Está en la página 1de 9

UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA

DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA


Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 1 de 9

0. IDENTIFICACION DE GRUPO trabajo con un procesador Intel Core a 2.5


GHz, memoria RAM de 4 GB y OS
B2_IE. Windows 10 de 64 bits para la consulta de las
guías y los tutoriales correspondientes,
1. OBJETIVOS también para el uso de la herramienta
computacional LabVIEW 2011 instalada
1.1. Realizar la caracterización del sensor de previamente en el equipo del laboratorio y
temperatura LM35 siguiendo la LabVIEW 2013 en los computadores
metodología mostrada en el datasheet del personales con todos sus componentes
dispositivo, para así obtener su respectivo necesarios para las pruebas realizadas. Se
modo de conexión. utilizó el dispositivo de adquisición de datos
DAQ 6008 como enlace entre el instrumento
1.2. Identificar el funcionamiento del sensor virtual y el circuito implementado para así
de temperatura LM35 mediante la obtener los datos de la temperatura en tiempo
obtención de su curva característica. real, también se implementó la fuente DC
ubicada en la estación de trabajo para
1.3. Analizar la ubicación y utilización del alimentar el sensor LM35 y el amplificador
tipo de acondicionamiento de señal a operacional LM741, además se hizo uso de
utilizar en el circuito. un multímetro digital para comprobar las
conexiones realizadas en el protoboard y
1.4. Diseñar e implementar la etapa de medir los respectivos valores de voltaje en el
acondicionamiento dentro del circuito circuito.
que permita obtener una señal más limpia
y clara a la salida del mismo. 3. RESULTADOS

1.5. Identificar y realizar la programación de En el desarrollo de éste laboratorio, se inició


las entradas y salidas analógicas de la por realizar la caracterización del sensor de
tarjeta DAQ 6008. temperatura a tratar, el cual es el LM35, los
terminales de dicho sensor se pueden
observar en la figura 1.
1.6. Realizar un instrumento virtual enlazado
al circuito diseñado e implementado que
permita la visualización de los datos de
temperatura en tiempo real.

2. ANÁLISIS DE REQUERIMIENTOS

En el desarrollo de esta práctica de


laboratorio, se utilizó el PC de la estación de
trabajo con un procesador Intel Core a 2.5
GHz, memoria RAM de 4 GB y OS Figura 1. Terminales de conexión del sensor
Windows 10 de 64 bits y el computador LM35.
personal de un integrante del equipo de Fuente: http://www.alldatasheet.com/
1
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 2 de 9

Una vez realizada la respectiva conexión y no inversor con el circuito integrado LM741
alimentación del sensor LM35, se procede a (amplificador operacional) con el fin de
tomar los datos de salida de éste dispositivo, amplificar la señal de voltaje antes de realizar
los cuales están sujetos a la relación de el enlace con el instrumento virtual por
10mV/°C [1], dichos datos se miden con un medio de la tarjeta DAQ 6008.
multímetro digital conectado a los terminales
2 (VOUT) y 3 (GND) del sensor de
temperatura. Simultáneamente se realiza la
medición de la temperatura real por medio de
una termocupla conectada a otro multímetro
digital. Los datos de la cateterización se
muestran en la tabla 1 y la figura 2
respectivamente.

Tabla 1. Datos de la caracterización de la


temperatura.
Temperatura real Voltaje del
(ºC) sensor (V)
25 0,26 Figura 2. Curva característica de la temperatura
26 0,27 en tiempo real.
Fuente: Elaboración propia realizada en Microsoft
27 0,28
Excel 2010
28 0,29
29 0,292 En la figura 3 se puede observar en detalle la
30 0,308 conexión de los terminales del amplificador
33 0,335 operacional LM741.
37 0,39
38 0,4
39 0,41
42 0,45
50 0,508
Fuente: Elaboración propia realizada en Microsoft
Excel 2010

Una vez obtenida la curva característica de la


temperatura con los datos correspondientes al
sensor LM35 y a la termocupla del
laboratorio, se procede a escoger la etapa de
acondicionamiento más adecuada para la
señal suministrada por el sensor.

Para el acondicionamiento de señal, el grupo Figura 3. Terminales de conexión del


de trabajo optó por diseñar un amplificador amplificador operacional LM741.
Fuente: http://www.alldatasheet.com/
2
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 3 de 9

En la figura 4 se muestra la respectiva (terminal 2) y del amplificador operacional


configuración del amplificador no inversor LM741 (terminal 6) para tomar los valores de
utilizado como etapa de acondicionamiento voltaje en cada uno de estos puntos, los
de señal. resultados se presentan a continuación:
Vout (LM35) = 0.2855V

Vout (LM741) = 3.743V


Por lo tanto, el voltaje de entrada a la etapa
no inversora es:

Vin ((LM741) = Vout (LM35) = 0.2855V


𝑉𝑜𝑢𝑡(𝐿𝑀741)
𝐴𝑣(𝐿𝑀741) =
𝑉𝑖𝑛(𝐿𝑀741)
3.743𝑉
𝐴𝑣 =
0.2855𝑉

𝐴𝑣 = 13.11
Figura 4. Configuración del amplificador no
inversor. Así se comprueba que la etapa de
Fuente: Libro Mark N. Horenstein, Microelectrónica: acondicionamiento está funcionando de
circuitos y dispositivos. Segunda edición [Versión forma correcta, el error que se presenta entre
Digital PDF] el valor de ganancia experimental comparado
con el valor de ganancia analítico es de 2.11
Ahora se realizará el diseño de la etapa no y se debe a los valores reales de las
inversora [2]: resistencias que no son exactos a los teóricos
y varían dependiendo de su tolerancia
𝑅1 = 100Ω respectiva.
𝑅2 = 1𝑘Ω

𝑅2+𝑅1 Ahora se procede a realizar la configuración


𝑉𝑜𝑢𝑡 = ∗ 𝑉𝑖𝑛 de la tarjeta DAQ 6008 [5], para así
𝑅1
conectarla al circuito implementado en el
𝑉𝑜𝑢𝑡 𝑅2+𝑅1 𝑉𝑜𝑢𝑡 1𝑘Ω+100Ω protoboard y realizar el enlace con el
= ; = computador.
𝑉𝑖𝑛 𝑅1 𝑉𝑖𝑛 100Ω

𝑉𝑜𝑢𝑡 El montaje y la respectiva conexión entre el


= 𝐴𝑣 = 11
𝑉𝑖𝑛 circuito y la tarjeta DAQ junto con el
Para comprobar el funcionamiento de la computador se muestra en la figura 5.
etapa de acondicionamiento, se realizaron
mediciones en la salida del sensor LM35 Cabe resaltar que se utilizó la fuente de
voltaje DC del laboratorio para alimentar el
3
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 4 de 9

sensor LM35 con VS=5V y el amplificador temperatura máxima obtenida es de


operacional LM741 con VCC=5V y VEE=-5V aproximadamente 41ºC por más que se le
respectivamente. aplique calor de forma externa al sensor de
temperatura, esto ocurre por funcionamiento
del amplificador operacional LM741 el cual
entra en saturación debido a los valores de
VCC y VEE y deja de operar en la región lineal
[3], debido a esto el grupo de trabajo optó
por cambiar la conexión de la tarjeta DAQ
6008 del punto de salida de la etapa no
inversora (terminal 6 del amplificador
operacional) y conectar la tarjeta
directamente a la salida del sensor de
temperatura LM35 (terminal 2 del sensor), al
hacer esto se tuvo que cambiar el valor de la
constante igual a 10 del bloque multiplicador
Figura 5. Enlace mediante la tarjeta DAQ 6008
ubicado en el diagrama de bloques del Anexo
entre el computador y el circuito implementado. A2 por una constante de valor igual a 100
Fuente: Elaboración propia con el fin de observar datos en unidades de
temperatura y no de voltaje. La
Por último, se desarrolló el instrumento representación de los datos de temperatura
virtual que tiene como función principal del sensor conectado de forma directa se
supervisar el acondicionamiento y la muestra en el Anexo A5.
adquisición de datos de la variable
temperatura en tiempo real [4]. 4. CONCLUSIONES

El panel frontal de dicho instrumento virtual 4.1. Al realizar el montaje con el


se muestra en el Anexo A1. El diagrama de acondicionamiento se observó un nivel
bloques del instrumento virtual desarrollado máximo de temperatura de 41°C debido a
con los respectivos comentarios se puede una propiedad no lineal del amplificador
observar con detalle en el Anexo A2 [6]. operacional que limita su salida
protegiendo el dispositivo.
En el Anexo A3 se observa el valor de la
temperatura ambiente tomada de la señal de 4.2. Con la etapa de acondicionamiento se
salida de la etapa de acondicionamiento del obtuvo un error entre la temperatura
circuito diseñado e implementado. mostrada en el software y el valor real
debido a la tolerancia de las resistencias
En el Anexo A4 se muestra el conectadas al amplificador no inversor.
comportamiento del instrumento virtual a
medida que se aumenta de forma externa la 4.3. El software LabVIEW 2011 no cuenta
temperatura en el sensor LM35, de esta con la función de exportación de datos a
representación se puede observar que la una tabla en Excel mientras que el

4
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 5 de 9

software LabVIEW 2013 si cuenta con inversor con el circuito integrado LM741,
dicha función. se limita el alcance de datos entregados
por el circuito implementado debido a
4.4. Al trabajar con la versión 2011 de que la salida del amplificador operacional
LabVIEW ocurre una sobrecarga tiene un límite máximo de entrega en la
provocada por la adquisición continua de señal debido a que éste pasa de operar en
datos entre la DAQ 6008 y el instrumento la región lineal a operar en los voltajes de
virtual, lo que implica reiniciar todos los saturación controlados por las fuentes de
componentes instalados de NI (National alimentación del mismo.
Instruments) mediante la opción “Reset
Configuration Data” del software MAX. 4.9. Debido a la implementación de dos
canales de la fuente DC de alimentación
4.5. En la configuración del DAQ Assist se en el circuito (VCC y VEE), no se hizo
tomó la opción “Continuous Samples” necesaria la configuración de otra DAQ
para tomar muestras en dato real en Assistant en el diagrama de bloques del
intervalos de 100us. instrumento virtual para la alimentación
de la tarjeta DAQ 6008.
4.6. Se hizo necesario modificar la constante
que entra a multiplicar el valor de salida 5. RECOMENDACIONES
otorgado por la DAQ de acuerdo a si se
tenía conectada la etapa de 5.1. No exceder el límite de calor
acondicionamiento o no, dicho valor especificado en la guía de datos del
alternaba entre 10 (con sensor LM35, es decir, 150°C para no
acondicionamiento) y 100 (sin ocasionar daños en el dispositivo.
acondicionamiento) a través de la
analogía entre voltaje-temperatura de la 5.2. Utilizar preferiblemente el software
sensibilidad del sensor; 1°C->10mV y la LabVIEW 2013 a la hora de conectar la
ganancia de 11 de la etapa de DAQ para tener acceso a mayores
acondicionamiento. funcionalidades como la exportación de
datos a Excel previamente mencionada en
4.7. Para realizar las pruebas del aumento de la conclusión 4.3.
temperatura en el sistema y la
visualización de los respectivos datos en 5.3. Para hacer la medición de la temperatura
el instrumento virtual, se optó por con acondicionamiento es necesario leer
conectar la tarjeta DAQ 6008 previamente sobre amplificadores
directamente a la salida del sensor LM35 operacionales para una correcta conexión
debido a que en éste punto se obtiene un y un óptimo resultado.
mayor número de datos
5.4. En el momento de cambiar el PC
4.8. Al conectar en la salida del sensor LM35 utilizado para las pruebas, se debe
la etapa de acondicionamiento compuesta eliminar la DAQ Assist del instrumento
por la configuración de amplificador no virtual y crearla de nuevo ya que el
5
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 6 de 9

software MAX asigna un nombre [5] Instrument, N. (s.f.). Using the DAQ
diferente a cada hardware de NI Assistant. [Online]
conectado y por ello arroja un error al no http://www.ni.com/tutorial/5467/en/
reconocerlo.
[6] Instrument, N. (2011). Demos de dispositivos
5.5. Al momento de diseñar e implementar multifunción. [Online]
un amplificador operacional en la etapa www.ni.com/whitepaper/8985/es/
de acondicionamiento de señal, se deben
tener en cuenta los valores máximos de
operación del dispositivo mostrados en la
hoja de datos de mismo para así no
ocasionar daños en el circuito integrado.

5.6. Para obtener un mayor número de datos


del valor de la temperatura en tiempo real
entregados por el circuito implementado
con la respectiva etapa de
acondicionamiento, se deben aumentar
los voltajes de alimentación del
amplificador operacional para así
asegurar que éste dispositivo opere en la
región lineal y no entre en saturación.

6. REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

[1] Texas Instruments. (2016) Alldatasheet.


[Online]. http://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-
pdf/view/517588/TI1/LM35.html

[2] Mark N. Horenstein, Circuitos y dispositivos


microelectrónicos. [Versión Digital PDF],
Segunda ed., Naucalpan de Juárez. Edo. de
México: Prentice-Hall Hispanoamericana, S.A.,
1997

[3] National Semiconductor. (2016) Alldatasheet.


[Online]. http://pdf1.alldatasheet.com/datasheet-
pdf/view/9027/NSC/LM741.html

[4] J. R. Lajara Vizcaíno, J. Pelegrí Sebastiá,


LabVIEW. Entorno gráfico de programación
[Versión Digital PDF], Primera ed., México D.F.:
Alfaomega y MARCOM BO S.A., 2011
6
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 7 de 9

ANEXOS A. RESULTADOS

Anexo A1. Panel frontal del instrumento virtual creado por el grupo de trabajo.
Fuente: Elaboración propia realizada en NI LabVIEW 2013

Anexo A2. Diagrama de bloques del instrumento virtual con los respectivos comentarios.
Fuente: Elaboración propia realizada en NI LabVIEW 2013

7
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 8 de 9

Anexo A3. Temperatura ambiente tomada de la salida de la etapa de acondicionamiento.


Fuente: Elaboración propia realizada en NI LabVIEW 2013

Anexo A4. Temperatura máxima tomada de la salida de la etapa de acondicionamiento.


Fuente: Elaboración propia realizada en NI LabVIEW 2013

8
UNIVERSIDAD FRANCISCO DE PAULA SANTANDER F-LAB-IEA
DEPARTAMENTO DE ELECTRICIDAD Y ELECTRÓNICA
Versión:
INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA 1.0_R2014
Práctica de Laboratorio N° 5. Acondicionamiento y adquisición de
datos utilizando un sensor resistivo Página: 9 de 9

Anexo A5. Comportamiento de la señal de temperatura tomada directamente del sensor al variarla de forma
externa.
Fuente: Elaboración propia realizada en NI LabVIEW 2013

También podría gustarte