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MICROSCOPIO ELECTRONICO

(REBOLLEDA, IVAN, 2015)El microscopio electrónico fue desarrollado en los años


30 y fue utilizado con especímenes biológicos por Albert Claude, Keith Porter y George
Palade en los años 40 y 50. El ME puede lograr mucha mayor resolución que el MO
debido a que la longitud de onda de los electrones es mucha más corta que la luz.
Debido a esto puede obtenerse mayor cantidad de información, aspecto muy importante
en la investigación y en el diagnóstico patológico.

(AA., 2004) El objeto de este conjunto de técnicas (y por tanto de este tema) es la
interacción de los electrones con la materia y la forma de obtener información tanto
estructural como de caracterización de defectos. En muchos sentidos, el microscopio
electrónico ME ofrece una solución ideal a los problemas que presentan los
microscopios ópticos (λ~ 0.5 μm) que no pueden obtener resolución atómica ya que la
longitud de onda de la radiación incidente es demasiado grande. Con el ME se pueden
obtener electrones
acelerados con λ
asociada bastante
menor de 1 Å, y por
tanto se puede
obtener, al menos
teóricamente,
resolución atómica.
Con las lentes
adecuadas se puede
transformar los
electrones difractados
en la imagen real. Además de usarse para difracción e imagen, el ME tiene otros usos.

(AA., 2004) Los electrones en el ME se generan por efecto termo-iónico en un


filamento (cátodo) que es generalmente wolframio, y se monocromatizan acelerándolos
a través de un potencial (E) en un sistema sometido a vacío. Para un voltaje de 100 kV,
la longitud de onda asociada a los electrones es 0.037 Å (0.01 Å para 1 MV). Los
electrones interaccionan mucho con la materia y fe~104fx por lo que es posible la
difracción de electrones de muestras gaseosas. De hecho, muchas estructuras
moleculares (distancias y ángulos de moléculas inorgánicas y orgánicas simples) fueron
determinadas en la década de los años 1930 a partir de datos de difracción de electrones
en muestras gaseosas.

(A.ANONIMO, 2014) Un microscopio electrónico es un microscopio que utiliza un haz


de electrones acelerados como fuente de iluminación. Dado que la longitud de onda de
un electrón puede ser 100.000 veces más corta que la de los fotones de luz visible, los
microscopios de electrones tienen una resolución más alto que los microscopios ópticos
y pueden hacer visible la estructura de objetos más pequeños de la materia. Un
microscopio electrónico de transmisión de barrido ha logrado aumentos de hasta cerca
de x10.000 mientras que la mayoría de los microscopios ópticos están limitados por la
difracción a cerca de 200 nm de resolución y aumentos útiles por debajo de 2000. Los
microscopios electrónicos tienen sistemas ópticos de lentes de electrones que son
análogos a las lentes de vidrio de un microscopio óptico.

(Sahagún., 2015) La potencia amplificadora de un microscopio óptico está limitada por


la longitud de onda de la luz visible. El microscopio electrónico utiliza electrones para
iluminar un objeto. Dado que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor
que la de la luz pueden mostrar estructuras mucho más pequeñas. La longitud de onda
más corta de la luz visible es de alrededor de 4.000 ángstroms (1 ángstrom es
0,0000000001 metros). La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los
microscopios electrónicos es de alrededor de 0,5 ángstroms.

(G, 2009) El funcionamiento del microscopio


electrónico se basa en utilizar electrones para
iluminar un objeto, y esto se consigue gracias a
que la longitud de onda de los electrones es
mucho menor que la de la luz, y permite ver
estructuras mucho más pequeñas.

(Sahagún., 2015) Todos los microscopios


electrónicos cuentan con varios elementos
básicos. Disponen de un cañón de electrones
que emite los electrones que chocan contra el
espécimen, creando una imagen aumentada. Se
utilizan lentes magnéticas para crear campos
que dirigen y enfocan el haz de electrones, ya
que las lentes convencionales utilizadas en los microscopios ópticos no funcionan con
los electrones. El sistema de vacío es una parte relevante del microscopio electrónico.
Los electrones pueden ser desviados por las moléculas del aire, de forma que tiene que
hacerse un vacío casi total en el interior de un microscopio de estas características. Por
último, todos los microscopios electrónicos cuentan con un sistema que registra o
muestra la imagen que producen los electrones.

PARTES DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO


Las partes principales de un microscopio electrónico incluyen aquellos elementos utilizados
para generar electrones y dirigirlos hacia la muestra. Esto incluye:

Fuente de electrones

(D., 2017)Es equivalente a la fuente de luz en un microscopio óptico. En este caso es necesario
disponer de un emisor de electrones. En general se utiliza un filamento de tungsteno. Este
filamento es calentado de modo que la energía de sus átomos y electrones aumenta. A partir
de un cierto nivel energético los electrones poseen suficiente energía para escapar de sus
átomos. Estos electrones libres son a continuación dirigidos hacia la muestra.

Lentes electromagnéticas

(AA., 2004)Los microscopios ópticos utilizan lentes convergentes y divergentes para desviar los
rayos de luz y aumentar así la imagen de la muestra. Este mismo procedimiento no puede ser
aplicado para desviar la trayectoria de los electrones. En lugar de utilizar lentes de vidrio, los
microscopios electrónicos utilizan lentes electromagnéticas. Estas lentes generan campos
eléctricos y magnéticos de modo que su interacción con los electrones hace que sus
trayectorias diverjan o converjan en un punto.

Lentes magnéticas :Es con esta parte que se llega a producir campos que enfoca y dirige el haz
de electrones.

Cámara de vacío:

(D., 2017)El procedimiento expuesto anteriormente debe llevarse a cabo dentro de una
cámara de vacío. De lo contrario, los electrones
interactuarían con las moléculas del aire y no
sería posible determinar sus trayectorias
adecuadamente. La muestra que se observa debe
colocarse también dentro de la cámara de vacío.
Este es uno de los motivos por el cual no es
posible observar muestras vivas con un
microscopio electrónico.

Detector (Pantalla fluorescente)

(D., 2017)Una vez los electrones han impactado contra la muestra es necesario medir algún
tipo de información para poder reconstruir la imagen de la muestra. Una opción consiste en
utilizar una pantalla fluorescente. Esta pantalla reacciona de modo distinto según cual sea el
número de electrones que impactan en ella. De este modo es posible detectar las zonas donde
impactan más o menos electrones y deducir así la imagen de la muestra. Existen alternativas a
las pantallas fluorescentes, por ejemplo, sensores CCD.

Unidad óptica electrónica:Parte que se encarga de producir el haz de electrones que se llegan
a desplazar sobre la muestra.

Porta muestra:Es donde se coloca el objeto que se pretende estudiar. Este llega a tener
diversos grados de movimiento.

Tubo de rayos catódicos: (D, 2017)Se trata del sistema que permite que las imágenes sean
visualizadas.

Pantalla fluorescente: (D, 2017)También se le conoce como placa fotográfica. Es la parte que
va detrás del cuerpo que se pretende visualizar para el estudio, el cual llega a registrar la
imagen en aumento.

Cañón de electrones: (D, 2017)Es la parte del microscopio electrónico que emite los electrones
que llegan a atravesar o chocar el espécimen, donde llega a crear una imagen en zoom, o sea
aumentada según el tipo de microscopio electrónico que se emplee.

Sistema de vacío : (B, 2018)Con esta sección del microscopio se crea una desviación de los
electrones por moléculas del aire. En esta parte se crea un vacío casi total en la parte interna
del microscopio.

Sistema de registro : (B, 2018)Se trata de la parte de este instrumento encargado de mostrar
la imagen que crean los electrones, la cual suele proceder de un ordenador.

Placa fotográfica : (D, 2017)También llamada pantalla fluorescente. Es la parte que va detrás
del objeto o cuerpo que se pretende visualizar para así registrar la imagen aumentada.

Sistema de barrido: (D, 2017) También se hace presente en los microscopios de barrido, el
cual está conformado por una capa sea simple o doble de deflexión, electromagnético o
electrostático, encargado de desplazar el haz de electrones a través de un movimiento en línea
recta superpuesta barriendo así la superficie del objeto.

TIPOS DE MICROSCOPIOS ELECTRÓNICOS

(Jubobroff, 2017) Hay dos tipos básicos de microscopios electrónicos: el microscopio


electrónico de transmisión (Transmission Electron Microscope, TEM) y el microscopio
electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM).

(Jubobroff, 2017) Microscopio electrónico de transmisión (MET): permite la observación de


muestra en cortes ultrafinos. Un TEM dirige el haz de electrones hacia el objeto que se desea
aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo
atraviesan formando una imagen aumentada del espécimen. Para utilizar un TEM debe
cortarse la muestra en capas finas, no mayores de un par de miles de ángstroms. Se coloca una
placa fotográfica o una pantalla fluorescente detrás del objeto para registrar la imagen
aumentada. Los microscopios electrónicos de transmisión pueden aumentar un objeto hasta
un millón de veces.

(SAI.B, 2016) La cantidad de electrones que atraviesa la muestra sin desviarse varía en función
de las características internas de la muestra. Dicho de otro modo, hay partes de la muestra
que presentan más transparencia a los electrones que otras. Esto da lugar a zonas más oscuras
(menos electrones atraviesan la muestra y llegan al detector) y zonas más claras (más
electrones atraviesan la muestra y llegan al detector).

(B, 2018) Para utilizar esta técnica es necesario preparar la muestra para que sea muy delgada
(espesor inferior a 2000 ángstroms). De lo contrario, demasiado espesor impide que los
electrones puedan atravesarla.
(ECURED, 2018)La resolución de microscopio electrónico de transmisión está
limitada principalmente por las aberraciones esféricas, pero una nueva
generación de correctores han podido superar parcialmente la aberración
esférica para aumentar la resolución. La corrección del hardware de la aberración
esférica de alta resolución ha
permitido la producción de imágenes
con la resolución debajo de 0,5
Angstrom y magnificaciones sobre
50.000.000 veces. La capacidad de
determinar las posiciones de átomos
dentro de los materiales ha hecho el
HRTEM una herramienta importante
para la investigación y el desarrollo de
las nanotecnologías.

(G, 2009)Los microscopios


electrónicos de transmisión se utilizan
a menudo en modo de difracción del electrón. Las ventajas de la difracción del
electrón sobre la cristalografía de la radiografía son que el espécimen no necesita ser
un solo cristal o aún un polvo policristalino, y también que el Fourier transforma la
reconstrucción de la estructura magnificada del objeto se produce físicamente y por lo
tanto evita la necesidad de resolver el problema de fase que enfrentan con
cristalografía de rayos x después de obtener sus patrones de difracción de rayos x de
un solo cristal o polvo policristalino.

MEB MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO


(SAI.B, 2016) Un microscopio electrónico de barrido crea una imagen ampliada de la
superficie de un objeto. No es necesario cortar el objeto en capas para observarlo con un
SEM, sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos. El SEM
explora la superficie de la imagen punto por punto, al contrario que el TEM, que examina una
gran parte de la muestra cada vez. Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un
haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al barrido de un haz de electrones por
la pantalla de una televisión. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o
provocar la aparición de electrones secundarios.
Los electrones perdidos y los secundarios son
recogidos y contados por un dispositivo
electrónico situado a los lados del espécimen.

(D., 2017)Cada punto leído de la muestra


corresponde a un píxel en un monitor de
televisión. Cuanto mayor sea el número de
electrones contados por el dispositivo, mayor
será el brillo del píxel en la pantalla. A medida
que el haz de electrones barre la muestra, se
presenta toda la imagen de la misma en el monitor. Los microscopios electrónicos de barrido
pueden ampliar los objetos 200.000 veces o más. Este tipo de microscopio es muy útil
porque, al contrario que los TEM o los microscopios ópticos, produce imágenes
tridimensionales realistas de la superficie del objeto.

(ECURED, 2018) El SEM también tiene una gran profundidad del campo así que puede producir
las imágenes que son buenas representaciones de la forma superficial tridimensional de la
muestra. Otra ventaja de sems viene con los microscopios de barrido ambientales del electrón
que pueden producir imágenes de la buena calidad y de la resolución con las muestras
hidratadas o en bajo, algo que alto, vacío o debajo de los gases del compartimiento. Esto
facilita la imagen de muestras biológicas no fijas que son inestables en el vacío de microscopios
de electrones convencionales.

(G, 2009)En sus configuraciones más comunes los microscopios de electrones producen
imágenes con un único valor de brillo por píxel, con los resultados generalmente renderizados
en escala de grises. A menudo estas imágenes se colorean a través del uso de software de
detección de características o mediante la edición manual mediante un editor de gráficos. Esto
se puede hacer para clarificar la estructura o para el efecto estético y generalmente no agrega
nueva información sobre la muestra.

(ECURED, 2018)En algunas configuraciones la información sobre varias características del


espécimen se recolecta por el pixel, generalmente por el uso de detectores múltiples.En el
microscopio electrónico de barrido los atributos de topografía y contraste material pueden ser
obtenidos por un par de detectores de electrones retrodispersados y tales atributos pueden
ser superpuestos en una sola imagen de color
asignando un color primario diferente a cada
atributo.

(J, 2018) Algunos tipos de detectores usados


en SEM tienen capacidades analíticas, y
pueden proporcionar varios datos en cada
pixel. Los ejemplos son los detectores de la
espectroscopia de la radiografía de la energía
dispersión usados en el análisis elemental y los
sistemas del microscopio catodoluminiscente
que analizan la intensidad y el espectro de la luminiscencia inducida del electrón en
especímenes geológicos. Opcionalmente la imagen de electrón secundario estándar se puede
combinar con uno o más canales compositivos, de modo que la estructura y la composición del
espécimen puedan ser comparadas. Estas imágenes se pueden hacer mientras se mantiene la
integridad total de la señal original que no se modifica.

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE LA REFLEXIÓN

(A.ANONIMO, 2014)El microscopio electrónico de la reflexión (REM) es un haz de electrones


que indice en una superficie pero en vez de usar la transmisión o los electrones secundarios el
haz reflejado de electrones elástico dispersos se detecta. Esta técnica se acopla típicamente a
la difracción de alta energía del electrón de la reflexión y a la espectroscopia de la pérdida de
alta energía de la reflexión. Otra variante es la microscopia electrónica de baja energía spin-
polarizada que se utiliza para mirar la microestructura de dominios magnéticos.

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN DE BARRIDO

(D., 2017)Es una sonda enfocada a través de un espécimen que se ha adelgazado para facilitar
la detección de electrones dispersos a través de la muestra. La alta resolución del TEM es así
posible. La acción de concentración y las aberraciones ocurren antes de que los electrones
golpeen el espécimen en el vástago, pero después en el TEM. El uso de los vástagos del haz
similar a SEM simplifica la proyección de imagen de campo oscuro anular, y otras técnicas
analíticas, pero también significa que los datos de la imagen se adquieren en serie más bien
que en manera paralela.
BIBLIOGRAFÍA

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https://periodicosalud.com/microscopio-electronico-funcionamiento-
partes-desventajas/

 AA. (2004). Ampliación de Química Inorgánica. Obtenido de Técnicas


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http://webdeptos.uma.es/qicm/doc_docencia/tema14_me.pdf

 B, W. (2018). Microscopio electrónico de transmisión. Obtenido de


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 Sahagún., J. O. (2015). Métodos de microscopía electrónica de barrido


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 SAI.B. (2016). Microscopia digital. Obtenido de


https://sumsaiumu.wordpress.com/trabajo/funciones/