Está en la página 1de 9

12/10/2016

Microscopía
“Micro”  “pequeño” y “Scopía”  “observar, examinar”
Al-Fe-Mn/Al-Si
IMAGEN “Técnica de análisis destinada a hacer visible un objeto de estudio que por su
pequeñez está fuera del rango de resolución del ojo humano”

Tamaño, forma y 
distribución de fases y 
microconstituyentes
http://iterapeutas.es/terapias/mas-sobre-la-apiterapia

http://www.scoopnest.com/es/user/TapasDeCiencia/599866039170633728

Óptica
Roll-bonded aluminium alloy diffusion couple annealed for 60 minutes at 600ºC. Electrónica de barrido Microscopio
En : http://www.doitpoms.ac.uk/miclib/micrograph.php?id=157 Electrónica de trasmisión

Microscopio óptico

Es aquél que utiliza luz visible para formar 
imágenes de objetos
Microscopio 
óptico
 Sistema óptico
 Sistema mecánico

Partes generales del microscopio
Partes generales del microscopio óptico Sistema óptico
Objetivos

• Sistema óptico 
OCULARES: Lentes situada cerca de los ojo del observador. Amplía la imagen del   Rojo         5X
objetivo.  Amarillo  10X

OBJETIVO: Lente situada cerca de la muestra. Amplía la imagen de ésta.  Verde       20X

CONDENSADOR: Lente que concentra los rayos luminosos sobre la muestra.  Azul 50X


DIAFRAGMA: Regula la cantidad de luz que entra en el condensador.  Blanco 100X
FOCO o FUENTE DE ILUMINACIÓN: Dirige los rayos luminosos hacia el 
condensador. Aumentos de la imagen = oculares(10x) x objetivo

1
12/10/2016

Partes generales del microscopio

Sistema mecánico
Tipos de microscopio óptico

• Muestra muy 
Luz 
Transmitida
fina, permite el 
paso de la luz
• Sistema mecánico
PLATINA: Lugar donde se deposita la muestra.
CABEZAL: Contiene los sistemas de lentes oculares. 
REVÓLVER: Contiene los sistemas de lentes objetivos. Permite, al girar, cambiar los 
Luz 
reflejada
• Materiales 
opacos 
objetivos.

TORNILLOS DE ENFOQUE: Macrométrico que aproxima el enfoque 
(enfoque grueso) y micrométrico que consigue el enfoque correcto (enfoque 
fino).

luz transmitida Tejido Vegetal Bacterias

20 m 10 m

Objetivo

30 m 100 m
Tejido Muscular Tejido I. Delgado

luz reflejada 

2
12/10/2016

Métodos de examen microestructural

• En campo claro 1000 X
Aleación de
magnesio

En campo claro toda la luz desde el


espécimen y sus alrededores es colectada
por el objetivo para formar una imagen
contra un fondo brillante. 100 X
Fundición gris
laminar con
matriz perlítica

• Bajos aumentos < 100X


• Observación Macroscópicas
• Altos aumentos (hasta 2000X)
• En campo oscuro 
• Observación MICROSCÓPICAS
• Alta profundidad de campo Sólo la luz que es difractada por el objeto,
• Baja profundidad de campo o que el objeto refleja casualmente, llega al
objetivo.
De esta manera la imagen del objeto
aparece clara sobre un fondo oscuro Glóbulos rojos

• Con luz polarizada (Medicina, geología) Microscopio óptico de luz reflejada y 
campo claro
Vitamina C
• Usos generales:
Obtener imágenes muestras desde 50X a 2000X, para
determinar sus características microestructurales.

Departamento de Química de la Universidad de Florida  Ejemplos de aplicaciones:


• Fluorescencia  (medicina y biología) Caracterización microestructural, análisis de falla,
Permite observar la luz emitida por
determinación de la historia térmica de un material, tamaño
fluorescencia en la muestra sometida de partículas de un agregado.
a luz ultravioleta. Se emplea
especialmente en el estudio de  Materiales:
microorganismos y moléculas
orgánicas.  Metales y aleaciones, cerámicos, polímeros, compuestos.

Figura. Células HeLa. Imagen cedida por


 Tamaño: 10 m a 10 cm
el Dr. Francisco Sanz Rodríguez
(Universidad Autónoma de Madrid),

Microscopía óptica (OM)

 Preparación: las muestras usualmente tienen que ser Microscopía electrónica


cortadas, desbastadas y pulidas para producir una superficie
plana, especular, libre de rayas, y posteriormente atacadas Utiliza electrones en lugar de fotones o luz visible para
para revelar las características microestructurales de interés. formar imágenes de objetos diminutos.

 Tiempo de análisis
 Tiempo de análisis: 30 min a varias horas dependiendo la
preparación de la muestra.

 Limitaciones:
 Límite de resolución: 1 m aprox.
 Profundidad de campo limitada.
 No da información acerca de la composición química y Granos de polen
cristalográfica.
https://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope#/media/File:Misc_pollen.jpg
Dartmouth College Electron Microscope Facility - Source and public domain
notice at Dartmouth College Electron Microscope Facility

3
12/10/2016

Posibilidades
¿Cómo interactúan los electrones con la materia?
Electrón primario pase muy cerca del núcleo como para
ser atraído por la carga positiva.

e- Desviación de su trayectoria inicial.


Primarios Si es mayor de >90°, el electrón
vuelve a salir de la muestra.

+
e- retrodispersados

http://amarillo-limon.blogspot.com.co/2015/04/orden-sin-ordenador.html (SEM: Scanning electron microcopy))

Posibilidades

Electrón primario interactúe con los locales de los e-


orbitales internos y los expulse del átomo Para volver al equilibrio

e- secundario a) El átomo emite un fotón de


e e-eyectado rayos X.
-
Primario incidente (SEM)

. EDS
(X-Ray Energy Dispersive
Spectrometry).
e- primario continúa su camino
un poco desviado y debilitado
Pierde energía

Átomo queda ionizado


EELS (Electron Energy Loss Spectrome

Interacción de los electrones con la materia

Microscopía electrónica

• Microscopio electrónico de barrido (MEB)


Scanning electron microscope (SEM)

• Microscopio electrónico de transmisión (MET)


Transmission electron microscope (TEM)

4
12/10/2016

Microscopio electrónico de barrido Emisor de electrones

Fuente termoiónica Emisor de campo

Son filamentos de tungsteno o Son finas agujas de tungsteno,


agujas de cristal de hexaboruro de algunos de ellos tienen
lantano (LaB6) recubrimiento, tales como óxido de
Zirconio (ZrO2). Este tipo de
emisores son los llamados
“Schottky”.

From: Jonathan Atteberry. How Scanning electron microscopes work. In:


http://science.howstuffworks.com/scanning-electron-microscope2.htm

Nanotubos de carbono
¿Qué información  proporciona 
http://www.nano-lab.com/image3editedapril252003.html

el MEB ?
• Imágenes de muestras desde 1 a 150 000 X

• Medida de longitudes llegando incluso a escala nanométrica

• Distinción zonas diferente número atómico

Junto con EDX

• Mapa distribución elementos químicos
• Perfiles concentración de un elemento en puntos diferentes 
de la muestra

Imagen de electrones secundarios (SE)

SEM Image of SiO2 Nanostructures (with the


courtesy of Prof. Dr. G. Z. Wang)

remf.dartmouth.edu

http://www.mos.org/sln/SEM/mhead.html
http://mse.iastate.edu/images/microscopy/Dendrite2ss.jpg
wu.ustc.edu.cn

5
12/10/2016

Imagen de electrones retrodispersados (BSE)

BSE= backscattered Electron


Da una idea de la variación de la composición química de los
constituyentes o de las fases, por el promedio del número atómico de
los elementos que lo conforman.

Zonas oscuras Zonas claras

Menor Z promedio http://cime.epfl.ch/page-26774.html


Mayor Z promedio

• Microscopía óptica • Microscopía electrónica de barrido : electrones 
retrodispersados y análisis EDX

Micrografía de la sección longitudinal de una aleación de aluminio AA2050-T8 atacada Zona 1


Zona 2
Al Al
con Keller, obtenida mediante MO: (a) vista general y (b) detalle.

Intensidad [U.A]
Intensidad [U.A]

Cu
Cu Cu
Fe Au Fe Au Mn
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 0 1 2 3 4 5 6 7
Energía [KeV] Energía [KeV]

Características generales

• Amplificaciones 50X‐ 150 000X.

• Aceleraciones de voltaje 0,5‐30 kev
• Utiliza vacío en su operación para evitar la colisión de los 
electrones con los átomos del gas.
• Muestras pueden ser 
– conductoras o aplicar recubrimiento.
– No conductoras (SEM ambiental)
trabajar con condiciones especiales (bajo vacío)

6
12/10/2016

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN
El haz de electrones es transmitido a través de una muestra ultra delgada. La imagen
se forma de la interacción de los electrones transmitidos a través de la muestra. La
imagen es ampliada y enfocada en una pantalla fluorescente.

http://binoculas.net/tem-transmission-electron-microscope/
https://micro.magnet.fsu.edu/cells/

¿Qué información  proporciona el  imágenes
Porous anodic film in aluminium
TEM ? Dislocaciones en superleaciones

• Imágenes de muestras hasta 500 000 X poder de resolución 
de 0,2 nm
• Medida de longitudes llegando a escala nanométrica
• Información cristalográfica: arreglo de átomos en la muestra
Junto con EDX
• Análisis composicional
• Mapa distribución elementos químicos
http://www.tempe.mi.cnr.it/marchionni/altat-eng.htm
• Perfiles concentración de elementos Anodizing in H3PO4
Cortesía de S.J. García-Vergara.
Corrosion and Protection Centre.
Manchester, UK

Imágenes Elemental mapping by TEM
Porous anodic films in aluminium

100 nm

Al map O map Ti map

Anodizing in H3PO4 Anodizing in H2SO4 0.1 µm


µm 0.1
0.1 µm 0.1 µm

Cortesía de S.J. García-Vergara. Corrosion and Protection Centre. Manchester, UK Cortesía de S.J. García-Vergara. Corrosion and Protection Centre. Manchester, UK

7
12/10/2016

HAADF

P. Bonnadieu et al. Acta


Materialia, 59 2011,
462–472

http://www2.uned.es/cristamine/mineral/metodos/tem.htm

Espacio Recíproco:
- Distancias Inversas
- Ángulos Complementarios

Cortesía de S.J. García-Vergara. Corrosion and Protection Centre. Manchester, UK

A diagram of a single axis tilt sample holder for insertion into a TEM

Características generales goniometer. Titling of the holder is achieved by rotation of the entire


goniometer

• Amplificaciones hasta 500.000X

• Aceleraciones de voltaje 200 kev
• Utiliza vacío en su operación para evitar la colisión 
de los electrones con los átomos del gas (10‐7 tor).
• Preparación especial de la muestra debido a que 
tienen que permitir el paso de los electrones a 
través de ella. (delgadas)

TEM sample support


mesh "grid", with
ultramicrotomy sections
http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscopy

8
12/10/2016

Preparación de las muestras

Preparación de las muestras

• Réplica: análisis de precipitados

Specimen

Diamond knife

 Corte mediante ultramicrotomy

 Adelgazamiento iónico
Cortesía de S.J. García-Vergara. Corrosion and Protection Centre. Manchester, UK

ultramicrotomy TEM                SEM 

• For metals, specimen thicknesses normally used for 
TEM range from 10‐20 nm. 

• Sections are cut at the desired thickness and then 
collected on grids usually made of copper or nickel. 

http://www.vcbio.science.ru.nl/en/fesem/info/principe