X-Ray

Photoelectron
Spectrocopy
MANIPULACIÓN DE SÓLIDOS
ROSA JEANNELA AGUILAR RAMÍREZ
OBJETIVOS:
General
 Investigar y conocer a cerca de la espectroscopia fotoelectronica de rayos X
 Presentar a nuestro compañeros nuestra investigación y lo aprendido en la
misma

INTRODUCCIÓN:
Los rayos-X son muy útiles para caracterizar los sólidos y sus estructuras, estos rayos
son absorbidos por la materia (interacción inelástica) que producen consecuencias como
transiciones electrónicas de los niveles internos de los átomos; El material puede
responder de diversas formas a la absorción de rayos-X lo que origina un conjunto de
técnicas relacionadas pero que pueden dar información complementaria, se pueden
analizar las energías de los electrones emitidos que constituye la técnica Espectroscopía
de fotoelectrones de rayos X (XPS), también conocida como Espectroscopía Electrónica
Para el Análisis Químico (ESCA). Técnica llevada a la experimentación en el año de
1967 por el Físico Sueco Kai M. Siegbahn, es el método caracterización de superficies
más utilizado hoy en día, permite el análisis cuantitativo y cualitativo de todos los
elementos, excepto el hidrógeno y el helio, con aplicaciones más sofisticadas de la
técnica se obtiene información detallada de la química, organización y morfología de la
superficie.

Ilustración 1 Físico Sueco: Kai M. Siegbahn

.La popularidad de esta técnica deriva del alto contenido de información que suministra
y la flexibilidad para ser utilizada en una gran variedad de muestras, XPS se cataloga
dentro de las técnicas analíticas de espectroscopias electrónicas, denominadas de este
modo porque se miden electrones.
Para comprender la técnica de XPS se debe entender el efecto fotoeléctrico
Efecto fotoeléctrico:
Se conoce como efecto fotoeléctrico al fenómeno por el cual la luz incidente sobre ciertas
superficies metálicas ocasiona que desde ellas se emitan electrones. Los electrones emitidos
reciben el nombre de fotoelectrones.
Cuando un fotón se encuentra con un átomo puede ocurrir:
1) Que pueda atravesarlo sin interacción alguna
2) Que sea dispersado por un electrón de un orbital atómico con lo que ocurre
una pérdida de energía.
3) Que el fotón interaccione con un electrón de un orbital atómico, con una
transferencia total de la energía del fotón hacia el electrón, ocurriendo la
emisión del electrón del átomo.

Este tercer proceso resulta ser básico para la técnica mencionada.

Cuando ningún electrón ha sido emitido por el átomo, se debe a que la frecuencia de
excitación del fotón es demasiado baja. Cuando aumentamos gradualmente la energía
del fotón se comienza a observar la fotoemisión de electrones del átomo.

FUNDAMENTO:

La técnica de espectroscopía fotoelectrónica de rayos-X consiste básicamente en la

excitación mediante un foton de rayos-X a un electron de los niveles más internos de los
átomos(le da más energía), provocando la emisión de fotoelectrones que nos
proporcionan información sobre la energía de cada nivel y, por tanto, sobre la naturaleza
de cada átomo emisor.

Puesto que la energía del haz es hv, si el fotoelectrón sale con una energía cinética EK,
la diferencia entre ambas nos da la energía de ligadura (EL) del átomo en particular,
característica de cada elemento, esto es el efecto Fotoelectrónico. Todo se resume a
medir la velocidad de los electrones emitidos mediante el espectrómetro, mediante el
análisis de la energía y la intensidad de los picos generados por esos electrones en el
espectrómetro podemos obtener información muy útil sobre la superficie de las
muestras.
La espectroscopía fotoelectrónica de rayos X es una técnica de análisis elemental
cualitativa que permite estudiar la superficie de los materiales, el análisis se hace sobre
las capas más cercanas a la superficie (entre los 5 y 10 nm de profundidad).

Una gran ventaja respecto a otras técnicas es que permite determinar el estado químico
de los átomos que se encuentran en la muestra (por ejemplo si los átomos de carbono
están unidos a átomos de oxígeno, estado de oxidación, etc.). Es una técnica muy
utilizada para películas delgadas, catalizadores metálicos, microchips, polímeros, entre
otros materiales.

ESPECTRO DE XPS:

El espectro de XPS consiste en una serie de picos que corresponden a las energías de
enlace de fotoelectrones detectados, viendo el área bajo cada pico y multiplicándola por
factores de sensibilidad de cada tipo de atomo se realiza el análisis cuantitativo de la
composición elemental de la muestra.

En el eje horizontal se muestran valores de energía de enlace, el eje vertical representa

la intensidad o cuentas medidas.

Como regla general, un espectro XPS se estudia realizando espectros locales de alta
resolución sobre cada una de las zonas características encontradas en un primer espectro
de barrido amplio, corroborando toda la información que sea obtenida y procurando que
no existan contradicciones.
hv=Ek+Eb

hv = energía total disponible para excitar un electrón en un nivel de energía en el

átomo.

Energía del fotón de rayos-X. Esa energía es conocida - AlKα = 1486.6 eV, MgKα =
1253.6 eV

Ek= energía cinetica del electron emitido

Es lo que medimos con el espectrómetro (en el rango de 0 a 1486 eV, que nos da esa
sensibilidad superficial

Eb = energía de enlace con la cual estaba ligado el electrón al atomo.

Energía de ligadura del fotoelectrón.

Esto permite al electrón viajar desde el estado sólido al estado de vacío (tiene un valor
aproximado de 4,2 eV). Se calcula a partir de un estándar conocido [por ejemplo,
Ag3d5 = 368.27eV energía de ligadura]

La incidencia de un fotón de energía hv sobre los átomos situados más superficialmente

en la muestra provoca, por efecto fotoeléctrico, la emisión de fotoelectrones con una
energía de ligadura:

EB = hv – EK - W

Donde:
hv es la energía de los fotones.

EK , la energía cinética del fotoelectrón producido,

W, la función de trabajo del espectrómetro

EB , la energía de ligadura (parámetro que identifica al electrón de forma específica, en

términos del elemento y nivel atómico). Una vez se ha emitido el fotoelectrón, el átomo
se relaja, emitiendo un fotón o un electrón

CARACTERISTICAS:

Ilustración 2Equipo de Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X, JEOL JPS-9200

Los componentes primarios de un instrumento XPS son el sistema de vacío, la fuente de

rayos X, un analizador de energía del electrón y un sistema de datos, la parte central del
equipo lo constituye la cámara principal de vacío en la que la muestra es analizada.

La realización del experimento en condiciones de vacío se debe a:

- Los fotoelectrones han de viajar desde la muestra hasta el detector sin colisionar con
ninguna partícula de fase gaseosa.

- Algunos componentes tales como la fuente de rayos X requieren condiciones de vacío

para mantener la operatividad.

- La composición superficial de la muestra ha de permanecer invariable durante el

experimento.

Aplicaciones de XPS:
-Identificación de todos los elementos presentes (excepto H, He) en concentraciones
mayores al 0.1%.

-Determinación semicuantitativa de la composición elemental de la superficie (error < ±

10 %).

-Información acerca del entorno molecular: estado de oxidación, átomos enlazantes,

orbitales moleculares, etc.

- Información sobre estructuras aromáticas o insaturadas a partir de las transiciones.

- Información de grupos orgánicos utilizando reacciones de derivatización.

- Perfiles de profundidad de 10 nm no-destructivos y destructivos de profundidades de

varios cientos de nanometros.

- Variaciones laterales en la composición de la superficie.

- Estudio sobre superficies hidratadas (congeladas).

Las aplicaciones de la técnica se pueden resumir en los siguientes campos:

 Polímeros y adhesivos
 Catálisis heterogénea
 Metalurgia
 Microelectrónica
 Fenómenos de corrosión
 Caracterización de superficies de sólidos en general

CONCLUSIONES:

Se pudo conocer y entender acerca de la técnica de XPS, la cual permite realizar un

análisis cualitativo y cuantitativo, de todos los elementos a excepción del H, He.

Esta técnica se puede llevar a cabo con los efectos de fotoelectro y fotoemisión, su
equipo de funcionamiento tiene diferentes especializados para , tiene diferentes
campos de aplicación, pero entre la principal aplicación es la de caracterización de
superficies.
BIBLIOGRAFIA:

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Investigación. [online] Available at: https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-
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