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A2 = 0.577 D3 = 0.000
D4 = 2.114
𝐿𝑆�=𝑋 ̿+𝐴_2∗𝑅
𝐿�=𝑋 ̿
𝐿𝑆�=𝑋 ̿−𝐴_2∗𝑅
la muestra de cada subgrupo es de cinco y se toman 25 subgrupos a intervalos de 1Hr.
7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
PROM LSC LC LIC
CA DE CONTROL DE RANGOS R
8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
RANGO LIC LC LCS
La Carta X monitorea el promedio del proceso para vigilar tendencias.
La Carta S monitorea la variación en forma de desviación estándar.
A3 0.975
B3 0.276
B4 1.669 Chart Title
25.00
20.00
15.00
10.00
5.00
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
A B
LIC LC LCS LIC LC LCS
9.45 10.88 11.95 0 1.46 3.34
10.47 10.88 12.35 0 1.46 4.02
8.44 10.88 12.11 0 1.46 3.61
10.88 10.88 11.13 0 1.46 1.93
10.88 10.88 11.88 0 1.46 3.21
10.88 10.88 11.13 0 1.46 1.93
10.88 10.88 10.98 0 1.46 1.67
10.88 10.88 10.56 0 1.46 0.96
10.88 10.88 10.69 0 1.46 1.18
10.88 10.88 11.49 0 1.46 2.55
Chart Title
25.00
20.00
15.00
10.00
5.00
0.00
8 9 10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
La gráfica p mide la fracción defectuosa o sea las piezas defectuosas en el proceso (Proporciones)
Vamos a imaginar una empresa que exporta cuadros talaldos en madera. Ellos quieren monitorear el número
de defectos en sus cuadros incluyendo el 99,73% (tres desviaciones estándar) de la variación aleatoria del
proceso, por lo que revisan que la forma de sus cuadros, su estabilidad y la pintura estén en óptimas
condiciones.
N° de cuadros
por lotes N° d e Fracción
N° de lotes LIC LC LCS
(Tamaño del errores defectuosa
lote)
P MEDIA 0.053
Chart Title
0.14
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Col umn E Col umn F Col umn G Col umn H
La siguiente tabla de datos fue obtenida mediante la apertura al azar de una caja seleccionada de cada env
contando el número de melocotones golpeados que tenia cada caja. Había 250 melocotones por caja. Construir
carta de control np (número de defectuosos) y hacer la interpretación de la misma
Melocotones Fracción
N° de Envio Cajas LIC LC
golpeados defectuosa
1 250 20 0.08 12.99 27.93
2 250 28 0.112 12.99 27.93
3 250 24 0.096 12.99 27.93
4 250 21 0.084 12.99 27.93
5 250 32 0.128 12.99 27.93
6 250 33 0.132 12.99 27.93
7 250 31 0.124 12.99 27.93
8 250 29 0.116 12.99 27.93
9 250 30 0.12 12.99 27.93
10 250 34 0.136 12.99 27.93
11 250 32 0.128 12.99 27.93
12 250 24 0.096 12.99 27.93
13 250 29 0.116 12.99 27.93
14 250 27 0.108 12.99 27.93
15 250 37 0.148 12.99 27.93
+ 16 250 23 0.092 12.99 27.93
17 250 27 0.108 12.99 27.93
18 250 28 0.112 12.99 27.93
19 250 31 0.124 12.99 27.93
20 250 27 0.108 12.99 27.93
21 250 30 0.12 12.99 27.93
22 250 23 0.092 12.99 27.93
23 250 23 0.092 12.99 27.93
24 250 27 0.108 12.99 27.93
25 250 35 0.14 12.99 27.93
26 250 29 0.116 12.99 27.93
27 250 23 0.092 12.99 27.93
28 250 23 0.092 12.99 27.93
29 250 30 0.12 12.99 27.93
30 250 28 0.112 12.99 27.93
7500 838
0.112
seleccionada de cada envío y
otones por caja. Construir una
LCS
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88 Chart Title
42.88 50
42.88 45
42.88 40
42.88 35
42.88 30
42.88 25
42.88 20
42.88 15
42.88
10
42.88
5
42.88
0
42.88 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
42.88
26 27 28 29 30
C
-En la siguiente tabla tenemos el número de defectos por unidad observados en 26 muestras sucesivas
de 100 filtros de seguridad. Construir el grafico c y dar su interpretación.
Filtro Defectos Ci
1 21
2 24
3 16
4 12
5 5
6 28
7 20
8 31
9 25
10 20
11 24
12 16
13 19
14 10
15 17
16 13
17 22
18 18
19 39
20 30
21 24
22 16
23 19
24 17
25 15
n 26 muestras sucesivas
4. En una fabrica se ensamblan artículos electrónicos y al final del proceso se hace una inspección por muestreo
En la siguiente tabla se presenta el número de defectos observados en muestreos realizados en 24 lotes consecu
de control u e interpretarla.
Tamaño de
Lote Muestra Defectos encontrados
1 20 17
2 20 24
3 20 16
4 20 26
5 15 15
6 15 15
7 20 15
8 25 18
9 25 18
10 25 10
11 25 25
12 30 21
13 40 30
14 30 24
15 30 26
16 30 20
17 30 30
18 30 24
19 15 11
20 15 14
21 15 10
22 17 15
23 18 15
24 20 15
una inspección por muestreo para detectar defectos relativamente menores.
ealizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónicas. Construir una carta