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Fisica Electronica1 PDF
Fisica Electronica1 PDF
Eg (Si) = 1.12 eV
Eg (GaAs) = 1.42 eV
h k 2 2
E (k ) = EC + *
2me
donde Ec es la energía de la banda de conducción y me* es la masa
efectiva del electrón. −1
⎡ d E ⎤
2
me = ⎢ 2 2 ⎥
*
⎣ dh k ⎦
h 2k 2
E = EV −
2mh
*
⎝ εS
del Hidrógeno
⎠ ⎝ m0 ⎠
N (E ) = 4π ⎜⎜ 2 e
⎟⎟ E
⎝ h ⎠
Similarmente, para huecos en la banda de conducción donde la
relación E-k es de la forma,
h 2k 2
E = EV − *
2mh
N (E ) = 4π ⎜⎜ 2 h
⎟⎟ E
⎝ h ⎠
m
3
* 2 ⎛ 3
* 2 * 2⎞
3
= ⎜ mlh + mhh ⎟
h
⎝ ⎠
Energía de Fermi
¾La probabilidad de que un electrón ocupe un estado electrónico con
energía E esta dada por la distribución de Fermi-Dirac
1
F (E) = ( E − E F ) / k BT
1 + exp
¾La energía de Fermi es la energía por la cual la probabilidad de
ocupación de un electrón es exactamente ½
(E − E ) > 3k T
F B
∴ F (E ) ≈ e −(E − EF ) k BT
(E − EF ) < 3k BT ∴ F (E ) ≈ 1 − e − ( E − E F ) k BT
La concentración de
electrones en la banda
de conducción es:
∞
n= ∫ f ( E ) N ( E )dE
Ec
La concentración de
huecos en la banda
de valencia es:
∞
p = ∫ [1 − f ( E )]N ( E )dE
Ec
Concentración de electrones
La densidad de electrones en la banda de conducción esta dada por,
Etop →∞ Etop →∞
n = 4π ⎜⎜ 2 ⎟⎟ ∫0 E exp⎜⎝ − kT ⎟⎠dE
1
e 2
⎝ h ⎠
Con x = E / kT
3
∞
⎛ 2m *
⎞
2
⎛ EF ⎞
n = 4π ⎜⎜ 2 ⎟⎟ (k BT ) exp⎜⎜ ⎟⎟ ∫ x 2 e − x dx
3 1
e 2
⎝ h ⎠ ⎝ k BT ⎠ 0
3
⎛ 2πm k T ⎞
*
⎛ EF ⎞
2
n = 2⎜⎜ ⎟⎟ exp⎜⎜
e B
⎟⎟
⎝ h 2
⎠ ⎝ k BT ⎠
⎛ EC − EF ⎞
n = N C exp⎜⎜ − ⎟⎟
⎝ k BT ⎠
Para Si (300 K) NC = 2.8 x 1019 cm-3
3
⎛ EF − EV ⎞ ⎛ 2πm k T ⎞ * 2
⎝ k BT ⎠ ⎝ h ⎠
2
⎛ Eg ⎞
np = n = N C NV exp⎜⎜
2
i
⎟⎟
⎝ k BT ⎠
Esta expresión es independiente de EF y es válida para
semiconductores extrínsecos.
⎛ Eg ⎞
ni = N C NV exp⎜⎜ ⎟⎟
⎝ 2 k BT ⎠
Para Si (300 K) ni = 9.65 x 109 cm-3
Para GaAs (300 K) ni = 2.25 x 106 cm-3
Ley de acción de masa para semiconductores
extrínsecos
⎛ E − Ei ⎞ ⎛ Ei − E F ⎞
n = ni exp⎜⎜ F ⎟⎟ p = n i exp ⎜⎜ ⎟⎟
⎝ k BT ⎠ ⎝ k BT ⎠
El producto np es entonces,
⎛ Ei − EF ⎞ ⎛ EF − Ei ⎞
np = ni exp⎜⎜ ⎟⎟ni exp⎜⎜ ⎟⎟
⎝ k BT ⎠ ⎝ k BT ⎠
np = ni2
Para electrones,
⎛ EC − Ei ⎞ ⎛ Ei − E F ⎞ ⎛ E − EF ⎞
⎜
n = N C exp⎜ − ⎟
⎟ exp⎜⎜ − ⎟⎟ n = N C exp⎜⎜ − C ⎟⎟
⎝ k BT ⎠ ⎝ k BT ⎠ ⎝ k BT ⎠
⎛ E F − Ei ⎞
n = ni exp⎜⎜ ⎟⎟ Similarmente para p = n exp⎛⎜ Ei − E F ⎞
⎟⎟
⎝ k BT ⎠ huecos,
i ⎜ k T
⎝ B ⎠
Densidad intrínseca de
portadores para Si, Ge y GaAs en
función del inverso de la
temperatura
¾La dependencia de la temperatura de la energía de banda
prohibida, Eg, se ha determinado experimentalmente de la siguiente
expresión:
1.6
Eg (GaAs) = 1.42 eV
1.4
Donde Eg(0), α y β son
0.8
Eg (Ge) = 0.66 eV
0.6
0.4
0.2
Temperature (K)
0
0 200 400 600 800 1000 1200
Densidad de electrones en función de la
temperatura
¾ A bajas temperaturas la
energía térmica es insuficiente
para ionizar todos los átomos
donadores, entonces n < ND
¾ A altas temperaturas la
energía térmica es suficiente
para ionizar todos los átomos,
entonces n = ND
¾ A ciertas temperaturas la
densidad intrínseca de portadores
se vuelve comparable a la
concentración de donadores y más
allá de este punto el semiconductor
se vuelve intrínseco
Compensación y neutralidad de la carga espacial
Si tanto las impurezas donadoras
como aceptoras están presentes
al mismo tiempo, el nivel de Fermi
se ajusta para preservar la
neutralidad de carga
n + N A− = p + N D+
⇒ n = p + N D+ − N A−
Conductividad y Movilidad
(bajo la influencia de un pequeño campo eléctrico, F)
F=0
ν x = −μn F
Densidad de corriente de deriva
J = (qnμ n + qpμ p )F
conductividad
σ = q (nμ n + pμ p )
Dependencia de la temperatura con la movilidad para dispersión
de red y de impurezas
Variación de la movilidad
con la concentración de
impurezas para Si, Ge y
GaAs a 300 K.
La movilidad debido a
dos o más mecanismos
de dispersión,
1 1 1
= + +...
μ μ1 μ2
Efectos de campo alto En muchos casos se
alcanza un limite superior
para la velocidad de
deriva de portadores en
un campo alto. Este límite
ocurre cerca de vth
(107 cm/s), y representa
el punto en el cual la
energía generada por el
campo eléctrico se
transfiere a la red en vez
de incrementar la
velocidad de portadores
El Efecto Hall
¾ Al aplicarse un campo eléctrico E a un cristal, los portadores libres
adquieren una velocidad promedio denominada velocidad de
arrastre proporcional al campo eléctrico aplicado
v d = μE
− qEy = q(vd B)
¾ Considerando las expresiones para la densidad de corriente
I
j = − nqvd y j=
wd
IB
⇒ Ey = −
nqwd
IB VH d
⇒ VH = − R H y RH =
d IB
¾Movilidad de portadores
σn σp
μn = = σnR H μp = = σpR H
qn qp
¾ Densidad de portadores
1 1
n= p=
R Hq R Hq