Departamento de Eléctrica y Electrónica

Ingeniería en Electrónica y Telecomunicaciones

Tema: Red cristalina

Docente: Fis. Miguel Eduardo Chávez Manosalvas

Nombre: Tnte. Gabriela Egüez

NRC: 1739

Sangolquí, 21 de Julio del 2016

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PROBLEMA:

En la siguiente figura se muestran los tres primeros planos que proporcionan picos de difracción de
rayos X para el aluminio, con una radiación de 0,1542 nm.

a) Dibuje cada plano, contenido en la celda unitaria de la estructura cúbica centrada en las
caras y señale las posiciones atómicas dentro de los planos.
b) Empleando la ley de Bragg, calcúlese los ángulos de difracción para estos picos, sabiendo
que el lado de la celdilla es a= 0,404 nm.

Datos Incógnita Fórmulas

𝜆 = 0,1542 [𝑛𝑚] a) Gráficos 𝑎
𝑑=
𝑎 = 0,404 [𝑛𝑚]
b) 𝜃(111) = ? √ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙2
𝜃(020) = ? 2𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃 = 𝑛𝜆
𝑛=1 𝜃(220) = ?
(111)

(020)

(220)

GRÁFICO:

Figura 1. Esquema Gráfico

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PROCEDIMIENTO:
a)

(1 1 1) (0 2 0) (2 2 0)

1 1 1 1 1 1 1 1 1
1 1 1 0 1 0 1 1 0
2 2 2

1 1 1
ꝏ 2 ꝏ 2 2 ꝏ
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b)
𝑎
𝑑=
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙2

0,404 𝑛𝑚 0,404 𝑛𝑚
𝑑(111) = = = 0,234 𝑛𝑚
√12 + 12 + 12 √3
0,404 𝑛𝑚 0,404 𝑛𝑚
𝑑(020) = = = 0,202 𝑛𝑚
√02 + 22 + 02 √4
0,404 𝑛𝑚 0,404 𝑛𝑚
𝑑(220) = = = 0,143 𝑛𝑚
√22 + 22 + 02 √8

Para n= 1; λ= 0,1542 nm
2𝑑 𝑠𝑒𝑛 𝜃 = 𝑛𝜆
𝑛𝜆
𝜃 = 𝑎𝑟𝑐𝑠𝑒𝑛 ( )
2𝑑
1 ∗ 0,1542𝑛𝑚
𝜃(111) = 𝑎𝑟𝑐𝑠𝑒𝑛 ( ) = 19,23°
2(0,234𝑛𝑚)

1 ∗ 0,1542𝑛𝑚
𝜃(020) = 𝑎𝑟𝑐𝑠𝑒𝑛 ( ) = 22,43°
2(0,202𝑛𝑚)

1 ∗ 0,1542𝑛𝑚
𝜃(220) = 𝑎𝑟𝑐𝑠𝑒𝑛 ( ) = 32,62°
2(0,143𝑛𝑚)

BIBLIOGRAFÍA:
Física, Problemas y Ejercicios de Fundamentos de Ciencias de Materiales, Unidad 3: Estructura de
Materiales.pdf