MICROELECTRÓNICA

APUNTES DE CLASES
SÉPTIMA PARTE
DISEÑO ESTRUCTURADO PARA
TESTABILIDAD

AD-HOC
SCAN PATH
BIST
HIBRIDAS

1
 AD-HOC
Puntos de test para contadores en cascada
2
 AD-HOC
Puntos de test para contadores en cascada
3
 AD-HOC
Puntos de test para contadores
realimentados 4
 AD-HOC
Puntos de test para contadores
realimentados 5
 SCAN PATH
Modelo general de HAUFFMAN 6
7
 BIST (Built in Self Test)
PRBS (Generador Binario de Secuencias
Pseudo-aletorias)
8
 BIST (Built in Self Test)
Registro Analizador de Firmas
9
BIST (Built in Self Test) componentes 10
 HIBRIDAS
Combinación de Scan Path y BIST 11