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Medicion Del Campo de Desplazamientos en El Extrem
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RESUMEN
Palabras claves
Interferometría de speckle digital, Fatiga, Campo de desplazamientos
INTRODUCCION
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Díaz, Kaufmann, Armas y Möller
TECNICA EXPERIMENTAL
0.6 R0.1
90o P
y
x 30
15 1.6
120
150
La placa de ensayo que muestra la Fig. 1 es de acero inoxidable AISI 304, con un
módulo elástico longitudinal E=200GPa y una razón de Poisson ν=0.29. Después de ensayar
este material a tracción, se usó una relación Ramberg-Osgood [10] para ajustar los datos de la
función tensión-deformación. A partir de la forma funcional
n
ε σ æσ ö
= + α çç (1)
ε0 σ 0 èσ0
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Jornadas SAM - CONAMET - AAS 2001
E
L
SH
ED PZT
UC
EI CCD
LD
LD PC
P
x
z
Figura 2. Diagrama del sistema DSPI: L, láser de He-Ne; SH, separador de haces;
E, EI y ED, espejos; P, placa de ensayo; LD, lente divergente; CCD, cámara de
video; PC, sistema de procesamiento digital de imágenes; PZT, transductor
piezoelélectrico; UC, unidad controladora
La Fig. 2 muestra un diagrama del sistema de DSPI utilizado para generar los
interferogramas de speckle. El láser de He-Ne (L) emite radiación con una longitud de onda
λ=632.8nm. Un separador de haces 50/50 divide este haz en dos y luego cada uno se expande
mediante una lente divergente (LD). Ambos haces iluminan simétricamente la placa ensayada
(P) con un ángulo de δ== 30o con respecto a la normal a la superficie. La salida de la cámara
CCD (Pulnix TM-620) está conectada a un frame grabber (Matrox Pulsar), que está
localizado en la computadora (PC) que digitaliza las imágenes con una resolución de 512 ×
512 × 8 bits (256 niveles de grises). Un transductor piezoeléctrico (PZT) permite desplazar
un espejo (ED) y se usa para introducir corrimientos de fase.
A continuación se detalla el procedimiento experimental. Primero, la placa dañada por
fatiga se posicionó en un dispositivo de carga solidario a la mesa óptica. Luego, la placa fue
sometida a flexión en tres puntos para pretensar el dispositivo usando una carga estática de
P=60N. A continuación se adquirieron 4 interferogramas de speckle desplazados en fase que
cubren una pequeña región alrededor del extremo de la fisura de 3.15 × 3.15mm2. Después, la
placa fue sometida a un incremento de carga de ∆P=78.4N y se adquirió una nueva serie de 4
interferogramas de speckle desplazados en fase. Finalmente se aplicaron 5 incrementos de
carga del mismo valor. Para cada uno de ellos se registraron 8 interferogramas desplazados en
fase, 4 antes y 4 después de la aplicación de la carga.
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φ i ( x, y )λ
u i ( x, y ) = (2)
4π sen δ
é N D − N 1 D2 ù
φ i ( x, y ) = arctan ê 2 1 (3)
ë N 2 N 1 − D2 D1
donde
En la ec. (4), I11, I12, I13 e I14 son las intensidades de los 4 interferogramas de speckle
adquiridos antes de la aplicación del incremento de carga, correspondientes a los corrimientos
de fase 0, α1,=2α1==y 3α1, respectivamente, e I21, I22, I23 e I24 son las intensidades de los
siguientes interferogramas correspondientes a los corrimientos de fase 0, α2,=2α2==y 3α2,
respectivamente. El ángulo α1 (x,y) se calculó en cada pixel de la imagen a partir de I11, I12,
I13 e I14, y el ángulo α2(x,y) se calculó a partir de I21, I22, I23 e I24 [13].
Para remover los pixels inválidos e incrementar la relación señal-ruido se utilizó un
filtro de convolución que usa una ventana de 5 × 5 y que opera tanto sobre el numerador
como en el denominador de la ec. (3). La Fig. 3 muestra la distribución de fase óptica en
módulo 2π asociada al primer incremento de carga, donde - π se muestra como negro y +π
como blanco.
Para calcular la componente de desplazamiento ui (x,y) mediante la ec. (2) se deben
remover las discontinuidades originadas por el módulo 2π. En principio, la distribución de
fase se podría obtener evaluando la diferencia de fase entre pixels adyacentes. Sin embargo,
los errores provocados por la presencia de inconsistencias impiden el uso de este
procedimiento. Por este motivo, la distribución de fase continua se evaluó usando un
algoritmo iterativo basado en el método de los mínimos cuadrados y que se resuelve mediante
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el uso de la transformada coseno discreta [14]. En este algoritmo, las zonas de inconsistencias
se ponderan mediante una matriz de pesos, cuyos valores varían entre 0 y 1. En contraste con
aquellos métodos de desenvoltura que necesitan que se le brinden dichos pesos [15], el
algoritmo usado aquí estima su propia matriz de pesos a partir de los datos que brinda el
mapa de fase en módulo 2π.
Finalmente, a partir de los campos incrementales se calculó el campo de
desplazamiento u (x,y) acumulado mediante
6
u ( x, y ) = ui ( x, y ) (5)
i =1
RESULTADOS
Los desplazamientos medidos para una carga final de P=470.4N y para un factor de
intensidad de tensiones KI=45MPa m1/2 [16], se compararon con la solución analítica de
Hutchinson, Rice y Rosengren (HRR) [8,9] desarrollada para la condición de tensión plana.
La componente u del campo de desplazamientos, en coordenadas polares (r,θ) y con su origen
coincidente con el extremo de la fisura está expresada por [10]
n
æ J ö n +1
u (r ,θ ) = α ε 0 r çç u1* (θ , n ) (6)
è α σ 0 ε0 In r
*
donde u1 (θ, n) es una función angular tabulada [17,18], In es una constante cuyo valor es 3.3
[18] y J es la integral de línea [8]. Si el contorno para calcular J pasa a través de una zona
elástica lineal bajo tensión plana, su valor se puede obtener mediante
K I2
J= (7)
E
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Para evaluar los resultados experimentales, usando la ec. (6) se determinó u(r,θ) a lo
largo del semieje θ=0. Por lo tanto
u (r ,θ )θ = 0 = a bc r1− c (8)
u ( x, y ) y =0 = a bc x1− c (9)
2
u (µm)
0
0.0 0.5 1.0 1.5
x (mm)
Figura 4. Gráfico de la componente u(x,y) para y=0: (- - -) resultados
experimentales; ( ) resultados teóricos
CONCLUSIONES
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REFERENCIAS
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15. K. Kerr, G.H. Kaufmann, G.E. Galizzi. Unwrapping of interferometric phase-fringe maps
by the discrete cosine transform, Appl. Opt., 35, 810-816, 1996.
16. J.E. Srawley . Wide range stress intensity factor expressions for ASTM E399 standard
fracture toughness specimens, Int. J. Fract., 12, 475-479, 1976.
17. S. Yang, Y.J. Chao, M.A. Sutton. High order asymptotic crack tip fields in a power-law
hardening material, Engng. Fract. Mech. 45, 1-20, 1993.
18. C.F. Shih. Tables of Hutchinson-Rice-Rosengren singular fields quantities. Brown
University Report MRL E-147, 1983.
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