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Sensor de desplazamiento nanométrico en fibra óptica con base en un

interferómetro Michelson

Conference Paper · October 2014

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3 authors, including:

G.Eduardo Sandoval-Romero Roberto Giovanni Ramirez Chavarria

Universidad Nacional Autónoma de México Universidad Nacional Autónoma de México
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 Sensor de desplazamiento nanométrico en fibra óptica con base en un
interferómetro Michelson
Noé Hernández Martell, Roberto Giovanni Ramírez Chavarría, G. E. Sandoval Romero

noehdzmll@gmail.com

Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico

Universidad Nacional Autónoma de México
Ciudad Universitaria, Ap. Postal 70-186, Coyoacán, 04510, México, D.F

RESUMEN
En el presente trabajo se describe la implementación y el funcionamiento de un sensor
capaz de realizar mediciones nanométricas de desplazamiento empleando un interferómetro de
Michelson en fibra óptica. Para inducir los desplazamientos se utilizó un actuador piezoeléctrico, el
cual es excitado con una señal de voltaje alterno. Se determinó teóricamente la distancia recorrida
por el actuador mediante la ecuación característica del interferómetro de Michelson.
Posteriormente se presentan los resultados obtenidos experimentalmente en los cuales se varia la
amplitud del voltaje alterno aplicado al piezoeléctrico, para ello se analizaron los patrones de
interferencia obtenidos con ayuda de un fotodetector acoplado al osciloscopio, se quiere como
resultado tener una relación entre la amplitud de la señal medida con el desplazamiento asociado.
Finalmente, después del análisis de datos se determinó la ⁄ , con un
rango de 91 nm a 386 nm, y una resolución de 0.81 nm.

1 INTRODUCCIÓN
Un material piezoeléctrico es capaz de convertir energía eléctrica en un movimiento
mecánico. Al aplicar un voltaje alterno en el piezoeléctrico, el elemento cambia sus dimensiones
físicas, debido a que este cambio es muy pequeño, no es posible usarlos directamente como
actuadores mecánicos; sin embargo es posible aprovechar los pequeños desplazamientos en
aplicaciones en donde se requiera posicionamiento micro o nanométrico. Bajo este contexto, el uso
de un material piezoeléctrico en instrumentos de medición nanométrica sirve como mecanismo de
[1]
calibración.
El interferómetro de Michelson, inventado por Albert Abraham Michelson en 1887 es un
instrumento que permite medir distancias con una precisión muy alta. Su funcionamiento se basa
en la división de un haz coherente de luz en dos haces, los cuales recorren caminos ópticos
diferente, al final de cada camino se encuentra un espejo ~100% reflejante, lo que permite el
regreso de la luz para que coincidan nuevamente en un punto del espacio. De esta forma se
obtiene el patrón de interferencia con el cual es posible determinar pequeñas variaciones entre los
[2]
caminos seguidos por los haces.
La implementación del interferómetro puede realizarse en óptica de volumen o en fibra
óptica, siendo este último la implementación usada en el presente trabajo, ya que el espacio de
trabajo se reduce además que la fibra presenta alta inmunidad a la interferencia electromagnética,
entre otras ventajas.
El interferómetro de Michelson en fibra óptica utiliza un acoplador para dividir la intensidad
de la luz de entrada, proveniente de una fuente coherente, en dos caminos ópticos diferentes,
también llamados brazos del interferómetro, uno de referencia y otro de detección. Entonces, la luz
se divide en dos haces, uno por cada brazo. En las ecuaciones 1 y 2 se muestran las expresiones
[3]
en términos del campo eléctrico para cada brazo.

1
 ( ) [( )] ( )

( ) [( )] ( )

Donde y son las amplitudes de los brazos de referencia y de señal, respectivamente.

Los dos haces experimentan un aumento en la fase óptica dada por las ecuaciones 3 y 4.

( )

( )

Donde y son las distancias que recorre la luz entre el acoplador y el espejo de
referencia y el espejo de señal, respectivamente; es el número de onda.

Después de recorrer los brazos del interferómetro, los dos haces de luz se recombinan de
nuevo en el acoplador; por superposición de ondas la amplitud del haz resultante está dada por la
ecuación 5.
( ) [( )] [( )] ( )

Finalmente sabemos que la intensidad de la luz se obtiene elevando al cuadrado la amplitud

del campo eléctrico total 〈 〉, entonces, la intensidad total está dada por la ecuación 6.
( ) [ ( )] ( )

De la ecuación anterior ( ) representa la diferencia de fase entre la intensidad en el brazo

de detección respecto a la del brazo de referencia, como se muestra en la ecuación 7.

( ) ( )

Sustituyendo las ecuaciones 3 y 4 en la ecuación 7 se obtiene la diferencia de fase en

términos del desplazamiento instantáneo en el piezoeléctrico, dado por la ecuación 8.

( ) ( ) ( )

Sustituyendo la ecuación 8 en la ecuación 6 se obtiene que un cambio continuo del camino

óptico recorrido por el haz de señal suponga una variación periódica de la señal de salida, de
acuerdo con la ecuación 9.

( ) [ ( ( ) )] ( )

Finalmente, de la ecuación 8 se puede obtener el máximo desplazamiento

( ), es el instante de tiempo en donde hay un máximo desplazamiento del sensor
piezoeléctrico, este instante de tiempo se da cuando la señal de interferencia tiene un máximo,
tomando a las intensidades e como el voltaje medido en el fotodetector, y ,
[4]
respectivamente. Finalmente, mediante la ecuación 10 se obtiene el máximo desplazamiento.

( )

2
2 CONFIGURACIÓN-EXPERIMENTAL

Como fuente de luz se utilizó un diodo superluminiscente (SLD) a la entrada del sistema,
debido a su buena estabilidad ya que un láser común presenta fluctuaciones indeseadas en las
mediciones. El rango espectral del SLD es de 1535 nm a 1565 nm y una longitud de onda central
en 1547 nm con una potencia de salida 3.62 mW. El estrecho ángulo de emisión de los SLDs
permite un buen acoplamiento a las fibras monomodo, el encapsulado de ésta implica que la luz
emitida tenga una coherencia espacial elevada. Cabe mencionar que, si se utilizan fibras
multimodo, con múltiples modos transversales, su menor coherencia espacial daría lugar a frentes
de onda que no son idénticos en el detector.

Para dividir la intensidad de la luz del SLD hacia los brazos del interferómetro de Michelson
en partes iguales, se utilizó un acoplador 2x2 bidireccional 50/50 para fibra monomodo, que trabaja
a una longitud de onda de 1300 nm a 1700 nm . El acoplador pose 4 puertos en el primero se
conecta la fuente SLD, en el segundo el fotodetector, en el tercero el espejo de detección y en el
cuarto el espejo de referencia, completando así el sistema propuesto mostrado en la Figura 1.

Figura 1.Interferómetro Michelson

El fotodetector utilizado (Thorlabs FGA10) trabaja en un rango espectral de 700 nm a 1800

nm perteneciente a la región del infrarrojo del espectro de luz, este elemento es acoplado a un
amplificador de transimpedancia para convertir la foto corriente en voltaje; además cuenta con un
conector BNC para su conexión directa al osciloscopio.

Para el brazo de detección (brazo No.3) se colocó la fibra en otro conector mecánico que va
sujetado a una plataforma de rotación precisa (Thorlabs PR01/M) que puede mover ángulos con
una resolución de 5 arcmin para ajustar la posición. El piezoeléctrico fue colocado enfrente del
brazo de detección, en una platina (Thorlabs MT3/M) que se mueve en los ejes XYZ con una
resolución de 10µm. Además, se fabricó una base para sujetar el piezoeléctrico de tal manera que
se pudiera ajustar su posición mediante los tornillos que están en la parte trasera de éste, así es
posible mover el espejo hasta lograr que quede perpendicular a la fibra óptica, en conjunto este
montaje permite una correcta alineación del dispositivo, como se observa en la figura 2.

3
 Figura 2. Brazo sensor

El espejo de referencia (brazo No.4) se puso en el exterior de un conector mecánico

adaptado para que la punta de la fibra estuviera lo más cerca posible del espejo.

Al aplicar un voltaje alterno al transductor piezoeléctrico se produce una deformación

transversal, es decir, un aumento de su espesor. Esta deformación se traduce en un
desplazamiento del espejo, que a su vez produce un cambio en el camino óptico, el cual genera un
[5]
desfasamiento relativo de la luz que se propaga por el brazo de detección. Para inducir el voltaje,
se utilizó un generador de funciones Agilent 33521A y se configuro para obtener una señal de
salida sinusoide con un voltaje de 10 mVpp a 500 mVpp y una frecuencia constante de 100 Hz.

3 RESULTADOS

Este tipo de configuración es propia de un sensor extrínseco en fibra óptica por lo que se
tiene pérdidas de Fresnel y por apertura numérica en ambos brazos del interferómetro; sin
embargo para el análisis de resultados no se consideraron debido a que no tienen una influencia
significativa en las mediciones.
Para comprender el funcionamiento del sensor interferométrico fue necesario hacer
simulaciones en MATLAB, mediante éstas, fue posible observar el cambio de la intensidad total a
la salida del interferómetro, provocado por una variación en el camino óptico, en la figura 3 se
muestras las señal teóricas obtenidas a partir de la ecuación 9 para diferentes valores de .

4
 Figura 3. Señal de interferencia normalizada.

Para comprobar lo anterior se varió el voltaje (Vg) en el generador de funciones de 10 mVpp

a 500 mVpp y con los datos registrados en el osciloscopio, en la figura 4 se muestran las señales
registradas.

Figura 4. Señales de interferencia obtenidas experimentalmente.

Se realizaron 3 mediciones de la amplitud pico de la componente alterna de la señal (sin offset)
con el objetivo de verificar la repetibilidad del sistema. En la tabla 1 se muestran los valores
obtenidos para cada medición, el promedio de éstas y el valor experimental de .

5
 Tabla 1
Vg Vmedida 1 Vmedida 2 Vmedida 3 Promedio ΔLmax
500mVpp 42mV 39mV 53mV 44.6mV 386nm
400mVpp 40.5mV 32.5mV 50.5mV 41.1mV 356nm
300mVpp 39mV 27.5mV 50mV 38.8mV 336nm
200mVpp 27.5mV 21mV 39.5mV 29.3mV 253nm
100mVpp 15mV 13mV 32mV 20mV 173nm
50mVpp 12mV 10.5mV 23mV 15.1mV 131nm
10mVpp 8mV 8mV 18.5mV 11.5mV 99nm

Como se observa en la tabla anterior el mínimo desplazamiento medido es de 99 nm ya que

para voltajes menores a 10 mVpp la relación señal a ruido (SNR) disminuye notablemente, por tal
motivo es necesario aplicar técnicas avanzadas de detección de señales.

Para obtener la sensibilidad a una frecuencia de 100 Hz se graficaron los valores del
desplazamiento en función del voltaje de entrada (Vgenerador), aplicando un método de ajuste
lineal se obtuvo la pendiente ⁄ , como se observa en la figura 5.

Figura 5. Desplazamiento del piezoeléctrico vs. Voltaje de entrada (Vg).

La sensibilidad de sensor es igual a al pendiente de la recta dada por la ecuación 11.

6
 [ ⁄ ] [ ] ( )

La ⁄ . La recta tiene una intersección con la ordenada al origen en

, que es el mínimo desplazamiento detectado por el sensor y el máximo desplazamiento se
obtiene cuando y calculando se obtiene 386 nm.

Por lo tanto este sensor puede ser utilizado para medir distancias en un rango de 91 nm a
386 nm. La resolución del sensor depende de la resolución del generador de funciones que es de 1
mV por lo tanto la resolución del sensor es .

Para obtener una relación más fácil entre el voltaje de salida y el desplazamiento asociado
es necesario calcular el factor de calibración del sensor, se graficaron los valores del
desplazamiento en función del voltaje de salida (Vmedido), aplicando un método de ajuste lineal
se obtuvo la pendiente ⁄ , como se observa en la figura 6.

Figura 6. Desplazamiento del piezoeléctrico vs. Voltaje de salida (Vmedido).

Al obtener un voltaje pico de salida se multiplica por el factor de calibración y de esta manera
se obtiene el desplazamiento de manera más sencilla, de acuerdo a la ecuación 12.

[ ⁄ ] ( )

En esta ecuación se debe tener cuidado ya que solo se debe considerar los valores de
que estén en el rango de 91 nm a 386 nm.

7
 4 CONCLUSIONES
El sensor de desplazamiento nanométrico en fibra óptica basado en una configuración del
interferométrico Michelson es muy sensible a cambios medioambientales, por lo que puede ser
usado para medir cambios en la temperatura y en la presión mediante un transductor adecuado.

El mínimo desplazamiento detectado por el sensor interferométrico en el presente trabajo es

de , para lograr medir desplazamientos menores a este se tiene que calibrar el sensor de
tal forma que la diferencia de fase estática entre los brazos sea constante en todo momento. Esto
se puede lograrse aislando el brazo de referencia y también el brazo de detección de diferentes
cambios en el ambiente como por ejemplo, vibraciones en la mesa, corrientes de aire, intensidad
de la luz ambiental.

5 AGRADECIMIENTOS

Los autores de este trabajo agradecen el apoyo otorgado por la DGAPA-UNAM, a través del
financiamiento del proyecto PAPIIT IT-101712.

6 REFERENCIAS

[1] Carbonari R., Silva, E. and Nishiwaki, S., Optimum placement of material in piezoactuator
design, Smart Materials and Structures, Vol.16 , pp. 207–220, (2007).
rd
[2] Hecht E., Optics, 3 Edition, Addison-Wesley, (1998).
a
[3] Born M. and WoIf E., Principles of Optics, Pergamon Press, Oxford, 6 Edición, (1980).

[4] Barbosa F., Kitano C., Nader G., Higuti R., Silva C., A simple interferometric method to measure
the calibration factor and displacement amplification in piezoelectric flextensional actuators, Revista
Controle & Automação/Vol.21 no.6/Novembro e Dezembro (2010).
nd
[5] Udd E., Fiber Optic Sensors, An Introduction for Engineers and Scientists, 2 Edition, John
Wiley & Sons, New Jersey, (2011)

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