviaci6n esténdar (\1 + 16); 95.46% de los valores se localizan entre los limites definidos por la media mas menos dos desviaciones esténdar (1 + 26); y 99.73% de los valores de la poblacién se localizan dentro de los limites definidos por la media mas menos tres desviaciones estindar (i + 36). Por tanto, la desviacién estindar mide la distancia sobre la escala horizontal asociada con los limites que contienen 68.26%, 95.46% y 99.73% de los valores. Es una prictica comin redondear estos porcentajes en 68%, 95% y 99.7%. fe) # Figura 2-15 La distribucién normal. CAPITULO 2 MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO #-30 4-20-10 wt lop+2ou+30 | sazen— 95.46% 99.73% Figura 2-16 Areas bajo la distribucién normal La distribucién normal acumulada se define como 1a probabilidad de que 1a variable aleatoria normal x sea menor o igual que cierto valor a, 0 P(x sa)=Fla Esta integral no puede evaluarse en forma elemental o cerrada. Sin embargo, utilizando el cambio de variable (2-23) la evaluacién puede hacerse de manera independiente de 1 y 0°. Es decir, uieaadhr Geel aa o o donde (-) es la funcién de distribucién acumulada de la distribucién normal estandar (media = 0, desviacin esténdar = 1). En la tabla II del apéndice se presenta una tabla de Ia distribucién normal esténdar acumulada. A Ja transformacién 2-23 suele lamérsele estandarizacién, ya que convierte una variable aleatoria Nu, 6°) en una variable aleatoria N(O, 1). EJEMPLO 2-56 sccccsccccccncnvecnseccssesvccssectnes La resistencia de tensiin del papel empleado para hacer bolsas para viveres es una caracteristica importante de la calidad. Se sabe que la resistencia —por ejemplo, x— tiene una distribucién normal con media {t = 40 Ib/pulg? y desviaci6n estindar o = 2 Ib/pulg?, lo cual se denota x ~ N(40, 2). El comprador de las bolsas requiere que éstas tengan una resistencia de por lo menos 35 Ib/ pulg?. La probabilidad de que una bolsa hecha con este papel cumplira con esta especificacién o la excederd es P{x 2 35}, Obsérvese que 2:3. DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES 65 Figura 2-17 Calculo de P[r< 35} en el ejemplo 2-5. Para evaluar esta probabilidad en las tablas normales estdndar, se estandariza el punto 35 y se encuentra asa Peemere | ee =P{z<-2.5} = @(-2.5) = 0.0062 Por consiguiente, la probabilidad buscada es P{x> 35} =1— Plx $35} = 10.0062 = 0.9938 En la figura 2-17 se muestra la probabilidad tabulada para la distribucién N(40, 2”) y para la distribucién normal esténdar. Obsérvese que el rea sombreada a la izquierda de 35 Ib/pulg? en Ia figura 2-17 representa la fraccién disconforme 0 “porcién caida” producida en el proceso de fabricacién de las bolsas. En la tabla II del apéndice s6lo se dan las probabilidades a la izquierda de los valores positivos de z, Serd necesario utilizar la propiedad de simetria de la distribucién normal para evaluar las proba- bilidades. Especificamente, obsérvese que Pix a} Plx 1 1485 < x $ 0.2515} = Pix <0. 15} — P(x $ 0.2485} _ of 0.2515—0.2508 } 0.2485 - a 0.0005 0.0005 = (1.40) -(—4.60) = 0.9265~0,0000 = 0.9265 2 que el rendimiento del proceso sea aproximadamente de 92.65%; es decir, <= los ejes producidos cumpliran con las especificaciones. si todos los ejes disconformes son demasiado grandes, debido a que la media = -PSN S ccaza muy cerea del limite superior de la especificacién. Supéngase que el proce- =u suede volver a centrarse, quiz4s mediante un ajuste de la méquina, de tal modo so sea exactamente igual al valor nominal de 0.2500. Se tiene entonces 2485 x $ 0.2515) = P(x $ 0.2515) — Plx $ 0.2485) = ate =) 0.0005 0.0005 = (3.00) (-3.00) = 0.99865—0.00135 = 0.9973 a = 0.0005 TES 02508 0.2515 SS OSO == Limite superior de: —_ la espectfieacion (ust) isaac del didmetro de los 2.3. DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES 67 ‘Al volver a centrar el proceso el rendimiento se ha incrementado a-aproximadamente 99.73%. «.e+ EJEMPLO2-7 -- Fn ocasiones en vez de encontrar la probabilidad asociada con un valor particular de una variable slentocia hoemmal.ae ecpeann Semmens cates un valor particular de una variable aleatoria normal que da como resultado una probabilidad dada. Por ejemplo. suponer que + NCO, 9) ¥ que quiere encontrarse el valor de x Por ejemplo, a— tal que P{x > a} = 0.05. Por tanto 5 {: aa l0) 3 0.95 Pix>a@ 05 Por la tabla II del apéndice, se tiene P{z $ 1.645} = 0.95, de donde a-10 = 1.645 ° a = 10+ 3(1.645) = 14.935 La distribucién normal pose muchas propiedades tiles Una de ellas se refiere a las combinacio- nes lineales de variables aleatorias que tienen una distribucién normal y son independientes. Si x,, Xm X, Son variables aleatorias que estan normal ¢ independientemente distribuidas con medias hy Hyy os Hh, ¥ Varianzas: Gj 2.62, respectivamente, entonces la distribucién de yeay tax; tt a%e es normal con media fe Say Fat FF (2:25 y varianza 70; +4303 + +420; (2-26 donde a, dy.» @, son constantes: El teorema del limite central Fs come soponer gue In qaytuaice normal gb et bdo? de probabilidad apropiado para uw variable aleatoria. Més adelante se discutiré la manera de verificar la validez de este supuesto; s 68 ‘APITULO 2 MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO a justificacién de la normalidad apro: ‘embargo, con frecuencia el teorema del limite central es u mada. Definicién: El teorema del limite central Six.) 1, son variables aleatorias independientes con media 4, y varianza G), ysiy= x, +4, +o +x, entonces la distribucién de Da, tiende a la distribucién N(O, 1) cuando n tiende a infinito. El teorema del limite central implica que la suma de 1 variables aleatorias con distribuciones inde- pendientes es aproximadamente normal, sin importar cuales sean las distribuciones de las variables individuales. La aproximacin se hace mejor cuando n se incrementa. En muchos casos la aproxima- i6n serd buena para n pequeita —por ejemplo, n < 10—, mientras que en otros casos puede reque- rirse una n muy grande —por ejemplo, n > 100— para que la aproximacién sea satisfactoria, En general, si las x, tienen la misma distribucién, y la distribucién de cada x, no se aparta radical- mente de la distribucién normal, entonces el teorema del limite central funciona bastante bien Para 2 3 0 4, Estas condiciones se cumplen frecuentemente en los problemas de control de calidad. Figura 2-19 Distribuciones exponenciales para valores seleceionados de 2. 2.3. DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES 69 2.3.2. Distribucién exponencial La distribuci6n de probabilidad de la variable aleatoria exponencial se define como sigue. ion La distribucién exponencial es fay=he™ x20 (227) donde A > 0 es una constante. La media y la varianza de la distribucién exponencial son | (2-28) * (2-29) respectivamente. En la figura 2-19 se muestran varias distribuciones exponenciales. La distribucién exponencial acumulada es F(a) = P(x Sa} iF edt a0 2:30) En la figura 2-20 se ilustra la funcién de distribucién acumulada exponencial. | = ° Figura 2-20 La funcién de distribucién exponencial acumulada 70 CAPITULO 2 MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO La distribucién exponencial se usa ampliamente en el campo de la ingenier! como modelo del tiempo hasta la falla de un componente o s pardmetro 2. se le llama el indice de falla del sistema, y a la media I/A de la distribucion se le llama tempo medio hasta tna falla. Por'ejemplo, suponer que un componente electronica de un sistema de radar en vuelo tiene una vida util descrita por una distribucién exponencial con indice de falla 10M: es decir, A = 10+, El tiempo medio para una falla de este componente es 1/k = 10 = 10000 h. Si quisiera determinarse Ia probabilidad de que este componente falle antes de su vida espera- da, se evaluaria de confiabilidac ples tle [ne “dt =1—e" = 0.63212 Este resultado es vélido independientemente del valor de 2; es decir, Ia probabilidad de que un Nalor de la variable aleatoria exponencial sea menor que su media es 0.63212, Esto ocurre, desde luego, porque la distribuci6n no es simétrica. Existe una importante relacién entre la distribucién exponencial y la de Poisson. Si la distribu. cin de Poisson se considera como un modelo del niimero de ocurrencias de algtin evento en el imtervalo (0, 1], entonces por la ecuacién 2-15 se tiene ex Ply >t}= p(0)= donde y es la variable aleatoria que denota el intervalo hasta la primera ocurrencia Puesto que F()= Plys1)=1-e* ¥ utilizando el hecho de que fly) = dF(y)/dy, se tiene 1 del intervalo hasta la primera ocurrencia, La ecuaci6n 2-31 se identifica como ial con pardmetro 2. Por Io tanto, se observa que si el nimero de ocu. del ae, Un evento sigue una distribucién de Poisson con pardmetro A, entonces la distribucion del intervalo entre las ocurrencias es exponencial con parémetro 2 DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES, 71 2-3.3 Distribucién gamma La distribucién de probabilidad de 1a variable aleatoria gamma se define como sigue. Definicién La distribucién gamma es Deets oa fa)=FoOayte™ x20 (2-32) con pardmetro de forma r > 0 y pardmetro de la escala 2 > 0. La media y la varianza de la distribuci6n gamma son Aas (2-33) (2-34) respectivamente. En la figura 2-21 se muestran varias distribuciones gamma. Obsérvese que si r = 1, la distribu- cién gamma se reduce a la distribucién exponencial con parémetro A (seccién 2-3.2). La dis- tribucién gamma puede adoptar muchas formas diferentes, dependiendo de los valores elegidos para ry A, Esto la hace dtl como modelo para una amplia variedad de variables aleatorias continuas. Si el parmetro r es un entero, entonces la distribucién gamma es la suma de r distribuciones exponenciales independientes ¢ idénticas, todas con parimetro 2. Es decir, si x,,.X, ... X, Son expo- nenciales con pardmetro A e independientes, entonces Ata, tet, tiene la distribucién gamma con parémetros r y 2. Este resultado tiene varias aplicaciones impor- tantes. +++ EJEMPLO 2-8 -- Considérese el sistema ilustrado en la figura 2-22. Se le llama sistema redundante en estado de espera, porque mientras el componente | esta encendido, el componente 2 est apagado, y cuando *T(r) en el denominador de la ecuacién 2-32 es la funcién gamma, definida como T(r: positivo, entonces P(r) = (r~ 1)! Pxe"dx.r > 0. Siresun entero 72 CAPITULO 2 MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO. 1 reas rae os era os| oa oa ° 2 4 6 8 10 12 igura 2-21 Distribuciones gamma para valores seleccionados de r y el componente 1 falla, el interruptor enciende autométicamente el componente 2. Si cada compo- hente tiene la vida Util descrita por una distribucién exponencial con A = 10“/h, por ejemplo. entonces la vida dtil del sistema sigue la distribucién gamma con pardmetros r= 2 y A = 10+. Por tanto, el tiempo medio hasta una falla es jt = r/ = 2/10* = 2 x 10'h La distribucién gamma acumulada es Fla)=1-[ an To (2-35) Si res un entero, entonces la ecuacién 2-35 queda como a " F(a)=1-e* aa (2-36) Por consiguiente, la distribucién gamma acumulada puede evaluarse como la suma de r términos de Poisson con parémetro Aa. Este resultado no es sorprendente, si la distribucién de Poisson se considera como un modelo del nimero de ocurrencias de un evento en un intervalo fijo, y la distribucién gamma como el modelo de la porcién del intervalo requerido para obtener un niimero especifico de ocurrencias. Figura 2-22 Sistema redundante en estado de espera de! ejemplo 2-8, 2:3 DISTRIBUCIONES CONTINUAS IMPORTANTES, 23.4 aS La distribucién de Weibull es Beye xy JO=5 3) exp|-| 3} x20 (2-37) donde @ > 0 es el pardmetro de escala, y B > 0 es el pardmetro de forma. La media y la varianza de la distribucién de Weibull son 1 =Or|l+— H ( 7 (2-38) 9 wefr{ied}r(0op) | (2-39) respectivamente. La distribucién de Weibull es muy flexible, y B, la distribucin puede adoptar una amy varias distribuciones de Weibull para @ = Figura 2-23 Distribuciones de Weibull para valores seleccionados del pardmetro de forma B y el pardmetro de escala 0 = I mediante la seleccién apropiada de los pardmetros @ variedad de formas. En la figura 2-23 se muestran |, 2. y 4. Obsérvese que cuando B = 1, la 14. CAPITULO2._ MODELADO DELLA CALIDAD DEL PROCESO distribucién de Weibull se reduce a la distribucién exponencial con media 1/0. La distribucién de Weibull acumulada es ® “a oo (es | (2-40) La distribuciGn de Weibull se ha usado ampliamente en la ingenierfa de confiabilidad como mode- lo del tiempo hasta que ocurre una falla en componentes y sistemas eléctricos y mecénicos. Ejem- plos de situaciones en las que se ha usado la distribucién de Weibull incluyen aparatos electrénicos tales como elementos de memoria, componentes mecénicos tales como rodamientos, y elementos estructurales de aviones y automéviles. Fla EJEMPLO 2-9) se eseccecc cs ccc cscs ees cesesccssescees EI tiempo hasta que ocurre una falla en un subensamblaje electrénico usado en una estacién de trabajo RISC se modela satisfactoriamente con una distribucién de Weibull con B y= 1000. El tiempo medio hasta una falla es p=0R |i B =tonor (+75 WV = 10003) =2000h La fraccién de los subensamblajes que se espera que sobrevivan a = 4000 h es ra eet 1-F(4000) -o|- Foal ] ° 1000 = 0.1353 Es decir, todos excepto 13.53% de los subensamblajes fallaran en 4000 h. 2-4 ALGUNAS APROXIMACIONES UTILES En ciertos problemas de control de calidad, a veces es stil aproximar una distribucién de proba- bilidad con otra. Esto es particularmente ttil en situaciones en las que la manipulacién analitica de la distribucién original es dificil. En esta seccién se presentan tres de estas aproximaciones: 2-41 2-4.2 2-43. 2.4 ALGUNAS APROXIMACIONES UTILES iD! 1) 1a aproximacién binomial de la distribuci6n hipergeométrica, 2) la aproxima én de Poisson de la distribucién binomial, y 3) la aproximacién normal de la distribuci6n binomial. n binomial de la distribucién hipergeométrica se la distribucién hipergeométrica de la ecuaci6n 2-8. Si el cociente n/N (Hlamado con frecuencia la fraccién de muestreo) es pequetio —digamos n/N < 0.1—. entonces la distribucion binomial con parimetros p = D/N y nes una buena aproximacidn de la distribucisn hipergeométrica La aproximacién es mejor para los valores pequefios de n/N. 1 aproximaci6n es stil en el disefio de planes de muestreo de aceptacién. Recuérdese que lt distribuci6n hipergeométrica es el modelo apropiado para el niimero de articulos disconformes obtenidos en una muestra aleatoria de n articulos de un lote de tamaiio finito N. Por tanto, si el tamaiio de la muestra n es pequeiio en comparacién con el tamafio del lote V, puede emplearse Ia aproximacién binomial, con lo cual por To general se simplifican considerablemente los cileulos ‘Como un ejemplo, suponer que un lote de produccién de 200 unidades contiene 5 unidades que no cumplen con las especificaciones. La probabilidad de que una muestra aleatoria de 10 unidades no contenga ningdn articulo disconforme es, por la ecuacién 2-8. 5)(195 roel a ("] CObsérvese que como n/N = 10/200 = 0.05 es relativamente pequefio, podria usarse Ia aproximaci6n binomial con p = D/N = 5/200 = 0.025 yn = 10 para calcular 5 pO)= (cJousre 975)" = 0.7763 Aproximacién de Poisson de la distribucién binomial En la seccién 2-2.3 se sefialé que la distribucién de Poisson podia obtenerse como una forma mite de la distribucién binomial para el caso en que p tiende a cero y n tiende a infinito con > = np constante, Esto implica que, para p pequefia y n grande, la distribucién de Poisson con A= np puede usarse para aproximar la distribucién binomial. La aproximaci6n generalmente es bue- na para n grande y si p< 0.1. Entre més grande sea el valor de n y menor sea ef valor de p, mejor sera la aproximacién Aproximacién normal de la distribucién binomial En la seccién 2-2.2 se definié la distribucién binomial como la suma de una secuencia den ensayos de Bernoulli, cada uno con probabilidad de éxito p. Si el ntimero de ensayos 7 es grande, entonces #2712 MODELADODE LA CALIDAD DEL PROCESO, c usarse el teorema del limite central para justificar la distribucién normal con media np y satanza pf ~ p) como una aproximaci6n de la distribucién binomial. Es dec n A niv=al=[ Jorapy a l sen np poet ; mpl p) ‘© que la distribucién binomial es discreta y la di correcciones de continuidad en la apro: tribucién normal es continua, es una prictica imacién, de tal modo que ats np a-4-mp I-® Vnptl=p) Vnpl—p) 3 >-sce @ denota Ja funcion de distribucién normal estandar acumulada. Otros tipos de enunciados ct -babilidad se evalian de manera similar, tal como btm \ 9 np vnpl=p) vnp(l =p) sce que la aproximacién normal de la distribucin binomial es satisfactoria para p de aproxi- aente | y n> 10, Para otros valores de p, se requieren valores mayores de n. En general. a maciGn no es adecuada para p < 1/(n + 1) 0 p > nf(n + 1), 0 para valores de la variable fuera de un intervalo de seis desviaciones estindar de ancho cuyo centro esté aproximada- © cn la media [por ejemplo, el intervalo np+ 3ynp(l— p) | smbicn puede usarse la aproximaciGn normal para la variable aleatoria p= x/n —es decir. la stral defectuosa de la seccién 2-2.2. La variable aleatoria j tiene una distribucién nadamente normal con media p y varianza p(1 — p/n, de donde Pe=alae| Plas x0 4) {Qué porcentaje de las calculadoras Hara dentro del periodo de garantia? 1b) El costo de fabricacién de una calcula- dora es 50 dolares. y la ganancia por venta es 25 délares. {Cul es el efecto de la ‘garantia de reemplazo sobre la ganancial? El contenido neto en onzas de un refresco en lata es una variable aleatoria con distribucién de probabilidad pay afAe—IhIS) N.S x5 12.25 4(12.75= x) 12.25<.0<12.75 Encontrar la probabilidad de que una lata con- tenga menos de 12 07 del producto. Un proceso de producciGn opera con una sali- da disconforme de 2%. Cada hora se toma una ‘muestra de 50 unidades del producto y se cuen- ta el nlimero de unidades disconformes. Si se encuentran una 0 més unidades disconformes, el proceso se detiene y el técnico de control de calidad debe buscar la causa de la produc- cién disconforme. Evaluar el desempeiio de esta regla de decisién, Continuacién del ejercicio 2-23. Conside- rar la regla de decision descrita en el ejerci- cio 2-23. Suponer que el proceso sufre un deterioro repentino del 4% de la salida dis- conforme. {Cudntas muestras, en promedio, se necesitaran para detectar esta situacién? ‘Cada media hora se saca una muestra aleatoria de 100 unidades de un proceso de produc- cién, La fraccién del producto disconforme fabricado es 0.03. ;Cudl es la probabilidad de que $0.04 si la fraccidn disconforme es en realidad 0.03? 80 CAPITULO 2 2-27, Se selecciona una muestra de 100 unidades de tun proceso de producciéin que es 2 es la probabilidad de que jp ex- discon- forme. £Ct cederi Ia verdadera fraccién disconforme por k desviaciones estindar, donde k = 1,2 y 3? Un componente electrénico de un telémetro liser se produce en lotes de tamaiio N= 25, | comprador utiliza un procedimiento de prucba de aceptacién para protegerse de lo- tes que contienen demasiados componentes disconformes, El procedimiento consiste en seleccionar cinco componentes al azar del lote (sin reemplazo) y probarlos. Si ninguno de los componentes es disconforme. el lote 4) Sil lote contiene tres componentes dis. conformes, ;cudl es la probabilidad de aceptacién del lote? 4) Calcular la probabilidad del inciso a) utilizando la aproximacién binomial Es satisfactoria esta aproximacion’? Por qué sf0 por qué no? ) Suponer que el tamafio del lote era N 150. ¢La aproximacién binomial seria satisfactoria en este caso? 4) Suponer que el comprador rechazaré el lote con la regla de decisién de encon- ‘tar uno 0 mas componentes disconfor- ‘mes en una muestra de tamafio n, y quiere que el lote se rechace con una probabili- dad de al menos 0.95 si el lote contiene ‘cinco © més componentes disconformes. {Qué tamafio deberfa tener la muestra n’? Un lote de tamafto N= 30 contiene tres unida- des disconformes. {Cul es la probabilidad de que una muestra de cinco unidades seleccio- nadas al azar contenga exactamente una uni- dad disconforme? ;Cual es la probabilidad de {que contenga usta © mas disconformidades? Un libro de texto tiene 500 paginas en las que podrian ocurrir etrores tipograficos. Suponer que hay exactamente 10 de estos errores lo- calizados aleatoriamente en esas paginas. En- contrar la probabilidad de que una seleccién aleatoria de 50 paginas no contenga errores. Encontrar la probabilidad de que 50 paginas MODELADO DE LA CALIDAD DEL PROCESO 2-30, seleccionadas al azar contengan al menos dos errores, Los defectos en el terminado superficial de un aparato eléctrico pequefio ocurren al aza con un indice medio de 0.1 defectos por uni dad. Encontrar la probabilidad de que una Unidad seleccionada al azar conten, hos un defecto en el terminado superficial Se hacen botellas de cristal vertiendo vidrio fun dido en un molde. El cristal fundido se prepara en un homo con un recubrimiento de ladtillos refractarios, Cuando se desgasta el ladrillo re fractario, pequeios tragmentos del ladtillo se mezelan con el cristal fundido y aparecen fi. nalmente como defectos (Iamados “piedras”) en la botella, Si puede suponerse que las pie- dras ocurren al azar a raz6n de 0.00001 por botella, ¢cudl es la probabilidad de que una botella seleccionada al azar contenga al me- nos uno de estos defectos? El departamento de facturacién de una com- paiia de tarjetay de crédito importante inten- ta contsolar los errores (de Ios dependientes, al anotar las cifras, etc.) en las cuentas de Jos clientes. Suponer que los errores ocurren de acuerdo con una distribucién de Poisson con pardmetro 2 = 0.01. «Cudl es la probabilidad de que la cuenta de un cliente seleccionado al azar contenga un error? Un proceso de produccién opera en uno de dos estados: el estado bajo control, en el que la mayoria de las unidades producidas cumplen con las especificaciones, y un estado fuera de control, en el que la mayoria de las unidades producidas son defectuosas. El proceso se co- rer del estado bajo control al estado fuera de control aleatoriamente. Cada hora, un técnico de control de calidad verifica el proceso, y si hay un estado fuera de control, el técnico lo detecta con una probabilidad p. Suponer que cuando el proceso se corre a fuera de control lo hace inmediatamente después de una de las verificaciones del téenico, y que una vez. que ha ocurrido el cambio, el proceso no puede corregirse a sf mismo automiticamente, Si denota el ntimero de periodos en que el proce 2-36, so se mantiene fuera de control después de un corrimiento antes de la deteccién, encontrar la distribucién de probabilidad de 1, Encon- trar el nimero medio de periodos del proce- so en que el proceso permanecerd en el estado. fuera de control Un inspector esta buscando soldaduras dis- conformes en una tuberia, La probabilidad de que cualquier soldadura particular sea de- fectuosa es 0.01. El inspector esti decidido a seguir trabajando hasta encontrar tres solda- duras defectuosas. Si las soldaduras se lo lizan con una separacién de 100 pies. ;cusi €s la probabilidad de que el inspector tenga que caminar 5 000 pies? {Cua es la probabi- lidad de que el inspector tenga que caminar mais de 5.000 pies? La resistencia de tensi6n de una pieza met: lica sigue una distribucién normal con me- dia de 40 Ib y desviacién estindar de 8 Ib. Si se producen 50 000 piezas, gcudintas dejarfan de cumplit con el limite de Ia espe minima de 34 Ib de resistencia de tensién? -acin {Cudntas tendrian una resistencia de tensién en exceso de 48 Ib? El voltaje de salida de una fuente de poder sigue una distribuci6n normal con media de 12 V y desviacién estindar de 0.05 V. Si las especificaciones inferior y superior del vol- taje son 11.90 V y 12.10 V, respectivamente, {cual es la probabilidad de que una fuente de poder seleccionada al azar cumpla con especificaciones del voltaje? Continuacién del ejercicio 2-36. Considerar de nuevo el proceso de fabricacién de las fuen- tes de poder del ejercicio 2-36. Suponer que quiere mejorarse el proceso. {Es posible re- ducir el nimero de unidades disconformes roducidas corriendo la media? {Cudnto nece- sitaria reducirse la variabilidad del proceso a fin de tenier todas excepto una de 1000 unida- des que cumplen con las especificaciones? tiene una distribucién normal con media Hy desviaci6n estandar cuatro, y dado que la probabilidad de que x sea menor que 32 es 0.0228, encontrar el valor de 4. 2.39, 2-40, 2-5 EIERCICIOS 81 La vida til de una bateria de automévil tie- ne una distribucién normal con media de 900 n estindar de 35 dias. ,Qué fraccién de estas baterias se esperari breviviera mis de 1 000 dias’? Una bombilla elé que so- rica tiene un misign lu minosa que sigue una distribucién normal con media de 5000 candelas-pie y desvia- cidn esténdar de 50 candelas-pie. Encontrar el limite infe or de la especificacisn tal que s6l0 0.5% de las bombillas no exeedan este limite. Las especificaciones de un componente elec tr6nico en un sistema de localizacion de blan- cos son que su vida titil debe estar entre 5.000 y 10000 h. La vida util tiene una distribu- cién normal con una media de 7 500 h. El fabricante maneja un precio de 10 délares por unidad producida: sin embargo. las unidades defectuosas deben reemplavarse a un costo de 5 dolares pars el fabricante. Pueden usarse dos procesos de fubricacién diferentes, ambos con la misma vida media. Sin embargo, la desvia- ci6n estéindar de la vida titil del proceso 1 es de 1.000 h, mientras que para el proceso 2 es de tan sélo 500 h. Los costos de produc- in del proceso 2 son del doble de los del Proceso 1. (Qué valor de los costos de pro- ducci6n determinaré la seleccién entre los procesos I y 2? Una caracteristica de la calidad de un produc- to tiene una distribucién normal con media Y desviacién estandar uno, Las especificacio nes de la caracteristica son 6 $ x < 8. Una unidad que se localiza entre las especif ciones de esta caracteristica de la calidad re- sulta en una ganancia C,, Sin embargo, si x < 6, la ganancia es ~C,, mientras que six > 8, la ganancia es ~ C,. Encontrar el valor de jt que maximice la ganancia esperada, Deducir la media y la varianza de la distribu- cién binomial. Deducir la media y la varianza de la distribu- cién de Poisson Deducir la media y la varianza de Ia distribu- cién exponencial. & Inferencias sobre la calidad del proceso _ PLAN GENERAL DEL CAPITULO 3-1 LOS ESTADISTICOS Y LAS DISTRIBUCIONES DE MUFSTREO 3.1.1 Muestreo de una distribucién normal 3-1.2 Muestreo de una distribucién de Bernoulli 31.3 Muestreo de una distribucién de Poisson ESTIMACION PUNTUAL DE PARAMETROS DE PROCESOS INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA 3.3.1. Inferencia de la media de una poblacién, varianza conocida 3-3.2 El uso de valores P para probar hipotesis, 33 a 3.3.3 Inferencia de la media de una distribucién normal, varianza desconocida 3-34 Inferencia de la varianza de una distribucién normal 3.3.5 Inferencia de una proporcién poblacional 3.3.6 La prohahilidad del etror tipo I 3-3.7 Graficacién de probabilidades INFERENCIA ESTADISTICA PARA DOS MUESTRAS 3-4.1 Inferencia para una diferencia de medias, varianzas conocidas 3-4.2 Inferencia para una diferencia de medias de dos distribuciones normales, varianzas desconocidas 3-43 Inferencia de las varianzas de dos distribuciones normales 3-44 Inferencia de las proporeiones de dos poblaciones {QUE OCURRE CUANDO HAY MAS DE DOS POBLACIONES? EL ANALISIS DE VARIANZA 3-5.1 Un ejemplo 3.5.2 El andlisis de varianza 3.5.3 Verificacién de supuestos: andlisis de residuales 3:1 LOS ESTADISTICOS Y LAS DISTRIBUCIONES DE MUESTREO. 83 VISION BREVE DEL CAP{TULO nl capitulo anterior se discutié el uso de las distribuciones de probabilidad para modelar 0 describir la salida de un proceso. En todos los ejemplos presentados se parti6 del supuesto de que Jos parimetros de la distribucién de probabilidad y, en consecuencia, los parimetros del proceso. eran conocidos. Este supuesto normalmente es muy poco realista, Por ejemplo. cuando se usé la distribu ‘on binomial para modelar el ngimero de unidades disconformes encontradas al hacer el muesireo de un proceso de produccién s supuso que el pardmetro p de la distribucion binomial era conocido, La interpretaciGn fisica de p es que se trata de la verdadera fraccién de unidades ddisconformes producidas por el proceso. Esto es imposible saberlo con exactitud en un Proves die produccién real. Ademés, si se conociera el verdadero valor de p y fuera relativaments Pov tante con el tiempo, podria argumentarse que el monitoreo formal del proceso y los procedi- Mmientox de control serian innecesarios, siempre que p fuera “aceptablemente” pequeta En general, los pardmetros de un proceso son desconocidas; ademas, es comén que cambien con el tiempo. Por lo tanto, es necesario desarrollar procedimientos para estimar os pardmetros Se las distribuciones de probabilidad asi como para resolver otros problemas de inferencia rientados a decisiones que se relacionan con ellos. Las técnicas estadisticas estndares pars tn estimacion de parémetros y la prueba de hipétesis son stiles a este respecto. Estas (fenicas constituyen la base fundamental de gran parte de la metodologia del control estadistico de calidad, En este capitulo se presentan parte de los resultados elementales de la inferencia Sts. Siitica, indicando su utilidad en los problemas de mejoramiento de calidad. Los t6picos clave incluyen la estimacién puntual y en intervalos de confianza para medias, varianzas y parémetros binomiales, la prueba de hip6tesis sobre medias, varianzas y pardmetros binomiales. y el uso de las gréficas de probabilidad normal. 3-1 LOS ESTADISTICOS Y LAS DISTRIBUCIONES DE MUESTREO El objetivo de la inferencia estadistica es sacar conclusiones 0 tomar decisiones acer de una poblacién con base en una muestra seleccionada de la poblacion. Freeventements, $© supondré que cesan muestras alec‘orias en el anélisis. El vérmino “aleatorio” suele aplicarse a cualquier méto- do para seleccionar muestras que carezcan de un orden sistemético, Una muestra — Pit ejemplo. x “x se definiré como una muestra aleatoria de tamafio n si se selecciona de tal modo que las observaciones {x,} tengan una distribucién independiente ¢ idéntica. Esta definicién es Adecuada para muestras aleatorias sacadas de poblaciones infinitas o de poblaciones finitas donde cl muestreo se realiza con reemplazo. En el caso de un muestreo sin reemplazo de una poblacién Finita de N articulos, se dice que una muestra de n articulos es una muestra aleatoria si cada una de las (") muestras posibles tiene la misma probabilidad de ser elegida En la figura 3-1 se ilustra la relacién entre la poblacién y la muestra. sen cuando en la mayoria de 10s métodos que se estudiarin se supondré que se ha usado un mestreo aleatorio, existen varias otfas estrategias de muestreo que en ocasiones son iitiles en el control de calidad. Deberd tenerse cuidado de usar un método de anélisis que sea consistente con cl disefio del muestreo; las técnicas de inferencia planteadas para muestras aleatorias pueden con- ducir a graves errores cuando se aplican a datos obtenidos con otras téenicas de muestreo. capi LO.3_ INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO. Pobiacién H, media poblacional ©. desviacion estandar poblacional Muestia (5, 8. 6.0) 5%. promedio muestra! s, desviacién festéndar muastral i Histograma Figura 31 Relacién entre una poblacidn y una muestra En la inferencia estadistica se utilizan cantidades calculadas a partir de las observaciones de la muestra. Un estadistico se define como cualquier funcién de los datos muestrales que no contiene Pardmetros desconocidos. Por ejemplo, sea que x,, x... X, represente las observaciones de la muestra itonces la media muestral (3-1) la varianza muestral (3-3) son estadisticos. Los estadisticos respectivamente, de la muestra, Si se conoce la distribuci6n de probabilidad de la poblacién de donde se tomé la muestra, con frecuencia es posible determinar la distribucién de probabilidad de diferentes estadisticos calcul. dos a partir de los datos muestrales. A la distribucién de probabilidad de un estadistico se le llama ¥ S (0 S*) describen la tendencia central y la variabilidad, 3-11 3-1 LOS ESTADISTICOS Y LAS DISTRIBUCIONES DE MUESTREO. 85 distribucién de muestreo. Se presentan a continuacién las distribuciones de muestreo asociadas con tres situaciones de muestreo comunes. Muestreo de una distribucién normal Suponer que x es una variable aleatoria que sigue una distribucién normal con media ft y varianza ©. Six). 45. oe, €S una Muestra aleatoria de tamafio n de este proceso, entonces la distribucién de la media muestral ¥ es Nut, o°%/n). Esto se sigue directamente de los resultados de la seccién 2-3.1 sobre la distribucién de las combinaciones lineales de variables aleatorias normales. ta propiedad de la media muestral no se restringe exclusivamente al caso del muestreo de poblaciones normales. Obsérvese que puede escribirse (ayant o yn Por el teorema del limite central se sabe que, independientemente de la distribucién de la pobla- ci6n, la distribucién de ¥",x,es aproximadamente normal con media nyt y varianza no®. Por lo tanto, independientemente de la distribuci6n de la poblacién, la distribucién de muestreo de la media muestral es aproximadamente at x¥~N fm =) n Una distribucién de muestreo importante definida en términos de a distribucién normal es ta distribucién 72 0 ji-cuadrada, Si x, x,,....x, son variables aleatorias que siguen una distribucién normal e independiente con media cero y varianza uno, entonces 1a variable aleatoria Ptxp tet? tiene una distribuci6n ji-cuadrada con n grados de libertad. La distribucién de probabilidad ji- cuadrada con n grados de libertad es En la figura 3-2 se muestran varias distribuciones ji-cuadrada. La distribucién es sesgada con media t =n y varianza 6° = 2n. En la tabla III del apéndige se presenta una tabla de los puntos porcentuales de la distribucién ji-cuadrada, Para ilustrar el uso de la distribuci6n ji-cuadrada, suponer que x,. x. .. x, eS una muestra aleatoria de una distribucién N(j, 0°). Entonces la variable aleatoria ape Mase hiss fo y>0 G-4) 86 CAPITULO 3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO ts — a 0 10 20 30 40 50 60 Figura sgrados de libertad), 2 La distribucién ji-cuadrada para valores seleccionados de n (niimero de lene una distribucién ji-cuadrada con n — 1 grados de libertad. Sin embargo, al utilizar la ecuacion 3-2, que define la varianza muestra, la ecuacién 3-5 puede reescribirse como (n-DS = ucién de muestreo de (n~1)S?/o? es z2_, cuando el muestreo se hace de una distribucién normal Otra distribucién de muestreo util es la distribucién 1. Si x es una variable aleatoria normal estindar y si y es una variable aleatoria ji-cuadrada con k grados de libertad. y si x yy son indepen- dientes, entonces la variable aleatoria 3-6) tiene una distribucién 1 con & grados de libertad. La distribucién de probabilidad de 1 es 7) = Ee vinrk/2) (; } a y Ia media y la varianza de ¢ son = 0 y 0° = kk 2) para k > 2, respectivamente, Los grados de libertad de 1 son los grados de libertad asociados con la variable aleatoria ji-cuadrada en el denomi- hador de la ecuacién 3-6. En Ia figura 3-3 se muestran varias distribuciones 1. Obsérvese que cuando k =~, la distribucién 1 se reduce a la distribucién normal estndar. En la tabla IV del apéndice se presenta una tabla con los puntos porcentuales de la distribucién 1 Como un ejemplo de una variable aleatoria que sigue una distribucién 1, suponer que *, *y X, €8 una muestra aleatoria de la distribucién N(j1, 0°). Si se calculan ¥ y $? de esta 3-1 LOS ESTADISTICOS Y LAS DISTRIBUCIONES DE MUESTREO. 87 6 4 2 0 2 4 6 Figura 3-3 La distribucidn r para valores seleccionados de & (niimero de grados de libertad) muestra, entonces u =H _o/yn ___N(@.1) Sin SI0 kn) utilizando el hecho de que (n—1)S*/o° ~y2_,. Ahora bien, ¥ y S? son independientes, de donde la variable aleatoria Lu Sin -_ tiene una distribucién t conn — 1 grados de libertad. La iiltima distribucién de muestreo basada en el proceso normal que se considerard es la distribucién F. Siw y y son dos variables aleatorias ji-cuadrada con uy v grados de libertad, respectivamente, entonces el cociente wiu yly G9) tiene una distribucién F gon u grados de libertad en el numerador y v grados de libertad en el denominador. Si x es una variable aleatoria F con w grados de libertad en el numerador y v en el denominador, entonces la distribucidn es Oe f= O ™(nhy* me donde [an] es el entero mas grande menor o igual que an. La media y la varianza de ¥ son 72 respectivamente. En ocasiones se usan combinaciones lineales mas generales de vai en el trabajo de la ingenieria de calidad. Por ejemplo, considérese la combinacién lineal ables aleatorias de Poisson Xa t+ yx, G-10) donde las (x;} son variables aleatorias de Poisson independientes que tienen cada una el pardmetro {A,}. respectivamente, y las {a,} son constantes. Este tipo de funcién ocurre en situaciones en las que una unidad de producto puede tener m diferentes tipos de defectos o disconformidades (cada tuna de los cuales se modela con una distribuci6n de Poisson con pardmetro 2.) y la funcién que se Sa para fines de monitoreo de calidad es una combinacién lineal del mimero de disconformidades observadas de cada tipo. Las constantes {a,} de la ecuaciGn 3-16 podrfan escogerse para ponderar algunos tipos de disconformidades con un peso mayor que otras. Por ejemplo, los defectos funcio- nales de una unidad recibirfan un peso mayor que los defectos de apariencia. A estos esquemas se les llama en ocasiones procedimientos de demérito (ver la secciGn 6-3.3). Fn general, la distribu- cidn de L no es de Poisson a menos que todas las a, = I en la ecuaciGn 3-16; es decir, las sumas de variables aleatorias de Poisson independientes tienen una distribucién de Poisson, pero no las * combinaciones lineales mas generales. -2. ESTIMACION PUNTUAL DE PARAMETROS DE PROCESOS Una variable aleatoria se encuentra caracterizada o descrita por su distribucién de probabilidad. Esta distribuci6n esté descrita por sus parémetros. Por ejemplo, la media fl y la varianza 6 de la distribucién normal (ecuacién 2-21) son sus parimetros, mientras que A es el parémetro de la 3-2. ESTIMACION PUNTUAL DE PARAMETROS DE PROCESOS 91 distribucién de Poisson (ecuacién 2-15). En el control estadistico de calidad, la distribucién de probabilidad se utiliza para describir 0 modelar alguna caracteristica de la calidad, como por ejem- plo una dimensién critica de un producto o la fraccién defectuosa del proceso de manufactura. Por lo tanto, nos interesa hacer inferencias acerca de los pardmetros de las distribuciones de probabili- dad. Puesto que los pardmetros por lo general son desconocidos, se requieren procedimientos para estimarlos a partir de los datos muestrale: El estimador de un pardmetro desconocido puede definirse como un estadistico que correspon- de al parimetro. Al valor numérico particular de un estimador, calculado a partir de los datos muestrales, se le llama estimacién. Un estimador puntual es un estadistico que produce un solo valor numérico como estimacién de! pardmetro desconocido. Para ilustrar, considérese aleatoria x con la distribuci6n de probabilidad f(x) ilustrada en la figura 3-1. Suponer que tanto la ‘media 4 como la varianza 6° de esta distribucién son desconocidas. Si se toma una muestra aleatoria de n observaciones, entonces la media muestral ¥ y la varianza muestral S? son estimadores puntuales de la media poblacional 41 y de la varianza poblacional o°, respectivamente. Suponer que esta distribucién representa un proceso que produce rodamientos y que la variable aleatoria x es el diémetro interior. Quieren obtenerse estimaciones puntuales de la media y la varianza del didmetro interior de los rodamientos fabricado en este proceso. Podria medirse el didmetro interior de una muestra aleatoria de n = 20 rodamientos (por ejemplo). Después podria calcularse la medi muestral y la varianza muestra. Si se obtiene X = 1.495 y S* = 0.001, entonces la estimacion puntual de 1 es f= ¥= 1.495 y la estimaci6n puntual de o° es 6*= 5? = 0.001. Recuérdese que el simbolo “*” se emplea para denotar una estimacién de un pardémetro. La media y la varianza de una distribucién no son necesariamente los pardmetros de la misma. Por ejemplo, el parimetro de la distribucién de Poisson es A, mientras que su media y su varianza son = Ay 6° = 2 (tanto la media como la varianza son 2), y los pardmetros de la distribucién binomial son n y p. mientras que su media y su varianza son jt = np y 0 = np(| ~ p). respectivamente. Puede demostrarse que un buen estimador puntual del parametro 2 de una distribucién de Poisson es para n fija. En la distribuci6n binomial, las observaciones en la muestra aleatoria {x} son 1 0 0, que corresponden a “éxito” y “fracaso”, respectivamente. Los buenos estimadores puntuales deben tener varias propiedades importantes. Dos de las més importantes propiedades son las siguientes: 1. Elestimador puntual deberd ser insesgado. Es decir, el valor esperado del estimador pun- tual deberd ser el parémetro que se est estimando. 2, El estimador puntual deberd tener minima varianza. Todo estimador puntual es una va- riable aleatoria, Por tanto, un estimador puntual de varianza minima deberé tener una varianza que sea menor que la varianza de cualquier otro estimador puntual de ese pardmetro. CAPITULO 3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO La media y la varianza muestrales X y S* son estimadores insesgados de Ja media y la varianza poblacionales \1 y 6°, respectivamente. Es decir, EG)=p y ES") donde el operador E es simplemente el operador valor esperado, una forma abreviada de denotar el proceso de encontrar la media de una variable aleatoria. La desviaciGn esténdar muestral $ no es un estimador insesgado de la desviaci6n estindar poblacional o. Puede demostrarse que 2 e( 2 ) T(n/2) ae ee) n-1) T(n-1)/2] =0,0 (3-17) En la tabla VI del apéndice se presentan los valores de c, para los tamafios de la muestra 2 - ai (3-18) En muchas aplicaciones de la estadistica a problemas de ingenieria de calidad es conveniente estimar la desviacién estindar por el método del rango. Sea x,, X,, ... ¥, una muestra aleatoria de 1n observaciones de una distribucin normal con media {1 y varianza 6°. El rango de la muestra es R= max(x,)—min(x,) = Xia ~ Xin 3-19) el rango R es simplemente la diferencia entre la observacién muestral més grande y la més pequefia. A la variable aleatoria W = R/o se le llama el rango relativo. La distribucién de W se ha estudiado a fondo. La media de W es una constante d, que depende del tamafio de la muestra. Es decir £(W) = d,, Por lo tanto, un estimador insesgado de la desviaci6n estindar o de una distri- bucién normal es ca (3-20) En la tabla VI del apéndice se presentan los valores de d, para los tamafios de la muestra 2 10—, el rango pierde eficiencia con rapidez, ya que ignora toda la informacién de 1a muestra entre los extremos, Sin embargo, para tamaios de la thuestra pequetios —por ejemplo, n < 6— funciona muy bien y es completamente satisfactorio. En tl capitulo 5 se usard el método del rango para estimar Ia desviacién esténdar de ciertos tpos de cartas de control 3-3. INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA Las técnicas de la inferencia estadfstica pueden clasificarse en dos categorias generales: la estima- cién de pardmetros y la prueba de hipétesis. Se ha hecho ya una breve introduccién de la idea general de la estimacién puntual de los pardmetros del proceso. Una hipétesis estadistica es un enunciado acerca de los valores de los pardmetros de una distribucion de probabilidad. Por ejemplo, suponer que se piensa que el didmetro interior medio de tun rodamiento es 1.500 pulgadas. Este enunciado puede expresarse de manera formal como H,: =1.500 H,: w# 1.500 G21) Alenunciado H,; jt = 1.500 de la ecuaci6n 3-21 se le lama la hipétesis nula, y a Hw 1.500 ce le llama la hipétesis alternativa. En nuestro ejemplo, H, especifica los valores del didmetro medio que son mayores que 1.500 0 bien menores que 1.500, y se le llama hiptesis alternative de dos colas. Dependiendo del problema, pueden ser apropiadas diferentes hipétesis alternativas de una cola. Los procedimiento para probar hipétesis son muy ditiles entmuchos tipos de problemas de control estadistico de calidad. Asimismo, constituyen el fundamento de la mayoria de las técni- coe de control estadistico de procesos que se describirén en las partes II y III de este libro de texto, Una parte importante de cualquier problema de prueba de hipétesis es determinar los valores de los pardmetros especificados en las hip6tesis nula y alternativa. Bn general, esto se hace en una de tres maneras, Primera, los valores pueden resultar de evidencia © conocimientos pasados, Esta situacién ocurre con frecuencia en el control estadfstico de calidad, donde se usa fnformaci6n pasada para especificar los valores de un parémetro que corresponde a un estado de CAPITULO 3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO control, y después se prueba periddicamente la hipétesis Ge que el valor del parémetro no ha cambiado, Segunda, los valores pueden resultar de alguna teoria 0 modelo del proceso. Por tiltimo, os valores elegidos para el pardmetro pueden ser resultado de especificaciones contractuales 0 del disefio, una situacién que es frecuente. Los procedimientos para probar hipétesis estadisticas pueden usarse para verificar la conformidad de los parimetros del proceso con sus valores especificados, 0 como ayuda para modificar el proceso hasta obtener los valores deseados Para probar una hipétesis, se toma una muestra aleatoria de la poblacién bajo estudio. se calcula un estadistico de prueba apropiado, y después la hipstesis nula H, se rechaza o no se recha- za. Al conjunto de valores del estadistico de la prueba que Hevan al rechazo de H, se le Hama la regién critica o regién de rechazo de la prueba, Cuando se prueban hipétesis pueden cometerse dos tipos de errores. Si la hipstesis nula se recha- za cuando es verdadera, entonces se ha cometido un error tipo 1. Si la hipétesis nula no se rechaza cuando es falsa, entonces se ha cometido un error tipo II. Las probabilidades de estos dos tipos de errores se denotan como 0 = Plerror tipo} = P{rechazar H,|H, es verdadera} B= Plerrortipoll P(dejar de rechazar H,|/Hy es falsa} En ocasiones es més conveniente trabajar con la potencia de la prueba, donde Potencia: Ptrechazar H,\H, es falsa) Por tanto, la potencia es la probabilidad de rechazar correctamente H,, En el trabajo de control de calidad, a ose le lama en ocasiones el riesgo del productor, porque denota la probabilidad de que un lote bueno sea rechazado, 0 la probabilidad de que un proceso que produce valores aceptables de una caracterfstica particular de la calidad sea rechazado por tener un desempeio insatisfactorio. Por otra parte, a f en ocasiones se le lama el riesgo del consumidor, porque denota la probabili- dad de aceptar un lote de calidad pobre, 0 de permitir que contintie en operacién un proceso que est operando de manera insatisfactoria con respecto a alguna caracteristica de la calidad. E] procedimiento general en la prueba de hipétesis es especificar un valor de la probabilidad c. del error tipo I, y después designar un procedimiento de prueba para que se obtenga un valor pequefio de la probabilidad del error tipo Il. Por tanto, se habla de controlar o elegir directamente el riesgo Por lo generat el riesgo B es una funcién del tamafio de la muestra y se controla indirectamente. Entre mayor sea el tamafio de la muestra empleado en Ia prueba, menor serd el riesgo . En esta seccién se revisafn los procedimientos para probar hipdtesis cuando se ha tomado una sola muestra de n observaciones del proceso. Se indicaré asimismo la manera en que Ia informa- cién acerca de los valores de los pardmetros del proceso incluida en esta muestra puede expresarse en términos de la estimaci6n de un intervalo Hamado intervalo de confianza. En la seccién 3-4 se consideraré la inferencia estadistica para dos muestras de dos procesos posiblemente diferentes. Inferencia de la media de una poblacién, varianza conocida Prueba de hipétesis Suponer que x es una variable aleatoria con media desconocida 1 y varianza 6° conocida. Se desea probar la hipétesis de que Ia media es igual al valor estindar —por ejemplo, j1,. La hipstesis puede 33 INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA 95 enunciarse formalmente como Hy W= Hy Hy: bby (3-22) El procedimiento para probar esta hipstesis consiste en tomar una muestra aleatoria de n observa- ciones de Ia variable aleatoria x, calcular el estadistico de la prueba y rechazar H, si |Zo|> Z,.. donde Z,,, es el punto porcentual a/2 superior de la distribucién normal estind: Puede darse una justificacién intuitiva de este procedimiento de prueba. Por el teorema del limite central, se sabe que la media mueswal ¥ tiene 1a disuibucién aproximada N(a, 7/n). Ahora bien, si H,: t=, es verdadera, entonces el estadistico de la prueba Z, tiene la distribucién aproxi- mada N(0, 1); por consiguiente, serfa de esperarse que 100(1 — 01)% de los valores de Z, estén incluidos entre -Z,,, y Z,.. Una muestra que produzca un valor de Z, fuera de estos limites seria inusual si la hip6tesis nula fuera verdadera, y es evidencia de que H,: | = Hl, deberia rechazarse. Obsérvese que «es la probabilidad del error tipo I de la prueba, y que los intervalos (Z,,,. °°) y (-*, -Z,,) forman la regién critica de la prueba. En algunas situaciones quiere rechazarse H, s6lo si la verdadera media es mayor que }1,, Por tanto, la hipotesis alternativa de una cola es H): | > Ul,, y se rechazaria H,: = u, solo si Z, > Z,. Si s6lo se desea el rechazo cuando l < ul,, entonces la hipotesis alternativa es H,: < ply, ¥ se rechaza H, s6lo si Z, < ~ EJEMPLO 3-1 +++ La resistencia a la presién interna de las botellas de cristal para envasar una bebida carbonatada es una caracterfstica importante de la calidad. La embotelladora desea saber si la resistencia a la presién media excede 175 psi. Por la experiencia anterior, se sabe que la desviaci6n esténdar de la resistencia a la presiOn es de 10 psi. El fabricante de las botellas le hace Hlegar un lote de estas botellas a la embotelladora, la cual esté interesada en probar la hipétesis Aogii=15 H,: w>175 Obsérvese que el lote se aceptard si la hipétesis nula H,; 1 = 175 es rechazada. Se selecciona una muestra aleatoria de 25 botellas, las cuales se colocan en una maquina de prueba de presién hidrostética que incrementa la presiGn dentro de la botella hasta que estalla. La resistencia muestral FATULO3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO io al estallamiento es X= 182 psi. El valor del estadistico de prueba es My _ 182-175 sin 10/425 » especifica un error tipo I (o riesgo del productor) de & = 0.05, entonces por la tabla II del réndice se encuentra que Z, = Z,,. = 1.645. Por lo tanto, se rechaza H,: 1 = 175 y se concluye que 4 resistencia a la presién media excede 175 psi. fntervalos de confianza stimacién del intervalo de un parimetro es el intervalo entre dos estadisticos que incluye el verdadero valor del parimetro con cierta probabilidad. Por ejemplo, para construir un estimador tervalo de la media 1, deben encontrarse dos estadisticos L y U tales que P(LSpsU} (3-24) ! intervalo resultante Lspsu « le llama interval de confianza del 100(1 ~ «1)% para la media [t desconocida. A L y U se les «mia los limites de confianza inferior y superior, respectivamente, y a 1 — ct se le lama el coeti- seme de confianza (nivel de confianza). En ocasiones la anchura de la mitad del intervalo U — 1 0 + J, se denomina la precisién del intervalo de confianza. La interpretacién de un intervalo de ‘onfianza es que si se construye un gran niimero de estos intervalos, cada uno de ellos resultante 4e una muestra aleatoria, entonces el 100(1 — @)% de estos intervalos contendrén el verdadero valor de jt, Por tanto, los intervalos de confianza tienen una interpretacion de frecuencia. FI intervalo de confianza (3-24) podria lamarse propiamente intervalo de confianza de dos lado, ya que especifica tanto un limite inferior como un limite superior para 1. En ocasiones en las aplicaciones de control de calidad podria ser més apropiado un intervalo de confianza de un lado. Un intervalo de confianza inferior de un lado del 100(1 — «)% para 1 estarfa dado por el intervalo Leu (3-25) tonde L, el limite de confianza inferior, se elige de tal modo que P(L Z,.} = a2 Obsérvese que ¥ tiene una distribucién aproximada Nu, on) independientemente de la dis- tribuci6n de x, por el teorema del limite central. Por consiguiente, la ecuaci6n 3-29 es un intervalo de confianza aproximado de! 100(1 ~ c#)% para } independientememte de la distribucién de x. Si x tiene la distribucién N(j, 6°), entonces la ecuacién 3-29 es un intervalo de confianza exacto del 100(1 — «)%. Ademds, un intervalo de confianza superior del 100(1 ~ @)% para jt es s o Wst+Z,—— (3-30) mientras que un intervalo de confianza inferior del 100(1 — )% para H es a= SH : re 31) EJEMPLO 3-20 ++ +esseeeeeseeee Considérese de nuevo el escenario de Ia prueba de las botellas del ejemplo 3-i. Puesto que X= 182 psi, se sabe que una estimacién puntual razonable para la resistencia media al estallamiento es ft = 182 psi. También puede encontrarse un intervalo de confianza del 100(1 ~ «)% para H. Supo~ ner que se especifica un intervalo de confianza de dos lados del 95%. Entonces por 1a ecuacién 3-29 puede calcularse ¥-Zan ie SUST+Zy 2 10 182-196

Ho (Z,) para una pruebade colainferior, Hy :H=Ho Hy: fya,—1» donde fyn,_, denota el punto porcentual Gi? superior de la distribucin r con n — 1 grados de libertad, Las regiones criticas para las hip6tesis siternativas de una cola son las siguientes: si HL, > Hy entonces H, se rechaza si fy > fay. 81M, U1, < Hy entonces H, se rechaza si f, <~f,,_- También podria calcularse el valor P para Nn prueba Lat Blayorfa de los paquetes de software de estadfstica reportan el valor P junto con el valor calculado de 00 CAPITULO. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO Tabla 3-1 Mediciones de la resistencia a la tensién de una fibra sintética Ejemplar de prueba Resistencia (psi) 1 48.89 2 52.07 3 49.29 4 51.66 5 52.16 6 49.72 7 48.00 8 49.96 9 49.20 10 48.10 i 47.90 2 46.94 13 51.76 14 50.75 15, 49.86 16 5137 «++ EJEMPLO 3-30 eeeseeeeeee os La resistencia la tensién media de una fibra sintética es una caracteristica importante de la calidad que es de interés para e! fabricante, a quien le gustarfa probar la hipétesis de que la resis- tenia media es 50 psi, utilizando o: = 0.05. Por la experiencia pasada, el fabricante esta dispuesto a asumir que la resistencia a la tensi6n tiene una distribuci6n aproximadamente normal; sin embar- 20, se desconocen tanto la resistencia a la tensién media como la desviaci6n estandar de la resis- tencia a la tensién, Se selecciona una muestra aleatoria de 16 ejemplares-de prueba de la fibra, y se determinan sus resistencias de tensién. En la tabla 3-1 se muestran los datos de la muestra. La media muestral y la desviacién estindar muestral de los datos de la resistencia a la tensién pueden calcularse como 1 — (797.83) = 49.86 psi 16 z 2 39824,69 — 097-83)" Ey oe De 15 ¥2.76 = 1.66 psi 3-3. INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA —- 101 Las hipétesis son y el estadistico de la prueba (ecuacién 3-33) es ea Baty, to Sin _ 49.86 10 1.66/16 =-0.34 Puesto que el valor calculado de 1, no excede fy95 5 = 2-131 Ri ~fygy4,5 = ~2-131, no puede rechazarse H,, Se concluye que no hay evidencia de peso que indique que la resistencia media difiere de 50 psi Intervalo de confianza para la media de una distribucién normal con varianza desconocida Suponer que x es una variable aleatoria normal con media . desconocida y varianza o* desconoci- da, A partir de una muestra aleatoria de n observaciones se calcula la media muestral % y la varianza muestral $2, Entonces un intervalo de confianza de dos lados del 100(1 — 0)% para la verdadera media es (3-34) donde f,,,.- denota el punto porcentual de la distribucién t con n ~ 1 grados de libertad tal que Pit, , ty, ,} = 0/2. Los intervalos de confianza superior e inferior del 1Q0(1 — 0% corres- pondientes son SEH tony 102 CAPITULO 3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO 2 < far pe SB (G36) | respectivamente. EVERIO S25 “iove ole 9 siausle| oteicpecer=yelclaiatetn|s-oceyeeeyel abate «cee ein Considerar de nuevo los datos del ejemplo 3-3 referentes a la resistencia a la tensién de la fibra, Al utilizar la ecuacién 3-34, puede encontrarse un intervalo de confianza del 95% para la resistencia media como sigue: 49.86-2.1324

Kare 9 St XG < Xi ern GONdE ZeronsY Xi-nan-1 $00 los puntos Porcentiales o/2 superior y 1 ~ (0/2) inferior de la distribucién ji-cuadrada con n ~ 1. grados de liberal Si se especifica una hipstesis alterativa de una cola —por ejemplo, H, -0° <0), enton- ces 1, se rechazaria Si 2G, 03, Hy se rey SiG > Xai Vsta prucba es muy stil en muchas aplicaciones de mejoramiento de calidad. Por ejemplo, considevese una variable aleatoria normal con media Ht y varianza 6°. Si o* es menor o igual que cierto valor —por ejemplo, 62 —, entonces la dispersién natural inherente del proceso quedaré muy adentro de los requerimientos del disefiv y, por consiguiente, casi toda la produccién cumpliré con las especificaciones. Sin embargo, si o excede o}, entonces la dispersién natural del proceso exvewtera los limites de las especificaciones, dando como resultado un alto porcentaje de la produc- cion ssconforme o “porcién caida”. En otras palabras, la capacidad del proceso se relaciona directameste con la variabilidad del proceso. Las ecuaciones 3-37 y 3-38 pueden usarse para analicat muchas otras situaciones similares y, como se verd més adelante, forman la base para el Monitoreo procedimiento de control de la variabilidad del proceso. Intervalo de confianza para la varianza de una distribucién normal Supone: que v es una variable aleatoria normal con media jt desconocida y varianza 6? desconoci- da. Se gue la varianza S? se calcule a partir de una muestra aleatoria de n observaciones. Entonces un inte: valo de confianza de dos lados del 100(1 - 0% para la varianza es DS" ore HDS : Pe ee? dongs denota el punto porcentual de la distribucién ji-cuadrada tal que P(X? > Xa)a0-1) « Se desean intervalos de confianza de un lado, pueden obtenerse con la ecuacién 3-39 =o2. 3-3.5 3.3. INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA 105 utilizando sélo el limite superior (0 inferior) con el nivel de probabilidad incrementado de a/2 a 0. Es decir, los intervalos de confianza superior e inferior del 100(1 — 0)% son oto WEDS 2 3-4 Kian oy (3-41) respectivamente, Pueden usarse los datos del ejemplo 3-3 para dar una demostracién del célculo de tn intervalo de confianza del 95% (por ejemplo) para o°. Obsérvese que para los datos de la tabla 3-1 'se tiene S? = 2.76, Por la tabla IIT del apéndice. se encuentra que Zijqsis = 27-499 QUE Losrsis = 6.27 Por Jo tanto, por la ecuacién 3-39 se encuentra que el intervalo de confianza de dos colas del 95% para 6° es (19)2.76 ¢ G2 ¢ (15)2.76 27.49 627. que se reduce a 1.51<0* $6.60 Inferencia de una proporcién poblacional Prueba de hipétesis Suponer que quiere probarse la hipétesis de que In proporcin p de una poblacién es igual a un valor esténdar —por ejemplo p,. La prueba que se describird se basa en la aproximaci6n normal de ta distribucién binomial. Si se toma una muestra aleatoria de n articulos de la poblacién y x articu- los de la muestra pertenecen a la clase asociada con p, entonces para probar Ho: P= Po Ay: p# Po (3-42) 108 cAPrTuLO3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO Bajo H, Bajo H, Figura 46 La distribucién de Z, bajo H, y H, de Z,. Suponer que la media de la distribucidn es en realidad \1, = u,, + 8, donde & > 0. Por tanto, la ipotesis alternativa H,: Lt # UL, es verdadera, y bajo este supuesto la distribucién del estad la prueba Z, es bn ao al f e a (3-45) En la figura 3-6 se muestra la distribucién del estadistico de la prucba Z, bajo ambas hipotesis, H, y H,, Se observa que la probabilidad del error tipo Iles la probabilidad de que Z, se localice entre Z,. dado que 1a hipétesis alternativa H, es verdadera. Para evaluar esta probabilidad, debe encontrarse F(Z,,) ~ F(-Z,,), donde F denota la funcién de la distribucién acumulada de la distr- bucién N(SVn/o, 1). En términos de la distribucién normal esténdar acumulada, se tiene entonces ico de Byn cokes es (3-46) como la probabilidad del error tipo II. Esta ecuacién también es vélida cuando & <0. oor t EAP TOES 70 eae oro aiae grees atte etter trees eet seen ree Se aes eee Se esté estudiando el contenido medio de unas latas de café lenadas en una linea de produccién Particular. Los esténdares especifican que el contenido medio debe ser 16.0 02, y por experiencia pasada se sabe que la desviaci6n esténdar del contenido de las latas es de 0.1 oz. Las hipétesis son H=160 Hy: 1 #160 Debe usarse una muestra aleatoria de nueve latas, y la probabilidad del error tipo I se especifica como a = 0,05. Por lo tanto, el estadistico de la prueba es 16.0 a9 3:3. INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA 109 y A, se rechaza si |Z|>Z,o.. II siel verdadero contenido medio son 41, = 16.1 07. Puesto que esto implica que = 16.0 = 0.1, se ti 1.96, Supoher que quiere encontrarse la probabilidad del error tipo —H, = 16.1 avn o (0. 5@)) =1,96-———— =9/ 1.96- ore) = @(-1.04) - @(-4.96) = 0.1492 Es decir, la probabilidad de que deje de rechazarse incorrectamente H, si el verdadero contenido medio son 16.1 07 es 0.1492, De manera equivalente, puede decirse que la potencia de la prueba es 1- B= 1- 0.1492 = 0.8508. ‘Al examinar la ecuaci6n 3-46 y la figura 3-6 se observa que B es una funcién de n, 8 y a. Si acostumbra graficar las curvas que ilustran la relacién entre estos pardmetros. En la figura 3-7 se muestra un conjunto de estas curvas para ot = 0.05. Estas grdficas suelen Namarse curvas de operacién caracteristica (OC). El parémetro del eje vertical de estas curvas es B, y el parametro del eje horizontal es d = |8/o. Al examinar las curvas de operaci6n caracteristica se observa que 1. Entre mas alejada esté la verdadera media {1, del valor supuesto en la hipotesis 1, (i.c., entre mayor sea el valor de 8), menor es la probabilidad del error tipo II para n y ot dadas. Figura 3-7 Curvas de operacién caracteristica para la prueba normal de dos colas con = 0.05, (Reproducida con permiso de C. L. Ferris, FE. Grubbs y C. L. Weaver, “Operating Characteristic Curves for the Common Statistical Tests of Significance”, en Annals of Mathematical Stetistics, ju- rio de 1946.) 3-3 INFERENCIA ESTADISTICA PARA UNA SOLA MUESTRA 107. (3-44) Si n es pequefia, entonces deberd usarse la distribucién binomial para establecer el intervalo de confianza para p. Sin es grande pero p es pequefia, entonces la aproximaci6n de Poisson de la distribucién binomial es util para construir intervalos de confianza. En Duncan (2) se presentan ejemplos de los dos tltimos procedimientos. RJEMPLONGG 3% ;s, « gishelstars Wien cblantictsle vteichars Ml aim asaya Koh ss 6 En una muestra aleatoria de 80 rodamientos de ales para automotores, 15 de los rodamientos tienen un terminado superficial cuya aspereza rebasa lo que permiten las especificaciones. La estimacién puntual de la fr disconforme del proceso es ‘Ss 80 Suponiendo que es apropiada la aproximacién normal de la distribucién binomial, un intervalo de confianza del 95% para la fraccién disconforme del proceso que se encuentra con la ecuacién 3-44 es 0.1875 0:1875-1.96 [2875 O8125) < <9 1975 + 1,96 | 2187508125 80 80 que se reduce a 0.1020< p< 0.2730 La probabilidad del error tipo II En la mayorfa de las situaciones de prueba de hipétesis, es importante determinar la probabilidad del error tipo II asociado con la prueba. De manera equivalente, puede optarse por evaluar la potencia de la prueba. Para ilustrar la manera en que se hace esto, se encontrar la probabilidad de! error tipo II con la prueba de Hy: W=Hy Hy: H# hy donde la varianza o? es conocida, El procedimiento de prueba se discutié en la seccién 3-3.1. El estadistico de la prueba para esta hipétesis es Ea oivn y bajo la hipétesis nula la distribuci6n de Z, es N(O, 1). Para encontrar la probabilidad del error tipo I, es necesario suponer que la hipstesis nula H,: = ji, es falsa y encontrar después la distribuci6n Zy Ie ENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO aésico (x+0.5)=npy =) (x-0.5)—np, (3-43) six 0.1 puede usarse la aproximacién normal de la distribucién binomial, siendo el resulta- = = ==-20 de confianza del 100(1 — 0%. 10 CAPITULO 3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCE! Es decir, para un tama facilidad las diferencia fio de la muestra y 0: especificados, la prueba detectardé con mayor grandes que las pequefias. 2. Conforme el tamaiio de la muestra n se ineremente, la probabilidad del error tipo Il se ¢ mas pequefia para 6 y 0: especificadas. Es decir, para detectar una difere icia especi la poteneia de la prueba puede aumentarse incrementando el tamaiio de la muestra ficada Las curvas de operacién caracteristis muestra para detectar una diferene son titiles para determinar el tamano que debe tener una ie te con una probabilidad particular. Como una ilus- Nn. suponer que en el ejemplo 3-7 quiere determinarse el tamaio que debe tener la muestra para que la probabilidad de rechazar H,; {i = 16.0 si la verdadera media es t = 16.05 sea 0.90, Puesto que 8 = 16.05 ~ 16.0 = 0.05, se tiene d = |8\/o =|0.05/0.1= 0.5. Por la figura 3-7 con B = 0.10 y d= 0.5, se encuentra n = 45, aproximadamente. Es decir, deben tomarse 45 observaciones Para asegurar que la prueba tendrd la probabilidad deseada del error tipo TL Se cuenta con curvas de operacién caracteristica para la mayoria de las pruebas estadisticas estindares que se discuten en este capitulo. Para una discusi6n detallada del uso de las curvas de operacion istica, ver Hines y Montgomery (1) 0 Montgomery y Runger (12). Graficacién de probabilidades En muchos problemas de ingenierfa de calidad el analista no conoce la distribucién fundamental de la poblacién, y seria conveniente tener un procedimiento para probar la hip6tesis de que una distribucién particular es satisfactoria como modelo del proceso o la poblacién, A este tipo de Problema general se le llama con frecuencia prueba de la bondad del ajuste. Se cuenta con metodos analiticos formales para probar la bondad del ajuste; para una introduc vedimientos, ver Montgomery y Runger (12). Los métodos gréficos también son stiles cuando se esté seleccionando una distribucién de probabilidad para describir una poblacién. La graficacién de probabilidades es un método gréfi- co para determinar si los datos muestrales se ajustan a una distribucién que se ha supuesto con base en un examen visual subjetivo de los datos. El procedimiento general es muy simple y puede Hevarse a cabo con rapidez. En la graficacién de probabilidades se utiliza de manera tipica papel ifico especial, conocido como papel de probabilidad, que se ha disefiado para la distribucién supuesta, Es sencillo conseguir papel de probabilidad para las distribuciones normal, lognormal, dle Weibull, asf como para diferentes distribuciones ji-cuadrada y gamma. Para construir una grifica de probabilidad, primero se ordenan las observaciones de la muestra ule menor a mayor. Es decir, la muestra x, xy, X, $€ Ordena COMO yy ay --m Xp donde x4, €5 8 observacién menor, x, €S la segunda observacion menor, y asf sucesivamente, cons, como la ma yor. Después las observaciones ordenadas x, se grafican contra su frecuencia acumulada observada — 0.5)/n en el papel de probabilidad apropiado. Si la distribuciGn supuesta describe adecuada- mente los datos, los puntos graficados se localizardn aproximadamente sobre una linea recta; si los Puntos graficados se apartan significativamente de una linea recta, entonces el modelo supuesto no ©s apropiado. En general, determinar si la gréfica de los datos es una linea recta 0 no es una Zyj2 0 bien zy <—Zyra Hy i, Bh, > A, to > Sa Ay Hy ~H < dy Sa < Za EJEMPLO 3-9. - El desarrollador de un producto esté interesado en reducir el tiempo de secado de una pintura tapaporo. Se prueban dos formulaciones de la pintura; la formulacién | tiene 1a composicién q mica estindar, y la formulaci6n 2 tiene un nuevo ingrediente de sezado que deberia reducir e 1 tiempo de secado. Por experiencia, se sabe que la desviaci6n estandar del tiempo de secado es de & minutos, y esta variabilidad inherente no deberd ser atectada por la adicién del nuevo ingrediente. Se pintan diez ejemplares de prueba con la formulacién 1, y otros 10 ejemplares de prueba se Pintan con la formulacién 2; los 20 ejemplares de prueba se pintan en orden aleatorio. Los dos tiempos promedio de secado muestrales son conelusiones puede sacar el desarrollador del producto acerca de la efectividad del nuevo ingre diente, utilizando o = 0.05? Las hipétesis de interés aqui son Ay My - Wy =0 ALM, —H, > 0 ©, de manera equivalente, Ay thy =H, Ay: >My Ahora bien, como x,= 121 ‘min y x,= 112 min, el estadistico de prueba es =1 pee ele le. 5 oie 8) , 8 10” 10 Puesto que el estadistico de prueba Z, = 2.52 > Z,.g 121 min y ¥,= 112 min, respectivamente. ;Qué 1.645, se rechaza H,; |, = 1, con el nivel & = 0.05 y se concluye que afiadir el nuevo ingrediente a la pintura reduce significativamente el 3-4.2 34 INFERENCIA ESTADISTICA PARA DOS MUESTRAS 117 tiempo de secado. De manera alternativa, puede encontrarse el valor P para esta prueba como Valor P ~ (2.52) = 0.0059 Por lo tanto, H,;: |, = fl, se rechazaria con cualquier nivel de significacién o 2 0.0059. Intervalo de confianza para una diferencia de medias, varianzas conocidas EI intervalo de confianza del 100(1 — @)% para la diferencia de dos medias Ht, ~ jt, cuando las varianzas son conocidas puede encontrarse directamente a partir de los resultados dados anteriormen- te en esta seccién, Recuérdese que X)y.%jzy «+++, €8 una muestra aleatoria de n, obse primera poblacién y que -*5.¥s5. «-++¥z,, €8 una muestra aleatoria de n, observaciones de la segunda poblacién. Si X,y X,son las medias de estas dos muestras, entonces un intervalo de confianza del 100(1 = «1% para la diferencia de las medias 41, ~ [est dado por la siguiente expresi6n. ones de la | eae | | | Se trata de un intervalo de confianza de dos lados. Los intervalos de confianza de un lado pueden obtenerse utilizando el enfoque ilustrado en la seccién 3-3 para el caso de una sola muestra. Inferencia para una diferencia de medias de dos distribuciones normales, varianzas desconocidas Se amplian ahora los resultados de la secci6n anterior a la diferencia de medias de las dos distribu- ciones de la figura 3-11 cuando las varianzas ? yo} de ambas distribuciones son desconocidas Si los tamafios de la muestras n, ym, exceden 30, entonces podrian usarse los procedimientos de la distribucién normal de la seccién 3-4.1. Sin embargo, cuando se toman muestras pequefias, se supondré que las poblaciones siguen una distribuciGn normal y las pruebas de hipotesis y los inter- valos de confianza se basarén en la distribucién 1, Se trata de un afortunado paralelo del caso de la inferencia de la media de una sola muestra con varianza desconocida. Pruebas de hipétesis sobre la diferencia de medias Se consideran ahora las pruebas de hipdtesis sobre la diferencia de medias 1, — u, de dos distribuciones normales donde las varianzas 6? y G3 son desconocidas. Se usar el estadistico 1 para probar estas hipétesis. Como ya se sefiald, se requiere el supuesto de normalidad para desarrollar el procedimiento de prueba, pero desviaciones moderadas de la normalidad no 18 CAPITULO 3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO afectan adversamente el procedimiento. Deben abordarse dos situaciones diferentes. En la primera, se supone que las varianzas de las dos distribuciones normales son desconocidas pero iguales: es decir o? 0°. En la segunda, se supone que o? yo3 son desconocidas y no necesariamente iguales Caso 1: 6} =6 Suponer que se tienen dos poblaciones normales independientes con medias desconocidas H, Y Hy y varlanzas desconocidas pero iguales. oj = 0; = 0°. Quiere probarse Hy 2M, — Ha = Ay Ay: 4 Bo (3-50) ),, una muestra aleatoria de m, observaciones de la primera poblacién y --%;,, una muestra aleatoria de n, observaciones de la segunda poblacién. Sean S3 las medias muestrales y las varianzas muestrales, respectivamente. Entonces el valor esperado de la Aiferencia de las medias muestrales xy —Xy€8 ECE, ~%,) =H —Hs-por lo que XX, V(x, =X) Parece razonable combinar las dos varianzas muestrales $? El estimador agrupado de 6” se define como sigue. y $3 para formar un estimador de El estimador agrupado de 0”, denotado S;,esta definido por (my = DSF +(n, - 53 Myth, —2 G-51) Es sencillo ver que el estimador agrupado > puede escribirse como nn ntn,—2 = wS} +(1-w)S? 2 5, donde 0 < w < 1. Por tanto, 53es un promedio ponderado de las dos varianzas muestrales SY ‘S}, donde las ponderaciones w y 1 — w dependen de los dos tamaiios de la muestras n, y n,. Obvia- mente, n, entonces w = 0.5 y S} es simplemente el promedio aritmético de S? y S3.Si n, = 10 y n, = 20 (por ejemplo), entonces w = 0.32 y 1 - w = 0.68. La primera muestra contribuye con, ~ 1 grados de libertad para S? y la segunda muestra contribuye con n, — 1 grados de libertad Por lo tanto, S$? tiene n, + n, ~ 2 grados de libertad. 34 INFERENCIA ESTADISTICA PARA DOS MUESTRAS 119. Ahora bien, se sabe que tiene una distribucién N(O, 1). Al sustituir con S, se Hega al siguiente resultado. (3-52) tiene una distribucién t con n, +n, ~ 2 grados de libertad. ‘Ahora es directo el uso de esta informacién para probar las hipétesis de la ecuacién 3-50: simplemen- te se sustituye jt, ~ 4, con A,, y el estadistico de la prueba resultante tiene una distribuci6n con n, +n, ~2 grados de libertad bajo la hipstesis nula H,; jt, ~ = 4,- La localizacién de la regiGn critica para las hipstesis alternativas tanto de dos como de una cola es la misma que en el caso de una sola muestra. La prueba ¢ agrupada para dos muestras' Hipétesis nula: Hy ty Ha = Ao =%,-A Estadistico de prueba’ a, (3-53) Hipétesis alternativas __Criterio de rechazo Hy 2th, “Ha #49 fo > farrayen-2 0 bien ty <—basrntny-2 Hy iM, By > Ao fo > ba ntm2 Hy :Hy—H2 fui2.-4 En el ejemplo tratado aqui se encuentra que 1.38 ey a3 Por lo tanto, el estadistico de la prueba es id — aden 188 conse S,/n 2.67/48 Al elegir & = 0.05, se obtiene #,,.,, = 2.365 y se coneluye que no hay evidencia definitiva que indique que las dos méquinas difieren en las mediciones medias de la resistencia a la tensi6n (el valor P es P = 0.1877). 46 3-4. INFERENCIA ESTADISTICA PARA DOS MUESTRAS = 127 Inferencia de las varianzasde dos distribuciones normales Prueba de hipétesis Considérese la prueba de la hipétesis de que las varianzas de dos distribuciones normales indepen- dientes son iguales. Si se toman las muestras aleatorias de tamaios nm, y n, de las poblaciones 1 y 2. respectivamente, entonces el estadistico de la prueba para (3-58) Se rechazarfa H, si Fy > Fare -te-1 0 St Fy 0; Ea yok, Intervalo de confianza para el cociente de las varianzas de dos distribuciones normales Suponer que x, ~ M(j1,,67) yx; ~ M(ll;.63), donde [1,, 67, Hy yo} Son desconocidos, y que quie- re construirse un intervalo de confianza del 100(1 ~ 01)% para ; /o3.Si 5} y S; son las varianzas 128 CAPHTULO.3_ INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO muestrales, calculadas a partir de muestras aleatorias de n, yn, observacionés, Tespectivamente, entonces el intervalo de confianza de dos lados del 100(1 ~ 6% es 3-59} donde Faj24..€8 el punto porcentual de la distribucién F con w y v grados de libertad tal que PIF.» $ Faia] = 0/2. Los intervalos de confianza superior e inferior correspondientes son gies et pe z ot gr fants (3-60) le y Si: o aa tnt Sb 3-61 s rae 3-61) respectivamente.? 3-4.4 Inferencia de las proporciones de dos poblaciones Se considera ahora el caso en que hay dos pardmetros binomiales de interés —por ejemplo, DY Py ¥ quieren hacerse inferencias acerca de estas proporciones. Se presentardn los procedimientos para la prueba de hipétesis sobre muestras grandes y la construccién de un intervalo de confianza basados en la aproximacién normal de la distribucién binomial. cul tls del apénice slo sedan ls puno de aco superior de Fes desir, F. Los puntos da Go inferior Fae ueden encontrase uilizando la elacién F, = W/F, 3-4 INFERENCIA ESTADISTICA PARA DOS MUESTRAS 129 Prueba de H,: p, = p, para una muestra grande Suponer que las dos muestras aleatorias independientes de tamafios n, ym, se toman de dos pobla- ciones, y sea que x, y x, representen el nimero de observaciones que pertenecen a la clase de interés en las muestras 1 y 2, respectivamente. Ademis, suponer que se aplica la aproximacin normal de la distribucién binomial a cada poblacién, de donde los estimadores de las proporciones poblacionales son p, = x,/m, y p, =x, /n, y tienen distribuciones normales aproximadas. El inte- rés se encuentra en probar las hipétesis Hoi Pi=Pr Hy 2D, # Ps El estadistico z= PioPs (P= P2) Pipi) , P2=P2) n, ny (3-62) tiene una distribucién aproximada normal estindar y es 1a base de la prueba de H,: p, =p Especificamente, si la hipétesis nula H,; p, = p, es verdadera, entonces, usando el hecho de que p = p, =p, la variable aleatoria tiene la distribucién aproximada N(0, 1). Un estimador del parametro comin p es My tx, n tn, El estadistico de la prueba de H,: p, = p, es entonces 30 CAPITULO3_INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO, Esto leva al procedimiento de prueba que se describe aqui. Hipotesis nula: Ay P= Ps Estadisticos de prueba (3-03) de rechazo Hyp, # Py Ey > Zayz ODIEN 29 <—Zy/2 Hyp, > Ps Hr Oy) a Puede profundizarse bastante en cuanto a la forma en que funciona el andlisis de varianza exami nando los valores esperados de SS;p.snenu ¥ 5S-- Esto Hevard a un estadistico apropiado para probar la hipétesis de que no hay diferencias entre las medias de los tratamientos (0 t, = 0). suma de cuadrados totales E | El valor esperado de la suma de cuadrados de los tratamientos es | E(SS nyanienss) =(2- DO? +0 YY | CAPETULO 3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD. EL PROCESO Ahora bien, si la hipétesis nula de la ecuacién 3-68 es verdadera, cada t, es igual a cero y Si la hipstesis alternativa es verdadera, entonces Al cociente MS, =o Ka ~ 1) se le llama el cuadrado medio de los tratamientos, Por tanto, si H,, es verdadera, MS,,_4.,., €S un estimador insesgado de 6", mientras que si H, es verdadera, MS, scuq €S una estimacion de G mas un término positivo que incorpora la variacién debida a la diferencia sistemética de las medias de los tratamientos. También puede demostrarse que el valor esperado de la suma de cuadrados del error es E(SS,) = a(n — 1)o°. Por lo tanto, el cuadrado medio del error MS, = SS, / {a(n ~ 1)] es un estimador insesgado de o* independientemente de si la hipétesis nula H, es verdadera o no. El cuadrado medio del error es un estimador insesgado de o*. Ocurre también una particién del ntimero de grados de libertad que corresponden a la suma de cua- drados identidad de la ecuacién 3-69. Es decir, hay an = N observaciones; por tanto, SS, tiene an — 1 grados de libertad. Hay a niveles del factor, de donde SS,,...eqo, tiene a — 1 grados de libertad. Por iltimo, dentro de cualquier tratamiento hay n réplicas que proporcionan n — | grados de libertad con los cuales estimar el error experimental. Puesto que hay a tratamientos, se tienen a(n — 1) grados de libertad del error. Por lo tanto, la particién de los grados de libertad es an-1= -l+a(n-1) * Suponer ahora que cada una de las @ poblaciones puede modelarse como una distribucién normal. Usando este supuesto puede demostrarse que si la hipétesis nula H,, es verdadera, el cociente SSrunians M@=1) _ MS ines SS, Ha(n—=D)] MS, 3-72) 3.5. ;QUE OCURRE CUANDO HAY MAS DE DOS POBLACIONES? EL ANALISIS DE VARIANZA «137 tiene una distribucién F con a— 1 y a(n — 1) grados de libertad. Ademés, por los cuadrados medios esperados se sabe que MS, es un estimador insesgado de o*. Asimismo, bajo la hipétesis nula, MS soneans &S Un estimador insesgado de 6°. Sin embargo. si la hipétesis nula es falsa, entonces el valor esperado de MS,,..uey,, &8 Mayor que 6°, Por lo tanto, bajo la hipétesis alternativa, el valor esperado del numerador del estadistico de la prueba (ecuacién 3-72) es mayor que el valor espera- do del denominador. Por consiguiente, H,, deberé rechazarse si el estadistico es grande. Esto impli de cola superior. Por lo tanto, H, se rechazarfa si Fy > Fis-tuin-n donde F, se ca una re} calcula con la ecuacién 3-72. ‘Al desarrollar y simplificar las definiciones de SS,,...ay ¥ SS; pueden obtenerse férmulas de cAlculo eficientes para las sumas de cuadrados. Se obtienen asf los siguientes resultados. Definicion Las férmulas para calcular las sumas de cuadrados para el andlisis de varianza con tama- fios de las muestras iguales en cada tratamiento son s5=—% 6-73) jal (3-74) La suma de cuadrados del error se obtiene por sustraccién como 55 ¢ = 5S; —SSrremnienes (3-75) Los célcules de este procedimiento de prueba por lo general se resumen en forma tabular como se muestra en Ia tabla 3-8. Se le Ilama la tabla del andlisis de varianza. EJEMPLO 3-13 «+++ eee eeeeeeereee Considerar el experimento de la resistencia a la tensidn del papel que se describié en la seccién 3-5.1. Puede usarse el andlisis de varianza para probar la hipdtesis de que diferentes concentra- ciones de madera dura no afectan la resistencia a la tension media del papel. Las hipétesis son Hy \=G=t—t, =0 H,: 1, #0 paraal menosuna i 38 CAPITULO 3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO ‘Tabta 3-8 El andilisis de varianza para un experimento con un solo factor Fuente de Grados de variaci6n Suma de cuadrados libertad Cuadrado medio F, mientos 5 a-l MS,,.. an 1) MS, Se usard 0 = 0.01. Las sumas de cu: de varianza se calculan con las ecuaciones 3-73, 3-74 y 3-75 como sigue rados para el and $5,= 35 i TY? + (8)? +--+ (20) SS, 382.79 6 4 SS¢ = SSy — SStrasmicos = 512.96 - 382.79 = 130.17 No es comtin realizar los célculos manualmente. En la tabla 3-9 se presenta el andlisis de varianza ido por Minitab. Puesto que F,,., ,. = 4.94, se rechaza H, y se concluye que la concentracién de madera dura de la pulpa afecta significativamente la resistencia a la tensién del papel. Obsérve- se que la salida de computadora reporta un valor P para el estadistico de prueba F = 19.61 en la tabla 3-9 de 0. Se trata de un valor truncado; el verdadero valor P es P = 3.59 x 10. Sin embargo, puesto que el valor P es considerablemente menor que © = 0.01, se cuenta con evidencia sélida para concluir que H, no es verdadera. Obsérvese que Minitab también proporciona cierta informa- cién resumida acerca de cada nivel de la concentracién de madera dura, incluyendo el intervalo de confianza para cada media, Por tiltimo, obsérvese que el anilisis de varianza indica si existe una diferencia entre las me- dias. No indica cudles gon las medias que difieren. Si el andlisis de varianza indica que hay una diferencia estadisticamente significativa entre las medias, hay un procedimiento grafico simple que puede usarse para aislar las diferencias especificas. Suponer que J,.,J>.. «--, ¥,.Son los pro- medios observados para estos niveles del factor. El promedio de cada tratamiento tiene desviacion esténdar o/yn, donde ¢ es la desviacién esténdar de una observacién individual. Si las medias de todos los tratamientos son iguales, las medias observadas J,, se comportarian como si fueran un conjunto de observaciones sacadas al azar de una distribucién normal con media pt y desviacién estindar o/y/n. 3-5. {QUE OCURRE CUANDO HAY MAS DE DOS POBLACIONES? EL ANALISIS DEVARIANZA 139. ‘Tabla 3-9 Salida del andlisis de varianza de Minitab para el experimento de la resistencia a la tensiGn del papel One-Way Analysis of Variance Analysis of Variance Source OF Ss MS i B Factor osteo eG egal aon 0.000 Error 20 ts Uet. eo Total a eve Individual 95% Cls For Mean Based on Pooled StDev Level N Mean stdev ee 5 6 10.000 2.828 10 6 15.667 2.805 i) 15 6 17.000 1.789 Grete) 20 67 enter 2.639 Pooled StDev = 2.551 10.0 15.0 Imaginarse que esta distribucién normal puede deslizarse sobre un eje abajo del cual se grafican las medias de los tratamientos ¥,, .Fs.. «++, J,.Si las medias de todos los tratamientos son iguales, deberd haber cierta posicién de esta distribucién que haga evidente que los valores ¥,, se sacaron de la misma distribucién. Si no es este el caso, entonces los valores ,, que no parecen haberse sacado de esta distribuci6n se asocian con los tratamientos que producen respuestas medias diferentes El tinico punto débil de este razonamiento es que no se conoce 6. Sin embargo, puede usarse MMS, del andlisis de varianza para estimar 6. Esto implica que debera usarse una distribucién f en vez de la distribucién normal al hacer la gréfica, pero como la distribucién 1 se ve tan parecida a la normal, trazar una curva normal que tenga una anchura aproximada de 6./MS, /1 unidades por lo general funcionara bastante bien En la figura 3-15 se muestra este procedimiento para el experimento de la concentracién de madera dura de la secci6n 3-5.1. La desviacién estdndar de esta distribucién normal es MS, In = V6.51/6 = 1.04 IVa = 1.04 1 as 4 15 20 25 30 ura 3-18. Promedios dela resistencia a la tensin del experimento dela concenracion de madera dura en relaciOn con una dstibucién normal con desviacién estindar MS, / = 65176 = 1.04, 140 CAPITULO 3 INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO Si se visualiza el deslizamiento de esta distribucién sobre el eje horizontal, se observa que no hay inguin lugar en donde la distribucién sugerirfa que las cuatro observaciones (las medias graficadas) son valores tipicos seleccionados aleatoriamente de esa distribucin. Esto, desde luego, serfa de esperarse, ya que el andlisis de varianza ha indicado que las medias difieren, y la figura 3-15 es tan slo una representaci6n grifica de los resultados del andlisis de varianza. La figura indica que el amiento 4 (20% de madera dura) produce papel con una resistencia a la tensién media mayor que los deméds tratamientos, y que el tratamiento 1 (5% de madera dura) resulta en una resistencia a la tensidn media menor que la de los demas tratamientos. Las medias de los tratamientos 2 y 3 (10% y 15% de madera dura, respectivamente) no difieren. Este procedimiento simple es aproximado, pero es una técnica muy ttil y efectiva para compa- rar medias después de un andlisis de varianza. Para mayores detalles sobre los procedimiento, ver Montgomery (3). Verificacién de supuestos: analisis de residuales El anilisis de varianza supone que los errores del modelo (y por ende las observaciones) tienen una distribucién normal e independiente con la misma varianza en cada nivel del factor. Estos supuestos pueden verificarse examinando los residuales. Se define un residual como la diferen- cia entre la observaci6n real y, y el valor 5, que se hubiera obtenido de un ajuste de minimos cuadrados del modelo del andlisis de varianza fundamental de los datos muestrales. Para el tipo de diseno experimental de esta situacién, el valor J es la media del nivel del factor ¥,,. Por lo tanto, el residual es ¢, = y, —J),3 es decir, la diferencia entre una observaci6n y la media del nivel del factor correspondiente. En la tabla 3-10 se muestran los residuales del experimento del por- centaje de madera dura. El supuesto de normalidad puede verificarse construyendo la grifica de probabilidad normal de los residuales. Para verificar el supuesto de las varianzas iguales en cada nivel del factor, se grafican los residuales contra los niveles del factor y se compara la dispersién de los residuales. ‘También es witil graficar los residuales contra j,, (llamado en ocasiones el valor ajustado); la variabilidad de los residuales no deberd depender en forma alguna del valor de ¥,,. Cuando aparece un patrén en estas gréficas, por lo general sugiere la necesidad de una transformacién de los datos —es decir, analizar los datos en una métrica diferente. Por ejemplo, si la variabili- dad de los residuales se incrementa con ¥,,, entonces deberé considerarse una transformacién como log y 0 Jy. En algunos problemas, la dependencia de la dispersiGn de los residuales de J), es una informacién muy importante. Quizd sea deseable seleccionar el nivel del factor que Tabla 3-10 Residuales del experimento de la madera dura Concentracién de madera dura Residuales. 5% 3.00 -2.00 5.00 1.00 1.00 0.00 10% -3.37 133-267 2.33 3.33 0.67 15% -3.00 1.00 2.00 0.00 1.00 1.00 20% 2.17 3.83 0.83 1.83 -3.17 “17 2:5. {QUE OCURRE CUANDO HAY MAS DE DOS POBLACIONES? EL ANALISIS DE VaRIANZA 141 Gratica de probabilidad normal anne eal, 03 23 43 63 Residuales Figura 3-16 Grafica de probabilidad normal de los residuales del texperimento de Ta concentracién de madera dua. produce la respuesta media maxima; sin embargo, este nivel también puede causar mas variaci6n en la respuesta de una corrida a otra. El supuesto de independencia puede verificarse graficando los residuales contra el orden de Jas corridas en el que se llev6 a cabo el experimento. Un patrén en esta grifica, tal como secuencias de residuales positivos y negativos, podria indicar que las observaciones no son independientes. Esto sugiere que el orden de las corridas es importante 0 que las variables que cambian con el tiempo son importantes y no tendrfan que haberse incluido en el disefio experimental En la figura 3-16 se muestra la gréfica de probabilidad normal de los residuales del experimen- to de la concentracién de madera dura. En las figura 3-17 y 3-18 se presentan los residuales graficados contra los niveles del factor y el valor ajustado J,, . Estas gréficas no revelan ninguna inadecuacién del modelo 0 algiin problema inusual con los supuestos. Valor del residual oie Figura 3-17 Grafica de los residuales contra los niveles del factor. CAPITULO 3. INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO 180 | 200] 250 ala tension romeo | \Valor del residual Figura 3-18 Gritfica de los residuales contra , 3-6 EJERCICIOS 3-1. Se sabe que los didmetros interiores de los rodamientos utilizados en el ensamblaje del tren de aterrizaje de un avién tienen una desvia- cién esténdar de = 0.002 cm. Una muestra aleatoria de 15 rodamientos tiene un diéme- tro interior promedio de 8.2535 cm. stesis de que el diémetro, interior medio de los rodamientos es 8. Utilizar una hipotesis altemna- tiva de dos colas y « = 0.05. 1b) Encontrar el valor P para esta prueba. cc) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 95% para el diémetro me- dio de los rodamientos. 3-2. La resistencia a la tensi6n de una fibra usada cn la fabricaci6n de prendas de vestir es de in- terés para el comprador. La experiencia previa indica que la desviaci6n esténdar de la resis- toncia @ la tensién es de 2 psi. Se selecciona una muestra aleatoria de ocho ejemplares de prueba de la fibra y se encuentra que la resis- tencia a la tensién promedio es de 127 psi a) Probar la hipétesis de que la resistencia a la tensién media es igual a 125 psi contra la hipétesis alternativa de que la media excede 125'psi. Utilizar «= 0.05 1b) {Cual es el valor P para esta prueba? ©) Discutir por qué se eligié una hipétesis, alternativa de una cola en el inciso a). 4 | 2} i | P Reais. | a sles | tencia a | | | 33, d) Construir un intervalo de confianza in- ferior de 95% para la resistencia a la tensién media. Se supone que la vida itil de una baterfa usa- da en un marcapasos cardiaco tiene una dis- tribucién normal. Una muestra aleatoria de 10 baterfas se somete a una prueba de vida Util acelerada manteniéndolas operando de manera continua a una temperatura elevada hasta que ocurre una falla, y se obtienen las siguientes vidas ttiles: 25.5 26.1 h 26.8 23.2 24.2 28.4 25.0 21.8 213 B57 @) El fabricante quiere asegurarse de que la vida til media de la baterfa excede 25 h. {Qué conclusiones pueden sacar- se de estos datos (utilizar & = 0.05)? b) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 90% para la vida util me- dia en la prueba acelerada, ©) Construir una gréfica de probabilidad nor ‘mal de los datos de la vida wil de la bate ria, ;Qué conclusiones pueden sacarse? 3-4, 36, Utilizando los datos del ejercicio ruir un intervalo de confianza inferior de cons- 95% para la vida util media de la bateri {Por qué podria estar interesado el fabrican- te en un intervalo de confianza de un lado? Se ha desarrollado un nuevo proceso para aplicar la capa fotosensible en las obleas de silicio de 125 mm usadas en la fabricacién de circuitos integrados. Se probaron 10 obleas ¥ se observaron las mediciones del espesor de la capa fotosensible que se presentan abajo: 13.3946 (x 1000 13.4002 (x 1000 angstroms) angstroms) 13.3987 13.3957 13.3902 13.4015 13.4001 13.3918 13.3965, 13.3925 a) Probar la hipétesis de que el espesor medio es 13.4 x 1000 A. Utilizar a 0.05 y suponer una hipstesis alternativa de dos cola b) Encontrar un intervalo de confianza de dos lados de 99% para el espesor medio de la capa fotosensible. Suponer que el espesor tiene una distribucién normal ©) ¢Parece razonable el supuesto de nor- malidad para estos datos? Se usa una méquina para Henar envases con un producto Iiquido. Puede suponerse que el volumen de Henado tiene una distribuci6n normal, Se selecciona una muestra aleatoria de 10 envases y los contenidos netos son los que se muestran abajo. 12.03 oz 12.01 oz 12.04 12.02 12.05 11.98 11.96 12.02 12.05 11.99 4) Suponer que el fabricante quiere asegu- rarse de que el contenido neto medio excede 12 02, {Qué conclusiones pue- 37, 38. 36 BIERCICIOS ~— 143 den sacarse de los datos (utilizar a = 0.01)? 6) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 95% para el volumen de He nado medio. ¢) {Parece apropiado el supuesto de nor malidad para lox datos del volumen de Menado? El cloruro férrico se usa como fundente en algunos tipos de procesos metalirgivos de extracciGn. Este material se embarca en con- tenedores cuyo peso varia, Es importante obtener una estimacién precisa del peso me- dio de los contenedores. Suponer que por una larga experienc se determina que un valor confiable para la desviacién estindar del peso del contenedor del fundente es 4 Ib. ,Qué tamafio necesitarfa tener una muestra para construir un intervalo de confianza de dos lados de 95% para la media que tenga una anchura total de 1 1b? Se sabe que los didmetros de las varillas de una aleacién de aluminio producidos en una maquina de extrusién tienen una desviacién esténdar de 0.0001 pulgadas. Una muestra aleatoria de 25 varillas tiene un di medio de 0.5046 pulgadas. a) Probar la hipstesis de que el diémetro medio de las varillas es 0.5025 pulga- das, Suponer una hipétesis alternativa de dos colas y utilizar o = 0.05. ) Encontrar el valor P para esta prueba. ©) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 95% para el didmetto me- dio de las varillas. Se supone que el voltaje de salida de una tro pro- fuente de poder tiene una distribucién nor- mal. Se muestran abajo 16 observaciones hechas al azar sobre el voltaje. 10.35 930 10.00 9.96 11.65 1200 11.25 9.58 11.54 9.95 10.28 8.37 10.44 9.25 938 10.85 a) Probar la hipétesis de que el voltaje medio es igual a 12 V contra una hip6- 14 CAPITULO 3 3-10. tesis alternativa de dos lados utilizando a = 00 b) Construir un intervalo de confianza de dos Tados de 95% para Ht ©) Probar la hipétesis de que o° = 11 util zando 0 = 0.05. 4) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 95% para . ©) Construir un intervalo de confianea su- perior de 95% para 0. Jf) {Parece razonable el supuesto de nor- malidad para el voltaje de salida? Se usan dos méquinas para lenar con refres- co botellas de cristal. Los procesos de Ilena- do tienen las desviaciones esténdar conocidas °, 0.015 litros, respecti- vamente. Una muestra aleatoria de n, = 25 botellas de la maquina | y n, = 20 botellas de la méquina 2 da como resultado contenidos netos promedio de ¥, = 2.04 litros y 2.07 litros, a) Probar la hipétesis de que con ambas méquinas sc Hena el mismo contenido nto, utilizando o = 0.05. ;A qué con- clusiones se Hega? b) Encontrar el valor P para esta prueba. ¢) Construir un intervalo de confianza de 95% para la diferencia del volumen me- dio de Hlenado. Dos técnicos de control de calidad midieron el terminado superficial de una pieza metali ca, obteniendo los datos que se muestran aba- jo. Suponer que las mediciones tienen una distribucién normal Técnico 1 Técnico 2 1.45 1.54 137 11 121 1.56 134 137 1.48 1.20 1.29 131 1.34 1.27 135 a) Probar Ia hipstesis de que las medicio- nes medias del terminado superficial 3-12. 3.13) INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO hechas por los dos técnicos son iguales, Utilizar a = 0.05 y suponer varianzas iguales. b) {Cuiles son las implicaciones précticas de la prueba del inciso a)? Discutir « les serian las implicaciones précticas si la hipotesis nula se rechavara ©) Suponiendo que son iguales las varian as, construir un intervalo de confianza de 95% para la diferencia media de las mediciones del terminado superficial d) Probar Ia hipstesis de que las varianzas de las mediciones hechas por los dos, técnicos son iguales. Utilizar & = 0.05. {Cudles serian las implicaciones pricti la hipétesis nul se recharara” e) Construir la estimacién de un intervalo de confianza de 95% para el cociente de las varianzas del error de medicién de lox técnicos. f) Construir un intervalo de confianza de 95% para la varianza del error de medi- in del técnico 2. 4g) {Parece razonable el supuesto de nor malidad para los datos? Suponer que x, ~ N(M,.6;) y 4) ~ N(Ms.93) y que x, y x, son independientes, Desarrollar tun procedimiento para construir un intervalo de confianza del 100(1 ~ 0% para 1, ~ H. suponiendo que G; yG} son desconocidas y no pueden suponerse iguales. Se usan dos procesos de endurecimiento di- ferentes —1) templado en agua salada y 2) templado en aceite— en muestras de un tipo particular de aleacién metélica. Los resulta- dos se muestran abajo. Suponer que la dure~ za sigue una distribucién normal. Templado ‘Templado cen agua salada en aceite 145 152 150 150 153 147 148 155 141 140 Templado Templado en agua salada en aceite 152 146 146 158 Isa 182 139 151 14s. 143 @) Probar la hipétesis de que la dureza media del proceso de templado en agua salada es igual a la dureza media del proceso de templado en aceite. Utilizar = 0.05 y suponer varianzas iguales. 'b) Suponiendo que las varianzas 0) yO: son iguales, construir un intervalo de confianza de 95% para la diferencia de las durezas medias ©) Construir un intervalo de confianza de 95% para el cociente 07/03. ,Parece ra- zonable el supuesto que se hizo antes de varianzas iguales? d) ;Parece apropiado el supuesto de nor malidad para estos datos? Una muestra aleatoria de 200 tarjetas de cir- cuitos impresos contiene 18 unidades defec- tuosas o disconformes. Estimar la fraceién disconforme del proceso. a) Probar la hipétesis de que la verdadera fracci6n disconforme en este proceso es 0.10. Utilizar o: = 0.05. Encontrar el valor P. b) Construir un intervalo de confianza de dos lados de 90% para la verdadera fraceién disconforme del proceso de produccién. ‘Una muestra aleatoria de 500 chavetas para varillas articuladas contiene 65 unidades dis- conformes. Estimarila fraccién disconforme del proceso. a) Probar la hipétesis de que la verdadera fraccién defectuosa de este proceso es 0.08. Utilizar a = 0.05. b) Encontrar el valor P para esta prueba. ©) Construir un intervalo de confianza su- perior de 95% para la verdadera frac cién disconforme del proceso. 3-18, 36 EseRcICIoS §=—-145 Se emplean dos procesos para fabricar las pie- zas forjadas usadas en el ensamblaje de las alas de un avi6n. De 200 piezas forjadas se- leccionadas del proceso 1, 10 no cumplen con las especi que de 300 piezais forjadas seleccionadas del proceso 2. 20 son disconformes. a) Estimar la frace’ es de resistencia, mien in disconforme de cada proceso, 1b) Probar la hipotesis de que los dos proce: sos tienen fraceiones disconformes idén- ticas. Utilizar & = 0.05, ©) Construir un intervalo de confianza de 90% para la diferencia de la fraccién di conforme entre los dos procesos. Se instala una nueva unidad de purificacién en un proceso quimico. Antes de su instala- cidn, una muestra aleatoria arrojé los siguie tes datos acerca del porcentaje de impurezas: 81.73 yn, =10. Después de Ja instalaci6n, una muestra aleatoria dio como 08, S} = 7846 y 1, -8. 4) {Puede concluirse que las dos varianzas son iguales? Utilizar 0. = 0.05. b) {Puede concluirse que el nuevo disposi- tivo de purificacién ha reducido el por- centaje medio de impurezas? Utilizar a= 005. Una embotelladora de refrescos puede utili- zar dos tipos diferentes de botellas de cristal La resistencia a la presién interna de la botella ¢ una caracteristica de la calidad importante. Se sabe que 6, = 6; = 3.0 psi. Utilizando una muestra aleatoria de n, =n, = 16 botellas, se observa que las resistencias medias a la pre- si6n son ¥, =175.8 psi y ¥,=1813 psi. La ‘compaiifa no usaré el disefio de la hotella 2 a ‘menos que su resistencia a la presién exceda la del disefio de Ia botella 1 en al menos 5 psi. Con base en los datos muestrales, ;de- berd inclinarse por el disefio de la botella 2 si se usa oF = 0.05? {Cul es el valor P para esta prueba? Doce inspectores miden el didmetro de una varilla metélica, utilizando cada uno de ellos un calibrador micrémetro y un calibrador Vernier. Los resultados se muestran abajo. {Existe una diferencia entre las mediciones resultado J, 16 cariTuLo3 medias producidas por los dos tipos de cali- bradores? Utilizar & = 0.01. ee ee Calibrador Calibrador Inspector micrémetro Vernier 1 0.150 ost 2 o.1S! 0.150 3 0.151 ost 4 0.152 0.150 5 .151 0.151 6 0.150 0.151 # 0.151 0.153 8 0.153 0.155 9 0.152 ois 10 0.151 oust 1 ost 0.150 2 0.151 0.15 se its ta sien ia 3-20. El sistema de enfriamiento de un submarino 3-21 nuclear consiste en una tuberia por la que se hhace circular un refrigerante. Las especifica~ ciones requieren que la resistencia de la sol- dadura debe ser de 150 psi 0 exceder este valor, a) Suponer que los disefiadores deciden probar las hipétesis H,: 4 = 150 contra H,: > 150. Explicar por qué esta elec- cin de la hipétesis alternativa es prefe- rible a Hy: W < 150. +b) Una muestra aleatoria de 20 soldaduras da como resultado ¥=1537 psi y S= 11.5 psi. {Qué conclusiones pueden sa- carse acerca de la hipétesis del inciso a)? Utilizar a = 0.05. Se realiz6 un experimento para investigar la capacidad de lenado del equipo de envasado de una fabrica vinicola de Newberg, Oregon. Se seleccionaron al azar 20 botellas de Pinot Gris y se midi6 el volumen de Menado (en ml). Suponer que el volumen de lenado tie- ne una distribucién normal. Los datos son los siguientes: INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO Tsao Toe 753 TSG «SZ weT53. 154 754 752 751 752 «750-753 755 7584-756 751 750 @) {Los datos apoyan la afirmacién de que Ja desviaci6n estandar del volumen de Menado es menor que | ml? Utilizar = 0.05. b) Encontrar un intervalo de confianza de dos lados de 95% para la desviacién estindar del volumen de Hlenado. ¢) ¢Parece razonable suponer que el volu- men de Henado sigue una distribucién normal? Suponer que quieren probarse las hipétesis Hy: w=15 Hy: wels donde se sabe que 6? = 9.0. Si la verdadera media es en realidad 20, ;,qué tamaio de la muestra debe usarse para asegurar que la pro- babilidad del error tipo II_no es mayor que 0.107 Suponer que o = 0.05. Considerar las hipétesis Hy b=Ho Hy: WA Ho donde ¢? es desconocida. Deducir una expre sin general para determinar el tamafo de la ‘muestra a fin de detectar una verdadera me- dia de 1, # jl, con una probabilidad | —B siel error tipo I es Asignacién del tamafio de la muestra. Su- poner que se estén probando las hipétesis donde 0? yo} son conocidas, Los recursos son limitados y, por consiguiente, el tamafo 3-26. 3.27. 3-29. de la muestra total es n, + 1, = N. ¢Cémo se asignan las N observaciones entre las dos poblaciones para obtener la prueba con la po- tencia mas grande? Desarrollar una prueba para las hipétesis Ay: My = My Hy wy # 2H, donde o} y 6} son conocidas. Las disconformidades en unas botellas de cristal ocurren de acuerdo con una distribu- cién de Poisson. Una muestra aleatoria de 100 botellas contiene un total de 11 discon formidades, a) Desarrollar un procedimiento para pro- bar la hipstesis de que la media A de una distribucién de Poisson es igual a un va- Jor especificado 2,. Sugerencia: usar la aproximacién normal de la distribucién de Poisson 'b)Usar el resultado del inciso a) para pro- bar la hipstesis de que la tasa de ocu- rrencia media de las disconformidades es 4 =0.15. Utilizar ot = 0.01 Un inspector cuenta los defectos en el termi- ‘nado superficial de méquinas lavaplatos. Una muestra aleatoria de cinco maquinas lavapla- tos contiene tres de estos defectos. ;Hay al- guna raz6n para concluir que la tasa de ocu- rrencia media de los defectos de terminado superficial por maquina lavaplatos excede 0.5? Usar el resultado del inciso a) del ejer- cicio 3-26 y suponer que 0. = 0.05. Se usa un probador en linea para evaluar el funcionamiento eléctrico de unas tarjetas de circuitos impresos. Esta maquina cuenta el niimero de defectos observados en cada tar- jeta. Una muestra aleatoria de 1 000 tarjetas contiene un total de 688 defectos. {Es razo- nable concluir que la tasa de ocurrencia me- dia de defectos es A= 1? Usar los resultados del inciso a) del ejercicio 3-26 y suponer que = 005. En un articulo de Solid State Technology (mayo de 1987) se describe un experimento para determinar el efecto de la velocidad de flujo del C,F, sobre la uniformidad del gra- bado quimico de una oblea de silicio usada 36 Esercicios = 147 en la fabricacién de circuitos integrados. Se prueban tres velocidades de flujo y se ob- serva la uniformidad resultante (en por cien- to) en seis unidades de prueba con cada Velocidad de flujo. Los datos se muestran cn la tabla siguiente, Flujo de CF, Observaciones Seo} (eee ac fs 6 125 2.7 26 46 3.2 3.0 38 160 46 49 $0 42 36 4.2 200 46 29 34 35 4.1 5.1 3-30. 3-31. a) {La velocidad del flujo del C.F, afec ta la uniformidad del grabado quimi- co? Responder esta pregunta utilizando un andlisis de varianza con 0. = 0.05. b) Construir un diagrama de caja de los datos de la uniformidad del grabado quimico. Usar este diagrama, junto con Jos resultados del andlisis de varianza, para determinar cudl serfa ka mejor ve~ locidad de flujo en términos de la uni- formidad del grabado quimico (un porcentaje pequeiio es mejor). ¢) Graficar los residuales contra el flujo de C,F, predicho. Interpretar esta er fica. d) {Parece razonable el supuesto de nor- malidad en este problema” ‘Comparar los valores de 1a uniformidad me- dia del grab-do quimico para cada una de las velocidades de flujo del C.F, del ejerci- cio 3-29 con una distribuci6n 1 escalada. {Este anélisis indica que hay diferencias en la uniformidad media de! grabado quimico para las diferentes velocidades de flujo? {Qué flujo produce resultados diferentes? En un articulo de ACI Materials Journal (Vol. 84, 1987, pp. 213-216) se deseri- ben varios experimentos para investigar el varillado del concreto a fin de elimi- nar el aire atrapado. Se utiliz6 un cilindro de 3 pulgadas de didmetro y el rimero de veces que se utilizé este cilindro es la va- riable del disefio. La resistencia a la com- 148 CAPITULO 3 3.32, 3-33, presidn resultante del ejemplar de prueba del cconcreto es la respuesta, Los datos se mues- tran en Ia tabla siguiente Nivel de Resistencia varillade la compresi6n 101530 15301440 1S 1610 1650-1500 201560 17301530 25° 1500 14901510 a) Existe alguna diferencia en la resisten- cia a la compresién debida al nivel de varillado? Responder esta pregunta uti- lizando el andlisis de varianza con o. = 0.05. 4) Construir un diagrama de caja de ka resis- tencia a la compresi6n para cada nivel de varillado. Ofrecer una interpretacién priic~ tica de estos diagramas, ©) Construir la gréfica de probabilidad nor- ‘mal de los residuales de este experimen- to. ¢Parece razonable el supuesto de una distribuci6n normal de la resistencia a la compresion? ‘Comparar la resistencia a la compresién me- dia para cada nivel de varillado del ejercicio 3-31 con una distribucién t escalada. ;Qué con- clusiones se sacarfan a partir de esta gritica? Un productor de aluminio fabrica énodos de carbén y los endurece en un horno anular antes de usarlos en la operaci6n de fundicién, La densidad del endurecimiento del dnodo €s una caracteristica de la calidad importan- te, ya que puede afectar la vida itil del dnodo. Uno de los ingenieros del proceso sospecha que la temperatura de carga en el horno anu- lar afecta la densidad del endurecimiento del 4nodo. Se llev6 a cabo un experimento con cuatro niveles de la temperatura de carga di- ferentes, y se endurecieron seis énodos con cada nivel de temperatura. Los datos del ex- Petimento se muestran a continuacién, INFERENCIAS SOBRE LA CALIDAD DEL PROCESO. a ee Temperatura if °C) Densidad. 500 418 419 417 416 415 417 4b4 413 417 41.0 416 418 41.6 417 4s 412 41.0 419 41.7 413 40.6 412 419 415 4) {La temperatura de carga en el horn anular afecta la densidad det endureci- miento medio del dnodo? b) Encontrar los residuales de es mento y graficarlos en una escala de pro- babilidad normal. Comentar la geatica ©) @Cudl de las temperaturas de carga se usar? Graficar los residuales del ejercicio 3-33 con tra las temperaturas de carga. ;Hay algtin in- dicio de que la variabilidad de Ia densidad del endurecimiento del snodo depende de la temperatura de carga” {Cudl de las tempera- turas de carga se recomendaria usar’? 3-35. Enunarticulo de Environmental International (18, No. 4, 1992) se describe un experimento en el que se investig6 la cantidad de radén liberado en las duchas. Se utiliz6 agua enri- quecida con rad6n en el experimento, y se probaron seis diferentes didmetros de los ori ficios de las regaderas. Los datos del experi- mento se muestran en la tabla siguiente. Didmetro de los orificios Radon liberado (%) 037 ar eae s3 2 BS; ost Tht se 753i0IN79 79) O71 Ce oesee | Te 1.02 G7eegD AeNT4~ 7h, 1.40 Poke afta yet — 169) 1.99 60 «61646 a) {El tamaio de los orificios afecta el por centaje medio de rad6n liberado? Uti- lizar e! andlisis de varianza y 0: = 0.05. 3-36. b) Analizar los resultados de este experi- mento. En un articulo de Journal of the Electroche- ‘ical Society (Vol. 139, No. 2, 1992, pp. 524 532) se describe un experimento para investi- ‘gar la deposicidn de vapor de baja presién del polisilicio. El experimento se Hev6 a cabo en un reactor de alta capacidad de Sematech en Austin, Texas. El reactor tiene varias posi- ciones para las obleas, y se seleccionaron al azar cuatro de estas posiciones. La variable de respuesta es la uniformidad del espesor de la pelicula. Se hicieron tres réplicas del ex- perimento, y los datos son los siguientes. @) {Hay alguna diferencia en las posicio- nes de las obleas? Utilizar el andlisis de 0.05. varianza y ° a) 36 EJERcICIOS == 149 Uniformidad 2.16 5.67 449 143 1.70 2.19 234 197 147 0.94 136 1.65 Estimar la variabilidad debida a la po: sicidn de las obleas. Estimar el componente del error alea. torio. Analizar los residuales de este experi mento y comentar la adecuacién del modelo. Métodos basicos de control estadistico de procesos y andlisis de capacidad de procesos Es imposible inspeccionar o probar la calidad mientras no se tiene el producto; el producto debe _hacerse bien a la primera, Esto implica que el proceso de manufactura debe ser estable y que todos los individuos que participan en el mismo (operadores, ingenieros, personal de aseguramiento de calidad y la administraci6n) deben buscar el mejoramiento continuo del desempefio del proceso y reducir la variabilidad de los parémetros clave. El control estadistico de procesos (SPC, por sus siglas en inglés) en linea es una herramienta bésica para alcanzar este objetivo. Las cartas de control constituyen el procedimiento de control estadistico de procesos en linea del tipo mas simple. En los capitulos 4 al 7 se presentan muchas de las técnicas basicas del SPC, las cuales se concentran princi- palmente en la carta de control propuesta por el doctor Walter A. Shewhart, llamada la carta de control de Shewhart. ‘TADISTICO DE PROCESOS. 152 PARTE MéTODOs BASICos DE CONTROL El capitulo 4 es una introduccién a la metodologia general del control estadistico de procesos, En este capftulo se describen varias herramientas fundamentales para resolver problemas de SPC, incluyendo una introduceién a la earta de control de Shewhart. Se presenta una discusién de i; forma de implementar el SPC, junto con algunos comentarios acerca del SPC en un escenario fuer, de In manufactura. En el capitulo 5 se introducen las cartas de control de Shewhart para datos de mediciones, Hamadas en ocasiones cartas de control de variables. Se tratan en detalle las carta de control xy R, junto con algunas variantes importantes de las mismas. En el capitulo 6 se Presentan las cartas de control de Shewhart para datos de atributos, tales como a fraccién defes tnosa o disconforme, las disconformidades (defectos) o las disconformidades por unidad del pro. de capacidad del proceso; es decir, la forma de estadisticas para estimar la capacidad natural de un Proceso y para determinar cudl serd su desempefio respecto de las especiticaciones del producto, Asimismo, se tratan algunos aspectos para establecer las especificaciones y tolerancias, como el problema de la tolerancia “apilada” En toda esta secciGn se hace hincapié en los tres usos fundamentales de una carta de control ae jidad del proceso. 2. Monitoreo y vigilancia de un proceso. 3. Estimacién de los parémetros del producto 0 del proceso. PLAN GENERAL DEL CAP{TULO 4-1 INTRODUCCION 4-2. CAUSAS FORTUITAS Y ASIGNABLES DE LA VARIACION DE LA CALIDAD 4-3 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE 4.4 LA CARTA DE CONTROL. 4-3.1 Principios basicos 45 4-6 4-3.2 Eleccién de los limites de control 43.3 Tamaiio de la muestra y frecuencia del muestreo Métodos y filosofia del control estadistico de procesos 4-34 Subgrupos racionales 4-3.5. Andlisis de patrones en cartas de control 4-3.6 Discusidn de las reglas de sensibilizacién para cartas de control EL RESTO DE LAS “SIETE MAGNIFICAS” IMPLEMENTACICN DEL SPC UNA APLICACION DEL SPC APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS FUERA DE LA. MANUFACTURA VISION BREVE DEL CAP{TULO Este capitulo tiene tres objetivos. El primero es presentar las-herramientas basicas para resolver problemas de SPC, llamadas las “siete magnificas”, e ilustrar la manera en que estas herramientas forman un marco préctico coherente para el mejoramiento de calidad. El segundo objetivo es descri- bir las bases estadisticas de la carta de control de Shewhart. El lector vers c6mo afectan el desempe- fio de una carta de control las decisiones acerca del tamafio de Ia muestra, el intervalo de muestreo y la colocacién de los limites de control. Entre otros conceptos clave cabe mencionar el concepto de subgrupos racionales, la interpretacién de seflales y patrones en las cartas de control y la longitud promedio de la corrida como una medida del desempeiio de las cartas de control, El tercer objetivo es analizar e ilustrar algunas cuestiones practicas en la implementacién del SPC 154 caPiTULo4 METoDOs Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 4-1 INTRODUCCION Para que un producto cumpla con los requerimientos del cliente generalmente deberd fabricarse con lun proceso que sea estable o repetible, Para ser més especificos, es necesario que el proceso opere con poca variabilidad en las dimensiones objetivo 0 nominales de las caracteristicas de calidad del producto. El control estadistico de procesos (SPC, por sus siglas en inglés) es un conjunto pode- roso de herramientas para resolver problemas, muy itil para conseguir la estabilidad y mejorar la capacidad del mismo proceso mediante la reduccién de la variabilidad. EI SPC puede aplicarse a cwalquier proceso. Sus siete herramientas principales son: 1. El histograma o el diagrama de tallo y hoja. 2. La hoja de verificacién, 3. La grifica de Pareto. 4. El diagrama de causa y efecto. $. El diagrama de concentraci6n de defectos 6. El diagrama de dispersion 7. La carta de control. Aun cuando estas herramientas, llamadas con frecuencia ilas siete magnificas”, son una parte importante del SPC, comprenden tan s6lo sus aspectos técnicos, El SPC crea un ambiente en el que todos los individuos de una organizacién desean cl mejorainiento continuo de la calidad y la produc- tividad. Este ambiente se desarrolla mejor cuando la administracién se involucra en un proceso de mejoramiento de calidad continuo, Una vez que se establecen estas condiciones, la aplicacién rutina- ria de las siete se convierte en un aspecto habitual de hacer negocios, y la organizacién se encuen- tra en una posicién para alcanzar sus objetivos de mejoramiento de calidad. En este capitulo se presentard un panorama general de las siete magnificas. De estas herramien- tas, probablemente la carta de control de Shewhart es la que presenta la mayor complejidad técnica, Fue desarrollada en los afios 1920 por el doctor Walter A. Shewhart de Bell Telephone Laboratories. Para entender los conceptos estadisticos que constituyen la base del SPC, es necesario describir primero la teoria de la variabilidad de Shewhart. 4-2. CAUSAS FORTUITAS Y ASIGNABLES DE LA VARIACION DE LA CALIDAD En cualquier proceso de produccién, independientemente de lo adecuado que sea su disefio 0 de la atenci6n que se preste a su mantenimiento, siempre existiré cierta cantidad de variabilidad inherente © natural, Esta variabilidad natural, 0 “ruido de fondo”, es el efecto acumulado de muchas causas Pequefias y en esencia inevitables. En el contexto del control estadistico de calidad, a esta variabi dad natural se le denomina un “sistema estable de causas fortuitas”. Se dice que un proceso que opera Unicamente con causas fortuitas de variacién est bajo control estadistico. En otras palabras, las causas fortuitas son una parte inherente del proceso. En ocasiones puede estar presente otra clase de variabilidad en la salida de un proceso. Esta variabilidad en las caracterfsticas clave de la calidad se originan de tres fuentes: méquinas ajustadas © controladas incorrectamente, errores del operador. 0 materia prima defectuosa. En general, esta 4-2 CAUSAS FORTUITAS Y ASIGNABLES DE LA VARIACION DELA CALIDAD 155, poaieg eras es re 4 He

Uy. En el tiempo 1, ocurre otra causa asignable, de la que resulta 1 = H,, pero ahora la desviacion estandar del proceso se ha corrido a un valor més grande 6, > a, En el tiempo 1, se presenta otra causa asignable, cuyo resultado es que tanto la media como la desviacién estindar toman valores fuera de control. Del tiempo 1, en adelante, la presencia de causas asignables ha dado como resultado un proceso fuera de control. Con frecuencia, los procesos de produccién operarén en el estado bajo control, produciendo productos aceptables durante periodos relativamente prolongados, Con el tiempo, sin embargo, ocu- rrirdn causas asignables, aparentemente al azar, que ocasionaran un “corrimientb” a un estado fuera de control en el que una proporcién mayor de la salida del proceso no cumplira con los requerimien- tos. Por ejemplo, en la figura 4-1 se observa que cuando el proceso esté bajo control, la mayor parte de la produccién estara entre los limites inferior y superior (LSL y USL, respectivamente, por sus [La terminologéa causas fortuitas y asignables fue desarrollada por el doctor Walter A. Shewhart. Actualmente, algunos autores usan la terminologfa causa comudn en lugar de causa fortuita, y causa especial en lugar de causa asignable. SOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS CAPITULO 4 METODOS Y FILO iglas en inglés) de la especificacién. Cuando el proceso esté fuera de control, una proporcién mas ta del mismo se localiza fuera de estas especificaciones, Uno de los objetivos principales del control estadistico de procesos es detectar con rapidez la ‘ocurrencia de causas asignables en el corrimiento del proceso a fin de hacer la investigacién perti- nente y emprender las acciones correctivas antes de que se fabriquen muchas unidades disconformes. La carta de control es una técnica del monitoreo de procesos en linea que se usa ampliamente para este fin. Las cartas de control también pueden usarse para estimar los pardmetros de un proceso de produccién y para determinar con esta informacién la capacidad del proceso. Asimismo, la arta de control puede ofrecer informacién stil para mejorar el proceso. Por tiltimo, recuérdese que la meta tltima del control estadistico de procesos es eliminar la variabilidad del proceso, Quizé no sea posible eliminar por completo la variabilidad, pero la carta de control es una herra- mienta efectiva para reducir la variabilidad tanto como sea posible. Se presentan ahora los conceptos estadisticos que constituyen la base de las cartas de control. En Jos capitulos 5 y 6 se desarrollan los detalles de la construcci6n y uso de los tipos comunes de cartas de control. -3_ FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DE CONTROL $3.1 Principios basicos En la figura 4-2 se muestra una carta de control tipica, que es la representacién gréfica de una carac- terfstica de la calidad que se ha medido o calculado a partir de una muestra contra el ntimero de muestra o tiempo. La carta contiene una linea central que representa el valor promedio de la carac- teristica de la calidad que corresponde al estado bajo control. (Es decir, cuando nicamente estin presentes causas fortuitas.) También se muestran en la carta otras dos lineas horizontales, lamadas el limite de control superior (UCL, por sus siglas en inglés) y el limite de control inferior (LCL, por sus siglas en inglés). Estos limites’ de control se eligen de tal modo que si el proceso esta bajo Linea central joa de la calidad muestral Numero de muestra o tiempo Figura 4-2 Una carta de control tipica. ca 4-3. FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DE CONTROL 157 control, casi todos los puntos muestrales se localizardn entre ellos. En tanto los puntos graficados se localicen dentro de los limites de control, se supone que el proceso est bajo control y no es necesaria ninguna acciGn. Sin embargo, un punto que se localiza fuera de los limites de control se interpreta como evidencia de que el proceso esta fuera de control, y se requicre investigacién y accién correctiva para encontrar y eliminar la causa o causas asignables responsables de este comportamiento, Se acostumbra unir los puntos muestrales de la carta de control con segmentos dle recta, a fin de facilitar la visualizacién de la evolucién con el tiempo de la secuencia de puntos. Incluso cuando todos los puntos se localizan dentro de los limites de control, si se comportaran en una manera sistemdtica 0 no aleatoria, esto podria ser un indicio de que el proceso esti fuera de control, Por ejemplo, una situacién en la que 18 de los tltimos 20 puntos se localizan arriba de la linea central, pero abajo del limite de control superior, y slo dos de estos puntos se localizan abajo de la Iinea central, pero arriba del limite de control inferior, despertarfa grandes sospechas de que algo anda mal. Si el proceso est bajo control, todos los puntos graficados deberdn mostrar en esen- cia un patr6n aleatorio, Es posible aplicar métodos para buscar secuencias © patrones no aleatorios en las cartas de control como ayuda para detectar situaciones fuera de control. En general, la presencia de un patron no aleatorio particular en una carta de control tiene una raz6n, y si puede identificarse y eliminarse, es posible mejorar el desempeiio del proceso. Este tema se discute con mayor detalle en las secciones 4-3.5 y 5-2.4. Existe una estrecha relacién entre las cartas de control y la prueba de hipétesis. Para ilustrar esta relacién, suponer que el eje vertical de la figura 4-2 es el promedio muestral x. Ahora bien, si el valor actual de x se localiza entre los limites de control, se concluye que la media del proceso esti bajo control; es decir, es igual a cierto valor {1,. Por otra parte, si x excede cualquiera de los limites de control, se concluye que la media del proceso est fuera de control; es decir, es igual a cierto valor jt, # 1,. En cierto sentido, entonces, la carta de control es una prueba de la hipétesis de que el proceso est en un estado de control estadistico. Un punto que se localiza dentro de los limites de control es equivalente a no poder rechazar la hipstesis del control estadistico, y un punto que se localiza fuera de los limites de control es equivalente a rechazar la hipétesis del control estadistico. Este marco para la prueba de hipétesis es itil de varias maneras, si bien existen algunas diferencias de punto de vista entre las cartas de control y las pruebas de hipétesis. Por,ejemplo, cuando se prueban hip6tesis estadisticas, por lo general se verifica la validez de los supuestos, mientras que las cartas de control se usan para detectar desviaciones de un estado de control estadistico supues- to. Ademis, la causa asignable puede redundar en diferentes tipos de corrimientos en los pardmetros del proceso. Por ejemplo, la media podria sufrir un corrimiento repentino a un nuevo valor y mantenerse ahi (en ocasiones se le llama un corrimiento sostenido); 0 podria correrse de manera abrupta, pero la causa asignable podria ser de corta duracién y la media podria volver después a su valor nominal o bajo control; o la causa asignable podria dar como resultado una inclinacién 0 tendencia estable en el valor de la media. Sélo los cambios sostenidos se ajustan bien al modelo comin para probar hipstesis estadisticas. Una situacién que se presta para el marco de la prueba de hipstesis es el andlisis del desempe- fio de una carta de control. Por ejemplo, podria considerarse 1a probabilidad del error tipo I de la carta de control (concluir que el proceso esté fuera control cuando en realidad esté bajo control) y la probabilidad del error tipo II de la carta de control (concluir que el proceso esta bajo control cuando en realidad esté fuera de control). En ocasiones es conveniente usar la curva de oper: ci6n caracteristica de una carta de control para representar su probabilidad del error tipo II. Esto serfa una indicacién de la habilidad de la carta de control para detectar corrimientos de diferen- tes magnitudes en el proceso. 74.0180 + 74.0135} 74.0090 + 74.0045 | 74,0000 73.9955 73.9910 73.9865 73.9820 | Diametro promedio de fos anllos, 123 45 67 8 9 10111213 141516 Numero de muestra Figura 4-3 Carta de control ¥ para el didmetro de los anillos para pistones. Para ilustrar las ideas anteriores, se presenta un ejemplo de una carta de control, En la manufactura de anillos para pistones de motores de automévil, una caracteristica critica de la calidad es el didmetro interior del anillo. El proceso puede estar bajo control con un didmetro interior medio de los anillos de 74 mm, y se sabe que la desviaci6n esténdar del didmetro de los anillos es 0.01 mm, En la figura 4-3 se muestra una carta de control del diémetro promedio de los anillos. Cada hora se saca una muestra aleatoria de cinco anillos, se calcula el didmetro promedio de los anillos de la muestra (por ejemplo, x) y se grafica x en la carta. Debido a que esta carta de control utiliza el promedio muestral x para monitorear la media del proceso, suele Ilamarsele la carta de control ¥. Obsérvese que todos los puntos se localizan dentro de los limites de control, por lo que la carta indica que el proceso esta bajo control estadistico. Para ayudar a entender el fundamento estadistico de esta carta de control, consideremos cémo se determinaron los limites de control. La media del proceso es 74 mm, y la desviacién estandar del proceso es 6 = 0.01 mm. Ahora bien, si se toman muestras de tamafio n = 5, la desviacion estindar del promedio muestral x es Por lo tanto, si el proceso est bajo control con un didmetro medio de 74 mm, entonces al aplicar el teorema del limite central para suponer que x tiene una distribuci6n aproximadamente normal, s¢ esperarfa que 100(1 — «)% de los didmetros medios muestrales x se localicen entre 74 + Z, ,(0.0045) y 74~Z,,(0.0045). Se escogera arbitrariamente el valor 3 para la constante Z,,,, de tal modo que los limites de control superior e inferior son UCL = 74+3(0.0045) = 14.0135 LCL = 74-3(0.0045) = 73.9865 como se indica en la carta de control. Se les llama de manera tipica los limites de control “tres sigma”.’ La anchura de los limites de control es inversamente proporcional al tamafio de la mues- *Obsérvese que “sigma” se refiere a la desviacidn estindar del estadistico graficado en la carta (i.c., 6, ), no a la desviacion csténdar de la caracteristica de la calidad. 4.3 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DECONTROL 159 Distrbucién de las mediciones las mediiones Daren vo Normal con Normal con modau=74y ]| — medaym7ay : i) —Jucr = 74.0135 —|Linea central = 74.000 Muestra | n=5 —j Let = 73.9865 Figura 4-4 Cémo funciona la carta de control tra n para un miltiplo de sigma dado. Obsérvese que elegir los limites de control es equivalente a establecer Ia regién critica para probar las hipstesis Hy: w=74 H,: #74 donde 6 = 0.01 es conocida, En esencia, la carta de control prueba esta hipétesis repetidamente en diferentes puntos del tiempo. En la figura 4-4 se ilustra gréficamente la situacién. Puede darse un modelo general para una carta de control. Sea w un estadistico muestral que mide alguna caracteristica de la calidad de interés, y suponer que la media de w es t,, y que la desviacién estindar de w es 6, . Entonces la linea central, el limite de control superior y el limite de control inferior son UCL=n, +Lo,, Linea central = 1, ey) | LCL=p, -Lo, donde L es la “distancia” de los limites de control a la linea central, expresada en unidades de desvi: cién esténdar. El doctor Walter S. Shewhart fue el primero en proponer esta teorfa general de las cartas de control, y las cartas de control desarrolladas de acuerdo con estos principios suelen llamar- se cartas de control de Shewhart. La carta de control es un recurso para describir de manera precisa lo que se pretendié exacta- mente por medio del control estadistico; como tal, puede usarse en una variedad de formas. En muchas aplicaciones se usa para la vigilancia en linea de un proceso. Es decir, se colectan datos 160 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL STADISTICO DE PROCES (oer eee a Proceso ieee eee Entraca Salida Sistema de medicion Detectar la causa asignable Vericar y hacer el sseguimiento Implementar una’ Identiticar la causa de accién correctiva tigen del problema Figura 4-5 Mejoramiento del proceso utilizando la carta de control muestrales y se usan para construir la carta de control, y si los valores muestrales de (por ejem- plo) se localizan dentro de los limites de control y no muestran ningtin patrén sistemdtico, se dice que el proceso est bajo control en el nivel indicado por la carta. Obsérvese que en este caso podria haber interés en determinar tanto si los datos pasados provinieron de un proceso que estaba bajo control como si las muestras futuras de este proceso indican control estadistico, El uso mas importante de una carta de control es para mejorar el proceso. Hemos encontrado que, en general, 1. La mayoria de los procesos no operan en un estado de control estadistico. 2. Por consiguiente, el uso rutinario y atento de cartas de control identificard las causas asignables. Si estas causas pueden eliminarse del proceso, la variabilidad se reducira y el proceso serd mejorado. En la figura 4-5 se ilustra esta actividad de mejoramiento del proceso utilizando la carta de control. Obsérvese que La carta de control s6lo detectard las causas asignables. Por lo general sera necesaria la accién de la administracién, del operador y del drea de ingenieria para eliminar las causas signables, Para identificar y eliminar las causas asignables, es importante encontrar la causa de origen funda- mental del problema y atacarla. Una solucién cosmética no redundard en ninguna mejora real de largo plazo del proceso, Desarrollar un sistema efectivo para una accién correctiva es un componente esencial de una implementdcin de SPC efectiva Una parte muy importante del proceso de accién correctiva asociado con el uso de la carta de control es el plan de accién para condiciones fuera de control (OCAP, por sus siglas en inglés). Un OCAP es un diagrama de flujo o una descripcidn escrita de la secuencia de actividades que deben Hevarse a cabo después de la ocurrencia de un evento de activacién. Por lo general es una sefial de fuera de control en la carta de control. El OCAP consta de puntos de verificacién, los cuales son causas asignables potenciales, y eliminadores, que son acciones que se emprenden para resolver la condicién fuera de control mediante, siendo optimistas, la eliminaci6n de la causa 4-3 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DECONTROL 161 asignable. Es muy importante qué el OCAP especifique el conjunto mas completo posible de Puntos de verificacién y eliminadores, y que estén ordenados de tal modo que se faciliten las actividades de diagnéstico del proceso. Con frecuencia puede ser ttil el andlisis de los modos de falla anteriores del proceso y de! producto para diseftar este aspecto del OCAP. Ademis, un OCAP es un documento vivo, en el sentido de que se modificard con el tiempo conforme se obtenga un mejor entendimiento y comprensi6n del proceso. Por consiguiente, cuando se introduce una carta de control. deberd estar acompantada por un OCAP inicial, No es posible que las cartas de control sin un OCAP sean de gran utilidad como herramientas de mejoramiento del proceso. La carta de control también puede utilizarse como un recurso de estimacién, Es decir, a partir de una carta de control que indique control estadistico es posible estimar ciertos pardmetros del Proceso, tales como la media, la desviacién estindar, la fracciGn disconforme 0 porcién cafda, cleétera. Después estas estimaciones pueden usarse para determinar la capacidad del proceso para Producir productos aceptables. Estos estudios de capacidad del proceso tienen un impacto consi- derable en muchos problemas que ocurren en el ciclo del producto y que requicren decisiones de la administracién, incluyendo la decisién de fabricar © comprar, las mejoras de la planta y del proce- 8o que reducen la variabilidad del proceso y los acuerdos contractuales con los clientes o distribui- dores respecto de la calidad del producto. Las cartas de control pueden clasificarse en dos tipos generales. Si la caracteristica de la calidad Puede medirse y expresarse como un ntimero en una escala de medicién continua, suele llamarsele una variable. En tales casos, es conveniente describir la caracterfstica de la calidad con una medi- da de tendencia central y una medida de la variabilidad. A las cartas de control para la tendencia central y la variabilidad se les llama en conjunto cartas de control de variables. La carta x es la carta de uso mas comtin para controlar la tendencia central, mientras que las cartas basadas en el Fango muestral o en la desviaci6n estindar muestral se usan para controlar la variabilidad del proceso, En el capitulo 5 se discuten las cartas de control de variables, Muchas caracteristicas de la calidad no se miden en una escala continua o siquiera en una escala cuantitativa. En estos casos, cada unidad del Producto puede juzgarse como conforme o disconforme con base en si posee o no ciertos attibutos, © puede contarse el niimero de disconformidades (defectos) que aparecen en una vinidad del pro ducto. A las cartas de control para estas caracteristicas de la calidad se les llama eartas de control de atributos ¥ se discuten en el capitulo 6. Un factor importante en el uso de cartas de control es el disefio de la carta de control. Por esto se entiende la seleccién del tamafio de la muestra, de los Ifmites de control y de la frecuencia del muestreo. Por ejemplo, en la carta x de la figura 4-3 se especificé un tamafio de la muestra de cinco mediciones, Ifmites de control tres sigma y que la frecuencia del muestreo fuera cada hora. En la mayoria de los problemas de control de calidad se acostumbra disefiar la carta de control uullizando principalmente consideraciones estadisticas. Por ejemplo, se sabe que al incrementar el tamafio de la muestra disminuiré la probabilidad del error tipo II, mejordndose asf la capacidad de la carta para detectar un estado fuera de control, etcétera. El uso de criterios estadisticos como estos aunados a la experiencia industrial ha levado a lineamientos y procedimientos generales Para disefiar cartas de control. En estos procedimientos por lo general los factores del costo sélo se consideran de manera implicita. Sin embargo, recientemente ha empezado a examinarse el disefio de cartas de control desde una perspectiva econémica, considerando de manera explicita el costo del muestreo, las pérdidas generadas por permitir que se produzcan productos defectuosos, y los Costos de investigar las seftales de fuera de control que en realidad son “falsas alarma Otra consideracién importante en el uso de las cartas de control es el tipo de variabilidad que muestra el proceso. En la figura 4-6 se presentan los datos de tres procesos diferentes. En las 162 cariruLo4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS Figura 4-6 Datos de tres procesos diferentes, a) Estaciona- ios y no correlacionados (ruido blanco). b) Estacionarios y © autocorrelacionados. ¢) No estacionarios, figuras 4-6a y 4-6b se ilustra un comportamiento estacionario, Por esto se entiende que los datos del proceso varfan alrededor de una media fija en una manera estable o predecible. De acuerdo con Shewhart, este es el tipo de comportamiento que produce un proceso bajo control. Incluso un examen superficial de las figuras 4-6a y 4-6 revela algunas diferencias impo tantes. Los datos de la figura 4-6a son no correlacionados; es decir, las observaciones dan 1a impresién de haberse sacado al azar de una poblacién estable, quizés una distribucién normal 4.3. FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DECONTROL 163 Los analistas de series de tiempo hacen referencia a este tipo de datos como ruide blanco. (El andlisis de series de tiempo es un campo de la estadistica dedicado exclusivamente al estudio y modelado de datos orientados en el tiempo.) En este tipo de proceso, el orden en que se presen- tan los datos no revela mucho que sea itil para analizar el proceso. En otras palabras, los valores pasados de los datos no son de ayuda para predecir ninguno de los valores futuros. En la figura 4-60 se ilustran datos estacionarios pero autocorrelacionados de un proceso. Obsérvese que las observaciones sucesivas de estos datos son dependientes; es decir, un valor arriba de la media tiende a ser seguido por otro valor arriba de la media, mientras que un valor abajo de la media por lo general es seguido por otro valor asi. Esto produce una serie de datos que presenta la tendencia a moverse en “corridas” moderadamente largas a ambos lados de la media. En la figura 4-6c se ilustra una variacién no estacionaria. Este tipo de datos de un proceso ‘ocurren con frecuencia en las industrias quimica y de procesamiento. Obsérvese que el proceso es en alto grado inestable por cuanto anda a la deriva o “errética” por todos lados sin sentido alguno de una media estable o fija. En muchos escenarios industriales, este tipo de comportamiento se estabiliza aplicando la ingenierfa de control de procesos (como el control de retroalimentacién). Este enfo- que para controlar el proceso se requiere cuando hay factores que afectan al proceso que no puede estabilizarse, tales como variables ambientales o propiedades de las materias primas. Cuando el esquema de control es efectivo, la salida del proceso no sera como en la figura 4-6c sino que, siendo optimistas, se ver como las figuras 4-6a 0 4-6b. Las cartas de control de Shewhart son mas efectivas cuando los datos del proceso bajo control son parecidos a la figura 4-6a. Con esto quiere decirse que las cartas pueden disefiarse de tal modo que el desempefio sea predecible y razonable para el usuario, y que son efectivas para detectar de manera confiable las condiciones fuera de control. En la mayor parte de la discusi6n de las cartas de control en este capitulo y en los capitulos 5 y 6 se supone que los datos del proceso bajo control son estacionarios y no correlacionados. Con algunas modificaciones, es posible aplicar las cartas de control de Shewhart y otros tipos de cartas de control a datos autocorrelacionados. Esto se discute con mayor detalle en la parte III del libro, donde también se discute el control de retroalimentaci6n y el uso del SPC en sistemas donde se emplea el control de retroalimentacién. Las cartas de control han tenido una larga historia de uso en las industrias estadounidenses y del extranjero. Hay al menos cinco razones de su popularidad. 1, Las cartas de control sox. una técnica probada para mejorar la productividad. Un programa exitoso de cartas de control reduciré los desechos y el reprocesamiento, que son los principales depredadores de la productividad en cualquier operacién. Si se reducen los desechos y el reprocesamiento, se incrementar4 la productividad, se reducirdn los costos y se aumentaré la capacidad de produccién (medida en el nimero de partes buenas por hora). 2. Las cartas de control son efectivas para prevenir defectos. La carta de control ayuda a mantener el proceso bajo control, Io cual es consistente con la filosofia del “hacerlo bien a la primera”. Nunca es mas barato separar las unidades “buenas” de las “malas” més tarde que fabricarlas bien desde un principio. Si no se cuenta con un control del proceso efectivo, se estaré pagando a alguien por hacer un producto disconforme. 3. Las cartas de control previenen el ajuste innecesario del proceso. Una carta de con- trol puede distinguir el ruido de fondo de la variacién anormal; ningin otro recurso, incluyendo a un operador humano, es tan efectivo para hacer esta distincién. Si los ‘operadores del proceso ajustan el proceso con base en pruebas periddicas que no guar- 164 -3.2 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS den relacién con un programa de cartas de control, con frecuencia tendrdn una reaceién exagerada al ruido de fondo y realizardn ajustes innecesarios. Estos ajustes innecesarios redundan en un deterioro del desempefio del proceso. En otras palabras, la carta de control es consistente con la filosofia del “si no esta descompuesto, no lo arregles 4. Las cartas de control proporcionan informacién de diagnéstico. Frecuentemente, e| patrén de los puntos de una carta de control incluira informacién con valor de diagn tico para un operador o ingeniero con experiencia. Esta informacis mentacién de un cambio en el proceso que mejore su desempeito. permite la imple 5. Las cartas de control proporcionan informacién sobre la capacidad del proceso. La carta de control proporciona informacién del valor de pardmetros importantes del pro- ceso y de su estabilidad con el tiempo. Esto permite hacer una estimacién de la capaci dad del proceso. Esta informacién es de enorme utilidad para los disefiadores del producto y del proceso. Las cartas de control se encuentran entre las herramientas de control administrative mas importan tes; son tan importantes como los controles de costos y los controles de materiales. La tecnologi de las computadoras modemnas han hecho que sea sencillo implementar las cartas de control en cualquier tipo de proceso, ya que la coleccién y el andlisis de datos puede Ilevarse a cabo en una microcomputadora o en una terminal de una red de Area local en tiempo real y en linea con el centro de trabajo. Algunos lineamientos adicionales para implementar un programa de cartas de control se presentan al final del capitulo 6 Eleccién de los limites de control La especificacién de los limites de control es una de las decisiones eriticas que deben tomarse al disefiar una carta de control. Cuando los limites de control se alejan més de la linea central, se reduce el riesgo de un error tipo I —es decir, el riesgo de que un punto se localice fuera de los limites de control, indicando una condicién fuera de control cuando no ésté presente ninguna causa asignable. Sin embargo, al ensanchar los limites de control se incrementaré también el riesgo del error tipo II — es decir, el riesgo de que un punto se localice dentro de los limites de control cuando el proceso en realidad esta fuera de control. Si los limites de control se colocan més cerca de la linea central se produce el efecto contrario: el riesgo del error tipo I se incrementa, mientras que el riesgo del error tipo II se reduce. Para la carta x que se muestra en la figura 4-3, donde se usaron limites de control tres sigma, si se supone que el didmetro de los anillos para pistones tiene una distribucién normal, en la tabla normal estdndar se encuentra que la probabilidad del error tipo I es 0.0027. Es decir, se producird una sefial de fuera de control incorrecta o falsa alarma tan slo en 27 de 10.000 puntos. Ademés, la probabilidad de que un punto tomado cuando el proceso est bajo control exceda los limites tres sigma en una sola direccién es 0.00135. En vez de especificar el limite de control como un miltiplo de la desviaci6n esténdar de X, podria haberse elegido directamente la probabilidad del error tipo I y calcular el limite de control correspondiente. Por ejemplo, si se especifica una probabilidad del error tipo I de 0.001 en una direcci6n, entonces el miiltiplo apropiado de Ia des- viacin estandar seria 3.09. Los limites de control para la carta ¥ serfan entonces UCL = 74 + 3.09(0.0045) = 74.0139 LCL = 74— 3.09(0.0045) = 73.9861 4.3. FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DELA CARTA DE CONTROL 165 ; one 740180)" yesuct 0001 | 74.0138 x [Uct 3 sigma = 74.0135 74,0090 74,0045 | |__ Linea went LL = 74.0000 74,0000 73.9956 | 73.9910 | 2 sigma LOL = 73,9865 98,96 = 73.9861 73.9920| LoL0.001 = 73.986 Lo Numero de muestra Figura 4-7 Comparacidn de los limites tres sigma y 0.001 para la carta x jad 0,001. En la figura 4-7 se muestra y apenas una ligera diferencia entre los A estos limites de control se les Hama limites de probabi la carta ¥ con los limites tres sigma y los limites 0.001. Ha dos limites. Independientemente de la distribucién de la caracteristica de la calidad, en Estados Unidos es una préctica comiin determinar los limites de control como un miiltiplo de la desviacién esténdar del estadistico graficado en la carta. El miiltiplo que se elige generalmente es 3; por tanto, se acostumbra emplear limites tres sigma en las cartas de control, independientemente del tipo de carta empleada. En el Reino Unido y algunas partes de Europa Occidental se usan los limites de probabilidad, siendo la probabilidad estindar 0.001 De manera tipica, justificamos el uso de los limites de control tres sigma con base en que dan buenos resultados en la préctica. demas, en muchos casos, la verdadera distribucién de la caracte- ristica de la calidad no se conoce con la suficiente precisién para calcular limites de probabilidad exactos. Si la distribuci6n normal es una aproximacién razonable de la distribucién de la caracteris- tica de la calidad, entonces habrd poca diferencia entre los limites tres sigma y los de probabilidad 0.001. Limites de advertencia en cartas de control Algunos analistas sugieren el uso de dos conjuntos de limites en las cartas de control, como los que se ilustran en la figura 4-8. Los limites exteriores —en tres sigma, por ejemplo— son los limites de accién usuales; es decir, cuando un punto se grafica fuera de este limite, se hace una busqueda de una causa asignable y, de ser necesario, se emprende una accién correctiva. A los limites interiores, por lo general en dos sigma, se les llama limites de advertencia (WL, por sus siglas en inglés). En la figura 4-8 se muestran los limites de control tres sigma superior e inferior para la carta x del didmetro de los anillos para pistones. Los limites de advertencia superior ¢ inferior se localizan en UWL = 74 + 2(0.0045) = 74.0090 LWL = 74~2(0.0045) = 73.9910 166 4-3.3 ESTADISTICO DE PROCESOS CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL, ——— aeg UCL = 74.0135 74.0135 Uo a7 74,0090 }-WL = 78 5 004! 20, 77 P Linea central = 74,0000 “4° ee pest LWL = 73.9910 73.9910 meee 73.9865 73.9820 Numero de muest Figura4-8 Carta ¥ con limites de advertencia dos sigma, Cuando se usan limites de probabilidad, los limites de acci6n por lo general son limites 0.001 y los limites de advertencia son limites 0.025. Una situacién en la que uno 0 més puntos se localizan entre los limites de advertencia y los limites de control, 0 muy cerca del limite de advertencia, deberd despertar sospechas de que el pro- ceso quiz no est operando correctamente. Una posible accién por emprender cuando esto ocurre es incrementar la frecuencia del muestreo o el tamafio de Ia muestra a fin de obtener con rapidez més informacién acerca del proceso. A los esquemas de control del proceso que modifican el tamano de la muestra y/o la frecuencia del muestreo dependiendo de la posicién del valor muestral actual se les llama esquemas adaptables 0 con intervalo de muestreo variable (o con tamaiio de la mues- tra variable, etc.). Estas técnicas se han usado en la practica durante muchos afios y recientemente han sido estudiadas por investigadores en el campo. Esta técnica se discutira nuevamente en la parte III de este libro. El uso de Imites de advertencia puede aumentar la sensibilidad de la carta de control; es decir, puede permitir que la carta de control dé la sefial de un corrimiento en el proceso con mayor rapidez. Una de sus desventajas es que pueden resultar confusos para el personal de operacién. Esto, sin embargo, por lo general no constituye una objecién seria, y muchos analistas utilizan de manera rutinaria limites de advertencia en cartas de control. Una objecién més seria es que aun cuando el uso de limites de adve-tencia puede mejorar la sensibilidad de la carta, también pueden dar como resul- tado un riesgo incrementado de falsas alarmas. En la seccién 4-3.6 se discutira con mayor detalle el uso de las reglas de sensibilidad (tales como los limites de advertencia). Tamaiio de la muestra y frecuencia del muestreo Cuando se disefia una carta de control, es necesario especificar tanto el tamafio de la muestra que debe usarse como la frecuencia del muestreo. En general, las muestras més grandes facilitardn a detecci6n de corrimientos pequefios en el proceso, Esto se ilustra en la figura 4-9, donde se grafica la curva de operacién caracteristica de la carta x de la figura 4-3 para diferentes tamafios de la muestra Obsérvese que la probabilidad para detectar un cambio de 74.0000 a 74.0100 mm (por ejemplo) s¢ incrementa cuando el tamafio de la muestra n se incrementa. Cuando se elige el tamafio de la muestra, debe tenerse presente el tamafio del cambio que esté traténdose de detectar. Si el cambio 4-3. FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DECONTROL = 167 10 0.9} os: o7 06 05 oa 0.3 02 0.1 se localice entre ls lites de control Probabildad de que 74.0000 74.00 74.0100 74.0150 74.0200 74.0250 ‘Media del proceso (mm) Figura 4-9 Curvas de operacién caracteristica para una carta en el proceso es relativamente grande, se usan tamafios de la muestra més pequefios que los que se habrfan empleado si el cambio de interés fuera relativamente pequefio, Debe determinarse también la frecuencia del muestreo, La situacién més deseable desde el punto de vista de la deteccién de corrimientos seria tomar muestras grandes con mucha frecuencia; in embargo, esto por lo general no es econémicamente factible. El problema general consiste en la asignacién del esfuerzo de muestreo, Es decir, se toman muestras pequefias cn intervalos cortos 0 bien se toman muestras grandes en intervalos més largos. La préctica actual en la industria tiende a favorecer las muestras més pequefias y mds frecuentes, en particular en los procesos de manufactura de alto volumen, o donde pueden ocurrir diversos tipos de causas asignables. Ademas, conforme se desarrolla la tecnologia automatizada de sondeo y medicién, se esté haciendo posible agrandar (incrementar) en gran medida las frecuencias de muestreo. En tiltima instancia, cada unidad puede probarse cuando se fabrica, Los sistemas de medicién automatizados y las microcomputadoras con software de control estadistico de procesos aplicados en el centro de trabajo para e! control del proceso en linea en tiempo real son una forma cada vez més efectiva de aplicar el control estadistico de procesos. Otra manera de evaluar las decisiones respecto del tamafio de la muestra y la frecuencia del muestreo es con Ia longitud promedio de la corrida (ARL, por sus siglas en inglés) de la carta de control. En esencia, la ARL es el nimero promedio de puntos que deben graficarse antes de que un punto indique una condicién fuera de control. Si las observaciones del proceso son no correlacionadas, entonces para cualquier carta de control de Shewhart, la ARL puede calcularse fécilmente con (4-2) donde p es la probabilidad de que cualquiera de los puntos exceda los limites de control. Esta ecuacién puede usarse para evaluar el desempeiio de la carta de control. Como ilustraci6n, para la carta x con limites tres sigma, p = 0.0027 es la probabilidad de que un solo punto se localice fuera de los limites cuando el proceso esté bajo control. Por lo tanto, la longitud 168 CAPITULO4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS promedio de la corrida de la carta x cuando el proceso esta bajo control (llamada ARL,) es Any, eee p 0.0027 370 Es decir, incluso si el proceso se manti fuera de control cada 370 muestras. EL uso de Ia longitud promedio de la corrida para describir el desempenio de las cartas de control ha sido objeto de criticas en los tiltimos aos. Las razones de ello surgen porque la distribu. ci6n de la longitud de la corrida para una carta de control de Shewhart es una distribucin geométrica (referirse a la seccién 2-2.4). Por consiguiente, hay dos preocupaciones con la ARL: 1) la desvia- ci6n estindar de la longitud de la corrida es muy grande. y 2) la distribucién geométrica sesgo muy pronunciado, por lo que la media de la distribuci6n (la ARL) no es necesa un valor muy “tipico” de la longitud de la corrida. Por ejemplo, considérese la carta de control x de Shewhart con limites tres sigma, Cuando e} proceso est bajo control, se sefialé ya que p = 0.0027 y la ARL, bajo control es ARL, = I/p = I/ 0.0027. Esta es la media de la distribucién geométrica. Ahora bien, la desviacién estandar de la distribucién geométrica es bajo control, se generard, en promedio, una senal de iene un mente VG=p)1 p= ¥@=0.0027) /0.0027 = 370 Es decir, en este caso la desviaci6n estindar de la distribucién geométrica es aproximadamente igual a su media. Como resultado, la ARL, real observada en la préctica para la carta de control ¥ de ‘Shewhart posiblemente presentaré variaciones considerables, Ademés, para la distribucién geométrica con p = 0.0027, el décimo y el quincuagésimo percentil de la distribucién son 38 y 256, respectiva- ‘mente. Esto significa que cerca del 10% del tiempo la longitud de la corrida bajo control sera menor © igual a 10 muestras, y que 50% de las veces seré menor o igual a 256 muestras. Esto ocurre porque la distribucién geométrica con p = 0.0027 tiene un sesgo a la derecha muy pronunciado. Asimismo, en ocasiones es conveniente expresar el desempefio de la carta de control en térmi- nos de su tiempo promedio hasta la sefial (ATS, por sus siglas en inglés). Si se toman muestras en intervalos fijos de tiempo que estén separados / horas, entonces ATS=ARLA (43) Considérese el proceso de los anillos para pistones discutido antes, y suponer que se esta haciendo un muestreo cada hora. La ecuacién 4-3 indica que habré una falsa alarma mas o menos cada 370 horas en promedio. Consideremos ahora cudl es el desempefio de la carta de control para detectar corrimientos en Ja media. Suponer que se esté usando un tamaiio de la muestra n = 5 y que cuando el proceso se sale de control la media se corre a 74.015 mm. Por la curva de operacién caracteristica de la figura 4-9. se encuentra que si la media del proceso es 74.015 mm, la probabilidad de que x se localice entre los limites de control es aproximadamente 0.50. Por lo tanto, en la ecuacién 4-2, p es 0.50, y 8 4-3 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DECONTROL 169. ARL fuera de control (llamada ARL,) es p O05 Es decir, la ca ‘a de control necesitara dos muestras para detectar el corrimiento en el proceso, en promedio, y puesto que el intervalo de tiempo entre las muestras es ht = 1 hora, el tiempo promedio requerido para detectar este corrimiento es ATS ARL, h 2) horas ‘Suponer que esto es inaceptable, debido a que la produccién de anillos para pistones con un didmetro medio de 74.015 mm redunda en costos de desechos excesivos y en retrasos en el ensamblaje final de los motores. ¢Cémo puede reducirse el tiempo necesario para detectar la condicién fuera de control? Un método es hacer muestreos mas frecuentes. Por ejemplo, si los muestreos se hacen cada media hora, entonces el tiempo promedio hasta la sefial para este esquema es ATS = ARL, h = 2(4) = I:es decir, tan s6lo transcurrird una hora (en promedio) entre el corrimiento y su deteccién. La segunda posibilidad es incrementar el tamafio de la muestra. Por ejemplo, si se usa n = 10, entonces la figura 4-9 indica que la probabilidad de que X se localice entre los limites de control cuando la media del proceso es 74.015 mm es aproximadamente 0.1, de donde p = 0.9, y por la ecuacién 4-2 la ARL fuera de control o ARL, es ARL, =—=—=1.11 p 09 si el muestreo se hace cada hora, el tiempo promedio hasta la sefial es ATS= ARL,h 111d) 1.1 Lhoras Por tanto, el tamafio mas grande de la muestra permitirfa que el corrimiento se detectara casi con el doble de la rapidez del tamafio original. Si llegara a ser importante detectar el corrimiento en la primera hora (aproximadamente) después de que ocurri6, dos disefios de cartas de control funcionarfan: isefio 1 Disefio 2 Tamajio de la muestra: n = 5 ‘Tamajio de la muestra: n = 10 Frecuencia del muestreo: cada media hora Frecuencia del muestreo: cada hora Para responder con mayor precisién a la pregunta de la frecuencia del muestreo, es necesario tomar en consideracién varios factores, incluyendo el costo del muestreo, las pérdidas asociadas con permitir que el proceso opere fuera de control, la rapidez de la produccién, y las probabili- dades con las que ocurren varios tipos de corrimientos en el proceso. En los cuatro capitulos siguientes se discuten varios métodos para seleccionar el tamajto de la muestra y la frecuencia del muestreo apropiados para una carta de control. 170 4-3.4 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS Subgrupos racionales Una idea fundamental en el uso de las cartas de control es colectar los datos muestrales de acuerdo con lo que Shewhart denominé el concepto de subgrupo racional. Para ilustrar este concepto, supo- ner que se esté usando una carta de control ¥ para detectar cambios en la media del proceso. Enton- ces'el concepto de subgrupo racional significa que los subgrupos 0 muestras deberdn seleccionarse de tal modo que, en caso de estar presentes causas asignables, se maximicen las oportunidades de las diferencias entre los subgrupos y que al mismo tiempo se minimicen las oportunidades de las diferencias debidas a estas causas asignables dentro de un subgrupo. Cuando se aplican cartas de control a procesos de produccién, el orden en el tiempo de la pro- duccién es una base ldgica para establecer los subgrupos racionales. Aun cuando se preserve el orden en el tiempo, sigue siendo posible formar subgrupos erréneamente. Si algunas de las observaciones de la muestra se toman al final de una tanda y el resto de las observaciones se toman al principio de Ja tanda siguiente, entonces quiza no se detecten cualesquiera diferencias entre los tumnos. El orden en el tiempo es con frecuencia una buena base para formar subgrupos porque permite detectar causas asignables que ocurren con el tiempo. Se usan dos enfoques generales para construir subgrupos racionales. En el primer enfoque, cada muestra consta de unidades que se produjeron al mismo tiempo (0 tan préximas entre si como sea posible). Idealmente, nos gustaria tomar unidades de producci6n consecutivas, Este enfoque se usa cuando la finalidad principal de la carta de control es detectar los corrimientos en el proceso. Se minimiza asi la oportunidad de la variabilidad debida a causas asignables dentro de una muestra y se minimiza la oportunidad de variabilidad entre las muestras si estén presentes causas También proporciona una estimacién mejor de la desviacién estindar del proceso en el caso de las cartas de contro! de variables. Este enfoque para la formacién de subgrupos racionales ofrece en esencia una “instantinea” del proceso en cada punto del tiempo donde se colecta una muestra. En la figura 4-10 se ilustra esta estrategia de muestreo. En la figura 4-10a se muestra un proceso en el que la media experimenta una serie de corrimientos sostenidos, asf como las observa- ciones correspondientes obtenidas de este proceso en los puntos del tiempo sobre el eje horizontal, suponiendo que se seleccionan cinco unidades consecutivas. En la figura 4-10 se muestra la carta de control x y la carta R (0 carta del rango) para estos datos. La linea central y los limites de control de la carta R se construyen utilizando el rango de cada muestra de la parte superior de la figura (en el capitulo 5 se presentan los detalles). Obsérvese que aun cuando la media del proceso esté sufriendo corrimientos, la variabilidad del proceso es estable. Ademés, se usa la medida de la variabilidad dentro de las muestras para construir los limites de control en la carta X. Obsérvese que la carta x de la figura 4-10b incluye puntos fuera de control que corresponden a los corrimientos en la media del proceso. En el segundo enfoque, cada muestra esté fomada de unidades del producto que son representa- tivas de todas Igs unidades que se produjeron desde que se tom6 la dltima muestra. Cada subgrupo es una muestra aleatoria de toda la produccién del proceso sobre el intervalo de muestreo, esen- cialmente. Con frecuencia se usa este método de subgrupos racionales cuando la carta de control se emplea para tomar decisiones acerca de la aceptacién de todas las unidades del producto que se han producido desde la iiltima muestra. De hecho, si el proceso se corre a un estado fuera de control y después regresa a estar en control nuevamente entre muestras, se debate algunas veces que él primer método de los subgrupos racionales que se definié anteriormente seré ineficiente con este tipo de corrimientos, asf que debe usarse el segundo método, 4-3 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DE CONTROL 171 Media de! proceso jae ip 2a Patyaete ce SNOT ee = Tiempo a “1 2)3 4 6.69 8 6 10 79 Tiempo » Figura 4-10 El enfoque de la “instantinea” para los subgrupos racionales. a) Comportamiento de la media del proceso. b) Las cartas de control T y R corres- pondientes. Cuando el subgrupo racional es una muestra aleatoria de todas las unidades producidas en el inter- valo de muestreo, deberé tenerse mucho cuidado al interpretar las cartas de control. Si la media del Proceso fluctiia entre varios niveles durante el intervalo entre los muestreos, esto puede ocasionar que el rango de las observaciones dentro de la muestra sea relativamente grande, dando lugar a limites de mayor anchura en la carta £. En la figura 4-11 se ilustra este escenario. De hecho, en muchos casos puede hacerse que el proceso parezca estar bajo control estadistico alargando el intervalo entre las observaciones de la muestra. También es posible que los corrimientos en el promedio del proceso produzcan puntos que se localicen fuera de control en una carta de control del rango o la desviacién esténdar, aun cuando no haya ocurrido ningin corrimiento en la variabi- lidad del proceso. Hay otras bases para formar subgrupos racionales. Por ejemplo, suponer un proceso que consta de varias maquinas que dirigen su produccién a un flujo comdn. Si se hace un muestreo de este flujo comin de la produccién, seré muy dificil detectar si alguna de las maquinas esta o no fuera de control. Un enfoque légico para hacer subgrupos racionales en este caso es aplicar las técni- cas de las cartas de control a la produccién de cada maquina individual. En ocasiones es necesario aplicar este concepto a diferentes cabezas de la misma maquina, a diferentes estaciones de trabajo, a diferentes operadores, etcétera, En muchas situaciones el subgrupo racional consistird en una sola observaci6n. Esta situacién ocurre con frecuencia en las industrias quimica y de procesamien- 172 4-3.5 CAPITULO.4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCI “i 24a 45 6 7 @ 9 1naraes Tiempo a) Tipe seiaes 6: oy rac on dopant Tiempo » Figura 4-11 El enfoque de la muestra aleatoria en subgrupos raciona- les. a) Comportamiento de la media del proceso. b) Las cartas de control Fy R correspondientes. to, donde Ja caracte ristica de la calidad del producto cambia de manera relativamente Ienta y las muestras tomadas muy cerca entre si en el tiempo son virtualmente idénticas, salvo por el error de medicién 0 analitico, El concepto de subgrupo racional es muy importante. La seleccién correcta de las muestras requiere la consideracién atenta del proceso, con objeto de obtener tanta informacién titil como sea posible del andlisis de la carta de control. Anilisis de patrones en cartas de control Una carta de control puede indicar una condici6n fuera’ de control cuando uno o més puntos se localizan fuera de los limites de control o bien cuando los puntos graficados presentan algin patrén de comportamiento no aleatorio en aparencia. Por ejemplo, considérese la carta ¥ que se muestra en la figura 4-12. Aun cuando los 25 puntos se localizan dentro de los limites de control, no indican control estadistico ya que la apariencia del patron que forman es francamente 0 aleatorio en aparencia. Especificamente, se observa que 19 de los 25 puntos se localizan abajo 43 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DE CONTROL 173 uct = Linea centeal uct 113-15 17 19°21 23.28 Numero de muestra Figura 4-12. Un carta de control x de la linea central, mientras que s6lo 6 de ellos se localizan arriba. Si los puntos en realidad son aleatorios, cabria esperar una distribucién mas regular de los mismos arriba y abajo de la linea central. Se observa también que después del cuarto punto la magnitud de cinco puntos seguidos se incrementa. A esta disposicién de los puntos se le lama una corrida. Puesto que las observa ciones son crecientes, podria Hamérsele corrida ascendente. De manera s de puntos decrecientes se le Hama corrida descendente, Esta carta de control presenta una corri- da ascendente inusualmente larga (empezando en el cuarto punto) y una corrida descendente inusualmente larga (empezando con el décimo octavo punto) En general, una corrida se define como una secuencia de observaciones del mismo tipo. Ademas de las corridas ascendentes y descendentes, podrian definirse los tipos de observaciones que se loca- lizan arriba y abajo de la linea central, respectivamente, por lo que dos puntos seguidos arriba de la linea central formarfan una corrida de longitud 2, Es muy poco probable que ocurra una corrida de longitud 8 o de més puntos en una muestra aleatoria de puntos. Por consiguiente, cualquier tipo de corrida de longitud 8 0 mayor con frecuen- cia se considera como una sefial de una condicién fuera de control. Por ejemplo, ocho puntos consecutivos en el mismo lado de la linea central indicarfan que el proceso esta fuera de control. ‘Aun cuando las zorridas son una medida importante del comportamiento no aleatorio en una carta de control, otros tipos de patrones también pueden indicar una condicién fuera de control. Por milar, a una secuencia 123 45 6 7 8 9 10111213 14 15 Numero de muestra Figura 4-13 Una carta ¥ con un patrén ciclico. 174 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS tst # ust @ Lae fe ust u ust. » gura 4-14) Variabilidad con el patrén ciclico. b) Variabilidad con el Patrén ciclico eliminado, ejemplo, considérese la carta X de la figura 4-13, Obsérvese que los promedios muestrales graficados muestran un comportamiento ciclico, no obstante que se localizan dentro de los limites de control Este patrén puede indicar un problema con el proceso, como la fatiga del operador, entregas de materias primas, refuerzo de calor 0 tensién, etcétera, Aun cuando el proceso no esta en realidad fuera de control, el rendimiento puede mejorarse mediante la eliminaci6n 0 reduccién de las fuentes de variabilidad que causan este comportamiento ciclico (ver la figura 4-14). El problema consiste en la identificacién de patrones —es decir, reconocer los patrones siste- miticos 0 no aleatorios en la carta de control e identificar la razon de este comportamiento. La habilidad para interpretar un patrén particular en términos de causas asignables requiere experiencia y conocimiento del proceso. Es decir, no basta conocer los principios estadisticos de las cartas de control, sino que debe contarse asimismo con una comprensiOn adecuada del proceso. En el capitu- lo 5 se discute con mayor detalle la interpretacién de patrones en cartas de control. El Wester Electric Handbook (1) sugiere un conjunto de reglas de decisién para detectar patro- hes no aleatorios en cartas de control. Especificamente, sugiere concluir que el proceso est fuera de control si 1. Un punto se localiza fuera de los limites de control tes sigma; 2. Dos de tres puntos consecutivos se localizan fuera de los limites de advertencia dos sigma: 3. Cuatro de cinco puntos consecutivos se localizan a una distancia de una sigma o mas dé la linea central; 4. Ocho puntos consecutives se localizan en el mismo lado de la linea central, Estas reglas se aplican a uno de los lados de la linea central a la vez. Por lo tanto, un punto arriba del limite de advertencia superior seguido inmediatamente por un punto abajo del limite de adver- 4-3.6 43 FUNDAMENTOS ESTADISTICOS DE LA CARTA DE CONTROL 175 74.0180 74.0135}- 74.0090} 74,0045 | 74.0000 | 73.9955 | 73.9910} 73.9865 | LCL = 73.9865 73.9820+ Petit Tareas ety ae Numero de muestra Figura 4-15 Las reglas de Wester Electric 0 de zonas, con los thtimos cuatro puntos indicando una violacisn de la regla 3, tencia inferior no seria una sefial de alarma de fuera de control. Es frecuente el uso de estas reglas en la practica para aumentar la sensibilidad de las cartas de control, Es decir, el uso de estas reglas puede permitir que los corrimientos més pequeiios en el proceso se detecten mas ripido que como seria el caso si el inico criterio fuera la violaciGn del Iimite de contro! tres sigma usual En la figura 4-15 se muestra una carta de control ¥ para el proceso de los anillos para pistones con los limites una sigma, dos sigma y tres sigma utilizados en el procedimiento de Western Electric Obsérvese que estos limites dividen la carta de control en las tres zonas A, B y C a ambos lados de la linea central. Por consiguiente, las reglas de Western Electric en ocasiones se llaman las reglas de zonas para cartas de control. Obsérvese que los titimos cuatro puntos se localizan en Ia zona B o después. Por tanto, puesto que cuatro de cinco puntos consecutivos exceden el limite una sigma, el Procedimiento de Western Electric concluiré que el patrén es no aleatorio y que el proceso esti fuera de control. Discusi6n de las reglas de sensibilizacién para cartas de control Como puede reunirse de las secciones anteriores, es posible aplicar simulténeamente varios criterios a una carta de control para determinar si el proceso esté fuera de control. El criterio basico es el de uuno o mas puntos fuera de los limites de control. En ocasiones se emplean criterios suplementarios para aumentar la sensibilidad de las cartas de control a uh corrimiento pequeao en el proceso a fin de poder responder con mayor rapidez a la causa asignable. En la tabla 4-1 se presentan algunas de las reglas de sensibilidad que son de uso comtin en la préctica. Para una buena discusién de algunas de estas reglas, ver Nelson (2). Con frecuencia se inspeccionard la carta de control y se concluira que el proceso esté fuera de control si se satisfacen uno 0 més de los criterios de la tabla 4-1 Cuando se aplican de manera simulténea varias de las reglas de sensibilidad, es comin usar una respuesta graduada para sefiales fuera de control. Por ejemplo, si un punto excedié un limite de control, se iniciarfa de inmediato la biisqueda de la causa asignable, pero si uno o dos puntos 176 CAaPiTULO4 METODOS Y FILOSOF{A DEL CONTROL E ADISTICO DE PROC fabla 4-1 Algunas reglas de sensibilidad para cartay de control de Shewhart estindar—> 1. Uno o mis puntos fuera de los limites de control 2. Dos de tres puntos consecutivos fuera de los limites de advertencia i pero atin dentro de los limites de control. 3. Cuatro de cinco puntos consecutivos fuera de los limites una sigma, Seital de ace dos si Western Electric Una corrida de ocho puntos consecutivos en el mismo lado de linea central Seis puntos seguidos que se inerementan o se deerementan de ma: ner sostenida. 6. Quince puntos seguidos en la zona C (tanto arriba como abajo de le linea central) 7. Catoree puntos seguidos alternindose arriba y abajo. 8. Ocho puntos seguidos en ambos lados de la lin guno de ellos en la zona C. 9. Un patron inusual on 10, Uno © mas puntos cer central pero nin- aleatorio en los datos. rca de un limite de control 6 de advertencia. consecutivos s6lo excedieron el limite de advertencia dos sigma, podria incrementarse la frecuen- cia del muestreo de cada hora, por ejemplo, a cada 10 minutos, Esta respuesta de muestreo adap- table no podria ser tan rigurosa como una biisqueda completa de una causa asignable, pero si el proceso en realidad estuviera fuera de control, proporcionarfa una alta probabilidad de detectar esta situacién con mayor rapidez que si se conservara el intervalo de muestreo mas largo. En general, deberd ejercerse cuidado cuando se usen varias reglas de decisién al mismo tiem- po. Suponer que el analista utiliza k reglas de decisién y que la probabilidad del error tipo I del criterio i es @,, Entonces la probabilidad global del error tipo 1 0 de una falsa alarma para la decisién basada en las k pruebas es ‘ a=1-JJd-a,) (4-4) siempre que la totalidad de las k reglas de decisién sean independientes. Sin embargo, el supuesto de independencia no es vélido con las reglas de sensibilidad usuales. Ademis, el valor de of, no siempre esta definido con claridad para las reglas de sensibilidad, ya que estas reglas incluyen varias observaciones.. Champ y Woodall (1) investigaron el desempefio de la longitud promedio de la corrida para la carta de control de Shewhart con varias reglas de sensibilidad. Encontraron que el uso de estas reglas mejora la habilidad de la ‘carta de control para detectat los corrimientos més pequefios, pero la longitud promedio de la corrida bajo control puede degradarse sustancialmente. Por ejemplo. suponiendo datos independientes del proceso y utilizando una carta de control de Shewhart con las reglas de Western Electric, se obtiene una ARL bajo control de 91.25, en contraste con 370 para la carta de control de Shewhart sola. Por tanto, las reglas de sensibilidad deberiin usarse con extremo cuidado, ya que un niimero excesivo de falsas alarmas puede ser perjudicial para un programa de SPC efectivo. Ademés, con- forme se apliquen més reglas suplementarias a la carta, el proceso de decisiGn se hace més compli- 4-4 EL RESTO DE L/ sIETE MAGNIFICAS” 177 cadlo, y se pierde Ia simplicidad inherente de la carta de control de Shewhart. Muchas de las reglas de sensibilidad que se han discutido se han implementado en programas modernos de computadora para SPC. Sin embargo, el analista deberd ser en extremo cuidadoso acerca de su uso rutinario. Las reglas de las corridas y otras reglas de sensibilidad pueden ser dtiles cuando la carta de control acaba de aplicarse y el interés principal es la estabilizacién de un proceso fuera de control. Sin embargo, una vez que el proceso es razonablemente estable, deberd desalentarse 1a utilizaci6n rut ia de estas reglas de sensibilidad para detectar corrimientos pequefios, © para intentar reaccionar con mayor rapidez a causas asignables. Cuando sean de interés los corrimientos en el proceso mas peque- fio, deberdin usarse cartas de control de suma acumulada y de promedio mévil ponderado exponen- cialmente (ver el capitulo 8 de la parte IID). 4-4 EL RESTO DE LAS “SIETE MAGNIFICAS” ‘Aun cuando la carta de control es una herramienta muy poderosa para resolver problemas y mejo- rar procesos, su aplicacién es més efectiva cuando esté integrada completamente en un programa global de SPC. La ensefianza de las siete principales herramientas del SPC para resolver problemas deberd hacerse llegar a toda la organizaciGn y deberdn utilizarse de manera rutinaria para identifi- car las oportunidades de mejoramiento asi como para ayudar a reducir la variabilidad y eliminar el desperdicio. Las “siete magnificas”, que se introdujeron en la secci6n 4-1, se enlistan de nuevo por conveniencia 1. El histograma y el diagrama de tallo y hoja 2. La hoja de verificacién 3. La grifica de Pareto. 4, El diagrama de causa y efecto. 5. El diagrama de concentraciGn de defectos. 6. El diagrama de dispersién. 7. La carta de control Se han discutido ya el histograma y el diagrama de tallo y hoja (capitulo 2), y la carta de control. En esta seccién se ilustrara brevemente el resto de las herramientas. La carta de verificacién En las etapas iniciales de la implementaci6n del SPC, con frecuencia ser necesario colectar datos de ‘operacién, sean hist6ricos o actuales, acerca del proceso bajo investigacién. Una hoja de verifica- cién puede ser de gran utilidad en esta actividad de recabar datos. La hoja de verificacién que se muestra en la figura 4-16 fue desarrollada por un ingeniero de una empresa aeroespacial que inves- tigaba los diferéntes tipos de defectos que ocurrian en un tanque usado en uno de sus productos con la intencién de mejorar el proceso. El ingeniero disefé esta hoja de verificaci6n a fin de facilitar el resumen de todos los datos histéricos disponibles de los defectos relacionados con los tanques. Debi- do a que sélo se fabricaba un ntimero reducido de tanques cada mes, parecfa apropiado resumir los datos mensualmente e identificar tantos tipos diferentes de defectos como fuera posible. El resumen con una orientacién en el tiempo es particularmente valioso para buscar tendencias y otros patrones importantes. Por ejemplo, si muchos defectos ocurren durante el verano, una posible causa que debe- 1 investigarse es la contrataci6n de obreros eventuales durante un periodo vacacional intenso. 78 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS HOUA DE VERIFICACION DATOS DE DEFECTOS DE 1986-1989 A LA FECHA de parte: Tax-41 gar scha del estudio: 6/5/89 Bellevue Tce 1988 1908 Detecto neta ene} > | Towa snes aac i oblemas ge maquinade 3 6 2 2 ies suminsradas ond cturacion insulente ans sdacura desainenda coonsamvento fuera de orden omsion dla pate incorrecta T sruturas aerognamens no Tewnnadas 3 la de adherencia T 7 2 feet joan en pole 1 tra toora de J nos T T rtura dahada por carosion 1 elicle sobre as pares 3 fer alas do prtra tapaporos daiadas v ncios on plazas funcias t ompuesto deslamnade imensiones incorecias ise eae 1 Le rocedimiento de prusba inadecuado v sls do rosie sal 4 4 TOTAL 4542 599 60 4 0 Tio 7 7 6 21 16 Figura 4-16 Hoja de verificacién para registrar los defectos de un tangue usado en una aplicacién acrospacial. Cuando se disefia una hoja de verificacién, es importante especificar claramente el tipo de datos que van a recabarse, el ntimero de parte u operaci6n, la fecha, el analista y cualquier otra infor- ‘macién titil para diagnosticar la causa del desempefo pobre. Si la hoja de verificacién es la base para realizar cilculos adicionales. o si se usa como hoja de trabajo para capturar datos en una computadora, entonces es importante asegurarse de que la hoja de verificaci6n seri adecuada para este propésito antes de que se inviertan esfuerzos considerables en la recabacién real de los datos. En algunos casos puede ser titil una “corrida de prueba” para validar que sea ttil la dispo- sicién y el disefio de la hoja de verificacién. La grafica de Pareto La grafica de Pareto es tan slo una distribucién de frecuencia (0 histograma) de datos de atributos ordenados por categoria. Para ilustrar una gréfica de Pareto, considérense los datos de los defectos del tanque presentados en la figura 4-16. Se grafica la frecuencia de la ocurrencia total de cada tipo de defecto (la tltima columna de la tabla de la figura 4-16) contra los diferentes 44 ELRESTO DELAS “SIETE MAGNIFICAS” 179 a gaia | EGG S359 028 02898 peaee gies pail PpPegiiisicdbiaaite a: gh2gsitistseiges 8 8 oH 23$¢ 23 3 z si geht s 6 be eer abe 2% i : 283 6 i Estructuras aerodinam Figura 4-17 Grifica de Pareto de los datos de los defectos del tangue. tipos de defectos para producir la figura 4-17, que se denomina grfica de Pareto. En esta gréfi- ca el usuario puede identificar visualmente de inmediato los tipos de defectos que ocurren con mayor frecuencia. Por ejemplo, la figura 4-17 indica que las dimensiones incorrectas, las partes dafiadas y el maquinado son los defectos que es més comiin encontrar. Por tanto, quizs deberfan identificarse y atacarse primero las causas de estos tipos de defectos. CObsérvese que la gréfica de Pareto no identifica automaticamente los defectos més importantes, sino sélo los que ocurren con mayor frecuencia. Por ejemplo, en la figura 4-17 los vacfos en piezas fundidas ocurre muy pocas veces (2 de 166 defectos, 0 1.2%). Sin embargo, los vacfos pueden dar como resultado que el tanque se deseche, que seria un costo potencialmente grande —quiziis tan srande que los vacios én las piezas fundidas deberian elevarse a la categoria de los defectos importan- tes, Cuando en la lista de defectos estén mezclados los que podrian tener consecuencias en extremo graves y otros de importancia mucho menor, puede usarse uno de dos métodos: 1. Usar un esquema de ponderacién para modificar los conteos de la frecuencia. En el capitulo 6 se discuten los esquemas de ponderacién para defectos. El nombre grifiea de Pareto se deriva del economista italiano Vilfredo Pareto (1848-1923), quien teoriz6 que en cievtas ‘economias 1a mayorfa de la riqueza se concentrabayen un segmento desproporcionadamente reducido de la poblacién. Los ingenieros de calidad han observado que los defectos por lo general siguen una distribucin similar a la de Pareto 80 CAPITULO4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS n=. : rece el bg | 52 | " ars | : | | i ai | I | Bag Beal | 3 68 139 19 46 16 8 39 64 2 118 ester eee Nimo de componeri 5 » 300 10 38 g g 8 Frecuencia de los errores Numero de ocurrencias Porcentaje acumulado Nu Pr ‘Codigo Na Da o ‘mat Re f Go” Gro eat cepts moyane peed oom os Gow cofinio eS peoveta wes” eres a= 32 Tae ° a Figura 4-18 Varios ejemplos de graficas de Pareto: 2. Acompaiar el andllisis de la gréfica de frecuencia de Pareto con una grafica de costo o desmascaramiento de Pareto. Hay muchas variantes de la gréfica de Pareto bésica, En la figura 4-184 se muestra una grifica de Pareto aplicada a un proceso de ensamblaje electrénico que utiliza componentes montados en una tarjeta. El eje vertical es el porcentaje de los componentes que se localizan incorrectamente, y cl eje horizontal es el nimero de componente, un cédigo que identifica el sitio del dispositivo en la tarjeta de circuitos impresos. Obsérvese que los cddigos de localizacién 27 y 39 representan 70% de los errores. Esto puede ser resultado del tipo o del tamafio de los componentes en esas localizaciones, 0 del sitio donde se localizan estos componentes en la tarjeta. En la figura 4-18b se presenta otra grafica de Pareto de la industria electrénica, El eje vertical es el ntimero de componentes defectuosos, y el ee horizontal es el niimero de componente. Obsérvese que las barras verticales se han descompuesto pot proveedor para producir una grdfica de Pareto apilada. Este andlisis indica claramente que el provee- dor A suministra una proporcién demasiado grande de componentes defectuosos. Las graficas de Pareto se usan ampliamente en las aplicaciones fuera de las manufacturas de los métodos de mejoramiento de calidad. En la figura 4-18c se muestra una gréfica de Pareto 4-4 EL RESTO DE LAS “SIETE MAGNIFICAS' 181 utilizada por un equipo de mejoramiento de calidad en una organizacin de compras. El equipo investigaba los errores en las érdenes de compra, en un esfuerzo para reducir el nimero de modi ficaciones en las Grdenes de compra remitidas por la organizacién. (El costo tipico de cada modificacién es de 100 a 500 dolares, y la organizaci6n remitia varios centenares de Srdenes de compra cada mes.) Esta grafica de Pareto tiene dos escalas —una para la frecueny errores y otra para el porcentaje de los mismos. En la figura 4-18d se presenta la grifica de Pareto construida por un equipo de mejoramiento de calidad en un hospital para reflejar las razones de la cancelacién de cirugias programadas de pacientes externos. En general, la grifica de Pareto es una de las “siete magnificas” mas ttiles. Sus aplicaciones en el mejoramiento de calidad s6lo estén limitadas por el ingenio del analista. real de los EI diagrama de causa y efecto Una vez que un defecto, error o problema se ha identificado y aistado para estudio adicional, es necesario empezar a analizar las causas potenciales de este efecto indeseable. En situaciones en que Jas causas no son obvias (a veces lo son), el diagrama de causa y efecto es una herramienta formal que con frecuencia es de utilidad para dilucidar las causas potenciales. En la figura 4-19 se muestra el diagrama de causa y efecto construido por un equipo de mejoramiento de calidad asignado para identificar las areas de problemas potenciales en el proceso de fabricaci6n del tanque mencionadas antes. Los pasos para la construccién del diagrama de causa y efecto son los siguientes: Cémo construir un diagrama de causa y efecto 1. Definir el problema o efecto que va a analizarse. 2. Formar el equipo para realizar el andlisis. Con frecuencia el equipo descubrira las causas potenciales mediante el procedimiento de Iluvia de ideas (brainstorming). | 3, Trazar el recténgulo del efecto y Ia linea central 4. Especificar las categorias principales de las causas potenciales y anexarlas como rec- tdngulos conectados con Ia Iinea central Identificar las causas posibles y clasificarlas dentro de las categorfas del paso 4. De ser necesario, crear nuevas categorfas, | 6. Clasificar las causas para identificar las que parezcan tener mayores posibilidades de incidir en el problema 7. Emprender una accién correctiva. Al analizar el problema de los defectos del tanque, el equipo decidi6 utilizar como categorfas principales de los defectos del tanque las méquinas, los materiales, los métodos, el personal, la medici6n y el medio ambiente. Se efectué después una sesién de Iuvia de ideas a fin de identificar las diferentes subcausas en cada una de estas categorias principales y elaborar el diagrama de la figura 4-19. Después, mediante discusiones y el proceso de eliminacién, el grupo decidié que los materiales y los métodos inclufan las categorias de las causas mas probables. 82 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS éqinas [memes] Métodos er ete rte Defectos en opootenconee| los tangues, ee ies duce Figura 4-19 Diagrama de causa y efecto para el problema de los defectos de los tanques, =i anailisis de causa y efecto es una herramienta en extremo til. Un diagrama de causa y efecto suy detallado puede servir como ayuda efectiva para corregir problemas. Ademés, la construccién ¢ un diagrama de causa y efecto como una experiencia de equipo tiende a comprometer a las sersonas para atacar un problema en vez de andar sefialando culpables. El diagrama de concentracién de defectos _n diagrama de concentracién de defectos es un dibujo de la unidad, donde se muestran todas las seas relevantes. Después se marcan en el dibujo los diferentes tipos de defectos, y el diagrama se analiza para determinar si la localizacién de los defectos en la unidad transmite cualquier informa- on titil acerea de las causas potenciales de los defectos. En la figura 4-20 se presenta un diagrama de concentracin de defectos en la etapa del samblaje final de un proceso de fabricacién de refrigeradores. Los defectos de terminado superficial se identifican con las areas sombreadas oscuras en el refrigerador. Al inspeccionar el igrama, parece claro que el manejo de materiales es el causante de la mayoria de estos defec- -s. La unidad se mueve fijando un cinturén por la parte media, y este cinturén esta muy flojo (0 spretado), desgastado, esté hecho de material abrasivo o es demasiado angosto. Ademés, cuando 2 unidad se mueve se estén dafiando las esquinas. Es posible que 1a fatiga del trabajador sea un “ctor en este proceso. De cualquier modo, los métodos de trabajo apropiados y el manejo mejo- ‘0 de los materiales probablemente mejorardn este proceso sustancialmente. En la figura 4-21 se muestra el diagrama de concentracién de defectos para el problema de los ~rques tratado antes. Obsérvese que este diagrama muestra varias categorfas generales de defec~ ~ diferentes, identificada cada una con un c6digo especifico. Es frecuente el uso de diferentes ores para indicar diferentes tipos de defectos. 44 EL RESTO DE LAS “SIETE MAGNIFICAS' 183 Bs Parte superior Lado Frente Pare Lado laquier- posterior derecho é CF Parte interior Figura 4-20 Defectos en el terminado superficial de un refrigerador. Cuando los datos de los defectos se representan en un diagrama de concentraci6n de defectos para un niimero suficiente de unidades, es comtin que surjan patrones, y la localizacién de estos patro- nes suele contener mucha informacién acerca de las causas de los defectos. Hemos encontrado que los diagramas de concentracién de defectos son herramientas importantes para resolver problemas en muchas actividades industriales, incluyendo actividades de revestimiento metilico, pintura y recubrimiento, y operaciones de fundicién, maquinado, y ensamblajes electrénicos El diagrama de dispersi6n El diagrama de dispersién es una gréfica «til para identificar una relaci6n potencial entre dos »aria- bles. Los datos se colectan por pares de las dos variables —por ejemplo, (y’,.x)— para f= 1, 2... 1 Numero de tanque Nimero de serie Lado ao Lado izquierdo derecho Cédigo del defecto C= Desgaste supericial o rayado D=Luna Figura 4-21 Diagrama de concentracién de defectos del tanque, 184 — CAPfrULO4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 100 o esta 3 - . 2 press 8 8 Sl eh ois Boas 3 é 0 5 1 15 2 25 30 35 Fundente aprovechable (Ib) Figura 4-22. Un diagrama de dispersién Después se grafica cada y, contra la x, correspondiente, La forma del diagrama de dispersién suele indicar el tipo de relacién que puede existir entre las dos variables. En la figura 4-22 se muestra un diagrama de dispersi6n que relaciona e! metal recuperado (en por ciento) de un proceso de fundicién magnatérmico para magnesio contra los valores correspon- dientes de la cantidad de fundente de aprovechable agregado al crisol. El diagrama de dispersivn indica una fuerte correlacion positiva entre la recuperacion de metal y la cantidad de fundente: es. decir, cuando se incrementa la cantidad de fundente agregada, la recuperacién de metal también se incrementa. Resulta tentador concluir que la relaciGn tiene una base de causa y efecto: al inere- mentar la cantidad de fundente aprovechable, siempre puede asegurarse una alta recuperacién de metal. Este razonamiento es potencialmente peligroso, ya que la correlacién no implica necesa- riamente causalidad. Esta aparente relacién podria ser causada por algo muy diferente. Por ejem- plo, ambas variables podrian estar relacionadas con una tercera variable, como la temperatura del metal antes de Ia operaci6n de vertir el fundente aprovechable, y esta relacién podria ser responsa- ble de lo que se observa en la figura 4-22. Si temperaturas més elevadas llevan a una recuperacion de metal més alta, y la practica es agregar fundente aprovechable en proporcién a la temperatura, agregar més fundente cuando el proceso est operando a baja temperatura no tendré efecto alguno en el mcjoramiento del rendimiento. El diagrama de dispersién es vtil para identificar relaciones potenciales. Deberdn usarse experimentos disefiados [ver Montgomery (3)] para verificar la causalidad. 4-5 IMPLEMENTACION DEL SPC Los métodos del control estadistico de procesos pueden proporcionar una retribucién significativa @ las compaiias que puedan implementarlos exitosamente. Aun cuando el SPC parece ser una colec- cidn de herramientas basadas en la estadistica para resolver problemas, para la aplicacién exitosa del SPC se necesita algo mds que el aprendizaje y uso de estas herramientas. La participacién y com- promiso de la administracién con el proceso de mejoramiento de calidad es el componente vital del éxito potencial del SPC. La administracion desempeiia el papel de ser el modelo, y los demas inte~ grantes de la organizacién mirardn hacia la administracién como guia y ejemplo. También es impor 4.5 IMPLEMENTACION DEL SPC «185 tante un enfoque de equipo, ya que es generalmente dificil que una sola persona introduzca mejoras en un proceso. Varias de las “siete magnificas” son titiles para formar un equipo de mejoramiento, incluyendo los diagramas de causa y efecto, las gréficas de Pareto y los diagramas de concentracién de defectos. El amplio conocimiento y uso de las herramientas para resolver problemas del SPC deberd darse en toda la organizacién. La capacitacién continua del personal acerca del SPC y otros métodos para reducir la variabilidad es necesaria para conseguir que el conocimiento de las herra- mientas sea vasto en todos los niveles El objetivo de un programa de reduccidn de la variabilidad basado en el SPC es el mejoramiento continuo sobre una base Semanal. trimestral y anual. El SPC no es un programa que se aplique una sola vez, cuando el negocio esti en problemas y se abandone después. El mejoramiento de calidad que se enfoque en la reducci6n de la variabilidad debe convertirse en parte de la cultura de la organi zacién. La carta de control es una herramienta importante en el mejoramiento de los procesos. Los procesos no operan naturalmente en un estado bajo control, y la utilizacién de las cartas de control es un paso importante que debe darse temprano en un programa de SPC a fin de eliminar las causas asignables, reducir la variabilidad del proceso y estabilizar el desempefio del proceso. Para mejorar la calidad y la productividad, es necesario empezar a dirigir la organizacin con hechos y datos, y no confiar sdlo en el criterio. Las cartas de control son una parte importante de este cambio en el enfoque de la administracién. Al implementar un esfuerzo para reducir la variabilidad y mejorar la calidad en toda la compa- fifa, hemos encontrado que varios elementos suelen estar presentes en todos los esfuerzos exitosos. Estos elementos son los siguientes: Elementos de un programa de SPC exitoso « Liderazgo de la administracién. Enfoque de equipo. Capacitaci6n de los empleados en todos Jos niveles, Enfasis en la reduccidn de 1a variabilidad. | Medir el éxito en términos cuantitativos (econémicos). vee ane Un mecanismo para comunicar los resultados exitosos en toda la organizacién. No puede hacerse demasiado hincapié en el liderazgo de la administracién y en el enfoque de grupo. El mejoramiento de calidad exitoso es una actividad dirigida por la administraci6n “de arriba hacia abajo”. También es importante medir el progreso y el éxito en términos cuantitativos (econd- micos), y difundir el conocimiento de este’ éxito en toda la organizacién. Comunicar las mejoras exitosas en toda la compaiifa proporciona motivaciGn e incentivacién para mejorar otros procesos y para hacer del mejoramiento continuo una parte normal de la manera de hacer negocios. 186 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS -6 UNA APLICACION DEL SPC En esta seccidn se ofrece una relacién de la aplicacién de los métodos del SPC para mejorar I idad y la productividad de la operacién de recubrimiento de cobre en unas instalaciones donde se fabrican tarjetas de circuitos impresos. Este proceso se caracterizaba por altos niveles de defectos, tales como cobre quebradizo y vacfos de cobre, asf como por el largo tiempo de flujo, el cual resul. taba particularmente problematic, ya que habia llevado a severos retrasos del trabajo y era uno de los principales factores que contribu‘an a que no pudiera cumplirse con el programa de produ de la fabrica. La administraci6n eligi6 esta rea del proceso para una implementacién inicial del SPC. Se formé un equipo de mejoramiento, integrado por el operador del tangue de chapado, el ingeniero de manufactura responsable del proceso y un ingeniero de calidad. Todos los integrantes del equipo habfan participado en un seminario de SPC sobre las “siete magnificas” patrocinado por la compa ‘ifa, Durante la primera reunidn del equipo. se decidi6 concentrarse en Ia reduccién del tiempo de flujo a través del proceso, pues se considers que el incumplimiento de los objetivos de entrega eran el obsticulo més serio para mejorar la productividad. El equipo determiné pronto (con base en la experiencia del operador) que el tiempo muerto excesivo del controlador que regulaba la concen- traci6n de cobre en el tanque de chapado era un factor importante en el tiempo de flujo excesivo, ya que el tiempo muerto del controlador se traducia directamente en produccién perdida, El equipo decidié usar un andlisis de causa y efecto para aislar las causas potenciales del tiempo muerto del controlador. En la figura 4-23 se muestra el diagrama de causa y efecto que se elaboré durante la sesiGn de Iuvia de ideas enfocada en el tiempo muerto del controlador, El equipo pudo identificar répidamente 11 causas potenciales principales del tiempo muerto del con- Ratieno det || Falaenia ana || Corotacor || 4. tenimiento| | Fallaen reactivo || Pemba elécrica |] 9% |!" Go tuperia | [ol sistema) parastélica ture de alarma Tareta del Mantenimiento cercuito PV | Calentador ‘semanal | Baja PMC Nuevo Fala en Cl de la reactive | el motor fuente de energia 2 Mantenimiento | Cerrada Termistores on Cael e urgencia calerimetio ie detectuosos Tareta madre [ase] 4 ruert del Impulsor controlador Fluctuacion | del Manteni rmiento etormados de rutina Ensamblaie fen las juntas Reemplazo ‘colorimetro al electrode del aire Reactivos Varasin doa] S822 | conrlas] | Reenpiao || Falaenta concentactn || Teesside || Cea] | da eacrodo ||, DoTBa de Figura 4-23 Diagrama de causa y efecto para el tiempo muerto del controlador. 46 UNA APLICACION DEL SPC 187 CONTEO SEMANAL, OPERADOR FIN DE SEMANA, ERRORES DESCRIPCION | ACCION I, VARIACION EN LA CONCE! a. Desviacién del colorimetro b, Falla det electrodo fe. React Tubos deformados Errorfoperacién/no autorizada TRACION 2. FALLAENE a. Baja PMC b. Cerrada SISTEMA DE ALARMA 3. FALLA EN LA BOMBA DE RECIRCULACION a. Esclusa del aire b. Impulsor 4, Relleno del reactivo a. Nuevo reactivo 5, MANTENIMIENTO DE LA TUBERIA a, Mantenimiento semanal b. Mantenimiento de urgencia 6. REEMPLAZO DEL ELECTRODO a, Mantenimiento de rutina 7. CONTROLADOR DE TEMPERATURA a. Calentador quemado b. Termistores defectuosos 8. CONTROLADOR DE OXIGENO a. Deschapado b. Reemplazo del electrodo 9. Falla de la bomba parastélica a, Falla del motor 10. FALLA BLECTRICA a. Tarjeta del cireuito PV b. CL de la fuente de energia CL del colorimetro 4. Tarjeta madre 11, RECIRCULACION DESCHAPADO. Ensamblaje en las juntas CONTEO TOTAL Figura 4.24 Hoja de verificacin de la bitécora (88 CAPITULO. 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CO TROL, ADISTICO DE PROCESOS trolador, Sin embargo, cuando examinaron la bitécora del equipo para hacer un diagnéstico mis definitive de las causas del tiempo muerto basado en el desempefio real del proceso, los resultados fueron desalentadores. La bitécora contenfa poca informacién util acerca de las causas del tiempo muerto; en cambio, contenfa Gnicamente un registro cronolégico de cuando la maquina estuvo funcionando y cudndo estuvo apagada. Entonces el equipo decidié que seria necesario colectar datos validos sobre las causas del tiempo muerto del controlador. Disefiaron la hoja de verificacién que se muestra en la figura 4-24 como una pagina complementaria de la bitécora. El equipo acord6 que siempre que el equipo estuviera ocioso, uno de los miembros del equipo asumiria la responsabilidad de Henar la hoja de |. Obsérvese que las principales causas del tiempo muerto del controlador identificadas en el diagrama de causa y efecto se han usado para estructura los encabezados y subencabezados de la hoja de verificacién. El equipo acordé que los datos se colectarian durante un periodo de 4 a 6 semanas. Conforme se contaba con datos mis confiables acerca de las causas del tiempo muerto del controlador, el equipo pudo analizarlo utilizando otras técnicas del SPC. En la figura 4-25 se presen- ta el andlisis de Pareto de los datos de las fallas del controlador que ocurrieron durante el estudio de 6 semanas del proceso. Obsérvese que la variacidn en la concentracién es una de las causas principa- les del tiempo muerto. En realidad, la situacién probablemente es més compleja de lo que parece. La tercera categoria mas grande de las causas del tiempo muerto es el relleno del reactivo. Frecuente- mente, el reactivo del colorimetro del controlador se rellena porque la concentraci6n ha variado a tal grado fuera de las especificaciones del proceso que el relleno del reactivo y Ia recalibracién del colorimetro son la tinica medida a la que puede recurrirse para volver a poner en linea el proceso. Por lo tanto, posiblemente hasta 50% del tiempo muerto asociado con fallas en el controlador puede atribuirse a la variacién en Ia concentracién. En la figura 4-26 se presenta un andlisis de Pareto exclusivamente para los datos de la variacién en la concentracién. Por este diagrama se sabe que la fluctuacién del colorimetro y los problemas con los reactivos son causas principales de la variacién en la concentracién. Esta informacién Ilev6 a que el ingeniero de manufactura del equipo concluyera que la reconstruccién del colorimetro seria un paso importante para mejorar el proceso. verificaci6 40 26 g 20 2B 5 2 20 3 16 2 us & 10 9 aa E ei z OTNaracion Mantoni- — Relleno Falla en ls Falla en HE ‘Controle. Fata det concen: Tatnara rescho eoraier per. Spore de esata Figura 4-25 Anslisis de Pareto de las fallas del controlador. 4.6 UNA APLICACION DEL SPC 189 ih 30 Por clento del tiempo muerto Z 6 Figura 4-26 Anillisis de Pareto de Ia v sién, \cién en la concentra- Durante el tiempo en que se colectaron estos datos del proceso, el equipo decidié llevar cartas de control estadistico del proceso. La informacién colectada hasta este punto acerca del desempefio del proceso fue la base para construir los primeros planes de accién para condiciones fuera de control (OCAP, por sus siglas en inglés) para estas cartas de control. La concentracién de cobre de este proceso se midié manualmente tres veces al dfa, En la figura 4-27 se presenta la carta de control ¥ 3.3667 3.1933 3.0200 2.8467 Concentracién promedio de cobre 2.6733 2.5000 ssdessesseses Fecha de la muestra Figura 4-27 Canta ¥ de la concentracién promedio diaria de cobre. 90 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS. 1.2000 0.9600 0.7200 lor de cobre 0.4800 Cone 0.2400 0.0000 Fecha de la muestra Figura 4-28 Carta R para la concentracién diaria de cobre, para la concentracién promedio diaria de cobre: es decir, cada punto graficado en la figura es un promedio diario, La carta muestra la linea central y los limites de control tres sigma. (En los siguien- tes capitulos se discutiré con mayor detalle la construccién de estos limites.) Obsérvese que hay varios puntos que se localizan fuera de los limites de control, indicando la presencia de causas asignables en el proceso. En la figura 4-28 se presenta la carta del rango o R para la concentracién diaria de cobre. En esta carta, R representa la diferencia entre las lecturas maxima y minima de la concentra- cién de cobre en un dia, Obsérvese que la carta R también indica la falta de control estadistico. En particular, la segunda mitad de la carta R parece ser mucho més inestable que la primera. Al examinar las fechas en el eje horizontal, el equipo observ que la variacién severa de la concentracién prome- dio diaria de cobre apareci6 después del 3 de enero. Las tiltimas observaciones de la concentraci6n de cobre se habfan tomado el 22 de noviembre. Desde el 23 de noviembre hasta el 3 de enero el proceso habia estado fuera de operacién por vacaciones. Aparentemente, cuando el proceso se reinicié, ocu- rrid un deterioro sustancial del desempefio del controlador/colorimetro. Esto apresuré la decisién de ingenieria de reconstruir el colorimetro. En la figura 4-29 se presenta un diagrama de tolerancia de las lecturas de la concentraci6n diaria de cobre. En esta figura se grafican las lecturas de la concentracién de cobre de cada dia, y los extremos se unen con una linea vertical. En algunos casos se grafica més de una observa- cidn en una sola posicién, por lo que se usa un numeral para indicar el ntimero de observaciones graficadas en cada punto particular. La linea central de esta carta es el promedio del proceso en el periodo de tiempo estudiado, y los limites superior e inferior son los limites de la especifica~ cién para la concentracién de cobre, Cada situacién de un punto que se localiza fuera de los limites de la especificacién corresponderia a un tiempo muerto no programado del proceso. Varias cosas son evidentes al examinar el diagrama de tolerancia, Primera, el promedio del proceso es significativamente diferente de la especificacién nominal para la concentracién de cobre (el punto medio de la banda de la tolerancia superior ¢ inferior). Esto implica que la calibraci6n del colorimetro podria ser inadecuada. Es decir, literalmente, se estarfa apuntando al 4.6 UNA APLICACION DEI 191 Concentracién de cobre 0.0000 Fis us Fecha de la muestra Figura 4-29 Diagrama de tolerancia de la concentracién diaria de cobre. objetivo equivocado, Segunda, se observa que la variaci6n en las lecturas diarias de la concen- tracién de cobre es considerablemente mas grande después del 3 de enero que antes del cierre de operaciones. Por iltimo, si la variaci6n en el proceso pudiera reducirse a un nivel aproximadamen- te consistente con el observado antes del cierre de operaciones y si pudiera corregirse el centrado del proceso, muchos de los puntos fuera de las especificaciones no habrian ocurrido, y el tiempo muerto del proceso deberia reducirse. A principios de febrero, ingenieria de manufactura reconstruy6 el colorimetro y el controla- dor. El resultado de esta actividad de mantenimiento fue la restauracién de la variabilidad en las lecturas diarias de la concentracién de cobre en el nivel antes del cierre de operaciones. El colorimetro reconstruido volvié a calibrarse y subsecuentemente pudo mantenerse en el objetivo co- recto. El recentrado y la recalibracién del proceso redujo el tiempo muerto del controlador de aproximadamente 60% a menos de 20%. En este punto, el proceso pudo cumplir con Ia veloc’ dad de produccién requerida. Una vez que se mejoré este aspecto del desempeno del proceso, el equipo dirigié sus esfuerzos a reducir el ntimero de unidades defectuosas producidas por el proceso. En general, como ya se sefialé, los defectos estaban incluidos en dos categorfas principales: cobre quebradizo y vacios de cobre. El equipo decidié que, aun cuando era posible aplicar cartas de control y técnicas de control del proceso a este problema, el uso de los métodos de disefio experimental podria llevar a una solucin més rapida, Como se sefial6 en el capitulo 1, el objetivo de un experimento disefiado es generar informacién que permitiré entender y modelar la relaci6n entre estas variables del proceso y las medidas del desempefio del mismo. En la tabla 4-2 y en la figura 4-30 se muestra el experimento disefiado para el proceso de recubri miento metilico 0 chapado. El objetivo de este experimento fue proporcionar informacién que fuera de utilidad para minimizar los defectos de chapado. Las variables del proceso consideradas en el experimento fueron la concentracién de cobre, la concentracién de hidréxido de sodio, la concen- D2 _ CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS, CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DI bla 4-2 Un experimento diseftado para el proceso del recubrimien- to metilico 0 chapado minimizar los defectos de chapado Variables del proceso Nivel bajo 4 = Concentracién de cobre - B = Conventiaci6n de hidréxido de sodio - + C = Concentracién de formaldehido - + D = Temperatura = E = Oxigeno 4 ‘ Diseito experimental Variables Respuesta Corda A B ie DE __(defectos) 1 = - 2 5 2 : - a . 3 ~ + - - 4 i + - - + _ - - a = = 6 + # = + 7 - + e z 8 + 5 = = 9 - - = + 10 + - - + + n - + - + + 12 + + - + - 13 - a + + + 14 + - + + = 1s - + + a = 16 + + + os Ee tracién de formaldehido, la temperatura y el oxigeno. Se eligié un nivel bajo y uno alto, represen- tados simbdlicamente con ios signos menos y més en la tabla 4-2, para cada variable del proceso. El equipo consideré inicialmente un experimento factorial —es decir, un disefio experimental en el que se correrfan todas las combinaciones posibles de estos niveles de los factores. Este diseflo habria requerido 32 corridas —es decir, una corrida en cada uno de los 32 vértices de los cubos de la figura 4-30. Puesto que se trata de un ntimero demasiado grande de corridas, al final se seleccio- n6 un disefio factorial fraccionado que usaba tinicamente 16 corridas. Este disefio factorial frac- cionado se muestra en la mitad inferior de la tabla 4-2 y, geométricamente, en la figura 4-30.'En este disefio experimental, cada renglén de la tabla es una corrida del proceso. La combinacién de signos menos y mds en cada columna de ese rengl6n determina los niveles bajo y alto de las cinco variables del proceso que van a usarse en esa corrida. Por ejemplo, en la corrida | la concentracion de cobre, la concentracién de hidréxido de sodio, 1a concentracin de formaldehido y 1a temper tura se corren en el nivel bajo y el oxigeno se corre en el nivel alto. El proceso se correrfa en cada uno de los 16 conjuntos de condiciones descritas por el disefio (por razones que se discutirdn més adelante, las corridas no se realizarfan en el orden mostrado en la tabla 4-2), y se registraria una 4-7 APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 193. Figura 4-30 Vista geométrica del disefio factorial fraccionado para el experimento del proceso de chapado. variable de respuesta —un ndmero observado de defectos de chapado— en cada corrida, Después, estos datos podrian analizarse utilizando técnicas estadisticas simples para determinar los factores que tienen una influencia significativa en los defectos de chapado, independientemente de que cualquiera de los factores influya conjuntamente en la ocurrencia de los defectos y de que sea posible ajustar estas variables en nuevos niveles que reduciran los defectos de chapado abajo del nivel actual. Aun cuando la discusién completa del diseiio de experimentos sale del alcance de este texto, en la parte IV se presentarn ejemplos de experimentos disefiados para mejorar el desempe- io del proceso. Después de que el equipo realiz6 el experimento que se muestra en la tabla 4-2 y de que analiz6 los datos resultantes del proceso, determiné que varias de las variables que identificaron para hacer el estudio eran importantes y tenfan un impacto significativo en la ocurrencia de defectos de chapado. Pudieron ajustar estos factores en nuevos niveles y, como resultado, los defectos de chapado se redujeron en un factor aproximado de 10. Por lo tanto, al concluir el csfuerzo inicial del equipo para aplicar el SPC al proceso de chapado, se habfan conseguido mejoras sustanciales en el tiempo de flujo del producto a través del proceso y se habia dado un paso importante en el mejoramiento de la capacidad del proceso. ‘ 4-7 APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS FUERA DE LA MANUFACTURA En este libro se presentan los principios fundamentales del control estadistico de procesos. La mayoria de los ejemplos usados para reforzar estos principios estén en un marco industrial, orien- 4 CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCI SOS tado a productos. Ha habido muchas apiicaciones exitosas de los métodos de control estadistico de procesos en el Ambito de la manufactura, Sin embargo, los principios son en sf mismos generale; por consiguiente, existen muchas aplicaciones no industriales, o de la industria de servi metodologia del control estadistico de procesos y del mejoramiento de calidad. tas aplicaciones fuera de las manufacturas no difieren sustancialmente de las aplicaciones industriales mas comunes. Como un ejemplo, la carta de control para la fraccién disconforme (que se discute en el capitulo 6) podria aplicarse para reducir los errores de facturacién en una ope tarjetas de crédito bancarias, con la misma facilidad con la que podria usarse para red fraccivin de tarjetas de circuitos impresos disconformes producidas en una planta de productos electrnicos, Las cartas X y R discutidas en este capitulo y aplicadas al proceso de manufactura de anillos para pistones podrfan usarse para monitorear y controlar el tiempo de flujo de las cuentas por pagar a través de una funci6n financiera. Las aplicaciones fuera de las manufacturas 0 no relacionadas con productos de la metodologfa del control estadistico de procesos y del mejoramiento de calidad. en ‘ocasiones requiere una cuota mayor de inventiva de la que se necesita normalmente en las aplicacio- nes més tipicas en las manufacturas. Parece haber dos razones principales para esta diferencia: ios, de la ion de 1. La mayorfa de las operaciones no manufactureras carecen de un sistema de medicién natu- ral que permita al analista definir fécilmente la calidad. El sistema que debe mejorarse por lo general es bastante obvio en un escenario de manufac turas, mientras que la observabilidad del proceso en un escenario fuera de las manufacturas, puede ser muy baja. Por ejemplo, si se esta intentando mejorar el desempefio de una linea de ensamblaje de computadoras personales, es probable que la linea esté contenida dentro de una sola instalacién y que las activida- des del sistema sean observables con facilidad. Sin embargo, si se esté tratando de mejorar la opera- cién de una organizacién financiera, entonces la observabilidad del proceso puede ser limitada. Quizé las actividades reales del proceso sean realizadas por un grupo de personas que trabajan en sitios diferentes, y los pasos de la operacién o la secuencia del flujo del trabajo puede ser dificil de observar. Ademés, la ausencia de un sistema de medicién cuantitativo y objetivo en la mayoria de los procesos no manufactureros complica el problema. La clave para aplicar los métodos del control estadistico de procesos y del mejoramiento de calidad en un escenario fuera de la manufactura es enfocar los esfuerzos iniciales a resolver estas dos cuestiones. Hemos encontrado que una vez que el sistema se ha definido adecuadamente y que se ha desarrollado un sistema de medicién vélido, 1a mayoria de las herramientas del SPC discuti- das en este capitulo pueden aplicarse fécilmente a una amplia variedad de operaciones no manu- factureras, incluyendo las finanzas, la comercializacién, materiales y requerimientos, el apoyo al cliente, el servicio en campo, el desarrollo y disefio de ingenierfa, y el desarrollo de software y la programacién. Los diagramas de flujo y los diagramas de operaciéri del proceso son particularmente «tiles para desarrollar la definicién y la comprensién del proceso. Un diagrama de flujo es tan s6lo una secuencia cronolégica de los pasos del proceso 0 flujo del trabajo. En ocasiones, a la elaboracién de diagramas de flujo se le Mama el mapeo del proceso. Los diagramas de flujo o mapas del proceso deben construirse con el detalle suficiente para identificar la actividad laboral con valor agregado, contra el trabajo sin valor agregado del proceso. En la mayorfa de los procesos no manufactureros hay desechos, reprocesamiento y otras ope- raciones sin valor agregado, tales como pasos innecesarios en el trabajo y los puntos de conges- 4-7 APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 195 tionamiento 0 cuellos de botella. Con frecuencia el andlisis sistemdtico de estos procesos puede eliminar muchas de estas actividades sin valor agregado. El diagrama de flujo es muy util para sualizar y definir el proceso de tal modo que puedan identificarse las actividades sin valor agre- gado. En el recuadro siguiente se resumen algunas maneras de eliminar las actividades sin valor agregado y de simplificar el proceso. [ Maneras de eliminar las actividades sin valor agregado | | 1. Reordenar la secuencia de los pasos del trabajo. 2. Reordenar la ubicacién fisica del operador en el s 3. Cambiar los métodos de trabajo. 4. Cambiar el tipo de equipo utilizado en el proceso. 5. Redisefiar las formas y los documentos para un uso mas 6. Mejorar la capacitacién del operador. 7. Mejorar la supervision. 8. Identificar con mayor claridad la funcién del proceso para todos los empleados. 9. Intentar eliminar los pasos innecesarios. 10. Intentar consolidar los pasos del proceso. | istema. | eficiente. | La figura 4-31 es un ejemplo de un diagrama de flujo de un proceso en la industria de los servicios. Lo construyé un equipo de mejoramiento del proceso de un despacho contable que estudiaba el proceso para lenar la forma 1040 para la devolucién del impuesto sobre la renta, y en este diagra- ma de flujo particular s6lo se documenta un subproceso particular, el de conjuntar los documentos fiscales finales. Obsérvese el alto nivel de detalle del diagrama de flujo, el cual ayudaré al equipo a encontrar actividades superfluas o sin valor agregado. En este ejemplo, el equipo utiliz6 simbolos especiales en el diagrama de flujo. Especificamente, emplearon los sfmbolos del diagrama de ‘operacién del proceso que se muestran abajo: Carta de simbolos del proceso de operacién en: | Bs cases, > = movimiento 0 traslado V7 -@-> Soar3 AL epoatar A procaso do “Srna eect enyapar_Deoroner exguaas en Carta ‘tos componies To sores oe tomo =, OOOO x= © at Figura 4-31 Diagrama de flujo de la parte del proceso donde se conjuntan los documentos fiscales de la forma 1040 del proceso de la devolucién del impuesto sobre la renta, Hemos encontrado que estos simbolos son muy ttiles como apoyo para que los miembros del equipo identifiquen las oportunidades de mejoramiento. Por ejemplo, los retrasos, la mayor parte de la inspeccién, y muchos traslados por lo general representan actividades sin valor agregado. El despacho contable que proporcioné este ejemplo pudo usar los métodos de! mejoramiento de calidad ‘ con mucho éxito en su proceso para la forma 1040, reduciendo el tiempo de flujo (y el contenido de trabajo) para elaborar el documento en cerca de 25%, y reduciendo el tiempo del ciclo para prepa- rar la factura del cliente de mas de 60 dfas a cero (jjes correcto, cero!!). Ahora la factura del cliente esté incluida con su declaracién de impuestos. Como una ilustracién més completa de algunas de estas ideas, se presenta un ejemplo de la aplicacién de los métodos de mejoramiento de calidad en una organizacién de planeacién. Esta organizacién de planeacién, que es parte de un gran operativo de manufacturas aeroespaciales, produce los planes y documentos que acompafian cada trabajo realizado en la planta de la fabrica. 4-7 APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 197 Area Planeador Verificador ‘Aseguramientol | operativa de Ge caletad ta fabrica spc Figura 4-32 Diagrama de flujo de alto nivel del proceso de planeacién Estos planes son muy extensos, con frecuencia de varios cientos de paginas. Los errores en el proceso de planeacién pueden tener un impacto importante en la planta de la fabrica, contribuyen- do al desecho y el reprocesamiento, tiempo de produccién perdido, tiempo extra, incumplimiento de los programas de entrega, y muchos otros problemas. En la figura 4-32 se presenta un diagrama de flujo de alto nivel de este proceso de planeacién. Después de que se elaboran los planes, se envian a un verificador que intenta identificar los errores y defectos obvios en los planes. Los planes también son revisados por una organizacin de asegu- ramiento de calidad a fin de constatar que se esta cumpliendo con las especificaciones del proceso yy que cl producto final estard en conformidad con los estindares de ingenieria. Después los planes se envian al érea opertiva de la fabrica, donde una organizacién de ingenieria de enlace se ocupa de los errores en el plan encontrados en el drea de manufactura, Este diagrama de flujo es una repre- sentaci6n conveniente del cuadro general del sistema de planeacién. No es particularmente ttil para descubrir actividades sin valor agregado, ya que no cuenta con el detalle suficiente en cada uno de los bloques principales. Sin embargo, cada bloque, como el bloque del planeador, del verificador y del aseguramiento de calidad, podrian desglosarse en una secuencia mas detallada de actividades y pasos del trabajo. Este enfoque de desglosamiento con frecuencia es titil en la cons- truccién de diagramas de flujo de procesos complejos. Sin embargo, incluso en el nivel relativa- mente alto mostrado, es posible identificar al menos tres areas en las que seria provechosa la aplicacién de los métodos del SPC en el proceso de planeacién. La administraci6n de la organizaci6n de planeacién decidi6 usar la reduccién de los errores de planeacién como un proyecto de mejoramiento de calidad para su organizacin, Se escogié un equi- po de gerentes, planeadores y verificadores para iniciar esta implementacién. El equipo decidié que cada semana se seleccionarfan tres planes al azar de la salida semanal de planes, y que estos planes se analizarfan exhaustivamente para registrar todos los errores de planeacién que pudieran* encontrarse. En la figura 4-33 se muestra la hoja de verificacién que se us6 para registrar los errores encontrados en cada plan, Se elaboré un resumen mensual de estos datos semanales, utili- zando la hoja de verificacin de resumen que se presenta en la figura 4-34. Después de varias semanas, el equipo pudo resumir los datos de los errores de planeaci6n obtenidos utilizando el anilisis de Pareto de la figura 4-35. Esta gréfica de Pareto implica que los errores en la secci6n de operaciones del plan son predominantes. De hecho, 65% de los errores de planeaci6n se encuen- tran en la seccién de operaciones. En la figura 4-36 se presenta un andlisis de Pareto adicional de 198 CAPfTULO4 ~METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROC NP. Hoja de datos ERROR, DESCRIPCION __JACCION EMPRENDIOA SECCION DEL ENGABEZADO a. NUMERO DE PARTE 'b. ARTICULO. fc. MODEL’ SECCION DIBUJOSDOCUMENTOS ‘SECCION DE PARTES COMPONENTES CODIGOS DE COMPRA PREPARAGION MOA (# DE SIGNOS) ‘SECCION MOTA SECCION DE MATERIALES ‘a. CODIGO MCC (NON MP&R) 'SECGION DE OPERACIONES a. ALMACENES DE EMISION b. USO DEL EQUIPO. . MNEMOTECNIA OPC FWC ‘d. SECUENCIACION ‘¢. OPERACIONES OMITIOAS 1. ESPECIFICACIONES DEL PROCESO. 9: ALMACENAMIENTO DE RUTA FINAL hh. REJILLA SOLDADA 7._ORDENES AUXILIARES HERRAMIENTATALLER: PREPARACION DE INVENTARIOS CARRO/TALLER, NUMERO DE OPERACIONES —————_____ FECHA ‘OBSERVACIONES: VERIFICADOR Figura 4. Hoja de verificacién para el ejemplo de la planeacién. los errores de la seccién de operaciones. Se observa que las operaciones omitidas y las especifica- ciones del proceso son los principales factores que contribuyen al problema. El equipo decidié que muchos de los errores de la seccién de operaciones ocurrfan porque los responsables de planeacién no estaban lo suficientemente familiarizados con las operaciones de manufactura y con las especificaciones del proceso que se estaban aplicando. Por consiguiente, se emprendié un programa para que los responsables de planeacién se pusieran al tanto de los detalles de las operaciones de la fabrica y para aumentar la retroalimentacién respecto del tipo de errores de planeacién que se estaban experimentando actualmente. En la figura 4-37 se muestra una carta en el orden de las corridas de los errores de planeacién por operacién en 25 semanas consecutivas. Obsérvese que hay una tendencia general para que los errores de planeacién por operacién decli nen en la primera mitad del periodo de estudio. Esta declinacién puede deberse en parte al aumento de las actividades de capacitacién y supervisin de los responsables de planeacion y en parte a la retroalimentaci6n adicional que estaban aportando respecto de los tipos de errores de planeacié 4-7 APLICACIONES DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS 199 Resumen mensual de los datos SECCION DEL ENCABEZADO_ h. AKICULO ¢ MODELO PARTES COMPONENTES G_SECCION DE OPERACIONES ‘a.__ ALMACENES DE EMISION b.__ USO DEL EQUIPO .__ MNEMOTECNIA OPC FWC @.__ SECUENCIACION ¢.___ OPERACIONES OMITIDAS. {.___ ESPECIFICACIONES DEL PROCESO & __ALMACENAMIENTO DE RUTA FINAL h.__ REJILLA SOLDADA, ORDENES AUXILIARES HERRAMIENTA/TALLER| NUMERO TOTAL DE ERRORES TOTAL DE OPERACIONES VERIFICADAS. FIN DE SEMANA Figura 4-34 Hoja de verificacién resumen. que estaban ocurriendo. El equipo también recomend que se hicieran cambios sustanciales en los métodos de trabajo usados para elaborar los planes. En vez de que hubiera un solo responsable de planeacién con la responsabilidad global de la secci6n de operaciones, se recomendé que esta tarea se convirtiera en una actividad de equipo para que el conocimiento y experiencia respecto de la interfase entre las operaciones de la fabrica y de planeacién pudieran compartirse en un esfuerzo por mejorar atin més el proceso. Esta organizacién de planeacién empez6 a usar otras herramientas de control estadistico de procesos como parte de su esfuerzo de mejoramiento de calidad. Por ejemplo, obsérvese que la carta en el orden de las corridas de la figura 4-37 podrfa convertirse en una carta de control de Shewhart con la adicién de una linea central y los limites de control apropiados. Una vez que los responsables de planeacién recibieron capacitacién sobre los conceptos del SPC, el uso de estas cartas de control se incorporé en la organizaci6n. Las cartas de control demostraron ser efectivas para identificar causas asignables; es decir, los periodos de tiempo en los que los indices de los errores producidos por el sistema eran més altos que los que podrfan justificarse tinicamente por causas fortuitas. Es su habili- 200 CAPITULO 4 METODOS Y 2 eg — a | 60 | % 40+ Por siento xo} | 20} 10} a 8 4 = (leant Ga eee tlm ‘Seccién Seocidn Seacién Seccién Seccidn Prepara- Seccién Seccién de opera- de ma: de dibujos/ delenca- cionde de de clones terials pares documen- bezado existen- notas—drdenes tos, cias auxiiares Errores de planeacion Figura 4-35 Anilisis de Pareto de los errores de planeacisn dad para diferenciar entre causas asignables y fortuitas lo que hace tan indispensable la carta de control, La administracién debe reaccionar de manera diferente a una causa asignable que a una causa fortuita o aleatoria. Las causas asignables son resultado de fen6menos externos al sistema, y es necesario determinar su origen y eliminar sus causas originales fundamentales. Las causas fort aleatorias son parte del propio sistema. Unicamente pueden reducirse 0 eliminarse haciendo en Ia forma en que opera el sistema. Esto puede significar cambios en los métodos y procedimientos de trabajo, niveles mejorados de capacitacién del operador, tipos diferentes de equipo e instalaciones, ‘© materiales de entrada mejorados, todo lo cual es responsabilidad de la administracién. En el proce- so de planeacién, muchas de las causas comunes identificadas se relacionaron con la experiencia la sof | 26 Por clento Operacio- Especifica- Mnemo- Almace- Secuen- Uso del ‘ella nes ciones del tecnia.nesde © clacién equipo. -—«Soldada omitidas proceso emision Errores de la seccién de operaciones Figura 4-36 Anilisis de Pareto de los errores de la seccién de operaciones. Errores de planeacisn por operacion Ast id A 1a) ent ae ‘Semanas secuenciales Figura 4-37 Cartan el orden de las corridas de los errores de planeaci capacitaci6n y la supervision de los responsables de planeaci6n individuales, a 201 4.8 EJERCICIOS ‘como una informa- cién de entrada inadecuada del area de disefio y desarrollo de ingenieria, Estas causas comunes se eliminaron sistemdticamente del proceso, y el impacto en el largo plazo de la implementacién del SPC en esta organizaci6n fue reducir los errores de planeacién a un nivel de menos de un error de planeacién por 1 000 operaciones. 4-8 EJERCICIOS 4-1. {Cuéles son las causas asignables y las cau- sas fortuitas de la variabilidad? {Qué papel desempefian en la operacién y la interpreta- cién de una carta de control de Shewhart? 4-2. Discutir la relacién entre una carta de con- trol y la prueba estadistica de hipstesis. 4-3. Discutir los errores tipo I y tipo II en rela- i6n con una carta de control. ;Qué implica- cién préctica tienen estos dos tipos de erro- res en términos de la operacién del proceso? 4-4. {Qué quiere decir el enunciado de que'un proceso esté en un estado de control esta- ‘ico? 4-5. Si un proceso esté en un estado de control estadistico, ¢se sigue necesariamente que to- das 0 casi todas las unidades del producto producido estardn dentro de los limites de las especificaciones? 46, 47. 48. 4-10. Discutir la I6gica fundamental en el uso de los Ifmites tres sigma en las cartas de control de Shewhart, ;Cémo responderfa la carta si se eligieran limites con una anchura menor? {Cémo responderia la carta si se eligieran li- mites con una anchura mayor? {Qué son los limites de advertencia en una carta de control? {Cémo pueden usarse? Discutir el concepto de subgrupo racional, {Qué papel desempefia en el andlisis de car- tas de control? ‘Cuando se toman muestras o subgrupos de un proceso, jes preferible que las causas asigna- bles ocurran dentro de los subgrupos o entre ellos? Explicar en detalle la respuesta. En un proceso de moldeo se emplea un molde de cinco cavidades para una pieza que se uti- liza en un ensamblaje automotriz. El espesor 202 41 4-12. 4-15. 416. CAPITULO 4 METODOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL E! de la pieza es la caracteristica de ta calidad critica, Se ha sugerido utilizar cartas ¥ y R para monitorear este proceso y usar como subgrupo © muestra las cinco piezas que re- sultan de una sola “cau a el lector de esta estrategia de muestreo? 6 Qué imy ccartay para detectar causas asignables? un proceso de manufactura se producen 500 piezas por hora, Se seleccion weto tiene sobre 1a hubilidad de las una pieza de muestra aproximadamente cada media hora, y después de que se han obtenido cinco piezas, el promedio de estas cinco medicio- hes se grafica en una carta de control & a) {Se trata de un esquema de muestreo adecuado si la causa asignable del pro- cceso produce un cambio ascendente ins- tantaneo en la media que es de muy cor- ta duracién? 1b) Si la respuesta es negativa, proponer un procedimiento alternativo, Considerar el esquema de muestreo propuesto en el ejercicio 4-11, {Este esquema es apro- piado si la causa asignable resulta en una ten- dencia ascendente lenta y prolongado en la media? Si la respuesta es negativa, proponer un procedimiento alternativo. Si no se ha registrado el orden en el tiempo de la produccién en un conjunto de datos de un proceso, jes posible detectar la presencia de causas asignables? {Qué informacién proporciona la curva de operacidn caracteristica de una carta de con- trol? {De qué manera afectan los costos de mues- treo, los costos de producir un niimero excesi- vo de unidades defectuosas y los costos de buscar las causas asignables la eleccién de los parimetros de una carta de control? {El desempefio de la longitud promedio de la corrida de una carta de control es una me- dida mas significativa del desempefio que las probabilidades del error tipo I y del error tipo TT? {Qué informacién transmite la ARL que las probabilidades del error estadistico no transmiten? ‘ADISTICO DE PROCESOS vet — Linea central Let - 24 6 8 10 12 14 16 18 20 4-17. Considerar la carta de control que se muestra abajo. £1 patron parece ser aleatorio? 4-18. Considerar ka carta de control que se muestra en seguida. ;EI patron parece ser aleatorio? uct, 2 ee Linea | | central ' i | | tet | 4 1315 17 4-19. Considerar la carta de control que se muestra abajo. ;EI patron parece ser aleatorio? uct f Linea centrat 4-20. Considerar la carta de control que se muestra en el ejercicio 4-17. {£1 uso de limites de advertencia revelaria alguna condicién fuera de control potencial? Aplicar las reglas de Western Electric a la carta de control del ejercicio 4-17. ,Se satis face alguno de los criterios para declarar fuera de control el proceso? 4-22. Trazar los limites de advertencia en la carta de control del ejercicio 4-19. {Estos limites indican alguna condici6n fuera de control po- tencial? Aplicar las reglas de Western Electric a la carta de control presentada en el ejercicio 4-19. {ES 4-23, tas reglas produc de control? 4-24. Considerar el comportamiento de los pro- esos que varian con el tiempo que se mues- tran en las figuras a-e. Relacionar cada uno de estos diferentes patrones del comporta- wn alguna sefial de fuera Tiempo ” MMM 48 pyercicios 203 uct et 2 ft uct ti Tiempo o uct. 04 426. CAPITULO 4 ME uct. a A ict 5) miento del prox con las cartas ¥ y R co- rrespondientes que se muestran en las figu- ras 1-5 Considerar la carta ¥ del ejemplo de los ani los para pistones de este capitulo, figura 4-3. Sea que el didmetro de los anillos tenga una distribucin normal, y que el tamafo de la muestra sea n = 5. a) Encontrar los limites de control dos sig ma para esta carta, b) Suponer que se sugirié usar los limites dos sigma en vez de los limites tres sigma ti picos. ;Qué efecto tendria esta eleccién sobre la ocurrencia de falsas alarmas? c) {Qué efecto tendria el uso de limites dos sigma sobre la ARL bajo control de la carta? d) Discutir el significado de los hallazgos de los incisos b) yc), Se presentan a continuacién dos reglas de decisién. Suponer que se aplican a una ca- racteristica de la calidad que tiene una distri- bucién normal, que la carta de control tiene limites de control tres sigma y que el tamafio de la muestra es n = 5. Regla 1: Si una o mds de las siete muestras jentas produce valores del promedio muestral que se localizan fuera de los Ii- mites de control, concluir que el proceso esté fuera de control. Regla 2: Si los siete promedios muestrales siguientes se localizan al mismo lado de la linea central, concluir que el proceso estd fuera de control. 4-27. OOS Y FILOSOFIA DEL CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS {Cua es la probabilidad del error tipo I para cada una de estas reglas? Continuacién del ejercicio 4-26. Conside- rar la situacién del ejercicio 4-26. Si la me- dia de Ia caracteristica de ta calidad se corre una desviacién estindar —es de Si Se sale de control por una sigma— y se mantiene ‘ahi durante la colecci6n de las siete muestras siguientes, gcudl es el riesgo B asociado con cada regla de decisién? Una caracteristica de 1a calidad con una dis. tribucién normal se monitorea con una carta de control con limites de control L sigma, Desarrollar una expresién general para la pro- babilidad de que un punto se loca fuera de los limites de control cuando el proceso en realidad esta bajo control. Una caracterfstica de la calidad se monitorea con una carta de control diseflada de tal modo que la probabilidad de que cierta condicién fuera de control se detecte en la primera mues- ta después de ocurrir el corrimiento a ese estado, sea 1 - B. Encontrar lo siguiente: a) Laprobabilidad de que la condicién fue- ra de control se detecte en la segunda muestra después del corrimiento. b) La probabilidad de que la condicién fue- ra de control se detecte en la m-ésima muestra después del corrimiento. ©) El mimero esperado de subgrupos ana- lizados antes de que se detecte el corr miento, d) La probabilidad de que la primera mues- tra después del corrimiento produzca un estadistico que se localice dentro de los limites de control. ) La probabilidad de que el corrimiento no se detecte en la m-Esima muestra sub- secuente. f) La probabilidad de que dos muestras consecutivas produzcan estadisticos que se localicen fuera de los limites de con trol. 2) La probabilidad de que al menos una de las m muestras siguientes produzca \® lores de los estadisticos de la prueba que Cartas de control para variables PLAN GENERAL DEL CAPITULO, INTRODUCCION 5.2 CARTAS DE CONTROL PARA % YR 5-2.1 Fundamentos estadisticos de las cartas 5-2.2 Desarrollo y uso de las cartas wyR 5-2.3 Cartas basadas en valores estindares. 5-2.4 Interpretacién de las cartas ¥ y R 5-2.5 El efecto del incumplimiento de la normalidad en las cartas X y R La funcién de operacién caracteristica La longitud promedio de la comida para la carta X 53 4 55 CARTAS DE CONTROL PARA ¥ Y S 5-3.1 Construccién y operacién de las cartas ¥ ys 5-3. Las cartas de control ¥ y S con tamafio de Ja muestra variable 5-3.3 La carta de control S? LA CARTA DE CONTROL DE SHEWHART PARA MEDICIONES INDIVIDUALES RESUMEN DE PROCEDIMIENTOS PARA LAS CARTAS ¥, R YS APLICACIONES DE LAS CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES. VISION BREVE DEL CAPITULO ‘A una caracteristica de la calidad que se mide en una escala numérica se le llama variable. Ejem- plos incluyen dimensiones tales como el largo y el ancho, la temperatura y el volumen. En este capitulo se presentan las cartas de control de Shewhart para estos tipos de acteristicas de la calidad. Las cartas de control ¥ y R se usan ampliamente para monitorear la media y la variabili- dad de las variables. Se presentan asimismo algunas variantes de las cartas ¥ y R, incluyendo un 4-30, 431 se localicen fuera de los limites de con- tol Una persona Hega a su oficina de manera consistente aproximadamente media hora después de lo que le gustaria, Desarrollar un diagrama de causa y efecto que identifi que y bosqueje las causas posibles de este evento, Un automévil queda fuera de control duran- te una tormenta de nieve y choca con un di 205 4-8 EJERCICIOS bol. Construir un diagrama de causa y efecto que identifique y bosqueje las causas posi- bles det accident Se ha hecho el embarque de material de vi- drio para laboratorio desde el fabrieante has ta una planta en un envio nocturno de servicio de paqueterfa y ha Hegado d: llar un diagrama de causa y efecto que iden- ado, Desarro: tifique y bosqueje las c to, say posibles de este 5-1 5-2 5-21 5-2 CARTAS DE CONTROL PARA ¥YR 207. procedimiento para adaptarlas a mediciones individuales. El capitulo concluye con aplicaciones tipicas de las cartas de control para variables. INTRODUCCION a medicién num Muchas caracteristicas de 1a calidad pueden expresarse en términos de u a Por ejemplo, el didmetro de un rodamiento podria medirse con un micrémetro y expresarse en milimetros. A una caracteristica particular medible de la calidad, tal como una dimensién, peso 0 volumen, se le Hama variable, Las cartas de control para variables son de uso generalizado. Cuando se trata con una caracteristica de la calidad que es una variable, por lo general es necesario monitorear tanto el valor medio de la caracteristica de la calidad como su variabilidad. El control del promedio del proceso, 0 nivel de calidad medio, suele hacerse con la carta de con-trol para medias, 0 carta ¥. La variabilidad del proceso puede monitorearse con una carta de control para la desviacién estindar, llamada carta S, 0 bien con una carta de control para el rango, llamada carta R. La carta R se usa con mayor frecuencia, Generalmente, se llevan cartas ¥ y R separadas para cada caracterfstica de la calidad de interés. (Sin embargo, cuando las caracterfsticas de Ia calidad estén estrechamente relacionadas, este enfoque en ocasiones puede Hevar a resultados engaiiosos; refe- rirse al capitulo 11 de la parte III.) Las cartas ¥ y R (0 S) se encuentran entre las técnicas estadis- ticas de monitoreo y control de procesos en linea més importantes y ttiles. ‘Obsérvese que es importante mantener bajo control tanto 1a media del proceso como la variabi lidad del proceso. En la figura 5-1 se ilustra la salida de un proceso de produccién, En la figura 5-la Ja media ty la desviacién estindar 6 estén bajo control en sus valores nominales (por ejemplo, 14, Y 0,); Por consiguiente, la mayor parte de la salida del proceso se localiza dentro de los limites de la especificacién. Sin embargo, en la figura 5-1b la media se ha corrido a un velor H, > 14,. dando como resultado una fraceién mayor de productos disconformes. En la figura 5-Ic la desviacin estdndar del proceso se ha corrido a un valor G, > G, Esto también resulta en una porcién caida del proceso més alta, aun cuando la media del proceso se encuentra atin en el Valor nominal CARTAS DE CONTROL PARA ¥ YR Fundamentos estadisticos de las cartas ‘Suponer que una caracteristica de 1a calidad tiene una distribucién normal con media {t y desvia- cién estindar o, donde tanto {1 como o son conocidas. Si x,, x,, ...t, eS una muestra de tamafio n, entonces el promedio de esta muestra es y se sabe que ¥ sigue una distribucién normal con media ut y desviacién estandar ¢, =o/ yn. ‘Ademés, la probabilidad es de 1 - o para que cualquier media muestral se localice entre +a, B+Zor (5-la) CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES Pe q ‘ Ho Limite inferior Limite superior dela dela especiicacién espeaiticacion | fies sez ets eal jt Ho Limite inferior Limite superior de la dela cespeciticacion especiicacion » v7 Lita interior 3 Limite superior dela dela ‘especificacién especiticacion ° Figura 5-1 La necesidad de controlar tanto la media ‘como la variabilidad del proceso. a) La media y la des- Viacién estindar en sus valores nominales. b) La media del proceso , > Hi, ¢) La desviacién estindar del pro- e806, >6,, y (5-1b) Por lo tanto, si 1 y 6 son conocidas, las ecuaciones 5-la y 5-1b podrian usarse como limites de control superior e inferior en una carta de control para las medias muestrales. Como se sefialé en el capitulo 4, se acostumbra sustituir Z,,, con 3, a fin de trabajar con limites tres sigma. Si la media de una muestra se localiza fuera de estos limites, se trata de un indicio de que la media del proceso ha dejado de ser igual a p. Se ha supuesto que la distribucién de la caracteristica de la calidad es normal. Sin embargo, los resultados anteriores siguen siendo aproximadamente valido incluso cuando la distribueién funda- mental no es normal, debido al teorema del limite central. En la seccién 5-2.5 se discute el efecto del supuesto de normalidad sobre las cartas de control para variables. En la prictica, generalmente no se conocen los valores de 1 y 6. Por lo tanto, deben estimarse # partir de muestras o subgrupos preliminares tomados cuando se considera que el proceso esté bajo control. Fn general, estas estimaciones deberin basarse en al menos 20 o 25 muestras. Suponer que 5-2 CARTAS DE CONTROL PARA TYR — 209 se cuenta con m muestras, cada una de las cuales contiene n observaciones de la caracteristica de la calidad, De manera tipica, 1 sera pequeia, con frecuencia ya sea 4, 5 0 6. Estos tamafios pequefios de la muestra suelen resultar de la construccién de subgrupos racionales y del hecho de que los costos de muestreo e inspeccién asociados con la medicién de las variables por lo general son relativamente altos. Sean ¥,, 5, «..¥, los promedios de cada muestra. Entonces el mejor estima- dor de 11, el promedio del proceso, es el gran promedio; por ejemplo, RAH tet §, m Por tanto, ¥ se usarfa como la linea central (CL, por sus siglas en inglés) en la carta Para construir los limites de control, es necesaria una estimacién de la desviacién estindar 6. Recuérdese por el capitulo 3 (seccién 3-2) que & puede estimarse sea a partir de las desviaciones estindar o bien por los rangos de las m muestras. Por el momento, nos concentraremos aqui en el método del rango. Si x,..x,, ...., eS una muestra de tamafio n, entonces el rango de la muestra es la diferencia entre las observaciones menor y mayor; es decir, x, mis Xa Sean R,, Ry... R,, los rangos de las m muestras. El rango promedio es Ahora pueden darse las PSrmulas para construir los limites de control de la carta ¥. Estos son los siguientes: Limites de control de la carta ¥ UCL=%+A,R Linea central = ¥ (5-4) LCL En la tabla VI del apéndice, se tabula la constante A, para varios tamajios de la muestra dados. CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES La variabilidad del proceso puede monitorearse graficando los valores del rango muestral R en una carta de control. La linea central y los limites de control de la carta R son los siguientes: Limites de control de la carta R mae UCL=D,R Linea central = R LCL=D,R En la tabla VI del apéndice, se tabulan tas constantes D, y D, para varios valores de n. Desarrollo de las ecuaciones 5-4 y 5-5 El desarrollo de las ecuaciones para calcular los limites de control de las cartas de control ¥ y Res relativamente sencillo, En el capitulo 3 (seccién 3-2) se sefialé que existe una relacién bien definida entre el rango de una muestra de una distribucién normal y la desviacién esténdar de esa distribucién. A la variable aleatoria W = R/o se le Hama el rango relativo. Los parémetros de la distribucién de W son una funciéin del tamafio de la muestra n. La media de W es d,. Por consiguiente, un estimador de oes 6 = R/d;.En la tabla VI del apéndice se presentan los valores de d, para varios tamaiios de la muestra. Por lo tanto, si R es el rango promedio de las m muestras preliminares, puede usarse (5-6) S| al para estimar c, Se trata de un estimador insesgado de o. Si se usa ¥ como estimador de pt y R/d, como estimador de 6, entonces los parémetros de la carta X son CARTAS DECONTROL PARAT YR 211 Si se define ava (8) entonces la ecuacién 5-7 se reduce a la ecuacién 5-4, Consideremos ahora la carta R. La linea central sera R. Para de se necesita un estimador de 6,. Suponiendo que la caracteristica de ta calidad tiene una distri- bucién normal, 64 puede encontrarse a partir de la distribucién del rango relative W = Rio. La desviacién estandar de W, por ejemplo d,, es una funcién conocida de n. Por tanto, ya que ar los limites de control R=Wo la desviacién estindar de R es o,=4,0 Puesto que 6 es desconocida, 6, puede estimarse con R qd, Por consiguiente, los parametros de la carta R con los limites de control tres sigma us nds (5-9) UCL R436, = R43 Linea central = R (5-10) LCL y si se hace la ecuacion 5-10 se reduce a la ecuacién 5-5. Limites de control de prueba Cuando se utilizan muestras preliminares para construir las cartas de control X y R, se acostumbra tratar a los limites de control obtenidos de las ecuaciones 5-4 y 5-5 como limites de control de prueba. Permiten determinar si el proceso se encontraba bajo control cuando se seleccionaron las ‘m muestras iniciales. Para probar la hipdtesis del control pasado, se grafican los valores de ¥ y R de cada muestra en las cartas y se analiza la representaciOn resultante. Si todos los puntos se loca- lizan dentro de los limites de control y no es evidente ningiin comportamiento sistematico, se 212 CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES concluye entonces que el proceso estaba bajo control en el pasado, y los limites de control de prueba son apropiados para controlar la produccién actual o futura. En ocasiones se hace referencig a este anilisis de datos pasados como un anilisis de fase 1. Es altamente deseable contar con 20 6 25 muestras o subgrupos de tamafio n (tipicamemte el valor de 1 esti entre 3 y 5) para calcular lox nites de control de prueba. Es posible, desde luego, trabajar con menos datos, pero los limites de control no son tan confiables, Suponer que uno o mas de los valores de Fo de s¢ localiza fuera de control cuando se comparan con los limites de control de prueba. Evidentemente, si los limites de control para fy Produccién actual 0 futura deben ser significativos, deben basarse en datos de un proceso que exté bajo control Por lo tanto, cuando la hipétesis del control pasado se rechaza, es necesario revisar los limites de control de prueba. Esto se hace examinando cada uno de los puntos fuera de control y buscando una causa asignable. Si no se encuentra una causa asignable. el punto se descar. tay los limites de control de prueba se calculan de nuevo utilizando Gnicamente los puntos restan- tes. Después estos puntos restantes vuelven a examinarse para el control. (Obsérvese que los Puntos que inicialmente estaban bajo control quiz estén ahora fuera de control, ya que por lo general los nuevos limites de control de prueba ser’n mas estrechos que los anteriores.) Este prove- So se contintia hasta que todos los puntos se localicen bajo control, punto en el cual los limites de control de prueba se adoptan para uso actual. En algunos casos, quizd no sea posible encontrar una causa asignable para un punto que se localiza fuera de control. Hay dos cursos de accién posibles. El primero es eliminar el punto, como si se hubiera encontrado una causa asignable, No existe ninguna justificacién analitica para elegir esta acciGn, de no ser que los puntos que estan fuera de los limites de control posiblemente se hayan sacado de una distribuci6n de probabilidad caracteristica de un estado fuera de control. La alternativa ¢s conservar el punto (0 puntos) considerando los limites de control como apropiados para el control actual. Desde luego, si el punto en realidad representa una condicién fuera de control, los limites de control resultantes serdn muy anchos. Sin embargo, si s6lo hay uno o dos de estos puntos, esto no distorsionaré significativamente la carta de control, Si muestras futuras contintian indicando contro, entonces los puntos no explicados probablemente pueden omitirse sin peligro. Ocasionalmente, cuando los valores muestrales iniciales de ¥ y R se grafican contra los limi- tes de control de prueba, muchos puntos se localizarin fuera de control. Evidentemente, s omiten de manera arbitraria los puntos fuera de control, se tendra una situacién insatisfactoria. ya que quedarén pocos datos con los cuales volver a calcular limites de control confiables. Sospecha- mos simismo que este enfoque ignorarfa mucha informacién til contenida en los datos, Por otra Parte, es poco probable que la biisqueda de una causa asignable para cada punto fuera de control sea exitosa, Hemos encontrado que cuando los valores muestrales iniciales se localizan fuera de control contra los limites de prueba, es mejor concentrarse en el parrén que forman estos puntos Casi siempre existird este patron. Generalmente, es muy sencillo identificar 1a causa asignable asociada con el patron de puntos fuera de control. La eliminacién de este problema con el proceso suele resultar en un mejoramiento importante del mismo. ‘ Desarrollo y uso de las cartas ¥ y R En la seccién anterior se presentaron los fundamentos estadisticos de las cartas de control T yk Se ilustra ahora Ia construccién y aplicacién de estas cartas. Se discuten asimismo algunos lined mientos para usar estas cartas en la practic: 5-2. CARTAS DE CONTROL PARA TYR 213 EJEMPLO 5-10. oye-eiese se ootinet tatote Rabtot of Satyitnteto At Sates Los anillos para pistones de un motor de automévil se producen mediante un proceso de fundicién. Quiere establecerse el control estadistico del didmetro interior de los anillos fabricados con este proceso utilizando cartas ¥ y R. Se toman 25 muestras, cada una de tamatio cinco, cuando se so est bajo control. En la tabla 5-1 se muestran los datos de la medicién del jas: mucstras. considera que el pro diametro interior de Cuando se establecen las cartas de control ¥ y R, es mejor empezar con la carta R, Debido a que los limites de contro! de la carta ¥ dependen de la variabilidad del proceso, a menos que la variabilidad del proceso esté bajo control, estos limites no tendran mucho sentido. Utilizando los: datos de la tabla 5-1, se encuentra que la linea central de la carta R es Tabla 5-1 Mediciones del diémetro interior (mm) de anillos fundidos para pistones, ejemplo 5-1 Numero de muestra Observaciones % R, 1 74.030 74.002 74.019 73.992 74.008 74.010 0.038 2 73.95 73.992 74,001 74.011 74.004 74.001 0.019 3 73.988 74.024 74.021 74.005 74.002 74.008 0.036 4 74,002 73.996 73.993. 74.015 74.009 74.003 0.022 = 73.992 74.007 74.015 73.989 74.014 74.003 0.026 6 74.009 73.994 73.997 73.985 73.993 73.996 0.024 2 73.995 74.006 = 73.994. 74.000 74.005 74.000 0.012 8 73.985 74.003 73.993 74.015 73.988 73.997 0.030 ca 74,008 73.995 74.009 74.005 74.004 74.004 0.014 1 73.998 74.000 73.990 74.007 73.995 73.998 0.017 W 73.994 73.998 73.994 73.995 73.990 73.994 0.008 12 74.004 74.000 74.007 74.000 73.996 74.001 0.011 13 73.983 74,002 73.998 73.997 74.012 73.998 0.029 14 74.006 73.967 73.994 74.000 73.984 73.990 0.039 1s 74.012 74.014 73.998 73.999 74.007 74.006 0.016 16 74.000 73.984 «74.005 73.998 73.996 73.997 0.021 7 73.994 74.012, 73.986 74.005, 74.007 74.001 0.026 18 74.006 74.010 74.018 = 74.003 74.000 74.007 0.018 19 73.984 74.002 74.003 74.005 73.997 73.998 0.021 20 74.000 74.010 =—-74.013 74.020 74.003 74.009 0.020 2 73.982 74.001 74.015 74.005 73.996 74.000 0.033 22 74,004 73.999 73.990 74.006 74,009 74.002 0.019 23 74.010 73.989 73.990—74.009 74.014 74,002 0.025 24 74.015 74.008 73.993 74.000 74.010 74.005 0.022 25 73.982 73.984 73.995 74.017 74.013 73.998 0.035 y 850.028 0.581 = 74.001 R= 0.023 214 CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES Para muestras con n = 5, en la tabla VI del apéndice se encuentra que D, tanto, los limites de control para la carta R son, al utilizar la ecuacién 5-5, Oy D,= 2.115, Por ig LCL= RD, UCL= RD, 0.020) = 0 0.022.115) = 0.049 En la figura 5-2 se muestra la carta R. Cuando los 25 rangos muestrales se grafican en esta carta, no hay indicios de una condicién fuera de control. Puesto que la carta R indica que la variabilidad del proceso esta bajo control, puede construirse ahora la carta ¥. La linea central es 1850,028 25 4.001 Para encontrar los limites de control de la carta x, se usa A, para muestras de tamafio n = 5 y la ecuacién 5-4 para encontrar 0.577 de la tabla VI del apéndice 4.001 + (0.577)(0.023) = 74.014 14.001 — (0.577)(0.023) = 73.988 Lacarta X se muestra en la figura 5-3. Cuando los promedios rauestrales preliminares se grafican en esta carta, no se observa ningiin indicio de una condicién fuera de control. Por lo tanto, puesto que las cartas ¥ y R indican control, se concluiria que el proceso est bajo control en los niveles (.6_ ALAA 0.05 uct = 0.049 aa .04 0.03 0.01 Sa ise] OTT 2 34567 8 9 10111213141516171819202122232625 Numero de muastra Figura 5-2 Carta R para el ejemplo 5-1 5-2 CARTAS DECONTROL PARA TYR — 215, 7ao1st uct = 74.014 r 74.010) 74.005 74.000! 73.995 73.990} LCL = 73.988 73.985 4567 8 9 1Ollizisiaisi617ie19202122232425, Numero de muestra Figura 5-3 Carta _¥ para el ejemplo 5-1 establecidos y se adoptan los limites de control de prueba para usarlos en el control estadistico del proceso en linea. En la practica, es comin usar paquetes de software de computadora para construir las cartas de control. En la figura 5-4 se muestran las cartas ¥ y R de Minitab, un popular paquete de estadistica para PC, generadas por computadora para este ejemplo. +| 74.0143 Promedio 0.0491 ango ‘Subgrupo Figura 5-4 Cartas de control de Minitab generadas por computadora para el ejemplo 5-1 216 CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL. PARA VARIABLES. Estimacién de la capacidad del proceso Las cartas ¥ y R proporcionan informacién acerca del desempefio o capacidad del proceso, partir de Ja carta ¥ el diémetro medio de los anillos para pistones puede estimarse como = 74.001 mm. La desviacién estandar del proc decir, so puede estimarse usando Ia ecua = 0.0099 donde el valor de d, para muestras de tamaio cinco se encuentra en la tabla VI del apéndice. Los limites de la especificacién para estos anillos para pistones son 74.000 + 0.05 mm. Los datos de la arta de control pueden usarse para describir la capacidad del proceso para producir anillos para pistones respecto de estas especificaciones. Suponiendo que el didmetro de los anillos para pisto- hes es una variable aleatoria con una distribucién normal, con media 74.001 y desviacién estindar 0.0099, la fraceién disconforme de los anillos para pistones producidos puede estimarse como P= Plx< 73.950} + P(x > 74.050} =f 8 - FiOet of Hoe - zion) 0.0099 0.0099 (-5.15)+1-@(4.04) =0+1-0,99998 = 0.00002 Es decir, aproximadamente 0.002% [20 partes por millén (ppm)] de los anillos para pistones Producidos estardn fuera de las especificaciones. Otra manera de expresar la capacidad del proceso es en términos del indice de capacidad del proceso (PCR, por sus siglas en inglés) C,, que para una caracteristica de la calidad con limites tanto superior como inferior de la especificacién (USL y LSL, respectivamente) es USES ESE (5-11) 65 Obsérvese que la extension 60 del proceso es la definicién basica de la capacidad dei proceso. Puesto que por lo general 6 es desconocida, debe sustituirse con una estimacidn. Se usa con frecuencia 6 = R/d, como estimacidn de o, de donde se obtiene la estimacién C, deC,. Para el Proceso de los anillos para pistones, puesto que R/d, = 6 = 0.0099, se encuentra que _ 74.05~73.95 ‘ 6(0.0099) 0.10 © 0.0594 68 Esto implica que los limites de tolerancia “natural” en el proceso (tres sigma arriba y abajo de la media) estén muy adentro de los limites inferior y superior de la especificacién. Por consiguien- te, se produciré un néimero relativamente pequefio de anillos para pistones disconformes. El PCR 5-2. CARTASDE CONTROL PARA TYR 217 C, tiene otra interpretacién. La cantidad =| )1o0% c, es simplemente el porcentaje de la banda de las especificaciones que utiliza el proceso, Para cl proceso de los anillos para pistones, una estimacion de P es Es decir, el proceso utiliza un 60% de la banda de las especificaciones. En la figura 5-5 se ilustran tres casos de interés respecto del PCR C, y las especificaciones del proceso. En la figura 5-Sa el PCR C, es mayor que la unidad. Esto significa que el proceso utiliza mucho menos del 100% de la banda de tolerancia. Por consiguiente, en este proceso se produciré un nimero relativamente reducido de unidades disconformes. En la figura 5-5b se mues- tra un proceso para el que PCR C, = 1; es decir, el proceso utiliza toda la banda de tolerancia. Ge ist INTE ri UNTL USC fests sess a Figura $-S La porcidn caida del proceso y el indice de capacidad del proceso C, 218 CAPITULO CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES Para una distribucién normal esto implicarfa cerca de 0.27% (0 2700 ppm) de unidades discon. formes. Por tiltimo, en la figura 5-Sc se presenta un proceso para el que el PCR C, < 1; es decir, el proceso utiliza ms del 100% de la banda de tolerancia, En este caso el proceso es muy sensitivo al rendimiento, y se producira un gran nimero de unidades disconformes. Obsérvese que en todos los casos de la figura 5-5 se supone que el proceso esté centrado en el punto medio de Ia banda de las especificaciones. En muchas situaciones no sera este el caso y, como se verd en el capitulo 7 (el cua ‘amiento mas detallado del andlisis de capacidad del proceso), sera necesaria cierta modificacién del PCR C, para describir esta situacién de manera adecuada, Revisién de los limites de control y las lineas centrales El conjunto inicial de limites de control siempre deberd tratarse como limites de prueba, sujetos a revisiGn subsecuente. En general, el uso efectivo de cualquier carta de control requerita la revi sién periédica de los limites de control y de las lineas centrales. Algunos en la prictica establecen periodos regulares para revisar los limites de las cartas de control, como cada semana, cada mes 9 cada 25, 50 0 100 muestras. Cuando se revisen los limites de control, recuérdese que es altamente deseable emplear al menos 25 muestras o subgrupos (algunas autoridades recomiendan 200-300 observaciones individuales) para calcular los limites de control. En ocasiones el usuario sustituird la linea central de la carta X con un valor objetivo, por ejemplo X,.Si la carta R muestra control, esto puede ser util para correr el promedio del proceso al valor deseado, en particular en procesos donde la media puede cambiarse mediante un ajuste bastante simple de una variable manipulable del proceso. Si no es sencillo influir en la media mediante un ajuste simple del proceso, entonces es posible que sea una funcién compleja y desconocida de varias variables del proceso, y quiz4 no sea dtil un valor objetivo ¥,, ya que el uso de ese valor podria dar como resultado muchos puntos fuera de los limites de control. En tales casos, no se sabria necesariamente si el punto estaba asociado en realidad con una causa asignable 0 si se localiz6 fuera de los limites de control debido a una eleccién inadecuada de la linea central, Cuando la carta R esté fuera de control, es comin eliminar los puntos fuera de control y volver acalcular un valor revisado de R., Después se usa este valor para determinar los nuevos limites y la Iinea central en la carta R y los nuevos limites en la carta X. Con esto se estrecharén los limites de ambas cartas, haciéndolas consistentes con una desviacién esténdar ¢ del proceso‘consistente, a su vez, con el uso del valor revisado de R de la relacién R/d,. Esta estimacién de 6 podria usarse como la base de un andlisis preliminar de la capacidad del proceso. Continuacién de las eartas Fy R Una vez que se establece un conjunto de limites de control confiables, la carta de control se usa para monitorear la producci6n futura. A esto se le lama en ocasiones la fase 2 del uso de la carta de control. Se colectaron 15 muestras adicionales del proceso de manufactura de anillos para pistones después de que se establecieron las cartas de control. En la tabla 5-2 se muestran los datos de estas nuevas muestras, y en la figura 5-6 se muestra la continuacién de las cartas ¥ y R. Las cartas de control indican que el proceso esti bajo control, hasta que se grafica el valor ¥ de la trigésimo séptima muestra. Puesto que este punto y los tres subsecuentes se localizan arriba del limite 4 control superior, se sospecharia que ha ocurrido una causa asignable més 0 menos en ese tiempo- 5-2 CARTAS DE CONTROL PARAS YR 219 Tabla 5-2 Muestras adicionales del ejemplo 5-1 Namero de muestra, 7 Observaciones a R, 26 74.012 74.015 74.030 73.986 74.000——74.009 0.044 n 73.995 74.010 73.990 74,015 74,001 74.002 0.025 28 73.987 73.999 73.985 74.000 73.990 73.992 0.015 74.008 = 74.010 74.003 73.991 74.006 74.004 0.019 74.003 74.000. 74.001 73.986 73.997 73.997 0.017 73.994 74.003 74.015 74.020 74.004 74.007 0.026 74.008 74.002, -74.018 73.995 74.008 74.006 0.023 74.001 74.004 73,990 73.996 73.998 73.998 0.014 74.015 74.000 74.016 = 74.025 74.000 74.011 0.025 74.030 74.005 74.000 74.016 = 74.012 74.013 0.030 74.001 73.990 73.995 74.010 74.024 74,004 0.034 74.015 74.020 74.024 74.008 74.019 74.017 0.019 74.035 74.010 74.012, 74.015 74.026 74,020 0.025 74.017 74.013 74.036 74.025 74.026 74.023 0.023 40 74.010 74.005 74.029 74.000 74.020 74.015, 0.029 El patrén general de los puntos de la carta ¥ aproximadamente desde el subgrupo 34 y 35 en adelante es indicativo de un corrimiento en la media del proceso. Una vez que se ha establecido la carta de control y se ha estado utilizando en el monitoreo en linea, muchas veces surge la tentacién de usar las reglas de sensibilidad (0 reglas de Western Electric) discutidas en el capitulo 4 (seccién 4-3.6) para acelerar la deteccién del corrimiento. Aqui, por ejem- plo, el resultado probable del uso de estas reglas seria que el corrimiento se detectaria alrededor de la muestra 35 0 36. Sin embargo, recuérdese la discusién de la seccién 4-3.3, donde no se recomendaba el uso rutinario de estas reglas de sensibilidad para el monitoreo en linea de un proceso estable porque incrementaria en gran medida la ocurrencia de falsas alarmas. ‘Al examinar los datos de una carta de control, a veces es util construir una carta en el orden de las corridas ae las observaciones individuales de cada muestra. A esta carta en ocasiones se le Hama carta de tolerancia o diagrama de hileras. Pueden revelar algin patrén en los datos, 0 pueden indicar que un valor particular de X o R fue producido por una o dos observaciones inusuales de la muestra. Cuando el tamafio de la muestra es tan grande como 7 u 8, el diagrama de caja generalmente ser4 una buena alternativa del diagrama de hileras. En la figura 5-7 se muestra un diagrama de hileras de las observaciones individuales de las tiltimas 15 muestras. Este diagrama no indica que las sefiales de fuera de control fueran generadas por observaciones individuales inlusuales, sino que mas bien probablemente fueron el resultado de un corrimiento en la media alrededor del tiempo en que se tomé la muestra 34 o 35, El promedio de los promedios de las muestras 34 a la 40 es 74.015 mm. En la figura 5-7 se grafican los limites de la especificacién de 74.000 + 0.05 mm, junto con un croquis de la distribucién normal que representa la salida del proceso cuando la media del proceso ¢s igual al valor bajo control 74.001 mm. En la figura 5-7 se muestra también un croquis de la distribucién normal que representa la salida del proceso con el nuevo didmetro medio aparente de 74.015 mm. Es evidente que se produciré un porcentaje mucho més alto de anillos para pistones 20 CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES. 74015; UCL= 74.014 _ 74.010 74.008 + 74.000 73.995 73.990 (cl = 73.988 73.985 ~ A @ B 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 Numero de muestea he eaee 1 T ax} 0105 —Uor= 0.049 g 0.04 0.03 0.02 + oir DU 2 4 6 8B 10 12 1-36 18 20 22 24 26 28 30 32 34 36 38 40 Numero de muestra Figura $-6 Continuaci6n de las cartas ¥ y R, ejemplo 5-1 disconformes con este nuevo diémetro medio; de hecho, cerca del 0.021% (0 210 ppm) de la salida del proceso es ahora disc onforme. Debe realizarse una busqueda de la causa de este corrimiento en la media. El plan de accién para condiciones fuera de control u OCAP (por sus siglas en inglés) para esta carta de control desempefiarfa un papel clave en estas actividades al dirigir al personal de operacién por una serie de actividades secuenciales para encontrar la causa asignable. Con fre- cuencia seré necesaria la participacién y apoyo adicional de ingenieros, la administraci6n y del personal de ingenieria de calidad para encontrar y eliminar las causas asignables. Limites de control, limites de la especificacién y limites de tolerancia natural Un punto en el que deberd hacerse hincapié es que no existe ninguna conexién o relacién entre 10 ” limites de control de las cartas ¥ y R y los limites de la especificacidn del proceso. Los limites de control estén regidos por la variabilidad natural del proceso (medida por la desviaci6n esténdar 6 del proceso), es decir, por los limites de tolerancia natural del proceso. Se acostumbra definir los limites superior e inferior de tolerancia natural, por ejemplo UNTL y LNTL (por sus siglas et inglés), como 36 arriba y abajo de la media del proceso. La determinacién de los limites de I CARTAS DE CONTROL PARA TYR 221 r So oa et 74,060} 74.050 + 74.040 | 74.030 + 74. .020 | 7.010} i 74.000 | 73.990; | 73.980 + 73.970} 73.960 Limite interior de la especificacion | 73.950 }— | if TaSan tee eit et 26 28 30 32 34 36 38 40 Nomero de muestra Figura S-7 Grifica de las observaciones individuales, ejemplo 5-1 especificaci6n, por otra parte, es externa, Pueden ser establecidos por la administraci6n, por los ingenieros de manufactura, por el cliente 0 por los desarrolladores/disefiadores del producto. Es necesario conocer la variabilidad inherente del proceso cuando se establecen las especificaciones, pero recuérdese que no existe ninguna relacién matematica 0 estadistica entre los limites de control y los limites de la especificacién. En la figura 5-8 se resume la situacién. Hemos encontra- do quienes en Ia préctica han graficado los limites de 1a especificacién en la carta de control ¥. Esta préctica es completamente incorrecta y no deberd aplicarse. Cuando se trabaja con grificas de observaciones individuales (no con promedios), como en la figura 5-7, es conveniente graficar los limites de la especificacién en esa carta. ‘Subgrupos racionales El concepto de subgrupo racional desempefia un importante papel en el uso de las cartas de control * y R. La definicin de un subgrupo racional en la prictica puede ser facilitarse si se tiene una comprensién clara de las funciones de los dos tipos de cartas de control. La carta x monitorea el nivel de calidad promedio del proceso. Por lo tanto. las muestras deberdn seleccionarse de tal modo que se maximicen las oportunidades de que ocurran corrimientos en el promedio del proceso entre las muestras y, en consecuencia, de que aparezcan como puntos fuera de control en la carta ¥. La carta R, por otra parte, mide Ia variabilidad dentro de una muestra. Por lo tanto, las muestras 222 = CAPITULO.'S_ CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES ust (Doterminado extemamente) i Distribucion de las, mediciones. ingividuales del un! ai Distribucion de los 34 ey saan =| valores + Linea central i dela carta ¥ uct Fa uNTL ust (Determinado extemamente) Figura 5-8 Relacién de los limites de tolerancia natural, los limites de control y los limites de la especificacion, deberén seleccionarse de tal modo que la variabilidad dentro de las muestras mida tan sélo las causas fortuitas 0 aleatorias. Otra manera de decir lo anterior es que la carta % monitorea la variabi lidad entre las muestras (la variabilidad del proceso con el tiempo), y la carta R mide la variabi dad dentro de las muestras (la variabilidad instanténea del proceso en un tiempo dado). Un aspecto importante de este planteamiento es evidente a partir del examen atento de la forma én que las cartas ¥ y R se determinan a partir de datos pasados. La estimacién de la desvia- cin estandar 6 del proceso usada en la construcci6n de los limites de control se calcula a partir de la variabilidad dentro de cada muestra (i.e., a partir de los rangos muestrales individuales). Por consiguiente, la estimacién de 6 refleja s6lo la variabilidad dentro de las muestras. No es corree- to estimar © con base en la estimaci6n cuadratica usual; es decir, donde x, es la j-ésima observacién de la i-€sima muestra, ya que si las medias muestrales difieren, entonces esto ocasionard que S sea demasiado grande, Por consiguiente, 6 serd sobrestimada. Agrupat todos los datos preliminares de esta manera para estimar 6 no es una buena préctica porque combi na potencialmente tanto la variabilidad entre las muestras como la variabilidad dentro de las mues tras. Los limites de control deben basarse tan sdlo en la variabilidad dentro de las muestras. Lineamientos para el disefio de la carta de control Para diseftar las cartas X y R, debe especificarse el tamafio de la muestra, Ia anchura de los limites de control y la frecuencia del muestreo que van a usarse. No es posible ofrecer una solucién exact 5-2. CARTAS DE CONTROL PARA TYR 223 del problema del disefio de las cartas de control, a menos que el analista disponga de informa- ci6n detallada acerca de las caracteristicas estadisticas de las pruebas de la carta de control y de los factores econdmicos que afectan el problema. Una solucién completa del problema requeri- ria conocer el costo del muestreo, los costos de la investigacién y posible correccién del proceso en respuesta a las seftales de fuera de control. y Ios costos asociados con la produccién de un producto que no cumple con las especificaciones. Dada esta clase de informacién, podria cons- truirse un modelo de decision econémica que permitiria el disefio de la carta de control éptima desde el punto de vista econémico. En el capitulo 9 (seccién 9-6) se discute brevemente este enfoque del problema. Sin embargo. es posible dar ahora algunos lineamientos generales que ayudariin en el disefio de las cartas de control. Si la carta Xx se esté usando principalmente para detectar corrimientos de moderados a grandes en el proceso —por ejemplo, en el orden de 2c 0 mayores—., entonces las muestras pequefias de tamafio n = 4, 5 0 6 son razonablemente efectivas. Por otra parte. si se esti intentando detectar cambios pequefios, entonces se necesitardn tamafios de la muestra mas grandes de posiblemente n = 15 an = 25, Cuando se utilizan los tamafios de la muestra més pequeios, es menor el riesgo de que ocurra un corrimiento en el proceso mientras se toma la muestra. Si ocurre un cortimiento mientras se toma una muestra, el promedio muestral puede ocultar este efecto. Por consiguiente. este es un argumento para usar el tamafio de la muestra menor que sea consistente con la magnitud del corrimiento en el proceso que se esta intentando detectar. Una alternativa para el incremento del tamafio de la muestra es usar limites de advertencia y otros procedimientos de sensibilidad a fin de fortalecer la habilidad de la carta de contol para detectar cortimientos Pequefios en el proceso. Sin embargo, como se sefialé en el capitulo 4, no estamos en favor del uso rutinario de estas reglas de sensibilidad. Si existe interés en los corrimientos pequefios, deberdn usarse las cartas CUSUM 0 EWMA del capitulo 8 La carta R es relativamente insensible a los corrimientos en la desviaciGn estindar del proceso Para muestras pequefias. Por ejemplo, muestras de tamafio n = 5 tienen tan s6lo una probabilidad aproximada del 40% de detectar en la primera muestra un corrimiento en la desviacién esténdar del proceso de o a 20. Las muestras mas grandes parecerian ser més efectivas, pero se sabe también que la eficiencia del método de! rango para estimar la desviacién estindar disminuye dramati mente cuando 7 se incrementa. Por consiguiente, para n grande —por ejemplo, n > 10 0 12— Probablemente sea mejor utilizar una carta de control para So S? en lugar de la carta R. En las secciones 5-3.1 y 5-3.2 se presentan los detalles para construir estas cartas. Desde el punto de vista estadistico, las curvas de operacién caracteristica de las cartas ¥ y R Pueden ser tiles para elegir el tamafio de la muestra. Permitiran al analista hacerse una idea de la magnitud del corrimiento en el proceso que sera detectado con una probabilidad establecida para cualquier tamano de la muestra n. En la seccién 5-2.6 se discuten estas curvas de operacién carac- teristica, El problema de elegir el tamafio de la muestra y la frecuencia del muestreo es un esfuerzo de asignacién dt] muestreo. En general, el responsable de tomar la decisién contard tan s6lo con un numero limitado de recursos para asignarlos al proceso de inspeccién, Las estrategias disponibles serdn en general tomar muestras pequefias y frecuentes o bien tomar muestras mas grandes con menor frecuencia. Por ejemplo, la eleccién puede ser entre muestras de tamaiio 5 cada media hora © muestras de tamafio 20 cada 2 horas. Es imposible decir cual de las dos estrategias es la mejor en todos los casos, pero la préctica actual en la industria se inclina por las muestras pequeiias y frecuentes. El sentir general es que si el intervalo entre las muestras es muy grande, se producirén demasiados productos defectuosos antes de tener otra oportunidad de detectar la ocurrencia de un 24 CAPITULO S) CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES: coztimiento en el proceso. Por consideraciones econémieas, si el costo asociado con la produccién de articulos defectuosos es elevado, las muestras mas pequefas y frecuentes son mejores que las ndes y menos frecuentes. Desde luego, podrian usarse esquemas de intervalos muestrales varia. bles y un tamano de fa muestra variable. Referirse al capitulo 9. La velocidad de produccién también influye en la elec n del tamafio de la muestra y la aa del muestreo, Si la velocidad de produccidn es alta —por ejemplo, 50 000 unidades por hora—. entonces se requeriré un muestreo mas frecuente que si la velocidad de produccién es extremadamente lenta, Cuando las velocidades de produceién son altas, se produciran muchas unidades disconformes del producto en un tiempo muy corto cuando ocurren corrimientos en ef proceso, Ademis, con las velocidades de produccién altas en ocasiones es posible obtener muestras bastante grandes de manera econdmica. Por ejemplo, si se producen 50 000 unidades por hora, no hay una diferencia apreciable en el tiempo part colectar una muestra de tamafio 20 en comparacién con una de tamafio 5. Si no son excesivos los costos de inspeccién y prueba por unidad, los proce- sos que operan con una velocidad de produccién alta con frecuencia se monitorean utilizando tamaiios de la muestra moderadamente grandes. ELuso de los limites de control tres sigma en las cartas de control X y R es una prictica genera- lizada, Sin embargo, hay situaciones en lay que son convenientes las desviaciones de esta cle: acostumbrada de los limites de control. Por ejemplo, si la investigacién de las falsas alarmas 0 los errores tipo I (se genera una sefial de fuera de control cuando el proceso en realidad est bajo control) es muy costosa, entonces quiz: jor emplear limites de control con una anchura mayor que tres sigma —quiza hasta de 3.5 sigma, Sin embargo, si el proceso es tal que las sefiales de fuera de control se investigan con rapidez y facilickad y eon costos y tiempo perdido minimos. entonces los limites de di de 2.5 sigma, son apropiados. freeuene seam control con una anchura menor. qu Cambio del tamaiio de la muestra en las cartas ¥ y R Se ha presentado el desarrollo de las cartas ¥ y R suponiendo que el tamafio de la muestra n es constante de una muestra « otra, Sin embargo, hay situaciones en las que el tamafio de la muestra n no es constante. Una situacidn es la del tamafo de 1a muestra variable: es decir, cada muestra puede constar de un ntimero diferente de observaciones. En general, las cartas ¥ y R no se usan en este caso porque llevan a una linea central mévil en la carta R, cuya interpretacion es dificil para muchos usuarios. En este caso serian preferibles las cartas X y S de la seccién 5-3.2, Otra situacién es la de hacer un cambio permanente (o semipermanente) en el tamaiio de la muestra debido al costo o debido a que el proceso ha mostrado una estabilidad adecuada y se estin asignando menos recursos al monitoreo del proceso. En este caso es sencillo calcular los nuevos limites de control directamente a partir de los anteriores sin colectar muestras adicionales utilizando el nuevo tamafo de la muestra, Sean rango promedio del anterior tamaito de la muestra r 10 de la muestra ngo promedio del nuevo tama interior tamafio de la muestra Pogo = NUEVO tamaiio de la muestra d,(anterior)= factor d, para el anterior tamafo de la muestra d,(nuevo)= factor d, para el nuevo tamafio de la muestra 5-2 CARTAS DECONTROL PARA TYR 225 Los nuevos limites de control para la carta ¥ son UCLS et All el Recere *| d, (anterior) af Aeauevod *| d,(anterion) donde la linea central x no cambia y el factor A, se selecciona para el nuevo tamaio de la muestra. Los nuevos parimetros para la carta R son (5-12) > uci =p, -dauer) d,(anterion) ney cht + d,(nuevo) kr interior) | ““““" ix0,D,) AO Te, d,(amerion) donde D, y D, se seleccionan para el nuevo tamafio de la muestra. EJEMPLO 5-2 - Para ilustrar el procedimiento anterior, considérense las cartas ¥ y R desarrolladas para los datos de los anillos para pistones del ejemplo 5-1. Estas cartas se basaron en un tamafio de la muestra de cinco anillos. Suponer que como el proceso indica un buen control, el personal de ingenieria de manufactura quiere reducir el tamafio de la muestra a tres anillos. Por el ejemplo 5-1 se sabe que LCL ne teas Reverie = 0-023 y por la tabla VI del apéndice se tiene (anterior) = 2.326 d,(nuevo) = 1.693 Por lo tanto, los nuevos limites de control de la carta ¥ se encuentran por la ecuacién 5-12 como 1/2 PRA [ete ae interior) = 74.001 + (1.023) 2.326 LS 00 = 74.018 26 CAPITULO CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES g_a,| alnuevo) *| d, (anterior) 1 2.326. =74.001-(1 023} = 73.984 Los nuevos parimetros pa «1 la carta R se obtienen por la ecuacién 5- iif SOE a d, (anterior) 1.693 (2.326) =e sl o 023) = 0.043 CL = Ry =| er Re d, (anterior) =| 423 \o.023 2.326 =0.017 d, (nuevo (anterior) TEC msn, >| En la figura 5-9 se muestran los nuevos limites de control. Obsérvese que el efecto de reducir tamafio de la muestra es incrementar la anchura de los limites en la carta ¥ (debido a que o/-/n es menor cuando n = 5 que cuando n = 3) y bajar la linea central y el limite de control superior en la carta R (debido a que el rango esperado de una muestra con = 3 es menor que el rango esperado de una muestra con 7 = 5). Limites de probal jad en las cartas ¥ y R Se acostumbra expresar los limites de control de las cartas y R como un miiltiplo de la desvia- cin estindar del estadistico graficado en las cartas. Si el miiltiplo clegido es k, entonces se hace referencia a los limites como limites k sigma, siendo la eleccién usual k = 3. Sin embargo, como mencioné en el capitulo 4, también es posible definir los limites de control especificando el nivel del error tipo I de la prueba. A estos limites de control se les llama limites de probabilidad, y s¢ usan ampliamente en el Reino Unido y en algunas partes de Europa Occidental. Es sencillo elegir los limites de probabilidad para la carta ¥. Puesto que ¥ tiene una distribu: én aproximadamente normal, el error tipo I de o deseado puede obtenerse eligiendo un miiltiplo dé sigma para el limite de control como k = Z,,,, donde Z,, es el punto porcentual o/2 superior de la distribucién normal estindar. Obsérvese que los Ifmites convencionales tres sigma usuales implt- © 5-2 CARTAS DE CONTROL PARA YR 227 Limits basados en n= 5 Lites basados en n=3 yaors[_ vol =74.014 Uel= 74018 _ 74010} 74.005) 74,000 -———_—_______| 73.995 73.990} LoL = 73.988 73.985) Lot = 73.984 13 5 7 9 111315171921 2325 Numero de muestra Limites basados en = 5 Limites basados en n= 3 0.06, - 0105 | Ut = 0.049 ® cl = 0.043 0.04] 0.03] 0.02 cu 0017 oi ol iit 13 5 7 9111316171921 2325 Numero de muestra Figura 5-9 Nuevo célculo de los Ifmites de control para los datos de los anillos para pistones para reflejar el cambio del tamafio de Ia muestra de n = San = 3, can que la probabilidad del error tipo I es ct = 0.0027. Si se elige ot = 0.002, por ejemplo, como lo hace la mayoria de los autores que recomiendan los limites de probabilidad, entonces Z,. = Z,y = 3.09. Por consiguiente, hay muy poca diferencia entre estos limites de control y los limites de control tres sigma. También pueden construirse cartas R utilizando limites de probabilidad. Si ot = 0.002, se nece- sitan los puntos porcentuales 0.001 y 0.999 de la distribucién del rango relative W = Rio. Estos puntos dependen obviamente del tamafio n del subgrupo. Al denotar estos puntos W,..,(72) ¥ WM goo)» y al estimar 6 con R/d,, se obtendrian los limites 0,001 y 0.999 para R como Wyon,(n)(R/d;) Wo ovo(n(R/d,). Si se hace Dy oo, = Wy59}(7)/d, Y Dyoyy = Wa goe(r)/d,, entonces los limites de proba- bilidad para la carta R son + En Grant y Leavenworth (1) se presentan tablas de los pares de valores (Dyip Days (Dye Dy, CAPITULO S CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES Y (Dygas> Doors) Pata 2 Sn < 10. Estos limites de control no diferiran sustancialmente de los limitey tres sigma usuales. Sin embargo, para los tamatios de la muestra 3 <1 <6, produciran un limite de control inferior positive para la carta R, mientras que los limites tres sigma no lo harén, Cartas basadas en valores estandares Cuando es posible especificar valores estindares para la media y la desviacién estindar del proceso, éstos pueden usarse para establecer las cartas de control x y R sin el anilisis de los datos pasados, Suponer que los valores estandares dados son Hl y 6. Entonces los parimetros de la carta ¥ son | UCL =4+3-2 Linea central = 1 ¢ (5-14) vn LCL =-3 La cantidad 3//n = 4, por ejemplo, es una constante que depende de n, cuyo valor se ha determi- nado en la tabla VI del apéndice. Por consiguiente, los parametros de la carta ¥ podrian escribirse como UCL=1+ 40 Linea central = LCL=p1-46 (5-15) Para construir la carta R con un valor estindar de 6, recuérdese que o = Rid,, donde d, es la media de la distribucién del rango relativo, Ademés, la desviacién estindar de R es 6, = d,s, donde d, es la desviacién estandar de la distribucién del rango relativo. Por lo tanto, los pardmetros de la carta de control son UCL = d,0+ 34,6 Linea central = do (5-16) LCL =d,0-34,0 a ei 5.2.4 5:2. CARTAS DECONTROL PARA YR 229. Se acostumbra definir las cor 'stas constantes se tabulan en Ia tabla VI del apéndice. Por tanto, los parametros de la carta R con el valor estindar 6 dado son UCL=D,o Linea central = d,6 LCL=D,6 | (5-17) | J Debe tenerse cuidado cuando los valores estindares de jt y 6 estén dados. Puede ocurrir que estos valores esténdares en realidad no sean aplicables al proceso, y como resultado, las cartas x y R producirén muchas sefiales de fuera de control respecto de los valores estindares especificados. Si el proceso en realidad se encuentra bajo control en ofra media y otra desviacién estandar, entonces el analista puede dedicar esfuerzos considerables a buscar causas asignables inexistentes. Los valores estindares de o parecen ocasionar mas problemas que los valores estindares de [1. En procesos donde la media de la caracteristica de la calidad se controla mediante ajustes de la maquina, en ocasiones los valores estndares u objetivo de j1 son ttiles para aleanzar las metas de la administra- cién con respecto al desempefio del proceso. Interpretaci6n de las cartas ¥ yR Se ha sefialado ya que una carta de control puede indicar una condicién fuera de control aun cuando ningiin punto particular se localice fuera de los limites de control, cuando el patrén de los puntos graficados muestra un comportamiento no aleatorio o sistematico. En muchos casos, el patron de los puntos graficados proporcionard informacién de diagnéstico itil sobre el proceso, y esta informa- cién puede usarse para realizar modificaciones que reduzcan la variabilidad (la meta del control estadistico de procesos). Ademiés, estos patrones ocurren con bastante frecuencia en la fase | (estu- dio en retrospectiva de datos pasados), y su eliminacién frecuentemente es crucial para poner el proceso bajo control En esta seccidn se discuten brevemente algunos de los:patrones mas comunes que aparecen en las cartas ¥ y R,y se indican algunas de las caracteristicas del proceso que pueden producir estos patrones. Para hacer una interpretacién efectiva de las cartas ¥ y R, el analista debe estar familiariza- do con los principios estadisticos que fundamentan la carta de control y con el proceso en si mis- mo. En Statistical Quality Control Handbook de Western Electric (1, pp. 149-183) se presenta informacién adicional sobre la interpretacion de patrones en cartas de control. Para interpretar patrones en una carta X es necesario determinar primero si la carta R esta 0 no bajo control. Algunas causas asignables aparecen fanto en la carta ¥ como en la carta R. Si las dos 30 CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLI Numero de muestra Figura $-10 Ciclos en una carta de control, cartas ¥ y R muestran un patrén no aleatorio, la mejor estrategia es climinar primero las causas asignables de la carta R. En muchos casos, con esto se eliminara automaticamente el patrn no aleatorio de la carta x. Nunca deberd intentar interpretarse la carta ¥ cuando la carta R indique una condicién fuera de control. i En ocasiones aparecen patrones ciclicos en una carta de control. En la figura 5-10 se muestra un ejemplo tipico. Este patron en la carta ¥ puede resultar de cambios ambientales sistematicos tales como la temperatura, fatiga del operador, rotacién regular de operadores y/o maquinas, 0 fluctuacién en el voltaje o la presién o en alguna otra variable del equipo de produccién. Las cartas R en ocasio- nes revelaran ciclos debido a los programas de mantenimiento, fatiga del operador 0 desgaste de herramientas que dan lugar a una variabilidad excesiva. En un estudio en el que participé este autor, la variabilidad sistematica en el volumen de Ienado de un recipiente metalico era causada por el ciclo encendido-apagado de una compresora de la maquina de Ilenado. Se indica una mezcla cuando los puntos graficados tienden a localizarse cerca o ligeramente afuera de los limites de control, con relativamente pocos puntos cerca de la linea central, como se muestra en la figura 5-1. Un patron mezclado es generado por dos (0 mis) distribuciones traslapadas. en la salida del proceso. Las distribuciones de probabilidad que podrian asociarse con el patron mezelado de la figura 5-11 se muestran a la derecha de esa figura. La gravedad del patron mezclado depende del grado de traslape de las distribuciones. Las mezclas en ocasiones son resultado del Leu Namero de muestra Figura 5-11 Un patron mezclado, CARTAS DE CONTROL PARA YR 231 Numero de muestra Figura 5-12 Un corrimiento en el nivel del proceso. “sobrecontro!”, cuando los operadores hacen ajustes del proceso con demasiada frecuencia, en respuesta a la variacién aleatoria de la salida y no a causas sistematicas, Un patrén mezclado también puede ocurrir cuando los productos de salida de varias fuentes (tales como maquinas en paralelo) se junta en un flujo comin del que después se hace un muestreo a fin de monitorear el proceso. En la figura 5-12 se ilustra un corrimiento en el nivel del proceso. Estos corrimientos pueden ser causados por la introduccién de nuevos trabajadores, métodos, materias primas 0 maquinas; por un cambio en el método o los estndares de inspeccién; o por un cambio en la habilidad, atencién motivaci6n de los operadores. En ocasiones se observa una mejoria en el desempefio del proceso después de la introduccién de un programa de cartas de control, debido simplemente a factores motivacionales que influyen en los trabajadores. En la carta de control de la figura 5-13 se muestra una tendencia, 0 movimiento continuo en una sola direccién. Las tendencias suelen deberse al desgaste o deterioro gradual de una herra- mienta o de algin otro componente critico del proceso. En los procesos quimicos ocurren frecuen- temente por el asentamiento o separacién de los componentes de una mezcla. También pueden ser resultado de causas humanas, tales como fatiga del operador o la presencia del supervisor. Por liltimo, las tendencias pueden resultar de influencias estacionales, como la temperatura. Cuando las tendencias se deben al desgaste de las herramientas u otras causas sistematicas de deterioro, esta situacién puede incorporarse directamente en el modelo de la carta de control. Un recurso itil para monitorear y analizar procesos con tendencias es la carta de control de regresién [ver Mandel (1)]. También se usa la carta de control modificada, la cual se discute en el capitulo 9, cuando el proceso manifiesta desgaste de herramicntas. Numero de muestra Figura 5-13 Una tendencia en el nivel del proces 232. cAPETULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES uct Numero de muestra Figura $-14 Un patron de estratif Pn la figura 5-14 se ilustra la estratificacién, o la tendencia de los puntos a agruparse artificialmente Irededor de la linea central. Se nota una marcada falta de variabilidad natural en el patrén obsere lo. Una causa potencial de la estratificacién es la colocacién incorrecta de los limites de control, Este patrén también puede presentarse cuando en el proceso de muestreo se colectan una o mig uunidades de varias distribuciones fundamentales diferentes dentro de cada subgrupo. Por ejemplo, Suponer que se obtiene una muestra de tamafio cinco al tomar una observacién de cada uno de co procesos paralelos. Si las unidades més grande y mas pequefia de cada muestra se encuentran relativamente apartadas debido a que provienen de dos distribuciones diferentes, entonces R se inflaré indebidamente, haciendo que los limites de la carta ¥ sean demasiado amplios. En este aso, R mide incorrectamente la variabilidad entre las diferentes distribuciones fundamentales, ‘demas de la variacién de la causa fortuita que debe medir. Al interpretar patrones en las cartas ¥ y R, ambas deberin considerarse conjuntamente. Si la distribucién fundamental es normal, entonces las variables aleatorias ¥ y R calculadas a partir de | misma muestra son estadisticamente independientes. Por lo tanto, ¥ y R deberdn tener un com« Portamiento independiente en la carta de control. Si existe correlacién entre los valores de x y R ¢es decir, si los puntos de las dos cartas “se siguen” unos a otros—, esto indica que la distribucién fundamental esté sesgada. Si las especificaciones se determinaron suponiendo la normalidad, en ‘onces estos andlisis pueden ser incorrectos "1 efecto del incumplimiento de la normalidad en las cartas ¥ yR Un supuesto fundamental en el desarrollo de las cartas de control ¥ y R es que la distribucién fundamental de la caracteristica de la calidad es normal. En muchas situaciones puede haber favones para dudar de la validez de este supuesto. Por ejemplo, puede saberse que la distribucién ‘undamental no es normal porque se ha recabado un gran mimero de datos que indican que ¢l Supuesto de normalidad no es apropiado. Ahora bien, si se conoce la forma de la distribucién ‘indamental, es posible derivar distribuciones de muestreo de x y R (o de alguna otra medida de \\ variabilidad del proceso) y obtener limites de probabilidad exactos para las cartas de control. ste enfoque podria resultar complicado en algunos casos, y la mayoria de los analistas probable- ‘mente preferirian usar el enfoque estindar basado en el supuesto de normalidad si sintieran que el clecto de la desviacién de este supuesto no es serio. Sin embargo, quizé no se sepa nada de la forma 5-2.6 5-2 CARTAS DECONTROL PARA YR 233 le la distribucién fundamental y entonces la nica opcién puede ser usar los resultados de la teoria normal. Evidentemente, en cualquiera de los dos casos, el interés se encontrarfa en conocer el efecto de las desviaciones de la normatidad sobre las cartas de control usuales para ¥ y R. Varios autores han investigado el efecto de las desviaciones de la normalidad sobre las cartas de control. Burr (1) sefiala que las constantes del limite de control de la teorfa normal convencional son muy robustas para el supnesto de normalidad y pueden emplearse a menos que la poblacién se aparte de manera extrema de la distribucién normal. Schilling y Nelson (1), Chan, Hapuarachchi y Macpherson (2), y Yourstone y Zimmer (2) también han estudiado el efecto del incumplimiento de normalidad sobre los limites de control de la carta ¥, Shilling y Nelson investigaron las distribu- ciones uniforme, del triéngulo recténgulo, gamma (con = 1 y r= 4, 1,2, 3y 4) y dos distribucio- nes bimodales formadas como mezclas de dos distribuciones normales. Su estudio indica que, en la mayorfa de los casos, muestras de tamaiio cuatro o cinco son suficientes para asegurar una robustez razonable para el supuesto de normalidad. Los peores casos observados fueron para valores peque- jos de ren la distribucién gamma [r= + y r= I (la distribucién exponencial)]. Por ejemplo, reportan que el riesgo real ct es 0.014 0 menor sin 2 4 para la distribucién gamma con r = 4, por oposicién al valor teérico de 0.0027 para la distribucién normal Mientras que el uso de los limites de control tres sigma en la carta ¥ producirdn un riesgo 0: de 0.0027 si la distribuci6n fundamental es normal, no es el caso para la carta R. La distribucién de muestreo de R no es simétrica, aun cuando el muestreo se haga de la distribucién normal, y la cola larga de la distribucién esta en el lado alto o positivo. Por tanto, Ios limites simétricos tres sigma son solo una aproximaci6n, y el riesgo o de esta carta R no es 0.0027. (De hecho, para n = 4, es & = 1.00461.) Por otra parte, la carta R es mas sensible a las desviaciones de la normalidad que la carta ¥. La funcién de operacién caracteristica La habilidad de las cartas y R para detectar corrimientos en la calidad del proceso se describe por sus curvas de operacién caracteristica (OC). En esta seccién se presentan estas curvas OC para Jas cartas usadas para el control en linea de un proceso, Considérese la curva OC de una carta ¥ con desviacién esténdar 6 conocida y constante. Si la media se corre del valor bajo control —por ejemplo, |, — a otro valor ft, = l, + ko, la probabilidad de no detectar este corrimiento en la primera muestra subsecuente, 0 ¢! riesgo B, es B=P{LCLs¥SUCL|t =p, =p, +ko} (5-18) Puesto que ¥ ~ N(U, o*/n), y los limites de control superior e inf erior son UCL =p, + Lo/Vn y LCL = - Lo/ vn, la ecuacién 5-18 puede escribirse como UCL=(u, +ko)|_ 4 { LCL-(u. +ko) ee ee ee Hy + Lol Vn (4 + ko) Hy —Lo/ Vn ~ (iy +ko) ) 8 || Ser oivn on CAPITULO 5 CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES donde & denota la funci6n de distribucién normal esténdar acumulada. Esta expresi6n se reduce a B=0(L-kyn)-@(-L-kyn) (5-19) Para ilustrar la aplicaci6n de la ecuacién 5-19, suponer que se esté usando una carta Xcon L = 3 (los limites tres sigma usuales), que el tamafio de la muestra m = 5 y que quiere determinarse Ia probabilidad de detectar un corrimiento Hi, = Hy + 26 en la primera muestra después del corr. miento. Entonces, puesto que L = 3, k =2 y n= 5, se tiene B=0[3-2y5]-@[-3-2V5] @(-1.47)— ®(-7.37) = 0.0708 Se trata del riesgo B, o la probabilidad de no detectar este corrimiento. La probabilidad de que este corrimiento se detectard en la primera muestra subsecuente es 1 — B = 1 — 0.0708 = 0.9292. Para construir la curva OC de la carta ¥, se grafica el riesgo B contra la magnitud del cori- miento que quiere detectarse expresado en unidades de desviaci6n estindar para varios tamafios de la muestra n. Estas probabilidades pueden evaluarse directamente con la ecuaci6n 5-19. Esta curva OC se muestra en la figura 5-15 para el caso de los limites tres sigma (L = 05 10 15 20 25 30 35 40 45 50 k Figura 5-15. Curvas de operaci6n caracteristica de la carta ¥ con limites tres sigma. 6 = P (no detectar un corrimiento de ko cen la media en la primera muestra después del cortimiento).

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