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Vicerrectorado Académico
Cuestionario
(valor 15%)
𝑃𝑢𝑛𝑡𝑜𝑠 𝐸𝑠𝑝𝑒𝑐𝑖𝑎𝑙𝑒𝑠
𝑆𝑡 = × 100
𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 𝑑𝑒 𝑃𝑢𝑛𝑡𝑜𝑠 𝐸𝑠𝑝𝑒𝑐𝑖𝑎𝑙𝑒𝑠
11
𝑆𝑡 = × 100
150
𝑆𝑡 = 7,334
Valores mayores a 1 de Cpk indican que el proceso está fabricando artículos que cumplen
con las especificaciones.
2. Un proceso tiene los defectos descritos como del tipo A, B, C, D, E. Los siguientes
datos fueron colectados en cierto periodo, registrando defectos (D), unidades (U) y
oportunidades (O). Con base en los datos de la tabla que se muestra, determine el
DPU, el DPO y el DPMO para cada tipo de defecto y para el total.
𝐷𝑒𝑓𝑒𝑐𝑡𝑜𝑠 (𝐷)
𝐷𝑃𝑈 =
𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 (𝑈)
𝐷𝑒𝑓𝑒𝑐𝑡𝑜𝑠 (𝐷)
𝐷𝑃𝑂 = × 𝑂𝑝𝑜𝑟𝑡𝑢𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 (𝑂)
𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 (𝑈)
𝐷𝑒𝑓𝑒𝑐𝑡𝑜𝑠 (𝐷)
𝐷𝑃𝑀𝑂 = [ × 𝑂𝑝𝑜𝑟𝑡𝑢𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 (𝑂)] × 1000000
𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 (𝑈)
Oportunidades
CARACTERÍSTICA Defectos (D) Unidades (U) DPU DPO DPMO
(O)
Tipo A 20 450 10 0,044444444 0,444444444 444444,4444
Tipo B 15 350 15 0,042857143 0,642857143 642857,1429
Tipo C 6 200 25 0,03 0,75 750000
Tipo D 25 350 12 0,071428571 0,857142857 857142,8571
Tipo E 30 400 15 0,075 1,125 1125000
TOTAL 96 1750 77 0,054857143 4,224 4224000
3. Investigue ¿quién fue Jack qué papel desempeñó en la iniciativa Seis Sigma?
Jack, o cuyo nombre completo es Jhon Francis “Jack” Welch Jr. Es un empresario y escritor
estadounidense cuya carrera empezó en General Electrics (G.E) donde llevo al éxito
mundial la eficacia de “six sigma”, esta idea nació en el 1981 en la compañía Motorola,
pero no fue hasta 1995 donde con la asesoría de ingenieros que Jack aplicó esta idea en
GE, ahorrando 2 billones de dólares anuales (1998-1999) gracias al control de defectos, lo
cual impulsó el conocimiento del programa.
Se pueden tomar por los diferentes tipos de muestreo pero el más satisfactorio seria el
muestreo al azar estratificado ya que consiste en seleccionar una muestra aleatoria en
cada estrato, es decir divide en grupos las características.
Si con la primera muestra se cae en zona de indecisión, se extrae una segunda muestra
que combinada con la primera permite aceptar o rechazar el lote.
- Normal: para aquellos casos en los que la calidad que se espera del
proveedor es similar al NCA
- Reducido: para aquellos casos en los que la calidad esperada sea muy alta
(p < pA). En este tipo de muestreo, el tamaño muestral es inferior al plan normal.
- Riguroso: implica un elevado tamaño muestral. Se utiliza cuando se espera
una calidad inferior a la AQL (p > pA). El plan MIL STD 105E varía también en
función del coste del muestreo, existiendo varios niveles según el coste de
inspección. Estos niveles son: Coste de inspección alto: Nivel I. Coste de inspección
estándar: Nivel II. Coste de inspección bajo: Nivel III. Niveles especiales (por
ejemplo, en ensayos destructivos): Niveles S-1 a S-4
10. Suponga una inspección normal, MIL STD 414, el método de la desviación estándar
y, ésta desconocida, además de letra código D y NCA =2.5%, una especificación
inferior de 200 g
a. Si el tamaño del lote N = 40, encuentre el plan apropiado.
NCA 25% M= 98
µ= 206,2 σ= 4,7644517
µ − EI
𝑍𝐸𝐼 =
σ
206,2 − 200
𝑍𝐸𝐼 =
4,7644517
𝑍𝐸𝐼 = 1,30130399
11. Investigue ¿Cuáles son las diferencias entre el método de Cameron y las MIL STD
<105E para obtener planes de muestreo?
MÉTODO DE CAMERON
- Especificar los valores porcentuales de los NCA y NCL deseados, junto con
su correspondiente probabilidad de aceptarse, 1 – a, y ß, respectivamente.
- Convertir los porcentajes anteriores a números decimales, sea:
𝑁𝐶𝐴
𝑝1 =
100
𝑁𝐶𝐿
𝑝2 =
100
𝑝𝑎
𝑝=
𝑛
MIL-STD-105E
Está diseñada para muestreo de atributos lote por lote. Se usa AQL entre 0,10 a 10%. Los
planes AQL tienen eficacia máxima si rechaza suficientes lotes para que sea conveniente
mejorar la calidad del producto cuando el fabricante produce un nivel de calidad peor que
el AQL y si el plan rechaza muy pocos lotes cuando el fabricante produce un nivel de
calidad mejor que el AQL.
Para utilizar un plan de muestreo indexado según AQL como la norma MIL-STD-105E se
deben seguir los siguientes pasos: