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INTRODUCCIÓN
Los circuitos de muestreo y retención se utilizan para muestrear una señal analógica en un
instante dado y mantener el valor de la muestra durante tanto tiempo como sea necesario.
Los instantes de muestreo y el tiempo de retención están determinados por una señal lógica
de control, y el intervalo de retención depende de la aplicación a la que se destine el
circuito. Por ejemplo, en los filtros digitales las muestras deben ser mantenidas durante el
tiempo suficiente para que tenga lugar la conversión de analógica a digital.
Figura 1. Circuitos de muestreo y retención: (a) circuito simple con interruptor, (b)
formas de onda.
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En la práctica, los interruptores electrónicos y los condensadores no son perfectos y
presentan discrepancias respecto a los valores o estados ideales. Entre las especificaciones
más importantes están las de tiempo de apertura y tiempo de adquisición. Se puede
explicar lo que es el tiempo de apertura haciendo referencia a la Figura 2 en la cual vemos
que dicho tiempo es el máximo retardo entre el instante en que la lógica de control ordena
al interruptor que se abra y el instante en que realmente ocurre la apertura. El tiempo de
apertura de un sistema determina esencialmente el tipo de interruptor que se debe utilizar.
Si este tiempo es del orden de milisegundos, S puede ser un relé. Con interruptores FET
los tiempos de apertura son normalmente de 50 a 100 ns, mientras que con interruptores
con diodo muy rápidos el tiempo de apertura es mucho menor de 1 ns. A consecuencia del
tiempo de apertura hay una incertidumbre en el ritmo o cadencia de muestreo que puede
degradar las prestaciones del sistema. Se suele seleccionar un interruptor cuyo tiempo de
apertura sea mucho menor que la inversa del ritmo de muestreo.
Como el circuito de salida es capacitivo, tarda un cierto tiempo antes de que la tensión del
condensador (salida) sea idéntica a la entrada. El tiempo de adquisición (Figura 1-3) es el
intervalo más corto transcurrido desde que se da la orden de muestra hasta que se puede dar
la orden de retención y se obtenga como resultado una tensión de salida que sea
aproximadamente la tensión de entrada con la exactitud necesaria. El caso más
desfavorable ocurre cuando la entrada es una función escalón cuya amplitud es igual a la
máxima excursión de tensión cresta a cresta del circuito. En el circuito de la Figura 1a, la
velocidad con que la salida puede seguir a tal entrada depende de las características de la
fuente de señal vA. Considerando el efecto de la impedancia de fuente Rg, vo será una
función exponencial con constante de tiempo RgC, y para que vo no difiera más de 0,01 por
100 de la entrada en el instante requerido el tiempo necesario es, aproximadamente, 9 RgC.
Además, la fuente de señal debe ser capaz de suministrar la corriente de carga requerida por
el condensador C. Usualmente, entre la entrada analógica y el interruptor se intercala un
operacional seguidor de tensión para conseguir que Rg sea muy pequeña.
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Figura 2. Tiempo de apertura y su efecto.
Circuito práctico
Los circuitos prácticos de muestreo y retención usan operacionales para obtener una baja
impedancia en el circuito de excitación y una alta impedancia de carga en el condensador
de retención. Estos circuitos utilizan conmutadores FET en vez de BJT a causa de la
linealidad y carencia de offset en sus características de transferencia en la proximidad del
origen, donde tiene lugar la acción de conmutación. Si se requiere una velocidad
extremadamente alta se utilizan puentes de diodos para la conmutación.
La Figura 4a, representa un circuito inversor de muestreo y retención. Opera tal como
sigue. Cuando S está cerrado (muestreo), el circuito actúa como un filtro RC convencional
realizado con un operacional. Si se aplica un escalón de amplitud VA a la entrada, la salida
será:
− t / R2C
R2
v o (t ) = − V A (1 − ε )
R1
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Evidentemente, la constante de tiempo R2C debe ser mucho más corta que el intervalo de
muestreo para que la salida pueda seguir a la entrada.
Figura 4. Circuito inversor de muestreo y retención: (a) circuito con interruptor, (b)
uso del interruptor FET.
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Si la tensión analógica VA tiende a ser negativa, las misiones de los terminales a y b se
invertirán, convirtiéndose b en la fuente. Con el terminal de entrada del operacional a la
tensión virtual de masa, T1 se mantiene en corte a causa de que los 5 V aplicados en la
puerta dan un margen de 1 V por encima de la tensión umbral de -4 V.
En el intervalo de muestreo, VC tiende a cero, y T1 está en conducción (el interruptor está
cerrado). Entonces el circuito actúa esencialmente como el circuito simplificado de la
Figura 4a. Cuando T1 conduce, el diodo D está conectado en paralelo con el interruptor
FET. Como la caída en el FET es pequeña, la tensión en los terminales del diodo será
pequeña y mucho menor de los 0,7 V de muestreo. Es interesante observar que en este
circuito el funcionamiento del FET es reversible o bilateral, en cuanto que fuente y drenaje
son intercambiados cuando cambia la polaridad de la entrada.
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Fig. 5 Modulación PAM.
Observe ( Fig. 5) que la señal PAM podemos imaginar que se produce al meter a la señal de
audio por un circuito de conmutación, controlado por las señales de muestreo y descarga.
El proceso de muestreo se describe con más detalle en la Fig. 6. Cuando la señal de
muestreo cierra al interruptor SW1 en t0, con SW2 abierto, el voltaje que en ese momento
tenga la señal de audio carga al capacitor C. Luego, en t1, el interruptor SW1 se abre, y
durante un tiempo el capacitor C se mantiene cargado, reteniendo el voltaje de la muestra.
Posteriormente, en t2, el interruptor SW2 se cierra, descargando al capacitor C. El
interruptor SW1 se mantendrá abierto y el interruptor SW2 se mantendrá cerrado hasta el
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momento que se inicie el próximo ciclo de muestreo, en t3. Debido al comportamiento
descrito, a los circuitos que se comportan como éste se les llama circuitos de muestreo y
retención, abreviadamente S/H (del inglés, "Sample and Hold").
Para generar una señal PAM como la mostrada en la Fig. 5. se requiere que el tiempo entre
una muestra y otra sea constante, a este tiempo se le llama período de muestreo, Ts (del
inglés, "Sampling Time"). Al valor inverso de este tiempo se le llama, consecuentemente,
frecuencia de muestreo, fs (del inglés, "Sampling frequency"):
fs = 1 / Ts
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Observando a la señal PAM (Fig. 5) se hace evidente que la señal de audio original está
contenida en la envolvente de los pulsos de voltaje. La señal PAM es cualitativamente
semejante a la que se obtiene en un circuito recortador de señal AM ( Fig.7). Una señal AM
recortada (Fig.7) también es una secuencia de pulsos. En una señal AM recortada la
envolvente contiene la información de la señal original (de audio, por ejemplo). Esta
envolvente puede ser recuperada haciendo pasar a la señal AM recortada por una red RC
configurada como filtro paso bajo (Fig.7).
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Fig. 7. - Demodulación de una señal AM.
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Así mismo, como la señal AM recortada, la señal PAM puede hacerse pasar por un filtro
paso bajo, de tal forma que se recupere su envolvente (Fig.8)
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Si el número de votantes resultara muy inferior al número de habitantes con derecho al
voto, el liderazgo del presidente escogido sería cuestionable. Posiblemente la gente no votó
porque no había candidatos aceptables, o alguna otra razón. Por este motivo, antes de las
votaciones se lanzan campañas publicitarias en donde se invita a la gente a votar. Y más
aún, existen países en donde constitucionalmente se establece que el número de votos
captados por algún candidato debe ser superior a cierto porcentaje de la población.
Las votaciones son en realidad un muestreo de opinión en donde se intenta descubrir lo que
piensa la mayoría. Además, como hemos mencionado, para que tengan validez se requiere
que el número de muestras (votantes) sea aceptable.
Retomando nuestro tema - ¿O quiere seguir hablando de política? - Con respecto a las
votaciones, en el muestreo de una señal de audio tenemos el mismo problema en cuanto al
número de muestras que deberán ser tomadas. Afortunadamente todo el control lo tenemos
nosotros y no tenemos que hacer campañas publicitarias.
El número de muestras que se tomen en un proceso de muestreo está controlado por la
frecuencia de muestreo. Mientras más frecuencia, más muestras. Por lo tanto, para que la
señal muestreada (señal PAM) sea representativa requerimos establecer cuál debe ser esta
frecuencia. Para deducir la regla que nos diga cuál ha de ser la frecuencia de muestreo,
haremos algunos experimentos que describimos a continuación.
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En la Fig.9 se presenta el muestreo de una señal de audio de 22 KHz por una señal de
muestreo de 176 KHz. Note que la forma de la envolvente de la señal PAM resultante es
bastante semejante a señal original.
En la Fig.10 se presenta a la misma señal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
señal de 88 KHz. La forma de la envolvente de la señal PAM resultante sigue siendo
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semejante a señal original.
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En la Fig. 11 se presenta a la misma señal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
señal de 44 KHz. La forma de la envolvente de la señal PAM resultante sigue siendo
semejante a señal original, aunque ahora el trazo de esta envolvente no es tan claro
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En la Fig. 12 se presenta a la misma señal de audio de 22 KHz muestreada ahora por una
señal de 29.33 KHz. La forma de la envolvente de la señal PAM aparenta que la señal
original tiene una frecuencia de 7.33 KHz. Con esta frecuencia de muestreo se genera una
frecuencia nueva, inexistente en la señal original.
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88KHz, 44 KHz, 29.33 KHz y, además, se considera el muestreo a 22 KHz, 17.6 KHz y
14.66 KHz. Observe que la envolvente de la señal PAM resultante mantiene la frecuencia
de la señal de audio original solamente si la frecuencia de muestreo es igual o superior a 44
KHz. Para frecuencias de muestreo inferiores a 44 KHz, la frecuencia aparente de la
envolvente varía al variar la frecuencia de muestreo. A estas frecuencias aparentes, no
contenidas en señal original, las llamaremos frecuencias seudónimas (en inglés, "alias
frequency" o "foldover frequency").
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Para que la señal original pueda ser recuperada de su correspondiente señal PAM, la
frecuencia de muestreo deberá ser mayor que el doble de la máxima frecuencia contenida
en la señal original.
Esta conclusión, llamada Teorema de Muestreo, puede que le haya parecido complicada.
Realmente, su interpretación es muy sencilla. Considere el espectro de amplitud -
frecuencia de una señal arbitraria (de audio si gusta) que se muestra en la Fig.14
AMPLITUD
5 10 15 FRECUENCIA
[KHz]
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Observe (Fig.14) que esta señal contiene armónicas de 5 KHz, 10 KHz y 15 KHz. La
frecuencia máxima es, evidentemente, 15 KHz. Por lo tanto, para muestrear a esta señal se
requerirá una frecuencia de muestreo superior a:
2 x 15 KHz = 30 KHz
La señal podrá muestrearse con una frecuencia de muestreo de 50 KHz, por ejemplo.
Como sabemos la percepción humana del sonido está entre las frecuencias de 20 Hz y
20000 Hz. Por lo tanto, si de alguna manera elimináramos a las frecuencias superiores a 20
KHz, la señal de audio resultante mantendrá casi que todas las propiedades audibles de la
señal original (Fig.15).
Siendo rigurosos, realmente la señal resultante pierde frecuencias que por sí solas no son
audibles, pero que al formar parte de una señal compleja contribuyen a resaltar las
frecuencias audibles, por el efecto de suma de sonoridades. Sin embargo, esta leve
diferencia con respecto a la señal original sólo será percibida por personas con un vasto
entrenamiento musical.
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Fig. 15. - Eliminación de las componentes de frecuencia superiores a 20 KHz.
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Fig. 16. - Prevención contra la formación de falsas armónicas mediante la inclusión de un
filtro pasa bajo previo al circuito de muestreo y retención.
Al filtro paso bajo que evita la aparición de frecuencias seudónimas, por su función se le
conoce como filtro contra frecuencias seudónimas (del inglés "antialiasing filter").
EJERCICIOS Y APLICACIONES
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EJERCICIOS.
EJERCICIOS RESUELTOS.
∆Vo
Ic = C ⋅ (1)
∆t
donde: Ic = 1[nA] .
∆t = 50[µs ] .
C = 50[ pF ].
10 −9 × 50 ⋅ 10 −6
∆Vo =
50 ⋅ 10 −12
∆Vo = 10 −3 [V ]
10 −3 × 100
%caida =
1
%caida = 0.1%
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2. - En un circuito dado de muestreo y retención el condensador es de 100 pF y la
resistencia de fugas equivalente en el modo de retención es de 15 GΩ. Calcular el
porcentaje de caída si el intervalo de retención es de 100 µs.
−t
Vc ( t ) = Vf + (Vi − Vf ) ⋅ e RC
Donde:
Vf = 0
Vi = Vo
t = 100[µs ]
R = 15[GΩ].
C = 100[ pF ].
Vc ( t ) = 0 . 99993 Vo
∴ %caida = 0.007%
De aquí se puede concluir que mientras más grande sea la resistencia de fugas en modo
retención el circuito de SAMPLE & HOLD sigue con mayor precisión a la entrada.
Vo
(a)
En la solución de este problema se ocupa la siguiente ecuación:
R2 −t
Vo(t ) = Va + (1 − e RC )
R1
donde:
t = 50 µs
R1 = R 2 = 15 KΩ
−50⋅10 −9
Vo(t ) = −Va(1 − e 15⋅103 ×C
)
− 50⋅10 − 9
1.9 = e 15⋅103 ⋅C
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− 50 ⋅ 10 −9
ln(0.1) =
15 ⋅ 10 3 ⋅ C
− 50 ⋅ 10 −9
C=
15 ⋅ 10 3 ⋅ −2.3
C = 1.45[ pF ]
EJERCICIOS PROPUESTOS.
1. – A propósito del estudio del tiempo de adquisición, demostrar que se requiere 9RgC
para que Vo no se diferencie en mas de 0.01 por 100 de la entrada.
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2. - En el siguiente circuito C=500 pF, R1=R2=15 kΩ y la corriente de polarización de
entrada del operacional es 300 mA. Calcular el porcentaje de caída si el intervalo de
retención es 1 ms y la tensión correspondiente es 1 V.
R1 R2
Muestra
S
Vo
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CIRCUITOS DE APLICACIONES
En las aplicaciones se tienen una infinidad de circuitos, en los cuales se tienen en sus
diversas estructuras, ya sea como una simple malla R-C o en circuitos integrados como los
de la serie LF198, LF298, LF398, de los cuales se muestran algunos a continuación:
15V
R1
8K2
-15V
4 D1
LM112
R2* 1.2V
reset 3 1
level
imput LF398
output
6
7 Ch*
8
reset
5V
0V
En este circuito la ecuación de diseño para el tiempo de la rampa es con R2 > 10K.
Además se tiene:
∆V 1.2V
=
∆T ( R 2) ⋅ (Ch)
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Amplificador de reset estabilizado (ganancia =1000).
1K 1M
V+
7
V-
2
4
6
output
LH0042H
12K
Q1
1
2n5116
3
imput
5
200K
-15
4
200K
+15
1
30K
5
3
LM398
8
7
5V 6
4K7
Vos ≤ 20 µ V
Zin ≈ 1 M Ω
∆ Vos
≈ 30 µ V sec
∆t
∆ Vos
≈ 0 .1 µ V °C
∆T
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Interruptor de dos canales.
+15V
1 -15V
"A" Imput 3 4
Output
LF398
8 47K
"A" select
5V
"B" Imput
0V
"B" select
Tabla Nº2 Características de este circuito como interruptor de dos canales son:
A B
Gain 1±0.02% 1±0.2%
Zin 1010Ω 47kΩ
BW ≈1MHz ≈400kHz
Crosstalk -90db -90db
@ 1 kHz
Offset ≤ 6mV ≤ 75 mV
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Distribuidor de datos.
29
Distribuidor de datos.
30
Detector de máximo peak de pulsos rápidos.
31
Sistema de muestreo simultaneo de varios canales.
32
Sistema de restauración de nivel DC.
33
Detector de peak.
Vout
1N4148
TLC272
Vin
Además se puede notar que estas son una pequeña parte de las grandes aplicaciones que
tienen este tipo de circuito como por ejemplo, en la instrumentación de equipos
electrónicos de medición, en estos se encuentra una rama muy importante que es los
equipos de mediciones medicas, que son muy importantes en la actualidad y en la vida de
todos.
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37
BIBLIOGRAFIA
1. – Schilling, Donald L.
Circuitos electrónicos: discretos e integrados.
Madrid.
McGraw-Hill. 963 p.
Enc. Materia: CIRCUITOS ELECTRONICOS. CICUITOS DE TRANSISTORES.
2. - http://www.i-une.com/cgi-bin/go.cgi?0=http://obelix.umh.es/99-
00/teleco_sist/mpcm/public_html/nyquist.htm
3. – Burr-Brown
4. - http://www.biopsychology.org/tesis_esteve/confund/confund.htm
5.-http://svc.sony-Spa.com/TechSupport/Entrenamiento/Discocompacto/FIGURAS/2-1.htm
6. - WWW.NATIONAL.COM
BIBLIOGRAFIA ANEXA
1. Nelson, Troy Nagle, Carroll, “Análisis y diseño de circuitos lógicos”, Prentice Hall
1996
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