MUESTRAS DEL DIÁMETRO DE PRODUCCIÓN DE UN CILINDRO

MUESTRA HORA 1 2 3 4 5
1 8:00 12.37 9.73 10.38 10.34 9.04
2 9:00 10.51 10.55 10.06 10.28 10.92
3 10:00 9.42 9.45 10.80 10.89 9.16
4 11:00 10.28 10.93 10.27 10.74 9.86
5 12:00 10.76 10.96 9.65 10.04 10.40
6 13:00 9.92 9.44 9.29 10.63 9.65
7 14:00 9.81 10.22 9.56 9.61 9.10
8 15:00 10.73 10.91 10.68 10.32 9.71
9 16:00 10.81 10.71 10.67 10.55 9.75
10 17:00 10.07 10.29 10.64 10.43 10.97

A2 0.577
D3 0
D4 2.114
11.50

10 horas 5 muestras o subgrupos se puede calcular la desviación

estandar y no S 11.00

10.50

10.00

9.50

9.00

8.50
1 2
 GRÁFICO  GRÁFICO 
 LSC LC LIC  LSC
10.37 11.05 10.25 9.44 3.33 2.94
10.46 11.05 10.25 9.44 0.86 2.94
9.94 11.05 10.25 9.44 1.73 2.94
10.42 11.05 10.25 9.44 1.07 2.94
10.36 11.05 10.25 9.44 1.31 2.94
9.79 11.05 10.25 9.44 1.34 2.94
9.66 11.05 10.25 9.44 1.12 2.94
10.47 11.05 10.25 9.44 1.20 2.94
10.50 11.05 10.25 9.44 1.06 2.94
10.48 11.05 10.25 9.44 0.90 2.94

PROMEDIO 10.25 PROMEDIO 1.39

GRAFICA X GRAFIC
11.50
3.50

11.00 3.00

2.50
10.50

2.00
10.00
1.50

9.50
1.00

9.00 0.50

0.00
8.50 1 2 3 4 5
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
 LSC
 LSC LC LIC

Grafica mide variabilidad de rangos. Difer

Grafica mide variabilidad encuanto a la media o promedio. a causa atribuible error valor de med

3 puntos seguidos por encima limete central revisar causa Racha 5 puntos consecutivos por debajo d
proceso no es estable . Puede indicar que
 GRÁFICO 
LC LIC
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00
1.39 0.00

GRAFICO R

3 4 5 6 7 8 9 10
 LSC LC LIC

riabilidad de rangos. Diferencia significativa de rango se atribuye

ribuible error valor de medicion investigar causa atribuible

consecutivos por debajo de la linea de control se concluye que el

estable . Puede indicar que a largo plazo pueda salirse del limete
de control
 PROCESO DE MOLDEADO DE CILINDROS
LOTE TAMANO LOTE ni DEFECTUOSOS di PROPORCIÓN Pi LSC LC LIC
1 300 15 0.050 0.0680 0.0357 0.0035
2 300 12 0.040 0.0680 0.0357 0.0035
3 300 15 0.050 0.0680 0.0357 0.0035
4 300 7 0.023 0.0680 0.0357 0.0035
5 300 16 0.053 0.0680 0.0357 0.0035
6 300 6 0.020 0.0680 0.0357 0.0035
7 300 18 0.060 0.0680 0.0357 0.0035
8 280 10 0.036 0.0680 0.0357 0.0035
9 290 9 0.031 0.0680 0.0357 0.0035
10 300 15 0.050 0.0680 0.0357 0.0035
11 300 9 0.030 0.0680 0.0357 0.0035
12 300 4 0.013 0.0680 0.0357 0.0035
13 300 7 0.023 0.0680 0.0357 0.0035
14 300 9 0.030 0.0680 0.0357 0.0035
15 305 5 0.016 0.0680 0.0357 0.0035
16 295 15 0.051 0.0680 0.0357 0.0035
17 300 19 0.063 0.0680 0.0357 0.0035
18 300 7 0.023 0.0680 0.0357 0.0035
19 300 12 0.040 0.0680 0.0357 0.0035
20 300 10 0.033 0.0680 0.0357 0.0035
21 300 4 0.013 0.0680 0.0357 0.0035
n 298.571  0.036
 Chart Title
0.080
0.070
0.060
0.050
0.040
0.030
0.020
0.010
0.000
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21
PROPORCIÓN Pi LSC
LC LIC

No hay racha Ni puntos fuera de limite. Dos de tres puntos consecuntivos cercanos a la
Análisis: linea + o - 1 sigma indica no está bajo control - por cada 299 cilindros se espera que de
forma comun u ordinaria la proporción de productos con problemas de mal moldeo varía
entre 0,35% LIC y 6,80%LSC con promedio de 3,57%

no está en control, esta bajo condiciones controladas o se puede concluir si el proceso es bueno o malo
solo si el proceso cumple con especificaciones criterios condiciones controladas

DEBEN EXISTER 2 O 3 PUNTOS CONSECUTIVOS EN LA ZONA A 3 SIGMA

Para saber la causa de un proceso no controlado se atribuye a causas asignables que se identifican
mediante grupos racionales es decir % lotes deben tener carcaterísticas particulares que difieren del
otro lote.

si el proceso no esta bajo condicioones controladas hay que hacer analisis en grupo racional
identificando causa asignable
 18 19 20 21

ecuntivos cercanos a la
dros se espera que de
as de mal moldeo varía
,57%

roceso es bueno o malo

ontroladas

les que se identifican

ulares que difieren del

en grupo racional
 MUESTRA DEFECTUOSOS di PROPORCION pi LCS LC LCI

1 9 0.075 17.8 9.1 0.40

2 6 0.050 17.8 9.1 0.40
3 10 0.083 17.8 9.1 0.40
4 8 0.067 17.8 9.1 0.40
5 5 0.042 17.8 9.1 0.40
6 5 0.042 17.8 9.1 0.40
7 14 0.117 17.8 9.1 0.40
8 12 0.100 17.8 9.1 0.40
9 9 0.075 17.8 9.1 0.40
10 8 0.067 17.8 9.1 0.40
11 10 0.083 17.8 9.1 0.40
12 20 0.167 17.8 9.1 0.40
13 12 0.100 17.8 9.1 0.40
14 10 0.083 17.8 9.1 0.40
15 10 0.083 17.8 9.1 0.40
16 0 0.000 17.8 9.1 0.40
17 11 0.092 17.8 9.1 0.40
18 5 0.042 17.8 9.1 0.40
19 6 0.050 17.8 9.1 0.40
20 12 0.100 17.8 9.1 0.40
9.1 0.076

N 120
 0.076
LCS 17.8
LC n 9.1
LCI 0.40

TAMAÑO DE SUBGRUPO CONSTANTE (n), grafica con defectuosos y limites . El proceso esta fuera de control , porque tenemo
puntos fuera de los limites analizando la muestra 12 y 16 , es necesario implementar mejoras en el proceso
 g
22

20

18

16

14 14

12 12

ta fuera de control , porque tenemos 10 10

as en el proceso 9
8 8

6 6
5 5
4

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9

DEFECTUOSOS
 gráfi co np

20

14

12 12 12
11
10 10 10 10
9
8 8

6
5 5 5

0
4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21

DEFECTUOSOS di LCS LC LCI

Se han observado los defectos de 50 muestras sucesivas de 40 tarjetas
electrónicas de circuitos impresos. Evalua diversos defectos
ATRIBUTOS corrida , defecto quebrad
MUESTRA N° DE DEFECTOS LCS C LCI
1 8 11.4642 4.85436893 0.6719
OBJETIVO :Analizar la va
2 4 11.4642 4.85436893 0.6719 subgrupo o unidad , u
3 14 11.4642 4.85436893 0.6719
4 9 11.4642 4.85436893 0.6719
5 6 11.4642 4.85436893 0.6719
6 9 11.4642 4.85436893 0.6719 USO : Es puntos de insp
mas puntos de defectos
7 13 11.4642 4.85436893 0.6719 encutre defectos el arti
8 15 11.4642 4.85436893 0.6719
9 10 11.4642 4.85436893 0.6719
10 17 11.4642 4.85436893 0.6719 n muestra : constante
C- LC= TOTAL DE
11 14 11.4642 4.85436893 0.6719 LCS=C +
12 13 11.4642 4.85436893 0.6719
13 16 11.4642 4.85436893 0.6719
14 8 11.4642 4.85436893 0.6719
15 9 11.4642 4.85436893 0.6719
16 14 11.4642 4.85436893 0.6719
17 6 11.4642 4.85436893 0.6719
18 9 11.4642 4.85436893 0.6719 18
19 13 11.4642 4.85436893 0.6719 16
20 7 11.4642 4.85436893 0.6719 14
21 13 11.4642 4.85436893 0.6719 12
22 8 11.4642 4.85436893 0.6719 10
23 11 11.4642 4.85436893 0.6719 8
24 9 11.4642 4.85436893 0.6719 6
25 6 11.4642 4.85436893 0.6719 4

26 6 11.4642 4.85436893 0.6719 2

27 11 11.4642 4.85436893 0.6719 0

1 3 5 7 9 11 13 1
28 12 11.4642 4.85436893 0.6719
29 12 11.4642 4.85436893 0.6719
30 8 11.4642 4.85436893 0.6719
31 16 11.4642 4.85436893 0.6719
32 13 11.4642 4.85436893 0.6719
33 12 11.4642 4.85436893 0.6719
Se espera que de ma
34 11 11.4642 4.85436893 0.6719 electronicas varie entre
35 6 11.4642 4.85436893 0.6719 representan ni deben re
36 10 11.4642 4.85436893 0.6719 bien representan la rea
requiere un plan de acc
37 13 11.4642 4.85436893 0.6719 localizar el tipo de defec
38 6 11.4642 4.85436893 0.6719
39 9 11.4642 4.85436893 0.6719
40 10 11.4642 4.85436893 0.6719
41 11 11.4642 4.85436893 0.6719
las 40 tarjetas electr
42 7 11.4642 4.85436893 0.6719 obteniendo un prome
43 11 11.4642 4.85436893 0.6719
44 13 11.4642 4.85436893 0.6719
 45 9 11.4642 4.85436893 0.6719
46 11 11.4642 4.85436893 0.6719
47 7 11.4642 4.85436893 0.6719
48 16 11.4642 4.85436893 0.6719
49 5 11.4642 4.85436893 0.6719
50 9 11.4642 4.85436893 0.6719
PROMEDIO 515
C 10.3
valua diversos defectos a la vez , tipos de defectos que salen ej:
orrida , defecto quebrado , manchado , etc…. Defectos minimos

OBJETIVO :Analizar la variabilidad del numero de defectos por

subgrupo o unidad , un articulo , lote , medida de area de
tiempo

USO : Es puntos de inspeccion donde se busca localizar uno o

mas puntos de defectos menores de tal forma que aunque se
encutre defectos el articulo no se rechaza ej: quejas , errores ,
paros , etc….

muestra : constante
C- LC= TOTAL DE DEFECTOS / TOTAL DE SUBGRUPO
LCS=C + 3RAIZ C
LCI= C-3RAIZ C

18
grafico C
16
14
12
10
8
6
4
2
0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29 31 33 35 37 39 41 43 45 47 49

N° DE DEFECTOS LCS
C LCI

Se espera que de manera ordinario el numero de defectos por tarjetas

electronicas varie entre 0 y 11,46 con un promedio de 10,3 estos limites no
representan ni deben representar donde se quiere que esten los datos mas
bien representan la realidad . Como las cantidades de defectos son altas se
requiere un plan de accion que reduzca esa problematica y una forma seria
ocalizar el tipo de defecto con mayor frecuencia y el area donde se presenta

las 40 tarjetas electronicas muestran que generan muchos defectos ,

obteniendo un promedio del 10,3 de defectos por tarjeta es un proceso
inestable
 TAMAÑO DE DEFECTOS POR
LOTE DEFECTOS (u) LCS LC LIC
MUESTRA (n) UNIDAD (u/n)

1 20 17 0.85 1.702 1.046 0.390

2 20 24 1.20 1.702 1.046 0.390
3 20 16 0.80 1.702 1.046 0.390
4 20 26 1.30 1.702 1.046 0.390
5 15 15 1.00 1.702 1.046 0.390
6 15 15 1.00 1.702 1.046 0.390
7 15 20 1.33 1.702 1.046 0.390
8 25 18 0.72 1.702 1.046 0.390
9 25 26 1.04 1.702 1.046 0.390
10 25 10 0.40 1.702 1.046 0.390
11 25 25 1.00 1.702 1.046 0.390
12 30 21 0.70 1.702 1.046 0.390
13 30 40 1.33 1.702 1.046 0.390
14 30 24 0.80 1.702 1.046 0.390
15 30 46 1.53 1.702 1.046 0.390
16 30 32 1.07 1.702 1.046 0.390
17 30 30 1.00 1.702 1.046 0.390
18 30 34 1.13 1.702 1.046 0.390
19 15 11 0.73 1.702 1.046 0.390
20 15 14 0.93 1.702 1.046 0.390
21 15 30 2.00 1.702 1.046 0.390
22 15 17 1.13 1.702 1.046 0.390
23 15 18 1.20 1.702 1.046 0.390
24 15 20 1.33 1.702 1.046 0.390
SUMATORIA 525 549
PROMEDIO 21.875
U media 1.046

Ejercicio:
En una fábrica se ensamblan artículos electrónico y al final de proceso se hace una
inspección por muestreo para detectar defectos relativamente menores en la tabla se
presenta el número de defectos observados en los muestreos realizados en 24 lotes
consecutivos de piezas electrónicas el número de piezas inspeccionadas en cada lote es
variable.
 Chart Title
2.5

1.5

0.5

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
DEFECTOS POR UNIDAD (u/n) LCS
LC LIC

el proceso para la fabricacion del producto está fuera de control

fuera de control por punto afuera d e los limites , cambio repentino en el nivel
entino en el nivel
 MUESTRAS Peso producción de una preforma gr
Subgrupos 1 2 3 4 5
1 464 486 467 484 431
2 403 475 485 464 432
3 489 476 427 465 447
4 487 426 418 471 450
5 465 413 435 409 454
6 432 409 477 425 432
7 442 452 420 401 452
8 406 441 497 432 475
9 434 451 459 417 426
10 460 465 453 400 432
11 420 495 495 428 460
12 413 407 446 427 497
13 429 441 469 485 426
14 491 441 432 492 407
15 492 464 429 491 465
16 463 430 400 485 416
17 432 499 445 479 417
18 443 429 468 455 472
19 422 437 419 432 480
20 427 498 452 417 467
21 433 415 434 491 426
22 427 464 439 418 417
23 427 458 489 413 436
24 500 400 401 459 490
25 468 403 451 414 463
26 463 427 469 412 461
27 422 431 496 401 465
28 402 456 426 496 438
29 481 417 485 437 435
30 453 473 434 427 492
31 465 425 451 495 455
32 401 499 500 491 482
33 479 493 422 446 426
34 435 423 436 427 406
35 469 483 400 443 460
36 438 484 490 470 406
37 411 429 401 414 438
38 427 436 437 425 415
39 409 494 422 435 482
40 483 478 406 477 477

A3 1.427
B4 2.089
B3 0.00
X prom LCS LC LCI
466 488 447.4 406
452 488 447.4 406
461 488 447.4 406
450 488 447.4 406
435 488 447.4 406
435 488 447.4 406
433 488 447.4 406
450 488 447.4 406
437 488 447.4 406
442 488 447.4 406
460 488 447.4 406
438 488 447.4 406
450 488 447.4 406
453 488 447.4 406
468 488 447.4 406
439 488 447.4 406
454 488 447.4 406
453 488 447.4 406
438 488 447.4 406
452 488 447.4 406
440 488 447.4 406
433 488 447.4 406
445 488 447.4 406
450 488 447.4 406
440 488 447.4 406
446 488 447.4 406
443 488 447.4 406
444 488 447.4 406
451 488 447.4 406
456 488 447.4 406
458 488 447.4 406
475 488 447.4 406
453 488 447.4 406
425 488 447.4 406
451 488 447.4 406
458 488 447.4 406
419 488 447.4 406
428 488 447.4 406
448 488 447.4 406
 464 488 447.4 406
X prom/prom 447 S prom
CV 6%
S LCS LC LCI
22 60 28.7 0 500
34 60 28.7 0
490
24 60 28.7 0
29 60 28.7 0 480
25 60 28.7 0 470
25 60 28.7 0
460
22 60 28.7 0
36 60 28.7 0 450

17 60 28.7 0 440
27 60 28.7 0
430
36 60 28.7 0
420
36 60 28.7 0
26 60 28.7 0 410
38 60 28.7 0 400
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1
26 60 28.7 0
35 60 28.7 0
34 60 28.7 0
18 60 28.7 0
25 60 28.7 0
32 60 28.7 0
70
30 60 28.7 0
19 60 28.7 0 60

30 60 28.7 0 50
48 60 28.7 0
40
29 60 28.7 0
25 60 28.7 0 30

38 60 28.7 0 20
35 60 28.7 0
10
30 60 28.7 0
0
27 60 28.7 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 1
25 60 28.7 0
42 60 28.7 0
32 60 28.7 0
12 60 28.7 0
32 60 28.7 0
35 60 28.7 0 Si dos puntos se acercan a 3 sigma o un sigma
15 60 28.7 0 los s
9 60 28.7 0
38 60 28.7 0
 33 60 28.7 0
28.7
 grafico X

5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40
X prom LCS LC LCI

Grafico S

5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40
S LCS LC LCI

s se acercan a 3 sigma o un sigma por arriba o por abajo la grafica esta fuera de los criterios estadisticos de control ,
los subgrupos deben ser mayor o igual a 10 ,
1. SI LOS GRAFICOS DE CONTROL EN LUGAR DE APLICAR 3 SIGMA , APLICAN UN NIVEL DE CONFIANZA X , COMO SE CALCULA
RTA/cuando desea obtener valores de certeza como por ejemplo el 99,9% de estimación da por resultado Z=3.00 , Z=1,645 par
cambia la formula el 3 por 2 sigma
2 AL REDUCIR LOS LIMITES DE ESPECIFICACIONES CON RESPECTO A LA LINEA CENTRAL , QUE
CONTROL ? RTA/ Al reducir los limites el proceso tiende o aumenta la proba
en cuenta la desviacion estandar 3. LA DESVIACIÓN ESTANDAR DEL PROCESO
NO SON IGUALES COMO INFERIOR (SIGMA) A PARTIR DE S , LIMITES Y DISTRIBUCION DEL PROCESO A TRAVES DE DESVESTO
- G
ENCONTRAR PROPORCION POR DEBAJO DE CERO 0
(DEFECTOS POR UNIDAD)Medimos el % de defectos en una unidad durante un periodo de diseño , tamaño de muestra variable
GRAFICO C :
ONFIANZA X , COMO SE CALCULAN LOS LIMITES ? CASO ESPECIFICO 90%
or resultado Z=3.00 , Z=1,645 para el 90% , para calcular los limites se

PECTO A LA LINEA CENTRAL , QUE SE PUEDE ESPERAR DEL GRAFICO DE

oceso tiende o aumenta la probabilidad de estar fuera de control sin tener
VIACIÓN ESTANDAR DEL PROCESO ES IGUAL A LOS LIMITES DE CONTROL ? SI
ROCESO A TRAVES DE DESVESTO
- GRAFICO P,C Y NP NO PODEMOS
GRAFICO U :
eño , tamaño de muestra variable ejem: circuitos muy diversos