Instituto Tecnológico de Tijuana

Ingeniería en Nanotecnología

Caracterización de materiales

Dr. Balter Trujillo Navarrete

Reporte de Laboratorio

“Microscopia electrónica de Barrido (SEM)”

Hernandez Castro Sayra Guadalupe

No. Control: 15211391

21 de mayo del 2018

Objetivo: Observación por microscopia electrónica de barrido y análisis de una
muestra de nanofibras de Serio.

La composición de la superficie de un sólido difiere significativamente del interior

del mismo. Los campos en que las propiedades de la superficie son de especial
importancia incluyen catálisis heterogénea, la tecnología de películas delgadas de
semiconductor, la actividad de superficie de metales, la característica de dureza y
los estudios sobre el comportamiento y las unciones de membrana biológicas. Los
haces de electrones se adaptan perfectamente a tales estudios ya que, en la
mayoría de las ocasiones, los electrones solo pueden penetrar, o escapar, de las
capas más externas del sólido. La microscopia electrónica de barrido proporciona
información morfológica y topográfica sobre la superficie de los sólidos que son
normalmente necesarias para obtener el comportamiento de la superficie.

En un porta-muestras, una especie de carrusel, se agregaron una serie de muestras

de las cuales se observaron las nanofibras de serio. Se ingresó al equipo a través
de una cámara de bloqueo de aire, en donde se controla el vacío para mantener a
la muestra en un ambiente sin muchas impurezas. Posteriormente utilizando el
programa, se realizaron ajustes en los parámetros para obtener la mejor imagen de
la muestra. Primeramente, se ajusta la posición de observación, a través de una
bola de seguimiento se busca la posición con mejor contraste. Una vez que se
encuentre la posición adecuada, se magnifica la muestra, llevando la ampliación a
una escala de nanómetros. Por consiguiente, se ajusta el paso, para observar
cambios de nitidez. Los eV para disminuir el ruido de la imagen, los cuales no tienen
que ser muy radicales o variantes para observar cambios. Como siguiente paso, se
integra y se obtiene la imagen. Los ajustes se continúan modificando hasta lograr la
mejor resolución de la muestra.

Imagen de SEM de nanofibras de Serio; Recuperada de Google imágenes.

Durante la practica fue posible observar la diferencia entre una imagen con
electrones secundarios (SE) o retrodispersados (BSE). La señal de SE, se forma en
una delgada capa superficial, del orden de 50 a 100 Å. Son electrones de baja
energía, menos de 50 eV, que pueden ser desviados fácilmente de su trayectoria
emergente inicial y permiten obtener información de zonas que no están a la vista
del detector. La emisión BSE depende fuertemente del número atómico de la
muestra. Esto implica que dos partes de la muestra que tengan distinta composición
se revelan con distinta intensidad, aunque no exista ninguna diferencia de topografía
entre ellas. SEM es una técnica muy completa, la cual requiere mucha paciencia
para obtener un resultado deseado, o muy similar a él. Se requieren varios intentos
o varias modificaciones para obtener una imagen distinguible.

Bibliografía.
 JEOL Serving Advanced Technology, SEM Scanning Electron Microscope A
to Z. Basic Knowledge using the SEM.
 Scanning Electron Microscope, Vega 3 SEM, Instructions for Use.
 Página Web. Universidad de Alicante, Microscopia Electrónica de Barrido.
Recuperado de https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-de-
microscopia/microscopia-electronica-de-barrido.html