Resumen:

En este estudio, se realizó una breve revisión del desarrollo de imágenes de microrresistencia
eléctrica en el registro de pozos. Sobre la base de los problemas existentes, un nuevo método
de imágenes se ha presentado de forma abstracta. En este método, la resistividad del lodo a
base de aceite, la permitividad relativa del lodo a base de aceite, el espesor de la torta de lodo
a base de aceite, la frecuencia de suministro, la resistividad de la formación y la permitividad
relativa de la formación se consideran sintéticamente. A diferencia del método de imagen
convencional, no solo se deriva la resistividad aparente de la formación sino también la
permitividad relativa aparente de la formación. Con la simulación numérica 3D, se han
analizado y analizado la sensibilidad, el cálculo y la imagen de la herramienta tanto para la
resistividad aparente como para la permitividad relativa aparente. La sensibilidad de la
herramienta de imagen se ve afectada complicadamente por todos los parámetros. En
comparación con los resultados borrosos del método convencional, el cálculo cualitativo y
cuantitativo y la imagen clara de alta resistencia de la formación y la permitividad relativa se
presentan simultáneamente, lo que ha verificado la precisión del método presentado en este
documento.

Introduccion:

El registro de imágenes de microrresistencia ha estado desarrollándose desde

1980s. La herramienta de creación de imágenes de microrresistencia de primera generación
llamada Micro escáner de formación (FMS) es apta para lodo a base de agua (WBM, por sus
siglas en inglés) con arreglos de barrido microeléctricos, que proporcionan imágenes de pozo
de alta definición (Lloyd et al., 1986; Ekstrom et al., 1986; eldieu y Jeffreys 1988; Bourke et al.,
1989), que abre un nuevo capítulo para el método de registro de pozos y su interpretación. A
partir de la obtención de imágenes del pozo, podemos obtener de forma intuitiva la litología,
la estructura sedimentaria de la formación, la información sobre fracturas, etc. Sin embargo, la
cobertura de pozo de FMS es de aproximadamente 20% en el pozo de 8.5 in, que es tan
pequeño que las zonas ciegas pueden ser explicadas de manera incorrecta. A partir de ese
momento, se introdujeron herramientas de imagen de microrresistencia actualizadas con
mayor cobertura de pozo, respuesta más estable y técnicas avanzadas de procesamiento e
interpretación, como Fullbore Formation Microimager (FMI) (Sa fi nya et al., 1991),
herramienta eléctrica de creación de imágenes micro ( EMI) (Seller et al., 1994), SimulTaneous
Acoustic and Resistivity Imager (STAR) (Lacazette, 1996; Hansen et al., 1999), Micro-Imager de
rango X (XRMI) (Chitale et al., 2004) .
Restringido por el principio físico, las herramientas presentadas anteriormente son
todos adaptados para ser operados en WBM pero no en lodo a base de aceite (OBM) o lodo no
conductor. Si un operador desea obtener imágenes con FMI en OBM, estará decepcionado
porque las las imágenes pueden estar dominadas por el ruido y se pueden encontrar pocas
características geológicas (Laronga et al., 2011). Obviamente, el beneficio de estas
herramientas se perderá debido a que los OBM se usan más generalmente en algunos pozos
de aguas profundas debido a los problemas de estabilidad y economía del pozo. En
consecuencia, las herramientas de imagen de microrresistencia operadas en OBM son
necesarias para ser investigadas y desarrolladas. Afortunadamente, se estudian y se aplican
gradualmente en el lugar de trabajo con la aparición de Micro-Imager Base de Aceite (OBMI)
(Chen, 2001; Cheung et al., 2001), Earth Imager (Lofts et al., 2002, 2003), Oil Mud Represor
Imager (OMRI) (Martin et al., 2008).
Restringido al rango de respuesta, el tamaño del electrodo de botón en las almohadillas de
estas herramientas se ha ampliado. En consecuencia, el número de electrodos de botón tiene
que reducirse. Como resultado, la resolución de estas herramientas disminuye y es mucho
menor que la de FMI, que puede reconocer la escala hasta 10 mm (Luthi et al., 1990; Laronga
et al., 2011). Aprovechando la nueva electrónica y el procesamiento avanzado de señales, se
propone otra herramienta de imágenes utilizada en lodo no conductor denominado
MicroImager de Formación de Alta Definición (FMI-HD) (Laronga et al., 2011), basada en la
herramienta FMI original con la misma capacidad de detección como FMI.
Desafortunadamente, su aplicación se limita principalmente a la formación de alta resistividad
o condición específica de lodo. Más tarde, se introduce otro nuevo generador de imágenes
microeléctrico de línea fija con una arquitectura física completamente nueva, que mejora la
resolución y resuelve casi todos los problemas encontrados por las herramientas anteriores
(Laronga et al., 2013; Bloemenkamp et al., 2014). Al mismo tiempo, otra herramienta
mejorada de imágenes también se presenta con unos principios físicos novedosos, peculiares y
especiales, que miden con precisión las partes reales e imaginarias de la impedancia,
considerando el impacto de la formación constante dieléctrica en la imagen (Itskovich et al.,
2014).
En general, hay dos tipos principales de principio de medición de estas impresoras de
microrresistencia en OBM. Uno es el método de cuatro terminales que ha sido usado por OBMI
y OMRI, el otro principio de acoplamiento capacitivo llamado generalmente se usa más
adelante. Las herramientas utilizadas en el primero son sensibles a las arrugas del pozo y al
espesor de la capa de lodo. Cuando la pared del pozo es anómala o el espacio entre la
almohadilla y la pared del pozo es demasiado grande, la calidad de la imagen disminuye
drásticamente, lo que resulta en una mala interpretación (Cheung et al.,
2001).
Debido a la alta resistividad del OBM, el efecto de la permitividad del OBM y la permitividad de
la formación en la medición, la formación de imágenes para la resistividad de la formación es
compleja. El procesamiento de la modelación física no es simple como la resistencia en serie
entre la mezcla y la formación, que se adapta a la formación de imágenes en el entorno de
WBM con una influencia dieléctrica insignificante de WBM debido a la baja frecuencia de
suministro y la resistividad bastante baja de WBM (Grif fi ths et al. , 2000).
En este trabajo se ha realizado una mejora sobre la base del trabajo anterior, y no solo la
resistividad aparente de la formación, sino también la aparente permitividad relativa de la
formación se derivan en la teoría y la fórmula. Utilizando la simulación numérica 3D, se
analizan todas las influencias de los parámetros, incluida la frecuencia, la resistencia al lodo a
base de aceite, la permitividad relativa del lodo a base de aceite, el espesor de la muda a base
de aceite, la resistividad de formación y la permitividad relativa de la formación en la
sensibilidad de la herramienta. Además, el cálculo y la formación de imágenes para la
resistividad aparente de la formación y la permitividad aparente de la formación relativa se
simulan simultáneamente, en comparación con los resultados simulados del método
convencional.
2. Estructura de la herramienta.

La estructura común de las herramientas de imagen en OBM se muestra en

Fig. 1. La Fig. 1 (a) muestra la arquitectura general general del instrumento, que es similar a las
herramientas de imagen en WBM. En la parte inferior del instrumento, hay varias almohadillas
de imágenes, comúnmente dispuestas en simetría y conectadas al eje central por medio de
brazos. Las almohadillas inyectan corriente en la formación a través de la matriz de electrodos
ensamblada en las almohadillas. En la parte superior del instrumento, puede haber otros
dispositivos electrónicos cuya carcasa es de metal, que sirve como electrodo de retorno de
corriente. En la parte media, puede haber algún otro equipo que posea algunos tipos de
capacidad de detección con carcasas aisladas, que mantienen el aislamiento entre las partes
inferior y superior. La Fig. 1 (b) - (d) muestra tres almohadillas existentes con diferentes modos
de trabajo. La almohadilla de la Fig. 1 (b) se usa en Earth Imager con ocho sensores montados
en ella. La corriente emitida por el conjunto de sensores con cierta frecuencia penetra en la
formación de la masa de barro a base de aceite de alta resistencia utilizando el principio
alternativo. El pad en la Fig. 1 (c) se usa comúnmente en OBMI y OMRI basado en el método
de cuatro terminales. El electrodo superior en la almohadilla emite corriente en formación y la
corriente regresa al electrodo inferior. La diferencia de voltaje que atraviesa los electrodos del
botón acoplado en la parte media de la almohadilla se mide a escala de resistencia de la
formación. La última, la Fig. 1 (d) es la nueva almohadilla similar pero aún diferente a la que se
usa en el nuevo generador de imágenes microeléctrico de línea fija (Laronga et al., 2013;
Bloemenkamp et al.,
2014), y también se emplea en este documento. La diferencia es la matriz de electrodo de
botón circular dispuesta en filas de doble escalonamiento, que es comúnmente utilizada por la
herramienta de imágenes en WBM. El conjunto de electrodos emite corrientes que son
enfocadas por las corrientes de tronzado emitidas por el electrodo de anillo rectangular y las
corrientes regresan a las partes superior e inferior de la almohadilla.
En este documento, enfatizamos el nuevo método de formación de imágenes tanto de
resistividad de formación como de permitividad de formación relativa en lugar de la estructura
de la almohadilla de la herramienta con la idéntica en la Fig. 1 (d). La herramienta aquí consiste
en seis almohadillas que se distribuyen simétricamente en circunferencia. Hay veinticinco
electrodos de botón en doble
Fig. 1. La arquitectura del instrumento. (a) Toda la herramienta. (b) - (d) Tres almohadillas
existentes diferentes.

escalone filas, un electrodo de enfoque de anillo rectangular alrededor de la matriz de

electrodos y dos electrodos de retorno distribuidos de forma simétrica en los dos extremos de
una almohadilla.

3. Principio de imagen

En las imágenes WBM, el método de medición más común es similar al del registro lateral. Se
inyecta una corriente I en formación.
y luego se mide la diferencia de potencial V entre el electrodo de medición y el electrodo de
referencia. La resistividad aparente medida Ra está dada por la ecuación:

donde K es el factor geométrico. Ra responde principalmente al barro.

resistividad de la torta Rmc y resistividad de la zona de invasión Rxo en serie debido a la poca
profundidad de investigación. En imágenes OBM, OBMI
También utiliza el método similar denominado método de cuatro terminales. Sin embargo, la
resistividad y la permitividad relativa de la marmota son considerablemente grandes y el
efecto dieléctrico bajo cierta frecuencia no se puede descuidar, lo que provoca errores e
incluso distorsiones. Por otro lado, la formación, especialmente la parte con alta permitividad
también es sensible a la frecuencia. Bajo esta condición, la respuesta integral es el efecto de
acoplamiento resistencia-ca-pacitancia en lugar de series simples.

Como ejemplo, la Fig. 2 (a) muestra la relación entre

La resistividad OBM Rm y la permitividad relativa OBM εmr de diecinueve muestras bajo la
condición de que la frecuencia f sea 20 MHz y la temperatura T sea 20 ° C (Patil et al., 2010).
Podemos ver que Rm puede ser más grande que decenas de miles de metros cúbicos, que es
mucho más grande que el de WBM. Aunque no es absoluto, cuanto mayor sea Rm, menor será
εmr.
La Fig. 2 (b) muestra la relación entre la resistividad de formación Rm y la permitividad de
formación relativa εfr (Clark et al., 1988). La tendencia general en la Fig. 2 (b) es la misma que
en la Fig. 2 (a).
Para resolver la complicada pareja, básicamente, cuando se inyecta una corriente I en un
medio cilíndrico con resistividad Rmd y la permitividad relativa εmd con una cierta frecuencia
f, la impedancia medida Zmd se puede expresar como el paralelo de resistencia
y reactancia capacitiva (Fig. 3) y está dada por la ecuación:

donde rmd, Cmd y ω son la resistencia equivalente, la capacitancia equivalente y la frecuencia

angular, respectivamente.

donde j, π, L, S, ε0 son la unidad imaginaria −1, relación de circunferencia pi, la longitud del
medio cilíndrico, el área de la sección transversal de El medio cilíndrico, y la permitividad del
vacío, respectivamente. Sustituyendo ecuaciones. (3-5) en la ec. (2) rendimientos

Comparando (ecuaciones (1) y 6), además, podemos definir el factor geométrico utilizado en
este documento, es decir, el factor geométrico de la obtención de imágenes OBM de K
donde la resistividad compleja R (jω) puede definirse como:

Así que la ecuación. (7) también puede ser escrito como:

Utilizando las ecuaciones anteriores, podemos saber cómo obtener la respuesta de la

herramienta de obtención de imágenes OBM en un medio homogéneo, es decir, no hay
influencia de la torta de barro basada en aceite. Sin embargo, no es tan simple porque la pared
de las perforaciones puede estar cubierta por una torta de barro a base de aceite altamente
resistente con un cierto grosor. Solo la corriente I penetra en la torta de barro que puede fluir
hacia la formación y luego penetra de nuevo en los electrodos de retorno. Por lo tanto, toda la
impedancia compleja Z consta de tres partes, a saber, la impedancia de la mezcla de barro a
base de aceite entre los electrodos de botón y la pared del pozo Zm, la impedancia de
formación Zf y la impedancia de la mancha de barro basada en aceite entre el retorno

Fig. 2. Relación entre resistividad relativa y permitividad. (a) OBM. (b) Rocas de yacimientos
incluyendo carbonatos y areniscas.
Los electrodos y la pared del pozo Zm. Debido a que el área del electrodo de giro es mucho
más grande que un electrodo de botón, la última impedancia Zm puede ignorarse en
comparación con la anterior Zm. Por lo tanto, la impedancia del agujero se puede expresar en
el vector de análisis